Programy CAD w praktyce inŝynierskiej

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Programy CAD w praktyce inŝynierskiej"

Transkrypt

1 Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechniki Łódzkiej Programy CAD w praktyce inŝynierskiej Wykład VI Systemy pomiarowe dr inż. Piotr Pietrzak dmcs.pl pok. 54, tel dmcs.p..p.lodz.pl

2 Systemy kontrolno-pomiarowe A. Chwaleba, M. Poniski, A. Siedlecki: Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa 2000

3 Ogólna struktura systemów kontrolno-pomiarowych MONITORING/NANDZÓR/STEROWANIE AKWIZYCJA DANYCH POMIAROWYCH Wzorzec pomiarowy Bufor danych Kryteria stanu, wartości graniczne Kondycjonowanie Przetwarzanie analogowo - cyfrowe Układy przetwarzania i analizy informacji pomiarowej Układy kontroli i porównywania z wielkościami zadanymi Pamięć programu Układ sterowania Pamięć danych Użytkownik Czujniki Nadzorowany obiekt

4 Systemy kontrolno-pomiarowe definicja System pomiarowy stanowi zbiór odpowiednio zestawionych i zorganizowanych środków technicznych (przyrządów, czujników i przetworników pomiarowych), objętych wspólnym sterowaniem wewnętrznym lub zewnętrznym, których zadaniem jest zbieranie informacji pomiarowych, przetwarzanie ich, archiwizacja a niekiedy także interpretacja.

5 Ogólna struktura systemów kontrolno-pomiarowych

6 Komunikacja w systemach kontrolno-pomiarowych Ekspert wewnętrzny Pomieszczenie kontrolne Serwer lokalnej bazy danych Ekspert zewnętrzny Ocrona dostępu Ochrona dostępu Sieć lokalna Sieć globalna Ekspert zewnętrzny Bramka wyjściowa Autonomiczny system nadzoru Sieć telefoni komórkowej Modem Sieć telefoniczna Bramka wyjściowa Autonomiczny system nadzoru

7 Komunikacja w systemach kontrolno-pomiarowych SIEĆ IEEE Procesor sieciowy (NCAP) IEEE IEEE Moduł interfejsu czujnika inteligentnego (STIM) Moduł interfejsu szyny czujników (TBIM) Czujnik Czujnik Czujnik Czujnik Model obiektu czujnika inteligentnego IEEE Czujnik pracujący w trybie mieszanym (MMT) Norma IEEE1451

8 Sposoby realizacji wielokanałowych systemów pomiarowych z próbkowaniem sekwencyjnym Czujnik 1 Czujnik 2 Czujnik n... Komutator Blok kondycjonowania sygnałów wejściowych Układ próbkująco - pamiętający Przetwornik analogowo - cyfrowy Blok przetwarzania i analizy danych pomiarowych Czujnik 1 Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający Przetwornik analogowo - cyfrowy z próbkowaniem jednoczesnym z wieloma przetwornikami A/C Czujnik 2 Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający Przetwornik analogowo - cyfrowy... Komutator Blok przetwarzania i analizy danych pomiarowych Czujnik n Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający Przetwornik analogowo - cyfrowy Czujnik 1 Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający z próbkowaniem jednoczesnym z jednym przetwornikiem A/C Czujnik 2 Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający... Komutator Przetwornik analogowo - cyfrowy Blok przetwarzania i analizy danych pomiarowych Czujnik n Blok kondycjonowania sygnału wejściowego Układ próbkująco - pamiętający

9 Wielokanałowe systemy pomiarowe komutatory Przełączniki źródła sygnału noszą nazwę komutatorów. W zależności od konfiguracji wewnętrznych łączników (kluczy) rozróżniamy multipleksery analogowe (wielu wejściom przyporządkowane jedno wyjście) oraz klucze analogowe (jednemu wejściu przyporządkowane jedno wyjście). Obecnie, komutatory produkowane są w postaci monolitycznych układów półprzewodnikowych. W zależności od zastosowanej technologii, rolę łączników pełnią w nich tranzystory polowe (ang. Junction Field Effect Transistor, JFET), polowe z izolowaną bramką (ang. Metal Oxide Semiconductor - FET, MOSFET) albo układy komplementarne tranzystorów polowych MOS (ang. Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS). Łączniki półprzewodnikowe w porównaniu z łącznikami mechanicznymi (np. kontaktronami) odznaczają się większą niezawodnością oraz szybkością działania. Czas ich eksploatacji w przeciwieństwie do łączników mechanicznych jest praktycznie nieograniczony. Sterowanie nimi jest prostsze, a moc konieczna do ich wysterowania - mniejsza. Dodatkowo wymiary geometryczne komutatorów półprzewodnikowych w porównaniu z wymiarami większości ich mechanicznych odpowiedników są niewielkie.

10 Wielokanałowe systemy pomiarowe komutatory Niestety klucze półprzewodnikowe posiadają mniejszą rezystancję w stanie wyłączenia oraz większą rezystancję w stanie załączenia. Przykładowo, wartość rezystancji dren-źródło tranzystora MOS ze wzbogacanym kanałem typu n, który może pełnić rolę klucza analogowego w stanie wyłączenia sięga R OFF =10GΩ. W stanie załączenia rezystancja ta spada do wartości R ON =25 100Ω. Fakt ten może być przyczyną pojawiania się błędów przy podłączeniu wyjścia klucza do układu o małej wartości rezystancji (spadek napięcia na R ON ). Pomimo niewielkiej wartości, pojemność kanału tranzystora w stanie wyłączenia może być przyczyną występowania sprzężenia pomiędzy wejściem a wyjściem klucza. Drogą kompromisu, ograniczenie wpływu powyższych zjawisk wymaga dołączenia wyjścia komutatora półprzewodnikowego do układu o rezystancji wejściowej z zakresu 1kΩ 100kΩ. W przypadku użycia prostych komutatorów półprzewodnikowych należy pamiętać o zachowaniu właściwych relacji pomiędzy wartościami napięć sygnałów sterujących a wartościami sygnałów wejściowych (U GS U T ).

11 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania Obwody kondycjonowania muszą zapewnić prawidłową współpracę przyrządu lub systemu z określonym typem przetwornika, w sposób nie powodujący utraty informacji ważnej z punktu widzenia danego zastosowania. Należy pamiętać, że każdy typ czujników podłączanych do systemu pomiarowego stawia obwodom kondycjonującym inne wymagania. Do podstawowych funkcji obwodów kondycjonowania należą: zabezpieczenie wejść układu, wzmacnianie, filtracja, przesuwanie składowej stałej sygnału.

