KONSTRUKCJA CYFROWEJ NAŚWIETLARKI OBWODÓW DRUKOWANYCH
|
|
- Anna Turek
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 KONSTRUKCJA CYFROWEJ NAŚWIETLARKI OBWODÓW DRUKOWANYCH PIOTR DOMANOWSKI, RYSZARD WOCIANIEC Uniwersytet Technologiczno-Przyrodniczy, Wydział Inżynierii Mechanicznej, Bydgoszcz, ul. Sylwestra Kaliskiego 7 piotr.domanowski@utp.edu.pl, ryszard.wocianiec@utp.edu.pl STRESZCZENIE W artykule przedstawiono budowę specjalnego układu optycznego zastosowanego w naświetlarce cyfrowej. Składa się on ze źródła promieniowania UV, układu mikrozwierciadeł tworzącego obraz, układu projekcyjnego dla przeniesienia obrazu na fotopolimer oraz umieszczonego w torze optycznym zwierciadła odchylającego promienie UV o kąt 45 o a związanego z piezoelektrycznym aktuatorem. Tak ukształtowany układ optyczny umożliwia zastosowane sub-pikselowego przewijania obrazu rzutowanego na fotopolimer. Umieszczenie w torze optycznym drugiego zwierciadła z aktuatorem lustra odchylającym obraz w kierunku prostopadłym do podstawowego kierunku skanowania umożliwia zwiększenie dokładności przeniesienia obrazu. W artykule pokazano zasadę działania układu bezpośredniego przeniesienia obrazu, oraz omówiono ideę sub-pikselowego przewijania obrazu. 1. Wprowadzenie W produkcji urządzeń mikroelektronicznych stosowane są metody fotolitograficzne bezpośredniego przeniesienia obrazu na panel pokryty fotopolimerem bez pośrednictwa klisz. Do bezpośredniego przeniesienia obrazu zastosować można cyfrowe matryce zwierciadeł (DMD), np. firmy Texas Instruments. DMD składają się z układu mini-zwierciadeł obejmującego pojedynczych elementów lustrzanych (DLP3000) [1], z których każdy można
2 ustawiać w dwóch pozycjach (rys.1). Nachylenie elementów lustrzanych układu mini-zwierciadeł wytwarza powierzchnię składającą się z odchylonych i nieodchylonych elementów lustrzanych, której obraz jest rzutowany przy pomocy optyki projekcyjnej na światłoczułe podłoże. Kolejne, następujące po sobie obrazy, wytwarzane są za pomocą komputera a następnie przenoszone na podłoże. Przy współczynniku reprodukcji 1:1, naświetlana jest powierzchnia podłoża o wielkości 6571,8 x 3699 µm (DLP3000) [1]. Rys. 1. Zasada działania układu DMD (Digital Mirror Devices) firmy Texas Instruments Inc. [1] 2
3 Najnowsze zastosowania DMD do bezpośredniego przenoszenia obrazu wykorzystują głównie dwie metody naświetlania większych powierzchni podłoża: 1. metodę statyczną (step-and-repeat) [2], 2. metodę przewijania (scrolling method) [3]. Metoda step-and-repeat (1) dzieli informacje o obrazie całego podłoża na pola cząstkowe wielkości ok. 10 x 14 mm, które są sukcesywnie przenoszone przez optykę oświetleniową (illumination optics) na podłoże. Ciągłą metodę przewijania (2) można opisać jako naświetlanie elementu powierzchni podłoża (piksel) przez element lustrzany. Element lustrzany i element powierzchni podłoża przesuwają się względem siebie z dokładnie kontrolowaną prędkością. W celu uzyskania obrazu o tych samych wymiarach co matryca zwierciadeł DMD, ruch względny odbywa na drodze odpowiadającej długości matrycy zwierciadeł. Podczas powrotnego ruchu matrycy do nowego położenia następuje przesyłanie kolejnego obrazu do układu DMD. Jeżeli zgodnie z tym, obraz opóźniony o jeden element lustrzany, zostanie załadowany i przełączony po przesunięciu o długość pojedynczego elementu lustrzanego układu zwierciadeł DMD względem podłoża, to powstała metoda może nosić nazwę przewijania. Obie metody mają pewne wady. Przy metodzie step-and-repeat należy wykonać tysiące dokładnych pozycjonowań, co prowadzi do skomplikowanej mechaniki i długich okresów martwych. Metoda przewijania wykonuje jednolite przesunięcie ładowania kosztem zasmarowanych przejść na krawędziach i z prędkością ograniczoną przez częstotliwość przełączania luster, np. przy powiększeniu 1:1 ok. 135 mm/sekundę. Wspomniane metody przewijania wymagają ponadto dokładnie kontrolowanych prędkości. Uniemożliwia to zastosowanie niedrogich przekładni paskowych zębatych. 2. Budowa układu do bezpośredniego przeniesienia obrazu metodą przewijania sub-pikselowego Metoda przewijania sub-pikselowego (Subpixel Scroll Method) [3], wykorzystuje dodatkowy element w postaci zwierciadła nachylonego pod kątem 45, które umieszczone jest pomiędzy matrycą układu DMD oraz optyką projekcyjną [2] w celu optycznego przesunięcia pozycji elementów lustrzanych 3
