PL B1. Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
|
|
- Jan Szewczyk
- 5 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: (51) Int.Cl. G01N 21/45 ( ) G01N 9/24 ( ) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: (54) Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 02/15 (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 10/18 (73) Uprawniony z patentu: POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL (72) Twórca(y) wynalazku: MAŁGORZATA JĘDRZEJEWSKA-SZCZERSKA, Gdańsk, PL (74) Pełnomocnik: rzecz. pat. Małgorzata Kluczyk PL B1
2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy, dla różnych długości fali, zarówno światła widzialnego jak i bliskiej podczerwieni. Znany jest z opisu patentowego PL B1, refraktometr światłowodowy stosowany do pomiarów zmian współczynnika załamania światła i gazów w fizyce, medycynie i chemii. W rozwiązaniu tym do pomiaru współczynnika załamania światła wykorzystuje się zmiany fazy światła prowadzonego w jednomodowym światłowodzie. Światło prowadzone jest ze źródła do jednomodowego sprzęgacza, w którym rozdzielane jest na dwie wiązki biegnące w przeciwnych kierunkach w pętli światłowodowej przy czym głowicę czujnikową stanowi odcinek światłowodu jednomodowego z przewężeniem w kształcie dwóch stożków odwróconych względem siebie podstawami. Za pomocą nastawników polaryzacji ustawiane są różne stany polaryzacji wiązek światła na wejściu do głowicy czujnikowej. Zmiany faz wiązek są różne i zależne od współczynnika ośrodka otaczającego głowicę czujnikową. Znany jest także z opisu patentowego US 4,682,889 refraktometr do pomiaru współczynnika załamania cieczy dla danej temperatury, w którym kieruje się wiązkę światła na pryzmat. W związku z krzywizną powierzchni pryzmatu, kąt padania wiązki światła stopniowo wzrasta osiągając kąt krytyczny, przy którym promienie wiązki światła ulegają załamaniu. Kąt ten jest funkcją stosunku między współczynnikiem załamania cieczy i pryzmatu. Znany jest także z opisu patentowego US4,455,089 detektor współczynnika załamania i absorpcji cieczy, oparty na interferometrze Fabry-Perot. Monochromatyczna wiązka laserowa jest przepuszczana przez interferometr i kuwetę przepływową do detektora fotoelektrycznego, gdzie następuje pomiar zmian współczynnika załamania światła. Z dokumentacji zgłoszeniowej JPH A znany jest sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy polegający na tym, że na badaną próbkę, za którą umieszczone jest srebrne zwierciadło, kieruje się światłowodem wiązkę światła szerokopasmową o krótkiej drodze koherencji, a następnie rejestruje się powstałą interferencję na granicach ośrodków światłowód badany materiał i badany materiał zwierciadło i uzyskany sygnał interferencyjny poddaje się detekcji w dziedzinie widma albo fazy i wyznacza się współczynnik załamania lub charakterystykę dyspersyjną w oparciu o widmo sygnału pomiarowego, które zależy od interferujących wiązek promieniowania. W wielu znanych rozwiązaniach wykorzystuje się optykę światłowodową, co umożliwia elastyczne sprzężenie aparatury pomiarowej. Zespół z Texas A&M University opracował układ pomiarowy, w którym wykorzystuje się kryształy fotoniczne, w tym płytki z mikrokanalikami, których działanie jest zbliżone do działania siatek Bragga. Układ zawiera także światłowód polarny, przez który promieniuje źródło szerokopasmowe. W metodzie poddaje się badaniu charakterystykę widmową sygnału na wyjściu, co jest zależne od współczynnika załamania płynu umieszczonego w kanalikach. Po dostrojeniu współczynnika załamania do długości fali następuje zanik sygnału, co widoczne jest w widmie sygnału na wyjściu, które pozwala na określenie długości fali cieczy w mikrokanalikach. Znany jest także sposób wykorzystujący zjawisko Dopplera, polegający na skierowaniu dwóch wiązek laserowych o różnych długościach fali na rozpylony roztwór glukozy. Współczynnik załamania wyznacza się z zależności pomiędzy współczynnikiem a przesunięciem fazowym rejestrowanej fali w odbiorniku układu. Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy polegający na generowaniu interferencji fal świetlnych odbitych na granicy dwóch ośrodków z udziałem badanej próbki, rejestracji powstałej interferencji a następnie jej detekcji, według wynalazku charakteryzuje się tym, że na badaną próbkę za którą umieszczone jest srebrne zwierciadło kieruje się światłowodem wiązkę światła szerokopasmową o krótkiej drodze koherencji a następnie rejestruje się powstałą interferencję na granicach ośrodków światłowód badany materiał i badany materiał zwierciadło i uzyskany sygnał interferencyjny poddaje się detekcji w dziedzinie widma albo fazy i wyznacza się współczynnik załamania i/lub charakterystykę dyspersyjną w oparciu o widmo sygnału pomiarowego, które zależy od interferujących wiązek promieniowania. Korzystnie, wykonuje się serię pomiarów przy zastosowaniu diod super luminescencyjnych o środkowych długościach fali, odpowiadającym długościom fali, dla jakich ma zostać wyznaczony współczynnik załamania.
