9. Elektromagnetyczny mechanizm pomiarowy. Pat. PRL, kl. G 01R, nr z dnia (wsp. z S. Tumańskim)

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "9. Elektromagnetyczny mechanizm pomiarowy. Pat. PRL, kl. G 01R, nr z dnia (wsp. z S. Tumańskim)"

Transkrypt

1 Jerzy Stanisław Olędzki PRACE PUBLIKOWANE Artykuły 1. Mierniki elektromagnetyczne o ustrojach z koncentratorami strumienia. [artykuł konferencyjny] Konferencja Naukowo-Techniczna z okazji 15-lecia Zakładów "Lumel" i 50-lecia SEP, Zielona Góra, l969, Materiały Konf. Biuletyn WSI w Zielonej Górze, nr 3, l969, s Wpływ kształtu nabiegunników na zmiany gradientu pola w kwadrupolowych obwodach magnetycznych do hallotronowych przetworników przesunięć. [artykuł w czasopiśmie] Archiwum Elektrotechniki, t.20 z.2, s , 1971 (wsp. z Z. L. Warszą) 3. Zarys historii dyscypliny "Miernictwo elektryczne" na Wydziale Elektrycznym Politechniki Warszawskiej. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Warszawska, Warszawa 1972 s Nowa odmiana czułego mechanizmu miernika elektromagnetycznego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Warszawska, Warszawa l972, s (wsp. z S. Tumańskim) 5. Permeametr kompensacyjny do pomiaru przenikalności magnetycznej rdzeni toroidalnych. [artykuł konferencyjny] V Krajowa Konferencja Metrologii i Budowy Aparatury Pomiarowej, Materiały Konf. t.ii, Wyd. NOT, Poznań 1972, s (wspólnie z J. Jaworskim) 6. Optymalizacja konstrukcji elektromagnetycznego mechanizmu pomiarowego przy wykorzystaniu elektronicznej maszyny cyfrowej. [artykuł konferencyjny] V Krajowa Konferencja Metrologii i Budowy Aparatury Pomiarowej, Materiały Konf. t.iii, Wyd. NOT, Poznań 1972 s Nowa odmiana mechanizmu ferrodynamicznego licznika energii prądu stałego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Naukowy VIII Międzyuczelnianej Narady Metrologów, Politechnika Łódzka, Łódź 1973, s (wsp. z S. Tumańskim) 8. Analiza doboru elementów układu mostka Hohle'go przy określaniu stratności blach elektrotechnicznych w aparacie Epsteina 25 cm. [artykuł konferencyjny] Materiały X Międzyucz. Narady Metrologów, Politechnika Szczecińska, Szczecin 1975, s (wsp. z R. Świebockim) 9. Elektromagnetyczny mechanizm pomiarowy. Pat. PRL, kl. G 01R, nr z dnia (wsp. z S. Tumańskim) 10. Permeametry cyfrowe integracyjne i komparacyjne. [artykuł konferencyjny] Zesz. Nauk. I Symp. "Kierunki Rozwoju Metrologii Elektrycznej" Komitet Elektrotechniki PAN, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Miernictwa El. Politechniki Warszawskiej, s.83-94, Warszawa 1977 (wsp. z J. Jaworskim i M. Orzyłowskim)

2 2 11. Analiza przydatności logometrów cyfrowych w systemach pomiarowych. [artykuł konferencyjny] Mater. Konf. "Metrologia - czynnik postępu w nauce i technice", Prace Nauk. Inst. Metrologii Elektr. Pol. Wrocławskiej Nr 19 s , Wrocław The new AC method for industrial investigations and tests of the electromagnetic clutch. [Conference Paper] Conference Proc. on Technical Diagnostics'79, Committee on Tech. Diagnostics Tc 10 IMEKO, p , Karlovy Vary 1979 (wsp. z S. Tumańskim) 13. Cyfrowy miernik przenikalności magnetycznej. Pat. PRL, kl. G01R, nr z dnia (wsp. z J. Jaworskim) 14. Możliwości realizacji metody trzech woltomierzy w multimetrze mikroprocesorowym. [artykuł konferencyjny] Biul. Tech. MERA, nr 8, s. 6-7, 1980 ( wsp. z M. 0rzyłowskim i Z. Rudolfem) 15. Permeametr-koercjometr cyfrowy. [artykuł konferencyjny] Zesz. Nauk. III Sympozjum "Kierunki rozwoju metrologii elektrycznej", Komitet Elektrotechn. PAN, Inst. Elektrotechn. Teor. i Miernictwa Elektr. Politechniki Warszawskiej s , Warszawa, 1981 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 16. Teoria systemów pomiarowych - założenia ogólne - modele systemów i podsystemów. [artykuł konferencyjny] Symp. Metrologia '80, Politechnika Warszawska, Centr. Ucz.- Przemysł. Metrologii i Syst. Pomiarowych, str , Warszawa 1981 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 17. 0gólne kierunki rozwoju elektrometrologii w Polsce. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd elektrotechniczny, r.58, z.1-4, s. 4-5, 1982 (wsp. z W. Kwiatkowskim) 18. Struktury multimetrów mikroprocesorowych - kierunki ewolucji. [artykuł konferencyjny] Mater. III Kraj. Konf. Nauk.-Techn. "Zastosowanie mikroprocesorów w automatyce i pomiarach", str , SEP, Warszawa Technika eksperymentu - przedmiot specjalizacji metrologia elektryczna kierunku elektrotechnika. [artykuł konferencyjny] XVI Międzyucz. Konf. Metrologów, Prace Inst. Przetw. i Użytk. Energii Elektr. Politechniki Lubelskiej, seria C nr 11 str , Lublin 1983 (wsp. z J.Jaworskim) 20. Cyfrowy permeametr próbkujący do badań materiałów magnetycznie miękkich w paśmie 50Hz-10Hz. [artykuł konferencyjny] XVI Miedzyucz. Konf. Metrologów, Prace Inst. Przetwarz. i Użytk. Energii Elektr. Politechniki Lubelskiej, seria C, nr 11, str , Lublin 1983 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 21. Rozwój dyscypliny "miernictwo elektryczne" na Wydziale Elektrycznym Politechniki Warszawskiej. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.59, z.2, s , 1983 (wsp. z W. Kwiatkowskim i T. Świderskim) 22. Permeametry cyfrowe do badania materiałów magnetycznie miękkich w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] Prace Nauk. Inst. Metrologii Politechniki Wrocławskiej, Nr 26, s , Wrocław 1984 (wsp. z J. Jaworskimi T. Świderskim)