4 względem osi projekcji każdorazowo o wielkość jednego sub-piksela (n-tej części piksela). W układzie preferowanym lustro nachylone pod kątem 45 jest przesuwane o ¼ szerokości elementu lustrzanego przez sterowalny aktuator piezoelektryczny. Wielkość zmiany położenia tego lustra oraz punkt czasowy są zsynchronizowane poprzez sygnały czujnika położenia urządzenia skanującego w taki sposób, że element lustrzany (tak samo jak w standardowej metodzie przewijania) wydaje się znajdować nieruchomo względem elementu powierzchni podłoża. W odróżnieniu od standardowej metody przewijania, występuje tutaj przestawienie do pozycji wyjściowej (resetting), które jednak nie jest powiązane z prędkością przełączania DMD 10 khz. Ze względu na wyższą rozdzielczość, niniejsza metoda redukuje zamglenie na krawędzi przejścia i umożliwia stosowanie wyższej prędkości naświetlania, przy czym prędkość ta zależy od dynamiki aktuatora, skutecznej mocy źródła promieniowania UV oraz czułości polimeru światłoczułego. Dodatkową korzystną funkcją układu bezpośredniego przeniesienia obrazu metodą przewijania subpikselowego jest możliwość przenoszenia obrazu z wyższą rozdzielczością niż ta, która określona jest przez rozmiar elementu lustrzanego. W celu zwiększenia rozdzielczości w kierunkach x (kierunek skanowania) oraz y (prostopadła do kierunku skanowania) potrzebne są dwa aktuatory luster pracujące w kierunkach x oraz y. Rys.2. Układ do bezpośredniego przeniesienia obrazu metodą przewijania sub-pikselowego (opis w treści rozdziału 2) 4
5 Zaprojektowany system litograficzny przedstawiony na rys. 2 zawiera źródło promieniowania ultrafioletowego - 3, optykę kondensora - 4, przestrzenny modulator światła (SLM) - 1 (w niniejszym projekcie modulator wyposażony jest w cyfrową matrycę luster (DMD), np. Discovery 1100 firmy Texas Instruments), projekcyjny system soczewek - 5 oraz aktuator piezoelektryczny lustra pochylonego pod kątem Promienie odbijane przez matrycę luster 1 przesuwane są optycznie wzdłuż osi projekcji przez aktuator piezoelektryczny lustra 2. Rys. 2 pokazuje ponadto system sterowania cyfrowego przetwornika sygnału (DSP) oraz swobodnie programowalny układ logiczny (FPLA) 11, który kontroluje wszystkie funkcje systemu litograficznego. W systemie komputerowym (PC) 14 przygotowywane są dane układu pikseli (obraz). Dla preferowanego formatu podłoża 600 x 500 mm oraz preferowanej rozdzielczości 12,7 µm/piksel, rozmiar przygotowanego zestawu danych wynosi ok. 275 megabajtów. Ta ilość danych jest przekazywana do pamięci RAM 13. Odległość optyki projektora 5 do podłoża 10 jest mierzona i w sposób ciągły stabilizowana. Przed rozpoczęciem naświetlania, każde nowe podłoże 10 jest dokładnie mierzone i wyrównywane do kierunku skanowania urządzenia skanującego 8 poprzez funkcję wyrównania podłoża 7 DSP/FPLA 11. Liniowy system pomiarowy 9 dostarcza sygnały dla dokładnej synchronizacji wszystkich procesów przełączania SLM 1 oraz optycznego przemieszczania odbitych promieni UV przez aktuator lustra 2. Synchronizacja wszystkich procesów przełączania realizowana jest przy pomocy sygnałów czujnika położenia, co sprawia, że przenoszenie obrazów jest niezależne od prędkości optyki projekcji względem podłoża. Przy niskiej prędkości w okolicy punktu zmiany kierunku skanowania, energia UV jest kontrolowana przez funkcję on-off elementów lustrzanych 1. 5
6 3. Proces bezpośredniego przeniesienia obrazu Rys. 3a-3f pokazują proces metody przewijania sub-pikselowego z naświetlaniem elementu powierzchni podłoża przez trzy elementy lustrzane. W tym przykładzie, każdy krok korekty wykonywany przez aktuator lustra 45 wynosi 0,5 piksela. W pokazanym na rysunkach ustawieniu, całkowita korekta aktuatora lustra 45 wynosi 2 piksele. Po czterech krokach korekty o 0,5 piksela każdy aktuator lustra 45 musi zostać cofnięty do wartości początkowej (reset). Jednak w niniejszym rozwiązaniu korekta może być wykonywana o dowolną liczbę kroków przy odpowiedniej kontroli procesu aktuatora lustra 2. Rys. 3a pokazuje przykładowy modulator światła SLM z trzema elementami lustrzanymi 1. Element lustrzany w położeniu włączonym ON (zakreskowany) 1a odbija wiązkę promieni UV na lustro 2 (podparte aktuatorem piezoelektrycznym) i dalej przy pomocy optyki projekcyjnej 5 na element powierzchni podłoża 10. Jest to początkowy krok procesu naświetlania. Z aktuatorem lustra 45 2 w położeniu wyjściowym, podłoże 10 i optyka projekcyjna 5 przesuwają się względem siebie. Przebyta droga jest mierzona przez liniowy wskaźnik położenia 9 (rys. 2). Jeżeli zostanie przebyty odcinek wynoszący 0,5 x długość piksela = 6,35 µm, to system sterowania FPLA/DSP 11 wysyła sygnał korekcyjny do aktuatora lustra Ruch aktuatora lustra 45 2 kompensuje przesunięcie zgromadzone w cyklu 2a pomiędzy podłożem 10 oraz optyką projekcyjną 5. Podczas względnego ruchu o 0,5 piksela, element podłoża zostaje naświetlony również na dodatkowej długości 0,5 piksela. Rys. 