ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121"

Transkrypt

1 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12, Data wydania: 12 maja 2014 r. AB 121 Nazwa i adres INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI - PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH (LBUT) ul. Szachowa Warszawa Kod identyfikacji dziedziny/obiektu badań E/6; E/14 F/6; F/14 G/6; G/14 N/6; M/17 Dziedzina/obiekt badań Badania elektryczne i elektroniczne wyrobów i wyposażenia elektrycznego, telekomunikacyjnego, elektronicznego i wyposażenia medycznego; Badania kompatybilności elektromagnetycznej wyrobów i wyposażenia elektrycznego, telekomunikacyjnego, elektronicznego i wyposażenia medycznego; Badania dotyczące inżynierii środowiska (środowiskowe i klimatyczne) wyrobów i wyposażenie elektrycznego, telekomunikacyjnego, elektronicznego i medycznego; Badania właściwości fizycznych wyrobów i wyposażenie elektrycznego, telekomunikacyjnego i elektronicznego Badanie parametrów funkcjonalnych cyfrowego strumienia transportowego i sygnału analogowego KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AB 121 z dnia r. Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 1/18

2 Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Zespół Badań Urządzeń Telewizyjnych, Kabli i Osprzętu (LB-4) ul. Szachowa 1, Warszawa Badane obiekty/grupy obiektów Urządzenia telewizji kablowej Kable współosiowe badawcze/ pomiarowe Parametry tłumieniowe urządzeń biernych Zakresy pomiarowe: a) częstotliwość: - 5 MHz 2,2 GHz (urządzenia o impedancji we/wy 75 Ω) - 5 MHz 6,5 GHz (urządzenia o impedancji we/ wy 50 Ω) b) tłumienności: do 80 db PN-EN :2008 PN-EN :2011 PN-EN :2004+AC:2006 Napięcia zaburzeń przewodzonych PN-EN :2012 Zakres częstotliwości: 9 khz 30 MHz Promieniowanie urządzeń aktywnych PN-EN :2012 Zakres częstotliwości: 30 MHz 950 MHz Odporność urządzeń aktywnych PN-EN :2012 Skuteczność ekranowania urządzeń PN-EN :2012 biernych Zakres częstotliwości: 5 MHz 950 MHz Odporność urządzeń aktywnych na wyładowania elektrostatyczne Impedancja falowa kabla dla częstotliwości 200 MHz Tłumienność echa własnego w kablu Pojemność jednostkowa kabla Współczynnik skrócenia fali w kablu Rezystancja przewodu zewnętrznego i wewnętrznego kabla Tłumienność kabla Zakresy częstotliwości: - dla kabli o impedancji 75 Ω: 5 MHz 2200 MHz; - dla kabli o impedancji 50 Ω: 5 MHz 6500 MHz PN-EN :2012 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2002 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2007 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2008 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2009 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2007 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2010 Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 2/18

3 Badane obiekty/grupy obiektów Kable współosiowe Współczynnik skuteczności ekranowania kabla Zakres: do 90 db Urządzenia elektryczne i elektroniczne o wymiarach do 85 cm x 190 cm x 200 cm Kable telekomunikacyjne metalowe Tłumienność odbiciowa w kablu Zakresy częstotliwości: - dla kabli o impedancji falowej 75 Ω: 5 MHz 2200 MHz; - dla kabli o impedancji falowej 50 Ω: 5 MHz 6500 MHz Wytrzymałość i odporność na zimno (Próba A) Temperatura minimalna -55ºC Wytrzymałość i odporność na suche gorąco (Próba B) Temperatura maksymalna +85ºC Wytrzymałość i odporność na wilgotne gorąco stałe (Próby Ca i Cb) Wilgotność do 93% Zakres temperatury: +20ºC +55ºC Tłumienność skuteczna Zakres częstotliwości: 200 Hz 600 MHz Tłumienność przesłuchowa Zakres częstotliwości: 200 Hz 10 MHz Zakres tłumienności: + 5 db -110 db Tłumienność przesłuchowa Zakres częstotliwości: 0,1 MHz 600 MHz Zakres tłumienności: +10 db -80 db PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2009 PN-EN :2003+A1:2007 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2005+A1:2008 PN-EN :2002 PN EN :2009 PN-EN :2009 PN-EN :2007 PN-EN : 2010 PN-EN :2002 PN-EN :2002 Rezystancja żył PN-EN :2007 Zakres rezystancji: 0,1 Ω Ω Asymetria rezystancji żył PN-EN :2007 Rezystancja izolacji żył PN-EN :2007 Upom: 100 V 1000 V R: 0,1 MΩ 1010 MΩ Pojemność skuteczna PN-EN :2008 Zakres pojemności: 1pF 10 µf Asymetria pojemności PN-E :1973 p. 2.3 Odporność izolacji na napięcie probiercze PN-EN :2007 Zakres: 0,5 kv AC 1 kv AC, 0,5 kv DC 10 kv DC Odporność powłoki i osłony na napięcie PN-EN :2007 probiercze Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 3/18

