ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Podobne dokumenty
ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

Materiały używane w elektronice

IV. TRANZYSTOR POLOWY

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Budowa. Metoda wytwarzania

10. Tranzystory polowe (unipolarne FET)

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE

Przyrządy półprzewodnikowe część 4

Tranzystory polowe MIS

Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET)

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe

Półprzewodniki. złącza p n oraz m s

Repeta z wykładu nr 6. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Metal-półprzewodnik

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

Ćwiczenie nr 7 Tranzystor polowy MOSFET

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

Elementy przełącznikowe

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

TRANZYSTORY MIS WYKŁAD 14 SMK Na pdstw. W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone

Czym jest prąd elektryczny

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

Wykład IV. Półprzewodniki samoistne i domieszkowe

Politechnika Białostocka

WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ

Tranzystory polowe. Klasyfikacja tranzystorów polowych

Rys.1. Struktura fizyczna diody epiplanarnej (a) oraz wycinek złącza p-n (b)

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Ciała stałe. Literatura: Halliday, Resnick, Walker, t. 5, rozdz. 42 Orear, t. 2, rozdz. 28 Young, Friedman, rozdz

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Politechnika Białostocka

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Przewodność elektryczna ciał stałych. Elektryczne własności ciał stałych Izolatory, metale i półprzewodniki

Dielektryki polaryzację dielektryka Dipole trwałe Dipole indukowane Polaryzacja kryształów jonowych

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Tranzystory polowe JFET, MOSFET

2. Półprzewodniki. Istnieje duża jakościowa różnica między właściwościami elektrofizycznymi półprzewodników, przewodników i dielektryków.

Elektryczne własności ciał stałych

Tranzystory. bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory

3.4 Badanie charakterystyk tranzystora(e17)

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

W książce tej przedstawiono:

Badanie tranzystorów MOSFET

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia

Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych

Urządzenia półprzewodnikowe

Podstawy fizyki wykład 8

ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY

Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne

Stopnie wzmacniające

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy

Przewodnictwo elektryczne ciał stałych. Fizyka II, lato

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych

Diody półprzewodnikowe

Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE

Politechnika Białostocka

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć.

5. Tranzystor bipolarny

Uniwersytet Pedagogiczny

Podstawy fizyki sezon 2 3. Prąd elektryczny

Cel ćwiczenia: Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporności elektrycznej monokryształu germanu od temperatury.

Wykład V Złącze P-N 1

1. Zarys właściwości półprzewodników 2. Zjawiska kontaktowe 3. Diody 4. Tranzystory bipolarne

Zjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

Diody półprzewodnikowe

Elektryczność i Magnetyzm

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET

Modelowanie elementów Wprowadzenie

Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia.

TECHNOLOGIA WYKONANIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWOD- NIKOWYCH WYK. 16 SMK Na pdstw.: W. Marciniak, WNT 1987: Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone,

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne

Badanie charakterystyki diody

1. W gałęzi obwodu elektrycznego jak na rysunku poniżej wartość napięcia Ux wynosi:

Aleksandra Banaś Dagmara Zemła WPPT/OPTOMETRIA

Wykład FIZYKA II. 2. Prąd elektryczny. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

EUROELEKTRA. Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. Rok szkolny 2012/2013. Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia

ZJAWISKA TERMOELEKTRYCZNE

Diody półprzewodnikowe

Transkrypt:

017-04-6 AKAEMA ÓRNZO-HNZA M. ANŁAWA AZA W KRAKOWE Wydział nformatyki, Elektroniki i elekomunikacji Katedra Elektroniki ELEMENY ELEKRONZNE dr inż. Piotr ziurdzia paw. -3, pokój 413; tel. 617-7-0, piotr.dziurdzia@agh.edu.pl dr inż. reneusz rzozowski paw. -3, pokój 51; tel. 617-7-4, ireneusz.brzozowski@agh.edu.pl RANZYOR POLOWY Z ZOLOWANĄ RAMKĄ MOFE (metal-ide-semiconductor field effect transistor) 1

017-04-6 przypomnienie Kondensator płaski 0 r d d E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 3 Kondensator płaski zy po zastąpieniu jednej z okładek metalowych półprzewodnikiem jego właściwości nie zmienią się? zy wzór na pojemność będzie nadal obowiązywał? przypomnienie 0 r d r d półprzewodnik E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 4

017-04-6 struktura MEAL-ZOLAOR-PÓŁPRZEWONK (M) bramka np. aluminium ale też polikrzem n albo p metal dielektryk półprzewodnik metal (kontakt omowy) Najczęściej tlenek krzemu io MO metal ide semiconductor podłoże E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 5 struktura MEAL-ZOLAOR-PÓŁPRZEWONK (M) Jak pracuje? zachowanie w przypadku różnych napięć model energetyczny Jakie są ładunki i pojemność takiej struktury? pojemność jako funkcja napięcia Napięcie progowe w kondensatorze? E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 6 3

