RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300

Podobne dokumenty
Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

Spektrofotometr FT-IR WQF-530

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

Przenośne spektrometry Ramana

Opis przedmiotu zamówienia

Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary

Ćw.1. Monitorowanie temperatury

Ta nowa metoda pomiaru ma wiele zalet w stosunku do starszych technik opartych na pomiarze absorbancji.

Pomiary widm fotoluminescencji

PARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY

UMO-2011/01/B/ST7/06234

Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA PALIW ZA POMOCĄ SPEKTROFOTOMETRII FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)

Zadanie nr 1 Dostawa oraz uruchomienie spektrofotometru

MultiSpec Raman: Spektrometr Ramana do zastosowań laboratoryjnych i procesowych

Widmo promieniowania

PODSTAWY METODY SPEKTROSKOPI W PODCZERWIENI ABSORPCJA, EMISJA

PROJEKTORY DO KINA DOMOWEGO

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

Dotyczy: przetargu nieograniczonego powyżej euro Nr sprawy: WIW.AG.ZP na dostawę i montaż urządzeń laboratoryjnych.

Oferowany przedmiot zamówienia

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

SPEKTROSKOPIA IR I SPEKTROSKOPIA RAMANA JAKO METODY KOMPLEMENTARNE

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06

Spektrometr XRF THICK 800A

4. Specyfikacja. Utrzymanie Obiektyw można czyścić za pomocą sprężonego powietrza lub wilgotną bawełnianą szmatką

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

Metoda osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (Attenuated Total Reflection)

Postępowanie WB NG ZAŁĄCZNIK NR 6. Wartość netto (zł) (kolumna 3x5) Nazwa asortymentu parametry techniczne

KPA 5/2010 Opole, r. Ldz. DZP 343/2010 Do: Uczestnicy postępowania o udzielenie zamówienia publicznego

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI

m 1, m 2 - masy atomów tworzących wiązanie. Im

AX Informacje dotyczące bezpieczeństwa

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury

ZASADA DZIAŁANIA SPOSÓB POMIARU

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

SPEKTROSKOPIA W PODCZERWIENI - MOŻLIWOŚCI I ZASTOSOWANIA

RoHS-Vision / X-RoHS + SDD

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla

MAKING LIGHT WORK. SONDA FOCUS PRZEPŁYWOMIERZA ŚWIECY OPIS:

Opis programu Konwersja MPF Spis treści

5.Specyfikacja: Uwaga!!! 1) Nie używać rozpuszczalnika do czyszczenia obiektywu. 2) Nie zanurzać urządzenia w wodzie.

SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA

Mikroskopia konfokalna: techniki obrazowania i komputerowa analiza danych.

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Zapytanie ofertowe. Zwracamy się z prośbą o przedstawienie oferty handlowej na zakup chromatografu cieczowego o następujących funkcjach / parametrach:

Spektroskopia molekularna. Spektroskopia w podczerwieni

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Badanie efektu Faraday a w kryształach CdTe i CdMnTe

Laser z podwojeniem częstotliwości

1. Właściwości urządzenia

Ćw.2. Prawo stygnięcia Newtona

Ręczne testery FiberBasix 50 SERIA ZAWIERAJĄCA ŹRÓDŁO ŚWIATŁA ELS-50 I MIERNIK MOCY EPM-50

SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments

Spektroskopia Ramanowska

Pomnażaj swoje eksperymentalne możliwości. Spektrofotometr UV-Vis Agilent Cary 3500

Promieniowanie podczerwone (ang. infrared IR) obejmuje zakres promieniowania elektromagnetycznego pomiędzy promieniowaniem widzialnym a mikrofalowym.

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Spektrometr AAS 9000

. Załącznik nr 6 do Regulaminu udzielania zamówień publicznych

Dobór warunków dla poprawnego pomiaru widm emisji i wydajności kwantowych emisji

Dnia do Zamawiającego wpłynęło następujące zapytanie: 1. Dotyczy: przetargu na dostawy spektrofotometru UV-VIS NIR ZP /10

Wagosuszarka MOC-120H. CENA: zł netto

Podsumowanie W9. Wojciech Gawlik - Wstęp do Fizyki Atomowej, 2003/04. wykład 12 1

MODEL ZDJĘCIE OPIS. Przenośna Lampa Szczelinowa KJMS1 CECHY:

Spektrometria w bliskiej podczerwieni - zastosowanie w cukrownictwie. Radosław Gruska Politechnika Łódzka Wydział Biotechnologii i Nauk o Żywności

PL B1. Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

UMO-2011/01/B/ST7/06234

Załącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Laserowy mikrometr skanujący Strona 376. Moduł wyświetlający LSM Strona 377

PARAMETRY TECHNICZNO UŻYTKOWE Zadanie nr 7 Ploter laserowy 1 szt.

