PRZYRZĄD WIRTUALNY DO WYZNACZANIA RÓŻNICY FAZ DWÓCH SYGNAŁÓW NAPIĘCIOWYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PRZYRZĄD WIRTUALNY DO WYZNACZANIA RÓŻNICY FAZ DWÓCH SYGNAŁÓW NAPIĘCIOWYCH"

Transkrypt

1 Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 64 Politechniki Wrocławskiej Nr 64 Studia i Materiały Nr Daniel DUSZA*, Michał MALECHA przesunięcie fazowe, przyrząd wirtualny, estymator PRZYRZĄD WIRTUALNY DO WYZNACZANIA RÓŻNICY FAZ DWÓCH SYGNAŁÓW NAPIĘCIOWYCH W artykule przedstawiono przyrząd wirtualny do wyznaczania wartości różnicy faz dwóch sygnałów napięciowych realizujący pomiar przy wykorzystaniu karty pomiarowej z jednym przetwornikiem analogowo-cyfrowym. Przyrząd posiada dwie możliwości pomiaru różnicy faz. Pierwsza z nich wykorzystuje aproksymację jednego z sygnałów, natomiast w drugiej wykorzystano zewnętrzny układ próbkująco-pamiętający. Zbudowany przyrząd umożliwia sprawdzenie działania algorytmu przy użyciu symulowanego sygnału wejściowego. 1. WSTĘP Potrzeba pomiaru kąta przesunięcia fazowego występuje w bardzo wielu zagadnieniach technicznych, między innymi w pomiarach mocy i energii, parametrów impedancji, parametrów czwórników, identyfikacji obiektów dielektrycznych, diagnozowaniu systemów energetycznych, a nawet w pomiarze odległości. Do pomiarów odległości z wykorzystaniem przesunięcia fazowego można zaliczyć pomiary optyczne, mikrofalowe oraz sonograficzne. Szybki rozwój techniki cyfrowej przyczynia się do zastępowania tradycyjnych mierników kąta przesunięcia fazowego przyrządami, które realizują pomiar przesunięcia fazowego metodami cyfrowymi z zastosowaniem odpowiednich algorytmów. Zastosowanie estymatorów w procesie pomiaru kąta fazowego metodami cyfrowymi, zapewnia dużą szybkość uzyskiwania wyniku przesunięcia fazowego. Tradycyjne metody sprzętowe umożliwiają uzyskanie wyniku pomiaru nie częściej niż dwa razy na okres sygnału pomiarowego. Pomiar sygnałów wolnozmiennych, których okres sygnału wynosi nawet kilkaset sekund jest tym samym bardzo utrudniony. * Politechnika Wrocławska, Instytut Maszyn, Napędów I Pomiarów Elektrycznych, ul. Smoluchowskiego 19, Wrocław, daniel.dusza@pwr.wroc.pl

2 460 Kolejną cechą algorytmicznych metod jest predykcja wyznaczania przesunięcia fazowego, czyli możliwość oceny wartości odpowiednich kątów dla kolejnych, następujących po sobie chwilach czasowych. Opracowane zostały również estymatory pozwalające na wyznaczenie wartości przesunięcia fazowego zmiennego w czasie [2]. 2. STRUKTURA PROJEKTOWANIA PRZYRZĄDU DO WYZNACZANIA WARTOŚCI KĄTA PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Przyrząd wirtualny został stworzony w środowisku LabView i umożliwia współpracę generatora cyfrowego z karta pomiarową. Głównymi zadaniami programu jest ustawienie parametrów generatora, odczytanie danych przez kartę pomiarową oraz na podstawie zebranych danych, wyznaczenie wartości kąta przesunięcia fazowego. Ponadto program umożliwia przeprowadzanie symulacji działania estymatora na podstawie sygnałów generowanych przez generator symulacyjny, zaimplementowany w środowisku LabView. Program obliczający kąt przesunięcia fazowego oparty jest na estymatorze, który wyznacza wartości poszczególnych kątów fazowych sygnałów w chwili czasowej równej połowie czasu obserwacji badanych sygnałów. Obliczone wartości kątów są następnie odejmowane od siebie, w rezultacie czego uzyskuje się wartość kąta przesunięcia fazowego występującego pomiędzy badanymi sygnałami. Program główny pracuje w pętli While Loop, dzięki czemu możliwa jest praca ciągła poszczególnych części programu. Panel główny programu podzielono na cztery zakładki, umożliwiające wykonywanie poszczególnych fragmentów kodów programu. Wybór odpowiedniej zakładki realizowany jest poprzez pętle Case Structure oraz połączonej z nią kontrolki Tab Control. W każdej z czterech podstruktur pętli Case Structure znajduje się kolejna pętla, która uruchamiana jest poprzez wciśnięcie przycisku znajdującego się w odpowiedniej zakładce programu głównego. Dzięki takiej realizacji programowej możliwa jest zmiana nastaw oferowanych przez program oraz uruchamianie poszczególnych części kodu znajdującego się w wewnętrznej pętli Case Structure. W każdej z pętli wewnętrznych dodatkowo znajduje się element opóźniający kolejne wykonanie pętli, dzięki czemu kolejne wykonanie pętli następuje dopiero po określonym czasie. Przez takie rozwiązanie unika się maksymalnego obciążania procesora i umożliwia na poprawne ustawienia parametrów urządzeń zewnętrznych PODPROGRAM GENERATOR Program do sterowania pracą generatora znajduje się w pierwszej zakładce programu głównego GENERATOR pokazanej na rysunku 1.