017-04-6 RKRA MO POLARYZAJA = 0 < 0 metal io krzem typu p E pole elektryczne warstwa akumulacyjna stan neutralny (równowaga) akumulacja - dziura nośnik większościowy - jon domieszki akceptorowej E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 7 RKRA MO POLARYZAJA > 0 >> 0 pole elektryczne warstwa zubożona E E warstwa inwersyjna warstwa zubożona obszar neutralny zubożenie inwersja - dziura nośnik większościowy - elektron nośnik mniejszościowy - jon domieszki akceptorowej E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 8 4

017-04-6 RKRA MO MOEL ENEREYZNY wycinek poprzeczny przez strukturę MO M O metal io (typu P) wycinek krzem typu p Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- E+Ei 017 r. P& 9 RKRA MO MOEL ENEREYZNY M O Praca wyjścia W energia potrzebna na przeniesienie elektronu z poziomu Fermiego do nieskończoności (W - WF), (elektron swobodny w próżni) q M, q (typu P) energia elektronu w próżni q i q q M q E Ei EF EV EF izolator metal półprzewodnik typu p truktura wyidealizowana Powinowactwo elektronowe - określa pracę wyjścia z poziomu minimalnej energii w paśmie przewodnictwa E q i, q M potencjał wyjścia z metalu potencjał wyjścia z półprzewodnika powinowactwo elektronowe izolatora i powinowactwo elektr. półprzewodnika proszczenie: - równe prace wyjścia z metalu i półprzewodnika ( M, ) jednakowe poziomy Fermiego - pominięte stany powierzchniowe na granicy dielektryk-półprzewodnik (ład. powierzchniowy) - izolator jednorodny - pominięto ładunek w izolatorze E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 10 5

017-04-6 q E F RKRA MO: MOEL ENEREYZNY M O (typu P) metal izolator < 0 POLARYZAJA JEMNA q( - i ) E E i E F E V półprzewodnik typu p Poziomy Fermiego w metalu i półprzewodniku różnią się o wartość energii pola elektrycznego q Energia wyjścia z dna pasma przewodnictwa w półprzewodniku do izolatora pozostaje niezmieniona q( - i ) Krawędzie pasm energetycznych (E V, E ) przyjmują taki sam kształt jak rozkład potencjału (x) zy to jest właściwy kształt pasm przy powierzchni półprzewodnika? E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 11 RKRA MO: MOEL ENEREYZNY < 0 M O (typu P) POLARYZAJA JEMNA q( - i ) POENJAŁ POWERZHNOWY Krawędzie pasm energetycznych (E V, E ) przyjmują taki sam kształt jak rozkład potencjału (x). zyli jaki? ale: Z powodu małej przewodności półprzewodnika, w porównaniu z metalem, pole elektryczne wnika w głąb półprzewodnika. -E q E F metal q 0 izolator x x E E i E F E V półprzewodnik typu p 0 - - spadek napięcia na warstwie izolatora potencjał powierzchniowy x E - współrzędna dla której x E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 1 0 x x E x x E x d x zanika pole elektryczne w półprzewodniku x d - grubość warstwy zubożonej 6

energia elektronu ładunek q < 0 q > 0 q >> 0 017-04-6 RKRA MO: MOEL ENEREYZNY POLARYZAJA akumulacja zubożenie inwersja < 0 > 0 >> 0 M O (typu P) M O (typu P) M O (typu P) q( - i ) E E E E F E i E i E i E F E V E F E F E V E F E V E F Q x Q x d x Q x inw x d x Q Q =Q d (Q d = -qn A x d ) Q = Q n + Q d E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 13 Q Q d Q n ŁANEK WARW POWERZHNOWYH opis ilościowy (1) ładunek bramki ładunek warstwy zubożonej (ang. depletion) dla półprzewodnika typu p: ład. nieskompensowanych atomów domieszki akceptorowej ładunek elektronów w obszarze inwersyjnym W ogólnym przypadku napięcie bramki: Q oraz: lub: Zatem napięcie bramki: s s Q Q pojemność warstwy dielektrycznej (tlenkowej ide) ponieważ suma ład.: Q + Q = 0 (warunek obojętności elektrostatycznej) Rozkłady potencjału i gęstości ładunku w półprzewodniku są związane równaniem Poissona: ( x) względna przenikalność x elektryczna półprzewodnika ałkowity ładunek w półprzewodniku: ( x) dx Q E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 14 0 7