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona

PRODUKTY CHEMICZNE Ćwiczenie nr 3 Oznaczanie zawartości oksygenatów w paliwach metodą FTIR

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW.

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?

Marek Jan Kasprowicz Mateusz Suchanek. Zakład Fizyki AR w Krakowie Krasiczyn, wrzesień 2007

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

SPECYFIKACJA ASORTYMENTOWO-CENOWA

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM

Plan wynikowy (propozycja)

Optyka. Optyka geometryczna Optyka falowa (fizyczna) Interferencja i dyfrakcja Koherencja światła Optyka nieliniowa

MODEL: UL400. Ultradźwiękowy detektor pomiaru odległości, metalu, napięcia i metalowych kołków INSTRUKCJA OBSŁUGI

Mikroskop laboratoryjny

Transkrypt:

RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy ze spektrofotometrem FT/IR-6300. W przeciwieństwie do spektroskopii rozproszenia ramanowskiego, gdzie widmo jest zazwyczaj mierzone przy użyciu widzialnych długości fal pobudzających, spektroskopia FT-Raman praktycznie eliminuje fluoroscenccję i zanieczyszczenia próbki. Spektroskopia FT-Raman eliminuje także problem nużących przygotowań próbki (czasem niezbędnych w technikach FT-IR). Eliminacja dotychczasowych ograniczeń drastycznie zwiększa możliwości zastosowania analizy FT-Raman. Pobudzenie bliskie wartościom podczerwonym w RFT-6000 umożliwia zastosowanie silnych laserów bez ryzyka foto-degradacji próbki. Możliwość łączenia skanów za pomocą techniki FT rekompensuje problem mniejszej czułości właściwej sygnałom Raman. Pozłacane części optyczne FT/IR-6300 zapewniają większą czułość RFT-6000, umożliwiając tym samym analizę bardzo różnorodnych próbek i znajdując zastosowanie w wielu projektach naukowo-badawczych. chłodzone powietrzem wejście lasera system blokady lasera pozioma podstawka/podium do prostego pomiaru próbek urządzenie jest przystosowane do mierzenia zarówno widma IR, jak i Raman łatwość włączania/wyłączania trybu mikro

System FT-Raman większe możliwości analizy strukturalnej Zazwyczaj widmo Raman jest mierzone za pomocą lasera wzbudzającego w widzialnych zakresach światła, ale pomiary takie mogą być trudne w przypadku próbek takich, jakich polimery czy próbki biologiczne o wysokiej fluorescencyjności. Preferowany jest pomiar Raman przy użyciu długich długości fal lasera wzbudzającego, co eliminuje wpływ fluorescencyjnych właściwości materiału na wynik pomiaru Ponieważ czułość Raman zmniejsza się (odwrotnie proporcjonalnie do ¼ długości fali) w porównaniu do długości fal światła widzialnego, bardzo czułe pomiary dokonywane są za pomocą spektrometrii FT. System FT Raman zawiera urządzenie Raman, które naświetla próbę światłem lasera, a następnie skutecznie kondensuje rozproszone światło Raman które zostało rozproszone przez próbkę i wprowadza je do interferometru, co umożliwia powielanie skanowania i wykrycie rozproszonego światła Raman. Ponieważ emisja laserowa i optyka kondensacyjna Raman wykorzystują orientację pionową (są zorientowane pionowo), urządzenie jest niezwykle proste w obsłudze (także umieszczenie próbki nie dostarcza użytkownikowi żadnych problemów). Cechy: Analiza próbek biologicznych i polimerów, która nie jest możliwa przy wykorzystaniu spektrofotometrów widzialnego światła rozproszenia ramanowskiego ze względu na niekorzystny efekt fluorescencji. Wysoka dokładność długości fali oraz możliwość kilkukrotnego skanu /dodawania skanów. Pomiar zarówno widma w podczerwieni, jak i widma Raman. Wykorzystanie pionowej komory pomiaru próbek do prostych pomiarów. Komora pomiaru próbki może być przełączona zarówno do trybu mikro, jak i makro. Weryfikacja pomiaru za pomocą monitora telewizyjnego (opcjonalnie) System operacyjny Windows zapewnia wygodną obsługę urządzenia. Możliwość przeszukiwania baz danych Raman. Widmo Raman trójfosforanu sodu. Jedną z głównych zalet FT-Raman jest możliwość pomiaru próbek wykazujących fluorescencję. W porównaniu z widmem wytworzonym przy użyciu lasera przy widzialnych długościach fal, FT-Raman czyni znacznie łatwiejszym pomiar próbek o znacznie wyższym stosunku poziomu sygnału do poziomu szumów (S/N, signal-to-noise ratio). Powyższy przykład pokazuje widmo trójfosforanu sodu wytworzone przy pobudzeniu falami widzialnymi i falami podczerwonymi. Podejście interferometryczne zapewnia wysoką rozdzielczość pomiarów, szybkość pomiaru oraz wyjątkową dokładność liczby falowej.

