9. Elektromagnetyczny mechanizm pomiarowy. Pat. PRL, kl. G 01R, nr z dnia (wsp. z S. Tumańskim)

Podobne dokumenty
PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

METROLOGIA. MIERNICTWO

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii

Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

I. KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia. Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: Język polski

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów)

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II

Podstawy elektroniki i miernictwa

Karta (sylabus) przedmiotu

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Marian ŁAPIŃSKI ( )

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Wydział EAIiE Katedra Maszyn Elektrycznych Publikacje 2009

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Podstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PAKIET INFORMACYJNY - informacje uzupełniające

Lista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych

studia I stopnia, niestacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika

studia I stopnia, stacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

Metrologia. Inżynieria Bezpieczeństwa I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

METROLOGIA SKRYPT DO LABORATORIUM. dla studentów kierunku elektrotechnika. Leona Swędrowskiego. pod redakcją

Laboratorium Metrologii I Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych 3

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021)

dr hab. inż. Krystyna Macek-Kamińska, profesor PO

Podstawy elektroniki i metrologii

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Metrologia. Wzornictwo Przemysłowe I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2015/2016

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

Imię i nazwisko (e mail) Grupa:

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia:

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

WYKAZ OSIĄGNIĘĆ W PRACY NAUKOWEJ

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Kierunek studiów Elektrotechnika Studia I stopnia

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne)

PLAN STUDIÓW NIESTACJONARNYCH I STOPNIA (ZAOCZNE)

Harmonogram zjazdów V naboru na Zaoczne Studia Doktoranckie przy IEl. Ramowy program zajęć (I semestr)

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma studiów: Stacjonarne. audytoryjne. Wykład Ćwiczenia

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki

WYKAZ CZASOPISM KRAJOWYCH

2012/2013. PLANY STUDIÓW stacjonarnych i niestacjonarnych I-go stopnia prowadzonych na Wydziale Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki

DOROBEK NAUKOWY. 4) E. Gołąb-Andrzejak, Lojalność eurokonsumentów pokolenia Y, Handel Wewnętrzny 2015, nr 1, s (lista B 12 punktów)

Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA Studia stacjonarne inżynierskie Specjalność:

Zebranie Polskiego Oddziału IEEE EMC Society. XI Warsztaty EMC 2017, , Wrocław

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

ANALIZA PORÓWNAWCZA METOD POMIARU IMPEDANCJI PĘTLI ZWARCIOWEJ PRZY ZASTOSOWANIU PRZETWORNIKÓW ANALOGOWYCH

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty

Uśrednianie napięć zakłóconych

PAN. Komitet Akustyki. Polskie Tow. Akustyczne Inst.Technologii Elektronowej PAN br.z.1,3-4;

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia. Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu:

W RAMACH STUDIÓW NIESTACJONARNYCH NA KIERUNKU ELEKTROTECHNIKA NA WYDZIALE ELEKTRYCZNYM POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ

Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI

WYKAZ PUBLIKACJI I PROJEKTÓW

Energetyka I stopień ogólnoakademicki stacjonarne. kierunkowy. obowiązkowy. polski semestr 1 semestr zimowy

Instytut W5/I-7 Zestawienie Kart przedmiotów Wrocław,

Pomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu

KARTA PRZEDMIOTU Rok akademicki: 2010/11

WYKAZ PUBLIKACJI POZATECHNICZNYCH (metodyka kształcenia inżynierów, organizacja i historia szkolnictwa wyższego, etyka badań naukowych)

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI

Informacje ogólne. Podstawy Automatyki. Instytut Automatyki i Robotyki

Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna

KIERUNEK STUDIÓW: ELEKTROTECHNIKA NAZWA PRZEDMIOTU: TECHNIKA WYSOKICH NAPIĘĆ. (dzienne: 30h wykład, 30h laboratorium) Semestr: W Ć L P S V 2E 2

Zakres rozmów kwalifikacyjnych obowiązujących kandydatów na studia drugiego stopnia w roku akademickim 2019/2020

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015

Najbliższe konsultacje odbędą się w godz. 10:00-11:30. Konsultaje w dniu r. zostają odwołane

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Plan studiów niestacjonarnych I stopnia (inŝynierskich)

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie

POMIARY NATĘŻENIA POLA ELEKTROMAGNETYCZNEGO MAŁYCH CZĘSTOTLIWOŚCI W OBIEKTACH PRZEMYSŁOWYCH

ĆWICZENIE nr 5. Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji

Załącznik nr 9b Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA (1/6) Studia niestacjonarne inżynierskie

