Modelowanie diod półprzewodnikowych



Podobne dokumenty
Laboratorium z przedmiotu Modelowanie dla I roku MSU o specjalnoci sieci teleinformatyczne

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

OCENA DOKŁADNOŚCI FIRMOWYCH MODELI DIOD SCHOTTKY EGO Z WĘGLIKA KRZEMU

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

Ćwiczenie: "Właściwości wybranych elementów układów elektronicznych"

Ćwiczenie Stany nieustalone w obwodach liniowych pierwszego rzędu symulacja komputerowa

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

Politechnika Białostocka

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

Elementy półprzewodnikowe. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Badanie tranzystora bipolarnego

Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Przegląd półprzewodnikowych przyrządów mocy

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

Niezależne i sterowane źródła napięciowe i prądowe

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 1. Pomiary parametrów diod półprzewodnikowych

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne

Ćwiczenie 1 Podstawy opisu i analizy obwodów w programie SPICE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Prostowniki. Prostownik jednopołówkowy

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody)

Dioda półprzewodnikowa

Laboratorium Elementów Elektronicznych. Sprawozdanie nr Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych.

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Rys.1. Układy przełączników tranzystorowych

INSTRUKCJA LABORATORIUM TECHNIK INFORMACYJNYCH

Laboratorium z przedmiotu Modelowanie dla I roku MSU kierunek Elektronika i telekomunikacja

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

Temat i cel wykładu. Tranzystory

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Politechnika Białostocka

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW

Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne

Politechnika Białostocka

Badanie diod półprzewodnikowych

Diody półprzewodnikowe

Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów.

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny

Diody półprzewodnikowe

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

Budowa. Metoda wytwarzania

Modele wbudowane przyrządów półprzewodnikowych. Modele wbudowane przyrządów półprzewodnikowych. Modele wbudowane przyrządów półprzewodnikowych

Wykaz symboli, oznaczeń i skrótów

Badanie diody półprzewodnikowej

1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*.

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

Ćw. III. Dioda Zenera

R 1 = 20 V J = 4,0 A R 1 = 5,0 Ω R 2 = 3,0 Ω X L = 6,0 Ω X C = 2,5 Ω. Rys. 1.

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Tranzystory bipolarne

Prawa Kirchhoffa. I k =0. u k =0. Suma algebraiczna natężeń prądów dopływających(+) do danego węzła i odpływających(-) z danego węzła jest równa 0.

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

LABORATORIUM KOMPUTEROWEGO WSPOMAGANIA PROJEKTOWANIA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW

Półprzewodnikowe przyrządy mocy

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie 22. Temat: Przerzutnik monostabilny. Cel ćwiczenia

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE. Obwody nieliniowe.

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

PL B1. AZO DIGITAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Gdańsk, PL BUP 20/10. PIOTR ADAMOWICZ, Sopot, PL

LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO

PRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE

BADANIA SYMULACYJNE STABILIZATORA PRĄDU

A-6. Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody)

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

Analiza komputerowa pracy wzmacniacza tranzystorowego jednostopniowego za pomocą programu PSpice wersja EDU.

7. TYRYSTORY 7.1. WSTĘP

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO

Komputerowe modelowanie elementów elektronicznych

Ćwiczenie nr 6 (część teoretyczna) Przełączanie tranzystora

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe

IMPULSOWY PRZEKSZTAŁTNIK ENERGII Z TRANZYSTOREM SZEREGOWYM

ĆWICZENIE 8 ELEMENTY I UKŁADY PRZEŁĄCZAJĄCE WPROWADZENIE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Diody półprzewodnikowe

DANE: wartość skuteczna międzyprzewodowego napięcia zasilającego E S = 230 V; rezystancja odbiornika R d = 2,7 Ω; indukcyjność odbiornika.

