Wykaz usług nieobjętych zakresem akredytacji realizowanych przez laboratoria Zakładu M1

Transkrypt

1 M Laboratorium Długości przyrządy EDM (dalmierze) (0 0) m. mm przyrządy EDM (dalmierze) (0 0) m 0. mm mierniki magnetostrykcyjne do wysokości napełnienia zbiorników pomiarowych (0 ) m 0. mm komparatory dwuczujnikowe ±0 µm 0 nm komparatory ścienne (0 0) m Q[; 0L] µm; L w m płytki wzorcowe wzorcowane metodą interferencyjną (0. 0) mm Q[0.; 0.L] nm; L w mm długie płytki wzorcowe wzorcowane interferencyjnie ( 00) mm Q[0.0; 0.L] µm; L w m materialne miary długości - przymiary wstęgowe (0 00) m Q[0.; 0.0L] mm; L w m łaty niwelacyjne (0 ) m Q[0.0; 0.0L] mm; L w m

2 0 materialne miary długości - przymiary składane (0 ) m Q[0.0; 0.0L] mm; L w m materialne miary długości - przymiary bławatne (0 ) m Q[0.0; 0.0L] mm; L w m materialne miary długości - przymiary sztywne rozsuwane (0 ) m Q[0.0; 0.0L] mm; L w m bazy drogowe (0 00) m mm M Laboratorium Kąta pryzmy wielościenne wzorcowane na goniometrze (0 0)." stoły podziałowe (0 0)." stoły obrotowe, obrotowe kodowane podziałki kątowe (0 0)." optyczne głowice podziałowe (0 0)." poziomnice budowlane (0 0) 0. mm

3 poziomnice elektroniczne wzorcowane generatorem małych kątów (0 0)' zależy od rozdzielczości poziomnicy poziomnice elektroniczne wzorcowane optyczną głowicą podziałową (0 0) zależy od rozdzielczości poziomnicy pochyłomierze, kątomierze elektroniczne (0 0) zależy od rozdzielczości przyrządu poziomnice spirytusowe (pęcherzykowe) liniałowe, ramowe niepewność wyznaczania błędu wartości działki elementarnej: 0.0 mm/m (dz. el. 0.0 mm/m); 0.0 mm/m (dz. el. 0.0 mm/m) 0 kątomierze (uniwersalne) x0. optyczne poziomnice kątowe 0." poziomnice koincydencyjne 0.0 mm/m kątowniki 0 stalowe wzorcowane za pomocą kątownika 0 wzorcowego dla kątownika o wielkości 000 mm:. µm (odch. od prostopadłości pow. tworzących kąt zewnętrzny);. µm (odch. od prostopadłości pow. tworzących kąt wewnętrzny) M Laboratorium Geometrii Powierzchni płyty pomiarowe wzorcowane za pomocą poziomnicy do 00 µm; długość L do 00 mm od. µm do.0 µm - w zależności od rodzaju płyty (materiał, wymiary, klasa dokładności)

4 sfery (półkule) wzorcowane metodą stykową do 0. µm 0.0 µm wzorce powiększenia (np.wałki ze ścięciem) wzorcowane za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości do 00 µm 0. µm liniały powierzchniowe wzorcowane za pomocą poziomnicy do 0 µm; szerokość B powyżej mm, długość L do 00 mm. µm liniały powierzchniowe wzorcowane za pomocą płyty pomiarowej i płytek wzorcowych do µm; szerokość B do mm, długość L od 00 do 00 mm.0 µm liniały krawędziowe wzorcowane metodą obserwacji szczeliny do µm; długość L od 0 do 000 mm.0 µm liniały krawędziowe wzorcowane za pomocą profilometru do µm; długość L od 0 do 00 mm 0. µm dla L = 0 mm i 0. µm dla L = 00 mm soczewki, wzorce promienia R od 0, do 000 mm w zależności od mierzonego promienia: od 0.0 do % wzorce do sprawdzania stanu ostrza (np.iso - typ B) wzorcowane za pomocą profilometru stosunek m wartości parametru Ra dla dwóch powierzchni wzorce do sprawdzania stanu ostrza (np.iso - typ B) wzorcowanie za pomocą mikrointerferometru h do µm, szerokość nierówności S od µm do 0 µm 0 nm wzorce geometryczne (np. ISO - typ C) wzorcowane za pomocą mikrointerferometru Ra do 0. µm, RSm do 0 µm nm

