UMO-2011/01/B/ST7/06234

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "UMO-2011/01/B/ST7/06234"

Transkrypt

1 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej i telekomunikacji optycznej Nr UMO-2011/01/B/ST7/06234 Metoda pomiaru elektroabsorpcji światła prowadzonego w wytworzonych strukturach falowodowych Wykonawcy: Andrzej Ziółkowski Szczecin

2 1. Układ pomiarowy służący do oceny absorpcji i elektroabsorpcji Pomiary sygnału świetlnego wprowadzonego do struktur wytworzonych falowodów przeprowadzone zostały w układzie, którego szczegóły przedstawiono w Załączniku nr 4 do sprawozdania merytorycznego. Przedstawiony został on również niżej (Rys. 1) przez wzgląd na klarowność niniejszego dokumentu. Rys. 1. Schemat układu pomiarowego. Użyto następujących oznaczeń: PF półfalówka, P polaryzator, KP kostka światłodzieląca, polaryzująca, PD płytka światłodzieląca, S soczewka sferyczna, Sc - soczewka cylindryczna, OM obiektyw mikroskopowy, T - Tłumik (pochłaniacz optyczny), BE beam expander (poszerzacz wiązki), D diafragma, CCD kamera CCD (BeamProfiler). 2. Element pomiarowy W kontekście pomiarowym, kluczowym elementem przedstawionego wyżej układu badawczego jest element detekcyjny. Jak wynika z przedstawionego schematu zdecydowano się wykorzystać kamerę CCD z odpowiednim oprogramowaniem (BreamProfiler). Może ona zarówno ułatwić procedurę wprowadzania światła do struktury jak również może służyć do jakościowej oceny wprowadzonego do sygnału świetlnego. W trakcie prac przetestowano kilka urządzeń tego typu. Niżej przedstawiono podstawowe informacje na ich temat oraz ich zalety i wady w kontekście przeprowadzonych pomiarów. Pierwszym testowanym urządzeniem przy pomocy, którego zarejestrowano światło prowadzone w falowodzie był Micro-BeamProfiler wyprodukowany przez firmę Duma Optoelectronics, wyposażony w obiektywy mikroskopowe firmy Melles Griot. Urządzenie to wyposażone jest w matryce CCD zawierającą około pikseli, czułą w typowym dla matryc tego typu, zakresie spektralnym nm. Urządzenie współpracuje z obiektywami mikroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest efektywne powiększenie skanowanego obrazu. Powiększenie w tym przypadku realizowane jest za pomocą zarówno technik optycznych jak i elektronicznych. Dzięki 2

3 wykorzystaniu tego urządzenia zeskanowano powierzchnię wyjściową prowadzącego światło a typowe obrazy jakie można w tym przypadku otrzymać zamieszczone zostały w Załączniku nr 4 do sprawozdania merytorycznego. Mimo swoich zalet związanych głównie z wbudowanym układem optyki rozwiązanie to posiada również wadę istotną w kontekście prowadzonych eksperymentów - nie umożliwia pomiaru mocy skanowanego sygnału. Wykorzystanie Micro BeamProfilera było jednak istotne (szczególnie na początkowym etapie eksperymentu) aby przy jego pomocy ocenić poprawność przeprowadzanej procedury wprowadzania światła oraz dokonać pomiaru wiązki formowanej w układzie i na wyjściu. Rysunek 2 przedstawia opisane urządzenie. Rys. 2. Micro BeamProfilera firmy Duma Optoelectronics wraz z mikroskopowym obiektywem skanującym firmy Melles Griot. Urządzenie pozwala skanować wiązkę laserową o rozmiarach od 0.5 mikrona. Drugim testowanym urządzeniem był BeamProfiler firmy Newport (LBP - 4). Jest to urządzenie, którego konstrukcja również zawiera element CCD. Nie jest to jednak element wyposażony w sprzężony z nim układ optyczny przez co umożliwia pomiar wiązek laserowych o średnicach kilkudziesięciu mikronów. Aby można było zaadoptować tego typu rozwiązanie do skanowania powierzchni wyjściowej należało rozbudować stanowisko, łącząc wspomnianą kamerę z układem optycznym. Zbudowano układ mechaniczny, umożliwiający dokładne pozycjonowanie zarówno obiektywu skanującego próbkę jak i pozycjonowanie kamery względem obiektywu. Tak rozbudowany układ detekcyjny posiada podobne cechy do wcześniej wykorzystanego micro-beamprofilera. Wykorzystane urządzenie wyposażone jest w możliwość pomiaru mocy optycznej promieniowania padającego na matrycę. W trakcie prac okazało się jednak, że w posiadanym egzemplarzu nie jest ona aktywna. Mimo kontaktu z producentem i sprzedawcą problem ten nie został rozwiązany. Rysunek 3 przedstawia Beam Profiler LBP-4. 3