Transkrypt:

Jerzy Stanisław Olędzki PRACE PUBLIKOWANE Artykuły 1. Mierniki elektromagnetyczne o ustrojach z koncentratorami strumienia. [artykuł konferencyjny] Konferencja Naukowo-Techniczna z okazji 15-lecia Zakładów "Lumel" i 50-lecia SEP, Zielona Góra, l969, Materiały Konf. Biuletyn WSI w Zielonej Górze, nr 3, l969, s.17-29 2. Wpływ kształtu nabiegunników na zmiany gradientu pola w kwadrupolowych obwodach magnetycznych do hallotronowych przetworników przesunięć. [artykuł w czasopiśmie] Archiwum Elektrotechniki, t.20 z.2, s.479-491, 1971 (wsp. z Z. L. Warszą) 3. Zarys historii dyscypliny "Miernictwo elektryczne" na Wydziale Elektrycznym Politechniki Warszawskiej. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Warszawska, Warszawa 1972 s.7-23 4. Nowa odmiana czułego mechanizmu miernika elektromagnetycznego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Warszawska, Warszawa l972, s.195-200 (wsp. z S. Tumańskim) 5. Permeametr kompensacyjny do pomiaru przenikalności magnetycznej rdzeni toroidalnych. [artykuł konferencyjny] V Krajowa Konferencja Metrologii i Budowy Aparatury Pomiarowej, Materiały Konf. t.ii, Wyd. NOT, Poznań 1972, s.97-100 (wspólnie z J. Jaworskim) 6. Optymalizacja konstrukcji elektromagnetycznego mechanizmu pomiarowego przy wykorzystaniu elektronicznej maszyny cyfrowej. [artykuł konferencyjny] V Krajowa Konferencja Metrologii i Budowy Aparatury Pomiarowej, Materiały Konf. t.iii, Wyd. NOT, Poznań 1972 s. 165-166 7. Nowa odmiana mechanizmu ferrodynamicznego licznika energii prądu stałego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VIII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Łódzka, Łódź 1973, s. 66-69 (wsp. z S. Tumańskim) 8. Analiza doboru elementów układu mostka Hohle'go przy określaniu stratności blach elektrotechnicznych w aparacie Epsteina 25 cm. [artykuł konferencyjny] Materiały X Międzyucz. Narady Metrologów, Politechnika Szczecińska, Szczecin 1975, s.280-285 (wsp. z R. Świebockim) 9. Elektromagnetyczny mechanizm pomiarowy. Pat. PRL, kl. G 01R, nr 76946 z dnia 28.05.1976 (wsp. z S. Tumańskim) 10. Permeametry cyfrowe integracyjne i komparacyjne. [artykuł konferencyjny] Zesz. Nauk. I Symp. "Kierunki Rozwoju Metrologii Elektrycznej" Komitet Elektrotechniki PAN, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Miernictwa El. Politechniki Warszawskiej, s.83-94, Warszawa 1977 (wsp. z J. Jaworskim i M. Orzyłowskim)

