ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1457 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 1, Data wydania: 28 sierpnia 2013 r. Nazwa i adres Zakład Aparatury Medycznej Gryfmed E. Twór, T. Meger s.c. ul. Akacjowa 14, 72-300 Gryfice Laboratorium Badawcze ul. Monte Cassino 18a, 70-467 Szczecin AB 1457 Kod identyfikacji dziedziny/obiektu badań Dziedzina/obiekt badań: N/14 Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego urządzenia radiologiczne KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1457 z dnia 28.08.2013 r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 1/9
radiografii ogólnej Laboratorium Badawcze ul. Monte Cassino 18a, 70-467 Szczecin Wysokie napięcie Zakres: (40 155) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,01-60,00) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: 0,1 Gy 0,1 Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego PB-01/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 2/9
radiografii ogólnej Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym kolimacja ręczna Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu kolimacja automatyczna Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,001 3) m Pomiar pośredni / bezpośredni Natężenie oświetlenia pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (0,5 1000) lux Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu PB-01/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 3/9
radiografii ogólnej Różnica gęstości optycznych - czułości komór AEC Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Wskaźnik światłoczułości w procesie Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: (0,05 9000) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 1000) lux PB-01/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 4/9
zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Wysokie napięcie Zakres: (40 155) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,01 60,00) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,1 Gy 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Pomiar pośredni / bezpośredni PB-04/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 5/9
zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Wskaźnik światłoczułości w procesie Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: (1,0 9000) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (0,5 1000) lux PB-04/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 6/9
zdjęć wewnątrzustnych Wysokie napięcie Zakres: (40 155) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Czas ekspozycji Zakres: (0,01-60) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,1 Gy 0,1) Gy Warstwa półchłonna HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Z obliczeń Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość: ognisko lampy powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,001 3) m PB-03/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 7/9
fluoroskopii Wysokie napięcie Zakres: (40 155) kv Dokładność ustawienia wysokiego Powtarzalność wartości wysokiego Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Moc dawki Zakres: (0,1 Gy 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy Zmienność wydajność lampy w funkcji natężenia prądu Zmienność wydajności lampy w funkcji obciążenia prądowoczasowego Dawka wejściowa na jeden obraz kinematografia Zakres: 0,1 Gy 0,1 Gy Czas ekspozycji Zakres: (1-1000) s Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza PB-02/GRYFMED Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 8/9
Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 1457 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS dnia: 28.08.2013 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 1, 28 sierpnia 2013 r. str. 9/9