Technika cyfrowa i mikroprocesorowa w ćwiczeniach laboratoryjnych : praca zbiorowa / pod redakcją Jerzego Jakubca ; autorzy Ryszard Bogacz, Jerzy Roj, Janusz Tokarski. Wyd. 3. Gliwice, 2016 Spis treści WSTĘP 9 1. BRAMKI CYFROWE 11 1.1. WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNE BRAMEK CYFROWYCH 11 1.2. WŁAŚCIWOŚCI DYNAMICZNE BRAMEK CYFROWYCH 33 1.3. WYZNACZANIE STATYCZNYCH CHARAKTERYSTYK BRAMEK CYFROWYCH 35 1.3.1. Plansza stanowiska laboratoryjnego 35 1.3.2. Zadania laboratoryjne 36 1.3.3. Opracowanie wyników pomiarowych 37 1.3.4. Pytania kontrolne 37 1.4. BADANIE WŁAŚCIWOŚCI DYNAMICZNYCH BRAMEK CYFROWYCH 38 1.4.1. Plansza stanowiska laboratoryjnego 38 1.4.2. Zadania laboratoryjne 39 1.4.3. Opracowanie wyników pomiarów 40 1.4.4. Pytania kontrolne 40 BIBLIOGRAFIA 41 2. PRZERZUTNIKI I REJESTRY 42 2.1. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI PRZERZUTNIKÓW 42 2.1.1. Asynchroniczne przerzutniki SR 43 2.1.2. Synchroniczny przerzutnik SR 45 2.1.3. Synchroniczny przerzutnik SR-MS 46 2.1.4. Synchroniczny przerzutnik D wyzwalany poziomem sygnału 47 2.1.5. Synchroniczny przerzutnik D wyzwalany zboczem sygnału 48 2.1.6. Synchroniczny przerzutnik JK-MS 49 2.2. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI REJESTRÓW 50 2.2.1. Rejestry szeregowe 51 2.2.2. Rejestry szeregowo-równoległe 52 2.2.3. Rejestry równoległo-szeregowe 53 2.2.4. Rejestry równoległe 55 2.3. OPIS STANOWISKA LABORATORYJNEGO 55 2.3.1. Przeznaczenie i wyposażenie stanowiska 55 2.3.2. Plansza przerzutników 56 2.3.3. Plansza rejestrów 58 2.4. ZADANIA LABORATORYJNE 61 2.4.1. Badanie przerzutników 61
2.4.2. Badanie rejestrów 65 2.4.3. Posługiwanie się stanowiskiem 65 2.5. PYTANIA KONTROLNE 66 2.6. SPOSÓB SPORZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 67 BIBLIOGRAFIA 67 3. LICZNIKI 68 3.1. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI LICZNIKÓW 68 3.1.2. Asynchroniczny scalony licznik dwójkowy 7493 70 3.1.3. Scalony licznik modulo 12 o symbolu 7492 71 31.4. Scalony synchroniczny licznik dwójkowy 74193 73 3.1.5. Projektowanie konfiguracji liczników asynchronicznych 74 3.1.6. Budowanie liczników synchronicznych przy użyciu przerzutników JK MS 75 3.2. BADANIE LICZNIKÓW ASYNCHRONICZNYCH BUDOWANYCH Z PRZERZUTNIKÓW JK MS 76 3.2.1. Plansza stanowiska 76 3.2.2. Zadania laboratoryjne 77 3.2.3. Sposób sporządzania sprawozdania 77 3.3. BADANIE LICZNIKÓW ASYNCHRONICZNYCH BUDOWANYCH Z LICZNIKÓW SCALONYCH 77 3.3.1. Plansza stanowiska 77 3.3.2. Zadania laboratoryjne 78 3.3.3. Sposób sporządzania sprawozdania 79 3.4. BADANIE LICZNIKÓW SYNCHRONICZNYCH BUDOWANYCH Z PRZERZUTNIKÓW JK MS 79 3.4.1. Plansza stanowiska 79 3.4.2. Zadania laboratoryjne 79 3.4.3. Sposób sporządzania sprawozdania 81 3.5. BADANIE LICZNIKÓW SYNCHRONICZNYCH BUDOWANYCH Z LICZNIKÓW SCALONYCH 81 3.5.1. Plansza stanowiska 81 3.5.2. Zadania laboratoryjne 82 3.5.3. Sposób sporządzania sprawozdania 82 3.6. PYTANIA KONTROLNE 82 BIBLIOGRAFIA 83 4. UKŁADY GENERACJI I PRZETWARZANIA SYGNAŁÓW CYFROWYCH 84 4.1. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI UKŁADÓW 84 4.2. OPIS STANOWISKA 89 4.2.1. Budowa stanowiska 89 4.2.2. Posługiwanie się stanowiskiem 92 4.3. ZADANIA LABORATORYJNE 93 4.4. PYTANIA KONTROLNE 93