2 11. Analiza przydatności logometrów cyfrowych w systemach pomiarowych. [artykuł konferencyjny] Mater. Konf. "Metrologia - czynnik postępu w nauce i technice", Prace Nauk. Inst. Metrologii Elektr. Pol. Wrocławskiej Nr 19 s. 390-391, Wrocław 1979 12. The new AC method for industrial investigations and tests of the electromagnetic clutch. [Conference Paper] Conference Proc. on Technical Diagnostics'79, Committee on Tech. Diagnostics Tc 10 IMEKO, p. 127-136, Karlovy Vary 1979 (wsp. z S. Tumańskim) 13. Cyfrowy miernik przenikalności magnetycznej. Pat. PRL, kl. G01R, nr 103607 z dnia 09.01.1980 (wsp. z J. Jaworskim) 14. Możliwości realizacji metody trzech woltomierzy w multimetrze mikroprocesorowym. [artykuł konferencyjny] Biul. Tech. MERA, nr 8, s. 6-7, 1980 ( wsp. z M. 0rzyłowskim i Z. Rudolfem) 15. Permeametr-koercjometr cyfrowy. [artykuł konferencyjny] Zesz. Nauk. III Sympozjum "Kierunki rozwoju metrologii elektrycznej", Komitet Elektrotechn. PAN, Inst. Elektrotechn. Teor. i Miernictwa Elektr. Politechniki Warszawskiej s. 59-65, Warszawa, 1981 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 16. Teoria systemów pomiarowych - założenia ogólne - modele systemów i podsystemów. [artykuł konferencyjny] Symp. Metrologia '80, Politechnika Warszawska, Centr. Ucz.- Przemysł. Metrologii i Syst. Pomiarowych, str. 393-401, Warszawa 1981 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 17. 0gólne kierunki rozwoju elektrometrologii w Polsce. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd elektrotechniczny, r.58, z.1-4, s. 4-5, 1982 (wsp. z W. Kwiatkowskim) 18. Struktury multimetrów mikroprocesorowych - kierunki ewolucji. [artykuł konferencyjny] Mater. III Kraj. Konf. Nauk.-Techn. "Zastosowanie mikroprocesorów w automatyce i pomiarach", str.107-114, SEP, Warszawa 1982 19. Technika eksperymentu - przedmiot specjalizacji metrologia elektryczna kierunku elektrotechnika. [artykuł konferencyjny] XVI Międzyucz. Konf. Metrologów, Prace Inst. Przetw. i Użytk. Energii Elektr. Politechniki Lubelskiej, seria C nr 11 str.383-392, Lublin 1983 (wsp. z J.Jaworskim) 20. Cyfrowy permeametr próbkujący do badań materiałów magnetycznie miękkich w paśmie 50Hz-10Hz. [artykuł konferencyjny] XVI Miedzyucz. Konf. Metrologów, Prace Inst. Przetwarz. i Użytk. Energii Elektr. Politechniki Lubelskiej, seria C, nr 11, str. 202-299, Lublin 1983 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 21. Rozwój dyscypliny "miernictwo elektryczne" na Wydziale Elektrycznym Politechniki Warszawskiej. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.59, z.2, s. 49-52, 1983 (wsp. z W. Kwiatkowskim i T. Świderskim) 22. Permeametry cyfrowe do badania materiałów magnetycznie miękkich w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] Prace Nauk. Inst. Metrologii Politechniki Wrocławskiej, Nr 26, s. 94-98, Wrocław 1984 (wsp. z J. Jaworskimi T. Świderskim)

3 23. Pomiary impedancji metodą trzech woltomierzy wspomaganą mikrokomputerem. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.60, z.4, s.130-133, 1984 (wsp. z J. Szymanowskim) 24. Metrologia elektryczna dzisiaj - próba klasyfikacji. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.61 z. 7-8 s. 259-262, 1985 (wsp. z J. Jaworskim) 25. Rodzina permeametrów cyfrowych - ewolucja konstrukcji w świetle tendencji rozwoju metrologii. [artykuł konferencyjny] Mater. Pokonf. XVII Międzyucz. Konf. Metrologów t.ii s.73-80, Politechn. Poznańska 1985 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 26. Badanie właściwości magnetycznych blach elektrotechnicznych w polach przemiennych - próba przedstawienia głównych problemów i kierunków rozwoju. [artykuł konferencyjny] I Kraj. Symp. Pom. Magn.; Zesz. Nauk. Politechn. Świętorzyskiej, Elektryka nr 16 s. 137-159 Kielce 1985 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 27. Komputerowe systemy do badania materiałów magnetycznie miękkich w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] I Kraj. Symp. Pom. Magn.; Zesz. Nauk. Politechn. Świętokrzyskiej, Elektryka nr 16 s. 105-112 Kielce 1985 (wsp. z J. Dziedzicem i J. Jaworskim) 28. Pomiary wielkości elektrycznych metodą próbkowania - analiza stosowalności w typowej strukturze multimetrów mikroprocesorowych. [artykuł konferencyjny] Mater. Konf. XVIII Międzyucz. Konf. Metrologów, s. 196-202, WSI w Zielonej Górze 1985 (wsp. z J. Węgrzynem) 29. Analiza metod iteracyjnej korekcji przetworników wartości skutecznej stosowanych w woltomierzach cyfrowych o dużej rozdzielczości. [artykuł konferencyjny] Prace Naukowe Instytutu Metrologii Politechniki Wrocławskiej, nr 28 l986, s. 176-179 (wsp. z J. Szymanowskim) 30. Graniczny błąd przetwarzania w iteracyjnych procedurach cyfrowej korekcji przetworników wartości skutecznej napięcia zmiennego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Nauk. IV Symp. "Kierunki rozwoju metrologii elektrycznej", str.242-247, IETiME, Politechnika Warszawska l987 (wsp. z J. Szymanowskim) 31. Struktura metrologii i systemu jej pojęć podstawowych. [artykuł w czasopiśmie] Pomiary Automatyka Kontrola, nr 8 str.175-177, l987 (wsp. z J. Jaworskim, J. Bekiem i A. Fiokiem) 32. Próba zestawienia podstawowego zbioru tytułów czasopism naukowo-technicznych z zakresu metrologii. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny r.64, z.4 s. 124-126, 1988 33. Procedury adaptacyjne w systemach do badania materiałów magnetycznych. [artykuł konferencyjny] Mater. II Kraj. Sympozjum Pomiarów Magnetycznych; Zesz. Nauk. Politechn. Świetokrzyskiej, Elektryka nr 19, s. 63-68 Kielce l988 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim)