3 PL B1 3 Sposób według wynalazku oparty na interferencji niskokoherentnej, daje wysoką czułość i rozdzielczość intereferometrii klasycznej z możliwością określenia położenia prążka zerowego rzędu odpowiadającego zerowej różnicy dróg optycznych w interferometrze, a dzięki temu także możliwość pomiaru absolutnych wartości wielkości mierzonych. Na pomiar nie mają wpływu zanieczyszczenia, czy też gazy mogące znajdować się pomiędzy detektorem a badanym ciałem. Wynalazek pozwala na pomiar współczynnika załamania cieczy w szerokim zakresie długości fal, a zastosowanie światłowodów umożliwia automatyzację pomiarów. Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy według wynalazku został bliżej objaśniony w oparciu o rysunek, na którym: fig. 1 przedstawia przykładowy schemat zestawu pomiarowego do realizacji sposobu według wynalazku, fig. 2 przedstawia interferogram układu niskokoherencyjnego w przypadku użycia spektrometru jako procesora sygnałowego dla różnych wartości różnicy dróg optycznych i, fig. 3 przedstawia interferogram układu niskokoherencyjnego w przypadku użycia interferometru skanującego jako procesora sygnałowego, fig. 4 przedstawia wyniki pomiaru współczynnika załamania w oparciu o przetwarzanie sygnałów w dziedzinie widma, a fig. 5 przedstawia zmierzone zmiany współczynnika załamania światła wodnego roztworu cukru w zależności od stężenia cukru w roztworze z przetwarzaniem sygnału w dziedzinie fazy. Promieniowanie optyczne z szerokopasmowego źródła światła 1 o krótkiej drodze koherencji (niskokoherencyjnego), w szczególności diody super luminescencyjnej, kierowane jest przez sprzęgacz optyczny 2 i odcinek światłowodu 3 telekomunikacyjnego do interferometru czujnikowego 4, w którym generowany jest sygnał interferencyjny (fig. 1). Sygnał ten kierowany jest zwrotnie poprzez sprzęgacz 2 do procesora optycznego 5, gdzie jest przetwarzany i rejestrowany. Zarejestrowany sygnał zawiera informację o różnicy dróg optycznych interferujących wiązek promieniowania, co pozwala na określenie wartości wielkości mierzonej. W przypadku przetwarzania sygnałów w dziedzinie widma zmiana różnicy dróg optycznych interferujących wiązek promieniowania obserwowana jest w widmie optycznym, rejestrowanym w analizatorze widma lub spektrometrze. W analizie tej informacja o wartości mierzonej wielkości zawarta jest w częstotliwości modulacji sygnału optycznego, przy czym zmiana różnicy dróg optycznych powoduje modulację częstotliwości widma transmitowanego sygnału, co przedstawiono na fig. 2. Sygnał pomiarowy analizowany w dziedzinie widma można przedstawić w postaci: I(v) = S 0 (v)[1 + V cos( φ(v))] gdzie: S 0(v) charakterystyka widmowa źródła, V kontrastu widma sygnału pomiarowego, (v) różnica faz interferujących wiązek promieniowania: Δϕ(v) = 2πvδ ; c różnica dróg optycznych interferujących wiązek; v częstotliwość optyczna; c prędkość światła w próżni. Przy zerowej różnicy dróg optycznych interferujących wiązek ( = 0) nie występuje modulacja widmowa, interferometr jest optycznie przezroczysty. Modulacja pojawia się, gdy różnica dróg optycznych interferujących wiązek przyjmuje wartość 1 ( 1 > 0) i wzrasta wraz ze wzrostem wartości. Odległość między sąsiednimi wartościami szczytowymi jest odwrotnie proporcjonalna do, więc ze wzrostem maksima zagęszczają się, co szczególnie jest widoczne w przypadku analizy transmisji interferometru. W analizie tej poprzez pomiar zmian liczby maksimów w widmie sygnału pomiarowego i/lub odległości między sąsiednimi maksimami można uzyskać informację na temat wartości wielkości mierzonej, np. współczynnika załamania badanego materiału. W przypadku przetwarzania sygnałów w dziedzinie fazy, rolę procesora optycznego pełni drugi interferometr. Kompensuje on różnicę dróg optycznych interferometru czujnikowego. W przypadku, gdy
