ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 162

Transkrypt

1 PCA Zakres akredytacji Nr AP 16 ZAKRE AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 16 wydany przez POLKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa, ul. zczotkarska 4 Wydanie nr 3 Data wydania: 6 marca 017 r. Nazwa i adres AP 16 KRAJOWE UŁUGI METROLOGICZNE M. KOZIOROWKI, P. KOZIOROWKI s.c. Laboratorium Wzorcujące ul. Demokratyczna Łódź Kategoria laboratorium: działające w stałej siedzibie () Dziedziny akredytacji *) Wielkości geometryczne (6.01, 6.0, 6.03) *) Numeracja dziedzin i poddziedzin zgodna z klasyfikacją podaną w załączniku do dokumentu DAP-04 dostępnym na stronie internetowej ZATĘPCA DYREKTORA TADEUZ MATRA Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu akredytacji Nr AP 16 z dnia r. tatus akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. 1/6

2 PCA Zakres akredytacji Nr AP długość Płytki wzorcowe (klasy 0, 1, ) (0,5 100) mm 0,08 1,0 ln µm gdzie ln w m IW/KUM/16/01 uwmiarki (0 150) mm (0 300) mm (0 500) mm (0 600) mm (0 800) mm (0 1000) mm 8 m 11 m 16 m 18 m 3 m 9 m Głębokościomierze suwmiarkowe Wysokościomierze suwmiarkowe (0 150) mm (0 300) mm (0 500) mm (0 600) mm (0 300) mm (0 600) mm (0 750) mm (0 1000) mm 8 m 11 m 16 m 18 m 11 m 18 m m 9 m IW/KUM/01/01 Przyrządy suwmiarkowe specjalne poinomierze suwmiarkowe cyfrowe - spoiny na płaszczyźnie - spoiny w narożach (0 30) mm 6 µm 10 µm poinomierze suwmiarkowe analogowe - spoiny na płaszczyźnie - spoiny spoin w narożach poinomierze - wysokość spoin czołowych i w narożach - wysokość spoin pachwinowych - grubość spoin pachwinowych - szerokość spoin czołowych - głębokość podcięcia (0 15) mm (0 0) mm (0 15) mm (0 60) mm do 6 mm 0,1 mm 0,1 mm 0,065 mm IW/KUM/01/0 Wysokościomierze do pomiaru wysokości kół pojazdów (0 1000) mm 0,5 mm IW/KUM/01/03 Mikrometry zewnętrzne (0 5) mm (5 50) mm (50 75) mm (75 100) mm (100 15) mm (15 150) mm ( ) mm (175 00) mm (00 5) mm (5 50) mm (50 75) mm (75 300) mm ( ) mm ( ) mm ( ) mm 0,9 m 1,1 m 1,3 m 1,7 m,0 m,4 m,7 m 3,1 m 3,4 m 3,7 m 4,0 m 4,4 m 4,7 m 6,1 m 7,5 m IW/KUM/0/01 Mikrometry wewnętrzne (5 30) mm (30 55) mm (50 75) mm (75 100) mm (100 15) mm (15 150) mm ( ) mm (175 00) mm (00 5) mm (5 50) mm (50 75) mm (75 300) mm 1,0 m 1, m 1,5 m 1,8 m,0 m,5 m,8 m 3, m 3,5 m 3,8 m 4, m 4,5 m Głowice mikrometryczne (0 15) mm (0 5) mm Głębokościomierze mikrometryczne (50 100) mm ( ) mm (150 00) mm (00 50) mm (50 300) mm 1,9 µm,6 µm 3,3 µm IW/KUM/0/0 Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. /6

