ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456

Transkrypt

1 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 1, Data wydania: 30 sierpnia 2013 r. AB 1456 Nazwa i adres GL CENTER Sp. z o.o. Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego Tychy Kod identyfikacji dziedziny/obiektu badań Dziedzina/obiekt badań: N/14 Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego urządzenia radiologiczne KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1456 z dnia r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 1/12

2 Laboratorium Pomiarów Radiologicznych ul. Bałuckiego 4 Tychy Wysokie napięcie radiografii ogólnej Zakres: (40 125) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,02 4,8) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0, ,091) Gy Całkowita Filtracja Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 2/12

3 radiografii ogólnej Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym kolimacja ręczna Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu kolimacja automatyczna Pomiar odległości między elementami obrazu rentgenowskiego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 1,5) m Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (7,5 315) lux Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej Zakres: (1,00 1,50) Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu Wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 3/12

4 radiografii ogólnej Różnica gęstości optycznych - czułości komór AEC Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (1,00 1,50) Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Zakres: (0,00 0,50) Wskaźnik światłoczułości w procesie Zakres: (0,70 2,00) Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (7,5-315) lux Wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 4/12

5 zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Wysokie napięcie Zakres: (40 120) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,02 4,8) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0, ,091) Gy Całkowita Filtracja Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,6 1,5) m wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 5/12

6 zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Zakres: (1,00 1,50) Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Zakres:(0,00 4,00) Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Zakres:(0,00 4,00) Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Zakres:(0,00 4,00) Gęstość minimalna w procesie Zakres: (0,00 0,50) Wskaźnik światłoczułości w procesie Zakres: (0,70 2,00) Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (7,5 315) lux wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 6/12

7 zdjęć wewnątrzustnych Wysokie napięcie Zakres: (60-70) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Czas ekspozycji Zakres: (0,02 4,8) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0, ,091) Gy Całkowita Filtracja Warstwa półchłonna HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość: ognisko lampy powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 0,3) m wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 7/12

8 fluoroskopii Wysokie napięcie Zakres: (40 150) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Moc dawki Zakres: (0, ,018) Gy/s Warstwa półchłonna - HVL Całkowita Filtracja Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Dawka wejściowa na jeden obraz - kinematografia Czas ekspozycji Zakres: (0,5-600) s Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza wydanie 5 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 8/12

9 mammografii Wielkość ogniska lampy rtg Odległość ognisko rejestrator obrazu Zakres: (0,6 1,5) m Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0, ,091) Gy Wydajność lampy Moc dawki Zakres: (0, ,018) Gy/s Wysokie napięcie Zakres: (23 35) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Czas ekspozycji Zakres: (0,02 4,8) s Warstwa półchłonna - HVL Gęstość optyczna w punkcie referencyjnym Zakres: (1,00 2,00) Różnica gęstości optycznych dla różnych poziomów zaczernienia Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich dostępnych poziomów zaczernienia Powtarzalność dawki LPR-PB-MA/04 wydanie 4 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 9/12

10 mammografii Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu i wartości wysokiego Dawka wejściowa Zakres: (0, ,091) Gy Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (13 20) kg Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (13 20)kg Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Współczynnik pochłaniania kratki przeciwrozproszeniowej Różnica gęstości optycznych - wzmocnienie ekranu Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Różnica gęstości optycznych - przepust ciemni Gęstość minimalna w procesie Zakres: (0,00 0,50) Wskaźnik światłoczułości w procesie Zakres: (0,70 2,00) Wskaźnik kontrastowości w procesie LPR-PB-MA/04 wydanie 4 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 10/12

11 mammografii Luminancja negatoskopu Zakres: ( ) cd/m 2 Jednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego Zakres: (7,5 315) lux LPR-PB-MA/04 wydanie 4 z dnia r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 11/12

12 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 1456 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS dnia: r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 30 sierpnia 2013 r. str. 12/12