4 4 PL B1 sumaryczna różnica dróg optycznych obu interferometrów jest mniejsza od drogi koherencji źródła możliwe jest odzyskanie informacji o mierzonej wielkości, w szczególności współczynniku załamania materiału. Sygnał z niskokoherencyjnego układu pomiarowego z analizą sygnału w dziedzinie fazy można przedstawić w uproszczonej postaci: I( 1, 2) = I 0 {1 + V ( 1 2) cos ( ( 1 2))} gdzie: 1, 2 różnica dróg optycznych pierwszego (czujnikowego) i drugiego (odbiorczego) interferometru; I 0 natężenie sygnału optycznego źródła; V kontrast; liczba falowa. Zmiana różnicy drogi optycznej w interferometrze pomiarowym określana jest poprzez analizę sygnału optycznego na wyjściu interferometru skanującego (fig. 3). W przypadku, gdy różnica różnic dróg optycznych obu interferometrów ( 1 2) przekroczy długość koherencji źródła prążki interferencyjne zanikają. W przetwarzaniu sygnału w dziedzinie fazy informację o wielkości mierzonej uzyskuje się poprzez określenie położenia centralnego prążka interferencyjnego w tzw. interferogramie zerowego rzędu, gdyż prążek ten odpowiada zerowej wartości różnicy dróg optycznych obu interferometrów. Położenie tego prążka określa wartości wielkości mierzonej. Podczas pomiaru współczynnika załamania szerokość wnęki głowicy pomiarowej (kapilary światłowodowej) pozostaje stała. Zanurzenie głowicy w badanym ośrodku powoduje, że badany roztwór przez otwór w kapilarze dostaje się do wnęki rezonansowej interferometru i zmienia jego współczynnik załamania. Wpływa w ten sposób na zmianę różnicy dróg optycznych w interferometrze czujnikowym. Zmiana różnicy dróg optycznych i wynikająca z niej zmiana sygnału interferencyjnego wynika wyłącznie ze zmiany współczynnika załamania ośrodka, co pozwala na określenie jego wartości. W celu dokonania pomiaru charakterystyki dyspersyjnej, czyli zależności współczynnika załamania od długości fali, wykonuje się serię pomiarów przy zastosowaniu diod super luminescencyjnych o środkowych długościach fali, odpowiadającym długościom fali, dla jakich ma zostać wyznaczony współczynnik załamania. Przy braku diody o określonej długości fali istnieje możliwość wykonania pomiaru dla przynajmniej trzech innych długości fali i aproksymacja zależności dyspersyjnej n( ) za pomocą wielomianu. Parametry źródeł niskokoherencyjnych wykorzystywanych w układach pomiarowych mają decydujący wpływ na parametry metrologiczne takiego układu w szczególności szerokość charakterystyki widmowej źródła ma bezpośredni wpływ na rozdzielczość pomiaru, jak również na poziom szumów w układzie poprzez wpływ na optyczny szum natężeniowy. Z tego powodu ich dobór jest problemem krytycznym przy realizacji niskokoherencyjnego układu pomiarowego. W zrealizowanych układach pomiarowych dla zastosowania sposobu według wynalazku wykorzystywano źródła typu SLD firmy Superlum Diodes: SLD-381-MP-DIL-SM-PD: 0 = 810 nm, = 19,42 nm; SLD-481-MP3-DIL-SM-PD: 0 = 970 nm,, = 36,44 