5 wzorce współrzędnościowe (np. ISO - typ E) w postaci kuli 0.0 µm (okrągłość) porównawcze wzorce chropowatości powierzchni Ra do 0 µm, Rz do 0 µm od % do % w zależności od mierzonego wzorca profilometry stykowe Pt do 00 µm Ra do 0 µm (wzorcowanie zadaniowe) w zależności od zastosowanego wzorca, np. nm dla Ra = 0. µm mikrointerferometry h do µm (dwupromieniowe) nm mikroskopy do pomiaru chropowatości powierzchni h do µm 0. µm przyrządy do pomiaru okrągłości P-V do 00 µm w zależ. od zastosowanego wzorca, np. 0. µm dla h = 0. µm M Laboratorium Pomiarów Współrzędnościowych i Przemysłowych szczelinomierze listkowe (0,0,00) mm 0. µm walce zewnętrzne (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) wzorcowane na maszynie -D < ø 00 mm 0. µm walce zewnętrzne (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) wzorcowane na komparatorze jednoczujnikowym ø 0, ø, mm 0. µm

6 walce wewnętrzne (pierścienie) wzorcowane na maszynie -D < ø 00 mm 0. µm sfery (kule) wzorcowane mechanicznie ( ) mm 0. µm wzorce stożka wzorcowane na maszynie -D ø do 00 mm, h do 0 mm." płaskie płytki interferencyjne ø ø 00 mm 0.0 µm - metoda trzech (powierzchnie pomiarowe); 0.0 µm - metoda odniesieniowa (powierzchnie niepomiarowe) płaskorównoległe płytki interferencyjne (,00,) mm 0. µm - odchylenia równoległości; 0.0 µm - odchylenia od płaskości płyty pomiarowe wzorcowane na maszynie -D max (0 x 00) µm 0. µm 0 liniały powierzchniowe wzorcowane na maszynie -D (0 x 00) µm 0. µm wzorce prostoliniowości walcowe (0 x 00) µm 0. µm sprawdziany gwintów trzpieniowe, zwykłe ( 00) mm. µm sprawdziany gwintów pierścieniowe, zwykłe ( ) mm. µm

7 pręty z kulami do 00 mm Q[0.; 0. L] µm; L w m współrzędnościowe maszyny pomiarowe WMP wzorcowane wzorcem płytowym lub płytkami wzorcowymi do 000 mm Q[0.;.L] µm; L w m - za pomocą płytek wzorcowych; Q[.0;.L] µm; L w m - wzorcem płytowym z kulami mikrometry zewnętrzne od (0 ) mm do ( 000) mm µm wysokościomierze suwmiarkowe do 000 mm 0.0 mm głowice mikrometryczne (0 ) mm µm głębokościomierze mikrometryczne do 000 mm µm 0 suwmiarki (0 000) mm 0.0 mm głębokościomierze suwmiarkowe (0 000) mm 0.0 mm średnicówki mikrometryczne dwupunktowe ( ) mm µm czujniki 0,0 mm (0 ) mm µm

