Elementy przełącznikowe

Podobne dokumenty
Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s

W książce tej przedstawiono:

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

Repeta z wykładu nr 6. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Metal-półprzewodnik

Badanie diod półprzewodnikowych

Złożone struktury diod Schottky ego mocy

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

IV. TRANZYSTOR POLOWY

Elementy półprzewodnikowe. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Tranzystory polowe JFET, MOSFET

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Materiały używane w elektronice

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Rozmaite dziwne i specjalne

Przegląd półprzewodnikowych przyrządów mocy

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć.

4. Diody DIODY PROSTOWNICZE. Są to diody przeznaczone do prostowania prądu przemiennego.

Budowa. Metoda wytwarzania

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Przewodność elektryczna półprzewodników

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

1. Właściwości materiałów półprzewodnikowych 2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane 3. Złącze pn 4. Polaryzacja złącza

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Wykład V Złącze P-N 1

Tranzystory polowe MIS

ELEKTRONIKA ELM001551W

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b)

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Skalowanie układów scalonych

Badanie diod półprzewodnikowych

Temat i cel wykładu. Tranzystory

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

Diody półprzewodnikowe

Diody półprzewodnikowe

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

1. Zarys właściwości półprzewodników 2. Zjawiska kontaktowe 3. Diody 4. Tranzystory bipolarne

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

TRANZYSTORY MOCY. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi tranzystorami i ich charakterystykami.

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Kurs 15/30 g

Prawo Ohma. qnv. E ρ U I R U>0V. v u E +

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz

Skalowanie układów scalonych Click to edit Master title style

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

Urządzenia półprzewodnikowe

Prowadzący: Prof. PŁ, dr hab. Zbigniew Lisik. Program: wykład - 15h laboratorium - 15h wizyta w laboratorium technologicznym - 4h

Diody i tranzystory. - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy)

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 1 Badanie złącz Schottky'ego metodą I-V

Tranzystory bipolarne w układach CMOS

Rozmaite dziwne i specjalne

Elementy elektroniczne Wykłady 4: Diody półprzewodnikowe

Diody półprzewodnikowe

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej Wydział Elektrotechniki, Elektroniki Informatyki i Automatyki Politechnika Łódzka

Diody prostownicze. częstotliwo. ową 50 Hz) przy znacznych lub zgoła a duŝych mocach wydzielanych w obciąŝ

Przewodnictwo elektryczne ciał stałych. Fizyka II, lato

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

promotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Badanie charakterystyki diody

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

Miłosz Andrzejewski IE

OCENA DOKŁADNOŚCI FIRMOWYCH MODELI DIOD SCHOTTKY EGO Z WĘGLIKA KRZEMU

INDEKS. deklaracja... 7,117 model model materiału rdzenia Charakterystyki statyczne Czynnik urojony...103

WARYSTORY, TERMISTORY, DIODY.

Lasery półprzewodnikowe. przewodnikowe. Bernard Ziętek

Elementy elektroniczne Wykłady 3: Półprzewodniki. Teoria złącza PN

TRANZYSTORY MIS WYKŁAD 14 SMK Na pdstw. W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET)

Przyrządy półprzewodnikowe część 3

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,

Transkrypt:

Elementy przełącznikowe Dwie główne grupy: - niesterowane (diody p-n lub Schottky ego), - sterowane (tranzystory lub tyrystory) Idealnie: stan ON zwarcie, stan OFF rozwarcie, przełączanie bez opóźnienia i bez strat mocy.

Elementy przełącznikowe Rzeczywiste parametry: - skooczone napięcie w stanie ON; - skooczony prąd w stanie OFF; - skooczone czasy przełączania; - ograniczone wartości prądów, napięd, mocy i temperatury wnętrza wynikają z cech struktur półprzewodnikowych.

Struktury elementarne: p-n, m-s, MOS Złącze p-n Złącze: struktura p-n lub powierzchnia graniczna.

Struktury elementarne: p-n Główna cecha: asymetria charakterystyki prądowo-napięciowej.

Złącze niespolaryzowane Struktury elementarne: p-n p p n i n p

Struktury elementarne: p-n n n n i p n j p q D p dp dx q p E p 0

Struktury elementarne: p-n Napięcie kontaktowe: B V( x n ) V( x p ) V T ln N A n 2 i N D

Struktury elementarne: p-n Model stałoprądowy złącza idealnego Kierunek przewodzenia: u > 0 kierunek zaporowy: u < 0 Złącze idealne szereg założeo upraszczających.

Struktury elementarne: p-n Model stałoprądowy: i, u wolnozmienne. i I I S prąd nasycenia. S exp u V T -1 I a 2 S n i Krzemowe elementy średniej mocy: I S (T o ) = 10-14 - 10-10 A. S

Struktury elementarne: p-n u( i) V T ln I i S 1 Si, T o, przeciętne prądy przewodzenia: u = 600-700mV.

