(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1"

Transkrypt

1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 2 1) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: ( 5 1) IntCl7. G02B 21/14 (54)Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 17/97 (73) Uprawniony z patentu: Instytut Optyki Stosow anej, W arszaw a, PL (72) Twórca wynalazku: Maksymilian Pluta, W arszaw a, PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 07/00 (74) Pełnomocnik: Bok Jadw iga, Instytut Optyki Stosowanej PL B1 (57) Urządzenie m ikroskopow e do ciągłej zm iany fazy i am plitudy św iatła b ezpośredniego w zględem dyfrakcyjnego zaw ierający p ierścień polaryzacyjny um ieszczony m iędzy dw iem a płytkam i szklanym i, znamienne tym, że składa się z p o lary zato ra (P) lub an alizato - ra (A ) i pierścienia polaroidowego (R ), zaklejonego między dwiema płytkam i szklanymi (S 1) i (S2) klejem optycznym (C ), którego spektralna dyspersyjna n'(λ) w spółczynnika załam ania n' w yraźnie różni się od spektralnej dyspersji n(λ) w spółczynnika załam ania (n) pierścienia polaroidow ego (R). Rys.1

2 Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego Zastrzeżenie patentowe Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego zawierający pierścień polaryzacyjny umieszczony między dwiema płytkami szklanymi, znamiennie tym, że składa się z polaryzatora (P) lub analizatora (A) i pierścienia polaroidowego (R), zaklejonego między dwiema płytkami szklanymi (S1) i (S2) klejem optycznym (C), którego spektralna dyspersyjna n'(λ) współczynnika załamania n' wyraźnie różni się od spektralnej dyspersji n(λ ) współczynnika załamania (n) pierścienia polaroidowego (R). * * * Przedmiotem wynalazku jest urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego. Urządzenie to służy do obserwacji preparatów w kontraście fazowym i amplitudowym, z możliwością regulacji kontrastu obrazu poprzez zmianę amplitudy i fazy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego czyli ugiętego na niejednorodnościach optycznych preparatu. W znanym rozwiązaniu z opisu wynalazku według patentu nr , najważniejszą część stanowi pierścień polaroidowy, zaklejony kleiwem optycznym o współczynniku załamania n, między dwiema płytkami szklanymi. Kleiwo dobrano tak, aby różnica drogi optycznej o między światłem przechodzącym przez pierścień polaroidowy i poza nim równała się zeru lub całkowitej długości fali X stosowanego światła, czyli δr = (n' - n) t = mλ (1) gdzie n jest współczynnikiem załamania pierścienia polaroidowego R, t jest jego grubością, am. = 0,± 1,±2,... Założono przy tym, że wzór powyższy odnosi się do składowej światła, której wektor świetlny jest równoległy do osi przepuszczalności pierścienia polaroidowego. Współczynnik załamania każdego materiału zależy od długości fali przechodzącego przezeń światła. Żądając by różnica drogi optycznej o była zerowa w szerokim przedziale spektralnym, w szczególności w świetle widzialnym o długości fali od około 700 nm do 450 nm, współczynniki załamania n i n' we wzorze m. (1) muszą być takie same w zadanym przedziale spektralnym, czyli n (λ) = n' (λ) (2) W praktyce jest to niemożliwe i według patentu nr przyjęto, że równość (2) jest spełniona w środku wybranego przedziału spektralnego, a na jego krawędziach współczynniki n 1 n' mogą się nieco różnić, ale tylko w takim stopniu by różnica drogi optycznej nie była większa niż 0,03 X. Jeśli do zespołu optycznego z pierścieniem polaroidowym R, dodamy przed lub za nim ćwierćfalówkę Q i umieścimy je między polaryzatorem P i analizatorem A, i mamy urządzenie do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła przechodzącego przez pierścień R i światłem przebiegającym wewnątrz i na zewnątrz niego, gdy jedno i drugie światło pochodzi z tego samego źródła. Zakłada się przy tym, że ćwierćfalówka Q jest tak zorientowana, że jej osie (szybka i wolna) tworzą kąt 45 z osią przepuszczalności pierścienia polaroidowego R, wówczas przez obrót polaryzatora zmienia się faza między jednym i drugim światłem, zaś przez obrót analizatora mamy zmianę amplitudy, czyli natężeń, a właściwie stosunku natężeń obu świateł. Jeżeli urządzenie to zostanie odpowiednio umieszczone w układzie mikroskopowym, to uzyskamy mikroskop fazowo kontrastowy z ciągłą zmianą fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego. Światło bezpośrednie, którego źródłem jest pierścieniowy otwór AO przysłony kondensatorowej D, za badanym przedmiotem O obiektywem mikroskopowym Ob. przechodzi

