Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132

Podobne dokumenty
LABORATORIUM TECHNIKI IMPULSOWEJ I CYFROWEJ (studia zaoczne) Układy uzależnień czasowych 74121, 74123

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

Ćw. 8 Bramki logiczne

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

U 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h)

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego

Politechnika Białostocka

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie generatorów sinusoidalnych (2h)

Badanie diody półprzewodnikowej

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

Bramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

3. Funktory CMOS cz.1

1.2 Funktory z otwartym kolektorem (O.C)

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Ćwiczenie nr 9 Układy scalone CMOS

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych

Podstawy Elektroniki dla Elektrotechniki. Liczniki synchroniczne na przerzutnikach typu D

1. Funktory TTL cz.1

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2

Badanie obwodów z prostownikami sterowanymi

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E14IS. Elementy logiczne. Wersja 1.0 (29 lutego 2016)

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

Politechnika Białostocka

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

BADANIE ELEMENTÓW RLC

Ćwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania.

Temat: Projektowanie i badanie liczników synchronicznych i asynchronicznych. Wstęp:

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Politechnika Białostocka

Ćwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe

Ćw. 0: Wprowadzenie do programu MultiSIM

Ćwiczenie 31 Temat: Analogowe układy multiplekserów i demultiplekserów. Układ jednostki arytmetyczno-logicznej (ALU).

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa

Systemy cyfrowe z podstawami elektroniki i miernictwa Wyższa Szkoła Zarządzania i Bankowości w Krakowie Informatyka II rok studia

UKŁADY PRZEKSZTAŁCAJĄCE

TEORIA OBWODÓW I SYGNAŁÓW LABORATORIUM

Podstawowe układy cyfrowe

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

Badanie układów aktywnych część II

PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna

Ćw. III. Dioda Zenera

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI. Komputerowe pomiary parametrów bramki NAND TTL

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Uśrednianie napięć zakłóconych

ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego

Ćwiczenie 3 Badanie własności podstawowych liniowych członów automatyki opartych na biernych elementach elektrycznych

Politechnika Białostocka

P-1a. Dyskryminator progowy z histerezą

LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO

TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA. Układy czasowe

ELEKTRONIKA WYPOSAŻENIE LABORATORIUM DYDAKTYCZNEGO POMOC DYDAKTYCZNA DLA STUDENTÓW WYDZIAŁU ELEKTRYCZNEGO SERIA: PODSTAWY ELEKTRONIKI

WZMACNIACZ OPERACYJNY

INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH WYDZIAŁ ELEKTRONIKI WAT. Warsztaty inżynierskie elektrotechniczne

Ćwiczenie 2 Mostek pojemnościowy Ćwiczenie wraz z instrukcją i konspektem opracowali P.Wisniowski, M.Dąbek

Politechnika Białostocka

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A

Cyfrowe Elementy Automatyki. Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem

Ćwiczenie 21 Temat: Komparatory ze wzmacniaczem operacyjnym. Przerzutnik Schmitta i komparator okienkowy Cel ćwiczenia

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI. Komputerowe pomiary parametrów bramki NAND TTL

Zaprojektowanie i zbadanie dyskryminatora amplitudy impulsów i generatora impulsów prostokątnych (inaczej multiwibrator astabilny).

Rys.1. Układy przełączników tranzystorowych

Transkrypt:

Skład zespołu: 1. 2. 3. 4. KTEDR ELEKTRONIKI G Wydział EIiE LBORTORIUM TECNIKI CYFROWEJ Data wykonania: Suma punktów: Grupa Ocena 1 Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74C00, 74CT00, 7403, 74132 I. Konspekt 2. Określić nazwę każdej z poniższych bramek, dla każdej z nich określić dopuszczalne przedziały wartości napięć na wejściu reprezentujących poziom niski (U ILmin U ILmax ) i wysoki (U Imin U Imax ) przy zasilaniu napięciem 5 (dla bramki C podać również dla napięcia 3.3). Dane zestawić w tabeli. Nazwa układu Opis układu U ILmin U ILmax U Imin U Imax 7400 74S00 74C00 (5) 74C00 (3.3) 74CT00 7403 B. Narysować schemat wewnętrzny bramki NND TTL wraz z wartościami elementów oraz inwertera CMOS. bramka NND TTL inwerter CMOS -0.4p -0.4p 1 Skala ocen: 9.5...10 celujący, 8.1...9.4 bardzo dobry, 7.4...8.0 ponad dobry, 6.6...7.3 dobry, 5.8...6.5 ponad dostateczny, 5.0...5.7 dostateczny, poniżej 5.0 niedostateczny 2 Dodatkowo w ramach konspektu należy uzupełnić dane katalogowe w tabelkach w punktach 2, 3, 4 zadań laboratoryjnych (zaciemnione kratki). Za prawidłowo zrobiony konspekt student nie otrzymuje punktów. Nie dotyczy to przypadku kiedy w konspekcie pojawią się błędy, wtedy student otrzymuje ujemne punkty. Ich wartości określa tabela. Maksymalna ilość punktów ujemnych to -3. ver. 3 1