017-04-6 ŁANEK WARW POWERZHNOWYH opis ilościowy () Ładunek w półprzewodniku, w najogólniejszym przypadku, składa się z trzech składników: ładunek zjonizowanych atomów domieszek, ładunek zjonizowanych centrów generacyjno-rekombinacyjnych i ładunek nośników swobodnych. Zatem, wyznaczenie zależności Q ( s ) można przeprowadzić z różną dokładnością [W. Marciniak, Przyrządy półprzewodnikowe MO, WN, Warszawa, 1991]. W najprostszym przybliżeniu uwzględnia się jedynie ładunek zjonizowanych centrów akceptorowych i donorowych o równomiernym rozkładzie. Na głębokości x d istnieje skokowe przejście od obszaru ładunku przestrzennego do obszaru neutralnego. zubożenie Q x d x Q =Q d E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 15 ŁANEK WARW POWERZHNOWYH opis ilościowy (3) Zatem: ładunek warstwy zubożonej: lub w ogólnym przypadku: w przypadku zubożenia: Q Q d d Q qn d A x Q q( N N ) x d A d Q x d Q =Q d zubożenie x d grubość warstwy zubożonej, równa głębokości wnikania pola elektrycznego do półprzewodnika x Po rozwiązaniu równania Poissona otrzymujemy rozkład potencjału elektrostatycznego w półprzewodniku: q( N oraz potencjał powierzchniowy: i ładunek: Q z q N N A s s A N d ) x s ( x) (1 x s x d ) z znak,, ustala znak ładunku w zależności s od typu półprzewodnika dla zubożenia E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 16 8

q >> 0 017-04-6 ŁANEK WARW POWERZHNOWYH opis ilościowy (4) Potencjały elektrostatyczne i F Potencjały definiuje się względem poziomu E i w głębi półprzewodnika. Potencjał powierzchniowy to różnica między poziomem samoistnym Fermiego E i w głębi półprzewodnika i na powierzchni. Potencjał Fermiego F określa położenie poziomu Fermiego E F w stosunku do poziomu samoistnego E i w głębi półprzewodnika. M O E waga: oś potencjału zwrócona do góry oznacza wartość ujemną (bo ładunek elektronu) q q F E i E F E V Zatem, potencjał Fermiego jest: dodatni dla półprzewodnika typu p ujemny dla półprzewodnika typu n E F Potencjał powierzchniowy w stanie zubożenia i inwersji ma ten sam znak co potencjał Fermiego F E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 17 ŁANEK WARW POWERZHNOWYH kondensator MO Rozpatrywana struktura MO tworzy kondensator płaski, ale jedna z okładek jest półprzewodnikowa, co wpływa na jego własności M O E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne Fizyka półprzewodników 18 9

017-04-6 ŁANEK WARW POWERZHNOWYH kondensator MO (1) Jeśli do wzoru opisującego potencjał powierzchniowy: to otrzymamy: E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 19 d q( N A N ) x Q gdzie: podstawimy: x d Q q( N N ) x pojemność całkowita obszaru ładunku przestrzennego Jest to pojemność warstwy półprzewodnika o grubości x d /, określona w ogólnym przypadku położeniem centroidu tego ładunku (współrzędna centroidu: x d / dla równomiernego rozkładu gęstości ładunku) ZAKREY POENJAŁ POWERZHNOWEO W RÓŻNYH ANAH KONENAORA MO tan powierzchniowy yp n ( F < 0) yp p ( F > 0) Akumulacja > 0 Q < 0 < 0 Q > 0 Płaskie pasma = 0 Q = 0 = 0 Q = 0 Zubożenie F < < 0 Q > 0 0 < < F Q < 0 nwersja F < F Q > 0 F < F Q < 0 ilna inwersja F Q > 0 F Q < 0 A w przypadku zubożenia d ŁANEK WARW POWERZHNOWYH kondensator MO () W stanach zubożenia i inwersji sumaryczny ładunek w półprzewodniku: ładunek nośników mniejszościowych Q Q q( N N ) x la małych Q, gdy ładunek Q m jest pomijalnie mały, grubość warstwy ładunku przestrzennego x d jest: Q xd q( N N A) dy rośnie Q (inwersja) szerokość warstwy zubożonej dąży do ustalonej wartości x dmax : x d max 4 F q( N N Pojemność różniczkowa kondensatora MO: przekształcając: ostatecznie: 1 d dq d dq A ) dq d ds 1 dq ( ) schemat zastępczy dq d 1 oraz: m - coraz większy udział składowej Q m obszar zubożony nie powiększa się x Zatem: o całkowitej pojemności kondensatora MO decyduje szeregowe połączenie i A d s E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 0 10