3 przez pierścień polaroidowy R, natomiast światło dyfrakcyjne, tworzone przez przedmiot O, przechodzi w przeważającej mierze obok pierścienia R, przez jego wnętrze i na zewnątrz. W wyniku interferencji obydwu rodzajów świateł otrzymujemy w płaszczyźnie obrazowej II obraz badanego przedmiotu. Kontrastowość obrazu optymalizujemy lub j ą dowolnie zmieniamy przez obrót polaryzatora P i analizatora A. Jest to oczywiście obrót wokół osi optycznej układu mikroskopowego. W ogólności najlepsze wyniki uzyskuje się, gdy pierścieniowa przysłona D znajduje się w przednim ognisku kondensatora Co, a pierścień polaroidowy R w tylnym ognisku obiektywu Ob. To drugie wymaganie jest możliwe tylko wtedy, gdy obiektyw Ob. ma małe powiększenie (mniejsze niż 10x). Obiektywy mikroskopowe o średnich i dużych powiększeniach mają tylne ognisko w swoim wnętrzu i trzeba je, za pomocą dodatkowego układu optycznego, przerzutować w łatwo dostępne miejsce, w którym można byłoby usytuować zespół optyczny z pierścieniem polaroidowym R. W mikroskopii fazowo-kontrastowej różnica drogi optycznej δr, powodowana przez pierścień polaroidowy R, czy jakikolwiek inny pierścień fazowy, równa całkowitej wielokrotności długości fali świetlnej, jest równoważna zerowej wartości. Zamiast pierścienia polaroidowego z δr=0, można więc stosować pierścień z δ-1 λ,2λ,3λ,... W tej sytuacji jednak spektralna dyspersja współczynników załamania n i n muszą być bardziej do siebie podobne niż w sytuacji, gdy δr = 0. Dlatego też w praktyce trudno jest stosować pierścień polaroidowy, powodujący różnicę drogi optycznej większą niż 2λ,gdy mikroskop fazowo - kontrastowy ma działać w świetle białym lub umiarkowanie monochromatycznym. Inaczej natomiast sprawa przedstawia się, gdy jest stosowane światło wysoce monochromatyczne. Wówczas różnica drogi optycznej δrmoże być większa niż 2 X i spektralne współczynników załamania n (λ) i n' (λ) nie muszą być wzajemnie dopasowane, a nawet jest korzystnie, aby między sobą znacznie się różniły. Można wówczas zrezygnować z polaryzatora P lub analizatora A i ćwierćfalówki Q, by przesunięcie fazowe między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym zmieniać nie przez obrót polaryzatora P, ale przez zmianę długości fali światła monochromatycznego. Urządzenie fazowo-kontrastowe według wynalazku składa się tylko z polaryzatora P i pierścienia polaroidowego R lub alternatywnie z pierścienia R i analizatora A, przy czym pierścień R jest zaklejony między płytkami szklanymi S1i S2 klejem optycznym C tak dobranym, że spektralna n' (A.) jego współczynnika załamania n znacznie różni się od spektralnej dyspersji n (λ) współczynnika załamania n pierścienia polaroidowego R. Zaletą polaryzacyjnego urządzenia według wynalazku do mikroskopii fazowo-kontrastowej jest przede wszystkim to, że składa się nie z czterech jak pierwotnie, ale tylko z dwóch elementów optycznych. Poza tym charakteryzuje się większą wydajnością świetlną, albowiem polaryzator P lub analizator A przepuszcza znacznie więcej światła niż łącznie polaryzator P i analizator A. Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, którego rys. 1 przedstawia pierścień polaroidowy R, rys. 2 - zespół optyczny z pierścieniem R i ćwierćfalówkąq umieszczoną między polaryzatorem P i analizatorem A, rys. 3 - układ optyczny mikroskopu fazowo-kontrastowego, rys. 4 - schemat polaryzatora P i pierścienia polaroidalnego R, rys. 5 - układ pierścienia polaroidalnego R i analizatora A, rys. 6 i 7 pokazują dwa z wielu możliwych, wykresy dróg optycznych w urządzeniu według wynalazku. W rozwiązaniu według wynalazku urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego, składa się z polaryzatora P lub analizatora A 1pierścienia polaroidowego R, zaklejonego między dwiema płytkami szklanymi S1i S2 klejem optycznym C, którego spektralna dyspersyjna n' (λ) współczynnika załamania n wyraźnie różni się od spektralnej dyspersji n (λ) współczynnika załamania n pierścienia polaroidowego R. Przykładowe wyjaśnienie istoty polaryzacyjnego urządzenia fazowo-kontrastowego jest przedstawione na rys. 6 i 7, pokazujących dwa z wielu możliwych w praktyce wykresów drogi optycznej δr, powodowanej przez pierścień polaroidowy R (rys. 4 i 5) w sytuacji, gdy spektralne dyspersje n (λ) i n' (λ) współczynnika załamania n i n', odpowiednio, pierścienia polaroidowe-