4 Badane obiekty/grupy obiektów Przełącznice, łączówki, złącza i łączniki żył Włókna światłowodowe wielomodowe: - 50/125µm zgodne z zaleceniami ITU T G.651.1; - 62,5/125µm Włókna światłowodowe jednomodowe zgodne z zaleceniami ITU T G.652, G.653, G.655, G.656 i G.657 Kable światłowodowe, ich elementy i podzespoły pasywne z włóknami światłowodowymi j.w. Rezystancja przejścia prądem przemiennym Zakres: 0,03 mω 30 kω Rezystancja izolacji Zakres: U pom: 100 V 1000 V R: 0,1 MΩ MΩ Wytrzymałość elektryczna izolacji Zakres: 0,5 kv AC 1 kv AC 0,5 kv DC 10 kv DC Tłumienność skuteczna dla obiektów symetrycznych Zakres częstotliwości: 200 Hz 10 MHz Zakres tłumienności: +5 db -110 db Tłumienność skuteczna dla obiektów symetrycznych Zakres częstotliwości: 0,1 MHz 600 MHz Zakres tłumienności: +10 db -80 db Tłumienność przesłuchowa dla obiektów symetrycznych Zakres częstotliwości: 0,1 MHz 600 MHz Zakres tłumienności: +10 db -80 db Tłumienność i zmiany tłumienności włókna dla długości fal 850 nm i 1300 nm Tłumienność i zmiany tłumienności dla długości fal 1310 nm i 1550 nm Tłumienność i zmiany tłumienności dla długości fal: nm i 1300 nm (włókna wielodomowe) nm i 1550 nm (włókna jednomodowe) PN-E :1983 p. 2.1 PN-EN :2007 PN-EN :2007 PN-EN :2010 PN-EN :2010 PN-EN :2002 Zalecenie ITU-T G (07/2010) Procedura badawcza L7/9, Wydanie 6 (07/2012) Zalecenie ITU-T G (07/2010) Procedura badawcza L7/9, Wydanie 6 (07/2012) Zalecenie ITU-T G (07/2010) Procedura badawcza L7/9, Wydanie 6 (07/2012) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 4/18

5 Badane obiekty/grupy obiektów Światłowodowe podzespoły bierne ze złączami rozłączalnymi Straty wtrącone PN-EN :2003 Zakres: 0 60 db PN-EN :2009 Tłumienność wsteczna / reflektancja PN-EN :2009 Zakres: 5 65 db Odporność na wielokrotne łączenie PN-EN :2009 i rozłączanie (trwałość łączeniowa) Siła utrzymywania światłowodu lub kabla PN-EN :2002 Wytrzymałość mechanizmu sprzęgającego PN-EN :2011 na rozciąganie Odporność na uderzenie o twardą PN-EN :2010 powierzchnię Metoda A Odporność na moment zginający PN-EN :2002, p. 4.2, p. 5.4 Odporność na skręcanie światłowodu lub PN-EN :2011 kabla Odporność na statyczne obciążenie boczne PN-EN :2006 Odporność na wielokrotne zginanie PN-EN :2009 światłowodu lub kabla Odporność na zimno PN-EN :2011 PN-EN :2009 Odporność na suche gorąco PN-EN :2006 PN-EN :2009 Odporność na wilgotne gorąco stałe PN-EN : PN-EN :2007 Odporność na wilgotne gorąco cykliczne PN-EN :2007 PN-EN :2008 Odporność na zmiany temperatury PN-EN :2007 PN-EN :2009 Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 5/18

6 Badane obiekty/grupy obiektów LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH (LBUT) Zespół Badań Kompatybilności Elektromagnetycznej (LB-2) ul. Szachowa 1, Warszawa Urządzenia elektryczne i elektroniczne 1) Elastyczny zakres akredytacji 1) Emisja zaburzeń elektromagnetycznych Napięcie zaburzeń przewodzonych Zakres częstotliwości: 9 khz 30 MHz Natężenie pola zaburzeń promieniowanych Zakres częstotliwości: 30 MHz 1 GHz (komora GTEM) Natężenie pola zaburzeń promieniowanych Zakres częstotliwości: 1 40 GHz (otwarte pole pomiarowe) Odporność na promieniowane pola elektromagnetyczne o częstotliwościach radiowych Zakres częstotliwości: 30 MHz 2,5 GHz i natężenie pola do 20 V/m (komora GTEM) Odporność na zaburzenia przewodzone, indukowane przez pola o częstotliwości radiowej Odporność na wyładowania elektrostatyczne Odporność na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych Odporność na udary Odporność na pole magnetyczne o częstotliwości sieci elektroenergetycznej Odporność na pole magnetyczne impulsowe Odporność na zapady napięcia, krótkie przerwy i zmiany napięcia Znormalizowane metody badawcze 1) 1) Dopuszcza się: stosowanie zaktualizowanych metod znormalizowanych, wdrażanie nowych metod znormalizowanych oraz dodawanie obiektów w ramach grupy obiektów. Aktualna "Lista badań prowadzonych w ramach zakresu elastycznego" jest dostępna na każde żądanie w akredytowanym podmiocie. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 6/18

7 LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH (LBUT) Zespół Badań Urządzeń Radiokomunikacyjnych (LB-1) ul. Szachowa 1; Warszawa Badane obiekty/grupy obiektów Urządzenia do stosowania w sieciach dyspozytorskich w zakresie RF do 1 GHz, przeznaczone głównie do transmisji analogowego sygnału mowy, wyposażone w złącze RF 50 Ω Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc nadajnika (sygnał doprowadzony) Transmitter power (conducted) Maksymalna równoważna moc promieniowana Maximum effective radiated power Dewiacja częstotliwości Frequency deviation Moc w sąsiednim kanale Adjacent and alternate channel power Unwanted emissions in the spurious domain Tłumienność intermodulacji Intermodulation attenuation Maksymalna czułość użytkowa (sygnał doprowadzony) Maximum usable sensitivity (conducted) Maksymalna czułość użytkowa (pomiar natężenia pola) Maximum usable sensitivity (field strength) Selektywność wspólnokanałowa Co-channel rejection Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Tłumienie odbioru niepożądanego Spurious response rejection Tłumienie intermodulacji Intermodulation response rejection Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitisation Spurious radiations 3. Praca dupleksowa: Duplex operation: Utrata czułości odbiornika wskutek jednoczesnego nadawania i odbioru Receiver desensitization (with simultaneous transmission and reception) Tłumienie odbioru niepożądanego w pracy dupleksowej Receiver spurious response rejection (with simultaneous transmission and reception) EN V1.4.1 ( ) EN V1.3.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 7/18