017-04-6 KONENAOR MO H-KA pojemnościowo-napięciowa ( ) praktycznie stałe, niezależne od napięcia bramki, decyduje o wypadkowej pojemności kondensatora MO dla małych częstotliwości ładunek Q m nadąża za zmianami napięcia, co objawia się zwiększeniem pojemności dla silnej inwersji dla dużych częstotliwości ładunek Q m NE nadąża za zmianami napięcia, co objawia się stałą pojemnością dla silnej inwersji nierównowagowa Rysunek zaczerpnięto z W. Marciniak Przyrządy półprzewodnikowe MO, WN 1991 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 1 RZEZYWA RKRA MO W rzeczywistej strukturze MO należy uwzględnić: Nierówne prace wyjścia z półprzewodnika i metalu wstępne zagięcie poziomów energetycznych Energetyczne stany powierzchniowe na granicy izolator-półprzewodnik dodatkowy ładunek Q Zanieczyszczenia w obszarze dielektryka nieskompensowane ładunki E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 11

017-04-6 RZEZYWA RKRA MO KONAKOWA RÓŻNA POENJAŁÓW Kontaktowa różnica potencjałów to efekt różnych prac wyjścia z metalu i półprzewodnika: ms M q i = 0,95eV 3,1eV q = 4,05eV Eg = 9eV q M = 4,1eV energia elektronu w próżni EF E q E Egi / Ei Egi = 1,1eV F 3,15eV Ei EF EV qf EF EF EV i typu p Al io F napięcie płaskich pasm, NA = 1,1E15cm-3 Z porównania wykresów energetycznych: ms M ( lub inaczej: ms mi F F ln F ) czyli takie napięcie na bramce, które wyprostuje pasma energetyczne Koncentracja domieszki w podłożu: NA dla pp. typu p k potencjał N dla pp. typu n q elektrotermiczny N ni Kontaktowa różnica potencjałów metal-półprzewodnik samoistny E+Ei 017 r. P& E gi F = 0,3 ev, przy =300K ( = 6 mv) Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 3 RKRA MO NAPĘE PROOWE Napięcie progowe to takie napięcie bramki, że półprzewodnik na powierzchni wykazuje własności półprzewodnika samoistnego. Odpowiada to takiemu napięciu na bramce, że: s F Z analizy ładunków można wykazać, że: s F V ms Qef F Qd F lub inaczej dla podłoża p: V F F równoważny ładunek powierzchniowy Pewien fikcyjny ładunek na granicy izolator-półprzewodnik związany z ładunkami: ruchomym w warstwie tlenku nieruchomym w warstwie tlenku stanów i pułapek powierzchniowych (na granicy tlenek/półprzewodnik) 4q N A F Qd z q N A N s zęsto, dla uogólnienia rozważań ładunek zjonizowanych domieszek w podłożu (tutaj Qd) oznaczany jest przez Q - czyli ładunek podłożowy. zyli napięcie progowe można zapisać jako: Napięcie progowe w kondensatorze! E+Ei 017 r. P& V F F Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- Q 4 1

017-04-6 RKRA MO NAPĘE PROOWE - interpretacja Napięcie progowe: V można zinterpretować jako: Qef ms F Q napięcie niezbędne do wyprostowania pasm energetycznych F napięcie potrzebne do zagięcia pasm, tak aby potencjał powierzchniowy był równy podwojonemu potencjałowi Fermiego (silna inwersja: = F ) E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 5 Podsumowując truktura MO to kondensator (ale nie taki zwyczajny) Napięcie na bramce może zmieniać stan pracy: akumulacja zubożenie inwersja Kondensator MO ma inne własności w każdym ze stanów pracy Napięcie progowe powoduje powstanie warstwy inwersyjnej V F F Q E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne fizyka półprzewodników: M-- 6 13

>> 0 >> 0 = 0 017-04-6 RANZYOR MO Zróbmy tranzystor =0 > 0 > 0 > 0 > 0 Nic z tego! Prąd płynie. Nie ma sterowania przepływem prądu. E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 7 RANZYOR MO n+ n+ > 0 > 0 > 0 > 0 Potrzebny jest jakiś zawór jednokierunkowy lub zasobnik z elektronami, bo można wytworzyć warstwę inwersyjną wyindukować kanał typu n Jedna dioda to mało! E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 8 14

= 0 >> 0 017-04-6 RANZYOR MO n+ n+ n+ druga dioda lub zasobnik n+ = 0 > 0 > 0 > 0 wie diody eraz dobrze. Prąd płynie tylko wtedy, gdy są elektrony pod bramką jest kanał. Napięcie bramki może sterować wartością prądu przez zmianę grubości kanału E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 9 RANZYOR MO OWA Przekrój poprzeczny tranzystora MO, wzbogacanego z kanałem typu n L długość kanału W szerokość kanału Rysunek zaczerpnięto z. Kuta Elementy i układy elektroniczne, AH 000 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 30 15

