Pomiar właściwości ośrodka dwójłomnego poprzez wyznaczenie elementów macierzy Müllera-Ścierskiego

Podobne dokumenty
Synteza i analiza stanu polaryzacji światła metodą ogólnego prawa Malusa

Pomiar różnicy dróg optycznych metodą Senarmonta

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego

Wyznaczanie współczynnika załamania światła

Synteza i analiza dowolnego stanu polaryzacji światła

Pomiar przesunięcia fazowego dwójłomnych płytek liniowych metodą kompensacji bezpośredniej za pomocą przesuwnika ciekłokrystalicznego LCM

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU.

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

ĆWICZENIE NR 79 POMIARY MIKROSKOPOWE. I. Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z budową mikroskopu i jego podstawowymi możliwościami pomiarowymi.

Nowoczesne sieci komputerowe

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

Metody Optyczne w Technice. Wykład 8 Polarymetria

Politechnika Warszawska

Badanie wzmacniacza operacyjnego

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)

Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI

MODULATOR CIEKŁOKRYSTALICZNY

między pierwszą a drugą falą własną wprowadzana przez obiekt, a często przedstawia się inaczej poprzez tzw. różnicę dróg R (2) (gdzie

Ćwiczenie Nr 455. Temat: Efekt Faradaya. I. Literatura. Problemy teoretyczne

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK. Instrukcja wykonawcza

ĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne

ANALIZA SPEKTRALNA I POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE. Instrukcja wykonawcza

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

I PRACOWNIA FIZYCZNA, UMK TORUŃ

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

Laboratorium Metrologii

Skręcenie płaszczyzny polaryzacji światła w cieczach (PF13)

E1. OBWODY PRĄDU STAŁEGO WYZNACZANIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁA

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT

Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Ćwiczenie Nr 6 Skręcenie płaszczyzny polaryzacji

Optyka Ośrodków Anizotropowych. Wykład wstępny

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

Regulacja dwupołożeniowa.

Polaryzatory/analizatory

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

BADANIE INTERFERENCJI MIKROFAL PRZY UŻYCIU INTERFEROMETRU MICHELSONA

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Wyznaczanie składowej poziomej natężenia pola magnetycznego Ziemi za pomocą busoli stycznych

Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ

Wyznaczanie momentu magnetycznego obwodu w polu magnetycznym

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22)

SPRAWDZANIE SŁUSZNOŚCI PRAWA OHMA DLA PRĄDU STAŁEGO

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 7. Pomiar mocy czynnej, biernej i cosφ

MGR 10. Ćw. 1. Badanie polaryzacji światła 2. Wyznaczanie długości fal świetlnych 3. Pokaz zmiany długości fali świetlnej przy użyciu lasera.

ĆWICZENIE NR 1. Część I (wydanie poprawione_2017) Charakterystyka licznika Geigera Műllera

Ćwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia:

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar indukcji pola magnetycznego w szczelinie elektromagnesu

Efekt Faradaya. Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego

Wyznaczanie stosunku e/m elektronu

Ćwiczenie 42 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWKI CIENKIEJ. Wprowadzenie teoretyczne.

Zworka amp. C 1 470uF. C2 100pF. Masa. R pom Rysunek 1. Schemat połączenia diod LED. Rysunek 2. Widok płytki drukowanej z diodami LED.

nazywamy mostkiem zrównoważonym w przeciwieństwie do mostka niezrównoważonego, dla którego Z 1 Z 4 Z 2 Z 3. Z 5

Badanie rozkładu pola elektrycznego

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

ZASILACZ DC AX-3003L-3 AX-3005L-3. Instrukcja obsługi

Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna)

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA.