4 go i otaczającego kleiwa optycznego C znacznie (rys. 6) i umiarkowanie (rys. 7) wzajemnie się różnią, przy czym rys. 6 obejmuje sytuację, gdy w środkowej części widma widzialnego współczynniki załamania n i n' są takie same, a rys. 7 dotyczy sytuacji, kiedy współczynnik załamania n w całym branym pod uwagę zakresie spektralnym jest większy od współczynnika załamania n. Weźmy najpierw pod uwagę rys. 6. W świetle monochromatycznym o długości fali λ0 różnica drogi optycznej δr=0. Jednak wraz ze zmianą długości fali świetlnej w jednym i drugim kierunku od λ0,różnica drogi optycznej δr systematycznie wzrasta, a maleje w świetle o długościach fali większym od λ0i jest dodatnia, zaś ujemna w świetle o długościach fali mniejszych od λ0 W mikroskopie fazowo-kontrastowym mamy więc do czynienia z ciągłą zmianą fazy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego wraz ze zmianą długości fali świetlnej. Natomiast amplitudę obu rodzajów światła można dowolnie zmieniać przez obrót polaryzatora P (rys. 4) lub analizatora A (rys. 5). W sytuacji, gdy stosowane jest światło należycie monochromatyczne o długości fali λ = λ0,to wtedy zmianę fazy między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym w mikroskopie fazowo-kontrastowym uzyskuje się jak poprzednio za pomocą urządzenia składającego się z polaryzatora P, ćwierćfalówki Q, pierścienia polaroidowego R i analizatora A (rys. 2), a zatem zawierającego cztery a nie dwa elementy optyczne (rys. 4 lub 5). W tej drugiej sytuacji należy jednak mieć światło monochromatyczne o zmiennej w sposób ciągły długości fali. Najprościej uzyskuje się je ze źródła światła białego, np. mikroskopowego oświetlacza z żarówką halogenową, przepuszczanego przez monochromator interferencyjny (filtr interferencyjny ciągły). Bardzo często w badaniach mikroskopowych obiektów czysto fazowych optymalna zmiana fazy między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym wynosi -90 lub +90. Odpowiada to różnicy drogi optycznej δr = -λ/4 lub δr = + λ/4. Dotyczy to zwłaszcza takich szczegółów obiektu, które wprowadzają do przechodzącego przez nie lub od nich odbitego światła bardzo małe zmiany fazowe. Wówczas można stosować światło monochromatyczne bez ciągłej zmiany długości fali, lecz o jednej, której na rys. 6 odpowiada wartość λ1 lub λ2. W praktyce nie jest łatwo znaleźć takie kleiwo optyczne, aby było idealnie chemicznie czy fizykochemiczne obojętne wobec pierścienia polaroidowego R i by w zakresie światła widzialnego, przynajmniej w jednym miejscu jego widma współczynnik załamania n' kleju był taki sam jak współczynnik załamania n pierścienia polaroidowego R, jak to pokazano na rys. 6. Do poprawnego działania polaryzacyjnego urządzenia fazowo-kontrastowego według wynalazku nie jest zresztą konieczne, albowiem wystarcza, by mniej więcej w środku wybranego zakresu widma różnica drogi optycznej δr równała się λ0, 2λδ,3λ0... itd. ze znakiem plus lub minus, jak to pokazano na rys. 7, gdzie przyjęto n', < n w całym zakresie widma widzialnego i δr = -3λ0.To co poprzednio (rys. 6) odpowiadało różnicy drogi optycznej δr = -X1/4 i δr = +X2/4,. teraz ma wartość δr = -3λ0 - λ 1/4 i δr = -λ0+ λ0/4. Obydwie sytuacje, przedstawione na rys. 6 i 7, są sobie równoważne, z tym że ta druga (rys. 7) jest łatwiejsza do realizacji w praktyce.