3 3 23. Pomiary impedancji metodą trzech woltomierzy wspomaganą mikrokomputerem. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.60, z.4, s , 1984 (wsp. z J. Szymanowskim) 24. Metrologia elektryczna dzisiaj - próba klasyfikacji. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, r.61 z. 7-8 s , 1985 (wsp. z J. Jaworskim) 25. Rodzina permeametrów cyfrowych - ewolucja konstrukcji w świetle tendencji rozwoju metrologii. [artykuł konferencyjny] Mater. Pokonf. XVII Międzyucz. Konf. Metrologów t.ii s.73-80, Politechn. Poznańska 1985 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 26. Badanie właściwości magnetycznych blach elektrotechnicznych w polach przemiennych - próba przedstawienia głównych problemów i kierunków rozwoju. [artykuł konferencyjny] I Kraj. Symp. Pom. Magn.; Zesz. Nauk. Politechn. Świętorzyskiej, Elektryka nr 16 s Kielce 1985 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 27. Komputerowe systemy do badania materiałów magnetycznie miękkich w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] I Kraj. Symp. Pom. Magn.; Zesz. Nauk. Politechn. Świętokrzyskiej, Elektryka nr 16 s Kielce 1985 (wsp. z J. Dziedzicem i J. Jaworskim) 28. Pomiary wielkości elektrycznych metodą próbkowania - analiza stosowalności w typowej strukturze multimetrów mikroprocesorowych. [artykuł konferencyjny] Mater. Konf. XVIII Międzyucz. Konf. Metrologów, s , WSI w Zielonej Górze 1985 (wsp. z J. Węgrzynem) 29. Analiza metod iteracyjnej korekcji przetworników wartości skutecznej stosowanych w woltomierzach cyfrowych o dużej rozdzielczości. [artykuł konferencyjny] Prace Naukowe Instytutu Metrologii Politechniki Wrocławskiej, nr 28 l986, s (wsp. z J. Szymanowskim) 30. Graniczny błąd przetwarzania w iteracyjnych procedurach cyfrowej korekcji przetworników wartości skutecznej napięcia zmiennego. [artykuł konferencyjny] Zeszyt Nauk. IV Symp. "Kierunki rozwoju metrologii elektrycznej", str , IETiME, Politechnika Warszawska l987 (wsp. z J. Szymanowskim) 31. Struktura metrologii i systemu jej pojęć podstawowych. [artykuł w czasopiśmie] Pomiary Automatyka Kontrola, nr 8 str , l987 (wsp. z J. Jaworskim, J. Bekiem i A. Fiokiem) 32. Próba zestawienia podstawowego zbioru tytułów czasopism naukowo-technicznych z zakresu metrologii. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny r.64, z.4 s , Procedury adaptacyjne w systemach do badania materiałów magnetycznych. [artykuł konferencyjny] Mater. II Kraj. Sympozjum Pomiarów Magnetycznych; Zesz. Nauk. Politechn. Świetokrzyskiej, Elektryka nr 19, s Kielce l988 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim)

4 4 34. Theory of measurement in teaching metrology in engineering faculties. [Journal Paper] Measurement v.6, No. 2, p , 1988 (wsp. z A. Fiokiem, J. Jaworskim, R. Morawskim i A. Urbanem) 35. Iterative method for conversion of the rms value in precision ac measurements. [Conference Paper] IMEKO TC Ser. No 10 l988, p Nova Sc. Pub., Commack, N.Y. (wsp. z J. Szymanowskim) 36. Auto-adaptive measurement systems for laboratory and industrial investigation of magnetic materials. [Conference Paper] Proc. of the 11 World Congress IMEKO, v.i, p , Houston 1988 (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 37. Digital correction of the rms a/d conversion using two point autocalibration and spline approximation. [Conference Paper] Proc. Int. Congress METROLOGY '89, p , Paris l989 (wsp. z W. Winieckim) 38. Przetwornik wartości skutecznej napięcia zmiennego na sygnał cyfrowy. Patent PRL, kl. G01R, nr z dnia (wsp. z J. Szymanowskim i P. Czerwińskim) 39. Rozwój współczesnych systemów do badania materiałów magnetycznych. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny r.66 z.10-11, 1990 (wsp. z T. Świderskim) 40. "Pomiar" i "eksperyment" w nowym modelu studiów technicznych. [artykuł konferencyjny] XXII Międzyucz. Konf. Metrologów Łódź 1990, Zesz. Nauk. PŁ nr 594, s (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 41. Integration of metrology and experimentation techniques in the curriculum of an engineering faculty. [Conference Paper] Proc. of the 12 World Congress IMEKO, v. Fundamental Metrology, Measurement Theory and Education, p , Beijing, China 1991 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 42. Systemowa teoria i technika mierzenia - założenia, koncepcja, wybrane działy. [artykuł konferencyjny] Metrologia i Systemy Pomiarowe, nr 12, s.3-20, Warszawa-Gdańsk 1992 (wsp. z J. Jaworskim i M. Urbańskim) 43. Wykład i laboratorium przedmiotu Miernictwo elektryczne. Program i problemy dydaktyczne trzydziestogodzinnego wykładu i trzydziestogodzinnego laboratorium. [artykuł konferencyjny] Metrologia i Systemy Pomiarowe, nr 12, s , Warszawa- Gdańsk 1992 (wsp. z J. Jaworskim) 44. Masters's degree in Measurement Science and Instrumentation Technology at Warsaw University of Technology. [Conference Paper] State and Advances of Measurement and Instrumentation Science. City Univ. Proc. Int. IMEKO-TC1&TC7 Coll. pp London 1993 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 45. Teoria obwodów magnetycznych oparta na analogii prąd - pochodna strumienia i aproksymacji charakterystyk magnesowania. Aproksymacyjny model magnesowania. [artykuł konferencyjny] IV Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 1994; Zesz. Nauk. Pol. Świętokrzyskiej, ELEKTRYKA Nr.31, 1994 s (wsp. z J. Jaworskim)