12 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania zabezpieczenie wejść W chwili podłączania czujnika do układu w silnie zakłóconym środowisku, w wyniku przepływu ładunku zgromadzonego w pojemności przewodów może nastąpić uszkodzenie układów wejściowych systemu elektronicznego. Negatywne skutki mogą wywołać także uszkodzenia kabli, czy niewłaściwe podłączenie czujnika. Są to powody, dla których wymagane jest, stosowanie zabezpieczeń wejść sygnałowych przyrządów. Stosowane zabezpieczenia muszą być w stanie uchronić przyrząd lub system pomiarowy przed uszkodzeniem, ale nie mogą wpłynąć negatywnie na jakość pomiarów.

13 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania zabezpieczenie wejść Najczęściej stosuje się zabezpieczenia diodowe (diod Zenera, Schottky ego) lub zrealizowanych w oparciu o warystory. Jako dodatkowe zabezpieczenie często używane są transoptory lub wzmacniacze izolacyjne. W przypadku przepięcia mogą one ulec uszkodzeniu, jednak stanowią bardzo skuteczne zabezpieczenie pozostałej, bardziej kosztownej części układu. Należy pamiętać, że transoptory cechuje wysoka niestabilność parametrów oraz nieliniowość charakterystyki, co ogranicza zakres ich stosowania (należy stosować układy ze sprzężeniem zwrotnym). Coraz częściej jako zabezpieczenia wbudowane w układy scalone stosuje się obwody złożone z tranzystorów typu MOSFET.

14 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania - wzmacnianie Wzmacniacze wstępne (przedwzmacniacze) stosowane w torze pomiarowym pozwalają zwiększyć amplitudę sygnału wejściowego, zmniejszając jednocześnie wpływ szumów wprowadzanych przez kolejne analogowe bloki układu. Dzięki odpowiednio dobranej wartości współczynnika wzmocnienia, przedwzmacniacze mogą przeprowadzać normalizację czułości czujnika (np. z 1,7mV/jednostkę na 100mV/jednostkę), co ułatwia określenie zmierzonej wartości oraz przeprowadzanie późniejszych obliczeń. Wzmacniacze wstępne często stanowią także układ dopasowujący impedancję źródła sygnału do obwodów układu pomiarowego. Bardzo ważną funkcją procesu wzmacniania jest dopasowanie zakresu zmian mierzonego sygnału do zakresu przetwarzania użytego przetwornika analogowo-cyfrowego (A/C). Od tego zależy rozdzielczość przetwarzania, jego dynamika, dokładność, a także minimalizacja wpływu błędów przetwornika na wynik pomiaru. Ostateczny zakres zmian sygnału doprowadzonego do wejść przetwornika A/C ustala najczęściej wzmacniacz wyjściowy bloku kondycjonowania.

15 Funkcje wzmacniacza w systemie pomiarowym POZYTYWNE wzmocnienie sygnału dopasowanie poziomów napięć dopasowanie impedancyjne porównanie sygnałów sumowanie sygnałów automatyczna regulacja wzmocnienia modulacja generacja sygnałów NEGATYWNE ograniczenie pasma przenoszenia zmiana przesunięcia fazy sygnału na wyjściu względem wejścia wprowadzenie zakłóceń własnych (szumy, U 0, I 0, I wej, R wyj ) zależność parametrów od czasu, napięcia zasilania, temperatury i innych

16 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania filtracja (1) Filtracja jest jednym z elementów formowania sygnału, do którego zaliczane są wszelkie operacje zmiany jego zależności względem czasu, częstotliwości lub innego sygnału (przesuwniki fazy, detektory wartości maksymalnej, średniej, skutecznej, układy całkowania, różniczkowania itp.) Ogólnie można stwierdzić, iż podstawowym zadaniem filtrów stosowanych w systemach pomiarowych jest ograniczenie pasma częstotliwości badanych sygnałów i wydzielenie składowych znajdujących się w żądanym paśmie częstotliwości. Należy pamiętać, że filtry wprowadzają przesunięcie fazy sygnału wyjściowego względem sygnału wejściowego, przy czym bardzo często wartość tego przesunięcia jest różna dla składowych o różnych częstotliwościach.

17 Podstawowe funkcje obwodów kondycjonowania filtracja (2) W przypadku współpracy bloku kondycjonowania z przetwornikami o nieliniowej charakterystyce częstotliwościowej (amplitudowej lub fazowej), stosowanie filtru umożliwia linearyzację odpowiedzi czujnika. Ograniczenie górnego zakresu pasma jest także niezbędne z punktu widzenia procesu przetwarzania sygnału analogowego na postać cyfrową. Zgodnie z twierdzeniem Shannona, sygnał musi być próbkowany z częstotliwością przynajmniej dwa razy większą od maksymalnej częstotliwości przetwarzanego sygnału. Niespełnienie tego wymogu powoduje zniekształcenie częstotliwościowego widma amplitudowego przez składowe sygnału o częstotliwościach większych od połowy częstotliwości próbkowania. Zjawisko to nosi nazwę aliasingu. Obustronna redukcja pasma częstotliwości (filtr pasmowoprzepustowy), pozwala obniżyć wpływ zakłóceń i szumów zarówno o niskich, jak i wysokich częstotliwościach, negatywnie wpływających na dokładność pomiaru.

18 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Głównym zadaniem układów przetwarzania analogowo-cyfrowego jest przekształcanie sygnału analogowego na równoważny sygnał cyfrowy. Przetwarzanie ciągłego sygnału analogowego na sygnał cyfrowy można podzielić na trzy zasadnicze procesy: próbkowanie, kwantowanie, kodowanie. Sygnał analogowy Sygnał cyfrowy Proces technologiczny Przetwornik Analogowo-cyfrowy Komputer

19 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową - próbkowanie Próbkowanie zwane inaczej dyskretyzacją jest realizowane poprzez pobieranie w określonych odstępach czasu próbek wartości sygnału wejściowego w sposób umożliwiający jak najwierniejsze odtworzenie tego sygnału. Analizując proces próbkowania przyjmuje się próbkowanie okresowe o okresie T S i częstotliwości f S =1/T S. Proces próbkowania jest równoważny operacji iloczynu przebiegu wejściowego przez ciąg impulsów próbkujących o jednostkowej amplitudzie d(t kt S ). Wartość uzyskanych w ten sposób próbek sygnału x(t) można wyrazić równaniem: X S (kt S ) = x(kt S ) d(t kt S ) W procesie próbkowania konieczne staje się określenie minimalnej częstotliwości próbkowania, dla której możliwe jest odtworzenie sygnału wejściowego x(t) na podstawie próbek.