3 461 Rys. 1. Panel czołowy podprogramu Generator Fig. 1. Front panel of Generator subroutine Panel czołowy został podzielony na trzy części: ustawienia kanał 1, ustawienia kanał 2 i sterowanie generatorem. Dwa pierwsze panele umożliwiają zmianę parametrów generowanych sygnałów, odpowiednio dla kanału pierwszego oraz kanału drugiego. W panelu sterowanie generatorem można wybrać port interfejsu generatora, a wysłanie ustawień odbywa się poprzez naciśnięcie przycisku ustaw generator. Ustawienia wszystkich suwaków paneli możliwe jest w dostępnym zakresie oferowanym przez zastosowany w układzie generator AFG320 firmy Sony-Tektronix. Jedyny wyjątek stanowi ograniczenie częstotliwościowe. Generator jest w stanie wygenerować sygnały o częstotliwości do 16 MHz, jednak sygnały o takiej częstotliwości nie mogą zostać poprawnie przetworzone przez kartę pomiarową PCI-6221 firmy National Instruments, której maksymalna częstotliwość próbkowania wynosi 250 khz (przy pomiarze z dwóch kanałów pomiarowych 125 khz). Program sterujący pracą generatora wyposażony jest w dodatkowe opcje, dzięki którym wartości częstotliwości sygnałów oraz zadany kąt przesunięcia fazowego wysyłane są do innych struktur programu. Kąt przesunięcia fazowego jest obliczany poprzez odjęcie odpowiednich wartości zadanych kątów fazowych dla poszczególnych kanałów generatora.

4 PODPROGRAM SYMULACJE Podprogram symulacje umożliwia przeprowadzanie symulacyjnych badań algorytmów estymacji przesunięcia fazowego, a w rezultacie uzyskać informacje o dokładności zastosowanego rozwiązania. Pierwsza część programu symuluje pracę idealnego generatora przebiegów funkcji sinusoidalnych, natomiast druga oblicza, korzystając z estymatora, wartość przesunięcia fazowego występującego pomiędzy generowanymi sygnałami. Panel czołowy programu SYMULACJE przedstawiony jest na rysunku 2. Rys. 2. Panel czołowy podprogramu Symulacje Fig. 2. Front panel of Simulations subroutine Panel został podzielony na dwie główne części. W lewej części panelu czołowego znajdują się okna wykresów, na których wyświetlaną są: przebieg badanego sygnału, całkowity ciąg próbek wygenerowany przez generator symulacyjny oraz kształt zastosowanego okna czasowego. W programie zastosowano parametryczne okno czasowe Kaisera, na którego kształt wpływa wartość parametru β zgodnie z wyrażeniem

5 463 gdzie: n [ 0,1.. N 1] ( ) Io ( ) wn 2 n ( N 0,5 ) I o β 1 N 0,5 =, (1) I o ( β ) β funkcja Bessela zerowego rzędu. Prawą stronę panelu czołowego podzielono na cztery części. Część pierwsza odpowiada za ustawienia generatora symulacyjnego. Oprócz standardowych parametrów możliwa jest zmiana liczby generowanych próbek. Środkowy panel umożliwia nastawę wartości parametrów estymatora oraz zmianę liczby analizowanych próbek wyrażoną w procentach wszystkich generowanych próbek. W części dolnej znajdują się dwa panele, po lewej wyświetlany jest wynik estymacji przesunięcia fazowego wraz z popełnianymi przez estymator błędami, po prawej wartość przesunięcia fazowego zadanego na generatorze symulacyjnym PODPROGRAM APROKSYMACJA Cyfrowy pomiar kąta przesunięcia fazowego pomiędzy dwoma sygnałami napięciowymi o jednakowej częstotliwości, wymaga synchronizacji zarówno próbkowania jak i wykonania pomiaru w tej samej chwili czasowej [1]. U x21 x20 x 22 a x12 a x11 x 12 x 11 x 10 a x10 ΔT t T obserwacji Rys. 3. Synchronizacja próbkowania poprzez zastosowanie aproksymacji Fig. 3. Sampling synchronization with using of approximation

6 464 Klasyczne karty pomiarowe z jednym przetwornikiem analogowo-cyfrowym, nie pozwalają w sposób bezpośredni na zrealizowanie pomiarów z kilku kanałów w tej samej chwili czasowej.. Sposób synchronizacji próbkowania poprzez zastosowanie aproksymacji pokazano na rysunku 3. Zbieranie próbek z poszczególnych kanałów następuje ze stałym przesunięciem czasowym Δ T. Przybliżone wartości amplitud uzyskuje się uśredniając dwie sąsiadujące ze sobą próbki sygnału pomiarowego. Wyrażenie opisujące aproksymację n-tej próbki można zapisać w postaci x + x =, (2) 2 a n n+ 1 x n gdzie: x n n-ta zmierzona próbka, n [0,1.. N 1], x n-ta zaproksymowana próbka, a n N liczba próbek. Czas obserwacji, czyli czas potrzebny do zmierzenia wszystkich próbek, wynosi: obserwacji ( 1 ) T = N Δ T. (3) Podprogram APROKSYMACJA realizuje dwa główne zadania. Pierwszym zadaniem programu jest zebranie danych pomiarowych przy użyciu karty akwizycji danych. W drugim etapie program estymuje wartość kąta przesunięcia fazowego zgodnie z algorytmem pokazanym na rysunku 4. Na rysunku 5 pokazano panel czołowy opracowanego podprogramu. Rys. 4. Diagram podprogramu wyznaczającego aproksymowaną próbkę Fig. 4. Diagram of approximation sample evaluate

7 465 Rys. 5. Panel czołowy podprogramu Aproksymacja Fig. 5. Front panel of Approximation subroutine Przeprowadzanie operacji aproksymacji skutkuje utratą jednej próbki zebranej jako ostatnia przez kartę pomiarową. W celu zapewnienia poprawności działania algorytmu należy zmniejszyć liczbę próbek analizowaną przez estymator o dokładnie jedną próbkę. Układ lewej strony panelu czołowego jest identyczny jak dla programu SYMU- LACJE. Prawa część panelu czołowego podzielona jest na cztery części. W części górnej dostępny jest panel pomocniczy parametry karty pomiarowej, w którym można wybrać odpowiednie kanały karty akwizycji danych z których zostaną zebrane próbki. Dodatkowo użytkownik ma możliwość zmiany częstotliwości próbkowania karty pomiarowej oraz określenia liczby próbek zebranych przez kartę pomiarową. Panel pomocniczy parametry estymatora pozwala na zmianę liczby próbek, które zostaną przeanalizowane przez algorytm oraz zmianę parametru β okna Kaisera. W dolnym lewym oknie wyświetlany jest wynik estymacji kąta przesunięcia fazowego wraz z błędami.