II. Wykaz zadań laboratoryjnych http://layer.uci.agh.edu.pl/maglay/wrona/ 1. W oparciu o układ pomiarowy z rys.1 wyznaczyć charakterystyki przejściowe U O = f ( U I ) bramek 7400, 74S00, 74C00, 74CT00, 7403, 74132. Przed pomiarem należy ustawić zakres zmian amplitudy napięcia generatora od 0.5 do 5.5 (UWG! ustawić oscyloskop w trybie pracy -Y 3 ). Częstotliwość generatora dobrać tak by wyeliminować efekty przejściowe w badanych bramkach (jest to najmniejsza z częstotliwości przy której brak migotania obserwowanego przebiegu na ekranie oscyloskopu). Otrzymane oscylogramy wyskalować w jednostkach napięcia. Dokładność wyznaczenia charakterystyk to grubość linii, czyli ok. 0.1! Na oscylogramach zaznaczyć wartości napięć przełączania U T (dla bramki Schmitta napięcia przełączania U TL i U TL ) Rys. 1. Układ pomiarowy do zdejmowania charakterystyk przejściowych bramek. 7400, 74S00 0.6p 74C00, 74CT00 0.6p 74132 0.3p 7403 0.3p 3 wybrać pozycję -Y na przełączniku wielkości podstawy czasu (pamiętać o ustaleniu poziomu odniesienia 0 w pionie i poziomie oraz o skalibrowaniu wejść Y1 i Y2) ver. 3 2

2. Z otrzymanych charakterystyk przejściowych wyznaczyć wartości napięć przełączania U T, oraz wartości napięć typowych na wyjściu każdej z bramek dla stanu L (U OLtyp ) i (U Otyp). W oparciu o wyznaczone parametry określić typowe wartości marginesów zakłóceń statycznych dla stanu niskiego M = U i wysokiego M = U U. Wyniki zestawić w tabeli. Ltyp T-UOLtyp Rodzaj bramki U T [] U OLtyp [] U Otyp [] M typ [] M Ltyp [] 7400 0.4p 4 74S00 0.4p 74C00 0.4p 74CT00 0.4p 7403 0.4p 74132 0.4p 3. Podpunkt lub B wybiera prowadzący. Wyznaczyć maksymalny prąd wejściowy w stanie niskim I ILmax (dla U IL = 0) oraz wysokim I Imax (dla U I =5) dla bramek 7400, 74S00, 74CT00 według schematu pomiarowego z rys. 2. Dane pomiarowe umieścić w tabeli. typ Otyp T Zasilacz I I U I Rys.2. Schemat pomiarowy do określania prądu wejściowego bramek I ILmax I Imax Nazwa bramki pomiar katalog pomiar katalog 7400 0.5 5 74S00 0.5 74C00 0.5-0.15-0.15 B. Wyznaczyć maksymalny prąd wyjściowy w stanie niskim I OLmax (dla U OLmax w przypadku bramek TTL oraz 10% dla bramek CMOS) i wysokim I Omax (dla U Omin w przypadku bramek TTL oraz 90% dla bramek CMOS) według schematu pomiarowego z rys. 3a i 3b. dla bramek 7400, 74S00, 74C. Dane zestawić w tabeli. a) b) L U O I O P U OL I OL Zasilacz Rys. 3. Schemat pomiarowy do wyznaczania I Omax (a), schemat pomiarowy do wyznaczania I OLmax (b) 4 po 0.2p za każdy z marginesów 5 po 0.25p za każdy parametr ver. 3 3

I OLmax I Omax Rodzaj bramki pomiar katalog pomiar katalog 7400 0.5p 6 74S00 0.5p 74C00 0.5p -0.2p -0.2p 4. Wyznaczyć czasy propagacji bramek t pl, t pl (dla dwóch bramek wybranych przez prowadzącego). Przed pomiarem należy dokładnie ustalić zakres zmian napięcia generatora w dopuszczalnym zakresie dla badanej bramki 7. Dane zestawić w tabeli. Oscyloskop Generator PGP-5 U O U I Y 2 Y 1 Rys. 4. Układ do pomiaru czasów propagacji bramek t pl [ns] t pl [ns] Nazwa bramki katalog katalog pomiar pomiar (t plmax ) (t plmax ) 7400 8 74S00 74C00 74CT00 7403 74132-0.3p -0.3p 5. Zaprojektować trójwejściowy układ kombinacyjny, w którym pojawi się hazard statyczny, gdy zmienimy stan tylko jednego z wejść (). Do realizacji układu dostępne są 4 dwuwejściowe bramki ND ( 08) oraz 3 trójwejściowe bramki NOR ( 27). Narysować tablicę Karnaugha i zaznaczyć hazard. Połączyć zaprojektowany układ oraz (do wyboru przez prowadzącego punkt a lub b): a) doprowadzić do określonego wejścia sygnał fali prostokątnej, a sygnał z wyjścia obserwować na oscyloskopie. Wyodrębnić impuls będący wynikiem występowania hazardu. Przerysować zaobserwowany hazard statyczny. b) doprowadzić do określonego wejścia sygnał z generatora zboczy stanowiska do pomiarów cyfrowych (SINGLE PULSE GENERTOR); jako czujnik hazardu wykorzystać sygnał z tzw. dwójki liczącej - hazard będzie identyfikowany przez zliczanie dwójki liczącej. Narysować układ z wyeliminowanym hazardem i ponowić obserwacje, aby potwierdzić skuteczność dokonanej operacji. Wyniki pomiarów przedstawić prowadzącemu. 6 po 0.2p za każdy parametr 7 Do pomiaru wykorzystać sygnał z wyjścia generatora PGP-6 o impedancji 50Ω (nie z wyjścia impulsów odniesienia!!!) oraz użyć dwóch sond oscyloskopowych. 8 po 0.6p za każdy pomiar (ale tylko dla dwóch bramek wybranych przez prowadzącego) ver. 3 4

Schemat Układ z hazardem Tablica Karnaugha B 00 01 11 10 0 1 Schemat Układ bez hazardu Y= 0.6p Tablica Karnaugha B 00 01 11 10 0 1 Y= 0.6p = B= Q 1. ver. 3 5