20 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Wartość minimalnej częstotliwości próbkowania określa twierdzenie Shannona, które mówi, że przebieg ściśle dolno-pasmowy jest całkowicie określony przez próbki pobierane z częstotliwością, co najmniej dwukrotnie większą od maksymalnej częstotliwości występującej w widmie próbkowanego sygnału. W przypadku, kiedy warunek ten nie jest spełniony odtworzony przebieg ulega zniekształceniu (w odniesieniu do oryginalnego). Jest to spowodowane nakładaniem się widm sygnału po próbkowaniu (ang. aliasing) W celu uniknięcia tego zjawiska należy zwiększyć częstotliwość próbkowania lub ograniczyć pasmo sygnału próbkowanego. Przy obecnym stanie techniki wytwarzania układów scalonych, w praktyce często stosuje się znacznie większe częstotliwości impulsów próbkujących, uzyskując w ten sposób tzw. nadpróbkowanie sygnału.

21 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Sygnał wyjściowy przetwornika A/C jest reprezentowany za pomocą kodu cyfrowego, będącego zbiorem stanów dwójkowych (zer i jedynek logicznych). W praktyce stosowanych jest wiele rodzajów kodów cyfrowych. Do zapisu liczb dodatnich stosowane są tzw. kody unipolarne, np.: naturalny kod dwójkowy, zapis dziesiętny kodowany dwójkowo BCD (ang. Binary Coded Decimal). Do zapisu liczb dodatnich i ujemnych stosuje się tzw. kody bipolarne, np.: znak moduł, przesunięty kod dwójkowy, uzupełnień do 2, uzupełnień do 1, kod Graya.

22 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Rozdzielczość Jest określona jako najmniejsza wartość sygnału wejściowego rozróżnialna przez przetwornik. Jeśli jest wyrażona w miliwoltach, można wyznaczyć ją z zależności: gdzie: U FS nominalny pełny zakres przetwarzania, n liczba bitów słowa wyjściowego. Rozdzielczość często jest wyrażana w najprostszy sposób jako liczba bitów n słowa wyjściowego przetwornika.

23 Parametry przetworników A/C Błąd kwantyzacji Jest następstwem procesu kwantowania, w którym wejściowemu sygnałowi analogowemu U IN zostaje przyporządkowany cyfrowy sygnał n, wybrany ze skończonego zbioru przedziałów kwantowania q. Powoduje to niejednoznaczność pomiędzy sygnałem analogowym a cyfrowym wyrażoną błędem kwantyzacji. Charakterystyka przetwarzania przetwornika 3-bitowego Zmiany wartości błędu kwantyzacji w funkcji napięcia wejściowego U IN dla przetwornika 3-bitowego

24 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Nominalny pełen zakres przetwarzania Jest wartością napięcia przetwarzanego U FS =q2 n, odpowiadającą maksymalnej wartości słowa wyjściowego ( ) powiększonej o 1. Rzeczywisty zakres przetwarzania Jest wartością napicia przetwarzanego U INmax =q(2n-1), odpowiadającą maksymalnej wartością słowa wyjściowego ( ). Dokładność bezwzględna przetwornika Jest określana jako różnica między teoretyczną i rzeczywistą wartością napięcia wejściowego U IN, powodującą powstanie na wyjściu określonej wartości cyfrowej, przy czym wartość U IN wyznacza się jako punkty środków przedziałów kwantowania na idealnej i rzeczywistej charakterystyce przetwarzania. Dokładność względna Jest określana jako wartość dokładności bezwzględnej odniesionej do pełnego, nominalnego zakresu przetwarzania i wyrażana jest w procentach lub w częściach wartości najmniej znaczącego bitu.

25 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Nieliniowość całkowa Jest określana jako maksymalne, względne odchylenie ( U IN ) max rzeczywistej charakterystyki przetwarzania n=f(u IN ) od charakterystyki idealnej, stanowiącej prostą, łączącą skrajne punkty zakresu przetwarzania. Charakterystykę rzeczywistą wyznacza się jako linię łączącą środki przedziałów napicia UIN, odpowiadających kolejnym wartościom cyfrowym na wyjściu przetwornika. Nieliniowość całkowa jest określana liczbowo jako:

26 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Nieliniowość różniczkowa Jest określana poprzez wyznaczenie różnicy między sąsiednimi wartościami napięcia wejściowego U IN, powodującymi zmianę słowa wyjściowego o wartość najmniej znaczącego bitu (LSB). Nieliniowość różniczkowa jest podawana w procentach jako maksymalne względne odchylenie tej różnicy od jej wartości średniej w całym zakresie przetwarzania lub wyrażana jest w ułamkach wartości LSB, co należy rozumieć jako ułamek wartości analogowego przedziału kwantowania q odpowiadającego 1 LSB.

27 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Błąd przesunięcia zera Jest określany przez wartość przesunięcia U IN0 rzeczywistej charakterystyki przetwornika względem charakterystyki idealnej, przechodzącej przez punkt zerowy. Jest on zazwyczaj wyrażony w jednostkach napięcia wejściowego.

28 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Zakres dynamiczny przetwornika można obliczyć jako stosunek pełnego nominalnego zakresu przetwarzania 2nq do wartości przedziału kwantowania U q FS n =20 log2 = 6, 02 db Stosunek sygnału do szumu (S/N) można obliczyć jako stosunek wartości maksymalnej sygnału równej 2nq do wartości skutecznej szumu kwantyzacji SNR db σ 2 = 10log = 6,02n+ 10,79+ 10logσx σ 2 x 2 e Maksymalna częstotliwość próbkowania jest liczbą trudną do zdefiniowania. Można przyjąć następującą definicję: maksymalna częstotliwość próbkowania to taka częstotliwość, przy której zakres dynamiczny przetwornika analogowo-cyfrowego, mierzony w paśmie Nyquista, maleje o 3dB lub 1/2 bitu. n

29 Przetwarzanie sygnału na postać cyfrową Czas akwizycji to czas, jaki upływa od chwili wystąpienia impulsu sterującego do chwili, w której wartość napięcia na kondensatorze wejściowego układu próbkująco-pamiętającego osiągnie (z określoną dokładnością) wartość napięcia doprowadzonego do wejścia tego układu. Czas apertury odnosi się do wejściowego układu próbkująco-pamiętajcego i określa czas, który upływa między impulsem sterującym a chwilą, w której rzeczywiście następuje zapamiętanie próbki.