Pomiar oporu elektrycznego za pomocą mostka Wheatstone a

13 K A T E D R A F I ZYKI S T O S O W AN E J

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej

Transkrypt:

Instrukcja robocza do ćwiczenia 8 Pomiar właściwości ośrodka dwójłomnego poprzez wyznaczenie elementów macierzy Müllera-Ścierskiego I. Układ pomiarowy Układ pomiarowy, znany już z ćwiczenia 4, składa się z polarymetru, zasilacza stabilizowanego ZS- 52, woltomierza cyfrowego V543, lasera He-Ne z zasilaczem. ZASILACZ LASERA WOLTOMIERZ CYFROWY V543 + - ZASILACZ STABILIZOWANY ZS-52 4 2 3 - + POLARYMETR Rys.. Schemat układu pomiarowego POLARYMETR Polarymetr, który znajduje się na wyposażeniu naszego laboratorium, to polaryskop, wyposażony w płytki ćwierćfalowe oraz fotoelement, mierzący natężenie światła na wyjściu urządzenia, co pozwala na obiektywną ocenę zmiany natężenia wiązki światła po jej przejściu przez badany obiekt dwójłomny i elementy polarymetru. Polarymetr umożliwia: a) syntezę i analizę dowolnego stanu polaryzacji całkowitej; b) analizę stanu polaryzacji światła po przejściu przez badany ośrodek; c) pomiar natężenia światła przed i po przejściu przez badany ośrodek. Rys.2. Stanowisko pomiarowe na pierwszym planie polarymetr

Polarymetr (Rys.2) składa się z następujących elementów: ) układu oświetlającego, złożonego z lasera helowo-neonowego wraz z zasilaczem; laser umieszczony jest w obrotowej oprawie; 2) przeciwodblaskowej osłony, w której można zamontować układ kolimujący wiązkę świetlną (aktualnie nie wykorzystywany na stanowisku pomiarowym); istnieje możliwość osłabienia natężenia wiązki świetlnej poprzez włożenie w tym miejscu filtru szarego, nie pokazanego na rysunku; 3) zestawu pięciu uchylno-obrotowych opraw (3a 3f), umożliwiających wprowadzanie i usuwanie z wiązki świetlnej elementów polaryzacyjnych układu i badanych próbek oraz orientacje ich kątów azymutu (poprzez obrót); w kolejnych oprawach umieszczone są: 3a - liniowy polaryzator; 3b - liniowa płytka ćwierćfalowa (ćwierćfalówka); 3c - oprawa, w której umieszcza się badaną próbkę; 3d - miejsce na oprawę zapasową (można tu również umieszczać próbki); 3e - liniowa płytka ćwierćfalowa (ćwierćfalówka); 3f - liniowy analizator (tzn. drugi polaryzator); Zespół a) + b) służy do wytworzenia zadanego stanu polaryzacji światła na wejściu do próbki, zaś zespół e) + f) służy do analizy stanu polaryzacji światła na wyjściu (na przykład po przejściu przez badaną próbkę); 4) fotodetektora, zintegrowanego ze wzmacniaczem (w oprawie), służącego do pomiaru natężenia światła; układ wzmacniacza zasilany jest z zasilacza stabilizowanego, a sygnał z detektora wyprowadzany jest na woltomierz cyfrowy. ZASILACZ STABILIZOWANY ZS-52 Służy do zasilania fotodetektora. Posiada również wyjścia do zasilania obrotowego modulatora, układu monitorującego częstość obrotów tegoż modulatora oraz alternatywnego źródła światła (żarówki) te funkcje nie są aktualnie używane na stanowisku pomiarowym. Rys.3. Zasilacz stabilizowany 2

WOLTOMIERZ CYFROWY V-543 Sygnał z fotodetektora wyprowadzony jest na woltomierz cyfrowy. Zakresy pracy woltomierza należy dobierać stosownie do wartości mierzonego sygnału. W przypadku szukania minimalnego sygnału zaleca się stopniowe zmniejszanie zakresu pomiarowego do 00mV włącznie. W przypadku pomiarów typu Sprawdzanie prawa Malusa standardowym ustawieniem jest zakres 0V. Uwaga: ze względu na parametry użytego fotodetektora, pojawienie się na wyświetlaczu woltomierza liczby przewyższającej 8V oznacza wysycenie detektora należy zmniejszyć poziom sygnału poprzez redukcję natężenia wiązki światła wchodzącej do układu. Rys.4. Woltomierz cyfrowy LASER He-Ne Laser helowo-neonowy o długości fali świetlnej 632.8nm jest źródłem światła spolaryzowanego liniowo, dlatego należy pamiętać, aby przed rozpoczęciem każdej serii pomiarów dostrajać moc układu na maksimum (maksymalny sygnał na woltomierzu) poprzez obrót oprawy lasera (). Rys.5. Zasilacz lasera He-Ne 3