3 PCA Zakres akredytacji Nr AP długość Transametry Mikrometry z wbudowanym czujnikiem - zespół czujnikowy - zespół mikrometryczny Średnicówki mikrometryczne dwupunktowe zakr. czujnika ±140 µm (0 150) mm ± 140 µm (0 5) mm (5 50) mm (50 75) mm (75 100) mm (100 15) mm (15 150) mm 30 mm 35 mm 50 mm 63 mm 75 mm 88 mm 100 mm 15 mm 150 mm 175 mm 00 mm 5 mm 50 mm 75 mm 300 mm 35 mm 350 mm 375 mm IW/KUM/0/03 1,6 µm 1,9 µm,3 µm 0,9 µm 1, µm 1,5 µm 1,6 µm 1,9 µm,3 µm,6 µm,9 µm 3,3 µm 3,6 µm 4,3 µm 4,6 µm 4,9 µm 5,3 µm IW/KUM/0/03 IW/KUM/0/04 Średnicówki mikrometryczne trójpunktowe Średnicówki czujnikowe trójpunktowe (3 100) mm ( ) mm 1,9 m,9 m IW/KUM/0/05 Wzorce nastawcze do wymiarów zewnętrznych Czujniki analogowe działka elementarna 0,01 mm Czujniki cyfrowe rozdzielczość 0,01 mm Czujniki cyfrowe rozdzielczość 0,005 mm Czujniki cyfrowe rozdzielczość 0,001 mm Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem działka elementarna 0,01 mm (5 50) mm (50 100) mm ( ) mm zakres do 10 mm powyżej 10 do 30 mm powyżej 30 do 50 mm do 1,7 mm pow. 1,7 do 5,4 mm pow. 5,4 do 50,8 mm do 1,7 mm pow. 1,7 do 5,4 mm pow. 5,4 do 50,8 mm do 1,7 mm pow. 1,7 do 5,4 mm pow. 5,4 do 50,8 mm do 3 mm 0,6 µm,5 m,9 m 3,3 m 3,6 m 3,7 m 4,1 m 3,1 m 3, m 3,6 m,8 m,9 m 3,4 m,5 m IW/KUM/0/06 IW/KUM/05/01 Czujniki cyfrowe z uchylnym trzpieniem - rozdzielczość 0,01 mm - rozdzielczość 0,005 mm - rozdzielczość 0,001 mm do 1 mm 3,4 m,9 m,5 m Czujniki analogowe działka elementarna 0,00 mm oraz 0,001 mm Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem - działka elem. 0,00 mm i 0,001 mm zczelinomierze listkowe klinowe szerokie klinowe klin płaski do 5 mm do 0,6 mm (0,0 3,0) mm (0,5 7) mm (0,5 45) mm 1,8 m 1,8 m 1 µm 8 µm IW/KUM/06/01 IW/KUM/07/01 prawdziany tłoczkowe Folie wzorcowe (1 50) mm (50 100) mm (0 8000) m 0,9 µm 1,4 1, l w m gdzie l w mm IW/KUM/07/0 IW/KUM/07/06 Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. 3/6