30 Klasyfikacja metod przetwarzania a/c

31 Właściwości poszczególnych metod przetwarzania a/c Metoda bezpośredniego porównania (przetworniki typu flash) Najszybsza metoda przetwarzania A/C (15 do 300MSpS) Rozdzielczość 4 do 10 bitów Krótki czas apertury nie wymagają stosowania układów SH Metoda kompensacji wagowej Dobra dokładność Rozdzielczość 8 do 12 bitów Duża szybkość (1µs 50µs) Krótki czas apertury nie wymagają stosowania układów SH Wrażliwa na występowanie zakłóceń szpilkowych Obserwowane są nieliniowości charakterystyki przetwarzania Niekiedy występuje błąd gubienia kodów Metoda przetwarzania napięcia na częstotliwość Rozdzielczość do 12 bitów Szybkość przetwarzania 1µs 100µs Liniowa charakterystyka przetwarzania (rzędu 0,01% do nawet 0,002%) Częstotliwościowy sygnał wyjściowy może być w prosty sposób uśredniony

32 Właściwości poszczególnych metod przetwarzania a/c Metoda jednokrotnego całkowania Ograniczona dokładność ze względu na parametry kondensatora i komparatora Wysoka rozdzielczość Równomierny rozkład poziomów porównania Metoda dwukrotnego całkowania Bardzo duża dokładność (brak wrażliwości na stałość parametrów podzespołów wewnętrznych) Rozdzielczość 10 do 18 bitów Wolna Implementowane procedury automatycznego zerowania Wymagane jest rozdzielenie zasilania obwodów analogowych i cyfrowych oraz zapewnienie właściwej filtracji napięć zasilających (przenikanie zakłóceń) Przy właściwym doborze czasu przetwarzania umożliwia wyeliminowanie wpływu zakłóceń sieciowych

33 Właściwości poszczególnych metod przetwarzania a/c Metoda Sigma - Delta Rozdzielczość do 24 bitów Wolna Liniowa charakterystyka przetwarzania Częstotliwość próbkowania wielokrotnie przekracza częstotliwość Nyquista (Energia szumów skupia się w tym przypadku w zakresie wyższych częstotliwości, co pozwala na ich stosunkowo łatwe odfiltrowanie) Uśrednia sygnał wejściowy odporność na zakłócenia impulsowe Duża wartość współczynnika odstępu sygnał-szum (nawet do 120dB)

34 Podstawowe kryteria wyboru przetwornika rozdzielczość szybkość przetwarzania dokładność zakres wartości napięć sygnału wejściowego (unipolarne, bipolarne) rodzaj układu wejściowego (różnicowy, z multiplekserem, z układem próbkująco-pamiętającym) rodzaj interfejsu wyjściowego (szeregowy, równoległy, czy w prosty sposób można podłączyć układ do mikrokontrolera, czy wyprowadzony jest sygnał przerwania) wartości napięć zasilających pobór prądu wartość oraz sposób podłączenia źródła napięcia odniesienia (czy jest wbudowane i czy można podłączyć zewnętrzne) wartość impedancji wejściowej wymiary obudowy cena

Przetworniki A/C. Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Przetworniki A/C. Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Przetworniki A/C Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Parametry przetworników analogowo cyfrowych Podstawowe parametry przetworników wpływające na ich dokładność

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 3 Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników

Bardziej szczegółowo

Architektura przetworników A/C. Adam Drózd

Architektura przetworników A/C. Adam Drózd Architektura przetworników A/C Adam Drózd Rozdział 1 Architektura przetworników A/C Rozwój techniki cyfrowej spowodował opacownie wielu zasad działania i praktycznych rozwiązań przetworników analogowo

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.

Bardziej szczegółowo

Programy CAD w praktyce inŝynierskiej

Programy CAD w praktyce inŝynierskiej Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechniki Łódzkiej Programy CAD w praktyce inŝynierskiej dr inż. Piotr Pietrzak pietrzak@dmcs dmcs.pl pok. 54, tel. 631 26 20 www.dmcs dmcs.p..p.lodz.pl

Bardziej szczegółowo

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH

POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH POMIARY WIELKOŚCI NIEELEKTRYCZNYCH Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST Semestr letni Wykład nr 2 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Elektroniki

Laboratorium Elektroniki Wydział Mechaniczno-Energetyczny Laboratorium Elektroniki Badanie wzmacniaczy tranzystorowych i operacyjnych 1. Wstęp teoretyczny Wzmacniacze są bardzo często i szeroko stosowanym układem elektronicznym.

Bardziej szczegółowo

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Pomiary przemysłowe Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII Efekty kształcenia: Ma uporządkowaną i pogłębioną wiedzę z zakresu metod pomiarów wielkości fizycznych w przemyśle. Zna

Bardziej szczegółowo

Przetworniki AC i CA

Przetworniki AC i CA KATEDRA INFORMATYKI Wydział EAIiE AGH Laboratorium Techniki Mikroprocesorowej Ćwiczenie 4 Przetworniki AC i CA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania wybranych rodzajów przetworników

Bardziej szczegółowo

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC na tranzystorach bipolarnych Wzmacniacz jest to urządzenie elektroniczne, którego zadaniem jest : proporcjonalne zwiększenie amplitudy wszystkich składowych widma sygnału

Bardziej szczegółowo

Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek

Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek Treść zadania praktycznego Rozwiązanie zadania opracowali: H. Kasprowicz, A. Kłosek Opracuj projekt realizacji prac związanych z uruchomieniem i sprawdzeniem działania zasilacza impulsowego małej mocy

Bardziej szczegółowo

Światłowodowy kanał transmisyjny w paśmie podstawowym

Światłowodowy kanał transmisyjny w paśmie podstawowym kanał transmisyjny w paśmie podstawowym Układ do transmisji binarnej w paśmie podstawowym jest przedstawiony na rys.1. Medium transmisyjne stanowi światłowód gradientowy o długości 3 km. Źródłem światła

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Piotr Grzejszczak Mieczysław Nowak P W Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej 2015 Wiadomości ogólne Tranzystor

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Energetyka Rodzaj przedmiotu: kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Uzyskanie podstawowej wiedzy

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe"

Ćwiczenie: Mierniki cyfrowe Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: Próbkowanie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET Ćwiczenie 5 Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET Układ Super Alfa czyli tranzystory w układzie Darlingtona Zbuduj układ jak na rysunku i zaobserwuj dla jakiego położenia potencjometru

Bardziej szczegółowo

Państwowa WyŜsza Szkoła Zawodowa w Pile Studia Stacjonarne i niestacjonarne PODSTAWY ELEKTRONIKI rok akademicki 2008/2009

Państwowa WyŜsza Szkoła Zawodowa w Pile Studia Stacjonarne i niestacjonarne PODSTAWY ELEKTRONIKI rok akademicki 2008/2009 Państwowa WyŜsza Szkoła Zawodowa w Pile Studia Stacjonarne i niestacjonarne PODSTAWY ELEKTRONIKI rok akademicki 008/009 St. Stacjonarne: Semestr III - 45 h wykłady, 5h ćwicz. audytor., 5h ćwicz. lab. St.