8 czujniki 0,00 mm (0 ) mm 0. µm M Laboratorium Twardości wzorce twardości Knoopa HK0,; HK0,; HK. % twardościomierze Brinella wg normy PN-EN ISO 0-; ) twardość ) siła ( 0) N; ) wskazanie urządzenia optycznego (0 ) mm ; ( 0) mm ) %; ) 0. %; ) mm; 0.00 mm twardościomierze Rockwella wg normy PN-EN ISO 0-; HRA HRA; HRB - 00HRB; 0HRC 0HRC: ) twardość ) siła ( 00) N ) 0. HRA; 0. HRC;.0 HRB ) 0. % twardościomierze Vickersa wg normy PN-EN ISO 0-; 00HV 00HV: ) twardość ) siła ) wskazanie urządzenia optycznego (0 ) mm ) % dla HV0.0; % dla HV0.; % dla HV0. HV0.; % dla HV HV00 ) 0. % ) mm twardościomierze Knoopa wg normy PN-ISO -: ) twardość; ) siła (0, 0) N ) wskazanie urządzenia optycznego (0 ) mm ) % ) 0. % ) mm twardościomierze Shore'a (A, D) twardościomierze dynamiczne )śr. wewn. tulejki (,0,0) mm; )śred.zew.trzpienia (,0,) mm; )wys. trzpienia (,,) mm; )śred. ścięcia trzp. (0, 0,) mm; )zew. śred. tulejki (,0 0,0 mm; )kąt stożka ( ); )błąd wskaz.(0 00) Sh; )pr.zaokr.(d) (0,0 0, mm HRA HRA; 0 HRC 0 HRC; HRB 00 HRB; 00HV 00HV; 0 HB 0HB ) 0.0 mm; ) 0.0 mm; ) 0.0 mm; ) 0.0 mm; ) 0.0 mm; ) '; ) 0. Sh; ) 0.00 mm 0. HRA; 0. HRC;.0 HRB; %; % twardość Brinella HB 0/000, HB,/, %;

9 twardość Rockwella HRA, HRB, HRC 0. HRA, 0. HRC,.0 HRB 0 twardość Vickersa [HV0,, HV, HV0, HV0, HV00]. % przyrządy do badania tłoczności blach ) średnica wewnętrzna (0 ) mm ) średnica zewnętrzna (0 ) mm ) błąd urządzenia pomiarowego na długości 0 mm ) 0.00 mm; ) 0.0 mm; ) 0.0 mm wzorcowe stanowiska Rockwella II rzędu ) siła (,0 ) N; ) twardość ) 0.0 %; ) 0. HRA; 0. HRB; 0. HRC wgłębniki diamentowe Rockwella ) kąt stożka ( ); ) promień zaokrąglenia (0, 0,) mm; ) niewspółosiowość (0 0,) mm; ) średnica trzpienia oprawki (,0,) mm; ) sprawdzenie funkcjonalne HRC, HRA ) ; ) 0.00 mm; ) 0.00 mm; ) 0.00 mm; ) 0. HR wgłębniki diamentowe Vickersa kąt ostrosłupa ( 0 ); niewspółosiowość (0 0,) mm; średnica trzpienia oprawki (,0,) mm ; 0.00 mm; 0.00 mm wgłębniki diamentowe Knoopa kąt ostrosłupa (0 0 ); średnica trzpienia oprawki (,0,) mm ; 0.00 mm M Laboratorium Refraktometrii i Polarymetrii wzorce współczynnika załamania światła, stałe n = (,,) E-0 wzorce współczynnika załamania światła, stałe n=(,,) E-0

10 wzorce współczynnika załamania światła, ciekłe n=(,,) E-0 refraktometry Pulfricha n=(,,) E-0 refraktometry ręczne w=(0 ) % 0.0 % wzorce polarymetryczne - kwarcowe płytki kontrolne α = (-0 0) (przy lambda= nm) 0.0 wzorce polarymetryczne - materiały odniesienia [α]0 C (nm)=,, 0.0 polarymetry wizualne α = (0 0) 0.0 polarymetry fotoelektryczne α = (-0 0) 0.00 *) najmniejsza osiągalna niepewność rozszerzona przy poziomie ufności %