4 Rys. 3. BeamProfiler firmy Newport (LBP - 4) wykorzystany we wstępnych pracach nad stanowiskiem laboratoryjnym. Urządzenie nie posiada układu współpracującej z nim optyki bez której jest przeznaczone do pomiarów wiązek o wymiarach około kilkudziesięciu mikronów. Przy pomocy tego typu urządzenia możliwe jest zeskanowanie rozkładów natężenia światła wychodzącego z nie jest możliwy jednak pomiar jego mocy. Na Rys. 4 przedstawiono przykładowy pomiar wykonany za pomocą Beam Profilera LBP-4. Obrazuje on wpływ zewnętrznego napięcia przyłożonego do struktury na rozkład poprzeczny modu falowodowego. Badania wykonano dla kilku długości fal promieniowania świetlnego załączając napięcie o wartości 1400 V. Rys. 4. Przykładowy pomiar wykonany przy pomocy urządzenia LBP-4, przedstawia on wpływ zewnętrznego pola elektrycznego na rozkład modu prowadzonego w falowodzie. Widać zależność rozkładu modu zarówno od długości fali jak i napięcia. 4

5 Trzecim testowanym urządzeniem był Beam Profiler firmy Thorlabs (model BP104- IR). W odróżnieniu od wcześniejszych urządzeń, nie jest to kamera CCD. Model BP104-IR jest Beam Profilerem wyposażonym w szczelinę skanującą i fotodiodę InGaAs czułą w zakresie od 700 do 1800 nm. Urządzenie posiada możliwość pomiaru mocy promieniowania padającego na jego element fotoczuły. W trakcie testów szybko zorientowano się, że mimo swoich zalet nie może ono zostać wykorzystane w układzie badawczym ze względu na zbyt niską czułość układu szczelina- detektor. Rys. 5. Beam Profiler firmy Thorlabs (model BP104-IR) wyposażony w szczelinę skanującą oraz fotodiodę InGaAs. Mimo, możliwości pomiaru mocy optycznej posiada zbyt niską czułość w kontekście przewidzianych pomiarów. Ostatnim urządzeniem, które zostało ostatecznie wykorzystane w badaniach był również Beam Profiler firmy Thorlabs ale którego konstrukcja zawiera matrycę CCD. Wykorzystany model BC 106N, posiada możliwość pomiaru mocy optycznych o niskiej wartości. Urządzenie zostało wbudowane głowicę mechaniczną, umożliwiającą jego pozycjonowanie. Rys. 6 przedstawia urządzenie oraz zbudowany układ mechaniczny. Rys. 6. Beam Profiler firmy Thorlabs BC 106N oraz układ skanujący płaszczyznę wyjściową. 5

6 3. Wstępne pomiary Podczas pomiarów istotne jest ustalenie odpowiedniej wartości ekspozycji, w taki sposób aby przetwornik AD nie został przesycony (100%) ani aby nie pracował w dolnej granicy swojej rozdzielczości. Do nieodpowiedniej pracy przetwornika AD może dość w sytuacji kiedy czas ekspozycji lub wzmocnienie kamery są dobierane manualnie. Z kolei automatyczne ustawienia ekspozycji pociągają za sobą problemy z odpowiednim ustawieniem optyki obrazującej. W związku z powyższym zastosowałem następujące podejście. W pierwszej kolejności przy braku zewnętrznego pola na próbce, w trybie manualnych ustawień ekspozycji ustawiłem układ obrazujący tak aby otrzymać ostry obraz o maksymalnej mocy. Następnie zmieniłem ustawienia ekspozycji na automatyczne aby przeprowadzić pomiary elektroabsorbcyjne. Dzięki odpowiedniej funkcji pomiarowej możliwe jest zbieranie danych pomiarowych jedynie z wydzielonego fragmentu matrycy CCD. Zawężony obraz matrycy zawierający światło zeskanowane z płaszczyzny wyjściowej przedstawia Rys. 7. Obraz jest obrócony o 90 stopni ponieważ kamera została pod takim kątem wmontowana w głowicę pozycjonującą, co widoczne jest na Rys. 6. Rys. 7. Obraz światła propagującego się w falowodzie, zeskanowany za pomocą urządzenia BC 106N pracującego w układzie przedstawionym na rysunku 6. Obraz jest obrócony o 90 stopni. 6