4 34. Theory of measurement in teaching metrology in engineering faculties. [Journal Paper] Measurement v.6, No. 2, p. 63-68, 1988 (wsp. z A. Fiokiem, J. Jaworskim, R. Morawskim i A. Urbanem) 35. Iterative method for conversion of the rms value in precision ac measurements. [Conference Paper] IMEKO TC Ser. No 10 l988, p. 237-240 Nova Sc. Pub., Commack, N.Y. (wsp. z J. Szymanowskim) 36. Auto-adaptive measurement systems for laboratory and industrial investigation of magnetic materials. [Conference Paper] Proc. of the 11 World Congress IMEKO, v.i, p.227-234, Houston 1988 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 37. Digital correction of the rms a/d conversion using two point autocalibration and spline approximation. [Conference Paper] Proc. Int. Congress METROLOGY '89, p.309-314, Paris l989 (wsp. z W. Winieckim) 38. Przetwornik wartości skutecznej napięcia zmiennego na sygnał cyfrowy. Patent PRL, kl. G01R, nr 148216 z dnia 04.04.1990 (wsp. z J. Szymanowskim i P. Czerwińskim) 39. Rozwój współczesnych systemów do badania materiałów magnetycznych. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny r.66 z.10-11, 1990 (wsp. z T. Świderskim) 40. "Pomiar" i "eksperyment" w nowym modelu studiów technicznych. [artykuł konferencyjny] XXII Międzyucz. Konf. Metrologów Łódź 1990, Zesz. Nauk. PŁ nr 594, s. 263-272 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 41. Integration of metrology and experimentation techniques in the curriculum of an engineering faculty. [Conference Paper] Proc. of the 12 World Congress IMEKO, v. Fundamental Metrology, Measurement Theory and Education, p.233-236, Beijing, China 1991 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 42. Systemowa teoria i technika mierzenia - założenia, koncepcja, wybrane działy. [artykuł konferencyjny] Metrologia i Systemy Pomiarowe, nr 12, s.3-20, Warszawa-Gdańsk 1992 (wsp. z J. Jaworskim i M. Urbańskim) 43. Wykład i laboratorium przedmiotu Miernictwo elektryczne. Program i problemy dydaktyczne trzydziestogodzinnego wykładu i trzydziestogodzinnego laboratorium. [artykuł konferencyjny] Metrologia i Systemy Pomiarowe, nr 12, s.367-372, Warszawa- Gdańsk 1992 (wsp. z J. Jaworskim) 44. Masters's degree in Measurement Science and Instrumentation Technology at Warsaw University of Technology. [Conference Paper] State and Advances of Measurement and Instrumentation Science. City Univ. Proc. Int. IMEKO-TC1&TC7 Coll. pp.148-151 London 1993 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 45. Teoria obwodów magnetycznych oparta na analogii prąd - pochodna strumienia i aproksymacji charakterystyk magnesowania. Aproksymacyjny model magnesowania. [artykuł konferencyjny] IV Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 1994; Zesz. Nauk. Pol. Świętokrzyskiej, ELEKTRYKA Nr.31, 1994 s.121-132 (wsp. z J. Jaworskim)