5 Rys. 3 Rys. 4 Rys. 5

6 Rys.6

7 Rys. 7

8 R y s.1 R y s. 2 Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz. Cena 2,00 zł.

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1 (19) PL (11)

(13) B1 PL B1 (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA ( 12) OPIS PATENTOWY (21) Numer zgłoszenia: 319170 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 25.03.1997 Rzeczypospolitej Polskiej (19) PL (11) 182309 (13) B1 (51) IntCl7 G01N 3/08 G02B

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA Celem ćwiczenia jest: 1. demonstracja dużej liczby prążków w interferometrze Lloyda z oświetleniem monochromatycznym,

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206633 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 361507 (22) Data zgłoszenia: 30.07.2003 (51) Int.Cl. G09B 23/22 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

INTERFERENCJA WIELOPROMIENIOWA

INTERFERENCJA WIELOPROMIENIOWA INTERFERENCJA WIELOPROMIENIOWA prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski W tej części wykładu rozważymy przypadek koherentnej superpozycji większej liczby wiązek niż dwie. Najważniejszym interferometrem wielowiązkowym

Bardziej szczegółowo

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 159619 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 276863 (51) IntCl5: B66D 3/06 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 30.12.1988 (54)Urządzenie

Bardziej szczegółowo

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA GWIEZNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANERSONA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zestawienie i demonstracja modelu gwiezdnego interferometru Andersona oraz laboratoryjny pomiar wymiaru sztucznej gwiazdy.

Bardziej szczegółowo

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26

Bardziej szczegółowo

PL B BUP 12/03. Kinkel Marcin,Różyny,PL WUP 06/08

PL B BUP 12/03. Kinkel Marcin,Różyny,PL WUP 06/08 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198184 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 351035 (51) Int.Cl. A01L 1/00 (2006.01) A01L 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186259

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186259 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186259 (21) Numer zgłoszenia: 324542 (22) Data zgłoszenia: 28.01.1998 (13) B1 (51) IntCl7 E05B 41/00 E05C

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl6: B65D5/18 865D 5/3P. (57) 1. Pudełko składane w kształcie prostopadłościanu

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl6: B65D5/18 865D 5/3P. (57) 1. Pudełko składane w kształcie prostopadłościanu RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174286 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303728 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 06.06.1994 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: B65D5/18 865D

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211200 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380223 (22) Data zgłoszenia: 17.07.2006 (51) Int.Cl. G01N 21/23 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Wykład 17: Optyka falowa cz.2.

Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Interferencja w cienkich warstwach Załamanie

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1 F21P 1/00 F21V 19/02. (21) Numer zgłoszenia: ( 5 4 ) Lampa halogenowa ze zmienną ogniskową

(13) B1 PL B1 F21P 1/00 F21V 19/02. (21) Numer zgłoszenia: ( 5 4 ) Lampa halogenowa ze zmienną ogniskową RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY(19) PL (11) 164447 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 290809 (22) Data zgłoszenia: 26.06.1991 (51) IntCl5: F21P 1/00 F21V

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 357399 (51) Int.Cl. G06K 9/00 (2006.01) A61B 5/117 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana

PL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199508 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 353671 (51) Int.Cl. H02H 7/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.04.2002

