Podstawy Mikroelektroniki
|
|
- Katarzyna Markowska
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Wydział IEiT Katedra Elektroniki Podstawy Mikroelektroniki Temat ćwiczenia: Nr ćwiczenia 3 Analiza sygnałów z detektora paskowego 2016 r. Rev.1.1
2 I. Cel ćwiczenia a) Pomiar sygnałów z detektora paskowego b) Opracowanie programu do analizy sygnałów w środowisku Matlab (na podstawie otrzymanych danych) c) Przeprowadzenie analizy sygnałów d) Przygotowanie sprawozdania II. Wstęp teoretyczny Wstęp teoretyczny powstał w oparciu o pracę inżynierską: M. Czarniecki System do badań detektorów paskowych z użyciem promieniowania podczerwonego. Detektor paskowy - teoria Krzemowy detektor paskowy pełni rolę urządzenia, które rejestruje promieniowanie i jego zasada działania opiera się na wykorzystaniu złącza p-n. Jest ono spolaryzowane zaporowo. Detektor zamienia wiązkę fotonów na strumień elektronów odtwarzający wiernie docierające do niego kwanty światła. Historia detektorów krzemowych zaczyna się w latach 50 XX wieku, a pierwsze próby wykorzystania ich jako detektory pozycyjne przypadają na rok 1980, kiedy to J.Kemmer zastosował znaną technologię wytwarzania elementów półprzewodnikowych, aby otrzymać krzemowy detektor paskowy (technologia planarna). Właśnie wtedy pojawiły się możliwości wykonania detektorów o dużych powierzchniach. Detektory paskowe są czułe na promieniowanie jonizujące oraz podczerwone i są w stanie zarejestrować pojedyncze fotony padające na powierzchnie detektora. Krzemowe detektory paskowe znajdują zastosowania w wielu dziedzinach badawczych takich jak: fizyka jądrowa i fizyka wysokich energii, medycyna, astrofizyka, biofizyka. Detektor paskowy jednostronny - jest to taki detektor w którym złącza p-n są wykonane w postaci pasków ( z ang. Strips). Dzięki takiemu rozwiązaniu będziemy mogli uzyskać informacje o pozycji przejścia cząstki. Jedna strona takiego detektora nazywana jest stroną złączową, na niej znajdują się złącza p+-n. Natomiast druga strona jest nazywana stroną omową. Na rysunku 1 przedstawiona została topologia detektora paskowego. Każdy pasek jest podłączony do rezystora polaryzującego, zasilany z linii zasilającej i podłączony do wzmacniacza ładunkowego. Paskowe diody p-n wytwarzane są na płytce krzemowej typu n o rezystywności 5 kωcm. Każda dioda jest zasilana niezależnie przez rezystor polaryzujący. Rezystancja rezystora polaryzującego powinna być duża, ponieważ wartość ta wpływa na szum detektora. Paski metalowe, które są podłączone do elektroniki odczytu zostają wytworzone nad powierzchnią diod. Dzięki takiemu rozwiązaniu odcina się składową stałą prądu upływu. Paski metalowe realizują sprzężenie pojemnościowe pomiędzy wejściem wzmacniacza ładunkowego a diodą. Diody spolaryzowana są w kierunku zaporowym, dzięki temu tworzy nam się obszar zubożony. Obszar zubożony można powiększać przykładając dodatkowe napięcie. Ze względu na napięcie przebicia złącza i problemy związane z zasilaniem detektorów, napięcie pełnego zubożenia detektora powinno być stosunkowo niskie.
3 Rys. 1. Topologia jednostronnego detektora paskowego.[1] Odległość między sąsiednimi paskami jest istotnym parametrem. Parametr ten decyduje o dokładności wyznaczenia toru cząstki. Im większa będzie gęstość pasków, tym większa będzie dokładność. Jednak odległość nie może być również zbyt mała, ponieważ ładunek wygenerowany przez jedną cząstkę rozpłynie się na kilka pasków co pogorszy rozdzielczość pozycyjną detektora. Jeśli chodzi o grubość detektorów, to jest ona zależna od wartości stosunku sygnał-szum (SNR) jaki chcemy uzyskać. Cząstka minimalnie jonizująca generuje w detektorze o grubości 300 µm średnio 32 tysiące par elektron-dziura, dlatego w praktyce grubość detektora krzemowego jest równa około 300 µm. Dzięki elektronice niskoszumnej jesteśmy w stanie odczytać taki sygnał. Detektor i elektronika odczytowa wykorzystywana podczas laboratorium Detektor wykorzystywany w projekcie był jednostronnym detektorem paskowym typu DC. W detektorach o sprzężeniu stałoprądowym DC złącza p+ są bezpośrednio połączone z metalowym paskiem umożliwiającym odbiór zdeponowanych ładunków. Każda z diod jest połączona po stronie p+ do polikrzemowego opornika. Poprzez opornik, diody dołączone są do wspólnej szyny, która polaryzuje wszystkie złącza p-n w kierunku zaporowym.
