MOśLIWOŚCI ZASTOSOWANIA KONTROLI I STEROWANIA PRZEBIEGIEM PROCESU MIESIENIA CIASTA CHLEBOWEGO MIESIARKĄ SPIRALNĄ

Podobne dokumenty
ENERGOCHŁONNOŚĆ PROCESU WYTWARZANIA STRUKTURY CIAST śytnio-pszennych NA PRZYKŁADZIE MIESIAREK SPIRALNYCH

BADANIA WYBRANYCH CZUJNIKÓW TEMPERATURY WSPÓŁPRACUJĄCYCH Z KARTAMI POMIAROWYMI W LabVIEW

WPŁYW OBRÓBKI TERMICZNEJ ZIEMNIAKÓW NA PRĘDKOŚĆ PROPAGACJI FAL ULTRADŹWIĘKOWYCH

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe

KOMPUTEROWY MODEL UKŁADU STEROWANIA MIKROKLIMATEM W PRZECHOWALNI JABŁEK

MODELING OF MEASURING SYSTEMS IN VEE PRO PROGRAMMING ENVIRONMENT WITH USE OF VIRTUAL INSTRUMENTS

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

Przetworniki AC i CA

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

ZASTOSOWANIE MIKROPROCESOROWEGO REJESTRATORA DO POMIARU TEMPERATURY W PIECU KONWEKCYJNO-PAROWYM

Projektowanie i symulacja systemu pomiarowego do pomiaru temperatury

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A

Ćw. 12. Akwizycja sygnałów w komputerowych systemach pomiarowych ( NI DAQPad-6015 )

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Podstawy elektroniki i metrologii

METODYKA BADAŃ MAŁYCH SIŁOWNI WIATROWYCH

DOBÓR ŚRODKÓW TRANSPORTOWYCH DLA GOSPODARSTWA PRZY POMOCY PROGRAMU AGREGAT - 2

nastawa temperatury Sprawd zany miernik Miernik wzorcowy

OPTYMALIZACJA STEROWANIA MIKROKLIMATEM W PIECZARKARNI

METODY BADAŃ POMIAROWYCH W WIEJSKICH STACJACH TRANSFORMATOROWYCH

Miernictwo I INF Wykład 13 dr Adam Polak

LEJNOŚĆ KOMPOZYTÓW NA OSNOWIE STOPU AlMg10 Z CZĄSTKAMI SiC

Komputerowa symulacja przetworników A/C i C/A

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

CZTEROKULOWA MASZYNA TARCIA ROZSZERZENIE MOŻLIWOŚCI BADAWCZYCH W WARUNKACH ZMIENNYCH OBCIĄŻEŃ

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów

Przetwarzanie A/C i C/A

APPLICATION OF ADUC MICROCONTROLLER MANUFACTURED BY ANALOG DEVICES FOR PRECISION TENSOMETER MEASUREMENT

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe

projekt przetwornika inteligentnego do pomiaru wysokości i prędkości pionowej BSP podczas fazy lądowania;

Wymiar: Forma: Semestr: 30 h wykład VII 30 h laboratoria VII

Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, Wrocław

SILNIK INDUKCYJNY STEROWANY Z WEKTOROWEGO FALOWNIKA NAPIĘCIA

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ BADANIE PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

Budowa i przykładowe zastosowanie stanowiska pomiaru i rejestracji prądów i napięć w instalacjach trójfazowych

Parametryzacja przetworników analogowocyfrowych

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych

AKADEMIA GÓRNICZO HUTNICZA Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

MG-02L SYSTEM LASEROWEGO POMIARU GRUBOŚCI POLON-IZOT

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

OKREŚLENIE WPŁYWU WYŁĄCZANIA CYLINDRÓW SILNIKA ZI NA ZMIANY SYGNAŁU WIBROAKUSTYCZNEGO SILNIKA

Projektowanie systemów pomiarowych

ZAKŁAD AUTOMATYKI PRZEMYSŁOWEJ

WIZUALIZACJA DANYCH SENSORYCZNYCH MINISTACJA METEOROLOGICZNA

Dane techniczne czujnika drogowego LB 781A

AUTOMATYZACJA WYZNACZANIA PRZEMIESZCZEŃ WZGLĘDNYCH W OBRĘBIE SZCZELIN DYLATACYJNYCH

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

WYKAZ PRÓB / SUMMARY OF TESTS. mgr ing. Janusz Bandel

CIENKOWARSTWOWE CZUJNIKI MAGNETOREZYSTANCYJNE JAKO NARZĘDZIA POMIAROWE W DIAGNOSTYCE TECHNICZNEJ 1. WSTĘP

WAT - WYDZIAŁ ELEKTRONIKI INSTYTUT SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH. Przedmiot: CZUJNIKI I PRZETWORNIKI Ćwiczenie nr 1 PROTOKÓŁ / SPRAWOZDANIE