8 PODPROGRAM SAMPLE-HOLD Innym rozwiązaniem pozwalającym na synchroniczne pomiary przy pomocy karty pomiarowej z jednym przetwornikiem A/C jest zastosowanie układu próbkującopamiętającego (Sample-Hold). Przetwornik próbkująco-pamiętający służy do zapamiętywania próbki o stałym poziomie napięcia w czasie jej przetwarzania do postaci cyfrowej. Napięcie to odpowiada wartości wejściowego sygnału analogowego, precyzyjnie określonego w danej chwili czasowej pobierania próbki [3]. W celu poprawnego pomiaru przesunięcia fazowego dwóch sygnałów napięciowych, konieczne jest jednak zastosowanie dwóch, synchronizowanych ze sobą układów próbkującopamiętających, po jednym na każdy kanał pomiarowy. Rys. 6. Sterowanie układu próbkująco-pamiętającego Fig. 6. Sample-Hold circuit control Do sterowania układem próbkująco-pamiętającym można wykorzystać cyfrowe wyjście licznika karty pomiarowej. Karta pomiarowa PCI-6221 umożliwia określenie początku czasu próbkowania poprzez zegar AI Sample Clock, który może być stero-

9 467 wany poprzez zbocze opadające licznika Ctr2. Koniec stanu nieustalonego występujący po przejściu układu próbkująco-pamiętającego jest zsynchronizowany ze zboczem opadającym licznika Ctr1. Okres przetwarzania próbek sterowany jest poprzez AI Convert Clock. Panel czołowy sterowania układów próbkująco-pamiętających, utworzony przy pomocy DAQ Assistante, jest pokazany na rysunku 6. Podprogram SAMPLE-HOLD różni się od programu głównego APRO- KSYMACJA sposobem zbierania próbek za pomocą karty pomiarowej oraz brakiem funkcji aproksymującej. Liczba próbek analizowanych jest równa liczbie próbek zebranych przez kartę pomiarową. Dodatkowym elementem programu głównego jest podprogram sterujący układem SH oraz momentem inicjacji próbkowania karty pomiarowej.panel czołowy programu głównego jest identyczny z panelem czołowym podprogramu APROKSYMACJA (rysunek 5). 3. WYNIKI BADAŃ Dla pomiarów z wykorzystaniem metody aproksymacji, maksymalna częstotliwość próbkowania karty pomiarowej PCI-6221 firmy National Instruments wynosi f p = 250 khz, co oznacza, że przy wykorzystaniu dwóch kanałów pomiarowych maksymalna częstotliwość przypadająca na każdy z kanałów jest równa f p = 125 khz. Natomiast pomiary z wykorzystaniem układu próbkująco-pamiętającego zostały wykonane z częstotliwością próbkowania f p = 40 khz, w obu przypadkach na zbiorze N = próbek. Liczba analizowanych próbek oraz szerokość okna czasowego równa jest liczbie próbek otrzymanych w wyniku aproksymacji. Uzyskano dzięki temu jednoznaczną ocenę pomiaru kąta przesunięcia fazowego. Z charakterystyki δϕ = f(ϕ) przedstawionej na rysunku 7 wynika, że występują trzy minima, które są wielokrotnościami kąta ϕ = 90. Błąd względny pomiaru kąta przesunięcia fazowego metodą estymacji zmienia się wraz ze zmianą zadanego kąta fazowego ϕ. Największy błąd występuje dla najmniejszych wartości kąta. W metodzie wykorzystującej układy próbkującopamiętające widoczny jest wzrost błędu wyznaczenia wartości przesunięcia fazowego, co jest związane z ograniczoną szybkością przetwarzania zastosowanego układu (LF398). Niewielki wpływ na wynik estymacji kąta przesunięcia fazowego ma zmiana wartości amplitud badanych sygnałów pomiarowych rysunek 8. Stosunek amplitud dwóch sygnałów napięciowych określa współczynnik k, wyrażony równaniem k U 1 = 100%. (4) U2

10 468 0,15 δϕ [%] 2kHz a) 0,1 0,05 50Hz 0 0,25 δϕ % [ ] 0,2 ϕ kHz b) 0,15 0,1 50Hz 0,05 0 ϕ Rys.7. Zmiany błędu przesunięcia fazowego w funkcji zmiany kąta fazowego dla układu z aproksymacją (a), dla układu próbkująco pamiętającego (b) Fig. 7. Phase shift errors changes in function of phase angle change for approximation method (a), for sample-hold method δϕ 0,106 0,104 0,102 0,1 0,098 0,096 0,094 0,092 0,09 0,088 [%] aproksymacja Sample-Hold k [%] Rys. 8. Zmiany błędu przesunięcia fazowego w funkcji zmiany amplitudy sygnałów Fig. 8. Phase shift errors changes in function of signals amplitude change