5 5 46. Badanie właściwości materiałów magnetycznych jako parametryczna identyfikacja matematycznego modelu magnesowania w polach przemiennych. [artykuł konferencyjny] IV Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 1994; Zesz. Nauk. Pol. Świętokrzyskiej, ELEKTRYKA Nr.31,1994 s (wsp. z J. Jaworskim i T. Świderskim) 47. Present problems of combining teaching and research in Poland. [Conference Paper] Proc. II Mare Balticum Conference, pp 43-49, October 1995 Gdańsk; w jęz. polskim tekst referatu pt. Podstawowe problemy łączenia uprawiania nauki z nauczaniem studentów w Polsce A.D.1995 jest opublikowany w Wiadomości KSN nr 13, grudzień 1996 str Spory o model szkolnictwa wyższego w Polsce. [artykuł konferencyjny] Materiały Konferencji Nauka i szkolnictwo wyższe - jaka przyszłość? Warszawa, 22 czerwca 1996 r. str , Krajowa Sekcja Nauki NSZZ S. Warszawa Multimetry - stan dzisiejszy i rozwój. [artykuł konferencyjny] Sympozjum Metrologia w systemach jakości, V Sympozjum Klubu POLSKIE FORUM ISO 9000, Mikołajki 1997, Mater. Symp. t.2, str. III.E/ Measurement and Modelling. [Conference Paper] Fourth International Microsymposium on Electrochemical Impedance Analysis Mądralin k/warszawy (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 51. Ogólne zasady techniki mierzenia w wykładzie Podstaw metrologii dla kierunków inżynierskich. [artykuł konferencyjny] XXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologów, Nałęczów 1997, Mater. Konf. t.2, str Podstawowe ograniczenie skuteczności korekcji błędów przetwarzania analogowocyfrowego. [artykuł konferencyjny] Sympozjum Podstawowe Problemy Metrologii Gliwice-Ustroń 1998, Prace Komisji Metrologii PAN, Ser. Konf. Nr 1, str Ocena polskiego systemu szkolnictwa wyższego i nauki wraz z propozycjami zmian legislacyjnych. [opracowanie powielane] Sejm RP, Klub Parlamentarny AWS, kwiecień 1999 (wsp. z W. Pillichem i K. Schmidt-Szałowskim) 54. Przetwarzanie sygnałów w badaniach materiałów magnetycznych. [artykuł konferencyjny] Materiały VII Międzynarodowego Seminarium Metrologów "Metody i Technika Przetwarzania Sygnałów w Pomiarach Fizycznych", Oficyna Wyd. Politechniki Rzeszowskiej, s , Rzeszów 1999 (wsp. z J. Jaworskim i J. Przygodzkim) 55. Sygnałowo-przetworzeniowy model pomiaru właściwości magnetycznych. [artykuł konferencyjny] VI Kraj. Symp. Pom. Magn. Kielce 2000; Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, Ser. Konf. Nr 3, str (wsp. z J. Jaworskim i J. Przygodzkim) 56. Prawo o szkolnictwie wyższym w Polsce - przegląd postulowanych zmian. [artykuł konferencyjny] Seminarium Słowacko-Polskie "Organizacja i problemy szkolnictwa wyższego w Słowacji i w Polsce" Gdańsk, opubl. w "Wiadomości KSN" nr 9, wrzesień 2000

6 6 57. Zarys systemu i sytuacji szkolnictwa wyższego w Polsce - proponowane kierunki zmian. [opracowanie powielane] KSN i Fundacja Fridricha Eberta w Polsce, październik 2000 (wsp. z W. Pillichem, J. Sobieszczańskim) 58. Validation of the needle method for magnetic measurements. [Conference Paper] 7 th International Workshop on 1&2-Dimensional Magnetic Measurement and Testing Proceedings, Lüdenscheid, Germany September 2002, PTB-E-81, Braunschweig, June 2003, Pomiary indukcji magnetycznej w blachach elektrotechnicznych metodą igłową. [artykuł w czasopiśmie] Przegląd Elektrotechniczny, 79 (2003) Nr 3, (wsp. z S. Tumańskim) 60. The needle method development for magnetic measurements. [Conference Paper] 16 th Soft Magnetic Materials Conference, Düsseldorf Podstawowe etapy walidacji igłowego czujnika indukcji magnetycznej w blachach elektrotechnicznych. [artykuł konferencyjny] Mater. VII Sympozjum Pomiarów Magnetycznych, 39-42, Przegląd Elektrotechniczny, 80 (2004) Nr 2, Skrypty i książki 1. Laboratorium Miernictwa Elektrycznego. cz.1, wyd.viii, Oficyna Wydawnicza PW 1997 (wsp. z W. Kwiatkowskim) 2. Laboratorium Miernictwa Elektrycznego. cz.2, wyd.vii, Oficyna Wydawnicza PW 1997 (wsp. z W. Kwiatkowskim i M. Ponińskim) 3. Wstęp do metrologii i techniki eksperymentu. WNT Warszawa 1992 (wsp. z J. Jaworskim i R. Morawskim) 4. Podstawy metrologii. Preskrypt wykładu dla studentów wieczorowych studiów zawodowych Radiokomunikacji, 3 wyd. Warszawa 2000, str.147

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Energetyka Rodzaj przedmiotu: kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Uzyskanie podstawowej wiedzy

Bardziej szczegółowo

METROLOGIA. MIERNICTWO

METROLOGIA. MIERNICTWO METROLOGIA. MIERNICTWO Z 099360-BG DURCZAK KAROL Pomiary wielkości geometrycznych w technice / Karol Durczak. - Wyd. 2. Poznań : Wydaw. Akademii Rolniczej im. Augusta Cieszkowskiego, 2006. - 268 s. : il.

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na kierunku: Mechanika i Budowa Maszyn Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK

Bardziej szczegółowo

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii SYLABUS Nazwa Wprowadzenie do metrologii Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno Przyrodniczy przedmiot Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Kod Studia Kierunek studiów Poziom kształcenia

Bardziej szczegółowo

Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu

Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu Modelowanie przetworników pomiarowych - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu 06.0-WE-ED-MPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. Automatyka i Robotyka I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu Kierunek Forma studiów Poziom kwalifikacji PODSTAWY METROLOGII Bezpieczeństwo i Higiena Pracy Stacjonarne I stopnia Rok 2 Semestr Jednostka prowadząca Osoba sporządzająca

Bardziej szczegółowo

I. KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU

I. KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU I. KARTA PRZEDMIOTU 1. Nazwa przedmiotu: TECHNIKA POMIAROWA 2. Kod przedmiotu: Emt 3. Jednostka prowadząca: Wydział Mechaniczno-Elektryczny 4. Kierunek: Automatyka i Robotyka 5. Specjalność: Informatyka

Bardziej szczegółowo

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ

MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI HISTEREZY MAGNETYCZNEJ ELEKTRYKA 014 Zeszyt 1 (9) Rok LX Krzysztof SZTYMELSKI, Marian PASKO Politechnika Śląska w Gliwicach MATEMATYCZNY MODEL PĘTLI ISTEREZY MAGNETYCZNEJ Streszczenie. W artykule został zaprezentowany matematyczny

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia. Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: Język polski

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia. Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: Język polski Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Inżynieria Materiałowa Studia I stopnia Przedmiot: Podstawy elektrotechniki i elektroniki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: IM S 0 4-0_0 Rok: II Semestr:

Bardziej szczegółowo

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement

Bardziej szczegółowo

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu

Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Elektroniczne przyrządy pomiarowe Kod przedmiotu 06.5-WE-EP-EPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów)

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów) Przedmiot: Metrologia elektryczna Karta (sylabus) modułu/przedmiotu ELEKTROTECHNIKA (Nazwa kierunku studiów) Kod przedmiotu: E19 D Typ przedmiotu/modułu: obowiązkowy X obieralny Rok: drugi Semestr: czwarty

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. Transport I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II

Metrologia II Metrology II Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i miernictwa

Podstawy elektroniki i miernictwa Podstawy elektroniki i miernictwa Kod modułu: ELE Rodzaj przedmiotu: podstawowy; obowiązkowy Wydział: Informatyki Kierunek: Informatyka Poziom studiów: pierwszego stopnia Profil studiów: ogólnoakademicki

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) przedmiotu

Karta (sylabus) przedmiotu WM Karta (sylabus) przedmiotu Mechanika i Budowa Maszyn Studia I stopnia o profilu: A P Przedmiot: Podstawy elektrotechniki i elektroniki Kod przedmiotu Status przedmiotu: obowiązkowy MBM S 0 6-0_0 Język

Bardziej szczegółowo

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II Metrology II. TRANSPORT I stopień (I stopień / II stopień) akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia II Metrology II A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechatronika Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy moduł kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE C1. Student

Bardziej szczegółowo

Marian ŁAPIŃSKI ( )

Marian ŁAPIŃSKI ( ) IX Seminarium WEP Marian ŁAPIŃSKI (1909-1992) Andrzej Marusak Warszawa, 26 IV 2017 r. Marian ŁAPIŃSKI (1909-1992) Dr inżynier elektronik i teletechnik, profesor Politechniki Warszawskiej, wynalazca i konstruktor

Bardziej szczegółowo

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki

Instytut Politechniczny Zakład Elektrotechniki i Elektroniki Instytut Politechniczny Kod przedmiotu: PLPILA02-IPELE-I-IIIkC5-2013-S Pozycja planu: C5 1. INFORMACJE O PRZEDMIOCIE A. Podstawowe dane 1 Nazwa przedmiotu Metrologia I 2 Kierunek studiów Elektrotechnika

Bardziej szczegółowo

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia II. Mechanika i Budowa Maszyn I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia II Nazwa modułu w języku angielskim Metrology II Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Wydział EAIiE Katedra Maszyn Elektrycznych Publikacje 2009

Wydział EAIiE Katedra Maszyn Elektrycznych Publikacje 2009 Wydział EAIiE Katedra Maszyn Elektrycznych Publikacje 29 l.p. nazwa autorzy tytuł rok tom strony afiliacja punktacja 1. Przegląd Elektrotechniczny, 2. Przegląd Elektrotechniczny, 3. Przegląd Elektrotechniczny,.

Bardziej szczegółowo

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement. Elektrotechnika I stopnia (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Miernictwo dynamiczne Dynamic Measurement

Bardziej szczegółowo

Podstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4

Podstawy Pomiarów PPOM.A Literatura 2 Literatura podstawowa... 3 Literatura uzupełniająca... 4 Podstawy Pomiarów PPOM.A 2014 Literatura 2 Literatura podstawowa..................................................................... 3 Literatura uzupełniająca...................................................................

Bardziej szczegółowo

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu

Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu Sensoryka i pomiary przemysłowe - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Sensoryka i pomiary przemysłowe Kod przedmiotu 06.0-WE-AiRD-SiPP Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

Systemy pomiarowe Measurement systems. Energetyka I stopień (I stopień / II stopień) Ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Systemy pomiarowe Measurement systems Obowiązuje

Bardziej szczegółowo

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: SENSORY I PRZETWORNIKI POMIAROWE Kierunek: Mechatronika Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy dla kierunku: Mechatronika Rodzaj zajęd: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU

Bardziej szczegółowo

PAKIET INFORMACYJNY - informacje uzupełniające

PAKIET INFORMACYJNY - informacje uzupełniające Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji Uniwersytet Zielonogórski PAKIET INFORMACYJNY - informacje uzupełniające Kierunek: ELEKTROTECHNIKA studia inŝynierskie I stopnia Rok akademicki 2011/2012

Bardziej szczegółowo

Lista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT

Lista i program ćwiczeń: 1. Badanie sensorów przemieszczeń liniowych na przykładzie sensora LVDT Program przedmiotu,,laboratorium Sensorów i Przetworników Pomiarowych Opis ogólny: Przedstawiony program jest znaczącą modyfikacją i unowocześnieniem zajęć prowadzonych obecnie na siódmym semestrze kierunku

Bardziej szczegółowo

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu

Data wydruku: Dla rocznika: 2015/2016. Opis przedmiotu Sylabus przedmiotu: Specjalność: Metrologia Wszystkie specjalności Data wydruku: 22.01.2016 Dla rocznika: 2015/2016 Kierunek: Wydział: Zarządzanie i inżynieria produkcji Inżynieryjno-Ekonomiczny Dane podstawowe

Bardziej szczegółowo

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia Ćwiczenie 1 Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych budowa i zasada działania przyrządów analogowych magnetoelektrycznych

Bardziej szczegółowo

studia I stopnia, niestacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika

studia I stopnia, niestacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika Uniwersytet Zielonogórski Plan studiów Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki kierunek Elektrotechnika, niestacjonarne rok akademicki 2017/2018 Lp Nazwa przedmiotu ECTS Elektrotechnika Strona

Bardziej szczegółowo

studia I stopnia, stacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika

studia I stopnia, stacjonarne rok akademicki 2017/2018 Elektrotechnika Uniwersytet Zielonogórski Plan studiów Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki kierunek, stacjonarne rok akademicki 2017/2018 Lp Nazwa przedmiotu ECTS Strona 1 z stacjonarne profil ogólnoakademicki

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2007 Cyfrowe pomiary częstotliwości oraz parametrów RLC Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową,

Bardziej szczegółowo

Metrologia. Inżynieria Bezpieczeństwa I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny)

Metrologia. Inżynieria Bezpieczeństwa I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólnoakademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

METROLOGIA SKRYPT DO LABORATORIUM. dla studentów kierunku elektrotechnika. Leona Swędrowskiego. pod redakcją

METROLOGIA SKRYPT DO LABORATORIUM. dla studentów kierunku elektrotechnika. Leona Swędrowskiego. pod redakcją METROLOGIA SKRYPT DO LABORATORIUM dla studentów kierunku elektrotechnika pod redakcją Leona Swędrowskiego Gdańsk 2011 PRZEWODNICZ CY KOMITETU REDAKCYJNEGO WYDAWNICTWA POLITECHNIKI GDA SKIEJ Romuald Szymkiewicz

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Metrologii I Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych 3

Laboratorium Metrologii I Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych 3 Laboratorium Metrologii Elektrycznej i Elektronicznej Politechnika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Laboratorium Metrologii I Grupa Nr ćwicz. Ocena dokładności przyrządów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Inżynieria Biomedyczna Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy moduł kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium I KARTA PRZEDMIOTU CEL PRZEDMIOTU PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH

POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH POLITECHNIKA ŚLĄSKA INSTYTUT AUTOMATYKI ZAKŁAD SYSTEMÓW POMIAROWYCH Gliwice, wrzesień 2005 Pomiar napięcia przemiennego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie dokładności woltomierza cyfrowego dla

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Pomiary elektryczne wielkości nieelektrycznych Electrical measurements

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021)

Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021) Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Technologia chemiczna, pierwszy Sylabus modułu: Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych (0310-TCH-S1-021) Nazwa wariantu modułu

Bardziej szczegółowo

dr hab. inż. Krystyna Macek-Kamińska, profesor PO

dr hab. inż. Krystyna Macek-Kamińska, profesor PO Ukończone studia: Politechnika Wrocławska, Wydział Elektryczny Dyscyplina naukowa: elektrotechnika, informatyka Specjalność: automatyzacja napędu elektrycznego, metody numeryczne dr - 1983 Politechnika

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Metrologia. Wzornictwo Przemysłowe I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny)

Metrologia. Wzornictwo Przemysłowe I stopień (I stopień / II stopień) ogólnoakademicki (ogólno akademicki / praktyczny) KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 014/015 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2015/2016

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2015/2016 Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Karta przedmiotu Wydział Mechaniczny obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 015/016 Kierunek studiów: Informatyka Stosowana Forma

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne Rocznik: 2016/2017 Język wykładowy:

Bardziej szczegółowo

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Metrologia 1 Nazwa modułu w języku angielskim Metrolgy 1 Obowiązuje od roku

Bardziej szczegółowo

Imię i nazwisko (e mail) Grupa:

Imię i nazwisko (e mail) Grupa: Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail) Rok: Grupa: Zespół: Data wykonania: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 12: Przetworniki analogowo cyfrowe i cyfrowo analogowe budowa i zastosowanie. Ocena: Podpis

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: Kierunek: Mechatronika Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy na specjalności: systemy sterowania Rodzaj zajęć: wykład, laboratorium UKŁADY AUTOMATYKI PRZEMYSŁOWEJ Industrial Automatics Systems

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia:

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia: Ćwiczenie 5 Pomiary parametrów sygnałów napięciowych Program ćwiczenia: 1. Pomiar wartości skutecznej, średniej wyprostowanej i maksymalnej sygnałów napięciowych o kształcie sinusoidalnym, prostokątnym

Bardziej szczegółowo

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz.

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II. 2013/14. Grupa: Nr. Ćwicz. Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Metrologii II WYZNACZANIE WŁAŚCIWOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW Grupa: Nr. Ćwicz. 9 1... kierownik 2...

Bardziej szczegółowo

WYKAZ OSIĄGNIĘĆ W PRACY NAUKOWEJ

WYKAZ OSIĄGNIĘĆ W PRACY NAUKOWEJ dr Anna Drapińska Politechnika Gdańska Wydział Zarządzania i Ekonomii Katedra Marketingu WYKAZ OSIĄGNIĘĆ W PRACY NAUKOWEJ A. PRACE WYKONANE PRZED UZYSKANIEM STOPNIA DOKTORA Prace publikowane Artykuły naukowe

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Miernictwo energetyczne Energetic measurements A. USYTUOWANIE MODUŁU

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne Rocznik: 18/19 Język wykładowy:

Bardziej szczegółowo

Kierunek studiów Elektrotechnika Studia I stopnia

Kierunek studiów Elektrotechnika Studia I stopnia tel. (+48 81) 58 47 1 Kierunek studiów Elektrotechnika Studia I stopnia Przedmiot: Przemysłowe czujniki pomiarowe i ich projektowanie Rok: III Semestr: 5 Forma studiów: Studia stacjonarne Rodzaj zajęć

Bardziej szczegółowo

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne)

Elektrotechnika I stopień (I stopień / II stopień) Ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) stacjonarne (stacjonarne / niestacjonarne) Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod Nazwa Metrologia 1 Nazwa w języku angielskim Metrolgy 1 Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013

Bardziej szczegółowo

PLAN STUDIÓW NIESTACJONARNYCH I STOPNIA (ZAOCZNE)

PLAN STUDIÓW NIESTACJONARNYCH I STOPNIA (ZAOCZNE) Zał. nr 3 do uchwały nr 75/009 Rady Wydziału Elektrycznego PB z dnia 4.09.009 r. POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY PLAN STUDIÓW NIESTACJONARNYCH I STOPNIA (ZAOCZNE) kierunek studiów ELEKTROTECHNIKA

Bardziej szczegółowo

Harmonogram zjazdów V naboru na Zaoczne Studia Doktoranckie przy IEl. Ramowy program zajęć (I semestr)

Harmonogram zjazdów V naboru na Zaoczne Studia Doktoranckie przy IEl. Ramowy program zajęć (I semestr) I semestr Zjazd 1: 24/25 luty 24.02.2006 Harmonogram zjazdów V naboru na Zaoczne Studia Doktoranckie przy IEl Ramowy program zajęć (I semestr) 10:00-11:45 Inauguracja, 12:00-13:35 S.F. Filipowicz: Komputerowe

Bardziej szczegółowo

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych 0 Podstawy metrologii 1. Co to jest pomiar? 2. Niepewność pomiaru, sposób obliczania. 3.

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma studiów: Stacjonarne. audytoryjne. Wykład Ćwiczenia

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma studiów: Stacjonarne. audytoryjne. Wykład Ćwiczenia Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma studiów: Stacjonarne Rocznik: 2019/2020 Język wykładowy: Polski

Bardziej szczegółowo

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki

Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014 Metrologia A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW Kierunek

Bardziej szczegółowo

WYKAZ CZASOPISM KRAJOWYCH

WYKAZ CZASOPISM KRAJOWYCH WYKAZ CZASOPISM KRAJOWYCH L.p. Tytuł Miejsce wydania Wydawca Rok Uwagi 1 Applied Mathematics and Computer Science Zielona Góra Politechnika Zielonogórska 1993-1997 2 Archiwum Akustyki PAN. Komitet Akustyki.

Bardziej szczegółowo

2012/2013. PLANY STUDIÓW stacjonarnych i niestacjonarnych I-go stopnia prowadzonych na Wydziale Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki

2012/2013. PLANY STUDIÓW stacjonarnych i niestacjonarnych I-go stopnia prowadzonych na Wydziale Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki PLANY STUDIÓW stacjonarnych i niestacjonarnych I-go stopnia prowadzonych na Wydziale Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki rok akademicki 2012/2013 Opole, styczeń 2013 r. Tekst jednolity po zmianach

Bardziej szczegółowo

DOROBEK NAUKOWY. 4) E. Gołąb-Andrzejak, Lojalność eurokonsumentów pokolenia Y, Handel Wewnętrzny 2015, nr 1, s (lista B 12 punktów)

DOROBEK NAUKOWY. 4) E. Gołąb-Andrzejak, Lojalność eurokonsumentów pokolenia Y, Handel Wewnętrzny 2015, nr 1, s (lista B 12 punktów) dr Edyta Gołąb-Andrzejak Katedra Marketingu Wydział Zarządzania i Ekonomii Politechnika Gdańska Gdańsk, 21.02.2017r. PO DOKTORACIE (od 2010 roku) ARTYKUŁY RECENZOWANE DOROBEK NAUKOWY 1) E. Badzińska, E.

Bardziej szczegółowo

Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA Studia stacjonarne inżynierskie Specjalność:

Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA Studia stacjonarne inżynierskie Specjalność: Załącznik 3 Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA Studia stacjonarne inżynierskie Specjalność: Lp. Nazwa przedmiotu Liczba godzin w semestrze Ogółem Semestr 1 Semestr 2 Semestr 3 Semestr 4 E Z Σh

Bardziej szczegółowo

Zebranie Polskiego Oddziału IEEE EMC Society. XI Warsztaty EMC 2017, , Wrocław

Zebranie Polskiego Oddziału IEEE EMC Society. XI Warsztaty EMC 2017, , Wrocław Zebranie Polskiego Oddziału IEEE EMC Society Porządek zebrania: 1. Zatwierdzenie programu posiedzenia 2. Relacja z posiedzenia Zarządu Polskiej Sekcji IEEE i Przewodniczących Oddziałów 3. Podsumowanie

Bardziej szczegółowo

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU

KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu E-1EZ2-1002-s2 Pomiary elektryczne wielkości Nazwa modułu nieelektrycznych_e2n Electrical measurements of non-electrical Nazwa modułu w języku angielskim quantities

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia Wydział: Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Kierunek: Elektrotechnika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne Rocznik: 2014/2015 Język wykładowy:

Bardziej szczegółowo

ANALIZA PORÓWNAWCZA METOD POMIARU IMPEDANCJI PĘTLI ZWARCIOWEJ PRZY ZASTOSOWANIU PRZETWORNIKÓW ANALOGOWYCH

ANALIZA PORÓWNAWCZA METOD POMIARU IMPEDANCJI PĘTLI ZWARCIOWEJ PRZY ZASTOSOWANIU PRZETWORNIKÓW ANALOGOWYCH Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 54 Politechniki Wrocławskiej Nr 54 Studia i Materiały Nr 23 2003 Andrzej STAFINIAK * metody pomiarowe,impedancje pętli zwarciowej impedancja

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: PODSTAWY ELEKTROTECHNIKI, ELEKTRONIKI I TECHNIK POMIAROWYCH Foundations of electrotechnics, electronics and measurement techniques Kierunek: Informatyka Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO

WZORCOWANIE MOSTKÓW DO POMIARU BŁĘDÓW PRZEKŁADNIKÓW PRĄDOWYCH I NAPIĘCIOWYCH ZA POMOCĄ SYSTEMU PRÓBKUJĄCEGO PROBLEMS AD PROGRESS METROLOGY PPM 18 Conference Digest Grzegorz SADKOWSK Główny rząd Miar Samodzielne Laboratorium Elektryczności i Magnetyzmu WZORCOWAE MOSTKÓW DO POMAR BŁĘDÓW PRZEKŁADKÓW PRĄDOWYCH APĘCOWYCH

Bardziej szczegółowo

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty

Z-ZIP-0101 Metrologia. Zarządzanie i Inżynieria Produkcji I stopień Ogólnoakademicki. Kierunkowy Obowiązkowy Polski Semestr czwarty KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ZIP-0101 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 01/013 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW

Bardziej szczegółowo

Uśrednianie napięć zakłóconych

Uśrednianie napięć zakłóconych Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Uśrednianie napięć zakłóconych Grupa Nr ćwicz. 5 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I.

Bardziej szczegółowo

PAN. Komitet Akustyki. Polskie Tow. Akustyczne Inst.Technologii Elektronowej PAN br.z.1,3-4;

PAN. Komitet Akustyki. Polskie Tow. Akustyczne Inst.Technologii Elektronowej PAN br.z.1,3-4; L.p. Tytuł Miejsce wydania Wydawca Rok Uwagi 1. Applied Mathematics and Computer Science Zielona Góra Politechnika Zielonogórska 1993-1997 1993-br.nr 1; 1994-br.nr 4. 2. Archiwum Akustyki PAN. Komitet

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE I TECHNIKA POMIAROWA Kierunek: Informatyka Rodzaj przedmiotu: Obowiązkowy w ramach treści kierunkowych, moduł kierunkowy ogólny Rodzaj zajęć: Wykład, laboratorium

Bardziej szczegółowo

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia. Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu:

Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia. Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: Karta (sylabus) modułu/przedmiotu Mechatronika Studia pierwszego stopnia Przedmiot: Podstawy automatyki Rodzaj przedmiotu: obowiązkowy Kod przedmiotu: MT 1 N 0 4 4-0_1 Rok: II Semestr: 4 Forma studiów:

Bardziej szczegółowo

W RAMACH STUDIÓW NIESTACJONARNYCH NA KIERUNKU ELEKTROTECHNIKA NA WYDZIALE ELEKTRYCZNYM POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ

W RAMACH STUDIÓW NIESTACJONARNYCH NA KIERUNKU ELEKTROTECHNIKA NA WYDZIALE ELEKTRYCZNYM POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ POLITECHNIKA WARSZAWSKA SPECJALNOŚĆ AUTOMATYKA PRZEMYSŁOWA W RAMACH STUDIÓW NIESTACJONARNYCH NA KIERUNKU ELEKTROTECHNIKA NA WYDZIALE ELEKTRYCZNYM POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ Instytut Elektrotechniki Teoretycznej

Bardziej szczegółowo

Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI

Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI Zał. nr 4 do ZW KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim : ELEKTROTECHNIKA I UKŁADY ELEKTRONICZNE Nazwa w języku angielskim: PRINCIPLES OF ELECTRICAL ENGINEERING

Bardziej szczegółowo

WYKAZ PUBLIKACJI I PROJEKTÓW

WYKAZ PUBLIKACJI I PROJEKTÓW dr hab. Anna Drapińska Katedra Marketingu Wydział Zarządzania i Ekonomii Politechnika Gdańska WYKAZ PUBLIKACJI I PROJEKTÓW A. PRACE WYKONANE PRZED UZYSKANIEM STOPNIA DOKTORA Prace publikowane Artykuły

Bardziej szczegółowo

Energetyka I stopień ogólnoakademicki stacjonarne. kierunkowy. obowiązkowy. polski semestr 1 semestr zimowy

Energetyka I stopień ogólnoakademicki stacjonarne. kierunkowy. obowiązkowy. polski semestr 1 semestr zimowy KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. Kod modułu Nazwa modułu Elektrotechnika 1 Nazwa modułu w języku angielskim Electrical engineering

Bardziej szczegółowo

Instytut W5/I-7 Zestawienie Kart przedmiotów Wrocław, 2012-11-17

Instytut W5/I-7 Zestawienie Kart przedmiotów Wrocław, 2012-11-17 ARR021302 Obwody elektryczne Electric circuits ELR021306 energii Renewable Energy Sources ELR021312 Fotowoltaika stosowana Applied photovoltaics ELR021315 Ogniwa fotowoltaiczne Photovoltaic Cells.. Odnawialne

Bardziej szczegółowo

Pomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu

Pomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu Pomiary wielkości nieelektrycznych - opis przedmiotu Informacje ogólne Nazwa przedmiotu Pomiary wielkości nieelektrycznych Kod przedmiotu 06.2-WE-ED-PWN Wydział Kierunek Wydział Informatyki, Elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

KARTA PRZEDMIOTU Rok akademicki: 2010/11

KARTA PRZEDMIOTU Rok akademicki: 2010/11 KARTA PRZEDMIOTU Rok akademicki: 2010/11 Nazwa przedmiotu: Maszyny elektryczne Rodzaj i tryb studiów: niestacjonarne I stopnia Kierunek: Maszyny elektryczne Specjalność: Automatyka i energoelektryka w

Bardziej szczegółowo

WYKAZ PUBLIKACJI POZATECHNICZNYCH (metodyka kształcenia inżynierów, organizacja i historia szkolnictwa wyższego, etyka badań naukowych)

WYKAZ PUBLIKACJI POZATECHNICZNYCH (metodyka kształcenia inżynierów, organizacja i historia szkolnictwa wyższego, etyka badań naukowych) Prof. dr hab. Roman Z. Morawski Instytut Radioelektroniki, WEiTI PW e-mail: r. morawski@ire.pw.edu.pl tel.: +48-22-234-7721 Warszawa, 18 stycznia 2014 r. WYKAZ PUBLIKACJI POZATECHNICZNYCH (metodyka kształcenia

Bardziej szczegółowo

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI

Z-ID-604 Metrologia. Podstawowy Obowiązkowy Polski Semestr VI KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Z-ID-604 Metrologia Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Metrology Obowiązuje od roku akademickiego 2015/2016 A. USYTUOWANIE MODUŁU W SYSTEMIE STUDIÓW

Bardziej szczegółowo

Informacje ogólne. Podstawy Automatyki. Instytut Automatyki i Robotyki

Informacje ogólne. Podstawy Automatyki. Instytut Automatyki i Robotyki Informacje ogólne 1 Podstawy Automatyki Instytut Automatyki i Robotyki Autorzy programu: prof. dr hab. inż. Jan Maciej Kościelny, dr inż. Wieńczysław Jacek Kościelny Semestr IV Liczba godzin zajęć według

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna

Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna EAM - laboratorium Laboratorium Elektroniczna aparatura Medyczna Ćwiczenie REOMETR IMPEDANCYJY Opracował: dr inŝ. Piotr Tulik Zakład InŜynierii Biomedycznej Instytut Metrologii i InŜynierii Biomedycznej

Bardziej szczegółowo

KIERUNEK STUDIÓW: ELEKTROTECHNIKA NAZWA PRZEDMIOTU: TECHNIKA WYSOKICH NAPIĘĆ. (dzienne: 30h wykład, 30h laboratorium) Semestr: W Ć L P S V 2E 2

KIERUNEK STUDIÓW: ELEKTROTECHNIKA NAZWA PRZEDMIOTU: TECHNIKA WYSOKICH NAPIĘĆ. (dzienne: 30h wykład, 30h laboratorium) Semestr: W Ć L P S V 2E 2 KIERUNEK STUDIÓW: ELEKTROTECHNIKA NAZWA PRZEDMIOTU: TECHNIKA WYSOKICH NAPIĘĆ (dzienne: 30h wykład, 30h laboratorium) Semestr: W Ć L P S V 2E 2 Cel zajęć: Celem zajęć jest podanie celowości i specyfiki

Bardziej szczegółowo

Zakres rozmów kwalifikacyjnych obowiązujących kandydatów na studia drugiego stopnia w roku akademickim 2019/2020

Zakres rozmów kwalifikacyjnych obowiązujących kandydatów na studia drugiego stopnia w roku akademickim 2019/2020 Zakres rozmów kwalifikacyjnych obowiązujących kandydatów na studia drugiego stopnia w roku akademickim 2019/2020 Kierunek Zakres rozmowy kwalifikacyjnej obejmuje: Advanced Mechanical Engineering (język

Bardziej szczegółowo

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych 1 Podstawy metrologii 1. Co to jest pomiar? 2. Niepewność pomiaru, sposób obliczania. 3.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015 Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Karta przedmiotu Wydział Mechaniczny obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 014/015 Kierunek studiów: Inżynieria Wzornictwa Przemysłowego

Bardziej szczegółowo

Najbliższe konsultacje odbędą się w godz. 10:00-11:30. Konsultaje w dniu r. zostają odwołane

Najbliższe konsultacje odbędą się w godz. 10:00-11:30. Konsultaje w dniu r. zostają odwołane Kontakt: Edyta.Tabaszewska@ue.wroc.pl tel. 075 75 38 302 budynek H, pokój 6 Konsultacje: Najbliższe konsultacje odbędą się 04.01.2019 w godz. 10:00-11:30. Konsultaje w dniu 18.12.2018 r. zostają odwołane

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Plan studiów niestacjonarnych I stopnia (inŝynierskich)

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Plan studiów niestacjonarnych I stopnia (inŝynierskich) Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Plan studiów niestacjonarnych I stopnia (inŝynierskich) I II III IV godzin w r ć l p P w r ć l p P w r ć l p P w r ć l p P w r ć l p P w r

Bardziej szczegółowo

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie

Stacjonarne Wszystkie Katedra Fizyki dr Medard Makrenek. Inny / Techniczny Obowiązkowy Polski Semestr szósty. Semestr letni Statystyka, Fizyka I Nie KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2012/2013 Z-ZIP-256z Podstawy miernictwa elektrycznego Fundamentals of Electrical

Bardziej szczegółowo

POMIARY NATĘŻENIA POLA ELEKTROMAGNETYCZNEGO MAŁYCH CZĘSTOTLIWOŚCI W OBIEKTACH PRZEMYSŁOWYCH

POMIARY NATĘŻENIA POLA ELEKTROMAGNETYCZNEGO MAŁYCH CZĘSTOTLIWOŚCI W OBIEKTACH PRZEMYSŁOWYCH Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej Nr 1 XV Seminarium ZASTOSOWANIE KOMPUTERÓW W NAUCE I TECHNICE 005 Oddział Gdański PTETiS POMIARY NATĘŻENIA POLA ELEKTROMAGNETYCZNEGO

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 5. Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji

ĆWICZENIE nr 5. Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 5 Pomiary rezystancji, pojemności, indukcyjności, impedancji

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 9b Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA (1/6) Studia niestacjonarne inżynierskie

Załącznik nr 9b Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA (1/6) Studia niestacjonarne inżynierskie Załącznik nr 9b Plan studiów dla kierunku: ELEKTROTECHNIKA (1/6) Ogółem Semestr 1 Semestr 2 Semestr 3 Semestr 4 1W Matematyka 1 4 72 36 36 0 0 0 18 18 6 18 18 6 2W Fizyka 1 3 36 18 18 0 0 0 18 18 6 3W

Bardziej szczegółowo