II. Przebieg ćwiczenia A) Justowanie układu. Zakres woltomierza ustawiamy początkowo na 0V. Włączamy woltomierz, zasilacz lasera oraz zasilacz fotodetektora. Ech, czy ta instrukcja MUSI być aż tak łopatologiczna? Ale jak się na przykład NIE napisze o konieczności włączenia zasilacza lasera, to jest spora szansa, ze studenci wykonają pomiar BEZ tego źródła światła! Przed przystąpieniem do pomiarów należy sprawdzić justowanie układu pomiarowego. Podzielmy ten pozornie skomplikowany proces na następujące etapy:. Wyznaczanie maksymalnego i minimalnego poziomu mocy Usuwamy z biegu wiązki świetlnej wszystkie elementy układu, umocowane na oprawach uchylnoobrotowych za wyjątkiem pierwszego polaryzatora (3a). Uwaga: Usuwanie elementów 3a 3f z biegu wiązki może nastąpić w dwojaki sposób: a) poprzez wychylanie opraw aż do całkowitego ich usunięcia z biegu wiązki; b) poprzez wychylenie opraw do położenia pośredniego (przy którym wyczuwalny jest lekki zatrzask oprawy) oraz obrót skali do zgrania kreski na prawej części elementu (obracającego się wraz ze skalą) ze znacznikiem w lewej, nieruchomej części oprawy (powoduje to zgranie otworów na wiązkę świetlną w obu częściach oprawy, co można sprawdzić po całkowitym wychyleniu oprawy z obudowy). Rys. 6. Usuwanie elementów z biegu wiązki Polaryzator (3a) ustawiamy w pozycji 0 na skali obrotowej, a następnie obracamy oprawą lasera He-Ne () aż do uzyskania maksimum sygnału na woltomierzu (por. uwaga przy opisie lasera powyżej). Orientacyjna wartość tego sygnału to około plus 6V. Pamiętajmy o tym, by przysłonić (na przykład oprawą (3f) w położeniu pośrednim) ewentualne światło zewnętrzne, docierające do detektora fałszuje ono wyniki pomiarów! Następnie zasłaniamy całkowicie detektor (na przykład oprawą (3f)) i notujemy minimalny sygnał detektora, tak zwany prąd ciemny. Zauważmy, że w stosowanym układzie jest on na poziomie około minus 6 mv. Wartość tę notujemy i uwzględniamy w dalszych pomiarach jako zero układu. Zapamiętujemy również, żeby przy dalszym szukaniu minimów sygnału starać się o uzyskanie niekoniecznie najmniejszej wartości dodatniej, ale być może (jeśli jest osiągalna w konkretnym przypadku) największej wartości ujemnej sygnału! 4