017-04-6 RANZYOR MO ZAŁANE (1) = 0, < 0 io n + p n + dy nie ma kanału w obwodzie dren-źródło prąd nie płynie (pomijając znikomy prąd wsteczny diody) > 0 = 0 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 31 RANZYOR MO ZAŁANE () > V p io n + n + > V inwersja: zmiany powodują modulację konduktancji kanału sterując prądem drenu > 0 > 0 PRAA LNOWA E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 3 16

017-04-6 RANZYOR MO ZAŁANE (3) odcięcie kanału = V dalsze zwiększanie > V io n+ > V n+ NAYENE: zmiany NEPOWOJĄ wzrostu prądu drenu p >> 0 = const. Elementy elektroniczne tranzystor MO E+Ei 017 r. P& 33 RANZYOR MO PRĄ REN >0 kanał (typu n) >0 Qn(y) =0 = R io n+ przy czym: n+ obszar zubożony p padek napięcia na elemencie y kanału można zapisać jako: y rezystywność kanału określona jako: y x (1) () gdzie: pole pow. przekroju kanału: = x W Q(y) 0 ΔR (prawo Ohma) Δy e ruchliwość elektronów (3) (4) 1 q e n( y ) n(y) koncentracja elektronów jako fun. położenia y w kanale L L długość kanału W szerokość kanału (wg. osi Z ukł. wsp.) Podstawiając powyższe (), (3) i (4) do (1) mamy: Δy Δ q e n( y ) W x (5) Ponieważ n(y) to koncentracja nośników (elektronów) na Założenia: w kanale jest warstwa inwersyjna, źródło zwarte z podłożem, między drenem a źródłem płynie prąd, tranz. pracuje z zakresie nienasycenia. E+Ei 017 r. P& jednostkę objętości, więc iloczyn: q n(y) x można potraktować jako powierzchniową gęstość ładunku ruchomego w kanale, więc: Qn(y) = q n(y) x (znak minus bo nośnikami są elektrony). Zatem spadek napięcia na elemencie y to: Δ Δy (6) e W Qn(y) Elementy elektroniczne tranzystor MO 34 17

017-04-6 =0 >0 io obszar zubożony p kanał (typu n) Q n (y) n + n + 0 x y Q (y) L długość kanału W szerokość kanału L >0 Przy źródle potencjał wynosi F, to jest warunek silnej inwersji, a potem, w kierunku drenu, powiększa się o spadek napięcia w kanale. y RANZYOR MO PRĄ REN () Powyższe równanie może być przepisane jako: Δy e W (Q n(y) ) Δ (7) Zgodnie z rozważaniami dotyczącymi kondensatora MO, dla przypadku inwersji, ładunek w półprzewodniku można zapisać jako sumę ładunku podłożowego (ujemne zjonizowane atomy domieszki akceptorowej) i ładunku elektronów (ruchomych nośników warstwy inwersyjnej): Q Q n + (Q ) i podstawiając Q n do równania (7) mamy: Δy e W Q(y) Q (y) Δ (8) Q Ładunek w półprzewodniku Q można wyznaczyć z równania: s opisującego napięcie bramki, które zostanie zmodyfikowane o napięcia Q płaskich pasm, więc napięcie bramki: F s (9) Zatem: Q(y) F s(y) (10) Ponieważ pod bramką istnieje warstwa oraz przez kanał płynie prąd wywołujący spadek napięcia (y) w każdym punkcie kanału, to rozkład potencjału powierzchniowego wzdłuż kanału (y) należy zapisać jako: (y) (y) F (11) E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 35 =0 >0 io obszar zubożony p kanał (typu n) Q n (y) n + n + 0 x y Q (y) L długość kanału W szerokość kanału L >0 i dalej przekształcić do postaci: Następnie uwzględniając y RANZYOR MO PRĄ REN (3) Podstawiając (11) do (10) otrzymujemy równanie na ładunek w półprzewodniku uzależnione od rozkładu napięcia w kanale: Wykorzystując (1) równanie (8) można podstawić: Ładunek w podłożu Q w równaniu (13) w ogólności zależy od położenia y, ale można dla uproszczenia obliczeń założyć, że jest stały, nie zależny od położenia w kanale i opisany znanym już równaniem: Q 4q N Zatem równanie (13) można przepisać: Δy W (y) Δ Q W Δy W Q (y) W e e Δy e e W Q F E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 36 F d (y) Δ A F Δ definicję napięcia progowego: Δy W V (y) Δ F F (y) Q (y) Δ (y) Δ Q (y) W Δ F e F F F (y) F F e e (1) (13) (14) (15) 18