7 4. Pomiary wykonane dla próbki F5D-1T-S4 (2) Pierwszą czynnością wykonaną przystępując do pomiarów był test stabilności mocy prowadzonej w falowodzie bez zewnętrznego pola elektrycznego. Rys. 8 przedstawia moc wyjściową w funkcji czasu. W trzech widocznych na wykresie punktach pomiarowych wiązka została przysłoniona za pomocą detektora w celu weryfikacji mocy lasera. Nie stwierdzono zmian mocy generowanej przez laser, widoczne są jednak zmiany mocy światła prowadzonego w falowodzie. Punkty Pomiaru Mocy Lasera 3.18 W 3.18 W Rys. 8. Moc światła prowadzonego w falowodzie bez zewnętrznego pola elektrycznego. W trzech widocznych punktach dokonano pomiaru mocy wiązki lasera aby ocenić jej stabilność. W trakcie badań stwierdzono, że wytworzone struktury podczas pracy grzeją się. Generowane ciepło jest źródłem zarówno rozszerzania się podstawek na których są zamontowane jak również samej struktury, ewentualnie warstwy kleju za pomocą którego zostały do podstawek przytwierdzone. Jest to bardzo istotny czynnik wpływający na procedurę pomiarową i ocenę merytoryczną przeprowadzonych eksperymentów. Na kolejnych wykresach przedstawione zostaną systematyczne pomiary wykonane w zbudowanym układzie laboratoryjnym. Kolejno zaprezentowane zostaną wyniki uzyskane dla kilku wartości zewnętrznego napięcia od 1400 V do 800V. 7

8 Ze względu na fakt, że stwierdzono przemieszczanie się struktury pod wpływem zewnętrznego pola elektrycznego, zastosowano następującą procedurę: W pierwszej kolejności falowód był ustawiony w pozycji zapewniającej maksymalne sprzężenie ze źródłem światła, bez zewnętrznego pola elektrycznego. Następnie załączono zewnętrzne napięcie i po czasie po którym pozycja stabilizowała się przeprowadzano korektę jego położenia do pozycji zapewniającej maksimum prowadzonej mocy. Jeżeli moc światła po korekcie była stabilna napięcie było wyłączane. Dalsza obserwacja zmian mocy prowadzonej w falowodzie związana jest z procesem relaksacji. Przemieszczeniem jego pozycji podczas powrotu do temperatury pokojowej. Pomiary przeprowadzono dla fali o długości 860 nm. Włączenie napięcia 1400 V Rys. 9. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1400 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia i ponownej korekty położenia. 8

9 Włączenie napięcia 1300 V Rys. 10. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1300 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Włączenie napięcia 1200 V Rys. 11. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1200 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 9

10 Włączenie napięcia 1100 V Rys. 12. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1100 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu. Włączenie napięcia 1000 V Rys. 13. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1000 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 10

11 Włączenie napięcia 900 V Rys. 14. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 900 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Włączenie napięcia 800 V Rys. 15. Moc światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 800 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. 11

12 Pomiar przy napięciu 1400 V zostało powtórzony. Włączenie napięcia 1400 V Rys. 16. Powtórzony pomiar mocy światła prowadzonego w falowodzie i jego zmiana pod wpływem napięcia o wartości 1400 V (proces grzania), korekty jego położenia oraz procesu stygnięcia. Ostatecznie na podstawie otrzymanych wyników wyznaczono różnicę mocy zmierzonej bez zewnętrznego pola elektrycznego oraz mocy zmierzonej po przyłożeniu zewnętrznego pola elektrycznego i kompensacji położenia. W następnej kolejności na stosując prawo absorpcji Lamberta wyznaczono współczynnik elektroabsorpcji czyli wywołaną zewnętrznym polem elektrycznym zmianę współczynnika absorpcji. Wyniki zostały przedstawione na rysunkach 17 oraz