ĆWICZENIE 1 JEDNOFAZOWE OBWODY RLC. Informatyka w elektrotechnice ZADANIA DO WYKONANIA

Ćw. 0 Wprowadzenie do programu MultiSIM

Sprzęt i architektura komputerów

CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

Elementy przełącznikowe

Ćwiczenie 1. Pomiary parametrów diod półprzewodnikowych

ĆWICZENIE ZASILACZE. L a b o r a t o r i u m Elektroniki 2. Zakład EMiP I M i I B

Politechnika Białostocka

Ć w i c z e n i e 1 6 BADANIE PROSTOWNIKÓW NIESTEROWANYCH

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Transkrypt:

Modelowanie diod półprzewodnikowych

Programie PSPICE wbudowane są modele wielu elementów półprzewodnikowych takich jak diody, tranzystory bipolarne, tranzystory dipolowe złączowe, tranzystory MOSFET, tranzystory IGBT. Wszystkie te elementy opisane są modelami nieliniowymi wielkosygnałowymi, których postać jest bardzo złożona. Na tych zajęciach przedstawiony zostanie opis najprostszego z rozważanych modeli model diody oraz sposób wyznaczania wybranych charakterystyk tego elementu. Dioda opisana jest w programie PSPICE za pomocą modelu, którego reprezentację obwodową pokazano na rys. 1. Rys. 1. Reprezentacja obwodowa modelu diody w programie PSPICE. W modelu tym, źródło prądowe Id modeluje charakterystyki statyczne rozważanego elementu, RA jego rezystancję szeregową, zaś Cd pojemność złącza. Prąd źródła Id stanowi sumę składowej dyfuzyjnej i generacyjno-rekombinacyjnej oraz prądu przebicia złącza, zgodnie ze wzorem: gdzie Inrm oznacza składową dyfuzyjną daną wzorem (2), Kinj współczynnik wstrzykiwania dany wzorem (3), Irec składową rekombinacyjną daną wzorem (4), Kgen współczynnik generacji opisany wzorem (5), zaś Irevh oraz Irevl oznaczają wysokoprądową i niskoprądową składową prądu przebicia wyrażonych wzorami (6) i (7). (1) (2) (3) (4)

(5) (6) (7) W prezentowanych wzorach V oznacza napięcie na źródle prądowym Id, Vt potencjał termiczny, a pozostałe symbole oznaczają parametry modelu diody, których sens wyjaśniono w tabeli 1. Inercja elektryczna diody jest modelowana za pomocą kondensatora Cd, którego pojemność dana wzorem stanowi sumę składowej dyfuzyjnej i składowej złączowej Cj wyrażonej wzorem (8) (9) Jak wiadomo, właściwości elementów półprzewodnikowych silnie zależą od temperatury. Modele tych elementów wbudowane w programie PSPICE uwzględniają tę zależność poprzez uzależnienie takich parametrów modelu jak prąd nasycenia IS, prąd nasycenia składowej rekombinacyjnej ISR, prąd kolana IKF, napięcie przebicia BV, rezystancja szeregowa RS, potencjał złączowy VJ, pojemność złączowa przy zerowej polaryzacji CJO oraz szerokość przerwy energetycznej Eg od temperatury. Zależności te dane są wzorami (10) (11) (12) (13) (14)

(15) (16) (17) Tabela 1. Lista parametrów modelu diody wraz z ich wartościami domyślnymi.