Bardziej szczegółowo

Rozdział 5. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (A C)

Rozdział 5. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (A C) 5. 0. W p r ow adzen ie 1 2 1 Rozdział 5 Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (A C) sygnał przetwarzanie A/C sygnał analogowy cyfrowy ciągły dyskretny próbkowanie: zamiana sygnału ciągłego na dyskretny konwersja

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO

LABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW

Bardziej szczegółowo

Układy transmisji bezprzewodowej w technice scalonej, wybrane zagadnienia

Układy transmisji bezprzewodowej w technice scalonej, wybrane zagadnienia Układy transmisji bezprzewodowej w technice scalonej, wybrane zagadnienia Evatronix S.A. 6 maja 2013 Tematyka wykładów Wprowadzenie Tor odbiorczy i nadawczy, funkcje, spotykane rozwiazania wady i zalety,

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacz jako generator. Warunki generacji

Wzmacniacz jako generator. Warunki generacji Generatory napięcia sinusoidalnego Drgania sinusoidalne można uzyskać Poprzez utworzenie wzmacniacza, który dla jednej częstotliwości miałby wzmocnienie równe nieskończoności. Poprzez odtłumienie rzeczywistego

Bardziej szczegółowo

Lekcja 19. Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości.

Lekcja 19. Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości. Lekcja 19 Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości. Wzmacniacze pośrednich częstotliwości zazwyczaj są trzy- lub czterostopniowe, gdyż sygnał na ich wejściu musi być znacznie wzmocniony niż we wzmacniaczu

Bardziej szczegółowo

Wykaz symboli, oznaczeń i skrótów

Wykaz symboli, oznaczeń i skrótów Wykaz symboli, oznaczeń i skrótów Symbole a a 1 operator obrotu podstawowej zmiennych stanu a 1 podstawowej uśrednionych zmiennych stanu b 1 podstawowej zmiennych stanu b 1 A A i A A i, j B B i cosφ 1

Bardziej szczegółowo

E-TRONIX Sterownik Uniwersalny SU 1.2

E-TRONIX Sterownik Uniwersalny SU 1.2 Obudowa. Obudowa umożliwia montaż sterownika na szynie DIN. Na panelu sterownika znajduje się wyświetlacz LCD 16x2, sygnalizacja LED stanu wejść cyfrowych (LED IN) i wyjść logicznych (LED OUT) oraz klawiatura

Bardziej szczegółowo

Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski,

Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski, Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski, Stanisław Walesiak (Politechnika Wrocławska, ITTiA),

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną

Bardziej szczegółowo

DTR PICIO v1.0. 1. Przeznaczenie. 2. Gabaryty. 3. Układ złącz

DTR PICIO v1.0. 1. Przeznaczenie. 2. Gabaryty. 3. Układ złącz DTR PICIO v1.0 1. Przeznaczenie Moduł PICIO jest uniwersalnym modułem 8 wejść cyfrowych, 8 wyjść cyfrowych i 8 wejść analogowych. Głównym elementem modułu jest procesor PIC18F4680. Izolowane galwanicznie

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET r inż. Bogusław Boratyński Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechnika Wrocławska 2011 Literatura i źródła rysunków G. Rizzoni, Fundamentals of Electrical

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Telewizji Cyfrowej

Laboratorium Telewizji Cyfrowej Laboratorium Telewizji Cyfrowej Badanie wybranych elementów sieci TV kablowej Jarosław Marek Gliwiński Robert Sadowski Przemysław Szczerbicki Paweł Urbanek 14 maja 2009 1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

CZWÓRNIKI KLASYFIKACJA CZWÓRNIKÓW.

CZWÓRNIKI KLASYFIKACJA CZWÓRNIKÓW. CZWÓRNK jest to obwód elektryczny o dowolnej wewnętrznej strukturze połączeń elementów, mający wyprowadzone na zewnątrz cztery zaciski uporządkowane w dwie pary, zwane bramami : wejściową i wyjściową,

Bardziej szczegółowo

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063 Cyfrowy Analizator Widma GA4063 3GHz (opcja 6GHz) Wysoka kla sa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo -funkcjonalne Wysoka s tabi lność Łatwy w użyc iu GUI Małe wymiary, lekki, przenośny Opis produktu GA4063

Bardziej szczegółowo

Przekształtniki impulsowe prądu stałego (dc/dc)

Przekształtniki impulsowe prądu stałego (dc/dc) Przekształtniki impulsowe prądu stałego (dc/dc) Wprowadzenie Sterowanie napięciem przez Modulację Szerokości Impulsów MSI (Pulse Width Modulation - PWM) Przekształtnik obniżający napięcie (buck converter)

Bardziej szczegółowo

Kanał automatyki układy wyjściowe

Kanał automatyki układy wyjściowe Kanał automatyki układy wyjściowe Andrzej URBANIAK Kanał automatyki układy wyjściowe (1) Głównym elementem struktury komputerowego systemu sterowania jest kanał automatyki. Na omówienie kanału automatyki

Bardziej szczegółowo

BADANIE STATYCZNYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

BADANIE STATYCZNYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH BADAIE STATYCZYCH WŁAŚCIWOŚCI PRZETWORIKÓW POMIAROWYCH 1. CEL ĆWICZEIA Celem ćwiczenia jest poznanie: podstawowych pojęć dotyczących statycznych właściwości przetworników pomiarowych analogowych i cyfrowych

Bardziej szczegółowo

Sterownik momentu obrotowego silnika prądu stałego

Sterownik momentu obrotowego silnika prądu stałego Politechnika Wrocławska Projekt Sterownik momentu obrotowego silnika prądu stałego Autorzy: Paweł Bogner Marcin Dmochowski Prowadzący: mgr inż. Jan Kędzierski 30.04.2012 r. 1 Opis ogólny Celem projektu

Bardziej szczegółowo

PowerLab 4/35 z systemem LabChart Pro

PowerLab 4/35 z systemem LabChart Pro PowerLab 4/35 z systemem LabChart Pro ADInstrument. Systemy akwizycji danych i zestawy edukacyjne. Opis urządzenia PL3504/P PowerLab 4/35 to wysokowydajny system akwizycji danych odpowiedni do szerokiej

Bardziej szczegółowo

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS. Opis karty OPCONZ. http://www.optel.pl email: optel@optel.