4 PCA Zakres akredytacji Nr AP długość Płaskorównoległe płytki interferencyjne - odchyłka długości Wałeczki pomiarowe: 1 mm 15 mm 7 mm 40 mm 5 mm 65 mm 77 mm 0,9 µm 1,1 µm 1,5 µm - do gwintów (0,17 6,35) mm 0,40 µm - do otworów (0,05 10,0) mm (10,0 0,0) mm 0,36 µm 0,37 µm - do kół zębatych (1,7 17) mm 0,37 µm R (1 7) mm 4 µm Wzorce łuków kołowych R (7,5 15) mm 15 µm (promieniomierze) R (15,5 5) mm 1 µm Wzorce zarysu gwintu - metrycznego - calowego (0,5 6) mm (4 6) zwoje na cal 4 µm 4 µm IW/KUM/08/01 IW/KUM/09/01 IW/KUM/10/01 IW/KUM/10/0 Wzorce kreskowe lup pomiarowych do 30 mm 3, µm IW/KUM/10/04 Czujniki optyczne - MOP 0/0 - MOP 1/100 Długościomierze pionowe Abbego Przymiary wstęgowe Przymiary sztywne i półsztywne - sztywne - półsztywne Grubościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej: (-0 +0) mm ( ) mm (0 100) mm do 5 m powyżej 5 m do 10 m powyżej 10 m do 15 m powyżej 15 m do 0 m powyżej 0 m do 5 m do 3 m do 5 m 0,1 m 0,13 m Błędy pomiaru długościomierza 0,11 3,4 ln w m gdzie ln w m Błędy pomiaru mikroskopu odczytowego 0,1 m 0,11 0,0 l 0,16 0,0 ( l 0,0 0,0 ( l 0,3 0,0 ( l 0,6 0,0 ( l 5) 10) 15) 0) w mm gdzie l w m 0,11 0,0 l w mm gdzie l w m IW/KUM/1/01 IW/KUM/1/0 IW/KUM/13/01 IW/KUM/13/0 - (0,001; 0,00; 0,005) mm - 0,1 mm Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej: - (0,001; 0,00; 0,005) mm - 0,1 mm Macki pomiarowe zewnętrzne Macki pomiarowe wewnętrzne (0 5) mm (0 10) mm (0 30) mm (0 5) mm (0 10) mm (0 30) mm (0 10) mm (0 0) mm (0 40) mm (0 60) mm (0 100) mm (,5 1,5) mm (10 ) mm (10 35) mm (30 55) mm (40 90) mm (70 10) mm (90 140) mm ( ) mm 6 µm 6 µm 1, µm 1,7 µm,8 µm 0,6 µm 1,1 µm 1,6 µm,5 µm 3,3 µm 4,9 µm IW/KUM/14/0 IW/KUM/14/03 Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. 4/6

5 PCA Zakres akredytacji Nr AP Kąt poinomierze - kąt ukosowania Kątomierze uniwersalne analogowe (4 x 90)º 3,0' (80 160)º 0,9º IW/KUM/01/0 Kątomierze uniwersalne cyfrowe (0 360)º 1,5' IW/KUM/03/01 Kątomierze traserskie (0 180) º 0,1 º Kątowniki 90 dwuramienne Płytki kątowe o matowych powierzchniach pomiarowych Poziomnice liniałowe Poziomnice budowlane 6.03 Geometria powierzchni Płaskie płytki interferencyjne - odchyłka płaskości powierzchni Płaskorównoległe płytki interferencyjne - odchyłka płaskości powierzchni - odchyłka równoległości powierzchni Liniały krawędziowe długość dłuż. ramienia od 40 mm do 315 mm µm (odchyłka płaskości) 1 µm (odchyłka prostoliniowości) 1,4 µm (odchyłka równoległości) 1,1 µm (odchyłka prostopadłości) IW/KUM/04/01 do 30º 31 IW/KUM/10/03 (0 1) mm/m do m 0, dz. el. (błąd ustawienia wskazania zerowego) 0,019 mm/m (błąd wartości działki elementarnej) 0, mm (błąd ustawienia wskazania zerowego) średnica do 100 mm 0,04 µm długość płytek (1,00 80,00) mm do 100 mm pow. 100 mm do 400 mm pow. 400 mm do 700 mm 0,06 µm 0,16 µm,3 µm IW/KUM/11/01 IW/KUM/11/0 IW/KUM/08/01 IW/KUM/17/03 stanowi niepewność rozszerzoną przy prawdopodobieństwie rozszerzenia ok. 95 % i wyrażona jest w jednostkach wielkości mierzonej. Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. 5/6

6 PCA Zakres akredytacji Nr AP 16 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AP 16 tatus zmian: wersja pierwotna A Zatwierdzam status zmian ZATĘPCA DYREKTORA TADEUZ MATRA dnia: r. Wydanie nr 3, 6 marca 017 r. str. 6/6