Bardziej szczegółowo

BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO

BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO 1. Zasada działania mikroskopu z kontrastem fazowym (KF)

Bardziej szczegółowo

Zjawisko interferencji fal

Zjawisko interferencji fal Zjawisko interferencji fal Interferencja to efekt nakładania się fal (wzmacnianie i osłabianie się ruchu falowego widoczne w zmianach amplitudy i natężenia fal) w którym zachodzi stabilne w czasie ich

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13 PL 222455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222455 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399143 (51) Int.Cl. H02M 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04 RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174585 PO LSK A (13)B1 U rząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304405 (22) Data zgłoszenia: 22.07.1994 (51) Int.Cl.6: G01N

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173902

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173902 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173902 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolite] Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 7 7 1 2 (22) Data zgłoszenia: 12.02.1993 (51) IntCl6: A41H3/00

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 164000 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 8 5 2 3 8 (22) Data zgłoszenia: 1 6.0 5.1 9 9 0 (51) IntCl5: H02P

Bardziej szczegółowo

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178922 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 314655 (22) Data zgłoszenia: 05.06.1996 (51) IntCl7: A01B 51/04 A01B

Bardziej szczegółowo

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E03F 3/04

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E03F 3/04 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 177794 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 310866 (22) Data zgłoszenia: 07.10.1995 (51) IntCl6 E03F 3/04 E03B

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307033 (22) Data zgłoszenia: 31.01.1995 (51) Int.Cl.6: A61B 3/107

Bardziej szczegółowo

(11) PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (13)B1. Fig.3 B60R 11/02 H01Q 1/32. (54) Zespół sprzęgający anteny samochodowej

(11) PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (13)B1. Fig.3 B60R 11/02 H01Q 1/32. (54) Zespół sprzęgający anteny samochodowej RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)166714 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 290469 (22) Data zgłoszenia: 29.05.1991 (51) IntCl6: B60R 11/02 H01Q

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178740 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 312095 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 29.12.1995 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl7: F24C 3/00 F24C

Bardziej szczegółowo

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200395 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 346259 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2001 (51) Int.Cl. B65D 85/575 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209495 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 375424 (22) Data zgłoszenia: 30.05.2005 (51) Int.Cl. G01N 21/05 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Fizyka elektryczność i magnetyzm

Fizyka elektryczność i magnetyzm Fizyka elektryczność i magnetyzm W5 5. Wybrane zagadnienia z optyki 5.1. Światło jako część widma fal elektromagnetycznych. Fale elektromagnetyczne, które współczesny człowiek potrafi wytwarzać, i wykorzystywać

Bardziej szczegółowo

Prawa optyki geometrycznej

Prawa optyki geometrycznej Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)

Bardziej szczegółowo

PL B1. PACK PLUS Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka komandytowa,wadowice,pl BUP 07/

PL B1. PACK PLUS Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka komandytowa,wadowice,pl BUP 07/ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 194831 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 349980 (51) Int.Cl. B65B 17/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.10.2001

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT Laboratorium techniki laserowej Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 006 1.Wstęp Rozwój techniki optoelektronicznej spowodował poszukiwania nowych materiałów

Bardziej szczegółowo

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P. Ćwiczenie 4 Doświadczenie interferencyjne Younga Wprowadzenie teoretyczne Charakterystyczną cechą fal jest ich zdolność do interferencji. Światło jako fala elektromagnetyczna również może interferować.

Bardziej szczegółowo

PL B1. ANEW INSTITUTE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 22/14. ANATOLIY NAUMENKO, Kraków, PL

PL B1. ANEW INSTITUTE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 22/14. ANATOLIY NAUMENKO, Kraków, PL PL 222405 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222405 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 403693 (22) Data zgłoszenia: 26.04.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: ,PCT/EP02/06600 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: ,PCT/EP02/06600 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202324 (21) Numer zgłoszenia: 366428 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.06.2002 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

PL B1. STRZYŻAKOWSKA HANNA LES, Warszawa, PL BUP 09/12. PETER VIOL, Rastede, DE WUP 05/14. rzecz. pat.