Uwaga: Oczywiście, zawsze może się zdarzyć, że ktoś zamieni miejscami kable elektryczne na zaciskach woltomierza. Wtedy powyższa uwaga jest słuszna, ale należy zamienić znaki plus i minus w powyższym opisie... 2. Ustawianie krzyża polaryzacyjnego justowanie analizatora Włączamy w układ analizator (3f) i szukamy minimum sygnału (tak zwany krzyż polaryzacyjny ), obracając jego oprawą. Należy przy tym pamiętać o odpowiedniej zmianie zakresu woltomierza. Jeśli minimum to nie wypada dla wartości 90 (lub nieznacznie się od niej różniącej), należy ewentualne niedostrojenie układu uwzględniać w dalszych pomiarach bądź zgłosić się do prowadzącego o pomoc w odpowiednim wyjustowaniu skali analizatora. 3. Justowanie płytek ćwierćfalowych Do wewnątrz wyjustowanego uprzednio krzyża polaryzacyjnego wstawiamy pierwszą ćwierćfalówkę (3b). Sprawdzamy, czy rzeczywiście w położeniu 0 jej wektory własne zgrywają się z wektorami polaryzatora bądź analizatora na wyjściu układu wciąż powinniśmy notować minimum natężenia światła (jakkolwiek, ze względu na odbicia, pochłanianie i ewentualne nie prostopadłe ustawienie płytki ćwierćfalowej, wartość ta może się nieznacznie różnić od minimum samego krzyża polaryzacyjnego z punktu b). W razie niezgodności w ustawieniu ćwierćfalówki postępujemy jak wyżej. Podobnie sprawdzamy ćwierćfalówkę (3e), pamiętając o uprzednim usunięciu z układu elementu (3b). B) Wyznaczenie elementów macierzy Müllera-Ścierskiego.. Do układu wstawiamy pierwszy polaryzator 4a ustawiony pod kątem azymutu 0 o. 2. Odczytujemy wartość natężenia światła I wskazywaną przez woltomierz. 3. Pomiędzy polaryzator a detektor umieszczamy badany obiekt umieszczony w oprawie 3c i ustawiamy pod kątem 0 o na oprawie. 4. Odczytujemy wartość natężenia światła ' I wskazywaną przez woltomierz. 5. Włączyć do układu analizator 3f i obracając analizatorem znaleźć takie jego położenie p, przy którym natężenie na wyjściu jest najmniejsze (w celu przedyskutowania niepewności pomiarowych warto zanotować wartość tego natężenia). Istnieją oczywiście dwa takie położenia, różniące się o 80 ; szukany kąt azymutu światła na wyjściu różni się o 90 od azymutu analizatora, przy którym nastąpiło maksymalne wygaszenie p wyliczamy go więc ze wzoru: 90 ; (znak w równaniu wybieramy tak, aby wartość p obliczonego kąta mieściła się pomiędzy 0 i 80, tym niemniej program komputerowy "poradzi" sobie z dowolną wartością, zamieniając ewentualnie miejscami dwa możliwe rozwiązania); [W przypadku, gdy światło jest spolaryzowane dokładnie kołowo, natężenie na wyjściu układu nie powinno zależeć od położenia analizatora - w tym przypadku możemy przyjąć arbitralnie dowolną wartość jako kąt azymutu. W praktyce, ze względu choćby na niedoskonałość polaryzatorów, zawsze będzie istniało minimum natężenia - jakkolwiek jego wartość będzie nieznacznie tylko mniejsza od wartości natężenia światła przy dowolnym innym położeniu analizatora. W przypadku światła spolaryzowanego kołowo lub "prawie kołowo" wartość wyznaczonego kąta azymutu jest praktycznie ignorowana przez procedury obliczeniowe - oba parametry M i C wektora Stokesa są bliskie zeru]; 5

6. Włączyć ćwierćfalówkę 3e i ustawić ją na kącie azymutu 90. Obracać analizatorem do znalezienia położenia k badanego światła ze wzoru: k p c a maksymalnego wygaszenia; obliczyć kąt eliptyczności 7. Powtórzyć procedurę według punktów ) 4), zmieniając azymut stanu polaryzacji światła na wejściu kolejno na 90 (otrzymujemy wyniki:,, i ), a następnie na 45 (wyniki: I 3, ' I 3, 3 i 3 ). I 2 Uwaga: w przypadku używania jako źródła światła lasera, który wytwarza światło spolaryzowane liniowo, należy przy każdej zmianie ustawienia wejściowego polaryzatora zadbać o zapewnienie maksimum sygnału na detektorze poprzez obrót lasera w oprawie. 8. Wykonać pomiary dla innego ustawienia próbki. 9. Wykonać pomiary dla innych próbek. ' I 2 2 2 6