5 46. Badanie właściwości materiałów magnetycznych jako parametryczna identyfikacja matematycznego modelu magnesowania w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] IV Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 1994; Zesz. Nauk. Pol. Świętokrzyskiej, ELEKTRYKA Nr.31,1994 s.111-120 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 47. Present problems of combining teaching and research in Poland. [Conference Paper] Proc. II Mare Balticum Conference, pp 43-49, October 1995 Gdańsk; w jęz. polskim tekst referatu pt. Podstawowe problemy łączenia uprawiania nauki z nauczaniem studentów w Polsce A.D.1995 jest opublikowany w Wiadomości KSN nr 13, grudzień 1996 str. 21-23. 48. Spory o model szkolnictwa wyższego w Polsce. [artykuł konferencyjny] Materiały Konferencji Nauka i szkolnictwo wyższe - jaka przyszłość? Warszawa, 22 czerwca 1996 r. str. 19-25, Krajowa Sekcja Nauki NSZZ S. Warszawa 1997 49. Multimetry - stan dzisiejszy i rozwój. [artykuł konferencyjny] Sympozjum Metrologia w systemach jakości, V Sympozjum Klubu POLSKIE FORUM ISO 9000, Mikołajki 1997, Mater. Symp. t.2, str. III.E/29-38 50. Measurement and Modelling. [Conference Paper] Fourth International Microsymposium on Electrochemical Impedance Analysis 10-14.06.1996 Mądralin k/warszawy (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 51. Ogólne zasady techniki mierzenia w wykładzie Podstaw metrologii dla kierunków inżynierskich. [artykuł konferencyjny] XXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologów, Nałęczów 1997, Mater. Konf. t.2, str. 427-434 52. Podstawowe ograniczenie skuteczności korekcji błędów przetwarzania analogowocyfrowego. [artykuł konferencyjny] Sympozjum Podstawowe Problemy Metrologii Gliwice-Ustroń 1998, Prace Komisji Metrologii PAN, Ser. Konf. Nr 1, str. 349-354 53. Ocena polskiego systemu szkolnictwa wyższego i nauki wraz z propozycjami zmian legislacyjnych. [opracowanie powielane] Sejm RP, Klub Parlamentarny AWS, kwiecień 1999 (wsp. z W. Pillichem i K. Schmidt-Szałowskim) 54. Przetwarzanie sygnałów w badaniach materiałów magnetycznych. [artykuł konferencyjny] Materiały VII Międzynarodowego Seminarium Metrologów "Metody i Technika Przetwarzania Sygnałów w Pomiarach Fizycznych", Oficyna Wyd. Politechniki Rzeszowskiej, s.122-129, Rzeszów 1999 (wsp. z J. Jaworskim i J. Przygodzkim) 55. Sygnałowo-przetworzeniowy model pomiaru właściwości magnetycznych. [artykuł konferencyjny] VI Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 2000; Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, Ser. Konf. Nr 3, str. 201-211 (wsp. z J. Jaworskim i J. Przygodzkim) 56. Prawo o szkolnictwie wyższym w Polsce - przegląd postulowanych zmian. [artykuł konferencyjny] Seminarium Słowacko-Polskie "Organizacja i problemy szkolnictwa wyższego w Słowacji i w Polsce" 15-17.09.2000 Gdańsk, opubl. w "Wiadomości KSN" nr 9, wrzesień 2000

6 57. Zarys systemu i sytuacji szkolnictwa wyższego w Polsce - proponowane kierunki zmian. [opracowanie powielane] KSN i Fundacja Fridricha Eberta w Polsce, październik 2000 (wsp. z W. Pillichem, J. Sobieszczańskim) 58. Validation of the needle method for magnetic measurements. [Conference Paper] 7 th International Workshop on 1&2-Dimensional Magnetic Measurement and Testing Proceedings, Lüdenscheid, Germany 16-17 September 2002, PTB-E-81, Braunschweig, June 2003, 203-208. 59. Pomiary indukcji magnetycznej w blachach elektrotechnicznych metodą igłową. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, 79 (2003) Nr 3, 163-166 (wsp. z S. Tumańskim) 60. The needle method development for magnetic measurements. [Conference Paper] 16 th Soft Magnetic Materials Conference, Düsseldorf 2003 61. Podstawowe etapy walidacji igłowego czujnika indukcji magnetycznej w blachach elektrotechnicznych. [artykuł konferencyjny] Mater. VII Sympozjum Pomiarów Magnetycznych, 39-42, Przegląd Elektrotechniczny, 80 (2004) Nr 2, 131-134 Skrypty i książki 1. Laboratorium Miernictwa Elektrycznego. cz.1, wyd.viii, Oficyna Wydawnicza PW 1997 (wsp. z W. Kwiatkowskim) 2. Laboratorium Miernictwa Elektrycznego. cz.2, wyd.vii, Oficyna Wydawnicza PW 1997 (wsp. z W. Kwiatkowskim i M. Ponińskim) 3. Wstęp do metrologii i techniki eksperymentu. WNT Warszawa 1992 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 4. Podstawy metrologii. Preskrypt wykładu dla studentów wieczorowych studiów zawodowych Radiokomunikacji, 3 wyd. Warszawa 2000, str.147