11 469 Udział napięciowej składowej stałej jednego z sygnałów, wyrażony w procentowym stosunku wartości składowej stałej do wartości amplitudy sygnału określony równaniem Uoffset U DC % = 100%. (5) U w bardzo małym stopniu wpływa na wartość błędu rysunek 9. δϕ 0,112 0,11 0,108 0,106 0,104 0,102 0,1 0,098 0,096 [%] aproksymacja Sample-Hold U [ % DC % ] Rys. 9. Zmiany błędu przesunięcia fazowego w funkcji zmiany składowej stałej sygnałów Fig. 9. Phase shift errors changes in function of signals offset change Badania algorytmu estymacji kąta przesunięcia fazowego zarówno z wykorzystaniem metody aproksymacji, jak i układów próbkująco-pamiętających, zostały przeprowadzone dla bazowych wielkości: amplitud równych A 1 = A 2 = 1 V, częstotliwości sygnałów badanych f 1 = f 2 = 50 Hz oraz kąta przesunięcia fazowego ϕ = 60. Zmiany wartości wielkości wyżej wymienionych występowały jedynie w badaniach wymagających zmiany tych parametrów. Przeprowadzone pomiary wykazały, że błąd względny pomiaru kąta fazowego nie przekracza wartości δϕ = 0,1%. Błąd ten wynika z dokładności zastosowanego generatora i zastosowanej karty pomiarowej PCI Dokładność generacji kąta fazowego generatora AFG320 wynosi Δϕ = 1 [5], natomiast dokładność karty pomiarowej zależy od zakresu pomiarowego w jakim karta pracuje [4]. Najmniejszy błąd występuje przy pomiarze badanych sygnałów dla wielokrotności kąta zadanego wynoszącego ϕ = 90, natomiast dla wartości kątów ϕ < 90 błąd estymacji kąta przesunięcia fazowego znacząco rośnie. Algorytm estymacji przesunięcia fazowego nie jest wrażliwy na zmianę zarówno wartości amplitud, jak i wartości składowych stałych dla sygnałów pomiarowych.

12 WNIOSKI Z przeprowadzonych rozważań i badań wynikają zalety stosowania metody aproksymacji w pomiarach przesunięcia fazowego sygnałów. Główną przyczyną ograniczającą w tej metodzie dokładność estymacji kąta przesunięcia fazowego jest częstotliwość próbkowania karty pomiarowej. Dla pomiarów w układzie rzeczywistym zaobserwowano zmniejszanie się dokładności wraz ze wzrostem częstotliwości badanych sygnałów. Pomiar przesunięcia fazowego obarczony jest błędem wynikającym z niedokładności czasu próbkowania poszczególnych analogowych kanałów pomiarowych. Stworzenie odpowiedniego algorytmu wyznaczającego poprawnie wartości amplitud sygnału pomiarowego odczytanego przez kartę pomiarową z opóźnieniem, w znaczącym stopniu może zwiększyć dokładność działania przyrządu wirtualnego. Zastosowanie algorytmu aproksymacyjnego niesie ze sobą korzyści wynikające z braku konieczności zakupu droższej karty pomiarowej, wyposażonej w dwa przetworniki analogowo-cyfrowe. Przy wymianie karty pomiarowej na szybszą np. NI-6110 i po zmianie części programu dotyczącego obsługi karty pomiarowej (około 5% kodu programu) opracowany przyrząd wirtualny może być stosowany do pomiaru różnicy faz również dla wyższych częstotliwości sygnału. LITERATURA [1] BERTOCCO M., OFFELLI C., PETRI D., Dynamic Behavior of a Digital Phase Estimator, IEEE Transactions on Instrument and Measurement, [2] GAJDA J., SROKA R., Pomiary kąta fazowego metody układy algorytmy, Wydawnictwo Akademii Górniczo-Hutniczej, Kraków [3] LESIAK P.T., Inteligentna technika pomiarowa, Wyd. Politechniki Radomskiej, Radom [4] RYDZEWSKI J., Pomiary oscyloskopowe, WNT, Warszawa [5] Datasheet: Arbitrary Function Genertator AFG310 and AF320, VIRTUAL INSTRUMENT FOR EVALUATION THE PHASE DIFFERENCE OF TWO VOLTAGE SIGNALpS The paper present the virtual instrument for evaluation the phase difference of two voltage signals that realize the measurement using of data acquisition card with one analog to digital converter. Built instrument has implemented two possibilities to phase difference measure. In the first method the approximation of one of the signals is used, however in the second method external sample-hold is used. Moreover, built virtual instrument gives possibility to check algorithm performance using simulated input signal.

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium komputerowe Mechatroniki Cel zajęć ęć: Przyrząd pomiarowy:

Bardziej szczegółowo

Wirtualne przyrządy pomiarowe

Wirtualne przyrządy pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium Mechatroniki Cel zajęć ęć: Zapoznanie się ze strukturą układu pomiarowego

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO PROBLEMS AD PROGRESS METROLOGY PPM 18 Conference Digest Grzegorz SADKOWSK Główny rząd Miar Samodzielne Laboratorium Elektryczności i Magnetyzmu WZORCOWAE MOSTKÓW DO POMAR BŁĘDÓW PRZEKŁADKÓW PRĄDOWYCH APĘCOWYCH

Bardziej szczegółowo

Gromadzenie danych. Przybliżony czas ćwiczenia. Wstęp. Przegląd ćwiczenia. Poniższe ćwiczenie ukończysz w czasie 15 minut.