017-04-6 RANZYOR MO PRĄ REN (4) =0 >0 io obszar zubożony p kanał (typu n) Q n (y) n + n + 0 x y Q (y) L długość kanału W szerokość kanału L >0 y eraz wystarczy już tylko scałkować równanie (15) w odpowiednich granicach ( po kanale od 0 do L i po napięciu od 0 do ): L otrzymując: i ostatecznie: ZAKRE LNOWY 0 dy L W e V (y) 0 e W W e L d V V (16) (17) dy napięcie osiągnie wartość = V, to wg równania (17) prąd drenu musiałby maleć ( w liniowym zakresie jest kwadratową funkcją ). Wtedy przy drenie następuje zanik kanału nasycenie. Zatem podstawiając ten warunek ( = V ) do równania (17) otrzymujemy wyrażenie na prąd drenu w nasyceniu: W V e ZAKRE NAYENA L la tranzystora typu P prąd drenu i napięcie są ujemne. E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 37 RANZYOR MO HARAKERYYK WYJŚOWE ZAKRE LNOWY > V n 0V < < V n W n( V ) L ZAKRE NAYENA > V n > V n > 0V W n L ( V ) OĘE < V n = 0 V E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 38 19

017-04-6 RANZYOR MO HARAKERYYK PRZEJŚOWE ZAKRE NAYENA > V n > V n > 0V W n L ( V ) ZAKRE LNOWY > V n 0V < < V n W n( V ) L E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 39 ROZAJE RANZYORÓW MO Jeśli = 0 to brak kanału p Rysunek zaczerpnięto z. Kuta Elementy i układy elektroniczne, AH 000 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 40 0

017-04-6 ROZAJE RANZYORÓW MO Przy =0 istnieje kanał i możliwy jest przepływ prądu Rysunek zaczerpnięto z. Kuta Elementy i układy elektroniczne, AH 000 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 41 RANZYOR MO HARAKERYYK WYJŚOWE - pomiary PMO NMO Ei 014 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 4 1

017-04-6 RANZYOR MO HARAKERYYK PRZEJŚOWE - pomiary PMO NMO zy można na tych ch-kach wskazać zakres pracy liniowej i nasycenia? Jak będzie wyglądała ewentualna krzywa rozdzielająca te zakresy? Ei 014 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 43 Przykład 1 Oblicz prąd drenu tranzystora z rysunku, jeśli napięcie 1 = 5 V, = V, napięcie progowe V = 1 V, a parametr transkonduktancyjny ( µ e W/L) wynosi 0,5 ma/v. R 1 ZAKRE LNOWY > V n 0V < < V n W n L ( V ) ZAKRE NAYENA > V n > V n > 0V W n L ( V ) Ei 014 r. P& Elementy elektroniczne Fizyka półprzewodników 44

017-04-6 Przykład Oblicz prąd w obwodzie z rysunku, jeśli napięcie = 5 V, a napięcie progowe tranzystora V = 1 V i parametr transkonduktancyjny ( µ e W/L) wynosi 0,5 ma/v. ZAKRE NAYENA > V n > V n > 0V W n L Ei 014 r. P& Elementy elektroniczne Fizyka półprzewodników 45 ( V ) RANZYOR MO EFEK KRÓENA KANAŁ dla NMO io n + obszar zubożony p L' L n + Pod wpływem wzrostu napięcia skraca się kanał. Na odcinku L' - at w zakresie linowym (bez zmian): W n V L w zakresie nasycenia: W n( L V ) (1 ) 1/ efekt ten często jest nazywany efektem modulacji długości kanału V E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 46 3

017-04-6 RANZYOR MO EFEK POŁOŻOWY io n + obszar zubożony n + V V ( ) 0 s s dla NMO p - współczynnik objętościowy PMO NMO E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 47 RANZYOR MO inne zjawiska EFEK KRÓKEO KANAŁ Krótszy kanał io n + n + obszar zubożony L p io obszar zubożony n + n + L' p ładunki przestrzenne złączy - i - są bliżej bardziej przykrywając obszar kanału zwiększa się udział składowej wzdłużnej pola elektr. ( ) w indukowaniu ładunku w kanale napięcie musi wykonać mniejszą pracę w celu wytworzenia kanału mniejsze napięcie progowe V E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 48 4