Podstawowe funkcje przetwornika C/A

4. EKSPLOATACJA UKŁADU NAPĘD ZWROTNICOWY ROZJAZD. DEFINICJA SIŁ W UKŁADZIE Siła nastawcza Siła trzymania

Komputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych

Uśrednianie napięć zakłóconych

Przetwornik analogowo-cyfrowy

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Politechnika Poznańska Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Podstawy Automatyki laboratorium

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości

Oferta Firmy 2013

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE

Kod produktu: MP01105

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Przetwarzanie AC i CA

ANALIZA FUNKCJONALNOŚCI ZDALNYCH KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-STERUJĄCYCH

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO

Stanowisko do badania współczynnika tarcia

Oferta Firmy

Kod produktu: MP01105T

PROGNOZOWANIE CENY OGÓRKA SZKLARNIOWEGO ZA POMOCĄ SIECI NEURONOWYCH

Wirtualne przyrządy pomiarowe

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2015/2016

Nie stosować wyrobu do opracowywania nowych rozwiązań

Zastosowania mikrokontrolerów w przemyśle

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Modelowanie systemów mechatronicznych Platformy przetwarzania danych

Urządzenie i sposób pomiaru skuteczności filtracji powietrza.

INSTRUKCJA OBSŁUGI Wersja 1.1. Wzmacniacz pomiarowy WZPT-500/300/200/130 z czujnikiem PT-100

ANALIZA ZALEŻNOŚCI POMIĘDZY CECHAMI DIELEKTRYCZNYMI A WŁAŚCIWOŚCIAMI CHEMICZNYMI MĄKI

METODA POMIARU DOKŁADNOŚCI KINEMATYCZNEJ PRZEKŁADNI ŚLIMAKOWYCH

ТТ TECHNIKA TENSOMETRYCZNA

CYFROWY ANALIZATOR SIECI PRZEMYSŁOWYCH JAKO NARZĘDZIE DO DIAGNOSTYKI MAGISTRALI CAN

Streszczenie. Słowa kluczowe: towary paczkowane, statystyczna analiza procesu SPC

ANALIZA WYBRANYCH SYSTEMÓW CIĄGŁEGO POMIARU POBORU MOCY W URZĄDZENIACH ODLEWNICZYCH

PRZEMIENNIKI CZĘSTOTLIWOŚCI W DWUSIL- NIKOWYM NAPĘDZIE WAŁU TAŚMOCIĄGU PO- WIERZCHNIOWEGO

ZASTOSOWANIA WYBRANYCH UKŁADÓW SCALONYCH W POMIARACH POBORU MOCY MASZYN I URZĄDZEŃ ODLEWNICZYCH

MASZYNA MT-1 DO BADANIA WŁASNOŚCI TRIBOLOGICZNYCH ZE ZMIANĄ NACISKU JEDNOSTKOWEGO

O sygnałach cyfrowych

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

Struktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach

PL B BUP 14/16

UWAGA. Wszystkie wyniki zapisywać na dysku Dane E: Program i przebieg ćwiczenia:

GATHERING DATA SYSTEM FOR CONCRETE S SAMPLE DESTRUCTING RESEARCHES WITH USE OF LABVIEW PACKET

LABORATORIUM ELEKTRONIKI OBWODY REZONANSOWE

Marek Tukiendorf, Katarzyna Szwedziak, Joanna Sobkowicz Zakład Techniki Rolniczej i Leśnej Politechnika Opolska. Streszczenie

Regulacja adaptacyjna w anemometrze stałotemperaturowym

Laboratorium Elementów i Układów Automatyzacji

SYSTEM EIB W LABORATORIUM OŚWIETLENIA I INSTALACJI ELEKTRYCZNYCH

Transkrypt:

MOTROL, 2006, 8, 250 255 MOśLIWOŚCI ZASTOSOWANIA KONTROLI I STEROWANIA PRZEBIEGIEM PROCESU MIESIENIA CIASTA CHLEBOWEGO MIESIARKĄ SPIRALNĄ Agnieszka Wierzbicka, Małgorzata Kosicka, Jerzy Gębski Katedra Techniki i Technologii Gastronomicznej Katedra Organizacji i Ekonomiki Konsumpcji Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie Streszczenie. W pracy przedstawiono propozycję kontroli procesu mieszenia ciasta chlebowego w miesiarce spiralnej poprzez pomiar takich parametrów procesu, jak: moment obrotowy na wale mieszadła, temperatura wyrabianej masy, energia zuŝyta na proces oraz czas jego trwania. Pomiary prowadzono przy uŝyciu czujników rozmieszczonych w odpowiednich miejscach w urządzeniu. Rejestracja mierzonych wielkości prowadzona była przez komputer PC z zastosowaniem karty przetwornika analogowo-cyfrowego. Zarejestrowane wielkości posłuŝyły do utworzenia modeli procesu mieszenia dla poszczególnych składów recepturowych. Słowa kluczowe: rejestracja danych, pomiary wielkości elektrycznych, mieszenie, modelowanie matematyczne WSTĘP W celu wprowadzenia nowoczesnych metod kontroli jakości w technologicznym procesie wytwarzania półproduktów piekarskich naleŝy ograniczyć do minimum tzw. czynnik ludzki, stosując zdefiniowane, wystandaryzowane parametry. Rozwijająca się ekspansywnie elektronika pozwala na coraz dokładniejsze i precyzyjniejsze pomiary, zaś błyskawiczny postęp w dziedzinie techniki cyfrowej, zwłaszcza komputerów, umoŝliwia zdjęcie pomiarowych funkcji kontrolnych z człowieka i przeniesienie ich do komputera sterującego systemem pomiarowym. Od strony merytorycznej celem rozwoju systemów pomiarowych jest umoŝliwienie człowiekowi poznania nowych, niemierzalnych dotąd obszarów, zaś od strony uŝytkowej stworzenie mechanizmów i narzędzi uwalniających uŝytkownika od konieczności ręcznego sterowania zestawem przyrządów. Systemy pomiarowe charakteryzują się ogromną róŝnorodnością standardowych i firmowych rozwiązań. Systemy, w których grupa urządzeń podłączona jest przez układ sprzęgający (interfejs) do komputera typu PC, a do zbierania, przetwarzania i prezentacji danych pomiarowych wykorzystywane są zwykle powszechnie stosowane w świecie

MOśLIWOŚCI ZASTOSOWANIA KONTROLI I STEROWANIA PRZEBIEGIEM... 251 firmowe pakiety oprogramowania, nazywa się komputerowymi systemami pomiarowymi [Winiecki 1997]. Systemy pomiarowo-kontrolne stanowią obecnie integralną część kaŝdego procesu technologicznego. Procesy takie kontrolowane są głównie poprzez pomiary parametrów wytwarzanych produktów, jak i parametrów urządzeń technologicznych słuŝących do ich wyrobu. Kontrola ta polegała dawniej głównie na odczycie wskazań odpowiedniego zestawu przyrządów. Kiedy liczba kontrolowanych parametrów była znaczna, panowanie nad prawidłowością procesu stało się trudne. Automatyzacja procesów technologicznych przyczyniła się równieŝ do automatyzacji pomiarów, czyli wprowadzenia systemów pomiarowo-kontrolnych. W takich systemach stosuje się zwykle znaczne ilości czujników rozmieszczonych terytorialnie na całym kontrolowanym obiekcie i przetworników formujących sygnały wykorzystywane dalej przez regulatory sterujące procesem technologicznym. Tego typu systemy znalazły główne zastosowanie w przemyśle [Winiecki 1997]. CEL PRACY Celem pracy było opracowanie systemu kontrolno-pomiarowego w procesie mieszenia ciasta chlebowego z zastosowaniem miesiarki spiralnej. MATERIAŁ I METODYKA Laboratoryjne stanowisko pomiarowe zbudowano zostało na bazie zagniatarki spiralnej SIGMA MG 12. Miesiarkę produkcji seryjnej wyposaŝono w urządzenia własnej konstrukcji, słuŝące do pomiaru momentu obrotowego (umieszczone szeregowo na wale mieszadła), jak równieŝ w czujniki temperatury usytuowane w charakterystycznych punktach komory miesienia (dzieŝy miesiarki). Widok ogólny opisywanego stanowiska badawczego przedstawia rysunek 1. Pomiary wartości momentu obrotowego na wale mieszadła, jak równieŝ mierzone temperatury rejestrowane były przez komputer PC. Wszystkie sygnały pomiarowe przekazywane były przez kartę przetwornika analogowo-cyfrowego PCL 818 LS firmy ADVANTECH umieszczoną w komputerze PC. W opracowanych stanowiskach badawczych załoŝono, Ŝe wielkości fizyczne występujące podczas pracy, w miarę moŝliwości technicznych będą przekształcane do postaci sygnałów napięciowych przez odpowiednie układy czujników oraz przetworników pomiarowych. Następnie zostaną poddane konwersji analogowo- -cyfrowej do postaci umoŝliwiającej obróbkę numeryczną. Do pomiaru sygnałów napięciowych zastosowano specjalizowany moduł akwizycji danych typu PCL-818L firmy Advantech Co. [Advantech 1995], w którym tor przetwarzania analogowo-cyfrowego charakteryzuje się następującymi parametrami: rozdzielczość r ac = 12 bit; zakres pomiarów U z = ±0,625, ±1,25, ±2,5, ±5 V; maksymalna częstotliwość próbkowania f z = 40 khz; błąd przetwarzania u p = ±1 LSB; błąd nieliniowości u n = ±1 LSB.