W celu wyznaczenia charakterystyki statycznej diody trzeba narysować schemat układu, stanowiący równoległe połączenie badanej diody oraz niezależnego źródła napięciowego lub prądowego i przeprowadzić analizę DC Sweep względem wydajności tego źródła w zadanym zakresie zmian napięcia lub prądu. W celu oceny wpływu wybranego parametru na charakterystyki statyczne diody należy wybrać w Setupie 2 analizy: DC Sweep oraz Parametric. W oknie dialogowym DC Sweep należy ustawić analizę względem wydajności źródła zasilającego w wybranym zakresie jego zmian. Z kolei, w oknie dialogowym analizy parametrycznej (Parametric) należy wybrać w charakterze rodzaju zmiennej przemiatanej Model Parametr, jako Model Type należy wybrać D (co oznacza diodę), jako Medel Name nazwę analizowanej diody, np. D1N4002, jako Parm. Name nazwę badanego parametru, np. IS, jako Sweep Type Value List oraz wpisać listę wartości wybranego parametru modelu, dla których mają być przeprowadzone analizy. Przykładowy wygląd wypełnionego okna dialogowego Parametric pokazano na rys. 2. Okno to odpowiada analizie wpływu parametru IS na charakterystyki diody D1N4002, a obliczenia są wykonywane przy wartościach rozważanego parametru równych 1 pa oraz 1 fa. Rys. 2. Okno dialogowe analizy parametrycznej. W celu wyznaczenia zależności pojemności złączowej diody od napięcia na jej zaciskach można wykorzystać układ przedstawiony na rys. 3. Układ ten składa się z badanej diody oraz źródła napięciowego generującego przebieg trapezoidalny. W parametrach źródła napięciowego przyjmuje się zerową wartość poziomu niskiego V1, a wartość poziomu wysokiego V2 równa jest wartości napięcia wstecznego na diodzie, dla której ma być wyznaczona zależność Cj(V). należy przyjąć zerową wartość czasu opóźnienia TD, a czas narastania impulsu TR powinien wynosić około 1 ms. Dla rozważanego układu należy przeprowadzić analizę stanów przejściowych przyjmując wartość Final Time równą wartości czasu TR. Wówczas, w całym

rozważanym zakresie analizy, napięcie wsteczne na diodzie jest liniowo narastającą funkcją czasu. Jak wiadomo, podstawowe równanie kondensatora ma postać (18) gdzie ic oznacza prąd kondensatora C, zaś uc napięcie na jego zaciskach. Rys. 3. Schemat układu do wyznaczania charakterystyki C j (V) diody. A zatem po wykonaniu analizy stanów przejściowych należy w programie PROBE wykreślić na osi pionowej wyrażenie o postaci, a na osi poziomej wybrać napięcie a diodzie. Do oceny właściwości impulsowych diody wykorzystuje się układ przełącznika diodowego pokazany na rys. 4. Rys. 4. Schemat układu przełącznika diodowego. W układzie tym obok diody i źródła napięciowego znajduje się rezystor. Źródło napięciowe wytwarza przebieg trapezoidalny. Dla poprawnego działania układu niezbędne jest, aby poziomy napięć w generowanym przebiegu miały przeciwne znaki, a moduły ich wartości były

znacznie większe od spadku napięcia na diodzie spolaryzowanej w kierunku przewodzenia. Współczynnik wypełnienia tego sygnału powinien wynosić 0,5, a czas trwania impulsu powinien być około dwukrotnie dłuższy od oczekiwanej wartości czasu odzyskiwania zdolności zaworowej diody. Czas narastania i opadania impulsu powinny być co najmniej stukrotnie krótsze od czasu trwania impulsu. Dla wybranej diody, czasy narastania i opadania powinny wynosić około 20 ns. Zadania do samodzielnego wykonania 1. Wyznaczyć charakterystyki statyczne diody D1N4002 w zakresie przewodzenia, blokowania i przebicia dla dwóch wartości temperatury, równych odpowiednio 27 0 C oraz 150 0 C. 2. Zbadać wpływ następujących parametrów modelu diody: IS, N, ISR, NR, IKF, RS, BV na przebieg jej charakterystyk statycznych. 3. Wyznaczyć charakterystykę Cj(u) rozważanej diody oraz zbadać wpływ parametrów CJO, M oraz VJ na jej przebieg. 4. Wyznaczyć czasowe przebiegi prądu diody D1N002 w czasie jej przełączania. Na podstawie uzyskanych wyników obliczeń wyznaczyć zależność czasu odzyskiwania zdolności zaworowej trr diody od parametru TT. Obliczenia przeprowadzić dla maksymalnej wartości prądu wstecznego IR diody w czasie wyłączania, równego -1 A.