PL B1. STRZYŻAKOWSKA HANNA LES, Warszawa, PL BUP 09/12. PETER VIOL, Rastede, DE WUP 05/14. rzecz. pat. PL 216775 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216775 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 392642 (51) Int.Cl. E06B 3/42 (2006.01) E05D 15/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174166 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 304578 (2 2 ) Data zgłoszenia: 05.08.1994 (51) IntCl6 F24H 7/00 F24H

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174120 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303581 (51) IntCl6: F16K 15/06 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.05.1994 (54)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181955 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 316742 (22) Data zgłoszenia: 28.10.1996 (51) IntCl7 A47L 9/24 (54)Teleskopowa

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209061 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386693 (51) Int.Cl. F16B 7/10 (2006.01) F16B 7/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

postaci przezroczystego walca zabarwionego i osadzonego (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) (13) B3 PL B3

postaci przezroczystego walca zabarwionego i osadzonego (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) (13) B3 PL B3 RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentow y R zeczy p o sp o litej P o lsk iej (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) 157831 (13) B3 Numer zgłoszenia: 270269 (21) D ata zgłoszenia: 22.01.1988 (61) Patent dodatkowy

Bardziej szczegółowo

(13)B1 (19) PL (11) (12) OPIS PATENTOWY PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia:

(13)B1 (19) PL (11) (12) OPIS PATENTOWY PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21) Numer zgłoszenia: 325504 (22) Data zgłoszenia: 24.03.1998 (19) PL (11)187508 (13)B1 (5 1) IntCl7 G09F 13/16 B60Q

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Ćwiczenie 81 A. ubica WYZNACZANIE PROMIENIA RZYWIZNY SOCZEWI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Cel ćwiczenia: poznanie prążków interferencyjnych równej grubości, wykorzystanie tego

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/17. MAŁGORZATA CYKOWSKA-BŁASIAK, Kłobuck, PL EDWARD CHLEBUS, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/17. MAŁGORZATA CYKOWSKA-BŁASIAK, Kłobuck, PL EDWARD CHLEBUS, Wrocław, PL PL 227462 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227462 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 416118 (51) Int.Cl. A61C 8/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(13) B1 PL B1 B23D 15/04. (54)Nożyce, zwłaszcza hydrauliczne RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(13) B1 PL B1 B23D 15/04. (54)Nożyce, zwłaszcza hydrauliczne RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165304 (13) B1 (21) Num er zgłoszenia: 289293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 26.02.1991 Rzeczypospolitej Polskiej (51)Int.Cl.5: B23D 15/04

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 321888 (22) Data zgłoszenia: 15.12.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 15.12.1996,

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184035 (21 ) Numer zgłoszenia: 322833 (22) Data zgłoszenia: 23.10.1997 (13) B1 (51) IntCl7: A47B 57/48 A47B

Bardziej szczegółowo

Dr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska

Dr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska Podstawy fizyki Wykład 11 Dr Piotr Sitarek Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 3, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa 2003. K.Sierański, K.Jezierski,

Bardziej szczegółowo

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest demonstracja i ilościowa analiza wybranych metod dyskretnej i ciągłej zmiany fazy w interferometrach

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 05/11. WÓJCIK BEATA, Chorzów, PL WUP 06/13. BEATA WÓJCIK, Chorzów, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 05/11. WÓJCIK BEATA, Chorzów, PL WUP 06/13. BEATA WÓJCIK, Chorzów, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA PL 66567 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 119314 (22) Data zgłoszenia: 07.09.2010 (19) PL (11) 66567 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E 21F 5/00 E21C 35/04

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E 21F 5/00 E21C 35/04 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 317824 (22) Data zgłoszenia: 03.01.1997 (19) PL (11) 180994 (13) B1 (51) IntCl7 E 21F 5/00 E21C

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 179630 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 314202 (22) Data zgłoszenia: 10.05.1996 (51) IntCl7: B60K 15/077 B60K

Bardziej szczegółowo

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 212769 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212769 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381653 (51) Int.Cl. G01N 27/82 (2006.01) G01R 33/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 171065 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 299277 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1993 (51) IntCl6: G01R 35/02 (54)

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO,

INSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO, PL 218158 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218158 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389646 (51) Int.Cl. B60Q 1/00 (2006.01) B60Q 1/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

