ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1314 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5, Data wydania: 2 grudnia 2015 r. Nazwa i adres AB 1314 MEASURE Laboratorium Badawcze Ewa Fabiszewska ul. Grójecka 186 lok. 320 02-390 Warszawa Dział Pomiarów ul. Kazimierzowska 43 lok. 46 02-572 Warszawa Kod identyfikacji dziedziny/obiektu badań Dziedzina/obiekt badań: N/14 Badania właściwości fizycznych wyposażenia medycznego urządzenia radiologiczne KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 1314 z dnia 02.12.2015 r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 1/15
radiografii ogólnej analogowej Dział Pomiarów ul. Kazimierzowska 43 lok. 46, 02-572 Warszawa Zakres: (40 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,001 10) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 2/15
radiografii ogólnej analogowej Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym kolimacja ręczna Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu kolimacja automatyczna Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (1 1000) lux Jednorodność obrazu kratki przeciwrozproszeniowej Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,1 3,0) m Różnica gęstości optycznych przy zmianie natężenia prądu Różnica gęstości optycznych przy zmianie wysokiego Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu Różnica gęstości optycznych - czułości komór AEC Gęstość optyczna - wzmocnienie ekranu Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 3/15
radiografii ogólnej analogowej radiografii ogólnej cyfrowej / cyfrowej pośredniej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Wskaźnik światłoczułości w procesie Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: (0,05 10000) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (1 1000) lux Zakres: (40 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,001 10) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 4/15
radiografii ogólnej cyfrowej / cyfrowej pośredniej Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego Wielkość ogniska lampy rtg Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Odległość osi wiązki promieniowania rtg od środka rejestratora obrazu Odległość środka pola rtg od środka pola świetlnego Odległość środka pola świetlnego od środka rejestratora w szufladzie Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a polem świetlnym kolimacja ręczna Odległość pomiędzy krawędziami pola promieniowania a rejestratorem obrazu kolimacja automatyczna Oświetlenie pola symulującego pole promieniowania rentgenowskiego Zakres: (1 1000) lux Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,1 3,0) m Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 5/15
zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii analogowej Zakres: (40 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,0001 30) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,4 1,5) m Gęstość optyczna wzmocnienie ekranu Odchylenie standardowe gęstości optycznej dla kasety kontrolnej Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich kaset Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 6/15
zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii analogowej zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii cyfrowej / cyfrowej pośredniej Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Wskaźnik światłoczułości w procesie Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: (0,05 10000) cd/m 2 Niejednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego negatoskopu Zakres: (1 1000) lux Zakres: (40 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,0001 30) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 7/15
zdjęć panoramicznych oraz cefalometrii cyfrowej / cyfrowej pośredniej zdjęć wewnątrzustnych funkcji obciążenia prądowoczasowego Odległość pomiędzy ogniskiem optycznym lampy a rejestratorem obrazu Zakres: (0,4 1,5) m Zakres: (55 80) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Czas ekspozycji Zakres: (0,01 10) s Dokładność ustawienia czasu ekspozycji Powtarzalność czasu ekspozycji (zegar) Dawka pochłonięta w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Wielkość ogniska lampy rtg Warstwa półchłonna HVL Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego w Odchylenie pomiędzy osią wiązki a płaszczyzną rejestratora obrazu od kąta prostego Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 8/15
zdjęć wewnątrzustnych fluoroskopii Odległość: ognisko lampy powierzchnia czołowa tubusa Zakres: (0,1 0,5) m Zakres: (40 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Moc dawki Zakres: (0,0000004 0,1) Gy/s Warstwa półchłonna - HVL Wielkość ogniska lampy rtg Wydajność lampy Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego Czas ekspozycji Zakres: (0,0001-1200) s Stosunek pola promieniowania X do pola widzenia wzmacniacza Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 9/15
mammografii analogowej Wielkość ogniska lampy rtg Odległość ognisko rejestrator obrazu Zakres: (10 100) cm Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Zakres: (0 20) mm Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Zakres: (0 20) mm Dawka w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Wydajność lampy Moc dawki Zakres: (18 46) kv Czas ekspozycji Zakres: (0,0001 5) s Warstwa półchłonna - HVL Gęstość optyczna w punkcie referencyjnym Różnica gęstości optycznych dla różnych poziomów zaczernienia Maksymalna różnica gęstości optycznych dla wszystkich dostępnych poziomów zaczernienia Powtarzalność dawki PB-2 wydanie 3 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 10/15
mammografii analogowej Różnica gęstości optycznych przy zmianie grubości fantomu i wartości wysokiego Dawka wejściowa Zakres: 0,1 µgy 100 mgy Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (0,2 30) kg Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (0,2 30) kg Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 10) cm Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 10) cm Współczynnik pochłaniania kratki przeciwrozproszeniowej Różnica gęstości optycznych - wzmocnienie ekranu Różnica gęstości optycznych szczelność ciemni Różnica gęstości optycznych - oświetlenie robocze ciemni Gęstość minimalna w procesie Wskaźnik światłoczułości w procesie Wskaźnik kontrastowości w procesie Luminancja negatoskopu Zakres: (0,05 10000) cd/m 2 PB-2 wydanie 3 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 11/15
mammografii analogowej mammografii cyfrowej / cyfrowej pośredniej Jednorodność luminancji powierzchni negatoskopu Natężenie oświetlenia zewnętrznego Zakres: (1 1000) lux Wielkość ogniska lampy rtg Odległość ognisko rejestrator obrazu Zakres: (10 100) cm Odległość pomiędzy krawędziami promieniowania X a krawędziami rejestratora obrazu Zakres: (0 20) mm Odległość pomiędzy krawędzią kratki przeciwrozproszeniowej a rejestratorem obrazu Zakres: (0 20) mm Dawka w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Wydajność lampy Moc dawki Zakres: (18 46) kv Czas ekspozycji Zakres: (0,0001 5) s Warstwa półchłonna - HVL Powtarzalność dawki Siła kompresji piersi Zakres pomiaru masy: (0,2 30) kg Stałość siły kompresji Zakres pomiaru masy: (0,2 30) kg PB-2 wydanie 3 PB-2 wydanie 3 Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 12/15
mammografii cyfrowej / cyfrowej pośredniej tomografii komputerowej Zmiana położenia płytki uciskowej dla symetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 10) cm Zmiana położenia płytki uciskowej dla niesymetrycznego podparcia płytki uciskowej Zakres: (0,1 10) cm Zakres: (75 150) kv Zmienność wysokiego przy zmianie natężenia prądu Dawka w powietrzu Zakres: (0,0000001 0,1) Gy Warstwa półchłonna - HVL Zakres: (2,5 14) mm Al Powtarzalność wydajności lampy funkcji natężenia prądu funkcji obciążenia prądowoczasowego Indeks dawki Grubość warstwy Zakres: (0,05 100) mm PB-2 wydanie 3 PB-3 wydanie 2 z dnia 14.10.2011 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 13/15
Monitory stosowane do prezentacji obrazów medycznych monitory opisowe, monitory przeglądowe, monitory kineskopowe Pomiar wartości luminancji Zakres: (0,05 10000) cd/m 2 Jednorodność luminancji Zgodność maksymalnej luminancji między monitorami Kontrast monitora Odchylenie względnego kontrastu obrazów testowych od względnego kontrastu wynikającego z funkcji GSDF PB-9 wydanie 1 z dnia 09.07.2015r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 14/15
Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 1314 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW TADEUSZ MATRAS dnia: 02.12.2015 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wydanie nr 5, 2 grudnia 2015 r. str. 15/15