nm; Broadlighter SLD S-1300-G-I-20: 0 = 1290 nm, = 50 nm; Broadlighter SLD S-1550-G-I-10: 0 = 1550 nm, = 45 nm. Pomiary współczynnika załamania wykonano z wykorzystaniem do wzorcowych roztworów badanych między innymi woda-cukier i woda-glukoza, których parametry referencyjne określono na podstawie pomiarów refraktometrem Abbego i literatury przedmiotu. Pomiary realizowano za pomocą diody 0 = 1550 nm dla wodnych roztworów glukozy. Wyniki przedstawione na fig. 4, wskazują na poprawne działanie systemu i prawie liniową charakterystykę zmian. Pomiary z przetwarzaniem sygnału w dziedzinie fazy przeprowadzono przy wykorzystaniu specjalnie zaprojektowanego źródła syntezowanego, co pozwoliło na obniżenie minimalnego wymaganego do poprawnej identyfikacji centralnego prążka stosunku sygnału do szumu układu (fig. 5). Analizując ten wykres, można zauważyć praktycznie liniową charakterystykę zmian współczynnika załamania w zależności od stężenia cukru w roztworze wodnym, zgodną z danymi literaturowymi. Ponadto wykonano pomiary weryfikujące przydatność sposobu według wynalazku dla grupy substancji chemicznych o znanych współczynnikach załamania: alkohol metylowy, propanon (aceton),
5 PL B1 5 kwas etanowy (octowy), alkohol etylowy, alkohol butylowy, glikol etylenowy, cykloheksan, glicerol, salicylan metylu. Stwierdzono, że sposób pomiaru według wynalazku pozwala na pomiar współczynnika załamania cieczy w szerokim zakresie długości fali. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób pomiaru współczynnika załamania oraz charakterystyki dyspersyjnej, zwłaszcza cieczy polegający na generowaniu interferencji fal świetlnych odbitych na granicy dwóch ośrodków z udziałem badanej próbki, rejestracji powstałej interferencji a następnie jej detekcji, znamienny tym, że na badaną próbkę za którą umieszczone jest srebrne zwierciadło kieruje się światłowodem wiązkę światła szerokopasmową o krótkiej drodze koherencji a następnie rejestruje się powstałą interferencję na granicach ośrodków światłowód badany materiał i badany materiał zwierciadło i uzyskany sygnał interferencyjny poddaje się detekcji w dziedzinie widma albo fazy i wyznacza się współczynnik załamania i/lub charakterystykę dyspersyjną w oparciu o widmo sygnału pomiarowego, które zależy od interferujących wiązek promieniowania. 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że wykonuje się serię pomiarów przy zastosowaniu diod super luminescencyjnych o środkowych długościach fali, odpowiadającym długościom fali, dla jakich ma zostać wyznaczony współczynnik załamania.
6 6 PL B1 Rysunki
7 PL B1 7
8 8 PL B1 Departament Wydawnictw UPRP Cena 2,46 zł (w tym 23% VAT)
PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/18. SŁAWOMIR CIĘSZCZYK, Chodel, PL PIOTR KISAŁA, Lublin, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230198 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420259 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13
PL 222455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222455 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399143 (51) Int.Cl. H02M 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL
PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211200 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380223 (22) Data zgłoszenia: 17.07.2006 (51) Int.Cl. G01N 21/23 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.
PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16
PL 223987 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223987 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 409120 (22) Data zgłoszenia: 06.08.2014 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ do lokalizacji elektroakustycznych przetworników pomiarowych w przestrzeni pomieszczenia, zwłaszcza mikrofonów
PL 224727 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224727 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391882 (51) Int.Cl. G01S 5/18 (2006.01) G01S 3/80 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoUkład stabilizacji natężenia prądu termoemisji elektronowej i napięcia przyspieszającego elektrony zwłaszcza dla wysokich energii elektronów
PL 219991 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219991 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 398424 (51) Int.Cl. G05F 1/56 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209495 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 375424 (22) Data zgłoszenia: 30.05.2005 (51) Int.Cl. G01N 21/05 (2006.01)
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoFACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna
Interferometry światłowodowe Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Wprowadzenie Układy te stanowią nową klasę czujników, gdzie podstawowy mechanizm
Bardziej szczegółowoĆw.2. Prawo stygnięcia Newtona
Ćw.2. Prawo stygnięcia Newtona Wstęp Ćwiczenie przedstawia metodę monitorowania temperatury w czasie rzeczywistym przy użyciu czujników światłowodowych. Specjalna technologia kryształów półprzewodnikowych
Bardziej szczegółowoCzujniki światłowodowe
Czujniki światłowodowe Pomiar wielkości fizycznych zaburzających propagację promieniowania Idea pomiaru Dioda System optyczny Odbiornik Wejście pośrednie przez modulator Wielkość mierzona wejście czujnik
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFERENCJI MIKROFAL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSONA
ZDNIE 11 BDNIE INTERFERENCJI MIKROFL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSON 1. UKŁD DOŚWIDCZLNY nadajnik mikrofal odbiornik mikrofal 2 reflektory płytka półprzepuszczalna prowadnice do ustawienia reflektorów
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WET, Politechnika Gdaoska Gdańsk 006 1. Wstęp Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoDyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary
Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie chronione jest prawem autorskim. Wykorzystanie niekomercyjne dozwolone pod warunkiem
Bardziej szczegółowoPL B1. Układ do optycznego pomiaru parametrów plazmy generowanej wewnątrz kapilary światłowodowej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL
PL 225214 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225214 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 414026 (22) Data zgłoszenia: 16.09.2015 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT
Laboratorium techniki laserowej Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 006 1.Wstęp Rozwój techniki optoelektronicznej spowodował poszukiwania nowych materiałów
Bardziej szczegółowoPL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26
Bardziej szczegółowoPL B1. INSTYTUT MECHANIKI GÓROTWORU POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Kraków, PL BUP 21/08. PAWEŁ LIGĘZA, Kraków, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209493 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382135 (51) Int.Cl. G01F 1/698 (2006.01) G01P 5/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoAutokoherentny pomiar widma laserów półprzewodnikowych. autorzy: Łukasz Długosz Jacek Konieczny
Autokoherentny pomiar widma laserów półprzewodnikowych autorzy: Łukasz Długosz Jacek Konieczny Systemy koherentne wstęp Systemy transmisji światłowodowej wykorzystujące podczas procesu transmisji światło
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
PL 217542 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217542 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 395085 (22) Data zgłoszenia: 01.06.2011 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 10/14. KRZYSZTOF GOŁOFIT, Lublin, PL PIOTR ZBIGNIEW WIECZOREK, Warszawa, PL
PL 225188 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225188 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 401523 (51) Int.Cl. G06F 7/58 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących
PL 214125 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214125 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389756 (51) Int.Cl. G01N 33/30 (2006.01) G01N 33/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12
PL 218561 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218561 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393413 (51) Int.Cl. G01N 27/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13
PL 222357 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400712 (22) Data zgłoszenia: 10.09.2012 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna)
Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna) 1 Schemat żyroskopu Wiązki biegnące w przeciwną stronę Nawinięty światłowód optyczny Źródło światła Fotodioda Polaryzator
Bardziej szczegółowoPL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203490 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379229 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2006
Bardziej szczegółowoWyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła
Ćwiczenie O3 Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła O3.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 05/13. PIOTR WOLSZCZAK, Lublin, PL WUP 05/16. rzecz. pat.