252 Agnieszka Wierzbicka, Małgorzata Kosicka, Jerzy Gębski Rys. 1. Stanowisko badawcze do pomiaru procesu mieszenia: 1) miesiarka spiralna SIGMA MG12 o zmodyfikowanej konstrukcji, 2) komputer PC, 3) układ elektroniczny pomiaru momentu obrotowego i temperatury Fig. 1. The testing stand for the measurement of the blending process: 1) a spiral mixer SIGMA MG12 with a modified construction, 2) PC, 3) an electronic system for the measurement of the torque and temperatures Do pomiaru sygnałów napięciowych zastosowano specjalizowany moduł akwizycji danych typu PCL-818L firmy Advantech Co. [1995], w którym tor przetwarzania analogowo-cyfrowego charakteryzuje się następującymi parametrami: rozdzielczość r ac = 12 bit; zakres pomiarów U z = ±0,625, ±1,25, ±2,5, ±5 V; maksymalna częstotliwość próbkowania f z = 40 khz; błąd przetwarzania u p = ±1 LSB; błąd nieliniowości u n = ±1 LSB. Do pomiaru temperatury w opracowanym systemie wykorzystano półprzewodnikowe czujniki typu LM35 firmy National Semiconductor Co. [1997], które charakteryzują się błędem bezwzględnym T ±0,1 C dla wykorzystanego podczas badań zakresu zmian temperatury. Sposób dołączenia czujników temperatury do systemu pomiarowego został przedstawiony na rysunku 2. Czujniki te, uzyskując temperaturę obudowy zgodną z badanym elementem, wytwarzają sygnał napięciowy o wartości określonej przez równanie (1) i przekazują go do przetwornika analogowo-cyfrowego celem przetworzenia na postać cyfrową oraz do dalszej obróbki. 3 o u T1( T 2) = K TT1( 2), K T = 10 10 V/ C (1)