Zjawisko interferencji fal

Zjawisko interferencji fal Zjawisko interferencji fal Interferencja to efekt nakładania się fal (wzmacnianie i osłabianie się ruchu falowego widoczne w zmianach amplitudy i natężenia fal) w którym zachodzi stabilne w czasie ich

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZETWÓRSTWO TWORZYW SZTUCZNYCH WAŚ JÓZEF I LESZEK WAŚ SPÓŁKA JAWNA, Godzikowice, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZETWÓRSTWO TWORZYW SZTUCZNYCH WAŚ JÓZEF I LESZEK WAŚ SPÓŁKA JAWNA, Godzikowice, PL PL 66586 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 119866 (22) Data zgłoszenia: 24.03.2011 (19) PL (11) 66586 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hydrometer Electronic GmbH,Nürnberg,DE ,DE,

PL B1. Hydrometer Electronic GmbH,Nürnberg,DE ,DE, RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 197033 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 341970 (51) Int.Cl. G01K 17/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 11.08.2000

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 183565 PL 183565 B1. (54) Mechanizm przekładni w maszynie do ćwiczeń z obciążeniem narządów ruchu

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 183565 PL 183565 B1. (54) Mechanizm przekładni w maszynie do ćwiczeń z obciążeniem narządów ruchu RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 183565 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 3 1 9 9 1 6 (22) Data zgłoszenia: 09.05.1997 (5 1) IntCl7: A63B 21/06

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Doświadczenie interferencyjne Younga. Rys. 1

Ćwiczenie 4. Doświadczenie interferencyjne Younga. Rys. 1 Ćwiczenie 4 Doświadczenie interferencyjne Younga Wprowadzenie teoretyczne Charakterystyczną cechą fal jest ich zdolność do interferencji. Światło jako fala elektromagnetyczna również może interferować.

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170813 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej Numer zgłoszenia: 299894 (22) Data zgłoszenia: 29.07.1993 (51) IntCl6 F16D 31/04 F16D 25/04

Bardziej szczegółowo

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków 6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw

Bardziej szczegółowo

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. . Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła. Rozwiązywanie zadań wykorzystujących poznane prawa I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 27 luty 2012 Dyfrakcja światła laserowego

Bardziej szczegółowo

H03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

H03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPO SPO LITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173599 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 304553 (22) Data zgłoszenia: 04.08.1994 (51) IntCl6: H03K 3/86 (

Bardziej szczegółowo

PL B1. GRZENIK ROMUALD, Rybnik, PL MOŁOŃ ZYGMUNT, Gliwice, PL BUP 17/14. ROMUALD GRZENIK, Rybnik, PL ZYGMUNT MOŁOŃ, Gliwice, PL

PL B1. GRZENIK ROMUALD, Rybnik, PL MOŁOŃ ZYGMUNT, Gliwice, PL BUP 17/14. ROMUALD GRZENIK, Rybnik, PL ZYGMUNT MOŁOŃ, Gliwice, PL PL 223654 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223654 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402767 (51) Int.Cl. G05F 1/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 G09F 15/00 ( ) Wasilewski Sławomir, Brzeziny, PL BUP 23/07. Sławomir Wasilewski, Brzeziny, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 G09F 15/00 ( ) Wasilewski Sławomir, Brzeziny, PL BUP 23/07. Sławomir Wasilewski, Brzeziny, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 116108 (22) Data zgłoszenia: 05.05.2006 (19) PL (11) 64050 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. BRIDGESTONE/FIRESTONE TECHNICAL CENTER EUROPE S.p.A., Rzym, IT , IT, TO2001A001155

PL B1. BRIDGESTONE/FIRESTONE TECHNICAL CENTER EUROPE S.p.A., Rzym, IT , IT, TO2001A001155 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208257 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 357658 (22) Data zgłoszenia: 10.12.2002 (51) Int.Cl. B60C 3/06 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Wprowadzenie Światło widzialne jest to promieniowanie elektromagnetyczne (zaburzenie poła elektromagnetycznego rozchodzące