3b pokazuje sytuację po pierwszym kroku korekty: aktuator lustra 2 przesunął wiązkę promieni UV elementu lustrzanego 1 o ½ piksela. Wiązka promieni UV rzutuje obraz w tym samym miejscu podłoża 10 jak w kroku początkowym procesu pokazanym na rys. 3a. Rys. 3c przedstawia sytuację po drugim kroku korekty; proces ten był podobny do pokazanego na rys. 3a i 3b, a wiązka promieni UV rzutuje na to samo położenie podłoża 10 jak w kroku początkowym procesu. Rys. 3d pokazuje sytuację po 3-cim kroku korekty; proces ten był podobny do pokazanego na rys. 3a, 3b oraz 3c. Dodatkowe kroki korekty są możliwe przy odpowiedniej kontroli procesu i skali aktuatora lustra 2. Jednak w tym przypadku całkowity skok aktuatora lustra 2a wynosi tylko 2 piksele. Po wykonaniu maksymalnie 4 kroków korekty (n-ty krok korekty na rys. 3d), aktuator lustra musi zostać przestawiony do położenia zerowego (reset). 6
7 Rys. 3. Kolejne fazy naświetlania metodą przewijania sub-pikselowego 7
8 Rys. 3e opisuje sekwencję fazy przestawiania na pozycję zero. Po zakończeniu n-tego kroku korekty wszystkie elementy lustrzane 1 są wyłączane poprzez funkcję clear układu DMD. Po wyłączeniu elementów lustrzanych, aktuator lustra 2 może zostać przestawiony na pozycję zerową bez naświetlania podłoża. W tym samym czasie kolejny wzór elementu lustra (np. z rys. 3f) jest przygotowywany w obrębie obszaru logicznego SLM. Rys. 3f. Po osiągnięciu położenia zerowego przez aktuator lustra 2, system pomiaru liniowego 9, dokładnie po długości 2 pikseli włącza kolejny wzór elementu lustrzanego. Ta sekwencja naświetlania dla piksela podłoża 10 jest powtarzana. Metoda przewijania sub-pikselowego naświetla element powierzchni podłoża 10, podczas gdy optyka naświetlania i podłoże przesuwają się względem siebie. Rozmazanie krawędzi elementu powierzchni podłoża zależy od ilości kroków korekty na dany element powierzchni podłoża, może więc wynosić 1/n szerokości elementu powierzchni podłoża. Prędkość systemu naświetlania nie jest ograniczona do częstotliwości przełączania szerokości elementu powierzchni podłoża, jak ma to miejsce w znanych metodach przewijania. Maksymalna prędkość skanowania, a co za tym idzie czas naświetlania całego podłoża, zależy od skoku korekty aktuatora lustra, czasu przełączania do załadowania nowego wzoru w DMD, czułości podłoża oraz mocy promieni UV. Na rys. 4 przedstawiono prospekt naświetlarki cyfrowej z bezpośrednim przenoszeniem obrazu, której prototyp przy udziale konstrukcyjnym autorów artykułu, wytworzony został na początku bieżącego roku w firmie OLEC- Fabcon w USA [4]. 8
9 Rys. 4. Aplikacja opracowanej metody naświetlania bezpośredniego w naświetlarce obwodów drukowanych firmy OLEC-Fabcon [4] 9
10 4. Wnioski Wyższa rozdzielczość tej metody uzyskiwana jest poprzez podwojenie czasu naświetlania. Poprzez wprowadzenie kolejnych kroków partycjonowania i przejściach naświetlania, rozdzielczość może być potencjalnie dowolnie zwiększana. Opisana metoda zmniejsza rozmazanie na krawędzi przejścia i umożliwia wyższą prędkość skanowania, przez co prędkość skanowania zależy od dynamiki aktuatora, skutecznej mocy źródła UV oraz czułości polimeru światłoczułego. Metoda przewijania sub-pikselowego umożliwia przenoszenie wzoru o wyższej rozdzielczości niż ta, która określona jest rozmiarem elementu lustrzanego matrycy DMD. Bibliografia 1. DLP3000 Technical Documents, 24 Oct Domanowski P., Wocianiec R.: Wpływ jakości montażu układu optycznego cyfrowej naświetlarki obwodów drukowanych na dokładność odwzorowania obrazu, Projektowanie Mechatroniczne Zagadnienia wybrane, praca zbiorowa pod redakcją Tadeusza Uhla, Kraków, Skibicki D., Paczkowski T., Domanowski P.: Lithographic method for mask less pattern transfer onto a photosensitive substrate, United States Patent, US 7,982,853, B2, AccuBeam Direct Circuit Imaging, prospekt firmy OLEC Fabcon USA,
Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition
Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPKO http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta
Bardziej szczegółowoSzybkie skanowanie liniowe. Skanery Liniowe - - technologia inspekcji przemysłowej
Szybkie skanowanie liniowe Skanery Liniowe - - technologia inspekcji przemysłowej CLISBee-S - SZYBKIE SKANOWANIE LINIOWE NET&NED oferują innowacyjne kamery skanowania liniowego NET & NED oferuj innowacyjne
Bardziej szczegółowoGenerator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2
Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2 Przeznaczenie Generator przebiegów pomiarowych GPP2 jest programowalnym sześciokanałowym generatorem napięć i prądów, przeznaczonym do celów pomiarowych i diagnostycznych.
Bardziej szczegółowoZastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
Bardziej szczegółowoAplikacje Systemów. Nawigacja inercyjna. Gdańsk, 2016
Aplikacje Systemów Wbudowanych Nawigacja inercyjna Gdańsk, 2016 Klasyfikacja systemów inercyjnych 2 Nawigacja inercyjna Podstawowymi blokami, wchodzącymi w skład systemów nawigacji inercyjnej (INS ang.
Bardziej szczegółowoNazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie
Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 9: Swobodne spadanie Cel ćwiczenia: Obserwacja swobodnego spadania z wykorzystaniem elektronicznej rejestracji czasu przelotu kuli przez punkty pomiarowe. Wyznaczenie
Bardziej szczegółowoPODZIAŁ PODSTAWOWY OBIEKTYWÓW FOTOGRAFICZNYCH
OPTYKA PODZIAŁ PODSTAWOWY OBIEKTYWÓW FOTOGRAFICZNYCH OBIEKTYWY STAŁO OGNISKOWE 1. OBIEKTYWY ZMIENNO OGNISKOWE (ZOOM): a) O ZMIENNEJ PRZYSŁONIE b) O STAŁEJ PRZYSŁONIE PODSTAWOWY OPTYKI FOTOGRAFICZNEJ PRZYSŁONA
Bardziej szczegółowo(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE03/00923 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 204399 (21) Numer zgłoszenia: 370760 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego
PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoINSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO,
PL 218158 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218158 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389646 (51) Int.Cl. B60Q 1/00 (2006.01) B60Q 1/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowo(72) Twórcy wynalazku:
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178863 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 320192 (22) Data zgłoszenia: 10.11.1995 (86) Data i numer zgłoszenia
Bardziej szczegółowoPOMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak
POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło
Bardziej szczegółowoPiotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO
Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki
Bardziej szczegółowoSystemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne
POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoBEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO
Temat ćwiczenia: BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO 1. Wprowadzenie Ultradźwiękowy bezdotykowy czujnik położenia liniowego działa na zasadzie pomiaru czasu powrotu impulsu ultradźwiękowego,
Bardziej szczegółowoStanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa
Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (2010/2011) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiIB Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok: Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Celem
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 8 - Modyfikacje części, tworzenie brył złożonych
Ćwiczenie nr 8 - Modyfikacje części, tworzenie brył złożonych Wprowadzenie Utworzone elementy bryłowe należy traktować jako wstępnie wykonane elementy, które dopiero po dalszej obróbce będą gotowymi częściami
Bardziej szczegółowoWyznaczanie profilu wiązki promieniowania używanego do cechowania tomografu PET
18 Wyznaczanie profilu wiązki promieniowania używanego do cechowania tomografu PET Ines Moskal Studentka, Instytut Fizyki UJ Na Uniwersytecie Jagiellońskim prowadzone są badania dotyczące usprawnienia
Bardziej szczegółowoWyznaczanie współczynnika załamania światła
Ćwiczenie O2 Wyznaczanie współczynnika załamania światła O2.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie współczynnika załamania światła dla przeźroczystych, płaskorównoległych płytek wykonanych z
Bardziej szczegółowoWyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła
Ćwiczenie O3 Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła O3.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali
Bardziej szczegółowo4. Ultradźwięki Instrukcja
4. Ultradźwięki Instrukcja 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości fal ultradźwiękowych i ich wykorzystania w badaniach defektoskopowych. 2. Układ pomiarowy Układ pomiarowy składa się
Bardziej szczegółowoPR242012 23 kwietnia 2012 Mechanika Strona 1 z 5. XTS (extended Transport System) Rozszerzony System Transportowy: nowatorska technologia napędów
Mechanika Strona 1 z 5 XTS (extended Transport System) Rozszerzony System Transportowy: nowatorska technologia napędów Odwrócona zasada: liniowy silnik ruch obrotowy System napędowy XTS firmy Beckhoff
Bardziej szczegółowoSposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu
PL 217478 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217478 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397035 (22) Data zgłoszenia: 18.11.2011 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 41 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO. Wprowadzenie teoretyczne
ĆWICZENIE 4 POMIARY PRZY UŻYCIU GONIOMETRU KOŁOWEGO Wprowadzenie teoretyczne Rys. Promień przechodzący przez pryzmat ulega dwukrotnemu załamaniu na jego powierzchniach bocznych i odchyleniu o kąt δ. Jeżeli
Bardziej szczegółowo2.2 Opis części programowej
2.2 Opis części programowej Rysunek 1: Panel frontowy aplikacji. System pomiarowy został w całości zintegrowany w środowisku LabVIEW. Aplikacja uruchamiana na komputerze zarządza przebiegiem pomiarów poprzez
Bardziej szczegółowoParametry częstotliwościowe przetworników prądowych wykonanych w technologii PCB 1 HDI 2
dr inż. ALEKSANDER LISOWIEC dr hab. inż. ANDRZEJ NOWAKOWSKI Instytut Tele- i Radiotechniczny Parametry częstotliwościowe przetworników prądowych wykonanych w technologii PCB 1 HDI 2 W artykule przedstawiono
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK
WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK Cel ćwiczenia:. Wyznaczenie ogniskowej cienkiej soczewki skupiającej.. Wyznaczenie ogniskowej cienkiej soczewki rozpraszającej (za pomocą wcześniej wyznaczonej ogniskowej
Bardziej szczegółowoFig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B
Bardziej szczegółowoPRZETWORNIKI POMIAROWE
PRZETWORNIKI POMIAROWE PRZETWORNIK POMIAROWY element systemu pomiarowego, który dokonuje fizycznego przetworzenia z określoną dokładnością i według określonego prawa mierzonej wielkości na inną wielkość
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości obrotowej
2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA OPTYCZNA 19.05.2014 AUTOFOCUS TOMASZ POŹNIAK MATEUSZ GRZONDKO
MIKROSKOPIA OPTYCZNA 19.05.2014 AUTOFOCUS TOMASZ POŹNIAK MATEUSZ GRZONDKO AUTOFOCUS (AF) system automatycznego ustawiania ostrości w aparatach fotograficznych Aktywny - wysyła w kierunku obiektu światło
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości światła
Tematy powiązane Współczynnik załamania światła, długość fali, częstotliwość, faza, modulacja, technologia heterodynowa, przenikalność elektryczna, przenikalność magnetyczna. Podstawy Będziemy modulować
Bardziej szczegółowoStruktura małego teleskopu typu Daviesa-Cottona oraz prototyp zwierciadeł w opracowaniu IFJ PAN
Struktura małego teleskopu typu Daviesa-Cottona oraz prototyp zwierciadeł w opracowaniu IFJ PAN J. Michałowski, M. Dyrda, J. Niemiec, M. Stodulski, P. Ziółkowski, P. Żychowski Instytut Fizyki Jądrowej
Bardziej szczegółowoUwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika.
PLANOWANIE I TECHNIKA EKSPERYMENTU Program ćwiczenia Temat: Badanie właściwości statycznych przetworników pomiarowych, badanie właściwości dynamicznych czujników temperatury Ćwiczenie 5 Spis przyrządów
Bardziej szczegółowoI. Pomiary charakterystyk głośników
LABORATORIUM ELEKTROAKUSTYKI ĆWICZENIE NR 4 Pomiary charakterystyk częstotliwościowych i kierunkowości mikrofonów i głośników Cel ćwiczenia Ćwiczenie składa się z dwóch części. Celem pierwszej części ćwiczenia
Bardziej szczegółowoBadanie współczynników lepkości cieczy przy pomocy wiskozymetru rotacyjnego Rheotest 2.1
Badanie współczynników lepkości cieczy przy pomocy wiskozymetru rotacyjnego Rheotest 2.1 Joanna Janik-Kokoszka Zagadnienia kontrolne 1. Definicja współczynnika lepkości. 2. Zależność współczynnika lepkości
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ
LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ MIKROSKOP 1. Cel dwiczenia Zapoznanie się z budową i podstawową obsługo mikroskopu biologicznego. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Budowa mikroskopu. Powstawanie obrazu
Bardziej szczegółowoTemat Zasady projektowania naziemnego pomiaru fotogrametrycznego. 2. Terenowy rozmiar piksela. 3. Plan pomiaru fotogrametrycznego
Temat 2 1. Zasady projektowania naziemnego pomiaru fotogrametrycznego 2. Terenowy rozmiar piksela 3. Plan pomiaru fotogrametrycznego Projektowanie Dokładność - specyfikacja techniczna projektu Aparat cyfrowy
Bardziej szczegółowoĆw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II
Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (../..) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych
Bardziej szczegółowoIris Przestrzenny System Pozycjonowania pomocny w rozmieszczaniu elementów podczas montażu i spawania
Grzegorz Styrcz MACHINES POLAND Partner firmy Virtek Iris Przestrzenny System Pozycjonowania pomocny w rozmieszczaniu elementów podczas montażu i spawania Czym jest IRIS? IRIS to system projekcji laserowej,
Bardziej szczegółowoStruktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach
Struktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowoanalogowe Interfejsy komunikacyjne Zegary czasu rzeczywistego Układy nadzorujące Układy generacji sygnałów
Bardziej szczegółowo3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW.
3. WYNIKI POMIARÓW Z WYKORZYSTANIEM ULTRADŹWIĘKÓW. Przy rozchodzeniu się fal dźwiękowych może dochodzić do częściowego lub całkowitego odbicia oraz przenikania fali przez granice ośrodków. Przeszkody napotykane
Bardziej szczegółowoMetody Optyczne w Technice. Wykład 5 Interferometria laserowa
Metody Optyczne w Technice Wykład 5 nterferometria laserowa Promieniowanie laserowe Wiązka monochromatyczna Duża koherencja przestrzenna i czasowa Niewielka rozbieżność wiązki Duża moc Największa możliwa
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium MASZYN I URZĄDZEŃ TECHNOLOGICZNYCH. Nr 2
Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium MASZYN I URZĄDZEŃ TECHNOLOGICZNYCH Nr 2 POMIAR I KASOWANIE LUZU W STOLE OBROTOWYM NC Poznań 2008 1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowoPrzetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe
Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo / analogowe W cyfrowych systemach pomiarowych często zachodzi konieczność zmiany sygnału cyfrowego na analogowy, np. w celu
Bardziej szczegółowoWstęp do astrofizyki I
Wstęp do astrofizyki I Wykład 5 Tomasz Kwiatkowski 3 listopad 2010 r. Tomasz Kwiatkowski, Wstęp do astrofizyki I, Wykład 5 1/41 Plan wykładu Podstawy optyki geometrycznej Załamanie światła, soczewki Odbicie
Bardziej szczegółowo1. Opis teoretyczny regulatora i obiektu z opóźnieniem.
Laboratorium Podstaw Inżynierii Sterowania Ćwiczenie:. Opis teoretyczny regulatora i obiektu z opóźnieniem. W regulacji dwupołożeniowej sygnał sterujący przyjmuje dwie wartości: pełne załączenie i wyłączenie...
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia: Zasady stereoskopowego widzenia.
Uniwersytet Rolniczy w Krakowie Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Temat ćwiczenia: Zasady stereoskopowego widzenia. Zagadnienia 1. Widzenie monokularne, binokularne
Bardziej szczegółowoWstęp do astrofizyki I
Wstęp do astrofizyki I Wykład 5 Tomasz Kwiatkowski Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Wydział Fizyki Instytut Obserwatorium Astronomiczne Tomasz Kwiatkowski, shortinst Wstęp do astrofizyki I,
Bardziej szczegółowoOptyka geometryczna - 2 Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński. Zwierciadła niepłaskie
Optyka geometryczna - 2 Tadeusz M.Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński Zwierciadła niepłaskie Obrazy w zwierciadłach niepłaskich Obraz rzeczywisty zwierciadło wklęsłe Konstrukcja obrazu w zwierciadłach
Bardziej szczegółowoMechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)
Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,
Bardziej szczegółowoUrządzenia do wprowadzania informacji graficznej. Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe
Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe Skanery Skaner to urządzenie przetwarzające obraz graficzny (zdjęcia, rysunki, tekst pi-sany itp.) na postać
Bardziej szczegółowoResearch & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS OPBOX.
Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPBOX http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta
Bardziej szczegółowoLaboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P
1 Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P Od zasilaczy laboratoryjnych wymaga się przede wszystkim regulowania napięcia i prądu
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE
LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 7 Temat: Pomiar kąta załamania i kąta odbicia światła. Sposoby korekcji wad wzroku. 1. Wprowadzenie Zestaw ćwiczeniowy został
Bardziej szczegółowoKGGiBM GRAFIKA INŻYNIERSKA Rok III, sem. VI, sem IV SN WILiŚ Rok akademicki 2011/2012
Rysowanie precyzyjne 7 W ćwiczeniu tym pokazane zostaną wybrane techniki bardzo dokładnego rysowania obiektów w programie AutoCAD 2012, między innymi wykorzystanie punktów charakterystycznych. Narysować
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowo1. Opis okna podstawowego programu TPrezenter.
OPIS PROGRAMU TPREZENTER. Program TPrezenter przeznaczony jest do pełnej graficznej prezentacji danych bieżących lub archiwalnych dla systemów serii AL154. Umożliwia wygodną i dokładną analizę na monitorze
Bardziej szczegółowoĆ W I C Z E N I E N R O-1
INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O- WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU
Bardziej szczegółowoCHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL
CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie zasad działania, budowy i właściwości podstawowych funktorów logicznych wykonywanych w jednej z najbardziej rozpowszechnionych
Bardziej szczegółowoPrawa optyki geometrycznej
Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)
Bardziej szczegółowoPL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoWyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu
Imię i Nazwisko... Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Opracowanie: Piotr Wróbel 1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie prędkości dźwięku w powietrzu, metodą różnicy czasu przelotu. Drgania
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR.6. Temat : Wyznaczanie drgań mechanicznych przekładni zębatych podczas badań odbiorczych
ĆWICZENIE NR.6 Temat : Wyznaczanie drgań mechanicznych przekładni zębatych podczas badań odbiorczych 1. Wstęp W nowoczesnych przekładniach zębatych dąży się do uzyskania małych gabarytów w stosunku do
Bardziej szczegółowo- pozorny, czyli został utworzony przez przedłużenia promieni świetlnych.
Zjawisko odbicia Zgodnie z zasadą Fermata światło zawsze wybiera taką drogę między dwoma punktami, aby czas potrzebny na jej przebycie był najkrótszy (dla ścisłości: lub najdłuższy). Konsekwencją tego
Bardziej szczegółowoPolitechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki
Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie
Bardziej szczegółowoLustro odchylające Lector. Karta charakterystyki online
Karta charakterystyki online A B C D E F H I J K L M N O P Q R S T Szczegółowe dane techniczne Dane techniczne Grupa akcesoriów Opis Klasyfikacje Informacje do zamówienia Typ Nr artykułu 2096970 Więcej
Bardziej szczegółowoOpis ultradźwiękowego generatora mocy UG-500
R&D: Ultrasonic Technology / Fingerprint Recognition Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Sp. z o.o. ul. Otwarta 10a PL-50-212 Wrocław tel.: +48 71 3296853 fax.: 3296852 e-mail: optel@optel.pl NIP
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoDrukowanie. Ładowanie zasobników. Drukowanie. 1 Wyciągnij zasobnik całkowicie na zewnątrz.
Strona 1 z 11 Drukowanie W tej części opisano ładowanie zasobników na 250 i 550 arkuszy oraz ładowanie podajnika uniwersalnego. Zawiera ona również informacje na temat orientacji arkusza papieru, ustawień
Bardziej szczegółowoPrzykład 1 wałek MegaCAD 2005 2D przykład 1 Jest to prosty rysunek wałka z wymiarowaniem. Założenia: 1) Rysunek z branży mechanicznej; 2) Opracowanie w odpowiednim systemie warstw i grup; Wykonanie 1)
Bardziej szczegółowoWideoSondy - Pomiary. Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go. Metoda Porównawcza. Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe)
Trzy Metody Pomiarowe w jednym urządzeniu XL G3 lub XL Go Metoda Porównawcza Metoda projekcji Cienia (ShadowProbe) Metoda Stereo Metoda Porównawcza Metoda Cienia - ShadowProbe Metoda Stereo Metoda Porównawcza
Bardziej szczegółowoPodstawy grafiki komputerowej
Podstawy grafiki komputerowej Krzysztof Gracki K.Gracki@ii.pw.edu.pl tel. (22) 6605031 Instytut Informatyki Politechniki Warszawskiej 2 Sprawy organizacyjne Krzysztof Gracki k.gracki@ii.pw.edu.pl tel.
Bardziej szczegółowo3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063
Cyfrowy Analizator Widma GA4063 3GHz (opcja 6GHz) Wysoka kla sa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo -funkcjonalne Wysoka s tabi lność Łatwy w użyc iu GUI Małe wymiary, lekki, przenośny Opis produktu GA4063
Bardziej szczegółowoWYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH
Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoPasek menu. Ustawienia drukowania
Polecenie Ustawienia drukowania... z menu Plik pozwala określić urządzenie drukujące poprzez jego wybór z pola kombi. Urządzenie można skonfigurować poprzez przycisk właściwości. Otwiera się wówczas okno
Bardziej szczegółowoFotolitografia. xlab.me..me.berkeley.
Fotolitografia http://xlab xlab.me..me.berkeley.edu/ http://nanopatentsandinnovations.blogspot.com/2010/03/flyingplasmonic-lens-at-near-field-for.html Fotolitografia Przygotowanie powierzchni Nałożenie
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd światłowodu
Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie
Bardziej szczegółowoT 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych
T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych Przeznaczony do testowania przekaźników i przetworników Sterowany mikroprocesorem Wyposażony w przesuwnik fazowy Generator częstotliwości Wyniki badań i
Bardziej szczegółowoEfekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza
Efekt Halla Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Wstęp Siła Loretza Na ładunek elektryczny poruszający się w polu magnetycznym w kierunku prostopadłym do linii pola magnetycznego działa
Bardziej szczegółowoPL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17
PL 226027 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226027 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 405218 (22) Data zgłoszenia: 02.09.2013 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoSCENARIUSZ LEKCJI Temat lekcji: Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach
Scenariusz lekcji : Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach Autorski konspekt lekcyjny Słowa kluczowe: soczewki, obrazy Joachim Hurek, Publiczne Liceum Ogólnokształcące z Oddziałami Dwujęzycznymi w
Bardziej szczegółowoZmiana rozdzielczości ekranu
Zmiana rozdzielczości ekranu Ze względu na technologię stosowaną w ekranach ciekłokrystalicznych (LCD) rozdzielczość ekranu jest zawsze stała. Dla najlepszego efektu należy wybrać największą obsługiwaną
Bardziej szczegółowoĆwicz. 4 Elementy wykonawcze EWA/PP
1. Wprowadzenie Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe Istnieje kilka rodzajów przekaźników półprzewodnikowych. Zazwyczaj są one sterowane optoelektrycznie z pełną izolacja galwaniczną napięcia
Bardziej szczegółowoDane teledetekcyjne. Sławomir Królewicz
Dane teledetekcyjne Sławomir Królewicz Teledetekcja jako nauka Teledetekcja to dziedzina wiedzy, nauki zajmująca się badaniem właściwości fizycznych, chemicznych i biologicznych przedmiotów bez bezpośredniego
Bardziej szczegółowoTRÓJWYMIAROWA PROJEKCJA STEREOSKOPOWA
TRÓJWYMIAROWA PROJEKCJA STEREOSKOPOWA INSTRUKCJA OBSŁUGI 1 Środki ostrożności podczas oglądania trójwymiarowych obrazów Przed rozpoczęciem oglądania obrazów stereoskopowych prosimy o uważne przeczytanie
Bardziej szczegółowoOptyka geometryczna. Podręcznik zeszyt ćwiczeń dla uczniów
Podręcznik zeszyt ćwiczeń dla uczniów Optyka geometryczna Politechnika Gdańska, Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, tel. +48 58 348 63 70 http://e-doswiadczenia.mif.pg.gda.pl
Bardziej szczegółowoScrappiX. Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni
ScrappiX Urządzenie do wizyjnej kontroli wymiarów oraz kontroli defektów powierzchni Scrappix jest innowacyjnym urządzeniem do kontroli wizyjnej, kontroli wymiarów oraz powierzchni przedmiotów okrągłych
Bardziej szczegółowoĆwiczenie Nr 11 Fotometria
Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski Chorzów 2018 r. Ćwiczenie Nr 11 Fotometria Zagadnienia: fale elektromagnetyczne, fotometria, wielkości i jednostki fotometryczne, oko. Wstęp Radiometria (fotometria
Bardziej szczegółowoTechnikalia multimedialne. R. Robert Gajewski omklnx.il.pw.edu.pl/~rgajewski www.il.pw.edu.pl/~rg s-rg@siwy.il.pw.edu.pl
Technikalia multimedialne R. Robert Gajewski omklnx.il.pw.edu.pl/~rgajewski www.il.pw.edu.pl/~rg s-rg@siwy.il.pw.edu.pl Historyczne alternatywy! Folie i rzutnik! Slajdy! duży nakład pracy, przy przygotowywaniu!
Bardziej szczegółowoPOMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW
Józef Zawada Instrukcja do ćwiczenia nr P12 Temat ćwiczenia: POMIARY METODAMI POŚREDNIMI NA MIKROSKOPIE WAR- SZTATOWYM. OBLICZANIE NIEPEWNOŚCI TYCH POMIARÓW Cel ćwiczenia Celem niniejszego ćwiczenia jest
Bardziej szczegółowoSPIS TREŚCI. 1. Instalacja oprogramowania Oprogramowanie FAQ Często zadawane pytania 6 M25
Instrukcja SPIS TREŚCI 1. Instalacja oprogramowania 3 2. Oprogramowanie 3 3. FAQ Często zadawane pytania 6 1. Instalacja oprogramowania (tylko Windows PC) 1. Pobierz oprogramowanie dźwięku 7.1 przedłużacz
Bardziej szczegółowoProste układy wykonawcze
Proste układy wykonawcze sterowanie przekaźnikami, tyrystorami i małymi silnikami elektrycznymi Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne
Bardziej szczegółowoAM350 PRZENOŚNY SKANER POWIERZCHNI LIŚCI. Pomiar powierzchni liści w terenie. Numer katalogowy: N/A OPIS
AM350 PRZENOŚNY SKANER POWIERZCHNI LIŚCI Pomiar powierzchni liści w terenie Numer katalogowy: N/A OPIS NIENISZCZĄCE POMIARY CAŁKOWITEJ I CHOREJ POWIERZCHNI LIŚCI Obraz wyświetlany w czasie rzeczywistym
Bardziej szczegółowoNazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki
Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej
Bardziej szczegółowo(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Sposób sterowania zespołem pomp BUP 02/
RZECZPOSPOLITA PO LSK A Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 180536 (13) B1 (21 ) Numer zgłoszenia: 315275 (22) Data zgłoszenia: 12.07.1996 (51) IntCl7 F04B 49/02
Bardziej szczegółowo