Gromadzenie danych. Przybliżony czas ćwiczenia. Wstęp. Przegląd ćwiczenia. Poniższe ćwiczenie ukończysz w czasie 15 minut. Gromadzenie danych Przybliżony czas ćwiczenia Poniższe ćwiczenie ukończysz w czasie 15 minut. Wstęp NI-DAQmx to interfejs służący do komunikacji z urządzeniami wspomagającymi gromadzenie danych. Narzędzie

Bardziej szczegółowo

WOLTOMIERZA PRÓBKUJĄCY Z ANALIZĄ HARMONICZNYCH W ŚRODOWISKU LabVIEW

WOLTOMIERZA PRÓBKUJĄCY Z ANALIZĄ HARMONICZNYCH W ŚRODOWISKU LabVIEW Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 60 Politechniki Wrocławskiej Nr 60 Studia i Materiały Nr 27 2007 Krzysztof PODLEJSKI *, Rafał PIETRUSZKA * Woltomierz próbkujący, środowisko

Bardziej szczegółowo

Sprzęt i architektura komputerów

Sprzęt i architektura komputerów Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM

Program ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 3 Analiza częstotliwościowa sygnałów dyskretnych 1. Opis stanowiska Ćwiczenie jest

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Zastosowania wielofunkcyjnej karty pomiarowej Data wykonania: 06.03.08 Data oddania: 19.03.08 Celem ćwiczenia było poznanie

Bardziej szczegółowo

Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne

Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 3 Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne SPIS TREŚCI Spis treści... 2 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Wymagania...

Bardziej szczegółowo

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych

Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Programowanie wielofunkcyjnej karty pomiarowej w VEE Data wykonania: 15.05.08 Data oddania: 29.05.08 Celem ćwiczenia była

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 1 Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych 1. Stanowisko laboratoryjne

Bardziej szczegółowo

Schemat blokowy karty

Schemat blokowy karty Obsługa kart I/O Karta NI USB-6008 posiada: osiem wejść analogowych (AI), dwa wyjścia analogowe (AO), 12 cyfrowych wejść-wyjść (DIO), 32-bitowy licznik. Schemat blokowy karty Podstawowe parametry karty

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia: Ćwiczenie Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu Program ćwiczenia:. Pomiary metodą skoku jednostkowego a. obserwacja charakteru odpowiedzi obiektu dynamicznego II rzędu w zależności od współczynnika

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe"

Ćwiczenie: Mierniki cyfrowe Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: Próbkowanie

Bardziej szczegółowo

ANALIZA WŁAŚCIWOŚCI PRZESUWNIKÓW FAZOWYCH W UKŁADACH QUASI-ZRÓWNOWAŻONYCH

ANALIZA WŁAŚCIWOŚCI PRZESUWNIKÓW FAZOWYCH W UKŁADACH QUASI-ZRÓWNOWAŻONYCH PROBLEMS AND PROGRESS IN METROLOGY PPM 18 Conference Digest Sebastian BARWINEK, Adam CICHY, Artur SKÓRKOWSKI Politechnika Śląska Katedra Metrologii, Elektroniki i Automatyki ANALIZA WŁAŚCIWOŚCI PRZESUWNIKÓW

Bardziej szczegółowo

Uśrednianie napięć zakłóconych

Uśrednianie napięć zakłóconych Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Uśrednianie napięć zakłóconych Grupa Nr ćwicz. 5 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I.

Bardziej szczegółowo

Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych

Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych wersja: 05.2015 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprezentowanie istoty działania przetworników analogowo-cyfrowych (ADC analog-to-digital converter),

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie A/C i C/A

Przetwarzanie A/C i C/A Przetwarzanie A/C i C/A Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 Rev. 204.2018 (KS) 1 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z przetwornikami: analogowo-cyfrowym

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Elektroniczne przyrządy i techniki pomiarowe POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO Grupa Nr

Bardziej szczegółowo

BADANIA WYBRANYCH CZUJNIKÓW TEMPERATURY WSPÓŁPRACUJĄCYCH Z KARTAMI POMIAROWYMI W LabVIEW

BADANIA WYBRANYCH CZUJNIKÓW TEMPERATURY WSPÓŁPRACUJĄCYCH Z KARTAMI POMIAROWYMI W LabVIEW Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 63 Politechniki Wrocławskiej Nr 63 Studia i Materiały Nr 29 2009 Krzysztof PODLEJSKI* czujniki temperatury, LabVIEW BADANIA WYBRANYCH

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 6 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH

UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) 1. OPIS TECHNICZNY UKŁADÓW BADANYCH UKŁADY Z PĘTLĄ SPRZĘŻENIA FAZOWEGO (wkładki DA171A i DA171B) WSTĘP Układy z pętlą sprzężenia fazowego (ang. phase-locked loop, skrót PLL) tworzą dynamicznie rozwijającą się klasę układów, stosowanych głównie

Bardziej szczegółowo

BADANIE ELEMENTÓW RLC

BADANIE ELEMENTÓW RLC KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów

Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów Politechnika Warszawska Instytut Radioelektroniki Zakład Radiokomunikacji STUDIA MAGISTERSKIE DZIENNE LABORATORIUM SYGNAŁÓW MODULACJI I SYSTEMÓW Ćwiczenie 4: Próbkowanie sygnałów Opracował dr inż. Andrzej

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Pętla fazowa AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Pętla fazowa Ćwiczenie 6 2015 r. 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem pętli fazowej. 2. Konspekt

Bardziej szczegółowo

III. Przebieg ćwiczenia. 1. Generowanie i wizualizacja przebiegów oraz wyznaczanie ich podstawowych parametrów

III. Przebieg ćwiczenia. 1. Generowanie i wizualizacja przebiegów oraz wyznaczanie ich podstawowych parametrów POLITECHNIKA RZESZOWSKA KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW DIAGNOSTYCZNYCH LABORATORIUM GRAFICZNE ŚRODOWISKA PROGRAMOWANIA S.P. WPROWADZENIE DO UŻYTKOWANIA ŚRODOWISKA VEE (1) I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ

Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ Konfiguracja karty akwizycji danych pomiarowych DAQ Uruchom program konfiguracyjny Measurement & Automation Explorer (ikona na Pulpicie) Measurement & Automation.lnk Rozwiń menu Devices and Interfaces,

Bardziej szczegółowo

POMIARY OSCYLOSKOPOWE II

POMIARY OSCYLOSKOPOWE II Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II POMIARY OSCYLOSKOPOWE II Grupa L.../Z... 1... kierownik Nr ćwicz. 2 2... 3... 4... Data Ocena I. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe.

INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. MTiSP pomiary częstotliwości i przesunięcia fazowego MTiSP 003 Autor: dr inż. Piotr Wyciślok Strona 1 / 8 Cel Celem ćwiczenia jest wykorzystanie

Bardziej szczegółowo

Wykorzystanie karty PCI-6014 NI jako karty pomiarowej prostego wirtualnego oscyloskopu

Wykorzystanie karty PCI-6014 NI jako karty pomiarowej prostego wirtualnego oscyloskopu Wykorzystanie karty PCI-6014 NI jako karty pomiarowej prostego wirtualnego oscyloskopu W ćwiczeniu wykorzystywane są dwa kanały wejściowe karty, ACH0 i ACH8, oraz kanał wyjściowy DAC0OUT. Do kanałów wejściowych

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Badanie właściwości multipleksera analogowego Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

Analiza właściwości filtra selektywnego

Analiza właściwości filtra selektywnego Ćwiczenie 2 Analiza właściwości filtra selektywnego Program ćwiczenia. Zapoznanie się z przykładową strukturą filtra selektywnego 2 rzędu i zakresami jego parametrów. 2. Analiza widma sygnału prostokątnego..

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 4 Filtracja sygnałów dyskretnych 1. Opis stanowiska Ćwiczenie jest realizowane w

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium komputerowych systemów pomiarowych Ćwiczenie 8 Wykorzystanie modułów FieldPoint w komputerowych systemach pomiarowych 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 11. Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych

Ćwiczenie nr 11. Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych Ćwiczenie nr 11 Projektowanie sekcji bikwadratowej filtrów aktywnych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi filtrami elektrycznymi o charakterystyce dolno-, środkowo- i górnoprzepustowej,

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 3

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 3 Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej Ćwiczenie 3 Przetwarzanie danych pomiarowych w programie LabVIEW 1. Generator harmonicznych Jako

Bardziej szczegółowo

Filtry cyfrowe procesory sygnałowe

Filtry cyfrowe procesory sygnałowe Filtry cyfrowe procesory sygnałowe Rozwój wirtualnych przyrządów pomiarowych Algorytmy CPS działające na platformie TMX 320C5515e ZDSP USB STICK realizowane w laboratorium FCiPS Rozszerzenie ćwiczeń o

Bardziej szczegółowo

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA

PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS PROGRAM TESTOWY LCWIN.EXE OPIS DZIAŁANIA I INSTRUKCJA UŻYTKOWNIKA EGMONT INSTRUMENTS tel. (0-22) 823-30-17, 668-69-75 02-304 Warszawa, Aleje Jerozolimskie 141/90 fax (0-22) 659-26-11

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 11. Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 11. Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 11 Podstawy akwizycji i cyfrowego przetwarzania sygnałów Program ćwiczenia: 1. Konfiguracja karty pomiarowej oraz obserwacja sygnału i jego widma 2. Twierdzenie o próbkowaniu obserwacja dwóch

Bardziej szczegółowo

APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT

APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT Sławomir Marczak - IV rok Koło Naukowe Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński - opiekun naukowy APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT

Bardziej szczegółowo

LV6. Pomiary mocy i energii w jednofazowych obwodach prądu przemiennego

LV6. Pomiary mocy i energii w jednofazowych obwodach prądu przemiennego LV6 Pomiary mocy i energii w jednofazowych obwodach prądu przemiennego Celem ćwiczenia jest zapoznanie z problematyką wyznaczania wartości mocy i energii z próbek sygnału zebranych w obwodzie pomiarowym

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZ OPERACYJNY

WZMACNIACZ OPERACYJNY 1. OPIS WKŁADKI DA 01A WZMACNIACZ OPERACYJNY Wkładka DA01A zawiera wzmacniacz operacyjny A 71 oraz zestaw zacisków, które umożliwiają dołączenie elementów zewnętrznych: rezystorów, kondensatorów i zwór.

Bardziej szczegółowo

12. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego

12. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego 94 12. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego Cele ćwiczenia Badanie właściwości pętli fazowej. Badanie układu Costasa do odtwarzania nośnej sygnału AM-SC. Badanie układu Costasa

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (../..) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II WYZNACZANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW Grupa: Nr. Ćwicz. 9 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych ĆWICZENIE 0 Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i właściwościami wzmacniaczy operacyjnych oraz podstawowych układów elektronicznych

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie AC i CA

Przetwarzanie AC i CA 1 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Przetwarzanie AC i CA Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 1. Cel ćwiczenia 2 Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych

Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Ćwiczenie Analiza właściwości filtrów dolnoprzepustowych Program ćwiczenia. Zapoznanie się z przykładową strukturą filtra dolnoprzepustowego (DP) rzędu i jego parametrami.. Analiza widma sygnału prostokątnego.

Bardziej szczegółowo

Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka Poznań, 16.05.2012r. Raport z promocji projektu Nowa generacja energooszczędnych

Bardziej szczegółowo

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego, oraz zapoznanie się z metodami wyznaczania charakterystyk częstotliwościowych.

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA POLITECHNIKA OPOLSKA KATEDRA MECHANIKI I PODSTAW KONSTRUKCJI MASZYN MECHATRONIKA Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Analiza sygnałów czasowych Opracował: dr inż. Roland Pawliczek Opole 2016 1 2 1. Cel

Bardziej szczegółowo

Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 )

Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 ) Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 ) Problemy teoretyczne: Podstawy architektury kart kontrolno-pomiarowych na przykładzie modułu NI DAQPad-6015 Teoria próbkowania

Bardziej szczegółowo

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu 1 ĆWICZENIE 7. CEL ĆWICZENIA. Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu Celem ćwiczenia jest poznanie własności dynamicznych przetworników pierwszego rzędu w dziedzinie czasu i częstotliwości

Bardziej szczegółowo

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika.