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 180745 (21 ) Numer zgłoszenia: 316713 Urząd Patentowy ( 2 2 ) Data zgłoszenia: 25.10.1996 Rzeczypospolitej Polskiej (13) B1 (51) IntCl7 E04H 12/28

Bardziej szczegółowo

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE Laboratorium Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Temat: Modulacja światła laserowego: efekt magnetooptyczny 5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181834 (21) Numer zgłoszenia: 326385 (22) Data zgłoszenia: 30.10.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 14/13. ADAMCZEWSKI MAREK, Szczecin, PL WUP 10/14. MAREK ADAMCZEWSKI, Szczecin, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 14/13. ADAMCZEWSKI MAREK, Szczecin, PL WUP 10/14. MAREK ADAMCZEWSKI, Szczecin, PL PL 67423 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 120627 (22) Data zgłoszenia: 30.12.2011 (19) PL (11) 67423 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174162 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 303848 (51) IntCl6: F16H 1/14 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 14.06.1994 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/13 PL 219056 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219056 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 395928 (51) Int.Cl. H01L 35/30 (2006.01) F16C 41/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących

PL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących PL 214125 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214125 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389756 (51) Int.Cl. G01N 33/30 (2006.01) G01N 33/26 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

FUNKCJA LINIOWA - WYKRES

FUNKCJA LINIOWA - WYKRES FUNKCJA LINIOWA - WYKRES Wzór funkcji liniowej (Postać kierunkowa) Funkcja liniowa jest podstawowym typem funkcji. Jest to funkcja o wzorze: y = ax + b a i b to współczynniki funkcji, które mają wartości

Bardziej szczegółowo

(13) B B1. (51) Int.Cl.5: E02F 9/08 B60S 9/02

(13) B B1. (51) Int.Cl.5: E02F 9/08 B60S 9/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 165064 (13) B1 (2 1) Numer zgłoszenia: 291386 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 09.08.1991 Rzeczypospolitej Polskiej (51) Int.Cl.5: E02F 9/08

Bardziej szczegółowo

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

PL 196881 B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 196881 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 340516 (51) Int.Cl. G01R 11/40 (2006.01) G01R 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: (51)IntCl6: A47J 43/04 A47J 44/00. (2) Data zgłoszenia:

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: (51)IntCl6: A47J 43/04 A47J 44/00. (2) Data zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167562 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 293578 (2) Data zgłoszenia: 21.02.1992 (51)IntCl6: A47J 43/04 A47J

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 188152 (21) Numer zgłoszenia: 327709 (22) Data zgłoszenia: 23.07.1998 (13) B1 (51) Int.Cl.7: F24D 19/10

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 183172 (21) Numer zgłoszenia: 320545 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1997 (13) B1 (51) Int.Cl.7: B61F 5/12 B61G

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 184340 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 323484 (22) Data zgłoszenia: 03.12.1997 (51) IntCl7 H02M 7/42 (54)

Bardziej szczegółowo

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03.

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208214 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 368426 (51) Int.Cl. G09F 13/22 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 07.06.2004

Bardziej szczegółowo

PL B1 (13) B1. (51) IntCl6: F15B 15/14 F16J 7/00. (54) Siłownik hydrauliczny lub pneumatyczny

PL B1 (13) B1. (51) IntCl6: F15B 15/14 F16J 7/00. (54) Siłownik hydrauliczny lub pneumatyczny RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167345 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 292954 (22) Data zgłoszenia: 2 3.12.1991 (51) IntCl6: F15B 15/14 F16J

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 218561 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218561 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393413 (51) Int.Cl. G01N 27/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 173969 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 303477 (22) Data zgłoszenia: 16.05.1994 (51) IntCl6 E04B 1/38 (54)Sposób

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213448 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386136 (51) Int.Cl. H03H 11/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.09.2008

Bardziej szczegółowo

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych RZECZPOSPOLITA PO L SK A (1 3 ) (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 168501 B1 Urząd Patentowy (2)Datazgłoszenia: Rzeczypospolitej Polskiej 01.07.192 (21) Numer zgłoszenia: 295095 (51) IntCl6: B01L9/00 A47B

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170393 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300860 (22) Data zgłoszenia: 18.06.1993 (51) IntCl6. E04H 12/28 (54)

Bardziej szczegółowo