ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 7 Data wydania: 04 marca 2009 r. Nazwa i adres organizacji macierzystej INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY ul.szachowa 1 04-894 Warszawa AP 015 Nazwa, adres, telefon, fax i e-mail laboratorium LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ, ELEKTRONICZNEJ I OPTOELEKTRONICZNEJ ul.szachowa 1 04-894 Warszawa fax: (0-22) 512 84 92, tel. (0-22) 512-84-07, e-mail: cipt@.itl.waw.pl Kategoria laboratorium działające w stałej siedzibie (S) oraz poza nią (P) Dziedziny akredytacji 7 Wielkości elektryczne DC i m.cz (7.01, 7.02, 7.03, 7.04, 7.05, 7.06, 7.09,) 8 Wielkości elektryczne w.cz. (8.01) 10 Czas i częstotliwość (10.01, 10.02) 16 Wielkości optyczne (16.01) 19 Temperatura (19.05, 19.09) Kierownictwo laboratorium inż. Anna Warzec - kierownik laboratorium dr inż. Tomasz Kossek - zastępca kierownika laboratorium Wersja strony: A KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW WZORCUJĄCYCH RYSZARD MALESA Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 1/42

7 Wielkości elektryczne DC i S,P m.cz 7.01 napięcie, prąd (DC) napięcie stałe 10 V 10 kv S,P - miernik napięcia 3 10 V 100 V 0,005 % + 0,002 V również - multimetr cyfrowy 3 100 V 1 mv 0,007 % stosunek - (mili/nano)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,0045 % napięć stałych - skopometr 3 10 mv 100 mv 0,0010 % w multimetrach - karta multimetrowa 3 100 mv 1 V 0,0005 % cyfrowych - analizatory parametrów i uszkodzeń linii 1 V 10 V 0,0003 % 10 V 100 V 0,0005 % 100 V 1000 V 0,0006 % - kalibrator 3 10 V 1 mv 0,005 % + 0,002 V - miernik (mostek) RLC 3 1 mv 10 mv 0,0045 % - źródło napięcia stałego 3 10 mv 100 mv 0,0010 % - zasilacz stabilizowany 3 100 mv 1 V 0,0007 % - próbnik przebicia 3 1 V 10 V 0,0005 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 V 100 V 100 V 1000 V 0,0007 % 0,0009 % - dzielnik napięcia 3 1 kv 10 kv 0,2% - oscyloskop 3 o impedancji wejściowej 50 1 mv 5,56 V 0,03 % 30 V 1 M 1 mv 222 V 0,03 % 30 V wewnętrzne źródło odniesienia 0 V 10 V 0,001 % - karta oscyloskopowa 3 prąd stały 10 na 100 A S,P - miernik prądu 3 1 A 10 A 0,023 % - multimetr cyfrowy 3 10 A 100 A 0,010 % - (mili)amperomierz 3 100 A 100 ma 0,004 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 100 ma 1 A 1 A 10 A 0,010 % 0,016 % - skopometr 3 10 A 100 A 0,2 % tylko cęgi - karta multimetrowa 3 - analizatory parametrów i uszkodzeń linii - miernik cęgowy i cęgi pomiarowe 3 - cęgi pomiarowe 3 - kalibrator 3 10 na 1 A 0,008 % - miernik (mostek) RLC 3 1 A 100 A 0,004 % - źródło prądu stałego 3 100 A 100 ma 0,002 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 2/42

- zasilacz stabilizowany 3 100 ma 10 A 0,003 % - wzmacniacz prądu 3 10 A 100 A 0,008 % - sonda prądowa 100 A 300 A 0,2% 7.02 napięcie, prąd (AC) S,P napięcie przemienne 100 V 1000 V S,P - miernik napięcia 3 f = 10 Hz 31 Hz - multimetr cyfrowy 3 100 V 1 mv 0,47 % - (mili)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,066 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 mv 100 mv 100 mv 100 V 0,021 % 0,010 % - skopometr 3 100 V 1000 V 0,017 % - karta multimetrowa 3 f = 32 Hz 330 Hz - analizatory parametrów 100 V 1 mv 0,46 % i uszkodzeń linii 1 mv 10 mv 0,061 % - próbnik przebicia 3 10 mv 100 mv 0,016 % - tester bezpieczeństwa elektrycznego 3 100 mv 100 V 0,006 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 330 Hz 10 khz 100 V 1 mv 0,55 % 1 mv 10 mv 0,060 % 10 mv 100 mv 0,015 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,012 % f = 10 khz 33 khz 100 V 1 mv 0,47 % 1 mv 10 mv 0,062 % 10 mv 100 mv 0,025 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 33 khz 100 khz 100 V 1 mv 0,49 % 1 mv 10 mv 0,087 % 10 mv 100 mv 0,049 % 100 mv 10 V 0,009 % 10 V 100 V 0,013 % 100 V 750 V 0,09 % f =100 khz 330 khz 100 V 1 mv 1,0 % 1 mv 10 mv 0,19 % 10 mv 100 mv 0,11 % 100 mv 10 V 0,03 % 10 V 100 V 0,10 % f =100 khz 200 khz 10 V 100 V 0,07 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 3/42

f = 330 khz 1 MHz 100 V 1 mv 2,8 % 1 mv 10 mv 0,7 % 10 mv 100 mv 0,5 % 100 mv 10 V 0,2 % 10 V 100 V 0,9 % 45 Hz 60 Hz 1 kv 10 kv 0,2% - kalibrator 3 f = 10 Hz 40 Hz - miernik (mostek) RLC 3 100 V 1 mv 0,4 % - miernik (mostek) impedancji 3 1 mv 10 mv 0,07 % - miernik (tester) parametrów 10 mv 10 V 0,01 % instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 V 100 V 0,01 % - generator w.cz. 3 100 V 1000 V 0,02 % - tester radiokomunikacyjny 3 - dzielnik napięcia 3 f = 40 Hz 300 Hz 100 V 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 300 Hz 1 khz 100 V 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 1 khz 20 khz 100 V 1 mv 0,16 % 1 mv 10 mv 0,05 % 10 mv 100 mv 0,02 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 20 khz 30 khz 100 V 1 mv 0,24 % 1 mv 10 mv 0,13 % 10 mv 100 mv 0,03 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 30 khz 50 khz 100 V 1 mv 0,11 % 1 mv 10 mv 0,02 % 10 mv 100 V 100 V 1000 V 0,01 % 0,02 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 4/42