017-04-6 RANZYOR MO inne zjawiska EFEK WĄKEO KANAŁ płaszczyzna przekroju kanału Węższy kanał pole poprzeczne (od nap. bramki) indukuje ładunek przestrzenny nie tylko pod bramką obszar zubożony io p W io p W' kanał się zwęża więc zwiększa się udział składowej poprzecznej pola elektr. ( ) w indukowaniu ładunku poza kanałem V wąski kanał napięcie musi wykonać większą pracę w celu wytworzenia kanału większe napięcie progowe V krótki kanał W, L E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 49 RANZYOR MO inne zjawiska ZAKRE POPROOWY łaba inwersja: F < F W warunkach silnej inwersji koncentracja nośników mniejszościowych przy powierzchni (w kanale) jest większa niż koncentracja nośników większościowych w głębi półprzewodnika. tąd zapięcie progowe można zdefiniować jako takie napięcie bramki, że koncentracja ZAKRE POPROOWY 0( ) 1 exp yfuzyjny mechanizm przepływu prądu zakres podprogowy V E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 50 5

017-04-6 RANZYOR MO WPŁYW EMPERARY Na prąd drenu mają wpływ zależności temperaturowe: ruchliwości nośników w kanale napięcia progowego emperaturowy współczynnik prądu drenu dla zakresu nasycenia: W może być dodatni, ujemny lub zerowy w zależności od napięcia V 1 ( ) 1 W la ruchliwości ( a): 1 a la napięcia progowego: V m Eg q Qef 1 1 < F s F Eg nieznacznie maleje gdy temp. rośnie F zmienia się o ok. mv/k Elementy elektroniczne tranzystor MO E+Ei 017 r. P& 51 RANZYOR MO MOEL WELKOYNAŁOWY io n+ n+ L p i prąd w kanale: ZAKRE LNOWY i e u W u u L ZAKRE NAYENA i e u u W u L Małe litery składowa stała i zmienne (sygnał całkowity) diody - i -: i exp 1, i exp 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 5 6

017-04-6 RANZYOR MO MOEL WELKOYNAŁOWY n + io n + p L prąd w kanale: ZAKRE LNOWY W i e L ZAKRE NAYENA W u i e L u u u Małe litery składowa stała i zmienne (sygnał całkowity) diody - i -: i exp 1, i exp 1 i R ' ' u u R E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 53 RANZYOR MO MOEL WELKOYNAŁOWY n + io n + p L prąd w kanale: R ' i ' R ZAKRE LNOWY i i W u e u u L W u ZAKRE NAYENA e L u u Małe litery składowa stała i zmienne diody - i -: i exp 1, i exp 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 54 7

017-04-6 RANZYOR MO MOEL WELKOYNAŁOWY n + io n + p L prąd w kanale: R ' i ' R ZAKRE LNOWY i i W u e u u L W u ZAKRE NAYENA e L Małe litery składowa stała i zmienne diody - i -: u u i exp 1, i exp 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 55 RANZYOR MO WZMANAZ i R i /R -1/R Q u u u i W u L u V u i W 1 L u V u E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 56 8

017-04-6 RANZYOR MO WZMANAZ i i /R -1/R Q(, ) id Q(, ) V u u ugs uds E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 57 RANZYOR MO MOEL MAŁOYNAŁOWY i i g ds g m R u u i u u u we u gs g ds g u ds g m u gs E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 58 9

017-04-6 RANZYOR MO MOEL MAŁOYNAŁOWY gd r dd i gm u g ds i u u gs W L gs gb W L g m u gs r ss V ubs - konduktancja wyjściowa (dla zakresu nasycenia) g mb u bs E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 59 bs g mb i u g ds db - transkonduktancja (dla zakresu nasycenia) f i V V u gs gm gd częstotliwość odcięcia gb gdy amplituda prądu wej. = prądowi źr. ster. g m u gs, przy zwartym wyj. - konduktancja przejściowa podłoża NWERER MO POAWOWA RAMKA YFROWA wa tranzystory o przeciwnym typie przewodnictwa (PMO i NMO) omplementary MO pmo tr. jako klucze un nmo uo un uo E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 60 30

017-04-6 NWERER MO POAWOWA RAMKA YFROWA uo h-ka przejściowa pmo 1 un = 0 nmo uo = u V n V p un 0 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 61 NWERER MO POAWOWA RAMKA YFROWA uo h-ka przejściowa pmo 1 nmo un = u uo = 0 V n V p un 0 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 6 31

017-04-6 NWERER MO POAWOWA RAMKA YFROWA uo pmo 1 nmo V n V p un uo un 0 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 63 NWERER MO i uo V V uo i pmo 1 nmo V n V p un uo un 0 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 64 3

017-04-6 NWERER MO nmo w stanie odcięcia, pmo w obszarze liniowym uo V V nmo w stanie nasycenia, pmo w obszarze liniowym uo i nmo w stanie nasycenia, pmo w stanie nasycenia 1 V nmo w obszarze liniowym, pmo w stanie nasycenia V n V p un V nmo w obszarze liniowym, pmo w stanie odcięcia 0 1 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne zastosowanie tranzystora MO 65 NWERER MO nmo w stanie odcięcia, pmo w obszarze liniowym uo V V nmo w stanie nasycenia, pmo w obszarze liniowym uo i nmo w stanie nasycenia, pmo w stanie nasycenia 1 V nmo w obszarze liniowym, pmo w stanie nasycenia V n V p V nmo w obszarze liniowym, pmo w stanie odcięcia 0 1 un E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 66 33