PL 221679 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221679 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 396076 (51) Int.Cl. G08B 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób regulacji prądu silnika asynchronicznego w układzie bez czujnika prędkości obrotowej. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
PL 224167 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224167 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391278 (51) Int.Cl. H02P 27/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoUniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody
Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Światłowody Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie L6 w zakresie Optyki Streszczenie Celem wykonanego na Pracowni Fizycznej dla Zaawansowanych
Bardziej szczegółowoPL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202961 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354738 (51) Int.Cl. G01F 23/14 (2006.01) F22B 37/78 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL
PL 218000 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218000 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391573 (51) Int.Cl. G01N 25/56 (2006.01) G01N 25/68 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej
Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Wprowadzenie Światło widzialne jest to promieniowanie elektromagnetyczne (zaburzenie poła elektromagnetycznego rozchodzące
Bardziej szczegółowoINSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO,
PL 218158 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218158 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389646 (51) Int.Cl. B60Q 1/00 (2006.01) B60Q 1/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B BUP 14/16
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229798 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 410735 (51) Int.Cl. G01R 19/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 22.12.2014
Bardziej szczegółowoPL 203461 B1. Politechnika Warszawska,Warszawa,PL 15.12.2003 BUP 25/03. Mateusz Turkowski,Warszawa,PL Tadeusz Strzałkowski,Warszawa,PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203461 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354438 (51) Int.Cl. G01F 1/32 (2006.01) G01P 5/01 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/17
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227914 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 414972 (51) Int.Cl. G01R 15/04 (2006.01) G01R 1/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE
LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale
Bardziej szczegółowoPolitechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki
Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 02/12
PL 219314 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219314 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391709 (51) Int.Cl. H04B 1/00 (2006.01) H04B 1/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoOptyka. Optyka geometryczna Optyka falowa (fizyczna) Interferencja i dyfrakcja Koherencja światła Optyka nieliniowa
Optyka Optyka geometryczna Optyka falowa (fizyczna) Interferencja i dyfrakcja Koherencja światła Optyka nieliniowa 1 Optyka falowa Opis i zastosowania fal elektromagnetycznych w zakresie widzialnym i bliskim
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego
PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowo(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE03/00923 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204399 (21) Numer zgłoszenia: 370760 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia
Bardziej szczegółowoZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL
ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL X L Rys. 1 Schemat układu doświadczalnego. Fala elektromagnetyczna (światło, mikrofale) po przejściu przez dwie blisko położone (odległe o d) szczeliny
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE
ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE Cel ćwiczenia Poznanie podstawowej metody określania biochemicznych parametrów płynów ustrojowych oraz wymagań technicznych stawianych urządzeniu pomiarowemu.
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu
PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Zagadnienia optyki"
Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 24/09
PL 215847 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215847 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 385248 (22) Data zgłoszenia: 21.05.2008 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPonadto, jeśli fala charakteryzuje się sferycznym czołem falowym, powyższy wzór można zapisać w następujący sposób:
Zastosowanie laserów w Obrazowaniu Medycznym Spis treści 1 Powtórka z fizyki Zjawisko Interferencji 1.1 Koherencja czasowa i przestrzenna 1.2 Droga i czas koherencji 2 Lasery 2.1 Emisja Spontaniczna 2.2
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 357399 (51) Int.Cl. G06K 9/00 (2006.01) A61B 5/117 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoSposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu
PL 217478 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217478 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397035 (22) Data zgłoszenia: 18.11.2011 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA
Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości
Bardziej szczegółowoWykład 17: Optyka falowa cz.1.
Wykład 17: Optyka falowa cz.1. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.31 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Zasada Huyghensa Christian Huygens 1678 r. pierwsza
Bardziej szczegółowo1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego
1 I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej nietermicznego źródła promieniowania (dioda LD
Bardziej szczegółowoPrawa optyki geometrycznej
Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)
Bardziej szczegółowoPL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowo(12) OPIS PATENTOWY (19) PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165426 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 291751 (22) Data zgłoszenia: 18.09.1991 (51) IntCl5: G01H5/00 G01N
Bardziej szczegółowoŹródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM
Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki
Bardziej szczegółowoWyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego
Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów
Bardziej szczegółowoPL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 16/11
PL 219996 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219996 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 390194 (51) Int.Cl. G01P 7/00 (2006.01) G01L 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoLaboratorium TECHNIKI LASEROWEJ. Ćwiczenie 1. Modulator akustooptyczny
Laboratorium TECHNIKI LASEROWEJ Ćwiczenie 1. Modulator akustooptyczny Katedra Metrologii i Optoelektroniki WETI Politechnika Gdańska Gdańsk 2018 1. Wstęp Ogromne zapotrzebowanie na informację oraz dynamiczny
Bardziej szczegółowoPL B1. ADAPTRONICA SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Łomianki, PL BUP 01/12
PL 218470 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218470 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391629 (51) Int.Cl. G01M 3/28 (2006.01) F17D 5/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoPL B1. C & T ELMECH SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Pruszcz Gdański, PL BUP 07/10
PL 215666 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215666 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386085 (51) Int.Cl. H02M 7/48 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL
PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest pomiar kąta skręcenia płaszczyzny polaryzacji
Bardziej szczegółowoPomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej.
POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA FIZYKOCHEMII I TECHNOLOGII POLIMERÓW LABORATORIUM Z FIZYKI Pomiar długości fali świetlnej i stałej siatki dyfrakcyjnej. Wprowadzenie Przy opisie zjawisk takich
Bardziej szczegółowoPL B1. Uszczelnienie nadbandażowe stopnia przepływowej maszyny wirnikowej, zwłaszcza z bandażem płaskim. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212669 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381571 (51) Int.Cl. B23Q 17/12 (2006.01) F04D 29/66 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoTECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH
TECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH Arkadiusz Olech, Wojciech Pych wykład dla doktorantów Centrum Astronomicznego PAN luty maj 2006 r. Wstęp do spektroskopii Wykład 7 2006.04.26 Spektroskopia
Bardziej szczegółowo(62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło wydzielenie:
PL 223874 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223874 (21) Numer zgłoszenia: 413547 (22) Data zgłoszenia: 10.05.2013 (62) Numer zgłoszenia,
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów
Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie Światłowody
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15
PL 223865 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223865 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406254 (22) Data zgłoszenia: 26.11.2013 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoVI. Elementy techniki, lasery
Światłowody VI. Elementy techniki, lasery BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet a) Sprzęgacze czołowe 1. Sprzęgacze światłowodowe (czołowe, boczne, stałe, rozłączalne) Złącza,
Bardziej szczegółowoMetody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa
Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia
Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/14
PL 223622 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223622 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 403511 (51) Int.Cl. G01T 1/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoMGR 10. Ćw. 1. Badanie polaryzacji światła 2. Wyznaczanie długości fal świetlnych 3. Pokaz zmiany długości fali świetlnej przy użyciu lasera.
MGR 10 10. Optyka fizyczna. Dyfrakcja i interferencja światła. Siatka dyfrakcyjna. Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą siatki dyfrakcyjnej. Elektromagnetyczna teoria światła. Polaryzacja światła.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 15/09
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210877 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384963 (22) Data zgłoszenia: 18.04.2008 (51) Int.Cl. G01N 21/59 (2006.01)
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM Z FIZYKI Ć W I C Z E N I E N R 2 ULTRADZWIĘKOWE FALE STOJACE - WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FAL
Projekt Plan rozwoju Politechniki Częstochowskiej współfinansowany ze środków UNII EUROPEJSKIEJ w ramach EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU SPOŁECZNEGO Numer Projektu: POKL.4.1.1--59/8 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII
Bardziej szczegółowoA61B 5/0492 ( ) A61B
PL 213307 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213307 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383187 (22) Data zgłoszenia: 23.08.2007 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoRZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04
RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174585 PO LSK A (13)B1 U rząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304405 (22) Data zgłoszenia: 22.07.1994 (51) Int.Cl.6: G01N
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 19/15
PL 225827 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 225827 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 407381 (51) Int.Cl. G01L 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoPOMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ
ĆWICZENIE O9 POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ ŚWIATŁOWODU KATEDRA FIZYKI 1 Wstęp Prawa optyki geometrycznej W optyce geometrycznej, rozpatrując rozchodzenie się fal świetlnych przyjmuje się pewne założenia
Bardziej szczegółowoRóżnorodne zjawiska w rezonatorze Fala stojąca modu TEM m,n
Różnorodne zjawiska w rezonatorze Fala stojąca modu TEM m,n -z z w płaszczyzna przewężenia Propaguję się jednocześnie dwie fale w przeciwbieżnych kierunkach Dla kierunku 2 kr 2R ( r,z) exp i kz s Φ exp(
Bardziej szczegółowoWyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 19 V 2009 Nr. ćwiczenia: 413 Temat ćwiczenia: Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru
Bardziej szczegółowoProblemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.
. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. Rozwiązywanie zadań wykorzystujących poznane prawa I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 27 luty 2012 Dyfrakcja światła laserowego
Bardziej szczegółowoO3. BADANIE WIDM ATOMOWYCH
O3. BADANIE WIDM ATOMOWYCH tekst opracowała: Bożena Janowska-Dmoch Większość źródeł światła emituje promieniowanie elektromagnetyczne złożone z wymieszanych ze sobą fal o wielu częstotliwościach (długościach).
Bardziej szczegółowoPL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści
PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 15/15
PL 226438 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226438 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406862 (22) Data zgłoszenia: 16.01.2014 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 10/12
PL 220157 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220157 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392822 (51) Int.Cl. G01P 5/02 (2006.01) G01F 1/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowo