UMO-2011/01/B/ST7/06234

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "UMO-2011/01/B/ST7/06234"

Transkrypt

1 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej i telekomunikacji optycznej Nr UMO-2011/01/B/ST7/06234 Metoda pomiaru elektroabsorpcji światła prowadzonego w wytworzonych strukturach falowodowych Wykonawcy: Andrzej Ziółkowski Szczecin

2 1. Układ pomiarowy służący do oceny absorpcji i elektroabsorpcji Pomiary sygnału świetlnego wprowadzonego do struktur wytworzonych falowodów przeprowadzone zostały w układzie, którego szczegóły przedstawiono w Załączniku nr 4 do sprawozdania merytorycznego. Przedstawiony został on również niżej (Rys. 1) przez wzgląd na klarowność niniejszego dokumentu. Rys. 1. Schemat układu pomiarowego. Użyto następujących oznaczeń: PF półfalówka, P polaryzator, KP kostka światłodzieląca, polaryzująca, PD płytka światłodzieląca, S soczewka sferyczna, Sc - soczewka cylindryczna, OM obiektyw mikroskopowy, T - Tłumik (pochłaniacz optyczny), BE beam expander (poszerzacz wiązki), D diafragma, CCD kamera CCD (BeamProfiler). 2. Element pomiarowy W kontekście pomiarowym, kluczowym elementem przedstawionego wyżej układu badawczego jest element detekcyjny. Jak wynika z przedstawionego schematu zdecydowano się wykorzystać kamerę CCD z odpowiednim oprogramowaniem (BreamProfiler). Może ona zarówno ułatwić procedurę wprowadzania światła do struktury jak również może służyć do jakościowej oceny wprowadzonego do sygnału świetlnego. W trakcie prac przetestowano kilka urządzeń tego typu. Niżej przedstawiono podstawowe informacje na ich temat oraz ich zalety i wady w kontekście przeprowadzonych pomiarów. Pierwszym testowanym urządzeniem przy pomocy, którego zarejestrowano światło prowadzone w falowodzie był Micro-BeamProfiler wyprodukowany przez firmę Duma Optoelectronics, wyposażony w obiektywy mikroskopowe firmy Melles Griot. Urządzenie to wyposażone jest w matryce CCD zawierającą około pikseli, czułą w typowym dla matryc tego typu, zakresie spektralnym nm. Urządzenie współpracuje z obiektywami mikroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest efektywne powiększenie skanowanego obrazu. Powiększenie w tym przypadku realizowane jest za pomocą zarówno technik optycznych jak i elektronicznych. Dzięki 2

3 wykorzystaniu tego urządzenia zeskanowano powierzchnię wyjściową prowadzącego światło a typowe obrazy jakie można w tym przypadku otrzymać zamieszczone zostały w Załączniku nr 4 do sprawozdania merytorycznego. Mimo swoich zalet związanych głównie z wbudowanym układem optyki rozwiązanie to posiada również wadę istotną w kontekście prowadzonych eksperymentów - nie umożliwia pomiaru mocy skanowanego sygnału. Wykorzystanie Micro BeamProfilera było jednak istotne (szczególnie na początkowym etapie eksperymentu) aby przy jego pomocy ocenić poprawność przeprowadzanej procedury wprowadzania światła oraz dokonać pomiaru wiązki formowanej w układzie i na wyjściu. Rysunek 2 przedstawia opisane urządzenie. Rys. 2. Micro BeamProfilera firmy Duma Optoelectronics wraz z mikroskopowym obiektywem skanującym firmy Melles Griot. Urządzenie pozwala skanować wiązkę laserową o rozmiarach od 0.5 mikrona. Drugim testowanym urządzeniem był BeamProfiler firmy Newport (LBP - 4). Jest to urządzenie, którego konstrukcja również zawiera element CCD. Nie jest to jednak element wyposażony w sprzężony z nim układ optyczny przez co umożliwia pomiar wiązek laserowych o średnicach kilkudziesięciu mikronów. Aby można było zaadoptować tego typu rozwiązanie do skanowania powierzchni wyjściowej należało rozbudować stanowisko, łącząc wspomnianą kamerę z układem optycznym. Zbudowano układ mechaniczny, umożliwiający dokładne pozycjonowanie zarówno obiektywu skanującego próbkę jak i pozycjonowanie kamery względem obiektywu. Tak rozbudowany układ detekcyjny posiada podobne cechy do wcześniej wykorzystanego micro-beamprofilera. Wykorzystane urządzenie wyposażone jest w możliwość pomiaru mocy optycznej promieniowania padającego na matrycę. W trakcie prac okazało się jednak, że w posiadanym egzemplarzu nie jest ona aktywna. Mimo kontaktu z producentem i sprzedawcą problem ten nie został rozwiązany. Rysunek 3 przedstawia Beam Profiler LBP-4. 3

4 Rys. 3. BeamProfiler firmy Newport (LBP - 4) wykorzystany we wstępnych pracach nad stanowiskiem laboratoryjnym. Urządzenie nie posiada układu współpracującej z nim optyki bez której jest przeznaczone do pomiarów wiązek o wymiarach około kilkudziesięciu mikronów. Przy pomocy tego typu urządzenia możliwe jest zeskanowanie rozkładów natężenia światła wychodzącego z nie jest możliwy jednak pomiar jego mocy. Na Rys. 4 przedstawiono przykładowy pomiar wykonany za pomocą Beam Profilera LBP-4. Obrazuje on wpływ zewnętrznego napięcia przyłożonego do struktury na rozkład poprzeczny modu falowodowego. Badania wykonano dla kilku długości fal promieniowania świetlnego załączając napięcie o wartości 1400 V. Rys. 4. Przykładowy pomiar wykonany przy pomocy urządzenia LBP-4, przedstawia on wpływ zewnętrznego pola elektrycznego na rozkład modu prowadzonego w falowodzie. Widać zależność rozkładu modu zarówno od długości fali jak i napięcia. 4

5 Trzecim testowanym urządzeniem był Beam Profiler firmy Thorlabs (model BP104- IR). W odróżnieniu od wcześniejszych urządzeń, nie jest to kamera CCD. Model BP104-IR jest Beam Profilerem wyposażonym w szczelinę skanującą i fotodiodę InGaAs czułą w zakresie od 700 do 1800 nm. Urządzenie posiada możliwość pomiaru mocy promieniowania padającego na jego element fotoczuły. W trakcie testów szybko zorientowano się, że mimo swoich zalet nie może ono zostać wykorzystane w układzie badawczym ze względu na zbyt niską czułość układu szczelina- detektor. Rys. 5. Beam Profiler firmy Thorlabs (model BP104-IR) wyposażony w szczelinę skanującą oraz fotodiodę InGaAs. Mimo, możliwości pomiaru mocy optycznej posiada zbyt niską czułość w kontekście przewidzianych pomiarów. Ostatnim urządzeniem, które zostało ostatecznie wykorzystane w badaniach był również Beam Profiler firmy Thorlabs ale którego konstrukcja zawiera matrycę CCD. Wykorzystany model BC 106N, posiada możliwość pomiaru mocy optycznych o niskiej wartości. Urządzenie zostało wbudowane głowicę mechaniczną, umożliwiającą jego pozycjonowanie. Rys. 6 przedstawia urządzenie oraz zbudowany układ mechaniczny. Rys. 6. Beam Profiler firmy Thorlabs BC 106N oraz układ skanujący płaszczyznę wyjściową. 5

6 3. Wstępne pomiary Podczas pomiarów istotne jest ustalenie odpowiedniej wartości ekspozycji, w taki sposób aby przetwornik AD nie został przesycony (100%) ani aby nie pracował w dolnej granicy swojej rozdzielczości. Do nieodpowiedniej pracy przetwornika AD może dość w sytuacji kiedy czas ekspozycji lub wzmocnienie kamery są dobierane manualnie. Z kolei automatyczne ustawienia ekspozycji pociągają za sobą problemy z odpowiednim ustawieniem optyki obrazującej. W związku z powyższym zastosowałem następujące podejście. W pierwszej kolejności przy braku zewnętrznego pola na próbce, w trybie manualnych ustawień ekspozycji ustawiłem układ obrazujący tak aby otrzymać ostry obraz o maksymalnej mocy. Następnie zmieniłem ustawienia ekspozycji na automatyczne aby przeprowadzić pomiary elektroabsorbcyjne. Dzięki odpowiedniej funkcji pomiarowej możliwe jest zbieranie danych pomiarowych jedynie z wydzielonego fragmentu matrycy CCD. Zawężony obraz matrycy zawierający światło zeskanowane z płaszczyzny wyjściowej przedstawia Rys. 7. Obraz jest obrócony o 90 stopni ponieważ kamera została pod takim kątem wmontowana w głowicę pozycjonującą, co widoczne jest na Rys. 6. Rys. 7. Obraz światła propagującego się w falowodzie, zeskanowany za pomocą urządzenia BC 106N pracującego w układzie przedstawionym na rysunku 6. Obraz jest obrócony o 90 stopni. 6

7 4. Pomiary wykonane dla próbki F5D-1T-S4 (2) Pierwszą czynnością wykonaną przystępując do pomiarów był test stabilności mocy prowadzonej w falowodzie bez zewnętrznego pola elektrycznego. Rys. 8 przedstawia moc wyjściową w funkcji czasu. W trzech widocznych na wykresie punktach pomiarowych wiązka została przysłoniona za pomocą detektora w celu weryfikacji mocy lasera. Nie stwierdzono zmian mocy generowanej przez laser, widoczne są jednak zmiany mocy światła prowadzonego w falowodzie. Punkty Pomiaru Mocy Lasera 3.18 W 3.18 W Rys. 8. Moc światła prowadzonego w falowodzie bez zewnętrznego pola elektrycznego. W trzech widocznych punktach dokonano pomiaru mocy wiązki lasera aby ocenić jej stabilność. W trakcie badań stwierdzono, że wytworzone struktury podczas pracy grzeją się. Generowane ciepło jest źródłem zarówno rozszerzania się podstawek na których są zamontowane jak również samej struktury, ewentualnie warstwy kleju za pomocą którego zostały do podstawek przytwierdzone. Jest to bardzo istotny czynnik wpływający na procedurę pomiarową i ocenę merytoryczną przeprowadzonych eksperymentów. Na kolejnych wykresach przedstawione zostaną systematyczne pomiary wykonane w zbudowanym układzie laboratoryjnym. Kolejno zaprezentowane zostaną wyniki uzyskane dla kilku wartości zewnętrznego napięcia od 1400 V do 800V. 7

8 Ze względu na fakt, że stwierdzono przemieszczanie się struktury pod wpływem zewnętrznego pola elektrycznego, zastosowano następującą procedurę: W pierwszej kolejności falowód był ustawiony w pozycji zapewniającej maksymalne sprzężenie ze źródłem światła, bez zewnętrznego pola elektrycznego. Następnie załączono zewnętrzne napięcie i po czasie po którym pozycja stabilizowała się przeprowadzano korektę jego położenia do pozycji zapewniającej maksimum prowadzonej mocy. Jeżeli moc światła po korekcie była stabilna napięcie było wyłączane. Dalsza obserwacja zmian mocy prowadzonej w falowodzie związana jest z procesem relaksacji. Przemieszczeniem jego pozycji podczas powrotu do temperatury pokojowej. Pomiary przeprowadzono dla fali o długości 860 nm. Włączenie napięcia 1400 V Rys. 9. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1400 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia i ponownej korekty położenia. 8

9 Włączenie napięcia 1300 V Rys. 10. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1300 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Włączenie napięcia 1200 V Rys. 11. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1200 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 9

10 Włączenie napięcia 1100 V Rys. 12. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1100 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu. Włączenie napięcia 1000 V Rys. 13. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1000 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 10

11 Włączenie napięcia 900 V Rys. 14. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 900 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Włączenie napięcia 800 V Rys. 15. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 800 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 11

12 Pomiar przy napięciu 1400 V zostało powtórzony. Włączenie napięcia 1400 V Rys. 16. Powtórzony pomiar mocy światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1400 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Ostatecznie na podstawie otrzymanych wyników wyznaczono różnicę mocy zmierzonej bez zewnętrznego pola elektrycznego oraz mocy zmierzonej po przyłożeniu zewnętrznego pola elektrycznego i kompensacji położenia. W następnej kolejności na stosując prawo absorpcji Lamberta wyznaczono współczynnik elektroabsorpcji czyli wywołaną zewnętrznym polem elektrycznym zmianę współczynnika absorpcji. Wyniki zostały przedstawione na rysunkach 17 oraz

13 Rys. 17. Różnica mocy zmierzonej bez zewnętrznego pola elektrycznego oraz mocy zmierzonej po przyłożeniu zewnętrznego pola w funkcji przykładanego do próbki napięcia. Rys. 18. Współczynnik elektroabsorpcji w funkcji przykładanego do próbki napięcia. 5. Podsumowanie Przedstawiono metodę pomiarową za pomocą, której możliwe jest wyznaczenie współczynnika wywołanej zewnętrznym polem elektrycznym zmiany absorpcji badanych próbek. W trakcie prac zbudowano układ eksperymentalny oraz przetestowano jego możliwości dla kilku urządzeń detekcyjnych. Uzyskano prowadzenie światła i możliwość jego pomiaru. Podczas wstępnych pomiarów stwierdzono istotny z merytorycznego punktu widzenia efekt rozgrzewania się badanych struktur w zewnętrznym polu elektrycznym. W związku z tym przeprowadzono pomiary uwzględniając wywołane efektami termicznymi przemieszczenie próbki falowodowej. 13

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic

Bardziej szczegółowo

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych.

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Przy pomocy optyki geometrycznej łatwo można przedstawić efekty propagacji światła tylko w ośrodku nieograniczonym. Nie ukazuje ona jednak interesujących

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne sieci komputerowe

Nowoczesne sieci komputerowe WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 1 Dąbrowa Górnicza, 2010

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych

DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z zasadą działania i zastosowaniami detektora optycznego

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych. Wprowadzenie teoretyczne. Elementy fotometrii

Ćwiczenie 3. Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych. Wprowadzenie teoretyczne. Elementy fotometrii Ćwiczenie 3 Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych Wprowadzenie teoretyczne Elementy fotometrii W ogólności pomiarem ilościowym promieniowania fal elektromagnetycznych zajmuje

Bardziej szczegółowo

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie.

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z wpływem mikro- i makrozgięć światłowodów włóknistych na ich tłumienność.

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA WIĄZKI GENEROWANEJ PRZEZ LASER

CHARAKTERYSTYKA WIĄZKI GENEROWANEJ PRZEZ LASER CHARATERYSTYA WIĄZI GENEROWANEJ PRZEZ LASER ształt wiązki lasera i jej widmo są rezultatem interferencji promieniowania we wnęce rezonansowej. W wyniku tego procesu powstają charakterystyczne rozkłady

Bardziej szczegółowo

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH 1. ODBICIE I ZAŁAMANIE ŚWIATŁA 1.1. PRAWO ODBICIE I ZAŁAMANIA ŚWIATŁA Gdy promień światła pada na granicę pomiędzy dwiema różnymi

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV (Światłowodowe systemy szerokopasmowe) (c) Sergiusz Patela 1998-2002 Sieci optyczne - Parametry i technologia systemu CTV 1 Podstawy optyki swiatlowodowej:

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72 WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72 I. ZAGADNIENIA TEORETYCZNE Polaryzacja światła. Zjawisko polaryzacji światła przy odbiciu od powierzchni dielektrycznej kąt Brewstera. Prawa odbicia i załamania światła na

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 8 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 2 Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami tłumienności odbiciowej i własnej.

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia modulacyjna

Spektroskopia modulacyjna Spektroskopia modulacyjna pozwala na otrzymanie energii przejść optycznych w strukturze z bardzo dużą dokładnością. Charakteryzuje się również wysoką czułością, co pozwala na obserwację słabych przejść,

Bardziej szczegółowo

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji 7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji Wyznaczanie poziomu ekspozycji w przypadku promieniowania nielaserowego jest bardziej złożone niż w przypadku promieniowania laserowego. Wynika to z faktu, że pracownik

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI ĆWICZENIE 1 ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Gdańsk 2001 r. ĆWICZENIE 1: ŹRÓDŁA ŚWIATŁA 2 1. Wstęp Zasada działania półprzewodnikowych źródeł światła (LED-ów i diod laserowych LD) jest bardzo

Bardziej szczegółowo

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Przedmiot: Badania nieniszczące metodami elektromagnetycznymi Numer Temat: Badanie materiałów kompozytowych z ćwiczenia: wykorzystaniem fal elektromagnetycznych

Bardziej szczegółowo

Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640

Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640 Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640 2012-02-07 21:33:35 2012-02-07 21:34:21 i3.jpg t640.jpg 1/8 Przygotowano w programie FLIR Tools Celem opracowania jest przedstawienie

Bardziej szczegółowo

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i

Bardziej szczegółowo

Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru i Fotogrametrii.

Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru i Fotogrametrii. Uniwersytet Uniwersytet Rolniczy Rolniczy w Krakowie Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru

Bardziej szczegółowo

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE Cel ćwiczenia Poznanie podstawowej metody określania biochemicznych parametrów płynów ustrojowych oraz wymagań technicznych stawianych urządzeniu pomiarowemu.

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Oczywistym problemem przy sprzęganiu światłowodu ze źródłami światła jest w pierwszym rzędzie umieszczenie wiazki w wewnatrz apertury numeryczne światłowodu. W przypadku

Bardziej szczegółowo

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1 Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Badania Maszyn CNC Nr 1 Pomiary dokładności pozycjonowania laserowym systemem pomiarowym ML-10 Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński

Bardziej szczegółowo

Rys. 2. Porównanie charakterystyk widmowych czułości względnej przetwornika EXview HAD CCD oraz konwencjonalnego przetwornika CCD.

Rys. 2. Porównanie charakterystyk widmowych czułości względnej przetwornika EXview HAD CCD oraz konwencjonalnego przetwornika CCD. Obiektywy day-night W projektowaniu systemów telewizji dozorowej, gdy rozważamy punkt kamerowy, jako jego podstawowy element traktuje się kamerę. I większość definiowanych przez projektanta, użytkownika

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Ćwiczenie 2 Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Podstawy Działanie obrazujące soczewek lub układu soczewek

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Dent/digitest 3 Opracował: mgr inż. Jan Kalita 1 Spis treści. 1. Opis techniczny 3 1.1. Przeznaczenie fantomu. 3 1.2. Budowa fantomu. 4 2. Procedura

Bardziej szczegółowo

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Deuterowa korekcja tła w praktyce Str. Tytułowa Deuterowa korekcja tła w praktyce mgr Jacek Sowiński jaceksow@sge.com.pl Plan Korekcja deuterowa 1. Czemu służy? 2. Jak to działa? 3. Kiedy włączyć? 4. Jak/czy i co regulować? 5. Jaki jest

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII POMIARY TEMPERATURY NAGRZEWANEGO WSADU Cel ćwiczenia: zapoznanie z metodyką pomiarów temperatury nagrzewanego wsadu stalowego 1 POJĘCIE TEMPERATURY Z definicji, która jest oparta

Bardziej szczegółowo

Obrabiarki CNC. Nr 10

Obrabiarki CNC. Nr 10 Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Obrabiarki CNC Nr 10 Obróbka na tokarce CNC CT210 ze sterowaniem Sinumerik 840D Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński Poznań, 17 maja,

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami

Bardziej szczegółowo

EKG (Elektrokardiogram zapis czasowych zmian potencjału mięśnia sercowego)

EKG (Elektrokardiogram zapis czasowych zmian potencjału mięśnia sercowego) 6COACH 26 EKG (Elektrokardiogram zapis czasowych zmian potencjału mięśnia sercowego) Program: Coach 6 Projekt: na ZMN060c CMA Coach Projects\PTSN Coach 6\EKG\EKG_zestaw.cma Przykład wyników: EKG_wyniki.cma

Bardziej szczegółowo

PANEL SŁONECZNY NXT. Rozpocznij

PANEL SŁONECZNY NXT. Rozpocznij Panel Słoneczny NXT Panel Słoneczny NXT Opis Zadanie polega na badaniu możliwości generowania prądu przez panel słoneczny poprzez analizę mocy wyjściowej urządzenia [W]. Eksperymentalnie sprawdzony zostanie

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca

Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Wyznaczanie stałej słonecznej i mocy promieniowania Słońca Jak poznać Wszechświat, jeśli nie mamy bezpośredniego dostępu do każdej jego części? Ta trudność jest codziennością dla astronomii. Obiekty astronomiczne

Bardziej szczegółowo

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ

XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ XX Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW Zakopane 12-14 marca 2014 WYKORZYSTANIE WIBROMETRU SKANUJĄCEGO DO BEZKONTAKTOWYCH BADAŃ DRGAŃ Tomasz KATZ, Instytut Lotnictwa, Warszawa katz@ilot.edu.pl 1.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ćwiczenie 53. Soczewki Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka przedmiotu zamówienia

Charakterystyka przedmiotu zamówienia Załącznik nr 5 do siwz W/NO/ZP-2/12 Charakterystyka przedmiotu zamówienia Ilekroć w treści siwz, w tym w opisie przedmiotu zamówienia, użyte są znaki towarowe, patenty lub pochodzenie, a także normy, Zamawiający

Bardziej szczegółowo

Opt Lasers CLH 2500/5000. Laserowa głowica grawerująca. Opis produktu

Opt Lasers CLH 2500/5000. Laserowa głowica grawerująca. Opis produktu CLH 2500/5000 Laserowa głowica grawerująca pozwala wykorzystać wysoką prędkość poruszania się podczas grawerowania nawet skomplikowanych wzorów. Długość przewodu pomiędzy głowicą laserową i sterownikiem

Bardziej szczegółowo

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych.

Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów optycznych. msg O 7 - - Temat: Badanie soczewek, wyznaczanie odległości ogniskowej. Zagadnienia: równanie soczewki, ogniskowa soczewki, powiększenie, geometryczna konstrukcja obrazu, działanie prostych przyrządów

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów

Bardziej szczegółowo

Zestaw, który pragnę zaproponować do doświadczeń ze światlem podczerwonym. Zestaw składa. z następujących elementów: Rys.lb

Zestaw, który pragnę zaproponować do doświadczeń ze światlem podczerwonym. Zestaw składa. z następujących elementów: Rys.lb Velefrh napadu ulitelil fyziky Szkoła Podstawowa Krowiarki Zestaw, który pragnę zaproponować do doświadczeń ze światlem podczerwonym może być wykorzystany zaróvmo w szkole podstawowej jak i w średniej.

Bardziej szczegółowo

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr : Soczewki Cel ćwiczenia: Wyznaczenie ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiającej i rozpraszającej) oraz ogniskowej soczewki rozpraszającej

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic TELEDETEKCJA A źródło B oddziaływanie z atmosferą C obiekt, oddziaływanie z obiektem D detektor E zbieranie danych F analiza G zastosowania A D TELEDETEKCJA UKŁADY OPTYCZNE Najprostszym elementem optycznym

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia

Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Załącznik nr 2a do SIWZ postęp. A120-211-169/15/SS szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Dostawa wraz z instalacją systemu do ultra wysokosprawnej chromatografii cieczowej UHPLC oraz preparatywnego systemu

Bardziej szczegółowo

Kątowa rozdzielczość matrycy fotodetektorów

Kątowa rozdzielczość matrycy fotodetektorów WYKŁAD 24 SMK ANALIZUJĄCE PRZETWORNIKI OBRAZU Na podstawie: K. Booth, S. Hill, Optoelektronika, WKŁ, Warszawa 2001 1. Zakres dynamiczny, rozdzielczość przestrzenna miara dokładności rozróżniania szczegółów

Bardziej szczegółowo

RAFAŁ MICHOŃ. rmichonr@gmail.com. Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r.

RAFAŁ MICHOŃ. rmichonr@gmail.com. Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r. RAFAŁ MICHOŃ rmichonr@gmail.com Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r. - Główne zagadnienia (ekspozycja, czułość, przysłona, głębia ostrości, balans

Bardziej szczegółowo

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne

Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne Zagadnienia: 1. Absorbcja światła. 2. Współrzędne trójchromatyczne barwy, Prawa Gassmana. 3. Trójkąt barw. Trójkąt nasyceń. 4. Rozpraszanie światła. 5.

Bardziej szczegółowo

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki

Bardziej szczegółowo

Specjalne funkcje programu SigmaNEST do obsługi przecinarek laserowych

Specjalne funkcje programu SigmaNEST do obsługi przecinarek laserowych Specjalne funkcje programu SigmaNEST do obsługi przecinarek laserowych Wstęp Cięcie laserem jest stosunkowo nową technologią, która pozwala na uzyskanie bardzo dobrej jakości krawędzi blachy, w połączeniu

Bardziej szczegółowo

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 5 Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami optycznymi. Badane elementy: Zestaw ćwiczeniowy Laser

Bardziej szczegółowo

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07

PL 203490 B1. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica,Kraków,PL 01.10.2007 BUP 20/07 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203490 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379229 (51) Int.Cl. G01N 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 20.03.2006

Bardziej szczegółowo

Laserowy system pomiaru parametrów geometrii obudowy szybu i jego wyposażenia

Laserowy system pomiaru parametrów geometrii obudowy szybu i jego wyposażenia Laserowy system pomiaru parametrów geometrii obudowy szybu i jego wyposażenia W Głównym Instytucie Górnictwa pracowano nowatorski system laserowego wyposażenia, który umożliwi wprowadzenie nowych metod

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Model pasmowy półprzewodników. 2. Zasada działania lasera półprzewodnikowego

Bardziej szczegółowo

LIDAR. Pomiary odległości przy pomocy lasera i wyznaczanie prędkości światła. Opracował: Michał Posyniak

LIDAR. Pomiary odległości przy pomocy lasera i wyznaczanie prędkości światła. Opracował: Michał Posyniak LID Pomiary odległości przy pomocy lasera i wyznaczanie prędkości światła. Opracował: Michał Posyniak Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i działaniem lidaru oraz wykonanie za jego pomocą prostych

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy uniwersalne

Mikroskopy uniwersalne Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z

Bardziej szczegółowo

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową.

Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Szczegółowy rozkład materiału z fizyki dla klasy III gimnazjum zgodny z nową podstawą programową. Lekcja organizacyjna. Omówienie programu nauczania i przypomnienie wymagań przedmiotowych Tytuł rozdziału

Bardziej szczegółowo

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW

PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW PIONY, PIONOWNIKI, CENTROWNIKI PRZYRZĄDY SŁUŻĄCE DO CENTROWANIA INSTRUMENTÓW I SYGNAŁÓW ZADANIE PIONÓW: ustawienie instrumentu i sygnału centrycznie nad punktem. ZADANIE PIONOWNIKOW: badanie pionowości,

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-6

Ć W I C Z E N I E N R O-6 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-6 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FAL PODSTAWOWYCH BARW W WIDMIE ŚWIATŁA BIAŁEGO

Bardziej szczegółowo

Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii

Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii Metrologia wymiarowa dużych odległości oraz dla potrzeb mikro- i nanotechnologii Grażyna Rudnicka Mariusz Wiśniewski, Dariusz Czułek, Robert Szumski, Piotr Sosinowski Główny Urząd Miar Mapy drogowe EURAMET

Bardziej szczegółowo

PL 203746 B1. Kompensator optyczny odpracowujący nastawy do strzelania w celownikach lunetowych. Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa,PL

PL 203746 B1. Kompensator optyczny odpracowujący nastawy do strzelania w celownikach lunetowych. Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203746 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 363495 (51) Int.Cl. F41G 1/54 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 17.11.2003

Bardziej szczegółowo

Elementy optoelektroniczne. Przygotował: Witold Skowroński

Elementy optoelektroniczne. Przygotował: Witold Skowroński Elementy optoelektroniczne Przygotował: Witold Skowroński Plan prezentacji Wstęp Diody świecące LED, Wyświetlacze LED Fotodiody Fotorezystory Fototranzystory Transoptory Dioda LED Dioda LED z elektrycznego

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków 6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka właściwości tłumiących światło wybranych materiałów z jakich wykonane są okulary ochronne

Charakterystyka właściwości tłumiących światło wybranych materiałów z jakich wykonane są okulary ochronne Wydział PPT Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej Laboratorium PODSTAWY BIOFOTONIKI Ćwiczenie nr 6 Charakterystyka właściwości tłumiących światło wybranych materiałów z jakich wykonane są okulary

Bardziej szczegółowo

Soczewka z wyjściem kątowym, montowana bezpośrednio na. światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody

Soczewka z wyjściem kątowym, montowana bezpośrednio na. światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody SOCZEWKI Akcesoria Symbol Zastosowanie LVL2.2 Soczewka z wyjściem osiowym, montowana bezpośrednio na światłowody o średnicy 2,2 mm lub nakręcana na światłowody zakończone tuleją M 2,6 (Rys. ) mosiądz niklowany

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-20 SZ-222-20/12/6/6/2012/2713 Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż

Bardziej szczegółowo

LAB-EL LB-760A: regulacja PID i procedura samostrojenia

LAB-EL LB-760A: regulacja PID i procedura samostrojenia Page 1 of 5 Copyright 2003-2010 LAB-EL Elektronika Laboratoryjna www.label.pl LAB-EL LB-760A: regulacja PID i procedura samostrojenia Nastawy regulatora PID W regulatorze LB-760A poczynając od wersji 7.1

Bardziej szczegółowo

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications

MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru

Bardziej szczegółowo

Wyposażenie Samolotu

Wyposażenie Samolotu P O L I T E C H N I K A R Z E S Z O W S K A im. Ignacego Łukasiewicza Wydział Budowy Maszyn i Lotnictwa Katedra Awioniki i Sterowania Wyposażenie Samolotu Instrukcja do laboratorium nr 2 Przyrządy żyroskopowe

Bardziej szczegółowo

Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza

Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza Grzegorz Sobczak, Elżbieta Dąbrowska, Marian Teodorczyk, Joanna Kalbarczyk,

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy.

Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy. Raport z przeprowadzonych pomiarów. Temat: Zaprojektowanie procesu kontroli jakości wymiarów geometrycznych na przykładzie obudowy. Spis treści 1.Cel pomiaru... 3 2. Skanowanie 3D- pozyskanie geometrii

Bardziej szczegółowo

LASER BARWNIKOWY. Indywidualna Pracownia dla Zaawansowanych. Michał Dąbrowski

LASER BARWNIKOWY. Indywidualna Pracownia dla Zaawansowanych. Michał Dąbrowski LASER BARWNIKOWY Indywidualna Pracownia dla Zaawansowanych Michał Dąbrowski Streszczenie Zbadano charakterystyki lasera azotowego: zmierzono czas trwania impulsu, zależność amplitudy impulsu w funkcji

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 286 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 20 Data wydania: 8 sierpnia 2014 r. Nazwa i adres: OŚRODEK BADAŃ

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1456 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 1, Data wydania: 30 sierpnia 2013 r. AB 1456 Nazwa i adres

Bardziej szczegółowo