017-04-6 ALZAOR PRĄ =const =0 =- =-4 R L =0 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 67 RANZYOR POLARNY Z ZOLOWANĄ RAMKĄ () nsulated ate ipolar ransistor E E ranzystor łączy pozytywne cechy tranzystorów MOFE z zaletami tranzystorów bipolarnych E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 68 34

017-04-6 RANZYOR POLARNY Z ZOLOWANĄ RAMKĄ () E echy tranzystora - posiadają dużą impedancję wejściową - łatwość sterowania napięciem wejściowym - niskie napięcie Esat - posiadają zabezpieczenie w przypadku zwarcia - niskie straty przy przełączaniu E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 69 RANZYOR POLARNY Z ZOLOWANĄ RAMKĄ () E Zastosowanie tranzystorów - źródła prądowe dużej mocy (spawarki) - przetworniki dużej mocy - układy z obciążeniami indukcyjnymi - falowniki - przekształtniki energoelektroniczne E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 70 35

017-04-6 RANZYOR VMO p n+ n+ p n n+ E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 71 ranzystory MO dużej mocy E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 7 36

017-04-6 PORÓWNANE RANZYORA POLARNEO MOFE RANKONKANJA POLARNY MOFE g mj E g mmo n OX W L - niezależna od procesu technologicznego - zależna od procesu technologicznego - niezależna od wymiarów - zależna od wymiarów g mj g mmo E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne J v. MOFE 73 PORÓWNANE RANZYORA POLARNEO MOFE MPEANJA WEJŚOWA POLARNY MOFE r bej g m r gsmo - bardzo mała rbe r gs E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne J v. MOFE 74 37

017-04-6 PORÓWNANE RANZYORA POLARNEO MOFE MPEANJA WYJŚOWA r 0J POLARNY AF E r MOFE 0MO 1, AF, 1/λ E, E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne J v. MOFE 75 PORÓWNANE RANZYORA POLARNEO MOFE WZMONENE POLARNY MOFE K K uj uj g mjr 0 AF jeżeli np. AF =50V, to K u =000 E K umo K umo g 1 V mmor 0 n V n E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne J v. MOFE 76 38

017-04-6 PORÓWNANE RANZYORA POLARNEO MOFE ZĘOLWOŚĆ RANZNA POLARNY MOFE f J g m MO n f g m gs n L V f J f MO E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne J v. MOFE 77 ranzystory MO w układach scalonych ramka samocentrująca polikrzemowa mniejsze pojemności i większa szybkość przełączania kalowanie ciągłe proporcjonalne zmniejszanie wymiarów mniejsze pojemności, niższe napięcie zasilania mniejsze straty mocy dynamicznej (P = f ), ale większe straty statyczne (tunelowanie i inne zjawiska); technologie dla L<180nm zolator pod bramką high-k lekarstwo na straty statyczne (tunelowanie) Nowe struktury FinFE, FO redukcja strat statycznych cdn. semestr 5 E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne tranzystor MO 78 39

017-04-6 zy ten tranzystor jest tak jakoś ważny? z blogu Jacoba Wikner a: https://mixedsignal.wordpress.com/017/03/10/when-will-we-bump-into-a-transistor-everywhere/ Kim jest Jacob Wikner E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne ciekawostki 79 zy ten tranzystor jest tak jakoś ważny? Za ntel em na Ziemi jest około 1,*10 1 tranzystorów: http://www.trustedreviews.com/news/intel-predicts-1--sextillion-transistors-worldwide-by-015 Porównajmy tę liczbę z innymi na Ziemi: Liczba ludzi na Ziemi: 7 000 000 000 (±100 milionów) 7*10 9 ługość równika: ok. 40 000 km (4*10 7 m) Powierzchnia Ziemi: 510 milionów km, tj. 5,1*10 14 m ługość kanału przeciętnego tranzystora przyjmuje się: 100 nm zerokość kanału przeciętnego tranzystora przyjmuje się: 100 nm złowiek składa się z ok. 37*10 1 komórek (za: http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.3109/03014460.013.807878) kładając wszystkie tranzystory jeden obok drugiego: itd. E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne ciekawostki 80 40

017-04-6 zy ten tranzystor jest tak jakoś ważny? i może najciekawsze: E+Ei 017 r. P& Elementy elektroniczne ciekawostki 81 41