13 Rys. 17. Różnica mocy zmierzonej bez zewnętrznego pola elektrycznego oraz mocy zmierzonej po przyłożeniu zewnętrznego pola w funkcji przykładanego do próbki napięcia. Rys. 18. Współczynnik elektroabsorpcji w funkcji przykładanego do próbki napięcia. 5. Podsumowanie Przedstawiono metodę pomiarową za pomocą, której możliwe jest wyznaczenie współczynnika wywołanej zewnętrznym polem elektrycznym zmiany absorpcji badanych próbek. W trakcie prac zbudowano układ eksperymentalny oraz przetestowano jego możliwości dla kilku urządzeń detekcyjnych. Uzyskano prowadzenie światła i możliwość jego pomiaru. Podczas wstępnych pomiarów stwierdzono istotny z merytorycznego punktu widzenia efekt rozgrzewania się badanych struktur w zewnętrznym polu elektrycznym. W związku z tym przeprowadzono pomiary uwzględniając wywołane efektami termicznymi przemieszczenie próbki falowodowej. 13

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 13 Temat: Biostymulacja laserowa Istotą biostymulacji laserowej jest napromieniowanie punktów akupunkturowych ciągłym, monochromatycznym

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Światłowody Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie L6 w zakresie Optyki Streszczenie Celem wykonanego na Pracowni Fizycznej dla Zaawansowanych

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych.

Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Przy pomocy optyki geometrycznej łatwo można przedstawić efekty propagacji światła tylko w ośrodku nieograniczonym. Nie ukazuje ona jednak interesujących

Bardziej szczegółowo

Systemy laserowe. dr inż. Adrian Zakrzewski dr inż. Tomasz Baraniecki

Systemy laserowe. dr inż. Adrian Zakrzewski dr inż. Tomasz Baraniecki Systemy laserowe dr inż. Adrian Zakrzewski dr inż. Tomasz Baraniecki Metody analizy i kształtowania wiązki laserowej Źródło: Beyer Wiązka gaussowska Natężenia promieniowania poprzecznie do kierunku propagacji

Bardziej szczegółowo

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej

LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE. ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej LABORATORIUM POMIARY W AKUSTYCE ĆWICZENIE NR 4 Pomiar współczynników pochłaniania i odbicia dźwięku oraz impedancji akustycznej metodą fali stojącej 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie metody

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED Ćwiczenie. Parametry statyczne diod LED. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi właściwościami i charakterystykami diod LED. Poznanie ograniczeń i sposobu zasilania tego typu

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0..

Ćwiczenie 363. Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa. Początkowa wartość kąta 0.. Nazwisko... Data... Nr na liście... Imię... Wydział... Dzień tyg.... Godzina... Polaryzacja światła sprawdzanie prawa Malusa Początkowa wartość kąta 0.. 1 25 49 2 26 50 3 27 51 4 28 52 5 29 53 6 30 54

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ ĆWICZENIE 8 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ. Wykaz przyrządów Transmisyjne siatki dyfrakcyjne (S) : typ A -0 linii na milimetr oraz typ B ; Laser lub inne źródło światła

Bardziej szczegółowo

POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ

POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ ĆWICZENIE O9 POMIAR APERTURY NUMERYCZNEJ ŚWIATŁOWODU KATEDRA FIZYKI 1 Wstęp Prawa optyki geometrycznej W optyce geometrycznej, rozpatrując rozchodzenie się fal świetlnych przyjmuje się pewne założenia

Bardziej szczegółowo

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI

40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, lipca 2009 r. DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI ZADANIE DOŚWIADCZALNE 2 DWÓJŁOMNOŚĆ MIKI W tym doświadczeniu zmierzysz dwójłomność miki (kryształu szeroko używanego w optycznych elementach polaryzujących). WYPOSAŻENIE Oprócz elementów 1), 2) i 3) powinieneś

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne sieci komputerowe

Nowoczesne sieci komputerowe WYŻSZA SZKOŁA BIZNESU W DĄBROWIE GÓRNICZEJ WYDZIAŁ ZARZĄDZANIA INFORMATYKI I NAUK SPOŁECZNYCH Instrukcja do laboratorium z przedmiotu: Nowoczesne sieci komputerowe Instrukcja nr 1 Dąbrowa Górnicza, 2010

Bardziej szczegółowo

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie zestawu termowizyjnego wysokiej rozdzielczości wraz z wyposażeniem o parametrach zgodnych z określonymi

Bardziej szczegółowo

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.

Badanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej. Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie

Bardziej szczegółowo

DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych

DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z zasadą działania i zastosowaniami detektora optycznego

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Bardziej szczegółowo

Efekt Faradaya. Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego

Efekt Faradaya. Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego Efekt Faradaya Materiały przeznaczone dla studentów Inżynierii Materiałowej w Instytucie Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego 1 Cel ćwiczenia Ćwiczenie jest eksperymentem z dziedziny optyki nieliniowej

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej

Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 29.03.2016 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 5. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓŻYCH WŁASOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Układ aktywnej redukcji hałasu przenikającego przez przegrodę w postaci płyty mosiężnej

Układ aktywnej redukcji hałasu przenikającego przez przegrodę w postaci płyty mosiężnej Układ aktywnej redukcji hałasu przenikającego przez przegrodę w postaci płyty mosiężnej Paweł GÓRSKI 1), Emil KOZŁOWSKI 1), Gracjan SZCZĘCH 2) 1) Centralny Instytut Ochrony Pracy Państwowy Instytut Badawczy

Bardziej szczegółowo

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki

Bardziej szczegółowo

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 4 Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z parametrem tłumienności światłowodów oraz ze sposobem jego pomiaru Badane elementy:

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych. Wprowadzenie teoretyczne. Elementy fotometrii

Ćwiczenie 3. Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych. Wprowadzenie teoretyczne. Elementy fotometrii Ćwiczenie 3 Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych Wprowadzenie teoretyczne Elementy fotometrii W ogólności pomiarem ilościowym promieniowania fal elektromagnetycznych zajmuje

Bardziej szczegółowo

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna)

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna) Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna) 1 Schemat żyroskopu Wiązki biegnące w przeciwną stronę Nawinięty światłowód optyczny Źródło światła Fotodioda Polaryzator

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH

ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH ZASTOSOWANIE ZJAWISKA CAŁKOWITEGO WEWNĘTRZNEGO ODBICIA W ŚWIATŁOWODACH 1. ODBICIE I ZAŁAMANIE ŚWIATŁA 1.1. PRAWO ODBICIE I ZAŁAMANIA ŚWIATŁA Gdy promień światła pada na granicę pomiędzy dwiema różnymi

Bardziej szczegółowo

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL

PL B1. Lubuskie Zakłady Aparatów Elektrycznych LUMEL S.A.,Zielona Góra,PL BUP 16/04. Andrzej Au,Racula,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200563 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358608 (51) Int.Cl. G01R 5/14 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 06.02.2003

Bardziej szczegółowo

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie.

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z wpływem mikro- i makrozgięć światłowodów włóknistych na ich tłumienność.

Bardziej szczegółowo

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru

Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru Ćwiczenie nr 9 Pomiar dyspersji materiałów za pomocą spektrometru I. Zestaw przyrządów 1. Spektrometr 2. Lampy spektralne: helowa i rtęciowa 3. Pryzmaty szklane, których własności mierzymy II. Cel ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

1. Nadajnik światłowodowy

1. Nadajnik światłowodowy 1. Nadajnik światłowodowy Nadajnik światłowodowy jest jednym z bloków światłowodowego systemu transmisyjnego. Przetwarza sygnał elektryczny na sygnał optyczny. Jakość transmisji w dużej mierze zależy od

Bardziej szczegółowo

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA

UCZESTNICY POSTĘPOWANIA ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem

Bardziej szczegółowo

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA WIĄZKI GENEROWANEJ PRZEZ LASER

CHARAKTERYSTYKA WIĄZKI GENEROWANEJ PRZEZ LASER CHARATERYSTYA WIĄZI GENEROWANEJ PRZEZ LASER ształt wiązki lasera i jej widmo są rezultatem interferencji promieniowania we wnęce rezonansowej. W wyniku tego procesu powstają charakterystyczne rozkłady

Bardziej szczegółowo

SPRAWDZANIE PRAWA STEFANA BOLTZMANNA

SPRAWDZANIE PRAWA STEFANA BOLTZMANNA Ćwiczenie 31 SPRAWDZANIE PRAWA STEFANA BOLTZMANNA Cel ćwiczenia: poznanie podstawowych pojęć związanych z promienio-waniem termicznym ciał, eksperymentalna weryfikacja teorii promieniowania ciała doskonale

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale

Bardziej szczegółowo

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne.

Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury. Czujniki stacjonarne. Czujniki podczerwieni do bezkontaktowego pomiaru temperatury Niemiecka firma Micro-Epsilon, której WObit jest wyłącznym przedstawicielem w Polsce, uzupełniła swoją ofertę sensorów o czujniki podczerwieni

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 5 Temat: Interferometr Michelsona 7.. Cel i zakres ćwiczenia 7 INTERFEROMETR MICHELSONA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72

WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72 WYZNACZANIE KĄTA BREWSTERA 72 I. ZAGADNIENIA TEORETYCZNE Polaryzacja światła. Zjawisko polaryzacji światła przy odbiciu od powierzchni dielektrycznej kąt Brewstera. Prawa odbicia i załamania światła na

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze operacyjne

Wzmacniacze operacyjne Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie

Bardziej szczegółowo

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV

Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV Parametry i technologia światłowodowego systemu CTV (Światłowodowe systemy szerokopasmowe) (c) Sergiusz Patela 1998-2002 Sieci optyczne - Parametry i technologia systemu CTV 1 Podstawy optyki swiatlowodowej:

Bardziej szczegółowo

Regulacja dwupołożeniowa (dwustawna)

Regulacja dwupołożeniowa (dwustawna) Regulacja dwupołożeniowa (dwustawna) I. Wprowadzenie Regulacja dwustawna (dwupołożeniowa) jest często stosowaną metodą regulacji temperatury w urządzeniach grzejnictwa elektrycznego. Polega ona na cyklicznym

Bardziej szczegółowo

Laboratorium RADIOTERAPII

Laboratorium RADIOTERAPII Laboratorium RADIOTERAPII Ćwiczenie: Testy specjalistyczne aparatu RTG badanie parametrów obrazu Opracowała: mgr inż. Edyta Jakubowska Zakład Inżynierii Biomedycznej Instytut Metrologii i Inżynierii Biomedycznej

Bardziej szczegółowo

4. Ultradźwięki Instrukcja

4. Ultradźwięki Instrukcja 4. Ultradźwięki Instrukcja 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości fal ultradźwiękowych i ich wykorzystania w badaniach defektoskopowych. 2. Układ pomiarowy Układ pomiarowy składa się

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia modulacyjna

Spektroskopia modulacyjna Spektroskopia modulacyjna pozwala na otrzymanie energii przejść optycznych w strukturze z bardzo dużą dokładnością. Charakteryzuje się również wysoką czułością, co pozwala na obserwację słabych przejść,

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji 7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji Wyznaczanie poziomu ekspozycji w przypadku promieniowania nielaserowego jest bardziej złożone niż w przypadku promieniowania laserowego. Wynika to z faktu, że pracownik

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211200 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380223 (22) Data zgłoszenia: 17.07.2006 (51) Int.Cl. G01N 21/23 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych. Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów

Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych. Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI ĆWICZENIE 1 ŹRÓDŁA ŚWIATŁA Gdańsk 2001 r. ĆWICZENIE 1: ŹRÓDŁA ŚWIATŁA 2 1. Wstęp Zasada działania półprzewodnikowych źródeł światła (LED-ów i diod laserowych LD) jest bardzo

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne

XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P. Ćwiczenie 4 Doświadczenie interferencyjne Younga Wprowadzenie teoretyczne Charakterystyczną cechą fal jest ich zdolność do interferencji. Światło jako fala elektromagnetyczna również może interferować.

Bardziej szczegółowo

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO

Piotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki

Bardziej szczegółowo

BADANIA WYŚWIETLACZY TELEFONÓW

BADANIA WYŚWIETLACZY TELEFONÓW Y (µm) 140 120 100 80 60 40 20 0-20 -40-60 -80-100 -120-140 -150-100 -50 0 50 100 150 200 250 300 350 400 X (µm) BADANIA WYŚWIETLACZY TELEFONÓW MICHAŁ FILIPIUK I GRZEGORZ FILIPIUK POD OPIEKĄ PIOTRA KAŹMIERCZAKA

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl

Bardziej szczegółowo

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Przedmiot: Badania nieniszczące metodami elektromagnetycznymi Numer Temat: Badanie materiałów kompozytowych z ćwiczenia: wykorzystaniem fal elektromagnetycznych

Bardziej szczegółowo

Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru i Fotogrametrii.

Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru i Fotogrametrii. Uniwersytet Uniwersytet Rolniczy Rolniczy w Krakowie Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej

Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja światła na szczelinie pojedynczej i podwójnej Wydział Imię i nazwisko 1. 2. Rok Grupa Zespół PRACOWNIA Temat: Nr ćwiczenia FIZYCZNA WFiIS AGH Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 71: Dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni

IR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 8 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII LABORATORIUM METROLOGII POMIARY TEMPERATURY NAGRZEWANEGO WSADU Cel ćwiczenia: zapoznanie z metodyką pomiarów temperatury nagrzewanego wsadu stalowego 1 POJĘCIE TEMPERATURY Z definicji, która jest oparta

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk

Bardziej szczegółowo

WFiIS CEL ĆWICZENIA WSTĘP TEORETYCZNY

WFiIS CEL ĆWICZENIA WSTĘP TEORETYCZNY WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

Ćwiczenie 2. Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 2 Badanie strat odbiciowych i własnych wybranych patchcordów światłowodowych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów ze zjawiskami tłumienności odbiciowej i własnej.

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE

ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE ĆWICZENIE NR 3 POMIARY SPEKTROFOTOMETRYCZNE Cel ćwiczenia Poznanie podstawowej metody określania biochemicznych parametrów płynów ustrojowych oraz wymagań technicznych stawianych urządzeniu pomiarowemu.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ

Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ 60-965 Poznań Grupa: Elektrotechnika, sem 3., Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium wersja z dn. 03.11.2015 Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ Opracowanie wykonano na podstawie

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki

Bardziej szczegółowo

Deuterowa korekcja tła w praktyce

Deuterowa korekcja tła w praktyce Str. Tytułowa Deuterowa korekcja tła w praktyce mgr Jacek Sowiński jaceksow@sge.com.pl Plan Korekcja deuterowa 1. Czemu służy? 2. Jak to działa? 3. Kiedy włączyć? 4. Jak/czy i co regulować? 5. Jaki jest

Bardziej szczegółowo

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Oczywistym problemem przy sprzęganiu światłowodu ze źródłami światła jest w pierwszym rzędzie umieszczenie wiazki w wewnatrz apertury numeryczne światłowodu. W przypadku

Bardziej szczegółowo

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008 Detektor Fazowy Marcin Polkowski marcin@polkowski.eu 23 stycznia 2008 Streszczenie Raport z ćwiczenia, którego celem było zapoznanie się z działaniem detektora fazowego umożliwiającego pomiar słabych i

Bardziej szczegółowo

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor

Fotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor Fotoelementy Wstęp W wielu dziedzinach techniki zachodzi potrzeba rejestracji, wykrywania i pomiaru natężenia promieniowania elektromagnetycznego o różnych długościach fal, w tym i promieniowania widzialnego,

Bardziej szczegółowo

Elementy fotometrii: pomiary natężenia napromienia wybranych źródeł światła

Elementy fotometrii: pomiary natężenia napromienia wybranych źródeł światła Wydział PPT Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej Laboratorium PODSTAWY BIOFOTONIKI Ćwiczenie nr 3 Elementy fotometrii: pomiary natężenia napromienia wybranych źródeł światła CEL ĆWICZENIA: Zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Celem pomiarów jest otrzymanie charakterystyki prądowo-napięciowej badanych diód. Można to zrobić za pomocą układu z rysunku 3 wtedy oscyloskop sam

Celem pomiarów jest otrzymanie charakterystyki prądowo-napięciowej badanych diód. Można to zrobić za pomocą układu z rysunku 3 wtedy oscyloskop sam Celem pomiarów jest otrzymanie charakterystyki prądowo-napięciowej badanych diód. Można to zrobić za pomocą układu z rysunku 3 wtedy oscyloskop sam wyświetli na ekranie poszukiwaną charakterystykę. Można

Bardziej szczegółowo

Zadanie nr II-22: Opracowanie modelu aktywnego ustroju dźwiękochłonno-izolacyjnego o zmiennych tłumieniu i izolacyjności