Struktury elementarne: p-n

Struktury elementarne: p-n Modele dynamiczne Inercja Dyfuzyjna: pojemności nieliniowe Q D i( u) I S exp u V T 1

Struktury elementarne: p-n Złączowa: QJ q S N A xp( u) K B u

Struktury elementarne: p-n Efekty pasożytnicze: - Rezystancja szeregowa r s (modulacja konduktywności) - Przebicie: i W M I G I S ; M 1-1 u U W PL

Struktury elementarne Złącze M-S (metal-półprzewodnik) Styki M-S: w każdym elemencie półprzewodnikowym i układzie scalonym. Na ogół nieprostujące (omowe). W pewnych warunkach prostujące (charakterystyki podobne jak dla złącz p-n).

Struktury elementarne: m-s Warstwa opróżniona z elektronów w półprzewodniku; grubośd: W. Jeśli N D małe to W duże; jeśli przy tym odpowiednie prace wyjścia, to złącze prostujące.

Struktury elementarne: m-s Charakterystyka: i I M exp m u V T 1 I M S A T 2 exp M kt p

Si, złącze idealne Struktury elementarne: m-s

Struktury elementarne: m-s Model dynamiczny: nie ma pojemności dyfuzyjnej. Zastosowanie: diody Schottky ego: Au, Pt, Al - Si, N D < 10 16 cm -3. Element rzeczywisty: rezystancja szeregowa, przebicie bardziej dokuczliwe niż w złączu p-n Styk omowy: Al, Au - Si, N D > 10 17 cm -3

Struktury elementarne Struktura Metal Izolator Półprzewodnik (MOS). W każdym elemencie półprzewodnikowym i układzie scalonym. Najczęściej: Al(Au) SiO 2 Si. Gruby dielektryk (powyżej 0.1 µm) tylko izolacja.

Struktury elementarne: MOS Cienki dielektryk (< 0.1 µm) oddziaływanie potencjału elektrody metalowej na stan półprzewodnika: tranzystory MOS, pamięci EPROM, struktury CCD.

Struktury elementarne: MOS t OX < 0.1 µm; N A = 10 15 10 16 cm -3

Struktury elementarne: MOS u GS = 0 stan neutralny, p S = N A, n S znikome; u GS < 0 akumulacja, p S > N A ; u GS > 0 (małe), p S < N A ; u GS > 0 (większe), warstwa opróżniona; u GS = U p > 0, n S = N A, próg inwersji; u GS > U p, n S > N A, warstwa inwersyjna.

Struktury elementarne: MOS

Struktury elementarne: MOS Napięcie progowe U P. Uwzględniając Ф MS i stany powierzchniowe (ładunek Q P ), mamy: U P MS q B QP C OX Q B

Struktury elementarne: MOS B 2 V T ln N n i A ; C OX OX t OX O B 0; QB 0; MS 0; QP 0 U P zależy od domieszkowania i jakości technologii (Q P ). Małe N A : U P < 0.

Struktury elementarne: MOS Pojemnośd bramka-podłoże: C GS S C C OX OX C C J J

Struktury elementarne: MOS Dla u GS > U P warstwa inwersyjna: swobodne elektrony. Efektywny ładunek warstwy inwersyjnej (na jednostkę powierzchni): Q ( u U ) I GS P C OX

Struktury elementarne: MOS Możliwośd przepływu prądu. Regulacja przez zmiany u GS. Zastosowanie: tranzystory MOSFET. Możliwości przebicia izolatora przy dużym u GS. U BR (SiO 2 ): 600 1500 V na 1µm.

Diody Diody w energoelektronice: przełączniki niesterowane. Wykorzystanie asymetrii charakterystyki. Dwie grupy: - diody ze złączem p-n (krzemowym); - diody Schottky ego ze złączem M-S (typowo metal na krzemie). W ostatnich latach nowa podgrupa diod Schottky ego metal na węgliku krzemu SiC.

Diody Główne różnice między diodami krzemowymi p- n i M-S. Diody p-n: możliwe większe napięcia dopuszczalne. M-S: szybsze przełączanie, mniejszy spadek napięcia w stanie przewodzenia (przy niezbyt dużych prądach). Diody Si trudno o połączenie dużej szybkości przełączania i dużych napięd dopuszczalnych.

Diody Węglik krzemu SiC: krytyczne natężenie pola kilkakrotnie większe niż w Si (poza tym inne zalety ale bardzo trudna technologia). Napięcia przebicia diod M-S (SiC) wyraźnie większe niż diod M-S (Si). Diody M-S SiC połączenie szybkości przełączania i wytrzymałości napięciowej nieosiągalne w diodach krzemowych.

Diody Bardzo dużo odmian diod Si (p-n lub M-S); niewiele (na razie) odmian diod SiC. Zakres dopuszczalnych prądów przewodzenia od miliamperów do kiloamperów. Dopuszczalne napięcia wsteczne od kilkudziesięciu V do kilku (a nawet kilkunastu) kv. W sprzedaży diody pojedyncze, podwójne lub czwórki (mostki Graetza).