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika. PLANOWANIE I TECHNIKA EKSPERYMENTU Program ćwiczenia Temat: Badanie właściwości statycznych przetworników pomiarowych, badanie właściwości dynamicznych czujników temperatury Ćwiczenie 5 Spis przyrządów

Bardziej szczegółowo

Enkodery czujniki cyfrowe

Enkodery czujniki cyfrowe Enkodery czujniki cyfrowe Czujniki cyfrowe - enkodery Przetwarzają sygnał analogowy na cyfrowy w postaci impulsów. Enkoder optyczny liniowy Każdy okres można podzielić np. na 1024 części - rozdzielczość

Bardziej szczegółowo

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI NAPIĘCIA W URZĄDZENIACH AUTOMATYKI ELEKTROENERGETYCZNEJ

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI NAPIĘCIA W URZĄDZENIACH AUTOMATYKI ELEKTROENERGETYCZNEJ Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 63 Politechniki Wrocławskiej Nr 63 Studia i Materiały Nr 9 9 Piotr NIKLAS* pomiar częstotliwości, składowe harmoniczne, automatyka elektroenergetyczna

Bardziej szczegółowo

POMIARY OSCYLOSKOPOWE II

POMIARY OSCYLOSKOPOWE II Laboratorium Metrologii II. 2012/13 zlachpolitechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II POMIARY OSCYLOSKOPOWE II Grupa Nr ćwicz. 1 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 7 POMIARY CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU Opracowała: A. Szlachta

Ćwiczenie 7 POMIARY CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU Opracowała: A. Szlachta Ćwiczenie 7 POMIARY CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU Opracowała: A. Szlachta I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych metod pomiaru częstotliwości. Metody analogowe, zasada cyfrowego

Bardziej szczegółowo

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPKO http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta

Bardziej szczegółowo

Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji

Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji Wpływ nieliniowości elementów układu pomiarowego na błąd pomiaru impedancji Wiesław Miczulski* W artykule przedstawiono wyniki badań ilustrujące wpływ nieliniowości elementów układu porównania napięć na

Bardziej szczegółowo

Wstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru

Wstęp. Doświadczenia. 1 Pomiar oporności z użyciem omomierza multimetru Wstęp Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z podstawowymi przyrządami takimi jak: multimetr, oscyloskop, zasilacz i generator. Poznane zostaną również podstawowe prawa fizyczne a także metody opracowywania

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki PRACA DYPLOMOWA MAGISTERSKA Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Marcin Narel Promotor: dr inż. Eligiusz

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna

Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna Ćwiczenie 20 Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna Program ćwiczenia: 1. Wyznaczenie stałej czasowej oraz wzmocnienia statycznego obiektu inercyjnego I rzędu 2. orekcja

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa. Nr ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa. Nr ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II ELEMENTY CYFROWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁÓW POMIAROWYCH Grupa Nr ćwicz. 2 1... kierownik 2... 3... 4... Data

Bardziej szczegółowo

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ ELEKTRYKA 014 Zeszyt 1 (9) Rok LX Krzysztof SZTYMELSKI, Marian PASKO Politechnika Śląska w Gliwicach MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI ISTEREZY MAGNETYCZNEJ Streszczenie. W artykule został zaprezentowany matematyczny

Bardziej szczegółowo

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych XXXVIII MIĘDZYUCZELNIANIA KONFERENCJA METROLOGÓW MKM 06 Warszawa Białobrzegi, 4-6 września 2006 r. Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika

Bardziej szczegółowo

Układy akwizycji danych. Komparatory napięcia Przykłady układów

Układy akwizycji danych. Komparatory napięcia Przykłady układów Układy akwizycji danych Komparatory napięcia Przykłady układów Komparatory napięcia 2 Po co komparator napięcia? 3 Po co komparator napięcia? Układy pomiarowe, automatyki 3 Po co komparator napięcia? Układy

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel

Bardziej szczegółowo

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ

ZAKŁAD SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH I TELEKOMUNIKACYJNYCH Laboratorium Podstaw Telekomunikacji WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ Laboratorium Podstaw Telekomunikacji Ćw. 4 WPŁYW SZUMÓW NA TRANSMISJĘ CYFROWĄ 1. Zapoznać się z zestawem do demonstracji wpływu zakłóceń na transmisję sygnałów cyfrowych. 2. Przy użyciu oscyloskopu cyfrowego

Bardziej szczegółowo

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU

POMIAR CZĘSTOTLIWOŚCI I INTERWAŁU CZASU Nr. Ćwicz. 7 Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Laboratorium Metrologii I POMIAR CZĘSOLIWOŚCI I INERWAŁU CZASU Grupa:... kierownik 2... 3... 4... Ocena I. CEL ĆWICZENIA Celem

Bardziej szczegółowo

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 6

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 6 Politechnika Łódzka Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej Ćwiczenie 6 Akwizycja danych pomiarowych za pomocą karty pomiarowej w programie LabVIEW 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

CZAZ GT BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY. DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2

CZAZ GT BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY. DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2 CZAZ GT CYFROWY ZESPÓŁ AUTOMATYKI ZABEZPIECZENIOWEJ GENERATORA / BLOKU GENERATOR -TRANSFORMATOR BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2 Modyfikacje funkcjonalne

Bardziej szczegółowo

10. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego

10. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego 102 10. Demodulatory synchroniczne z fazową pętlą sprzężenia zwrotnego Cele ćwiczenia Badanie właściwości pętli fazowej. Badanie układu Costasa do odtwarzania nośnej sygnału AM-SC. Badanie układu Costasa

Bardziej szczegółowo

Ćw. 9 Przerzutniki. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wymagane informacje. 3. Wprowadzenie teoretyczne PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB

Ćw. 9 Przerzutniki. 1. Cel ćwiczenia. 2. Wymagane informacje. 3. Wprowadzenie teoretyczne PODSTAWY ELEKTRONIKI MSIB Ćw. 9 Przerzutniki 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi elementami sekwencyjnymi, czyli przerzutnikami. Zostanie przedstawiona zasada działania przerzutników oraz sposoby

Bardziej szczegółowo

MODELING OF MEASURING SYSTEMS IN VEE PRO PROGRAMMING ENVIRONMENT WITH USE OF VIRTUAL INSTRUMENTS

MODELING OF MEASURING SYSTEMS IN VEE PRO PROGRAMMING ENVIRONMENT WITH USE OF VIRTUAL INSTRUMENTS Jadwiga RATYŃSKA 1 Radosław CIOĆ 2 system pomiarowy wirtualny przyrząd pomiarowy, zintegrowane środowisko programowe WYKORZYSTANIE WIRTUALNYCH PRZYRZĄDÓW POMIAROWYCH PRZY PROJEKTOWANIU SYSTEMÓW POMIAROWYCH

Bardziej szczegółowo

Zapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303.

Zapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303. Zapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303. Dołączyć oscyloskop do generatora funkcyjnego będącego częścią systemu MS-9140 firmy HAMEG. Kanał Yl dołączyć

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 5 Pomiary parametrów sygnałów napięciowych Program ćwiczenia: 1. Pomiar wartości skutecznej, średniej wyprostowanej i maksymalnej sygnałów napięciowych o kształcie sinusoidalnym, prostokątnym

Bardziej szczegółowo

7. Szybka transformata Fouriera fft

7. Szybka transformata Fouriera fft 7. Szybka transformata Fouriera fft Dane pomiarowe sygnałów napięciowych i prądowych często obarczone są dużym błędem, wynikającym z istnienia tak zwanego szumu. Jedną z metod wspomagających analizę sygnałów

Bardziej szczegółowo

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008 Detektor Fazowy Marcin Polkowski marcin@polkowski.eu 23 stycznia 2008 Streszczenie Raport z ćwiczenia, którego celem było zapoznanie się z działaniem detektora fazowego umożliwiającego pomiar słabych i

Bardziej szczegółowo

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych Przeznaczony do testowania przekaźników i przetworników Sterowany mikroprocesorem Wyposażony w przesuwnik fazowy Generator częstotliwości Wyniki badań i

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Przetwarzanie Sygnałów Kod: TS1A400027 Temat ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

Komputerowe projektowanie układów ćwiczenia uzupełniające z wykorzystaniem Multisim/myDAQ. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ

Komputerowe projektowanie układów ćwiczenia uzupełniające z wykorzystaniem Multisim/myDAQ. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych PŁ Laboratorium Komputerowe projektowanie układów Ćwiczenia uzupełniające z wykorzystaniem oprogramowania Multisim oraz sprzętu mydaq National Instruments

Bardziej szczegółowo

Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa

Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 1 Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa Grupa 6 Aleksandra Gierut ZADANIE 1 Zapoznać się z działaniem oscyloskopu oraz generatora funkcyjnego. Podać krótki opis

Bardziej szczegółowo

L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH

L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA W YDZIAŁ ELEKTRONIKI zima L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH Grupa:... Data wykonania ćwiczenia: Ćwiczenie prowadził: Imię:......... Data oddania sprawozdania: Podpis: Nazwisko:......

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej

Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Telekomunikacji i Aparatury Elektronicznej Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Przetwarzanie Sygnałów Kod: TS1C400027 Temat ćwiczenia:

Bardziej szczegółowo

Zjawisko aliasingu. Filtr antyaliasingowy. Przecieki widma - okna czasowe.

Zjawisko aliasingu. Filtr antyaliasingowy. Przecieki widma - okna czasowe. Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Komputerowe wspomaganie eksperymentu Zjawisko aliasingu.. Przecieki widma - okna czasowe. dr inż. Roland PAWLICZEK Zjawisko aliasingu

Bardziej szczegółowo

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

POMIARY OSCYLOSKOPOWE. Instrukcja wykonawcza

POMIARY OSCYLOSKOPOWE. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 51 POMIARY OSCYLOSKOPOWE Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów a. Oscyloskop dwukanałowy b. Dwa generatory funkcyjne (jednym z nich może być generator zintegrowany z oscyloskopem) c. Przesuwnik

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH WYDZIAŁ ELEKTRONIKI WAT. Warsztaty inżynierskie elektrotechniczne

INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH WYDZIAŁ ELEKTRONIKI WAT. Warsztaty inżynierskie elektrotechniczne INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH WYDZIAŁ ELEKTRONIKI WAT Warsztaty inżynierskie elektrotechniczne Ćwiczenie 4 Grupa: Zespół w składzie: 1. 2. 3. 4. Temat: Pomiary oscyloskopowe Data wykonania ćwiczenia:...

Bardziej szczegółowo

U 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF

U 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF Dynamiczne badanie przerzutników - Ćwiczenie 3. el ćwiczenia Zapoznanie się z budową i działaniem przerzutnika astabilnego (multiwibratora) wykonanego w technice TTL oraz zapoznanie się z działaniem przerzutnika

Bardziej szczegółowo

ANALIZA PORÓWNAWCZA METOD POMIARU IMPEDANCJI PĘTLI ZWARCIOWEJ PRZY ZASTOSOWANIU PRZETWORNIKÓW ANALOGOWYCH

ANALIZA PORÓWNAWCZA METOD POMIARU IMPEDANCJI PĘTLI ZWARCIOWEJ PRZY ZASTOSOWANIU PRZETWORNIKÓW ANALOGOWYCH Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 54 Politechniki Wrocławskiej Nr 54 Studia i Materiały Nr 23 2003 Andrzej STAFINIAK * metody pomiarowe,impedancje pętli zwarciowej impedancja

Bardziej szczegółowo