MOśLIWOŚCI ZASTOSOWANIA KONTROLI I STEROWANIA PRZEBIEGIEM... 253 T 1 T 2 Czujnik temperatury (LM35) Czujnik temperatury (LM35) u T1 u T2 Przetwornik analogowocyfrowy (PCL-818L) System komputerowy Rys. 2. Schemat układu pomiarowego temperatury zastosowanego w stanowisku badawczym Fig. 2. A chart of the temperature measurement system applied in the testing stand Na stanowisku badawczym do pomiaru temperatury wybrano zakres napięcia równy 0,625 V przetwarzanego przez przetwornik analogowo-cyfrowy (oprogramowanie modułu akwizycji danych PCL818LS pozwala na indywidualną konfigurację poszczególnych kanałów wejściowych), uzyskując w ten sposób największą dokładność pomiaru. Na wale mieszadła wbudowano szeregowo układ do pomiaru momentu obrotowego przyłoŝonego do mieszadła. Mierzony moment był wprost proporcjonalny do wielkości ugięcia listwy pomiarowej, na której umieszczono dwa tensometry foliowe TF5. Schemat blokowy układu elektronicznego do pomiaru momentu obrotowego obrazuje rysunek 3. Błąd względny przy pomiarze momentu obrotowego wynosił M ±0,1 Nm. tensometry + kolektor W1 sygnal napięciowy momentu Przedwzmacniacz Rys. 3. Schemat blokowy układu elektronicznego pomiaru wartości momentu na wale miesidła na stanowisku badawczym (wersja z zastosowaniem karty przetwornika PCL 818LS) Fig. 3. A block draft of the electronic system of torque measurement on a blender shaft on a testing stand ( the version with an application of the transformer card PCL 818LS Układ pomiarowy momentu obrotowego został wykonany w dwóch wersjach. W wersji pierwszej do gromadzenia danych pomiarowych uŝyto karty przetwornika analogowo-cyfrowego firmy Advantech PCL 818LS. W drugiej wersji wykorzystano układ przetwornika analogowo-cyfrowego wykonanego dla potrzeb urządzenia. W wersji z zastosowaniem przetwornika własnej konstrukcji do komunikacji z komputerem uŝyto interfejsu poprzez port równoległy (LPT1) komputera.

254 Agnieszka Wierzbicka, Małgorzata Kosicka, Jerzy Gębski WYNIKI BADAŃ Zastosowane urządzenia pomiarowe wykorzystano do pomiaru parametrów procesu miesienia dla róŝnych składów recepturowych ciast chlebowych. Uzyskane wyniki pomiarów poddano dalszej obróbce statystycznej. Do oceny uzyskanych wyników badań zastosowano róŝne techniki ich analizy. Podstawowym sposobem tworzenia modeli była metoda aproksymacyjna. T [ C] M Ŝ 50% M Ŝ 60% M Ŝ 70% W [%] t [s*10 3 ] Rys. 4. Wyniki dopasowania modelu matematycznego do danych pomiarowych temperatury dla prób o zawartości mąki Ŝytniej 70, 60 i 50% Fig. 4. Results of the mathematical model matching with the temperature measurements for samples with rye flour content 70,60 and 50% M [Nm] w M M Ŝ 70% M Ŝ 60% M Ŝ 50% W [%] t [s*10 3 ] Rys. 5. Wyniki dopasowania wielomianowego modelu matematycznego do wybranych danych z pomiarów momentu dla prób o zawartości mąki Ŝytniej 70, 60 i 50% Fig. 5. Results of multinomial mathematical model s matching to the selected data from the torque measurement for samples with rye flour content 70, 60 and 50%

MOśLIWOŚCI ZASTOSOWANIA KONTROLI I STEROWANIA PRZEBIEGIEM... 255 WNIOSKI 1. Kontrola i analiza parametrów procesu mieszenia ciasta chlebowego prowadzi do zachowania właściwych dla danego składu recepturowego reŝimów, takich jak temperatura, czas mieszenia czy prędkość obrotowa mieszadła. 2. Zastosowanie kontroli i sterowania procesem wraz z komputerowym monitoringiem w maszynach mieszalniczych z wykorzystaniem nowoczesnych systemów informatycznych pozwala na uzyskanie właściwych, standardowych i powtarzalnych parametrów procesu wytwarzania. PIŚMIENNICTWO Advantech 1995: PCL-818L high-performance DAS card with programmable gain, user's manual. Advantech Co.,Taiwan National 1997: Precision Centigrade Temperature Sensors. National Semiconductor Co., http:// www.national.com Nawrocki W. 2002: Komputerowe systemy pomiarowe. Wydawnictwo Komunikacji i Łączności, Warszawa Winiecki W. 1997: Organizacja komuterowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza, Warszawa. POSSIBILITIES OF APPLICATION OF CONTROL AND STEERING DURING THE PROCESS OF BREAD DOUGH MIXING WITH A SPIRAL BLENDER Summary. The paper presents a suggestion for bread dough mixing process control in a spiral blender by means of measurement of such process parameters as the torque on the stirrer shaft, the temperature of the blended mass, energy consumption in the process and the time of its lasting. The measurements were taken by means of sensors attached in adequate places in the equipment. The recording of the taken measurements was carried out by a PC using an analog-digital transformer card. The recorded measurements were used to create models of the blending processes for different recipe options.. Key words: recording of measurements, measurements of electric values, blending, mathematical modelling Recenzent: prof. dr hab. Janusz Laskowski