4 Rys. 2. Testowany detektor. Parametry detektora: Wymiary detektora: 9,5x9,5 cm2 Ilość pasków: 768 Odległość między paskami (ang. Pitch) 121 µm Sygnał z pasków odczytywany jest za pomocą sześciu układów VA_SCM2. Pojedynczy układ VA_SCM2 posiada 128 niskoszumnych kanałów odczytowych pracujących równolegle. Chip zaprojektowany został dla detektorów ze sprzężeniem DC. W warunkach pracy układu straty mocy wynoszą około 10 mw, a gdy układ jest w stanie gotowości straty wynoszą zaledwie 5 mw. Schemat pojedynczego wzmacniacza możemy zobaczyć na rysunku 3.
5 Rys. 3. Schemat jednego ze 128 wzmacniaczy zastosowanych w układzie VA_SCM2. [2] Największą zaletą oraz najciekawszą cechą układu VA_SCM2 jest brak czasu martwego podczas akwizycji danych. Implementacja podwójnego układu S&H (Sample and Hold) dla każdego kanału umożliwia jednoczesne zbieranie ładunku i odczyt ładunku, który został zgromadzony w poprzednim cyklu. Te cechy pozwalają użytkownikowi na zebranie wysokich statystyk pomiarów w bardzo ograniczonym czasie ekspozycji. Za wybór kanału S&H odpowiedzialny jest sygnał SMP1. Sygnał SEL 1 decyduje, który kondensator będzie odczytywany. Tryb normalny pracy układu przedstawiono na Rys. 4. Rys. 4. Przebiegi czasowe dla pracy układu w trybie normalnym.[2] Stanowisko pomiarowe Test polega na pomiarze sygnału z detektora podczas oświetlania światłem lasera. Detektor jest umieszczony w szczelnie zamykanej kabinie, aby nie dostawało się tam zewnętrzne światło, które spowodowałoby zakłócenie pomiaru. Sterowaniem wiązki laserowej zajmuje się robot MICOS, który jest sterowany za pomocą programu napisanego w środowisku LabVIEW. Przesuwając wiązkę lasera wzdłuż jednej osi prostopadle do pasków możemy zarejestrować sygnał o konkretnym kształcie. Przy przesuwaniu źródła promieniowania prostopadle do pasków, przebieg sygnału z jednego kanału powinien przypominać kształt litery M. Powodem takiego kształtu przebiegu jest pasek metalowy, który znajduje się nad powierzchnią złącza p-n w detektorze. Gdy wiązka światła pada obok metalowego paska w złączu p-n, generowany jest ładunek, a detektor rejestruje sygnał. W momencie, gdy wiązka światła pada na metalowy pasek, światło zostaje odbite a wartość generowanego ładunku przez kanał maleje prawie do zera. W momencie, gdy wiązka minie metalowy pasek, ładunek w złączu p-n ponownie jest generowany. W programie LabVIEW przy braku światła detektor wskazuje wartość zero, natomiast im większe natężenie światła, tym bardziej ujemna wartość jest wyświetlana. Badanie detektora o tak dużej powierzchni powinno się odbywać w trzech różnych pozycjach. Wiązka światła porusza się w jednej płaszczyźnie prostopadle do pasków detektora. Na Rys. 5 można zaobserwować schemat badania detektorów paskowych. Źródło
6 promieniowania ustawiane jest w jednej z trzech pozycji, a następnie przesuwane jest wzdłuż jednej osi prostopadle do pasków. Rys. 5. Schemat badania detektora paskowego. Rys. 6. Schemat działania procesu pomiarowego. Rys. 6 przedstawia algorytm przeprowadzania pomiaru z detektor. Pierwszym krokiem jest kalibracja manipulatora MICOS. Następnie, zebrany zostaje piedestał, czyli sygnał przy nieoświetlonym detektorze. Piedestał jest różny dla każdego kanału, dlatego zbierany jest osobno dla każdego paska. Wartość piedestału wyznaczana jest przed pomiarem i jest to średnia arytmetyczna wartości odczytanych z danego kanału. Rys. 7 przedstawia piedestał dla próbek przy wyłączonym laserze. Wartość piedestału pozwala na ustalenie wartości zerowej dla każdego paska.