f = 50 khz 100 khz 100 V 1 mv 0,11 % 1 mv 10 mv 0,02 % 10 mv 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f =100kHz 330 khz 1 mv 10 mv 2,2 % 10 mv 10 V 0,04 % 10 V 100 V 0,13 % f = 330 khz 1 MHz 10 mv 10 V 0,3 % 10 V 100 V 1,2 % - oscyloskop 3 (skopometr 3 ) (wartości międzyszczytowe sygnału sinusoidalnego) o impedancji wejściowej: 50 4,44 mv 5,56 V 1,8 % - karta oscyloskopowa 3 50 khz 10 MHz o impedancji wejściowej: 50 i 1 4,44 mv 5,56 V 3,1 % M (nierówność charakterystyki 100 mhz 100 MHz częstotliwościowej odniesiona do wskazania w paśmie 50 khz 10 MHz) 5 mv 5 V 4,1 % 100 MHz 300 MHz 5 mv 5 V 4,7 % 300 MHz 550 MHz 5 mv 5 V 5,2 % 550 MHz 3 GHz 5 mv 5 V 3 GHz 6,0 GHz 6,4 % - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator napięcia) wyjście asymetryczne: 1 mv 30 mv 20 Hz 50 khz 1 mv 1000 V 0,4 % (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; 50 khz 100 khz 0,7 % wyjście symetryczne: 1 mv 10 V (0; 124; 135; 150; 600) 30 mv 100 V 100 V 1000 V 20 Hz 100 khz 0,2 % 20 Hz 50 khz 0,2 % 50 khz 100 khz 0,4 % Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 5/42

- miernik napięcia wejście asymetryczne: 1 mv 100 V wysokoomowe; 1 mv 20 Hz 30 Hz 0,5 % 30 Hz 100 khz 0,3 % wejście symetryczne: 1 mv 10 V 3 mv 100 V 20 Hz 100 khz wysokoomowe 0,2 % poziom napięcia S napięcie odniesienia - źródło sinusoidalnych sygnałów 0,7746 V pomiarowych (generator poziomu) wyjście asymetryczne: -60 db +30 db, -60 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,05 db (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; 20 Hz 50 khz 0,02 db 50 khz 100 khz 0,05 db 50 0 db 200 Hz 100 MHz 0,045 db wyjście symetryczne: -30 db +30 db 20 Hz 100 khz -60 db +30 db (0; 124; 135; 150; 600) ; 0,02 db wyjście asymetryczne: -60 db +10 db, 75 ; -60 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -50 db -20 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db -10 db, +10 db 200 Hz 36 MHz 0,04 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db wyjście symetryczne: 0 db, 150 0 db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,038 db - miernik poziomu - analizator parametrów i uszkodzeń linii wejście asymetr. i symetryczne: -60 db 20 Hz 100 khz -60 db +30 db wysokoomowe; 0,04 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,03 db -30 db +30 db 20 Hz 100 khz 0,015 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 6/42

wejście asymetryczne: -60 db + 10 db, 75 ; -60 db 200 Hz 36 MHz 0,08 db -50 db, -40 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -30 db -10 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db +10 db 200 Hz 2,1 MHz 0,04 db wejście symetryczne: 0 db, 150 0 db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,042 db prąd przemienny 10 A 100 A S,P - miernik prądu 3 f = 10 Hz 1 khz - multimetr cyfrowy 3 10 A 100 ma 0,02 % - (mili)amperomierz 3 100 ma 1 A 0,03 % - miernik cęgowy 3 1 A 10 A 0,05 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 f = 1 khz 5 khz - miernik cęgowy 3 10 A 100 A 0,06 % - cęgi pomiarowe 3 100 A 100 ma 0,03 % 100 ma 1 A 0,05 % 1 A 10 A 0,09 % f = 5 khz 10 khz 1 A 10 A 0,2 % f = 10 khz 20 khz 1 A 10 A 0,6 % f = 45 Hz 52,5 Hz 10 A 20 A 0,065 % 20 A 100 A 0,13 % f = 45 Hz 60 Hz 100 A 1000 A 0,3 % tylko cęgi - tester wyłączników RCD 3 - miernik prądu upływu 3 50 Hz 3 ma 1000 ma 50 Hz 4 ma 1000 ma 1,2 % 0,03 % - kalibrator 3 f = 10 Hz 1 khz - miernik (mostek) RLC 3 10 A 100 ma 0,03 % - miernik (mostek) impedancji 3 100 ma 1 A 1 A 10 A 10 A 20 A 0,05 % 0,06 % 0,08 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 7/42

- wzmacniacz prądu 3 - symulator prądu upływu 3 f = 1 khz 5 khz 10 A 100 A 0,05 % 100 A 100 ma 0,04 % 100 ma 1 A 0,07 % f = 5 khz 20 khz 0,1 ma 100 ma 0,1 % 100 ma 1 A 0,4 % f = 20 khz 50 khz 1 ma 100 ma 0,5 % 100 ma 1 A 1,2 % f = 50 khz 100 khz 1 ma 100 ma 0,8 % f = 1 khz 10 khz 1A 20 A 0,08 % f = 40 Hz 500 Hz 20 A 100 A 0,2 % f = 45 Hz 60 Hz 100 A 300 A 0,5 % 7.03 rezystancja (DC) 0,00001 1 T S, P - opornik (rezystor) wzorcowy 3 - opornik (rezystor) dekadowy 3 0,00001 0,001 0,001 % - opornik (rezystor) regulowany 3 0,001 100 k 0,0001 % - kalibrator 3 100 k 1 M 0,0008 % - miernik rezystancji 3 1 M 100 M 0,002 % - multimetr cyfrowy 3 100 M 1 G 0,015 % - (mili/mega)omomierz 3 1 G 10 G 0,12 % - miernik rezystancji izolacji 3 10 G 1 T 0,5 % - miernik (mostek RLC) 3 - mostek stałoprądowy 3 - miernik rezystancji uziemienia 3 - miernik skuteczności uziemienia 3 - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 - oscyloskop 3 - skopometr 3 - bocznik pomiarowy 3 - karta multimetrowa 3 - karta oscyloskopowa 3 - analizatory parametrów i uszkodzeń linii Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 8/42

7.04 rezystancja (AC) - opornik wzorcowy 3 1 khz - opornik dekadowy 3 0,01 1 0,13 % - wzorzec rezystancji 3 1 100 0,03 % - bocznik pomiarowy 3 100 1 M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 40 Hz 100 Hz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % 1 Ω 10 0,07 % 10 100 0,06 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 100 Hz 250 Hz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % 1 10 0,06 % 10 100 0,05 % 100 10 k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % 250 Hz 1 khz 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % 1 10 0,05 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 1 khz 3 khz 0,01 1 0,23 % 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 3 khz 6 khz 0,01 1 0,23 % 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 9/42

6 khz 10 khz 0,01 1 0,23 % 1 10 0,17 % 10 100 0,07 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 10 khz 20 khz 1 10 0,25 % 10 100 0,09 % 100 10 k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 20 khz 50 khz 1 10 0,37 % 10 100 0,13 % 100 1 k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 50 khz 100 khz 1 10 0,77 % 10 100 0,26 % 100 1 k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 0,01 0,1 1 % - miernik rezystancji 3 0,1 1 0,3 % - miernik (tester) parametrów 1 10 0,05 % instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 3 10 100 0,03 % 100 100 k 0,02 % 100 k 1 M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 40 Hz 100 Hz 1 10 0,17 % 10 100 0,06 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 100 Hz 250 Hz 1 10 0,13 % 10 100 0,05 % 100 10 k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 10/42

250 Hz 1 khz 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 1 khz 3 khz 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 3 khz 6 khz 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % 6 khz 10 khz 1 10 0,17 % 10 100 0,07 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 10 khz 20 khz 1 10 0,25 % 10 100 0,09 % 100 10 k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 20 khz 50 khz 1 10 0,37 % 10 100 0,13 % 100 1 k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 50 khz 100 khz 1 10 0,77 % 10 100 0,26 % 100 1 k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % - miernik rezystancji pętli zwarcia 3 50Hz 0,05 1 k 0,05 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 11/42

7.05 impedancja - wzorzec impedancji 3 1 khz 1 10 0,03 % 10 100 0,03 % 100 100 k 0,02 % 100 k 1 M 0,02 % 1 M 10 M 0,12 % 0,01 40 Hz 100 Hz 0,1 1 1 10 0,21 % 0,07 % 10 100 0,06 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,06 % 100 k 1 M 0,09 % 1 M 10 M 0,45 % 0,04 100 Hz 250 Hz 1 10 0,06 % 10 100 0,05 % 100 10 k 0,04 % 10 k 100 k 0,05 % 100 k 1 M 0,07 % 1 M 10 M 0,34 % 0,03 250 Hz 1 khz 1 10 0,05 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 0,02 1 khz 3 khz 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,04 % 100 k 1 M 0,05 % 1 M 10 M 0,23 % 0,02 3 khz 6 khz 1 10 0,09 % 10 100 0,04 % 100 10 k 0,03 % 10 k 100 k 0,08 % 100 k 1 M 0,13 % 1 M 10 M 0,67 % 0,02 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 12/42

6 khz 10 khz 1 10 0,17 % 10 100 0,07 % 100 10 k 0,05 % 10 k 100 k 0,19 % 100 k 1 M 0,33 % 0,04 10 khz 20 khz 1 10 0,25 % 10 100 0,09 % 100 10 k 0,07 % 10 k 100 k 0,29 % 100 k 1 M 0,53 % 0,06 20 khz 50 khz 1 10 0,37 % 10 100 0,13 % 100 1 k 0,10 % 1 k 10 k 0,12 % 0,09 50 khz 100 khz 1 10 0,77 % 10 100 0,26 % 100 1 k 0,20 % 1 k 10 k 0,23 % 0,20 - miernik (mostek impedancji) 3 1 khz 90 900 k 0,02 % 0,01 100 khz 9 9 k 0,2 % 0,2 - miernik impedancji pętli zwarcia 3 - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych 3 50 Hz 0,1 1 1 1 k 0,3 % 0,05 % 7.06 indukcyjność, pojemność S, P indukcyjność własna S,P - cewka wzorcowa stała 1 khz i regulowana 3 - dekada indukcyjności 3 1 H 10 H 0,06 H 10 H 50 H 0,07 H 50 H 1 mh 0,06 % 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 H 100 H 0,07 % 100 H 10 H 0,04 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 13/42

250 Hz 6 khz 10 H 100 H 0,06 % 100 H 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 H 100 H 0,08 % 100 H 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 H 100 H 0,09 % 100 H 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 H 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 H 10 mh 0,2 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 1 H 50 H 0,06 H - multimetr cyfrowy 3 50 H 1 mh 0,06 % - mostek indukcyjności 3 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 H 100 H 0,07 % 100 H 10 H 0,04 % 250 Hz 6 khz 10 H 100 H 0,06 % 100 H 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 H 100 H 0,08 % 100 H 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 H 100 H 0,09 % 100 H 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 H 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 H 10 mh 0,2 % pojemność elektryczna - kondensator wzorcowy stały 1 khz i regulowany (dekadowy) 3 10 pf 0,005 % 100 pf 0,005 % 1000 pf 0,005 % S,P 40 Hz 1 khz 1 pf 1 F 0,01 % + 0,00003 pf 1 F 10 F 0,02 % 10 F 100 F 0,04 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 14/42

1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,03 % 1 F 100 F 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,06 % 1 F 10 F 0,13 % 10 F 100 F 0,85 % 10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,2 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 F 1 F 0,1 % 1 F 10 F 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 F 1 F 0,2 % 1 F 10 F 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1 F 1 F 0,6 % 1 F 10 F 4 % - mostek (miernik) RLC 3 1 khz - mostek (miernik) impedancji 3 0,001 pf 0,00006 pf - multimetr cyfrowy 3 0,1 pf 0,06 % - mostek pojemności 3 1 pf 0,05 % - analizatory parametrów 10 pf 0,005 % i uszkodzeń linii 100 pf 0,006 % 1000 pf 0,006 % 1 pf 1 F 0,02 % + 0,1 pf 1 F 10 F 0,2 % 40 Hz 1 khz 1 pf 1 F 0,01 % + 0,00003 pf 1 F 10 F 0,02 % 10 F 100 F 0,04 % 1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,03 % 1 F 100 F 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 F 0,02 % 0,1 F 1 F 0,06 % 1 F 10 F 0,13 % 10 F 100 F 0,85 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 15/42

10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,3 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 F 1 F 0,1 % 1 F 10 F 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 F 1 F 0,2 % 1 F 10 F 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1 F 1 F 0,6 % 1 F 10 F 4 % - oscyloskop 3, skopometr 3 1 pf 35 pf 2 % ± 0,25 pf karta oscyloskopowa 3 35 pf 120 pf 2,5 % ± 0,25 pf 7.09 moc poziom mocy S moc odniesienia 1 mw - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator poziomu) wyjście asymetryczne: -50 dbm -50 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, 0,07 db (0; 50; 75; 135; 150; 600) ; -40 dbm, -30 dbm 20 Hz 50 khz 0,02 db 50 Hz 100 khz 0,05 db wyjście symetryczne: -50 dbm -20 dbm +40 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, (0; 124; 135; 150; 600) ; 0,02 db wyjście asymetryczne 50 0 dbm 200 Hz 100 MHz wyjście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 ; -60 dbm -50 dbm -20 dbm -10 dbm 0 dbm +10 dbm, +20 dbm 0,045 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db 200 Hz 36 MHz 0,05 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db 200 Hz 36 MHz 0,04 db wyjście symetryczne: 0 dbm, 150 0 dbm 200 Hz 2 MHz 0,032 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 16/42

- analizator parametrów i uszkodzeń linii : 0 dbm, 135 - miernik poziomu wejście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 ; -60 dbm -40 dbm 200 Hz 36 MHz 0,07 db -30 dbm -10 dbm 200 Hz 36 MHz 0,06 db 0 dbm 200 Hz 36 MHz 0,03 db + 10 dbm 200 Hz 36 MHz 0,04 db + 20 dbm 200 Hz 2,1 MHz 0,04 dbm wejście symetryczne: 0 dbm, 150 0 dbm 200 Hz 2 MHz 0,03 db - analizator parametrów i uszkodzeń linii : 0 dbm, 135 - generator i miernik poziomu analizatorów PCM +3 dbm - 50 dbm (dla częstotliwości 1014 Hz) 0,02 db tłumienność mocy elektrycznej - tłumik pomiarowy 0 db 60 db w układzie asymetrycznym 0 Hz 100 MHz 0,015 db (Z=75 ) 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 10 khz 100 MHz 0,05 db S 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 100 MHz 0,05 db 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 100 MHz 0,07 db w układzie symetrycznym (Z = 150 ) 0 Hz 2 MHz 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db - analizatory parametrów i uszkodzeń linii (Z = 600 ) (Z = 135 ) 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 2 MHz 0,07 db 0 db 50 db 0 db 75 db 0,05 db 0,15 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 17/42

8 Wielkości elektryczne w.cz. S,P 8.1 Wielkości elektryczne w.cz. S,P poziom mocy - miernik mocy w.cz. 3 - generator w.cz. 3 - analizator obwodów 3 - analizator widma 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator modulacji analogowych 3 - analizator modulacji cyfrowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 0 dbm (50 MHz) 0,044 db S,P 100 khz 10 MHz 30 dbm +20 dbm 50 dbm 30dBm 10 MHz 3,05 GHz +30 dbm +44 dbm 63 dbm +30 dbm 104 dbm 63 dbm 134 dbm 104 dbm 0,062 db 0,074 db 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db+0,005 db/10 db 0,14 db + 0,12 db/10 db 432A 8478B N5531S N5532A HP 438A E4418B 8481B 8481H 3,05 GHz 6,6 GHz +30 dbm +44 dbm 63 dbm +30 dbm 96 dbm 63 dbm 126 dbm 96 dbm 6,6 GHz 13,2 GHz +30 dbm +44 dbm 52 dbm +30 dbm 87 dbm 52 dbm 117 dbm 87 dbm 13,2 GHz 19,2 GHz +30 dbm +44 dbm 43 dbm +30 dbm 79 dbm 43 dbm 109 dbm 79 dbm 19,2 GHz 26,5 GHz 37 dbm +30 dbm 72 dbm 37 dbm 102 dbm 72 dbm 26,5 GHz 40 GHz 20 dbm +20 dbm 60 dbm 20 dbm 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db 0,24 db 0,055 db + 0,005 db/10 db 0,086 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db 0,26 db 0,061 db + 0,005 db/10 db 0,092 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 0,12 db + 0,005 db/10 db 0,15 db + 0,005 db/10 db 0,18 db + 0,12 db/10 0,12 db 0,14 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 18/42

względny poziom mocy - tłumik 3 - sprzęgacz 3 - generator w.cz. 3 - analizator obwodów 3 - analizator widma 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator modulacji analogowych 3 - analizator modulacji cyfrowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 100 khz 3,05 GHz 63 db +30 db 104 db 63 db 134 db 104 db 3,05 GHz 6,6 GHz 63 db +30 db 96 db 63 db 126 db 96 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db S,P N5531S N5532A 6,6 GHz 13,2 GHz 52 db +30 db 87 db 52 db 117 db 87 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db+ 0,12 db/10 db 13,2 GHz 19,2 GHz 43 db +30 db 79 db 43 db -109 db 79 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db 19,2 GHz 26,5 GHz 37 db +30 db 72 db 37 db 102 db 72 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,12 db + 0,12 db/10 db modulacja AM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 tester radiokomunikacyjny 3 S,P głębokość modulacji zakres częstotliwości 100 khz 10 MHz częstotliwość modulacji 20 Hz 10 khz głębokość modulacji 5% 99% 0,75% S,P zakres częstotliwości 10 MHz 3 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 100 khz głębokość modulacji 5% 20% 20% 99% 2,5% 0,5% Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 19/42

zakres częstotliwości 3 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 100 khz głębokość modulacji 5% 20% 20% 99% 4,5% 1,5% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji 0,06 Hz modulacja częstotliwości FM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 dewiacja częstotliwości zakres częstotliwości 250 khz 10 MHz częstotliwość modulacji 20 Hz 10 khz dewiacja częstotliwości 200 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >1,2 1,5% 1,0% S,P zakres częstotliwości 10 MHz 6,6 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >0,45 1,5% 1,0% zakres częstotliwości 6,6 GHz 13,2 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 400 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >8 2,5% 1,0% Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 20/42

zakres częstotliwości 13,2 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 50 Hz 200 khz dewiacja częstotliwości 250 Hz 40 khz dewiacja częstotliwości/ częstotliwość modulacji >0,2 >16 3,8% 1,0% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji modulacja PM generator w.cz. 3 analizator modulacji analogowych 3 - tester radiokomunikacyjny 3 0,06 Hz S,P dewiacja fazy zakres częstotliwości 100 khz 6,6 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >0,7 rad >0,3 rad 1,0% 3,0% S,P zakres częstotliwości 6,6 GHz 13,2 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >2,0 rad >0,6 rad 1,0% 3,0% zakres częstotliwości 13,2 GHz 26,5 GHz częstotliwość modulacji 200 Hz 20 khz dewiacja fazy >4,0 rad >1,2 rad 1,0% 3,0% zniekształcenia 1 db częstotliwość modulacji błąd fazy (GMSK) tester radiokomunikacyjny GSM/EDGE 3 EVM (EDGE) tester radiokomunikacyjny GSM/EDGE 3 0,06 Hz 0,3 0 S,P 0,5% S,P Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 21/42

współczynnik kalibracji - czujnik mocy 3 współczynnik odbicia S 11 / S 22 w zakresie mocy -30 dbm +44 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz w zakresie mocy -70 dbm -20 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz 0,008 0,009 0,011 0,013 0,013 0,014 0,016 0,021 S,P S.P HP 438A E4418B 8481A 8481D - częstościomierz 3 - czujnik mocy 3 - terminator (opornik) 3 - tłumik 3 - filtr 3 - sprzęgacz 3 - przełącznik 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 złącze N 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,004 0,006) lin 4 (1,7 180) o (0,006 0,011) lin (1,1 1,7) o (0,011 0,018) lin (0,98 1,1) o 8363B N4690B 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 18 GHz (0,006 0,008) lin (2,1 180) o (0,008 0,013) lin (1,3 2,1) o (0,013 0,022) lin (1,2 1,3) o 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,008 0,009) lin (3,1 180) o (0,009 0,020) lin (1,9 3,1) o (0,020 0,035) lin (1,9 2,0) o Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 22/42

złącze 3,5 mm 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,002 0,004) lin (0,91 180) o (0,004 0,007) lin (0,64 0,91) o (0,007 0,011) lin (0,63 0,64) o 8363B N4691B 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 20 GHz (0,003 0,004) lin (1,1 180) o (0,004 0,009) lin (0,78 1,1) o (0,009 0,014) lin (0,78 0,79) o 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 20 GHz 26,5 GHz (0,005 0,007) lin (1,8 180) o (0,007 0,011) lin (1,1 1,8) o (0,011 0,018) lin (1,0 1,1) o Złącze 2,4 mm 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,007 0,009) lin (2,6 180) o (0,009 0,016) lin (1,5 2,6) o (0,016 0,025) lin (1,4 1,5) o (0,002 0,004) lin (1,1 180) o (0,004 0,008) lin (0,74 1,1) o (0,008 0,013) lin (0,73 0,74) o 8363B N4693A 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,004 0,006) lin (1,7 180) o (0,006 0,011) lin (1, 1 1,7) o (0,011 0,019) lin (1,0 1,1) o Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 23/42

10 GHz 20 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 20 GHz 40 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,006 0,008) lin (2,4 180) o (0,008 0,016) lin (1,5 2,4) o (0,016 0,028) lin (1,5 1,6) o (0,007 0,010) lin (2,9 180) o (0,010 0,020) lin (1,9 2,9) o (0,020 0,34 lin (1,9 2,0) o transmitancja S 21 / S 12 - tłumik 3 - filtr 3 - sprzęgacz 3 - przełącznik 3 - analizator systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 złącze N 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 GHz 18 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,1) o (0,16 0,30) db (1,1 2,0) o (0,30 1,2) db (2,0 8,5) o (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,0) o (0,16 0,24) db (1,0 1,6) o (0,24 0,70) db (1,6 4,8) o (0,15 0,17) db (0,96 1,2) o (0,17 0,21) db (1,2 1,4) o (0,21 0,29) db (1,4 1,9) o( -60 db -80 db (0,29 0,71) db (1,9 4,9) o 8363B N4690B Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 24/42

złącze 3,5 mm złącze 2,4 mm 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,08 0,10) db (0,49 0,66) o (0,10 0,14) db (0,66 0,92) o (0,14 0,28) db (0,92 1,9) o (0,28 1,2) db (1,9 8,4) o (0,10 0,12) db (0,62 0,79) o (0,12 0,16) db (0,79 1,0) o (0,16 0,24) db (1,0 1,6) o (0,24 0,70) db (1,6 4,8) o 10 GHz 20 GHz 0 db -20 db (0,13 0,15) db (0,82 0,99) o -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 20 GHz 26,5 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,15 0,19) db (0,99 1,2) o (0,19 0,27) db (1,2 1,8) o (0,27 0,69) db (1,8 4,8) o (0,15 0,17) db (0,96 1,2) o (0,17 0,21) db (1,2 1,4) o (0,21 0,30) db (1,4 2,0) o (0,30 0,87) db (2,0 6,1) o (0,08 0,11) db (0,55 0,72) o (0,11 0,15) db (0,72 0,98) o (0,15 0,28) db (0,98 1,9) o (0,28 1,2) db (1,9 8,4) o 8363B N4691B 8363B 4693A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 25/42

2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 GHz 20 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 20 GHz 40 GHz 0 db -20 db (0,10 0,13) db (0,68 0,85) o (0,13 0,16) db (0,85 1,1) o (0,16 0,25) db (1,1 1,7) o (0,25 0,71) db (1,7 4,8) o (0,13 0,16) db (0,89 1,1) o (0,16 0,19) db (1,1 1,3) o (0,19 0,28) db (1,3 1,8) o (0,28 0,70) db (1,8 4,8) o (0,15 0,18) db (1,1 1,2) o -20 db -40 db (0,18 0,21) db (1,2 1,4) o -40 db -60 db (0,21 0,31) db (1,4 2,1) o -60 db -80 db (0,31 0,88) db (2,1 6,1) o 19 Temperatura -270 C 1820 C S.P 19.05 wskaźniki temperatury (mierniki temperatury) - wskaźnik temperatury 3-200 C 850 C 0,005 C 2) - multimetr cyfrowy (pracujący jako wskaźnik temperatury) 3 19.09 symulatory temperatury S,P - symulator temperatury 3-270 C 1820 C 0,03 C 1) - kalibrator (pracujący jako symulator temperatury) 3 10 Czas i częstotliwość S,P 10.02 częstotliwość 0,001 Hz 40 GHz S,P -wzorzec lub generator częstotliwości działający w trybie swobodnym (wzorzec kwarcowy, atomowy, generator częstotliwości, syntezator) lub kontrolowany sygnałem czasu albo częstotliwości wzorcowej (sygnałem radiowym lub sygnałem radionawigacyjnym systemu naziemnego, jak LORAN, lub satelitarnego, jak GPS, lub sygnałem telekomunikacyjnym przesyłanym przewodowo) 100 khz, 1 MHz, 2,048 MHz 5 MHz, 10 MHz 5 10-14 f w czasie uśredniania 7d 7 10-14 f w czasie uśredniania 1d (pod warunkiem jednoczesnych zdalnych porównań z wzorcem państwowym GUM) S,P Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 26/42

5 10-13 f w czasie uśredniania 1 h 1 10-12 f w czasie uśredniania 1000 s 1 10-11 f w czasie uśredniania 100 s Sygnał prostokątny 0,001 Hz 3 GHz 1 10-10 f W zakresie 0,001Hz 0,1 Hz pomiary okresu Sygnał sinusoidalny 1 10-10 f 50 khz 40 GHz w czasie uśredniania 1 s 1 khz 50 khz 1 10-10 f w czasie uśredniania 10 s 100 Hz 1 khz 1 10-10 f w czasie uśredniania 100 s 10 100Hz 0,1 Hz 100 Hz 1 10 f f w czasie uśredniania 100 s 3 2 - nadajnik zawarty w analizatorze/testerze PDH/SDH - częstościomierz cyfrowy ( w tym częstościomierz wbudowany w miernik mocy) 8 khz 3 GHz 1 10-10 f w czasie uśredniania 1 s 0,001 Hz 40 GHz 0,001 Hz 10 MHz 3 10-11 f Czas uśredniania sygnał prostokątny w czasie uśredniania nie mniejszy 0,1 s niż okres sygnału 10 khz 40 GHz 5 10-11 f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 1 s 3 10-10 f w czasie uśredniania 0,1 s 1 khz 10 khz 3 10-9 f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 10 s Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 27/42

100 Hz 1 khz 3 10-8 f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 100 s 0,1 Hz 100 Hz 8 100Hz 3 10 f f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 100 s 3 2 - komparator częstotliwości (względne odchylenie częstotliwości) 10-12 10-7 Hz/Hz 10-12 10-7 Hz/Hz 1 10-13 Hz/Hz (100 khz, 1 MHz, w czasie uśredniania 2,048 MHz, 5 MHz, 1 d 10 MHz) 10-10 10-7 Hz/Hz 2 10-12 Hz/Hz (0,1 Hz 1,2 GHz) w czasie uśredniania 1000 s 1 10-11 Hz/Hz w czasie uśredniania 10 s 5 10-11 Hz/Hz w czasie uśredniania 1 s - multimetr cyfrowy 3 10 Hz 10 MHz 0,001 % - oscyloskop 3 100 Hz 10 khz 0,4 10-6 f (wewnętrzne źródło odniesienia AC) - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator) 20 Hz 100 Hz 5 10-6 f - kalibrator 3 100 Hz 100 MHz 5 10-8 f - miernik (mostek) RLC 3 10 Hz 1 MHz 0,001 % - miernik (mostek) impedancji 3 - źródło promieniowania optycznego (modulowane i niemodulowane) 3 -zestaw do pomiaru tłumienności 3 - miernik tłumienności odbicia 3 - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 - miernik częstotliwości analizatorów PCM 0 500 MHz 0,6 % 20 Hz 100 Hz 100 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 2,5 10-5 f 5 10-6 f f < 100 Hz f 100 Hz Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 28/42

- generator częstotliwości analizatorów PCM - zegar generatora częstotliwości analizatorów PCM 20 Hz 100 Hz 100 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 2,5 10-5 f 5 10-6 f 2048 khz 1 10-8 f - zegar generatora częstotliwości 64 khz 2048 khz 1 10-8 f analizatorów transmisji danych 3 - analizatorów widma 3 - analizator obwodów 3 - analizatorów systemów antenowych 3 - analizator systemów kablowych 3 - analizator parametrów i uszkodzeń linii 9 khz 40 GHz 2 10-10 f w czasie uśredniania 1 s 20 khz 1 200 khz 4 10-11 f w czasie uśredniania 0,1 s 0,01% dystans/długość 30 m 15 km 0,15% Czas uśredniania nie mniejszy niż 100 T, gdzie T- okres sygnału 10.01 czas S,P Przedział czasu (także współczynnik wypełnienia) 1 ns 10 5 s S,P - generator przedziałów czasu 1 ns 10 5 s 1 10-13 t dla przedziału czasu 10 5 s 2 ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,1 ns+ 1 10-10 t dla przedziału czasu < 10s - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 2 ns 20 s 0,6 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznej - tester wyłączników RCD 20 ms 1000 ms 0,7 ms - czasomierz cyfrowy 1 ns 10 5 s 1 ns 100 s sygnał sinusoidalny 5 10-11 t dla czasu uśredniania 1s 3 10-10 t dla czasu uśredniania 0,1s Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 29/42

0,03 ns dla czasu uśredniania < 0,1 s 100 s 1 ms sygnał sinusoidalny 3 10-9 t dla czasu uśredniania 10s 1 ms 10 ms sygnał sinusoidalny 3 10-8 t dla czasu uśredniania 100s 10 ms 10 s sygnał sinusoidalny 3 10 8 t 0,01s 3 2 t 100 ns 10 5 s sygnał prostokątny 0,01 ns + 3 10-11 t 200 ns 10 5 s sygnał impulsowy 1 10-13 t dla przedziału czasu 10 5 s 0,2 ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,01 ns + 1 10-10 t dla przedziału czasu < 1s - oscyloskop 3, skopometr 3 900,9 ns 55 s 0,1 ns+ 0,3 10-6 t - analizator parametrów i 5 ns 1600 ns 10 % uszkodzeń linii Czas fazowy 1 ns 100 ms S - miernik błędu przedziału czasu (TIE) 1 ns 100 ms (2,048 MHz) - komparator czasu fazowego 1 ns 1 s (100 khz, 1 MHz, 5 MHz, 10 MHz) 1 ns 1 s (1 Hz) 0,1 ns + 5 10-10 TIE 0,1 ns + 5 10-10 x x czas fazowy 0,5 ns Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 30/42

- miernik fluktuacji czasu fazowego zawarty w odbiorniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s 0 256 UI ±8% w.mierz ±0,02UI 2 488,320 Mb/s 0 800 UI ±8%w.mierz ±0,02 UI - generator fluktuacji czasu fazowego zawarty w nadajniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz,1 khz,10khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz zakresów j.w. przepływności sygnałów Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) (0,003 0,03)UI pp ±(8% 15%) w. mierz ± 0,02 UI 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 31/42

139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s 0 800 UI ±5% w.mierz ± 0,07UI 2 488,320 Mb/s 0 32 UI ±5% w.mierz ± 0,1 UI Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz, 1 khz, 10 khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów (0,002 0,02) UI pp Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz, zakresów j.w. przepływności sygnałów ±(5% 19%) w. mierz ±(0,024 0,2) UI 16 Wielkości optyczne S,P 16.01 optoelektronika Moc (poziom mocy) promieniowania optycznego S,P - miernik mocy (poziomu mocy) 100 pw 150 W 0,77% długość fali: promieniowania optycznego 3 (-70-8) dbm (0,034 db) (850; 1300; 1310; - zestaw do pomiaru tłumienności 3 1495 1640) nm - analizator widma promieniowania optycznego Liniowość: (850, 1300, 1310, 1495 1640) nm - miernik długości fali 3 100 pw 1 mw - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 (-70 0 dbm) Niepewność rozszerzona: 0,019 db - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - źródło promieniowania 100 pw 500 mw 4,0 % optycznego długość fali modulowane i niemodulowane 3 (-70 +25) dbm (0,17 db) (450 1700) nm Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 32/42

7 % - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 (0,3 db) - reflektometr światłowodowy jedno i wielomodowy 3 - nadajnik zawarty w analizatorze/ 100 pw 500 mw 4,0% testerze PDH/SDH 3 (-70 +25) dbm (0,17dB) Długość optyczna światłowodu S,P długość fali (350-450)nm - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 odległości do 250km 0,6 m Punkty kalibracji: 1310 nm; 19974,1m 1550 nm; 19982,7m - reflektometr światłowodowy wielomodowy 3 odległości do 100km 1,7 m Punkty kalibracji: 850 nm; 4796,0 m; 0,4 m 1300 nm; 4776,6 m Tłumienność S,P - tłumik optyczny, sprzęgacz 0 70 db 0,5 % długość fali: optyczny, przełącznik optyczny i inne obiekty optoelektroniczne 3 (0,02 db) (850; 1300; 1310; 1550) nm Tłumienność jednostkowa S,P - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 (0,33 ± 0,004) db/km 0,008 db/km przy długości fali 1310 nm, (0,19 ± 0,004) db/km 0,008 db/km przy długości fali 1550 nm - reflektometr światłowodowy (2,642 ± 0,076) wielomodowy 3 db/km (0,489 ± 0,028) db/km 0,073 db/km przy długości fali 850 nm, 0,026 db/km przy długości fali 1300 nm Tłumienność odbicia S,P (reflektancja) - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - obiekty optoelektroniczne 3 3,5 db 50 db 50 db 65 db 5 db 68 db 0,32 db 0,66 db 0,48 db zakresy długość fali: 850 nm, 1300 nm, 1310 nm, 1550nm Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 33/42

Tłumienność zależna od polaryzacji (PDL), zależność polaryzacyjna wskazań mocy -miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3, - analizator widma promieniowania optycznego) miernik długości fali) - tłumik optyczny sprzęgacz optyczny, przełącznik optyczny i inne obiekty optoelektroniczne 0 db 62 db 0,2 % (0,009 db) S,P zakres długość fali: (1250-1600) nm Długość fali promieniowania optycznego - źródło promieniowania 350 nm 700 nm 0,5 nm optycznego modulowane i niemodulowane 3 700 nm 1700 nm 0,14 pm - reflektometr światłowodowy 1700nm 1750nm 0,5 nm jednomodowy i wielomodowy 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - nadajnik optyczny zawarty w analizatorze /testerze PDH/SDH 3 - analizator widma promieniowania 1510 nm 1540 nm 0,3 pm optycznego) 1255 nm 1351 nm 0,3 pm - miernik długości fali 1310 nm 0,3 pm 1495 nm 1640 nm 0,3 pm S,P komórki absorpcyjne laser przestrajalny i laser DFB kontrolowan e miernikiem długości fali 1532,8279 nm 1532,8329 nm 1532,8304 nm 0,2 pm 0,2 pm 0,3 pm stabilizowan y laser DFB Współczynnik tłumienia prążków S,P bocznych (SMSR) - źródło promieniowania optycznego (1 70) db 0,49 db Zakres długości fali: modulowane i niemodulowane 350 1750 nm - reflektometr światłowodowy jednomodowy i wielomodowy - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) - zestaw do pomiaru tłumienności - nadajnik optyczny zawarty w analizatorze /testerze PDH/SDH Wersja strony: A *) Niepewność rozszerzona przy poziomie ufności 95 %. Najlepszą możliwość pomiarową podano w procentach wartości wskazanej. Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 34/42

1 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych termoelementów, podanych w PN-EN 60584-1:1997 Termoelementy Charakterystyki 2 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych czujników platynowych przemysłowych termometrów rezystancyjnych, podanych w PN-EN 60751+A2:1997 Czujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnych. Uwaga W przypadku zastosowania innych dokumentów niż podane w 1, 2 są one jednoznacznie określone w świadectwie wzorcowania. 3 - wzorcowanie także poza stałą siedzibą 4 - lin oznaczenie lin przy wartościach najlepszej możliwości pomiarowej określa skalę liniową Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 35/42

Personel akredytowany Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Anna Warzec Kierownik Laboratorium Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) - mierniki (mostki) RLC - wzorce pojemności i indukcyjności Tomasz Kossek Zastępca Kierownika Laboratorium Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Elżbieta Hercan-Sereda Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - czwórniki pomiarowe 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 36/42

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Zofia Rau adiunkt Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe - komparatory częstotliwości - mierniki błędu przedziału czasu i komparatory czasu fazowego Michał Marszalec Kierownik Zespołu jw. - generatory wielkiej częstotliwości - częstościomierze wielkiej częstotliwości Bogusław Dąbrowski główny specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy 5 - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 37/42

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Bożena Główka specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone a i Thomsona) - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Dariusz Nerkowski specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - oscyloskopy 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) i mostki stałoprądowe 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - czwórniki pomiarowe 5 Stanisław Franciszczuk specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - tłumiki pomiarowe - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 38/42

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Tomasz Osuch Kierownik Zespołu Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki i odbiorniki optyczne zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Marta Buryk specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 Bartosz Rynowiecki Młodszy specjalista - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznych 5 - oscyloskopy 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) i mostki stałoprądowe 5 - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) 5 - czwórniki pomiarowe 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 39/42

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Grzegorz Kędzierski Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości 5 - generatory wielkiej częstotliwości 5 - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości 5 - jedno i wielowrotniki wielkiej częstotliwości 5 - analizatory widma 5 - analizatory obwodów 5 - analizatory systemów antenowych 5 - analizatory systemów kablowych 5 - analizatory modulacji analogowych 5 - testery radiokomunikacyjne (GSM/EDGE) 5 Wiesława Prokop-Knap starszy specjalista b-t Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - analizatory i testery transmisji PDH/SDH - analizatory transmisji cyfrowej PCM - analizatory transmisji cyfrowej w zakresie interfejsów transmisji danych - tłumiki pomiarowe - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - tłumiki pomiarowe - analizatory parametrów i uszkodzeń linii Michał Gartkiewicz specjalista jw. - oscyloskopy 5 Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 40/42

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Karol Korszeń specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości 5 - generatory wielkiej częstotliwości 5 - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości 5 - jedno- i wielowrotniki wielkiej częstotliwości 5 - analizatory widma 5 - analizatory obwodów 5 - analizatory systemów antenowych 5 - analizatory systemów kablowych 5 - analizatory modulacji analogowych 5 - testery radiokomunikacyjne (GSM/EDGE) 5 Marzenna Lusawa młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe - komparatory częstotliwości - mierniki błędu przedziału czasu i komparatory czasu fazowego Piotr Lesiak adiunkt Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy - mierniki do pomiaru napięcia, prądu i oporu elektrycznego 5 Wzorcowanie w stałej siedzibie i poza stałą siedzibą Laboratorium Wersja strony: A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 41/42

Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AP 015 Status zmian: wersja pierwotna A Zatwierdzam status zmian KIEROWNIK DZIAŁU AKREDYTACJI LABORATORIÓW WZORCUJĄCYCH RYSZARD MALESA dnia: 04.03.2009 r. Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 7, 04 marca 2009 r. str. 42/42