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS. Opis karty OPCONZ. http://www.optel.pl email: optel@optel. Research & Development ltrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & Opis karty OPCONZ http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6

Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6 Laboratorium Analogowych Układów Elektronicznych Laboratorium 6 1/5 Stabilizator liniowy Zadaniem jest budowa i przebadanie działania bardzo prostego stabilizatora liniowego. 1. W ćwiczeniu wykorzystywany

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ ZAKŁAD ELEKTROWNI LABORATORIUM POMIARÓW I AUTOMATYKI W ELEKTROWNIACH BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH Instrukcja do ćwiczenia Łódź 1996 1. CEL ĆWICZENIA

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. ĆWICZENIE 4 Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z układami zasilania tranzystorów. Wybór punktu pracy tranzystora. Statyczna prosta pracy. II. Układ

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO

WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO Mirosław KAŹMIERSKI Okręgowy Urząd Miar w Łodzi 90-132 Łódź, ul. Narutowicza 75 oum.lodz.w3@gum.gov.pl WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO 1. Wstęp Konieczność

Bardziej szczegółowo

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW 33/0 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim : UKŁADY ELEKTRONICZNE Nazwa w języku angielskim: ELECTRONIC CIRCUITS Kierunek studiów (jeśli dotyczy):

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIK PROGRAMOWALNY T1249

PRZETWORNIK PROGRAMOWALNY T1249 PRZETWORNIK PROGRAMOWALNY T1249 temperatura czujnika / 4 20 ma klasa dokładności: 0.05 separacja galwaniczna 2kV zasilanie z wyjściowej pętli prądowej w pełni programowalny obudowa o szerokości 12.5mm

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZ OPERACYJNY. Podstawowe właściwości wzmacniaczy operacyjnych. Rodzaj wzmacniacza Rezystancja wejściowa Rezystancja wyjściowa

WZMACNIACZ OPERACYJNY. Podstawowe właściwości wzmacniaczy operacyjnych. Rodzaj wzmacniacza Rezystancja wejściowa Rezystancja wyjściowa WZMACNIACZ OPEACYJNY kłady aktywne ze wzmacniaczami operacyjnymi... Podstawowe właściwości wzmacniaczy operacyjnych odzaj wzmacniacza ezystancja wejściowa ezystancja wyjściowa Bipolarny FET MOS-FET Idealny

Bardziej szczegółowo

Gdy wzmacniacz dostarcz do obciążenia znaczącą moc, mówimy o wzmacniaczu mocy. Takim obciążeniem mogą być na przykład...

Gdy wzmacniacz dostarcz do obciążenia znaczącą moc, mówimy o wzmacniaczu mocy. Takim obciążeniem mogą być na przykład... Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Gdy wzmacniacz dostarcz do obciążenia znaczącą moc, mówimy

Bardziej szczegółowo

Programowanie sterowników PLC wprowadzenie

Programowanie sterowników PLC wprowadzenie Programowanie sterowników PLC wprowadzenie Zakład Teorii Maszyn i Automatyki Katedra Podstaw Techniki Felin p.110 http://ztmia.ar.lublin.pl/sips waldemar.samociuk@up.lublin,pl Sterowniki programowalne

Bardziej szczegółowo

Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości. dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ

Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości. dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ Projektowanie układów regulacji w dziedzinie częstotliwości dr hab. inż. Krzysztof Patan, prof. PWSZ Wprowadzenie Metody projektowania w dziedzinie częstotliwości mają wiele zalet: stabilność i wymagania

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacz stereofoniczny

Wzmacniacz stereofoniczny LAB SERIES M-DAC Przetwornik C/A 1920-krotny oversampling sygnału 44,1kHz z USB ( 882-krotny oversampling sygnału 96kHz) wejście USB B przyjmujące sygnały 24-bit/96kHz z PC/MAC/dysków/pamięci filtry cyfrowe

Bardziej szczegółowo

Elektrolityczny kondensator filtrujący zasilanie stabilizatora U12 po stronie sterującej

Elektrolityczny kondensator filtrujący zasilanie stabilizatora U12 po stronie sterującej Designator Part Type Description AM2 DC/DC QDC2WSIL 5V Przetwornica DC/DC 12V/5V zasilanie logiki AM3 DC/DC QDC2WSIL 5V Przetwornica DC/DC 12V/5V ujemne zasilanie drivera U23 Przetwornica DC/DC 12V/5V

Bardziej szczegółowo

Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych

Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych ZP/UR/46/203 Zał. nr a do siwz Szczegółowy Opis Przedmiotu Zamówienia: Zestaw do badania cyfrowych układów logicznych Przedmiot zamówienia obejmuje następujące elementy: L.p. Nazwa Ilość. Zestawienie komputera

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 4 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Zestaw 1 1. Rodzaje ruchu punktu materialnego i metody ich opisu. 2. Mikrokontrolery architektura, zastosowania. 3. Silniki krokowe budowa, zasada działania, sterowanie pracą. Zestaw 2 1. Na czym polega

Bardziej szczegółowo

Millenium II+ Moduły programowalne. jeszcze więcej możliwości NOWOŚĆ! FUNKCJA

Millenium II+ Moduły programowalne. jeszcze więcej możliwości NOWOŚĆ! FUNKCJA NOWOŚĆ! Moduły programowalne Millenium II+ jeszcze więcej możliwości FUNKCJA Łatwość i intuicyjność programowania, szeroka oferta oraz olbrzymie możliwości w postaci wejścia analogowego 0-10V, potencjometrycznego,

Bardziej szczegółowo

Systemy. Krzysztof Patan

Systemy. Krzysztof Patan Systemy Krzysztof Patan Systemy z pamięcią System jest bez pamięci (statyczny), jeżeli dla dowolnej chwili t 0 wartość sygnału wyjściowego y(t 0 ) zależy wyłącznie od wartości sygnału wejściowego w tej

Bardziej szczegółowo

1.1. Wzmacniacz pomiarowy a wzmacniacz operacyjny: różnice

1.1. Wzmacniacz pomiarowy a wzmacniacz operacyjny: różnice 8 Pojęcie wzmacniacz pomiarowy (ang. instrumentation amplifier, in-amp) stanowi czasami źródło nieporozumień. Nie wszystkie wzmacniacze stosowane w sprzęcie pomiarowym są wzmacniaczami pomiarowymi i z