7 Rys. 7. Wyliczony piedestał. Na osi poziomej znajduje się numer paska, natomiast na osi pionowej znajduje się piedestał w jednostkach ADC. Następnym krokiem jest pomiar z włączonym laserem. Ilość próbek została ustawiona na 1000, dalej następuje rejestracja danych oraz przesunięcie ramienia robota o zadany krok 5μm (Rys. 8). Rys. 8. Wykres z jednego kanału detektora przy zmiennej pozycji źródła promieniowania podczerwonego.
8 [1] W. Kucewicz "Krzemowe detektory paskowe i ich zastosowanie w fizyce wysokich energii na przykładzie eksperymentu DELPHI", Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie, [2] M, Jastrząb, Praca Dyplomowa Opracowanie Interfejsu Graficznego Użytkownika dla obsługi i wizualizacji danych generowanych przez ultraszybkie kamery krzemowe z łączem USB2.0, Kraków 2003 Analiza danych z detektora paskowego Analiza danych powinna przebiegać według algorytmu przedstawionego poniżej: Dane wejściowe Tablica piedestałów Przetwornik analogowo-cyfrowy a) Obliczanie szumu skorelowanego i nieskorelowanego Odejmowanie piedestałów Tablica szumów nieskorelowanych Odejmowanie szumu skorelowanego b) Próg dyskryminacji Wyznaczanie stosunku sygnału do szumu Wyszukiwanie sygnałów powyżej progu dyskryminacji c) Dane wyjściowe d) Rys. 9. Algorytm analizy danych z detektora paskowego.
9 Rys. 9 przedstawia kolejne etapy analizy sygnałów z detektora. Dzięki analizie udaje się wyłonić dwa paski (6 i 7), które zarejestrowały sygnał promieniowania. Przyjrzyjmy się kolejnym etapom: Przed przystąpieniem do detekcji cząstek (w ciemności) należy zebrać sygnał z wszystkich pasków detektora tzw. piedestał. Pozwoli to na stworzenie tablicy piedestałów. Jeżeli zarejestrowaliśmy sygnał z pasków wielokrotnie (np. wykonując 1000 odczytów) to piedestał dla danego paska będzie średnią z wszystkich akwizycji. Po stworzeniu tablicy piedestałów możemy przystąpić do analizy sygnałów, w których spodziewamy się, że zmierzone zostało promieniowanie. Po akwizycji otrzymujemy wykres a). Z wykresu trudno cokolwiek wywnioskować. Pierwsze co można zrobić to odjąć piedestały od wszystkich pasków korzystając z tablicy piedestałów. W ten sposób można najłatwiej ustawić wspólny poziom odniesienia dla wszystkich pasków. Otrzymujemy wykres b). Widać, że prawdopodobnie paskami które zarejestrowały promieniowanie są paski 6 i 7. Nie wiadomo natomiast czy np. paski 4, 8 i 9 również coś wykryły czy są jedynie zaszumione. Kolejnym krokiem będzie odjęcie szumu skorelowanego. Szum skorelowany opisuje sytuację, w której np. podczas pomiaru ktoś w pokoju obok włączył wiertarkę, zadzwonił telefon, lub w okolicy wybuchła bomba. Szum skorelowany będzie oddziaływał tak samo na wszystkie paski. W wyniku zewnętrznych zakłóceń poziom sygnału z wszystkich pasków może wzrosnąć lub opaść. Szum skorelowany wyliczamy dla danego pomiaru (danej akwizycji). Jest to wartość średnia sygnałów z wszystkich pasków. Gdy od sygnału z rysunku b) odejmiemy szum skorelowany otrzymamy sygnał z rysunku c). Widać, że kształt wykresu się nie zmienił, został on natomiast przesunięty w dół o wyliczony offset (szum skorelowany). Szum nieskorelowany opisuje indywidualnie każdy pasek. Np. w wyniku błędów konstrukcyjnych, uszkodzeń itp. może się zdarzyć iż niektóre paski bardzo mocno szumią. Szum ten jest wtedy nieskorelowany z pozostałymi paskami ani z zewnętrznymi zakłóceniami. Szum nieskorelowany rozpatrujemy więc osobno dla każdego paska. Jest on wyznaczany jako odchylenie standardowe z wszystkich akwizycji zebranych dla danego paska (już po odjęciu piedestału). W ten sposób uzyskujemy tablicę szumów nieskorelowanych o długości odpowiadającej liczbie pasków. Możemy przejść do wyznaczenia stosunku sygnału do szumu. Aby tego dokonać dzielimy wartość bezwzględną sygnału z c) przez szum nieskorelowany. Otrzymujemy wykres d). Ostatnie co należy zrobić do ustalić próg dyskryminacji (detekcji), który będzie określał czy dany pasek wykrył promieniowanie (cząstkę) czy nie. Na wykresie d) w celu łatwiejszego zrozumienia próg detekcji został ustawiony na jednakowym poziomie dla wszystkich pasków (wartość 5). Należy jednak ustalać próg indywidualnie dla każdego paska. Próg detekcji jest wartością arbitralną. Można obliczać go np. jak średnią wartość obliczonego już SNR dla danego paska. Po ustaleniu progu detekcji należy sprawdzić czy SNR dla danej akwizycji oraz danego paska przekracza zadany próg. Jeśli tak to zapisujemy, że podczas akwizycji pasek zarejestrował promieniowanie (cząstkę).
10 III. Przebieg laboratorium 1. Analiza danych ze skanowania detektora (Matlab). Dane ze skanowania detektora są zapisane w plikach: stripdata.txt, ws_stripdata.txt oraz ss_stripdata.txt, które znajduje się w folderze z instrukcją (Pulpit). Ze względu na duży rozmiar pliki proszę otwierać tylko w środowisku Matlab. Pliki zostały zapisane podczas skanowania powierzchni detektora (Rys. 5, Pozycja 1). Skanowany był cały detektor (768 pasków). W plikach znajdują się następujące dane: czas integracji ładunku we wzmacniaczu długość impulsu resetującego układ sample & hold opóźnienie zegara przetwornika liczba pomiarów dla pojedynczego położenia źródła promieniowania (np oznacza, że wartość dla każdego paska została uśredniona z 3000 pomiarów) liczba układów użytych do pomiaru liczba pasków detektora położenie źródła promieniowania w mm (w zakresie od 160, do 255,981200) Po zaimportowaniu pliku do programu Matlab zostaje on podzielony na data oraz textdata. Textdata zawiera informacje o położeniu źródła promieniowania dane te należy wydobyć, gdyż będą potrzebne do narysowania wykresu. Data to tablica dwuwymiarowa, w której każdy wiersz zawiera uśredniony pomiar z wszystkich 768 pasków. Liczba wierszy powinna odpowiadać liczbie położeń źródła promieniowania. Od wszystkich pomiarów została odjęta wartość piedestału (Rys.7) dla odpowiadających im pasków. W związku wartość sygnału dla nieoświetlonego paska powinna być bliska 0. Zadania (Matlab) Wgrać plik stripdata.txt. Opracować dwie funkcje: zależność wartości odczytanych z detektora od numeru pasku (dla wybranego położenia źródła promieniowania) oraz zależność wartości odczytanych z detektora od położenia źródła promieniowania (dla wybranego paska). Obie funkcje powinny posiadać opis. Argumentami funkcji powinny być odpowiednio: numer paska oraz położenie źródła promieniowania. Wywołana funkcja powinna rysować odpowiedni wykres z opisem osi oraz jednostkami (ADC, mm lub bezwymiarowa w przypadku numeru paska). Analizując pliki ws_stripdata.txt oraz ss_stripdata.txt proszę porównać wartości amplitud pomiędzy plikami. Z czego wynikają te różnice? 2. Analiza danych z pomiaru cząstek przez detektor (Matlab). Zadania (Matlab) Proszę przeprowadzić analizę sygnałów z detektora paskowego zgodnie z algorytmem z Rys. 9 (oraz jego opisem). Analizę należy przeprowadzić w programie Matlab posługując się niedokończonym skryptem detektor.m. Analizie poddane będą pliki piedestal_dane.txt oraz sygnal_dane.txt. Pochodzą one z pomiarów
11 wykonanych detektorem o 255 paskach. Dokonano 1000 pomiarów sygnałów z wszystkich pasków. piedestal_dane.txt zawiera sygnał zebrany w ciemności (będzie potrzebny do stworzenia tablicy piedestałów). Natomiast sygnal_dane.txt zawiera pomiary cząstek i Państwa zadaniem jest wydobycie z pliku informacji o wykrytych cząstkach: ich całkowitej liczbie, przez który pasek zostały wykryte oraz podczas której z tysiąca akwizycji. Należy uzupełnić m-plik odpowiednimi obliczeniami. Efektem obliczeń musi być wyświetlenie wyników na wykresach. Należy wyświetlić wykresy przedstawiające następujące dane: (a) Wykres piedestałów (dla wszystkich pasków) (b) Wykres szumu skorelowanego (dla wszystkich akwizycji) (c) Wykres szumu nieskorelowanego (dla wszystkich pasków) (d) Wykres liczby cząstek od paska, który je wykrył (e) Wykres liczby cząstek od zdarzenia (akwizycji) podczas której zostały wykryte Po przeprowadzeniu analizy proszę odpowiedzieć na pytania: Czy któryś z pasków był zaszumiony (posiadał wysoki szum nieskorelowany)? Czy pomiar był wyraźnie zakłócony przez zewnętrzne czynniki (np. wiertarka)? Jaka wartość progu detekcji została wybrana? IV. Opracowanie wyników. Sprawozdanie z wykonania ćwiczenia powinno zaczynać się tabelką Podstawy mikroelektroniki Tytuł: Imię i Nazwisko: Numer zespołu: Data wykonania ćwiczenia: Wydział, rok, grupa: Uwagi: Ocena: Co powinno znaleźć się w sprawozdaniu: skrypty w Matlabie/LabVIEW/inny program wykorzystywane do analizy danych razem z opisem pełnionej funkcji Wykresy obrazujące działanie skryptu (możliwość wykreślenia zależności natężenia światła od numeru pasku oraz położenia źródła promieniowania) Skrypty oraz wykresy uzyskane podczas analizy danych zebranych podczas zajęć Odpowiedzi na pytania z instrukcji Wnioski odnoszące się m.in. do ew. błędów pomiarowych oraz szumów w zebranych danych (jakie może być ich pochodzenie?) Opracował: Piotr Dorosz
AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji LABORATORIUM NR 3
AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki LABORATORIUM NR 3 Podstawy mikroelektroniki Analiza sygnałów z detektora
Bardziej szczegółowoJ14. Pomiar zasięgu, rozrzutu zasięgu i zdolności hamującej cząstek alfa w powietrzu PRZYGOTOWANIE
J14 Pomiar zasięgu, rozrzutu zasięgu i zdolności hamującej cząstek alfa w powietrzu PRZYGOTOWANIE 1. Oddziaływanie ciężkich cząstek naładowanych z materią [1, 2] a) straty energii na jonizację (wzór Bethego-Blocha,
Bardziej szczegółowoE12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa
1/5 E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa Celem ćwiczenia jest poznanie podstaw zjawiska konwersji energii świetlnej na elektryczną, zasad działania fotoogniwa oraz wyznaczenie jego podstawowych
Bardziej szczegółowoΒ2 - DETEKTOR SCYNTYLACYJNY POZYCYJNIE CZUŁY
Β2 - DETEKTOR SCYNTYLACYJNY POZYCYJNIE CZUŁY I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadą działania detektorów pozycyjnie czułych poprzez pomiar prędkości światła w materiale scyntylatora
Bardziej szczegółowoWzmacniacze operacyjne
Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE
Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl
Bardziej szczegółowoStanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa
Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko
Bardziej szczegółowo1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego
1 I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej nietermicznego źródła promieniowania (dioda LD
Bardziej szczegółowoγ6 Liniowy Model Pozytonowego Tomografu Emisyjnego
γ6 Liniowy Model Pozytonowego Tomografu Emisyjnego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprezentowanie zasady działania pozytonowego tomografu emisyjnego. W doświadczeniu użyjemy detektory scyntylacyjne
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych złączowych Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów polowych złączowych
Bardziej szczegółowoBierne układy różniczkujące i całkujące typu RC
Instytut Fizyki ul. Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 6 Pracownia Elektroniki. Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC........ (Oprac. dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia:
Bardziej szczegółowoBudowa. Metoda wytwarzania
Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowo( L ) I. Zagadnienia. II. Zadania
( L ) I. Zagadnienia 1. Promieniowanie X w diagnostyce medycznej powstawanie, właściwości, prawo osłabienia. 2. Metody obrazowania naczyń krwionośnych. 3. Angiografia subtrakcyjna. II. Zadania 1. Wykonanie
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia
Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów
Bardziej szczegółowoE104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów
E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów Cele: Wyznaczenie charakterystyk dla diod i tranzystorów. Dla diod określa się zależność I d =f(u d ) prądu od napięcia i napięcie progowe U p. Dla tranzystorów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
Bardziej szczegółowoSprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii
P O L I T E C H N I K A G D A Ń S K A Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii Temat: Wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych modułu ogniw fotowoltaicznych i sprawności konwersji
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoNazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie
Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie Cel ćwiczenia: Obserwacja swobodnego spadania z wykorzystaniem elektronicznej rejestracji czasu przelotu kuli przez punkty pomiarowe. Wyznaczenie
Bardziej szczegółowoBogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 3 Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne SPIS TREŚCI Spis treści... 2 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Wymagania...
Bardziej szczegółowoWyznaczanie sił działających na przewodnik z prądem w polu magnetycznym
Ćwiczenie 11A Wyznaczanie sił działających na przewodnik z prądem w polu magnetycznym 11A.1. Zasada ćwiczenia W ćwiczeniu mierzy się przy pomocy wagi siłę elektrodynamiczną, działającą na odcinek przewodnika
Bardziej szczegółowoPodstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych
Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoIV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego
1 V. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności fotoprądu zwarcia i fotonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii słonecznej.
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTROTECHNIKI POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO
POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU KATEDRA LOGISTYKI I TRANSPORTU PRZEMYSŁOWEGO NR 1 POMIAR PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO Katowice, październik 5r. CEL ĆWICZENIA Poznanie zjawiska przesunięcia fazowego. ZESTAW
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Badanie własności przełączających diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie własności przełączających złącza p - n oraz wybranych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM ELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Wybór i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnego el ćwiczenia elem ćwiczenia jest poznanie wpływu ustawienia punktu pracy tranzystora na pracę wzmacniacza
Bardziej szczegółowoSprzęt i architektura komputerów
Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI
Bardziej szczegółowoPodstawy Mikroelektroniki
Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Wydział IEiT Katedra Elektroniki Podstawy Mikroelektroniki Temat ćwiczenia: Nr ćwiczenia 4 Analiza sygnałów z krzemowego fotopowielacza (SiPM) 2018 r. Rev.1.2 1 Prąd,
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
Ćwiczenie 7 PRMETRY MŁOSYGNŁO TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie niektórych parametrów małosygnałowych hybrydowego i modelu hybryd tranzystora bipolarnego. modelu Konspekt przygotowanie
Bardziej szczegółowoE12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa
E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa 1/5 E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa Celem ćwiczenia jest zapoznanie z podstawami zjawiska konwersji energii świetlnej na elektryczną,
Bardziej szczegółowoNarodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, Otwock-Świerk
Narodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, 05-400 Otwock-Świerk ĆWICZENIE L A B O R A T O R I U M F I Z Y K I A T O M O W E J I J Ą D R O W E J Zastosowanie pojęć
Bardziej szczegółowoWzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Bardziej szczegółowoZastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych
UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów
Bardziej szczegółowoIle wynosi całkowite natężenie prądu i całkowita oporność przy połączeniu równoległym?
Domowe urządzenia elektryczne są często łączone równolegle, dzięki temu każde tworzy osobny obwód z tym samym źródłem napięcia. Na podstawie poszczególnych rezystancji, można przewidzieć całkowite natężenie
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego w Warszawie Wydział Elektroniki LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI Grupa Podgrupa Data wykonania ćwiczenia Ćwiczenie prowadził... Skład podgrupy:
Bardziej szczegółowoWyznaczanie stosunku e/m elektronu
Ćwiczenie 27 Wyznaczanie stosunku e/m elektronu 27.1. Zasada ćwiczenia Elektrony przyspieszane w polu elektrycznym wpadają w pole magnetyczne, skierowane prostopadle do kierunku ich ruchu. Wyznacza się
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1
Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1 1/10 2/10 PODSTAWOWE WIADOMOŚCI W trakcie zajęć wykorzystywane będą następujące urządzenia: oscyloskop, generator, zasilacz, multimetr. Instrukcje
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości łuku prądu stałego
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM URZĄDZEŃ ELEKTRYCZNYCH Instrukcja
Bardziej szczegółowoPracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC
Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie ĆWICZENIE Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów C. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest praktyczno-analityczna ocena wartości
Bardziej szczegółowoSposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych
INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI ZAKŁAD RADIOKOMUNIKACJI Instrukcja laboratoryjna z przedmiotu Podstawy Telekomunikacji Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych Warszawa 2010r. 1. Cel ćwiczeń: Celem ćwiczeń
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKA. I. Scalony, trzykońcówkowy stabilizator napięcia II. Odprowadzanie ciepła z elementów półprzewodnikowych
LABORATORIUM ELEKTRONIKA I. Scalony, trzykońcówkowy stabilizator napięcia II. Odprowadzanie ciepła z elementów półprzewodnikowych Opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania, znajomość zagadnień (I): 1.
Bardziej szczegółowoCEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1.. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoImię i nazwisko (e mail) Grupa:
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail) Rok: Grupa: Zespół: Data wykonania: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 12: Przetworniki analogowo cyfrowe i cyfrowo analogowe budowa i zastosowanie. Ocena: Podpis
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET
Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną
Bardziej szczegółowoSzkoła z przyszłością. Zastosowanie pojęć analizy statystycznej do opracowania pomiarów promieniowania jonizującego
Szkoła z przyszłością szkolenie współfinansowane przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Narodowe Centrum Badań Jądrowych, ul. Andrzeja Sołtana 7, 05-400 Otwock-Świerk ĆWICZENIE
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa
Wydział PRACOWNIA FIZYCZNA WFiIS AGH Imię i nazwisko 1. 2. Temat: Rok Grupa Zespół Nr ćwiczenia Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..
Nazwisko... Data... Nr na liście... Imię... Wydział... Dzień tyg.... Godzina... Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa Początkowa wartość kąta 0.. 1 25 49 2 26 50 3 27 51 4 28 52 5 29 53 6 30 54
Bardziej szczegółowoĆwiczenie ELE. Jacek Grela, Łukasz Marciniak 3 grudnia Rys.1 Schemat wzmacniacza ładunkowego.
Ćwiczenie ELE Jacek Grela, Łukasz Marciniak 3 grudnia 2009 1 Wstęp teoretyczny 1.1 Wzmacniacz ładunkoczuły Rys.1 Schemat wzmacniacza ładunkowego. C T - adaptor ładunkowy, i - źródło prądu reprezentujące
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM TERMODYNAMIKI ĆWICZENIE NR 3 L3-1
L3-1 L3-2 L3-3 L3-4 L3-5 L3-6 L3-7 L3-8 L3-9 L3-10 L3-11 L3-12 L3-13 L3-14 L3-15 L3-16 L3-17 L3-18 L3-19 OPIS WYKONYWANIA ZADAŃ Celem pomiarów jest sporządzenie przebiegu charakterystyk temperaturowych
Bardziej szczegółowoĆw. III. Dioda Zenera
Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej
Ćwiczenie 6 LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej Opracował: Grzegorz Wiśniewski Zagadnienia do przygotowania Opisz budowę złączy światłowodowych. Opisz budowę lasera w tym lasera półprzewodnikowego.
Bardziej szczegółowoBadanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Badanie działania
Bardziej szczegółowoBadanie diod półprzewodnikowych
Badanie diod półprzewodnikowych Proszę zbudować prosty obwód wykorzystujący diodę, który w zależności od jej kierunku zaświeci lub nie zaświeci żarówkę. Jak znaleźć żarówkę: Indicators -> Virtual Lamp
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 28. Badanie oscyloskopu analogowego
Ćwiczenie nr 28 Badanie oscyloskopu analogowego 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania oraz nabycie umiejętności posługiwania się oscyloskopem analogowym. 2. Dane znamionowe
Bardziej szczegółowoLASERY I ICH ZASTOSOWANIE
LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym
Bardziej szczegółowoI Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego.
I Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego. II Badanie charakterystyk statycznych elementów nieliniowych za pomocą oscyloskopu (realizacja tematyki na życzenie prowadzącego laboratorium)
Bardziej szczegółowoSystemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne
POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu
Bardziej szczegółowoPRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów
Bardziej szczegółowoBadanie wzmacniacza operacyjnego
Badanie wzmacniacza operacyjnego CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości wzmacniaczy operacyjnych i komparatorów oraz możliwości wykorzystania ich do realizacji bloków funkcjonalnych poprzez dobór
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej
Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja
Bardziej szczegółowoSTABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO. 1. Wiadomości wstępne
STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO 1. Wiadomości wstępne Stabilizatory napięcia stałego są to układy elektryczne dostarczające do odbiornika napięcie o stałej wartości niezależnie od zmian w określonych granicach:
Bardziej szczegółowoWOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego ENERGOELEKTRONIKA Laboratorium Ćwiczenie nr 2 Łączniki prądu przemiennego Warszawa 2015r. Łączniki prądu przemiennego na przemienny Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoNIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY
Temat: Własności diody p-n Cel ćwiczenia Ćwiczenie 30 Zrozumienie właściwości diod ze złączem p-n. Poznanie własności diod każdego typu. Nauka testowania parametrów diod każdego typu za pomocą różnych
Bardziej szczegółowoWydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia
Bardziej szczegółowoProgram ćwiczenia: SYSTEMY POMIAROWE WIELKOŚCI FIZYCZNYCH - LABORATORIUM
Podstawy budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych Problemy teoretyczne: Pomiar parametrów napięciowych sygnałów za pomocą karty kontrolno pomiarowej oraz programu LabVIEW (prawo Shanona Kotielnikowa).
Bardziej szczegółowoNowoczesne sieci komputerowe
WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 1 Dąbrowa Górnicza, 2010
Bardziej szczegółowoBADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
BAANE O PÓŁPZEWONKOWYCH nstytut izyki Akademia Pomorska w Słupsku Cel i ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest: - zapoznanie się z przebiegiem charakterystyk prądowo-napięciowych diod różnych typów, - zapoznanie
Bardziej szczegółowoPL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2 Mostek pojemnościowy Ćwiczenie wraz z instrukcją i konspektem opracowali P.Wisniowski, M.Dąbek
Ćwiczenie 2 Mostek pojemnościowy Ćwiczenie wraz z instrukcją i konspektem opracowali P.Wisniowski, M.Dąbek el ćwiczenia elem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą mostkową pomiaru pojemności kondensatora
Bardziej szczegółowoLI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne
LI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne ZADANIE D1 Cztery identyczne diody oraz trzy oporniki o oporach nie różniących się od siebie o więcej niż % połączono szeregowo w zamknięty obwód elektryczny.
Bardziej szczegółowoWZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC
WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC 1. WSTĘP Tematem ćwiczenia są podstawowe właściwości jednostopniowego wzmacniacza pasmowego z tranzystorem bipolarnym. Zadaniem ćwiczących jest dokonanie pomiaru częstotliwości
Bardziej szczegółowoDynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8
Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego, oraz zapoznanie się z metodami wyznaczania charakterystyk częstotliwościowych.
Bardziej szczegółowoBadanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych
Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz
Bardziej szczegółowoIR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni
IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 43: HALOTRON
Wydział PRACOWNIA FIZYCZNA WFiIS AGH Imię i nazwisko 1. 2. Temat: Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Rok Grupa Zespół Nr ćwiczenia Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 43: HALOTRON Cel
Bardziej szczegółowoUśrednianie napięć zakłóconych
Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Miernictwa Elektronicznego Uśrednianie napięć zakłóconych Grupa Nr ćwicz. 5 1... kierownik 2... 3... 4... Data Ocena I.
Bardziej szczegółowoBadanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)
Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2) 1. Wymagane zagadnienia - ruch ładunku w polu magnetycznym, siła Lorentza, pole elektryczne - omówić zjawisko Halla, wyprowadzić wzór na napięcie
Bardziej szczegółowoDETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych
DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z zasadą działania i zastosowaniami detektora optycznego
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE DIODY REV. 1.2 1. CEL ĆWICZENIA - pomiary charakterystyk stałoprądowych diod prostowniczych, świecących oraz stabilizacyjnych - praktyczne
Bardziej szczegółowoDIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania i wiedza konieczna do wykonania ćwiczenia: 1. Znajomość instrukcji do ćwiczenia, w tym
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.
I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR BIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Bardziej szczegółowoE1. OBWODY PRĄDU STAŁEGO WYZNACZANIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁA
E1. OBWODY PRĄDU STŁEGO WYZNCZNIE OPORU PRZEWODNIKÓW I SIŁY ELEKTROMOTORYCZNEJ ŹRÓDŁ tekst opracowała: Bożena Janowska-Dmoch Prądem elektrycznym nazywamy uporządkowany ruch ładunków elektrycznych wywołany
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.
ĆWICZENIE 4 Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z układami zasilania tranzystorów. Wybór punktu pracy tranzystora. Statyczna prosta pracy. II. Układ
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA ELEKTRONIKI
PRACOWNIA ELEKTRONIKI Ćwiczenie nr 4 Temat ćwiczenia: Badanie wzmacniacza UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI 1. 2. 3. Imię i Nazwisko 1 szerokopasmowego RC 4. Data wykonania
Bardziej szczegółowoWzmacniacz operacyjny
ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 3 Wzmacniacz operacyjny Grupa 6 Aleksandra Gierut CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniaczy operacyjnych do przetwarzania
Bardziej szczegółowoPARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
L B O R T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRMETRY MŁOSYGNŁOWE TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENI - celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru i wyznaczania parametrów małosygnałowych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Mierniki cyfrowe"
Ćwiczenie: "Mierniki cyfrowe" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: Próbkowanie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym"
Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki.
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe.
INSTRUKCJA LABORATORIUM Metrologia techniczna i systemy pomiarowe. MTiSP pomiary częstotliwości i przesunięcia fazowego MTiSP 003 Autor: dr inż. Piotr Wyciślok Strona 1 / 8 Cel Celem ćwiczenia jest wykorzystanie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 01. Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia
Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia Ćwiczenie 01 Zrozumienie właściwości diod ze złączem p n. Poznanie własności diod każdego typu. Nauka testowania parametrów diod każdego typu za pomocą różnych
Bardziej szczegółowoCYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁÓW
POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. I. Łukasiewicza WYDZIAŁ ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych CYFROWE PRZETWARZANIE SYGNAŁÓW Analiza korelacyjna sygnałów dr hab. inż.
Bardziej szczegółowo