System optyczny Widmo IR i widmo Raman próbki L-cystyny Pomiar w spektroskopii Raman jest znacznie łatwiejszy niż w spektroskopii podczerwieni. W przypadku tej drugiej, polimery muszą być mierzone w osłonie (film form), podczas gdy w spektroskopii ramanowej ich pomiar nie wymaga żadnego wcześniejszego przygotowania. Ponadto spektroskopia Raman umożliwia łatwy pomiar trybów wysokich symetrycznych wibracji (dzięki regułom wyboru), co jest niemożliwe w spektroskopii IR. Spektroskopia Raman umożliwia pomiar trybów niskich licz falowych, dzięki czemu można uzyskać dane o drganiach sieci krystalicznej kryształów. Dodatkową zaletą spektroskopii Raman jest możliwość wykorzystywania do pomiarów niedrogich i łatwych w obsłudze szklanych komórek (transparentnych w bliskiej podczerwieni), nawet do mierzenia płynów. RFT-6000/FT/IR-6300 jest kompatybilny zarówno ze standardowym FT-IR i urządzeniami FT-Raman, w zależności od rodzaju próbki i przeznaczenia. Powyższy przykład ilustruje widmo L-cystyny w podczerwieni oraz Raman. W przypadku widma Raman możliwa jest obserwacja nawet przy bardzo niskiej liczbie falowej i w trybach wibracji symetrycznej, takich jak (rozciągliwa) wibracja S-S.

Widmo Raman procesu twardnienia żywicy epoksydowej Powyższy rysunek ilustruje pomiar procesu twardnienia żywicy epoksydowej. Dodatkiem do próbki był bezwodnik kwasowy. Reakcja twardnienia jest przedstawiona w dwudziestominutowych interwałach. W miarę postępowania procesu wartości szczytowe bezwodnika i epoksydu maleją, a różnicach w tych wartościach umożliwia wyznaczenie stopnia stwardnienia. Dzięki pionowemu ustawieniu lasera i optyce kondensacji Raman pomiar może być przeprowadzony poprzez proste umieszczenie próbki na podeście. Położenie podestu może być regulowane po osi współrzędnych x,y,z. Do dużych prób może być wykorzystywany duży stolik. Inne przykłady Poniżej pokazane są przykłady pomiarów poniżej 50cm -1, które są możliwe przez zastąpienie filtra odcinającego. Standardowe urządzenie posiada funkcję korekty rozproszenia ramanowskiego, monitor mocy lasera oraz mechanizm blokady lasera. Mikroskopowy obraz włókna polimerowego (o średnicy 10 m) Obiektywy do pomiarów mikroskopowych. Widmo ramanowskie poliamidu powyżej Sekcja soczewek kondensujących na liniowej prowadnicy. Łatwe przełączanie trybów makro/mikro. Autopodium (autostage) umożliwia pomiary odwzorowujące. Użycie opcjonalnego systemu telewizyjnego (mikrosystem w standardzie) umożliwia weryfikację pomiaru.

Specyfikacja: Laser Filtr tłumiący Detektory YAG 1 064 nm; 1, 2 lub 3 W chłodzony powietrzem 150 cm -1 lub więcej (wartość przesunięcie ramanowskiego) 50 cm -1 lub więcej (opcja) InGaAs: 3 600 cm -1 lub więcej (przy temperaturze pokojowej) 3 000 cm -1 (77 K chłodzenie ciekłym azotem) Interferometr Dzielnik wiązki Si/CaF 2 Podstawa próbki Stolik X-Y-Z System zbierania wiązki Metoda soczewek F/0.63 Proces przetwarzania danych Wygładzanie danych, korekcja linii bazy, wybór wartości szczytowych, korekta czułości, arytmetyka, pochodne, odejmowanie, przesunięcie ramanowskie <-> konwersja liczby falowej, ścinanie danych, nakładka, konwersja IF, J-CAMP, formatu TXT Inne standardowe wyposażenie Filtr eliminujący linię plazmową lasera, monitor mocy lasera, źródło światła dla korekty czułości Raman (lampa halogenowa), mechanizm blokady, system zbierania rozproszenia ramanowskiego (przy użyciu pozłacanych luster). Akcesoria optyczne Komora pomiaru próbek ciekłych / uchwyt komory pomiaru próbek ciekłych / uchwyt do pomiaru proszków, system pomiaru 90- stopniowego rozproszenia, system monitorowania TV do obserwacji próbek, system pomiaru mikroskopijnego (X10, X50 + system monitorowania TV), system mierzenia polaryzacji (1/2 płytki + polaryzator), duże podium x-y-z, system analizy cieplnej, system odwzorowywania, podstawa antywibracyjna Wymiary zestawu: