OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU

Transkrypt

1 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP Urząd Zamówień Publicznych Al. Szucha 2/4, Warszawa Faks: (022) Przesyłanie ogłoszeń on-line: OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU Roboty budowlane publikacja obowiązkowa X Dostawy X publikacja nieobowiązkowa Usługi SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY I.1) NAZWA, ADRESY I OSOBY UPOWAŻNIONE DO KONTAKTÓW Nazwa: UNIWERSYTET WARSZAWSKI Adres pocztowy: UL.PASTEURA 1 Miejscowość: WARSZAWA Kod pocztowy: Województwo: MAZOWIECKIE Nazwisko osoby upoważnionej do kontaktów: Joanna Olczak Tel.: olczak@chem.uw.edu.pl Fax: Adresy internetowe (jeżeli dotyczy) Ogólny adres zamawiającego (URL): Adres profilu nabywcy (URL): Adres internetowy, pod którym dostępne są informacje dotyczące dynamicznego systemu zakupów (URL): Więcej informacji można uzyskać pod adresem: X jak podano wyżej dla osoby upoważnionej do kontaktów Inny: proszę wypełnić załącznik A.I Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem: X jak podano wyżej dla osoby upoważnionej do kontaktów Inny: proszę wypełnić załącznik A.II Wnioski o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub oferty należy przesyłać na adres: X jak podano wyżej dla osoby upoważnionej do kontaktów Inny: proszę wypełnić załącznik A.III

2 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP I.2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO I GŁÓWNY PRZEDMIOT LUB PRZEDMIOTY DZIAŁALNOŚCI Administracja rządowa centralna Administracja rządowa terenowa Administracja samorządowa Podmiot prawa publicznego Organ kontroli państwowej lub ochrony prawa, sąd lub trybunał X Państwowa szkoła wyższa Instytucja ubezpieczenia społecznego i zdrowotnego Samodzielny publiczny zakład opieki zdrowotnej Inny (proszę określić): Ogólne usługi publiczne Obrona Porządek i bezpieczeństwo publiczne Środowisko Sprawy gospodarcze i finansowe Zdrowie Budownictwo i obiekty komunalne Ochrona socjalna Rekreacja, kultura i religia X Edukacja Inne (proszę określić): Zamawiający dokonuje zamówienia w imieniu innych zamawiających tak nie X SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA II.1) OPIS II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego Dostawa sprzętu uzupełniającego do dyfraktometru rentgenowskiego do badań proszkowych: zestaw aparaturowy do czteropunktowego pomiaru oporności i nano-obrazowania próbek wysokooporowych, przystawka z uchwytami do mikroskopu AFM, wzmacniacz zmiennoprądowy, elektrometr z sondą czteropunktową z kontrolerem dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego przy ul. Pasteura 1. II.1.2) Rodzaj zamówienia oraz miejsce wykonania robót budowlanych, realizacji dostaw lub świadczenia usług (Wybrać wyłącznie jedną kategorię roboty budowlane, dostawy lub usługi) (a) Roboty budowlane (b) Dostawy X (c) Usługi Wykonanie Kupno X Kategoria usług: nr Zaprojektowanie i wykonanie Dzierżawa Realizacja obiektu budowlanego za pomocą dowolnych środków, zgodnie z wymaganiami określonymi przez zamawiającego Najem Leasing Inne Główne miejsce lub lokalizacja robót budowlanych: Główne miejsce realizacji dostawy UNIWERSYTET WARSZAWSKI - WYDZIAŁ CHEMII UL. PASTEURA 1 Główne miejsce świadczenia usług 2

3 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP II.1.3) Ogłoszenie dotyczy Zamówienia publicznego X Zawarcia umowy ramowej Ustanowienia dynamicznego systemu zakupów (DSZ) II.1.4) Informacje na temat umowy ramowej (jeżeli dotyczy) Nie dotyczy Umowa ramowa z kilkoma wykonawcami Maksymalna liczba wykonawców planowanej umowy ramowej Czas trwania umowy ramowej: Okres w latach: Umowa ramowa z jednym wykonawcą lub miesiącach: Wartość umowy ramowej (podać wyłącznie dane liczbowe): Wartość bez VAT: Waluta lub zakres: między a Waluta: Częstotliwość oraz wartość zamówień, które zostaną udzielone (jeżeli możliwe do określenia): II.1.5) Określenie przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa przystawki z uchwytami do mikroskopu AFM, wzmacniacz zmiennoprądowy, elektrometr z sondą czteropunktową z kontrolerem dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego przy ul. Pasteura 1. Specyfikacja techniczna zestawu aparaturowego do czteropunktowego pomiaru oporności i nanoobrazowania próbek wysokooporowych. Opis parametrów minimalnych; 1. Opis systemu do czteropunktowego pomiaru oporności. a) Podstawa wraz uchwytem na próbki z przesuwnym stolikiem w kierunkach X-Y wyposażonym w śruby mikrometryczne. Zakres przesunięcia: nie mniejszy niż 0-25 mm, maksymalna wysokość próbek nie mniej niż 14 mm. Uchwyt na głowice pomiarowe przystosowany do różnych głowic, możliwość pomiaru próbek w próżni. b) Cylindryczna głowica pomiarowa z mechanizmem regulacji docisku, odległości igieł pomiarowych nie więcej niż 0,635 mm, promień igieł nie większy niż 25 μm, igły wykonane z węglika wolframu z możliwością wymiany na inne. c) Miernik: zakresy przynajmniej 10 na do 99 ma, 1μV do 1500 mv, impedancja wejściowa nie gorsza niż Ohm, 1 USB, jednostki Ohms/jedn. pow., dokładność miernika 0,3% d) Kontroler: Pentium D 915, 2,80 GHz, L2 pamięć podręczna 2 x 2048 kb, FSB 800 MHz, Dual Core (2 rdzenie wykonawcze), xd-bit (technologia antywirusowa), EM64T (wsparcie dla systemów 64 bitowych), chipset płyty głównej VIA 890, RAM 512 (533 MHz, DDRAM2), HDD 160 GB (7200 obr/min, 8 MB, SATA 2), DVD-RW (Prędkość zapisu: DVD+R (Double Layer) 8x DVD-R (Double Layer) 4x DVD+R (Single Layer) 16x DVD-R (Single Layer) 16x DVD+RW 8x DVD-RW 6x CD-RW 24x CD-R 48x / Prędkość odczytu: DVD 16x, CD 48x), FDD 1,44, GeForce 7300LE (256 MB, D-Sub, TV-out, DVI), karta sieciowa (LAN 10/100 Mbps, 4 porty USB 2.0, port równoległy LPT, klawiatura multimedialna Office, program do obsługi nagrywarki Nero Suite 6.5, Cyberlink Power DVD 6.0 PL5.1 Channel Edition, mysz optyczna z rolką, Windows XP PL. e) Cały system musi zapewniać pomiar oporności do przynajmniej 10 MOhm. 2. Opis systemu do nano-obrazowania próbek. 3

4 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP a) Mikroskop z głowicą przystosowaną do obsługi różnych modułów aplikacyjnych w tym modułów od mikroskopu Nanoscope Multimode IIIA (głowica STM, naczyńko elektrochemiczne). Skanowanie wykonywane jest przez piezoelektryczny skaner z umieszczoną na nim próbką. W zestawie mają się znajdować kalibracyjne kryształy grafitu (HOPG) i miki. - Zakres przesuwu XY co najmniej 2 mm 2 mm, minimalne wymiary próbek: średnica 15 mm, grubość 5 mm. - Układ skanujący powinien działać w otwartej pętli sprzężenia zwrotnego (OPEN-LOOP) w osiach X oraz Y, z korekcją i kalibracją nieliniowości wykonywaną wyłącznie przez oprogramowanie. Systemy oferujące jakakolwiek formę kontroli w pętli zamkniętej (CLOSED-LOOP), standardowo lub opcjonalnie, nie spełniają wymagań technicznych. Układ skanowania w pętli otwartej musi zapewniać najniższy możliwy poziom szumów i przez to najwyższy możliwy poziom rozdzielczości. - Skaner piezoelektryczny ma mieć układ rurowy z elementami segmentowymi. - Wymagany poziom (X-Y) zakres pomiarowy: 125 µm x 125µm, natomiast pionowy zakres pomiarowy (Z) 5 µm z udowodnioną rozdzielczością na poziomie atomowym realizowany za pomocą urządzenia eliminującego pochył oraz odchyłki poziome na dźwigni w czasie zbliżania (należy dostarczyć oryginalne zdjęcia). - Wymagany poziom szumów poniżej 0,35 Å RMS w osi pionowej (Z). - System optyczny podglądu próbki ze stolikiem przesuwnym i podstawką granitową: wysokorozdzielcza wideo kamera CCD z układem podglądu optycznego dla jednoczesnego obrazowania SPM i optycznego z powiększeniem min. 450X wyświetlanego na monitorze. Rozdzielczość 1,6 μm. Niedozwolone jest stosowanie jakichkolwiek lusterek na drodze optycznej. - Zestaw narzędzi potrzebnych do instalacji dźwigni i manipulacji próbką, próbka kalibracyjna, uchwyt dźwigni, 20 dźwigni z azotku krzemu, 10 sond do techniki TM-AFM, uchwyt do pomiarów torsyjnych. b) Kontroler mikroskopowy: Wymagany układ cyfrowego sprzężenia zwrotnego o wysokiej szybkości przetwarzania danych na poziomie przynajmniej 500 KHz. - Wymagana gęstość zapisu obrazów z rozdzielczością 5k 5k przynajmniej dla 3 kanałów w czasie rzeczywistym. - Wymagana możliwość zapisywania danych dla 8 kanałów równocześnie. W celu uzyskania najlepszego kontrastu w obrazowaniu fazowym podczas pomiarów właściwości powierzchni polimerów, a także właściwości magnetycznych powierzchni, system musi umożliwiać ustawienie w sposób cyfrowy wielkości tzw. współczynnika dobroci Q. - Wymagana możliwość wyznaczania stałej sprężystości dźwigni sondy w zakresie do 2 MHz. - Trzy wzmacniacze typu lock-in bitowa rozdzielczość w trzech osiach skanowania niezależnie od pozycji i pola skanowania. - Sterowanie komputerowe z dwoma monitorami 19, minimalna konfiguracja: PIV 3 GHz, RAM 1 GB, HDD 100 GB, karta sieciowa LAN, napęd CD-RW, 4 USB, karta graficzna Matrox 128 MB, myszka, klawiatura, WIN XP Ang., kolorowa drukarka laserowa nie gorsza niż HP2605dn. - Co najmniej 10 złącz wejścia/wyjścia konfigurowanych z poziomu oprogramowania. c) Stół antywibracyjny na kółkach: wymiary: 60 cm 60 cm (±10 cm), wysokość 70 cm (±10 cm), blat ze stali nierdzewnej z czarną formiką, układ do sprężonego powietrza z zaworami, częstotliwość własna w poziomie 1,0 Hz i w pionie 1,0 Hz, zakres obciążeń kg. d) Uchwyt do techniki Conductive AFM z modułem aplikacyjnym i odpowiednim oprogramowaniem komputerowym. e) Celka do techniki elektrochemicznej Tapping AFM. f) Uchwyt dźwigni do szybkiego skanowania. g) Zestaw wszystkich potrzebnych przewodów do połączeń. 4

5 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP h) Wyposażenie dodatkowe: - 20 sztuk dźwigni do szybkiego skanowania sztuk powlekanych dźwigni do techniki C-AFM sztuk dźwigni do pomiarów elektrycznych. - 3 kryształy grafitu (HOPG). i) Uchwyty dźwigni dostarczone z mikroskopem muszą pasować do mikroskopu Nanoscope Multimode IIIA j) Dostarczony system musi zapewniać pomiary C-AFM, TM-AFM z oscylacjami pionowymi i bocznymi, C-AFM, mikroskopią modulacji sił magnetycznych, obrazowania fazowego, krzywych sił odległości, pomiary elektrochemiczne (z zewnętrznym potencjostatem oraz celą z Nanoskopu IIIA), pomiar sił bocznych i opcjonalnie mikroskopią modulacji potencjału powierzchniowego. k) Oprogramowanie: - Bezpłatna aktualizacja bez ograniczenia czasowego - Licencja ma zapewniać możliwość zainstalowania wersji offline na dowolnej liczbie komputerów. - Sterowanie technikami z grupy AFM i techniką STM (głowica STM z Nanoskopu IIIA). -System musi posiadać zdolność linearyzacji skanu w czasie rzeczywistym (real time linearization) i pracować w układzie przewidywania cech w danej linii skanowania (Look-Ahead gain). - Oprogramowanie musi zapewniać automatyczną korekcję dryftu igły. - System musi umożliwiać wykonywanie skanowania powierzchni próbki na obszarze w kształcie prostokąta. Stosunek długości boków dla takiej funkcji ma obejmować zakres od 1:1 do 1:32. - Regulacja parametrów sprzężenia zwrotnego musi być wykonywana z poziomu oprogramowania. - Zmiany w parametrach skanowania mają być wprowadzane natychmiast w bez konieczności ponownej inicjalizacji eksperymentu. - Podczas obrazowania, oprogramowanie ma pozwalać na odwzorowanie zarysu przejścia igły w obie strony na obrazie oscyloskopowym dla każdego kanału danych. - Podczas obrazowania ma być możliwe wykonanie pomiarów odległości i kątów na pobieranych obrazach. - Procedura do wykonywania powierzchniowej spektroskopii tunelowania. l) System ma zapewniać następujące możliwości rozbudowy: - opcję nanoindentacji, oraz nano scratch testów z wykorzystaniem specjalnej igły wykonanej z diamentu oraz dedykowanego oprogramowania, - opcjonalne zastosowanie komory środowiskowej, - zastosowanie otwartej oraz zamkniętej celki cieczowej, - opcję grzania-chłodzenia w zakresie temperatur od 35ºC do 250ºC. Igła powinna być podgrzewana podczas eksperymentów w podwyższonej temperaturze z wykorzystaniem oddzielnego elementu grzewczego, dedykowanego do podgrzewania igły, - rozszerzenia o nowe głowice do skaningowej mikroskopii tunelowej (STM), oraz spektroskopii tunelowania (STS), - możliwości pomiaru prądów w zakresie od 1 pa do 100 pa. współpracę z opcjonalnymi modułami analitycznymi do skaningowej mikroskopii pojemności (Scanning Capacitance Microscopy), skaningowej mikroskopii rozkładu oporności (Scanning Spreading Resistance), mikroskopii tunelowej AFM, moduł spektroskopii sił w zakresie pn zawierający: zlinearyzowany skaner z zamkniętą pętlą sprzężenia zwrotnego w osi Z: zakresy >15µm w osi Z, zakresy > 50 µm w osiach X,Y, parametry na poziomie <0,5 nm RMS szumów pomiaru odkształcenia dźwigienki w cieczy w temperaturze pokojowej dla stałej sprężystości 30 pn/nm trójkątnej dźwigienki, głowica AFM/SPM o niskim poziomie szumów z laserem na zakres widzialny, automatyczna kalibracja stałej sprężystości dźwigienki, ręczne urządzenie do kontroli wysokości położenia dźwigni, zawierające mechanizm sprzężenia zwrotnego. 5

6 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP System bipotencjostatu z odpowiednim naczyńkiem-uchwytem. m) System ma zawierać kompletny zestaw wzorców potrzebnych do kalibracji urządzenia, oraz umożliwiać kontrolę parametrów w każdym dostępnym trybie pomiarowym n) Wymagany jest polski serwis gwarancyjny i pogwarancyjny. o) Cena ma uwzględniać koszt aparatury, koszty dostawy, koszty instalacji, dwudniowe szkolenie dla dwóch osób. p) Płatność nastąpi po zakończeniu instalacji systemu stwierdzonej wspólnym protokołem instalacyjnym. W trakcie instalacji Wykonawca zobowiązany będzie do zaprezentowania zgodności wszelkich parametrów ze specyfikacją poprzez wykonanie pomiarów o odpowiedniej dokładności i rozdzielczości (pomiar dużych oporów, zdjęcia sieci atomowej wzorców dla dostarczonego przez Zamawiającego skanera o zakresie skanowania 10 μm.). 3. Zamawiający nie dopuszcza składanie ofert częściowych. 4. Zamawiający nie dopuszcza składania ofert przewidujących odmienny sposób wykonania zamówienia (oferta wariantowa). II.1.6) Informacja o oświadczeniach i dokumentach potwierdzających spełnianie przez oferowane dostawy, usługi lub roboty budowlane wymagań określonych przez zamawiającego Nie dotyczy II.1.7) WSPÓLNY SŁOWNIK ZAMÓWIEŃ (CPV) Słownik główny Słownik uzupełniający (jeżeli dotyczy) Główny przedmiot CPV: CPV: Dodatkowe przedmioty II.1.8) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej (w celu podania informacji o częściach zamówienia należy wykorzystać załącznik B w liczbie odpowiadającej liczbie części) tak nie X II.1.9) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej tak nie X II. 2) WIELKOŚĆ LUB ZAKRES ZAMÓWIENIA Dostawę sprzętu uzupełniającego do dyfraktometru rentgenowskiego do badań proszkowych: zestaw aparaturowy do czteropunktowego pomiaru oporności i nanoobrazowania próbek wysokooporowych, przystawka z uchwytami do mikroskopu AFM, wzmacniacz zmiennoprądowy, elektrometr z sondą czteropunktową z kontrolerem dla Wydziału Chemii Uniwersytetu Warszawskiego przy ul. Pasteura 1. 6

7 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP II.3) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA Pożądany Wymagany X (od udzielenia zamówienia): do 30 września 2007 r. licząc od daty podpisania umowy. SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM III.1) WARUNKI DOTYCZĄCE ZAMÓWIENIA Informacja na temat wadium (jeżeli dotyczy) Nie dotyczy III.2) WARUNKI UDZIAŁU INFORMACJE DOTYCZĄCE SYTUACJI WYKONAWCY ORAZ INFORMACJE I FORMALNOŚCI NIEZBĘDNE DO OCENY, CZY SPEŁNIA ON WYMAGANIA EKONOMICZNE, FINANSOWE I TECHNICZNE 1. O udzielenie niniejszego zamówienia mogą ubiegać się Wykonawcy, którzy spełniają warunki udziału w postępowaniu, o których mowa w art. 22 ust. 1 Ustawy. 2. Ocena spełnienia warunków określonych w art. 22 Ustawy oraz warunków szczegółowych określonych w niniejszym paragrafie ust. 3 nastąpi na podstawie przedstawionych przez Wykonawcę dokumentów i oświadczeń, o których mowa w 2 niniejszego artykułu. 3. O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełnią następujące warunki: 3.1. posiadają uprawnienia do wykonywania działalności/czynności będącej przedmiotem zamówienia i nie podlegają wykluczeniu z postępowania posiadają niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponują potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia znajdują się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia. 4. Wykażą się wykonaniem w okresie ostatnich trzech lat, a jeśli okres prowadzenia działalności jest krótszy w tym okresie przynajmniej 3 dostaw zestawów aparaturowych wykorzystujących system nano-obrazowania do trzech laboratoriów tego samego producenta co proponowany przez Wykonawcę zbliżonych zakresem do przedmiotu zamówienia z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców (wraz z telefonem kontaktowym) oraz załączą dokumenty potwierdzające, że dostawy te zostały wykonane należycie. 5. Sposób dokonywania oceny spełnienia warunków wymaganych od wykonawców nastąpi na podstawie dokumentów złożonych przez wykonawców i oparty będzie na zasadzie TAK/NIE (spełnia / nie spełnia). 6. Wykonawca potwierdzi spełnienie warunków wymaganych określonych w ust. 3 i 4 niniejszego paragrafu oświadczeniami i dokumentami określonymi w Z ubiegania się o udzielenie zamówienia publicznego zostaną wykluczeni Wykonawcy, z przyczyn określonych w art. 24 Ustawy. Ofertę Wykonawcy wykluczonego uznaje się za odrzuconą. Informację o oświadczeniach i dokumentach, jakie mają dostarczyć wykonawcy w celu potwierdzenia spełnienia warunków udziału w postępowaniu. W celu wykazania spełnienia warunków udziału w niniejszym postępowaniu, każdy z Wykonawców powinien przedłożyć wraz z ofertą - zgodnym z załączonym do SIWZ formularzem oferty (odpowiednio FORMULARZ OFERTY ) - opracowany przez Zamawiającego następujące oświadczenia i dokumenty wypełnione i podpisane przez osoby uprawnione do reprezentowania Wykonawcy zgodnie z odpowiednimi zapisami niniejszej SIWZ: 1) Formularz Nr 1, oświadczenie o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu. 7