8 Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia do stosowania w sieciach dyspozytorskich w zakresie częstotliwości do 1 GHz, transmitujące sygnały do zainicjowania określonej reakcji w odbiorniku, jak sygnalizację CTCSS, DSC, wywołanie selektywne itp., wyposażone w złącze RF 50 Ω Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc fali nośnej (sygnał doprowadzony) Carrier power (conducted) Równoważna moc promieniowana (pomiar natężenia pola) Effective radiated power (field strength) Moc w sąsiednim kanale Adjacent channel power Transmitter spurious emissions Tłumienność intermodulacji Intermodulation attenuation Czas włączania nadajnika Transmitter attack time Czas wyłączania nadajnika Transmitter release time Stany przejściowe częstotliwości nadajnika Transient frequency behaviour of the transmitter Maksymalna czułość użytkowa (odpowiedzi, sygnał doprowadzony) Maximum usable sensitivity (responses, conducted) Średnia czułość użytkowa (pomiar natężenia pola) Average usable sensitivity (field strength, responses) Selektywność wspólnokanałowa Co-channel rejection Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Tłumienie odbioru niepożądanego Spurious response rejection Tłumienie intermodulacji Intermodulation response Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitisation Receiver spurious radiations 3. Praca dupleksowa Duplex operation: Utrata czułości odbiornika wskutek jednoczesnego nadawania i odbioru Receiver desensitization (with simultaneous transmission and reception) Tłumienie odbioru niepożądanego w pracy dupleksowej Receiver spurious response rejection (with simultaneous transmission and reception) EN V1.2.1 ( ) EN V1.1.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 8/18

9 Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia do stosowania w sieciach dyspozytorskich w zakresie częstotliwości do 1 GHz, przeznaczone do transmisji danych i mowy, wyposażone w złącze RF 50 Ω Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc nadajnika (sygnał doprowadzony) Transmitter power (conducted) Maksymalna równoważna moc promieniowana Maximum effective radiated power Moc w sąsiednim kanale Adjacent channel power Unwanted emissions in the spurious domain Tłumienność intermodulacji Intermodulation attenuation Czas włączania nadajnika Transmitter attack time Czas wyłączania nadajnika Transmitter release time Stany przejściowe częstotliwości i mocy nadajnika Transient behaviour of the transmitter Maksymalna czułość użytkowa (sygnał doprowadzony) Maximum usable sensitivity (conducted) Średnia czułość użytkowa (pomiar natężenia pola) Average usable sensitivity (field strength) Poziom sygnału użytecznego do pomiarów jakości odbioru (dane lub komunikaty) Level of the wanted signal for the degradation measurements Charakterystyki błędu przy wysokich poziomach wejściowych Error behaviour at high input levels Selektywność wspólnokanałowa Co-channel rejection Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Tłumienie odbioru niepożądanego Spurious response rejection Tłumienie intermodulacji Intermodulation response rejection Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitization Spurious radiations 3. Praca dupleksowa Duplex operation Utrata czułości odbiornika wskutek jednoczesnego nadawania i odbioru Receiver desensitization (with simultaneous transmission and reception) Tłumienie odbioru niepożądanego w pracy dupleksowej Receiver spurious response rejection (with simultaneous transmission and reception) EN V1.7.1 ( ) EN V1.5.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 9/18

10 Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia z anteną zintegrowaną, do stosowania w sieciach dyspozytorskich w zakresie częstotliwości do 1 GHz, przeznaczone głównie do transmisji analogowego sygnału mowy Odchyłka częstotliwości Frequency error Równoważna moc promieniowana Effective radiated power Maksymalna dopuszczalna dewiacja częstotliwości Maximum permissible frequency deviation Moc w sąsiednich kanałach Adjacent and alternate channel power Promieniowane emisje niepożądane Radiated unwanted emissions in the spurious domain Średnia czułość użytkowa (pomiar natężenia pola, sygnał mowy) Average usable sensitivity (field strength, speech) Spurious radiations Selektywność wspólnokanałowa Co-channel rejection Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Tłumienie odbioru niepożądanego Spurious response rejection Tłumienie intermodulacji Intermodulation response rejection Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitization EN V1.3.1 ( ) EN V1.3.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 10/18

11 Badane obiekty / Grupa obiektów Radiotelefony (przewoźne i noszone) z modulacją kąta, do pracy w paśmie częstotliwości CB 27 MHz Radiotelefony z dwuwstęgową i/lub jednowstęgową modulacją amplitudy i/lub modulacją kąta do pracy w paśmie częstotliwości CB 27 MHz Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc fali nośnej Transmitter carrier power Maksymalna dopuszczalna dewiacja częstotliwości Maximum permissible frequency deviation Moc w sąsiednim kanale Adjacent channel power Unwanted emissions in the spurious domain Stany przejściowe nadajnika Transient behaviour of the transmitter Spurious radiations Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc nadajnika Transmitter power Maksymalna dopuszczalna dewiacja częstotliwości (kąt modulacji) Maximum permissible frequency deviation (angle modulation only) Moc w sąsiednim kanale Adjacent channel power Unwanted emissions in the spurious domain Stany przejściowe nadajnika Transient behavior of the transmitter Maksymalna czułość użytkowa Maximum usable sensitivity Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Tłumienie intermodulacji Intermodulation response rejection Spurious radiations EN V1.2.1 ( ) EN V1.2.1 ( ) EN V1.3.1 ( ) EN V1.3.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 11/18

12 Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia radiowe bliskiego zasięgu, w tym z pętlą indukcyjną, pracujące w zakresie częstotliwości od 9 khz do 30 MHz Urządzenia radiowe bliskiego zasięgu, o mocy wyjściowej do 0,5 W, pracujące w zakresie częstotliwości od 25 MHz do 1000 MHz Poziomy fali nośnej nadajnika Transmitter carrier output levels Dopuszczalny zakres częstotliwości pracy Permitted range of operating frequencies Dopuszczalny zakres częstotliwości szerokości pasma modulacji Permitted frequency range of the modulation bandwidth Spurious domain emission limits Selektywność sąsiedniokanałowa - wewnątrz pasma Adjacent channel selectivity - in band Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitisation Receiver spurious radiation Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc średnia (sygnał przewodzony) Average power (conducted) Równoważna moc promieniowana Effective radiated power Moc w stanach przejściowych Transient power Moc w sąsiednim kanele Adjacent channel power Zakres częstotliwości szerokości pasma modulacji Modulation bandwidth Unwanted emissions in the spurious domain Stałość częstotliwości w warunkach obniżonego napięcia zasilania Frequency stability under low voltage conditions Współczynnik aktywności Duty cycle Czułość odbiornika Receiver sensitivity Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Blokowanie Blocking Tłumienie odbioru sygnałów niepożądanych Spurious response rejection Receiver spurious radiation EN V1.7.1 ( ) EN V1.5.1 ( ) EN V2.4.1 ( ) EN V2.4.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 12/18

13 Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia bliskiego zasięgu pracujące w zakresie częstotliwości od 1 GHz do 40 GHz Bezsznurowe urządzenia elektroakustyczne powszechnego użytku w zakresie częstotliwości od 863 MHz do 865 MHz Mikrofony bezprzewodowe w zakresie częstotliwości od 25 MHz do 3 GHz Równoważna moc promieniowana izotropowo (e.i.r.p.) Equivalent isotropically radiated power (e.i.r.p.) Dopuszczalny zakres częstotliwości pracy Permitted range of operating frequencies Unwanted emissions in the spurious domain Współczynnik aktywności Duty cycle Selektywność sąsiedniokanałowa Adjacent channel selectivity Blokowanie lub zmniejszenie czułości Blocking or desensitization Spurious emissions Odchyłka częstotliwości Frequency error Moc fali nośnej Carrier power Szerokość pasma kanału Channel bandwidth Spurious emissions and cabinet radiation Wstrzymanie działania nadajnika fonicznego Cordless audio transmitter shutoff Spurious emissions and cabinet radiation Stałość (odchyłka) częstotliwości Frequency stability Moc fali nośnej Rated output power Niezbędna szerokość pasma kanału Necessary bandwidth Spurious emissions Spurious emissions EN V1.6.1 ( ) EN V1.4.1 ( ) EN V1.4.1 ( ) EN V1.4.1 ( ) EN V1.4.2 ( ) EN V1.3.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 13/18

14 Badane obiekty / Grupa obiektów Szerokopasmowe urządzenia do transmisji danych w zakresach częstotliwości: od 5,15 GHz do 5,35 GHz oraz od 5,47 GHz do 5,725 GHz Urządzenia do transmisji danych w paśmie częstotliwości 2,4 GHz z widmem rozproszonym, w tym systemów WLAN wg standardów IEEE b/g/n, Bluetooth (IEEE ) oraz ZigBee (IEEE ) Nadajniki i przemienniki radiofoniczne AM o mocy do 1 kw Częstotliwości fal nośnych Carrier frequencies Zajmowana szerokość pasma w kanale Occupied Channel Bandwidth Moc wyjściowa RF, sterowanie mocą (TPC) oraz gęstość mocy RF output power, Transmit Power Control (TPC) and power density poza pasmami RLAN 5 GHz Transmitter unwanted emissions outside the 5 GHz RLAN bands w granicach pasm RLAN 5 GHz Transmitter unwanted emissions within the 5 GHz RLAN bands Receiver spurious emissions 3. Dynamiczny wybór częstotliwości (DFS) Dynamic Frequency Selection (DFS) 4. Adaptacyjny mechanizm dostępu do kanału radiowego Adaptivity (channel access mechanism) Równoważna moc promieniowana Equivalent isotropic radiated power Szczytowa gęstość mocy Maximum e.i.r.p. spectral density Zakres częstotliwości urządzenia Frequency range Transmitter spurious emissions Receiver spurious emissions Parametr: Parameter: Moc wyjściowa nadajnika Rated output power Stałość częstotliwości Frequency drift Spurious emissions Emisje pozapasmowe Out-of-band emissions Promieniowania od obudowy Cabinet radiation EN V1.7.1 ( ) EN V1.7.1 ( ) EN V1.1.1 ( ) EN V1.1.1 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 14/18

15 Badane obiekty / Grupa obiektów Nadajniki i przemienniki radiofoniczne FM o mocy do 1 kw Urządzenia radiowych stacjonarnych sieci dostępowych Parametr: Parameter: Moc wyjściowa nadajnika Rated output power Stałość częstotliwości Frequency drift Stałość dewiacji Deviation sensitivity stability Resztkowa AM (przydźwięk i szum) Residual AM (Hum and noise) Synchroniczna AM Synchronous AM (AM due to FM) Ograniczenie dewiacji Deviation limiting Stosunek sygnału do szumu (SNR) FM Signal to Noise Ratio (SNR) Spurious emissions Blokowanie nadajnika w czasie zmiany częstotliwości Transmitter muting during frequency shift Emisje pozapasmowe Out-of-band emissions Promieniowania od obudowy Cabinet radiation Zakres mocy wyjściowej Transmitter output power Odchyłka / stałość częstotliwości (tolerancja częstotliwości RF) Transmitter output frequency error / stability (output frequency tolerance) Moc w kanale sąsiednim Adjacent channel power Transmitter spurious emissions odbiornika Receiver spurious emissions Czułość odbiornika Minimum RSL Podatność na zakłócenia: zakłócenia wspólnokanałowe Interference sensitivity: Co-channel interference Podatność na zakłócenia: selektywność sąsiedniokanałowa Interference sensitivity: Adjacent channel interference Podatność na zakłócenia: zakłócenie falą ciągłą Interference sensitivity: CW interference EN V1.2.1 ( ) EN V1.2.1 ( ) EN V1.2.2 ( ) Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 15/18

16 Badane obiekty / Grupa obiektów Terminale sieci GSM Urządzenia mikrofalowe: stacje satelitarne lub stacje linii radiowych w trybie GPRS EN V9.0.2 ( ) w konfiguracji z wieloma szczelinami Output RF spectrum in GPRS multislot configuration Niepożądane emisje przewodzone, MS z przydzielonym kanałem radiowym Conducted spurious emissions - MS allocated a channel Niepożądane emisje przewodzone, MS w trybie śledzenia kanału sterującego Conducted spurious emissions - MS in idle mode Niepożądane emisje promieniowane, MS z przydzielonym kanałem radiowym Radiated spurious emissions - MS in allocated mode Niepożądane emisje promieniowane, MS w trybie śledzenia kanału sterującego Radiated spurious emissions - MS in idle mode Częstotliwość fali nośnej nadajnika stacji PN-EN :2000 p. 3.3 satelitarnej lub stacji linii radiowej PN-EN :2000 p. 5.1 Gęstość widmowa mocy nadajnika stacji PN-EN :2002 p. 3 satelitarnej lub stacji linii radiowej PN-EN :2000 p. 5.1 Moc wyjściowa nadajnika stacji PN-EN :2000 p. 3.3 satelitarnej lub stacji linii radiowej PN-EN :2000 p. 5.1 Gęstość widmowa mocy w kanałach PN-EN :2002 p. 3 sąsiednich nadajnika stacji satelitarnej lub PN-EN :2000 p. 3.3 stacji linii radiowej Poziom sygnałów niepożądanych PN-EN :2000 p. 3.3 nadajnika stacji satelitarnej lub stacji linii radiowej Poziom sygnałów niepożądanych na PN-EN :2000 p. 3.3 wejściach urządzeń odbiorczych Wersja strony:a Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 16/18

17 LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH (LBUT) Zespół Badań Bezpieczeństwa Użytkowania Urządzeń (LB-3) ul. Szachowa 1, Warszawa Badane obiekty / Grupa obiektów Urządzenia techniki informatycznej i urządzenia zasilające w telekomunikacji Elektroniczne urządzenia foniczne, wizyjne i podobne Cechy i właściwości dla potrzeb oceny bezpieczeństwa użytkowania: - znakowanie; czytelność, trwałość - ochrona przed porażeniem elektrycznym - napięcia w obwodach SELV i obwodach TNV - obwody o ograniczonym prądzie - moc źródeł o ograniczonej mocy - zabezpieczenia nadprądowe - materiały i klasa izolacji elektrycznej - odstępy izolacyjne powietrzne, powierzchniowe i grubość izolacji - badanie okablowania i przewodów zasilających - wytrzymałość mechaniczna - temperatura materiałów i elementów - prąd dotykowy - wytrzymałość elektryczna napięcia w kablowym systemie dystrybucyjnym Cechy i właściwości dla potrzeb oceny bezpieczeństwa użytkowania: - znakowanie; czytelność, trwałość - temperatura materiałów i elementów - ochrona przed porażeniem elektrycznym - wytrzymałość mechaniczna - odstępy izolacyjne powietrzne, powierzchniowe i skrośne - stabilność mechaniczna i mocowania mechaniczne PN-EN :2007 +A1:2011 +A11:2009 +A12:2011 PN-EN 60529:2003 pkt. 11, 12, 13 PN-EN 60065:2004 +A1:2010 +A2:2011 +A11:2009 +A12:2011 PN-EN :2007 +A1:2011 +A11: A12:2011 PN-EN :2000 PN-EN 60990:2002 Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 17/18

18 Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AB 121 Status zmian: wersja pierwotna - A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW BADAWCZYCH TADEUSZ MATRAS dnia: r. Dział Akredytacji Laboratoriów Badawczych Wydanie nr 12, 12 maja 2014 r. str. 18/18

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14, Data wydania: 29 lipca 2015 r. AB 121 Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 121 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 7, Data wydania: 5 stycznia 2009 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 310

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 310 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 310 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 17 sierpnia 2016 r. Nazwa i adres AB 310 INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 17 listopada 2014 r. Nazwa i adres AB 295

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12, Data wydania: 20 grudnia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 11 stycznia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 17, Data wydania: 23 października 2018 r. Nazwa i adres AB

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9, Data wydania: 17 sierpnia 2010 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO SCOPE OF ACCREDITATION FOR TESTING LABORATORY Nr/No AB 310

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO SCOPE OF ACCREDITATION FOR TESTING LABORATORY Nr/No AB 310 PCA ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO SCOPE OF ACCREDITATION FOR TESTING LABORATORY Nr/No AB 310 Zakres akredytacji Nr AB 310 Scope of accreditation No AB 310 wydany przez / issued by POLSKIE

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 207

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 207 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 207 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 25 listopada 2016 r. AB 207 Nazwa i adres

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 045

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 045 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 045 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 1 września 2016 r. Nazwa i adres AB 045 Kod

Bardziej szczegółowo

Badane cechy i metody badawcze/pomiarowe

Badane cechy i metody badawcze/pomiarowe Zakres akredytacji dla Laboratorium Badań Kompatybilności Elektromagnetycznej i Pomiarów Pól Elektromagnetycznych (LBEMC) Nr AB 171 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji ważny do 16 maja 2018 r. Badane

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 197

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 197 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 197 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9 Data wydania: 26 czerwca 2014 r. Nazwa i adres INSTYTUT ZAAWANSOWANYCH

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 10 marca 2017 r. Nazwa i adres: INSTYTUT ENERGETYKI

Bardziej szczegółowo

Wykaz aktualnych norm EMC przetłumaczonych przez Komitet Techniczny 104 na język polski (stan: luty 2013)

Wykaz aktualnych norm EMC przetłumaczonych przez Komitet Techniczny 104 na język polski (stan: luty 2013) Wykaz aktualnych norm EMC przetłumaczonych przez Komitet Techniczny 104 na język polski (stan: luty 2013) 1. W nawiasach podano rok przyjęcia normy oryginalnej, na podstawie której przyjęto PN. 2. Dla

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 848

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 848 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 848 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 29 października 2018 r. AB 848 Nazwa i adres

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 323 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 24 lutego 2015 r. Nazwa i adres: AB 323 INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

Przepisy i normy związane:

Przepisy i normy związane: Przepisy i normy związane: 1. Ustawa z dnia 10 kwietnia 1997 roku Prawo energetyczne. 2. Rozporządzenie Ministra Gospodarki z dnia 4 maja 2007 roku w sprawie szczegółowych warunków funkcjonowania systemu

Bardziej szczegółowo

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska Opracowanie na postawie: Frank Karlsen, Nordic VLSI, Zalecenia projektowe dla tanich systemów, bezprzewodowej transmisji danych cyfrowych, EP

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 401

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 401 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 401 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15, Data wydania: 18 sierpnia 2016 r. Nazwa i adres AB 401

Bardziej szczegółowo

ZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A.

ZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A. Przedstawiony formularz umożliwia wybór badań będących przedmiotem zamówienia, sporządzenia planu badań. Dla ułatwienia wyboru przedstawiono krótką charakterystykę techniczną możliwości badawczych, oraz

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 1 do Standardu technicznego nr 3/DMN/2014 dla układów elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej w TAURON Dystrybucja S.A.

Załącznik nr 1 do Standardu technicznego nr 3/DMN/2014 dla układów elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej w TAURON Dystrybucja S.A. Załącznik nr 1 do Standardu technicznego nr 3/DMN/2014 dla układów elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej w TAURON Dystrybucja S.A. Przepisy i normy związane Obowiązuje od 15 lipca 2014 roku

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 15 kwietnia 2016 r.. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 124

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 124 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 124 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 17 Data wydania: 12 września 2017 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

STRATEGIA LABORATORIUM AUTOMATYKI I TELEKOMUNIKACJI IK W ZAKRESIE PROWADZENIA BADAŃ SYSTEMU GSM-R

STRATEGIA LABORATORIUM AUTOMATYKI I TELEKOMUNIKACJI IK W ZAKRESIE PROWADZENIA BADAŃ SYSTEMU GSM-R STRATEGIA LABORATORIUM AUTOMATYKI I TELEKOMUNIKACJI IK W ZAKRESIE PROWADZENIA BADAŃ SYSTEMU GSM-R mgr inż.. Artur DłużniewskiD 1 1 Wybrane prace realizowane w Laboratorium Automatyki i Telekomunikacji

Bardziej szczegółowo

Badania charakterystyki wyrobu i metody badawcze. Kompatybilność elektromagnetyczna Odporność uzbrojenia na wyładowania elektrostatyczne.

Badania charakterystyki wyrobu i metody badawcze. Kompatybilność elektromagnetyczna Odporność uzbrojenia na wyładowania elektrostatyczne. Zakres akredytacji OiB dla Laboratorium Badań Kompatybilności Elektromagnetycznej i Pomiarów Pól Elektromagnetycznych (LBEMC) Nr 27/MON/2014 wydany przez Wojskowe Centrum Normalizacji, Jakości i Kodyfikacji

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 361

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 361 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 361 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12 Data wydania: 26 lipca 2017 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 272

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 272 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 272 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 10, Data wydania: 17 lipca 2012 r. Nazwa i adres AB 272 INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1333

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1333 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1333 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9 Data wydania: 15 lutego 2018 r. AB 1333 Nazwa i adres UNI-NET

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 24 Data wydania: 7 września 2018 r. Nazwa i adres: OŚRODEK BADAŃ

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 04 listopada 2016 r. Nazwa i adres AB 067 INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 13 lipca 2018 r.. Nazwa i adres INSTYTUT TECHNIKI

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 22 września 2015 r. AB 067 Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 23 Data wydania: 4 września 2017 r. Nazwa i adres: OŚRODEK BADAŃ

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Numer referencyjny: IK.PZ-380-06/PN/18 Załącznik nr 1 do SIWZ Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego pn. Dostawa systemu pomiarowego do badań EMC,

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 7 Data wydania: 19 września 2014 r. Nazwa i adres EWA NICGÓRSKA-DZIERKO

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1115 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 6 Data wydania: 4 września 2013 r. Nazwa i adres EWA NICGÓRSKA-DZIERKO

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 15 Data wydania: 4 listopada 2014 r. Nazwa i adres AB 269 ZAKŁAD

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 22 Data wydania: 11 lipca 2016 r. Nazwa i adres: OŚRODEK BADAŃ

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 067 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 8., Data wydania: 16 października 2009 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY z dnia 6 sierpnia 2002 r. w sprawie urządzeń radiowych nadawczych lub nadawczoodbiorczych, które mogą być

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY z dnia 6 sierpnia 2002 r. w sprawie urządzeń radiowych nadawczych lub nadawczoodbiorczych, które mogą być ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY z dnia 6 sierpnia 2002 r. w sprawie urządzeń radiowych nadawczych lub nadawczoodbiorczych, które mogą być używane bez pozwolenia. (Dz. U. Nr 38, poz. 6 Na podstawie

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

Laboratoria. badawcze i wzorcujące

Laboratoria. badawcze i wzorcujące Laboratoria badawcze i wzorcujące Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) Laboratorium Badań Urządzeń Telekomunikacyjnych (LBUT) działa przy Zakładzie Badań Systemów i Urządzeń (Z-1). LBUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 039 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 8 września 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 900

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 900 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 900 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9 Data wydania: 22 stycznia 2018 r. Nazwa i adres MILAB Czesław

Bardziej szczegółowo

Radiotelefon Motorola DP2600e

Radiotelefon Motorola DP2600e Strefa 998 - Sprzęt Strażacki Wietszyce 41 67-221 Białołęka tel: 723 895 900 Radiotelefon Motorola DP2600e link do produktu: http://strefa998.pl/motorola/1276-motorola-dp2600-vhf-mototrbo-professional-radiotelefon-cyfro

Bardziej szczegółowo

Zakres akredytacji laboratorium AB 045

Zakres akredytacji laboratorium AB 045 Systemy alarmowe Centrale alarmowe Pasywne czujki podczerwieni Aktywne czujki podczerwieni Ultradźwiękowe czujki Mikrofalowe czujki Czujki magnetyczne Pasywne czujki stłuczenia Sygnalizatory Systemy transmisji

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1340 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul.

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1340 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1340 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 4 Data wydania: 1 grudnia 2014 r. Nazwa i adres AB 1340 Ośrodek

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 13 lipca 2018 r. Nazwa i adres INSTYTUT TECHNIKI

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 10 grudnia 2010 r. Nazwa i adres AB 269 ZAKŁAD

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZ REGULOWANY Z ROZDZIELACZEM WPA-225R

WZMACNIACZ REGULOWANY Z ROZDZIELACZEM WPA-225R WZMACNIACZ REGULOWANY Z ROZDZIELACZEM WPA-225R WZMACNIACZE ANTENOWE DO PRACY W ZAKRESIE 88MHz 790MHz dystrybucja: HFO Elektronik ul. Nałęczowska 62, 02-922 Warszawa tel. 022 651 98 28 www.hfo.pl e-mail:

Bardziej szczegółowo

AKTYWNY ROZDZIELACZ SYGNAŁÓW ARS-113Z

AKTYWNY ROZDZIELACZ SYGNAŁÓW ARS-113Z AKTYWNY ROZDZIELACZ SYGNAŁÓW ARS-113Z ROZDZIELACZE SYGNAŁU DO PRACY W ZAKRESIE 88MHz 790MHz dystrybucja: HFO Elektronik ul. Nałęczowska 62, 02-922 Warszawa tel. 022 651 98 28 www.hfo.pl e-mail: zam@hfo.pl

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

Lekcja 20. Temat: Detektory.

Lekcja 20. Temat: Detektory. Lekcja 20 Temat: Detektory. Modulacja amplitudy. (AM z ang. Amplitude Modulation) jeden z trzech podstawowych rodzajów modulacji, polegający na kodowaniu sygnału informacyjnego (szerokopasmowego o małej

Bardziej szczegółowo

Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń

Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń mgr inż. ROMAN PIETRZAK Instytut Technik Innowacyjnych EMAG Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń Omówiono problemy wynikłe w pracy urządzeń podczas oceny ich funkcjonowania

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1241

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1241 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1241 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 25 lipca 2016 r Nazwa i adres CENTRUM TECHNIKI

Bardziej szczegółowo

Polaryzacja anteny. Polaryzacja pionowa V - linie sił pola. pionowe czyli prostopadłe do powierzchni ziemi.

Polaryzacja anteny. Polaryzacja pionowa V - linie sił pola. pionowe czyli prostopadłe do powierzchni ziemi. Parametry anten Polaryzacja anteny W polu dalekim jest przyjęte, że fala ma charakter fali płaskiej. Podstawową właściwością tego rodzaju fali jest to, że wektory natężenia pola elektrycznego i magnetycznego

Bardziej szczegółowo

Zarządzenie Nr Prezesa Urzędu Komunikacji Elektronicznej z dnia.

Zarządzenie Nr Prezesa Urzędu Komunikacji Elektronicznej z dnia. Zarządzenie Nr Prezesa Urzędu Komunikacji Elektronicznej z dnia. w sprawie planu zagospodarowania częstotliwości dla zakresów 452,5-460,0 MHz oraz 462,5-470,0 MHz Na podstawie art. 112 ust. 1 pkt 2 ustawy

Bardziej szczegółowo

Sygnał vs. szum. Bilans łącza satelitarnego. Bilans energetyczny łącza radiowego. Paweł Kułakowski. Zapewnienie wystarczającej wartości SNR :

Sygnał vs. szum. Bilans łącza satelitarnego. Bilans energetyczny łącza radiowego. Paweł Kułakowski. Zapewnienie wystarczającej wartości SNR : Sygnał vs. szum Bilans łącza satelitarnego Paweł Kułakowski Bilans energetyczny łącza radiowego Zapewnienie wystarczającej wartości SNR : 1 SNR i E b /N 0 moc sygnału (czasem określana jako: moc nośnej

Bardziej szczegółowo

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY 1) z dnia 30 grudnia 2009 r.

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY 1) z dnia 30 grudnia 2009 r. Dziennik Ustaw Nr 2 585 Poz. 8 6. 57,0 66,0 GHz 40 dbm e.i.r.p. oraz gęstość mocy 13 dbm/mhz e.i.r.p. 25 dbm e.i.r.p. oraz gęstość mocy -2 dbm/mhz e.i.r.p. b) w aneksie nr 6 dodaje się poz. 12 w brzmieniu:

Bardziej szczegółowo

FTF-S1XG-S31L-010D. Moduł SFP+ 10GBase-LR/LW, jednomodowy, 10km, DDMI. Referencja: FTF-S1XG-S31L-010D

FTF-S1XG-S31L-010D. Moduł SFP+ 10GBase-LR/LW, jednomodowy, 10km, DDMI. Referencja: FTF-S1XG-S31L-010D FTF-S1XG-S31L-010D Moduł SFP+ 10GBase-LR/LW, jednomodowy, 10km, DDMI Referencja: FTF-S1XG-S31L-010D Opis: Moduł SFP+ FTF-S1XG-S31L-010D to interfejs 10Gb przeznaczony dla urządzeń pracujących w sieciach

Bardziej szczegółowo

Systemy Bezprzewodowe. Paweł Kułakowski

Systemy Bezprzewodowe. Paweł Kułakowski Systemy Bezprzewodowe Paweł Kułakowski Tematyka kursu - lata komunikacji bezprzewodowej Gwałtowny rozwój sieci bezprzewodowych w ostatnich latach: rozwój urządzeń (smartfony, tablety, laptopy) i aplikacji

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 21 Data wydania: 11 lutego 2019 r. Nazwa i adres AB 269 ZAKŁAD

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 10, Data wydania: 9 sierpnia 2016 r. Nazwa i adres AB 1100

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 14 marca 2016 r.

wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 14 marca 2016 r. ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1033 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 14 marca 2016 r. Nazwa i adres WOJSKOWY

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 665 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 10 Data wydania: 19 sierpnia 2014 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 21 Data wydania: 18 grudnia 2018 r. Nazwa i adres ROMB SPÓŁKA

Bardziej szczegółowo

dr inż. Paweł A. Mazurek Instytut Elektrotechniki i Elektrotechnologii Wydział Elektrotechniki i Informatyki Politechnika Lubelska Ul.

dr inż. Paweł A. Mazurek Instytut Elektrotechniki i Elektrotechnologii Wydział Elektrotechniki i Informatyki Politechnika Lubelska Ul. dr inż. Paweł A. Mazurek Instytut Elektrotechniki i Elektrotechnologii Wydział Elektrotechniki i Informatyki Politechnika Lubelska Ul. Nadbystrzycka 38A, 20-416 Lublin p.mazurek@pollub.pl Kompatybilność

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 096

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 096 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 096 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11 Data wydania: 6 kwietnia 2016 r. Nazwa i adres AP 096

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 063

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 063 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 063 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5 Data wydania: 21 grudnia 2007 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 02-699 Warszawa ul. Kłobucka 23 A wejście B Wydanie nr 4, Data wydania: 28 lutego 2005 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

METODYKA PROJEKTOWANIA I TECHNIKA REALIZACJI. Wykład drugi Normy techniczne polskie i europejskie Regulacje prawne

METODYKA PROJEKTOWANIA I TECHNIKA REALIZACJI. Wykład drugi Normy techniczne polskie i europejskie Regulacje prawne METODYKA PROJEKTOWANIA I TECHNIKA REALIZACJI Wykład drugi Normy techniczne polskie i europejskie Regulacje prawne Czy należy stosować się do norm technicznych? Stosowanie w procesie projektowania i wytwarzania

Bardziej szczegółowo

Seria 7E licznik energii

Seria 7E licznik energii Cechy Licznik energii (kwh) jednofazowy Typ 7E.13 5(32)A szerokość 1 modułu Typ 7E.16 10(65)A szerokośc 2 modułów Zgodny z EN 62053-21 i EN 50470 Zgodny z dyrektywą UE 2004/22/EG (Dyrektywa o Instrumentach

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12, Data wydania: 8 listopada 2017 r. Nazwa i adres AB 1100

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 10 września 2013 r. Nazwa i adres METALPLAST

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 196 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 20 Data wydania: 17 lipca 2018 r. Nazwa i adres ROMB SPÓŁKA

Bardziej szczegółowo

Wymagania w zakresie urządzeń EAZ.

Wymagania w zakresie urządzeń EAZ. Wymagania w zakresie urządzeń EAZ. 1. Dokumenty jakości. Wymaga się, aby kwalifikowane urządzenia EAZ spełniały odpowiednie wymagania w zakresie: jakości i bezpieczeństwa. Wymagania te powinny być potwierdzone

Bardziej szczegółowo

Specyfikacja Techniczna dla Złącza Obrotowego (ZZO)

Specyfikacja Techniczna dla Złącza Obrotowego (ZZO) Specyfikacja Techniczna dla Złącza Obrotowego (ZZO) I. Wymagania ogólne 1 Zastosowanie złącza obrotowego: Systemy naziemne 2 Prędkość obrotowa: Obroty ciągłe z prędkością kątową: 6 lub 12 obrotów na minutę

Bardziej szczegółowo

Warszawa, dnia 25 stycznia 2019 r. Poz. 151

Warszawa, dnia 25 stycznia 2019 r. Poz. 151 Warszawa, dnia 25 stycznia 2019 r. Poz. 151 ROZPORZĄDZENIE MINISTRA PRZEDSIĘBIORCZOŚCI I TECHNOLOGII 1) z dnia 10 stycznia 2019 r. zmieniające rozporządzenie w sprawie wymagań, którym powinny odpowiadać

Bardziej szczegółowo

URZĄDZENIA TELETRANSMISYJNE

URZĄDZENIA TELETRANSMISYJNE URZĄDZENIA TELETRANSMISYJNE Transmisyjnych systemy abonenckie. a) Typ pomiaru: Pomiar tłumienności wynikowej kanału w funkcji częstotliwości. b) Wymaganie: Zgodnie z zaleceniem ITU-T G.712, pkt. 2.2. rys.

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 324

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 324 PCA Zakres akredytacji Nr AB 324 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 324 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11 Data wydania: 8 lutego 2012

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 504

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 504 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 504 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11 Data wydania: 28 kwietnia 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

Radiowe i telekomunikacyjne urządzenia końcowe (RTTE)

Radiowe i telekomunikacyjne urządzenia końcowe (RTTE) Dyrektywa 1 PN-EN 41003:2012 Podstawowe wymagania bezpieczeństwa dotyczące urządzeń przeznaczonych do podłączenia do sieci telekomunikacyjnych i/lub kablowego systemu rozdzielczego EN 41003:2008 10.08.2010

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 269 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 18 Data wydania: 5 lipca 2017 r. Nazwa i adres AB 269 ZAKŁAD

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 143

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 143 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 143 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 16 Data wydania: 25 stycznia 2017 r. AB 143 Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ EMC UL. SWOJCZYCKA 38, 51-501 WROCŁAW T: (+48) 71 3699 824 F: (+48) 71 3728 878 E-mail: lb-emc@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/laboratorium-badan-emc

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1100 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14, Data wydania: 10 stycznia 2019 r. Nazwa i adres AB 1100

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY

INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY LABORATORIUM BADAŃ URZĄDZEŃ TELEKOMUNIKACYJNYCH UL. SZACHOWA 1, 04-894 WARSZAWA T: (+48) 22 5128 360 F: (+48) 22 5128 180 E-mail: lbut@itl.waw.pl www.itl.waw.pl/lbut

Bardziej szczegółowo

Projektowanie układów scalonych do systemów komunikacji bezprzewodowej

Projektowanie układów scalonych do systemów komunikacji bezprzewodowej Projektowanie układów scalonych do systemów komunikacji bezprzewodowej Część 1 Dr hab. inż. Grzegorz Blakiewicz Katedra Systemów Mikroelektronicznych Politechnika Gdańska Ogólna charakterystyka Zalety:

Bardziej szczegółowo