4.5. SPOSÓB SPORZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 94 BIBLIOGRAFIA 94 5. KONFIGUROWALNE UKŁADY CYFROWE 95 5.1. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI UKŁADÓW KONFIGUROWALNYCH 95 5.1.1. Układy SPLD 96 51.2. Układy CPLD 100 5.1.3. Układy FPGA 101 5.1.4. Układ GAL22V10 103 5.2. OPIS STANOWISKA LABORATORYJNEGO 107 5.2.1. Przeznaczenie stanowiska 107 5.2.2. Wyposażenie stanowiska 107 5.2.3. Posługiwanie się stanowiskiem 109 5.2.4. Konfigurowanie układu GAL22V10 109 5.3. ZADANIA LABORATORYJNE 111 5.4. PYTANIA KONTROLNE 112 5.5. SPOSÓB SPORZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 112 BIBLIOGRAFIA 112 6. WYŚWIETLACZE CIEKŁOKRYSTALICZNE 113 6.1. BUDOWA I DZIAŁANIE WYŚWIETLACZY 113 6.2. BADANIE CIEKŁOKRYSTALICZNEGO WYŚWIETLACZA ZNAKOWEGO 119 6.2.1. Plansza do badania wyświetlacza znakowego 119 6.2.2. Budowa wyświetlacza znakowego JM082 120 6.2.3. Opis poleceń sterujących pracą wyświetlacza JM082 122 6.2.4. Zadania laboratoryjne 127 6.2.4.1. Inicjacja i wyprowadzanie znaków na wyświetlacz 127 6.2.4.2. Definiowanie własnych znaków w pamięci CG RAM 128 6.3. BADANIE CIEKŁOKRYSTALICZNEGO WYŚWIETLACZA GRAFICZNEGO 131 6.3.1 Plansza do badania wyświetlacza graficznego JM24064 131 6.3.2. Budowa wyświetlacza JM24064 133 6.3.3. Opis poleceń wyświetlacza 136 6.3.4. Pamięć generatora kształtu znaków 147 6.3.5. Wprowadzanie poleceń do wyświetlacza 148 6.3.6. Zadania laboratoryjne 148 6.3.6.1. Inicjacja wyświetlacza 148 6.3.6.2. Wyświetlenie znaku lub tekstu 150 6.3.6.3. Wyświetlenie znaku graficznego 151 6.3.6.4. Sterowanie kursorem 153 6.3.6.5. Definiowanie znaku użytkownika 153 6.3.6.6. Zadania dodatkowe dla wyświetlacza graficznego 154 6.4. PYTANIA KONTROLNE 157 6.5. SPOSÓB SPORZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 157 BIBLIOGRAFIA 158
7. MIKROPROCESOR Z80 159 7.1. PODSTAWOWE WŁAŚCIWOŚCI MIKROPROCESORA Z80 159 7.2. OPIS STANOWISKA LABORATORYJNEGO 169 7.2.1. Budowa stanowiska 169 7.2.2. Posługiwanie się stanowiskiem 170 7.3. ZADANIA LABORATORYJNE 171 7.3.1. Badanie podstawowych cykli maszynowych 171 7.3.2. Sprawdzanie komunikacji mikroprocesora z pamięcią oraz układami wejścia/wyjścia 173 7.3.3. Badanie układu przerwań mikroprocesora Z80 174 7.4. PYTANIA KONTROLNE 176 7.5. SPOSÓB SPORZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 177 BIBLIOGRAFIA 178 8. MIKROKONTROLER INTEL 8051 179 8.1. BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROKONTROLERA 179 8.2. OPIS STANOWISKA LABORATORYJNEGO 193 8.2.1. Przeznaczenie stanowiska 193 8.2.2. Budowa stanowiska 193 8.2.3. Posługiwanie się stanowiskiem 193 8.3. ZADANIA LABORATORYJNE 195 8.3.1. Badanie podstawowych cykli pracy mikrokontrolera 8051 195 8.3.2. Sprawdzanie komunikacji mikrokontrolera 8051 z zewnętrzną pamięcią danych 196 8.3.3. Badanie komunikacji mikrokontrolera z urządzeniami peryferyjnymi 199 8.4. PYTANIA KONTROLNE 199 8.5. SPOSÓB SPRZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 200 BIBLIOGRAFIA 201 9. UKŁADY MIKROPROCESOROWE 202 9.1. OPIS ELEMENTÓW UKŁADU 202 9.1.1. Pamięci EEPROM o dostępie szeregowym 202 9.1.2. Standard I 2 C 204 9.1.3. Standard MICROWIRE 207 9.1.4. Klawiatura z zespołem diod sygnalizacyjnych 210 9.1.5. Wyświetlacz elektroluminescencyjny LED 212 9.1.6. Zegar czasu astronomicznego RTC 216 9.17 Przetworniki A/C i C/A 218 9.2. OPIS STANOWISKA LABORATORYJNEGO 223 9.2.1. Budowa stanowiska 223 9.2.2. Posługiwanie się planszą szeregowych pamięci EEPROM 224 9.2.3. Posługiwanie się planszą układu mikroprocesorowego 225 9.3. ZADANIA LABORATORYJNE 226
9.3.1. Badanie pamięci EEPROM z magistralą I 2 C 226 9.3.2. Badanie pamięci EEPROM z magistralą MICROWIRE 226 9.3.3. Eksperymenty programistyczne 227 9.4. SPOSÓB SPRZĄDZANIA SPRAWOZDANIA 228 9.5. PYTANIA KONTROLNE 229 BIBLIOGRAFIA 229 oprac. BPK