Bardziej szczegółowo

Termometr oporowy do zastosowań wewnątrz, na zewnętrz pomieszczeń i w wykonaniu kanałowym

Termometr oporowy do zastosowań wewnątrz, na zewnętrz pomieszczeń i w wykonaniu kanałowym Karta katalogowa 90.2523 Strona 1/7 Termometr oporowy do zastosowań wewnątrz, na zewnętrz pomieszczeń i w wykonaniu kanałowym Dla temperatur od -30 do +80 o C (200 o C) Do uŝytku w HVAC Indeksy ochrony

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki PRACA DYPLOMOWA MAGISTERSKA Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Marcin Narel Promotor: dr inż. Eligiusz

Bardziej szczegółowo

L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH

L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA W YDZIAŁ ELEKTRONIKI zima L ABORATORIUM UKŁADÓW ANALOGOWYCH Grupa:... Data wykonania ćwiczenia: Ćwiczenie prowadził: Imię:......... Data oddania sprawozdania: Podpis: Nazwisko:......

Bardziej szczegółowo

projekt przetwornika inteligentnego do pomiaru wysokości i prędkości pionowej BSP podczas fazy lądowania;

projekt przetwornika inteligentnego do pomiaru wysokości i prędkości pionowej BSP podczas fazy lądowania; PRZYGOTOWAŁ: KIEROWNIK PRACY: MICHAŁ ŁABOWSKI dr inż. ZDZISŁAW ROCHALA projekt przetwornika inteligentnego do pomiaru wysokości i prędkości pionowej BSP podczas fazy lądowania; dokładny pomiar wysokości

Bardziej szczegółowo

Przyrządy i przetworniki pomiarowe

Przyrządy i przetworniki pomiarowe Przyrządy i przetworniki pomiarowe Są to narzędzia pomiarowe: Przyrządy -służące do wykonywania pomiaru i służące do zamiany wielkości mierzonej na sygnał pomiarowy Znajomość zasady działania przyrządów

Bardziej szczegółowo

Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne

Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne 1 Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne Firma produkująca sprzęt medyczny, zleciła opracowanie i wykonanie układu automatycznej regulacji temperatury sterylizatora o określonych parametrach

Bardziej szczegółowo

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

PRZYRZĄDY POMIAROWE. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego PRZYRZĄDY POMIAROWE Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Przyrządy pomiarowe Ogólny podział: mierniki, rejestratory, detektory, charakterografy.

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Strona 1 z 36

Spis treści. Strona 1 z 36 Spis treści 1. Wzmacniacz mocy 50Ω 50W 20 do 512 MHz - sztuk 4... 2 2. Wzmacniacz małej mocy 50Ω 0.2 MHz do 750 MHz sztuk 3... 3 3. Wzmacniacz Niskoszumowy 50Ω 0.1 MHz do 500 MHz sztuk 3... 4 4. Wzmacniacz

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 1 Temat: PRZYRZĄDY POMIAROWE Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data Podpis Ocena 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Struktura układu pomiarowego drgań mechanicznych

Struktura układu pomiarowego drgań mechanicznych Wstęp Diagnostyka eksploatacyjna maszyn opiera się na obserwacji oraz analizie sygnału uzyskiwanego za pomocą systemu pomiarowego. Pomiar sygnału jest więc ważnym, integralnym jej elementem. Struktura

Bardziej szczegółowo

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV (Światłowodowe systemy szerokopasmowe) (c) Sergiusz Patela 1998-2002 Sieci optyczne - Parametry i technologia systemu CTV 1 Podstawy optyki swiatlowodowej:

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Otwarty układ regulacji

Rys. 1 Otwarty układ regulacji Automatyka zajmuje się sterowaniem, czyli celowym oddziaływaniem na obiekt, w taki sposób, aby uzyskać jego pożądane właściwości. Sterowanie często nazywa się regulacją. y zd wartość zadana u sygnał sterujący

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska

Politechnika Warszawska Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Laboratorium Teletechniki Skrypt do ćwiczenia T.02. Woltomierz RMS oraz Analizator Widma 1. Woltomierz RMS oraz Analizator Widma Ćwiczenie to ma na celu poznanie

Bardziej szczegółowo

Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne.

Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne. Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne. 1. Pamięci są układami służącymi do przechowywania informacji w postaci ciągu słów bitowych. Wykonuje się jako układy o bardzo dużym stopniu scalenia w

Bardziej szczegółowo

IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE Z RDZENIEM ARM7

IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE Z RDZENIEM ARM7 Łukasz Deńca V rok Koło Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński opiekun naukowy IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE

Bardziej szczegółowo

ELEKTRONICZNY MODUŁ WAŻĄCY WIN3. WIN3 Ana WIN3 RS485. WIN3 Profibus INSTRUKCJA INSTALACJI. Wersja 1.1

ELEKTRONICZNY MODUŁ WAŻĄCY WIN3. WIN3 Ana WIN3 RS485. WIN3 Profibus INSTRUKCJA INSTALACJI. Wersja 1.1 ELEKTRONICZNY MODUŁ WAŻĄCY WIN3 WIN3 Ana WIN3 RS485 WIN3 Profibus INSTRUKCJA INSTALACJI Wersja 1.1 SPIS TREŚCI WŁAŚCIWOŚCI URZĄDZENIA DANE TECHNICZNE Str. 3 DANE TECHNICZNE (ciąg dalszy) Str. 4 SYMBOLE

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Schemat układu L 2 R 2 E C 1. t(0+)

Rys. 1 Schemat układu L 2 R 2 E C 1. t(0+) Autor: Piotr Fabijański Koreferent: Paweł Fabijański Zadanie Obliczyć napięcie na stykach wyłącznika S zaraz po jego otwarciu, w chwili t = (0 + ) i w stanie ustalonym, gdy t. Do obliczeń przyjąć następujące

Bardziej szczegółowo

8. Analiza widmowa metodą szybkiej transformaty Fouriera (FFT)

8. Analiza widmowa metodą szybkiej transformaty Fouriera (FFT) 8. Analiza widmowa metodą szybkiej transformaty Fouriera (FFT) Ćwiczenie polega na wykonaniu analizy widmowej zadanych sygnałów metodą FFT, a następnie określeniu amplitud i częstotliwości głównych składowych

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne elementarne układy pracy i polaryzacji

Tranzystory bipolarne elementarne układy pracy i polaryzacji Tranzystory bipolarne elementarne układy pracy i polaryzacji Ryszard J. Barczyński, 2010 2014 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Instytut Elektroenergetyki Zakład Elektrowni i Gospodarki Elektroenergetycznej

POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Instytut Elektroenergetyki Zakład Elektrowni i Gospodarki Elektroenergetycznej POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Instytut Elektroenergetyki Zakład Elektrowni i Gospodarki Elektroenergetycznej INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA Kalibracja kanału pomiarowego 1. Wstęp W systemach sterowania

Bardziej szczegółowo

Systemy wbudowane. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl

Systemy wbudowane. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl Systemy wbudowane Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl 1 Program przedmiotu Wprowadzenie definicja, zastosowania, projektowanie systemów wbudowanych Mikrokontrolery AVR Programowanie mikrokontrolerów

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 3 Wymogi techniczne urządzeń. Stanowisko montażowo - pomiarowe Dotyczy: Zapytanie ofertowe nr POIG 4.4/07/11/2015 r. z dnia 10 listopada 2015 r. str. 1 1. Oscyloskop Liczba: 1 Parametr Pasmo

Bardziej szczegółowo

Elektronika. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej.

Elektronika. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej. Elektronika Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej. Zadania elektroniki: Urządzenia elektroniczne służą do przetwarzania i przesyłania informacji w postaci

Bardziej szczegółowo

Tranzystor bipolarny

Tranzystor bipolarny Tranzystor bipolarny 1. zas trwania: 6h 2. ele ćwiczenia adanie własności podstawowych układów wykorzystujących tranzystor bipolarny. 3. Wymagana znajomość pojęć zasada działania tranzystora bipolarnego,

Bardziej szczegółowo

Systemy plezjochroniczne (PDH) synchroniczne (SDH), Transmisja w sieci elektroenergetycznej (PLC Power Line Communication)

Systemy plezjochroniczne (PDH) synchroniczne (SDH), Transmisja w sieci elektroenergetycznej (PLC Power Line Communication) Politechnika Śląska Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Systemy plezjochroniczne (PDH) synchroniczne (SDH), Transmisja w sieci elektroenergetycznej (PLC Power Line Communication) Opracował:

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i miernictwa

Podstawy elektroniki i miernictwa Podstawy elektroniki i miernictwa Kod modułu: ELE Rodzaj przedmiotu: podstawowy; obowiązkowy Wydział: Informatyki Kierunek: Informatyka Poziom studiów: pierwszego stopnia Profil studiów: ogólnoakademicki

Bardziej szczegółowo

PL 217306 B1. AZO DIGITAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Gdańsk, PL 27.09.2010 BUP 20/10. PIOTR ADAMOWICZ, Sopot, PL 31.07.

PL 217306 B1. AZO DIGITAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Gdańsk, PL 27.09.2010 BUP 20/10. PIOTR ADAMOWICZ, Sopot, PL 31.07. PL 217306 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217306 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387605 (22) Data zgłoszenia: 25.03.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii Elektrycznej.

Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii Elektrycznej. Laboratorium Kompatybilności Elektromagnetycznej i Jakości Energii. Opiekun: mgr inż. Piotr Leżyński Sala nr 9, budynek A-9 Laboratorium świadczy usługi pomiarowe w obszarze EMC i jakości energii elektrycznej.

Bardziej szczegółowo

STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM

STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problemami związanymi z projektowaniem, realizacją i pomiarami wartości parametrów stabilizatorów parametrycznych

Bardziej szczegółowo

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Ryszard J. Barczyński, 2009 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Tranzystor polowy złączowy

Bardziej szczegółowo

Akustyczne wzmacniacze mocy

Akustyczne wzmacniacze mocy Akustyczne wzmacniacze mocy 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową, sposobem projektowania oraz parametrami wzmacniaczy mocy klasy AB zbudowanych z użyciem scalonych wzmacniaczy

Bardziej szczegółowo

Elektronika (konspekt)

Elektronika (konspekt) Elektronika (konspekt) Franciszek Gołek (golek@ifd.uni.wroc.pl) www.pe.ifd.uni.wroc.pl Wykład 12 Podstawy elektroniki cyfrowej (kody i układy logiczne kombinacyjne) Dwa znaki wystarczają aby w układach

Bardziej szczegółowo

Cyfrowy pomiar czasu i częstotliwości Przetwarzanie sygnałów pomiarowych (analogowych)

Cyfrowy pomiar czasu i częstotliwości Przetwarzanie sygnałów pomiarowych (analogowych) Cyfrowy pomiar czasu i częstotliwości Przetwarzanie sygnałów pomiarowych (analogowych) Wykład 10 2/38 Cyfrowy pomiar czasu i częstotliwości 3/38 Generatory, rezonatory, kwarce f w temperatura pracy np.-10

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIK ADC w mikrokontrolerach Atmega16-32

PRZETWORNIK ADC w mikrokontrolerach Atmega16-32 Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Inżynierii Systemów, Sygnałów i Elektroniki LABORATORIUM TECHNIKA MIKROPROCESOROWA PRZETWORNIK ADC w mikrokontrolerach Atmega16-32

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi AP3.8.4 Adapter portu LPT

Instrukcja obsługi AP3.8.4 Adapter portu LPT Instrukcja obsługi AP3.8.4 Adapter portu LPT P.P.H. WObit E.K.J. Ober s.c. 62-045 Pniewy, Dęborzyce 16 tel.48 61 22 27 422, fax. 48 61 22 27 439 e-mail: wobit@wobit.com.pl www.wobit.com.pl SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE

ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWE TRANZYSTORY POLOWE RE. 0.4 1. CEL ĆWICZENIA Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora unipolarnego takich jak: o napięcie progowe, o transkonduktancja,

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych.

Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych. Instrukcja do ćwiczenia nr 23. Pomiary charakterystyk przejściowych i zniekształceń nieliniowych wzmacniaczy mikrofalowych. I. Wstęp teoretyczny. Analizator widma jest przyrządem powszechnie stosowanym

Bardziej szczegółowo

Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji. Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10.

Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji. Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10. Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10. Andrzej Kuś Aleksander Matusz Prowadzący: dr inż. Adam Stadler Układy cyfrowe przetwarzają

Bardziej szczegółowo

LUPS-11ME LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 2003 r.

LUPS-11ME LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 2003 r. LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, kwiecień 2003 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

Klasyczna architektura sterownika PLC

Klasyczna architektura sterownika PLC Programowalne sterowniki logiczne PLC - są to komputery przemysłowe, które umożliwiają sterowanie pracą maszyn i urządzeń w układzie otwartym i/lub zamkniętym. Praca PLC polega na monitorowaniu stanu wejść,

Bardziej szczegółowo