8 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP Do formularza Nr 1 Wykonawca zobowiązany jest dołączyć następujące dokumenty: a) aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert, b) pełnomocnictwo do reprezentowania Wykonawcy w niniejszym postępowaniu oraz do podpisania umowy (o ile nie wynika z dokumentów rejestracyjnych); pełnomocnictwo musi być podpisane przez osoby uprawnione do reprezentowania Wykonawcy (podpisy i pieczęcie oryginalne), posiadać termin ważności, z którego wynika, że jest obowiązujące dla niniejszego postępowania. 2) Wykaz wykonanych w okresie ostatnich trzech lat, a jeśli okres prowadzenia działalności jest krótszy w tym okresie przynajmniej 3 dostaw zestawów aparaturowych wykorzystujących system nano-obrazowania do trzech laboratoriów tego samego producenta co proponowany przez Wykonawcę, zbliżonych zakresem do przedmiotu zamówienia z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców (wraz z telefonem kontaktowym) oraz załączą dokumenty potwierdzające, że dostawy te zostały wykonane należycie (Formularz Nr 2). 3) Zaakceptowany wstępnie (podpisany) przez osoby/osobę uprawnione/ą do reprezentowania wykonawcy, wzór umowy. 4) Szczegółowy opis parametrów technicznych w języku polskim z uwzględnieniem parametrów technicznych wymaganych w 2 niniejszej Specyfikacji. 5) Szczegółowy opis oferowanych warunków gwarancji i serwisu gwarancyjnego. 6) Zaleca się, aby Wykonawca sporządził szczegółowe zestawienie (spis) wszystkich dostarczanych oświadczeń i dokumentów i dołączył ten spis do oferty, jako Formularz Nr 3. 7) Dokumenty, których aktualność (dzień wystawienia) nie została określona szczegółowo w niniejszym paragrafie muszą być ważne (aktualne) na dzień składania ofert. SEKCJA IV: PROCEDURA IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia Przetarg nieograniczony X Przetarg ograniczony Negocjacje z ogłoszeniem Dialog konkurencyjny IV.1.2) Przewidywana liczba wykonawców, którzy zostaną zaproszeni do udziału w postępowaniu (przetarg ograniczony, negocjacje z ogłoszeniem, dialog konkurencyjny) Nie dotyczy Liczba wykonawców lub minimalna liczba / maksymalna liczba IV. 2) KRYTERIA OCENY OFERT IV.2.1) Kryteria oceny ofert (proszę zaznaczyć właściwe pole (pola)) 8

9 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP Najniższa cena lub Cena oraz dodatkowe kryteria i ich znaczenie X Kryteria Znaczenie Kryteria Znaczenie 1. cena 100 % ocena parametrów technicznych 3. warunki gwarancji i serwisu IV.2.2) Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna tak nie X Jeżeli tak, proszę podać dodatkowe informacje na temat aukcji elektronicznej w tym adres strony internetowej, na której będzie prowadzona IV.3) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE IV.3.1) Określenie sposobu uzyskania specyfikacji istotnych warunków zamówienia Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia (jeżeli dotyczy): Opłata (o ile dotyczy) nie dotyczy IV.3.2) Opis potrzeb i wymagań umożliwiający przygotowanie się wykonawców do udziału w dialogu konkurencyjnym lub informacja o sposobie otrzymania tego opisu (jeżeli dotyczy): Nie dotyczy IV.3.3) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert Data: 28/05/2007 (dd/mm/rrrr) Godzina: 11:45 IV.3.4) Języki, w których można sporządzać wnioski o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub oferty ES CS DA DE ET EL EN FR IT LV LT HU MT NL PL PT SK SL FI SV X Inne: IV.3.5) Termin związania ofertą 30 dni (od ostatecznego terminu składania ofert) 9

10 Numer sprawy nadany przez zamawiającego: 120/7/2007 ZP SEKCJA VI: INFORMACJE UZUPEŁNIAJĄCE VI.1) ZAMÓWIENIE DOTYCZY PROJEKTU/PROGRAMU FINANSOWANEGO ZE ŚRODKÓW UNII EUROPEJSKIEJ Tak nie X Jeżeli tak, wskazać projekt/program: VI.2) INFORMACJE DODATKOWE (jeżeli dotyczy) Nie dotyczy VI.3) DATA WYSŁANIA NINIEJSZEGO OGŁOSZENIA: 27/04/2007(dd/mm/rrrr) 10