Zadanie nr II-22: Opracowanie modelu aktywnego ustroju dźwiękochłonno-izolacyjnego o zmiennych tłumieniu i izolacyjności Materiały informacyjne dotyczące wyników realizacji zadania badawczego pt: Opracowanie modelu aktywnego ustroju dźwiękochłonno-izolacyjnego o zmiennych Hałas jest jednym z najpowszechniej występujących

Bardziej szczegółowo

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1

Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej. Laboratorium Badania Maszyn CNC. Nr 1 Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Badania Maszyn CNC Nr 1 Pomiary dokładności pozycjonowania laserowym systemem pomiarowym ML-10 Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego

Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Instrukcja obsługi stomatologicznego fantomu testowego Dent/digitest 3 Opracował: mgr inż. Jan Kalita 1 Spis treści. 1. Opis techniczny 3 1.1. Przeznaczenie fantomu. 3 1.2. Budowa fantomu. 4 2. Procedura

Bardziej szczegółowo

Wstępne propozycje tematów prac dyplomowych:

Wstępne propozycje tematów prac dyplomowych: Serdecznie zapraszam na konsultacje studentów z własnymi pomysłami na tematy prac dyplomowych z dziedziny elektrotechniki i oświetlenia w transporcie. Szczególnie aktualna jest tematyka elektrotechniki

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM ELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Wybór i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnego el ćwiczenia elem ćwiczenia jest poznanie wpływu ustawienia punktu pracy tranzystora na pracę wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu

Bardziej szczegółowo

Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640

Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640 Porównanie obrazów uzyskanych kamerami termowizyjnymi FLIR i3 oraz T640 2012-02-07 21:33:35 2012-02-07 21:34:21 i3.jpg t640.jpg 1/8 Przygotowano w programie FLIR Tools Celem opracowania jest przedstawienie

Bardziej szczegółowo

WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY. Optoelektroniczne pomiary aksjograficzne stawu skroniowo-żuchwowego człowieka

WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY. Optoelektroniczne pomiary aksjograficzne stawu skroniowo-żuchwowego człowieka dr inż. Witold MICKIEWICZ dr inż. Jerzy SAWICKI Optoelektroniczne pomiary aksjograficzne stawu skroniowo-żuchwowego człowieka Aksjografia obrazowanie ruchu osi zawiasowej żuchwy - Nowa metoda pomiarów

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT

Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz. Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie KOKSOPROJEKT 1 Zbigniew Figiel, Piotr Dzikowicz Skanowanie 3D przy projektowaniu i realizacji inwestycji w Koksownictwie 2 Plan prezentacji 1. Skanowanie laserowe 3D informacje ogólne; 2. Proces skanowania; 3. Proces

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny

Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny Wydział PRACOWNIA FIZYCZNA WFiIS AGH Imię i nazwisko 1. 2. Temat: Rok Grupa Zespół Nr ćwiczenia Data wykonania Data oddania Zwrot do popr. Data oddania Data zaliczenia OCENA Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny

Bardziej szczegółowo

Obrabiarki CNC. Nr 10

Obrabiarki CNC. Nr 10 Politechnika Poznańska Instytut Technologii Mechanicznej Laboratorium Obrabiarki CNC Nr 10 Obróbka na tokarce CNC CT210 ze sterowaniem Sinumerik 840D Opracował: Dr inż. Wojciech Ptaszyński Poznań, 17 maja,

Bardziej szczegółowo

DWUPASMOWY DZIELNIK WIĄZKI PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO

DWUPASMOWY DZIELNIK WIĄZKI PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO Janusz KUBRAK DWUPASMOWY DZIELNIK WIĄZKI PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO STRESZCZENIE Zaprojektowano i przeprowadzono analizę działania interferencyjnej powłoki typu beamsplitter umożliwiającej pracę dzielnika

Bardziej szczegółowo

RAFAŁ MICHOŃ. rmichonr@gmail.com. Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r.

RAFAŁ MICHOŃ. rmichonr@gmail.com. Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r. RAFAŁ MICHOŃ rmichonr@gmail.com Zespół Szkół Specjalnych nr 10 im. ks. prof. Józefa Tischnera w Jastrzębiu Zdroju O4.09.2015 r. - Główne zagadnienia (ekspozycja, czułość, przysłona, głębia ostrości, balans

Bardziej szczegółowo