Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni ,2 1,5

Podobne dokumenty
KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* - 1

- 1 WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ PPT

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* 0,5 0,5

Egzamin / zaliczenie na ocenę* *niepotrzebne skreślić

Zał. nr 4 do ZW. Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Egzamin / zaliczenie na ocenę*

1,2 1,2. WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Brak

KARTA PRZEDMIOTU. zaliczenie na ocenę WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 30 30

1. Wiedza i umiejętności z fizyki ogólnej na poziomie kursu Fizyka Znajomość analizy matematycznej na poziomie kursu Analiza matematyczna I

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Wiedza z zakresu analizy I i algebry I

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Zaliczenie

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

3. Umiejętność obsługi prostych przyrządów optycznych (UMIEJĘTNOŚĆ)

STATYSTYKA MATEMATYCZNA

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Brak

INP002018W, INP002018L

Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę* 0,5 0,5

60 60 Egzamin / zaliczenie na ocenę* 1 1,5

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Zalecana znajomość matematyki odpowiadająca maturze na poziomie podstawowym

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Zalecana znajomość matematyki odpowiadająca maturze na poziomie podstawowym

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Grupa kursów: Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 15 30

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę*

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie. Egzamin / zaliczenie. ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA KURSU/GRUPY KURSÓW

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 30 30

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 45 30

Egzamin / zaliczenie na ocenę* WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Nie ma wymagań wstępnych

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI

WYDZIAŁ MATEMATYKI KARTA PRZEDMIOTU

WYDZIAŁ MECHANICZNY KARTA PRZEDMIOTU

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

EiT_S_I_O2. Elektronika i Telekomunikacja I stopień ogólnoakademicki. stacjonarne. przedmiot kierunkowy. obowiązkowy polski semestr III semestr zimowy

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 30 15

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Zalecana znajomość matematyki odpowiadająca maturze na poziomie podstawowym

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

KARTA PRZEDMIOTU. WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Brak

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 15

WYDZIAŁ MATEMATYKI KARTA KURSU/GRUPY KURSÓW UBEZPIECZENIA ŻYCIOWE

KARTA PRZEDMIOTU 1,5 1,5

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni 30 30

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

WYDZIAŁ BUDOWNICTWA LĄDOWEGO I WODNEGO

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

1. Algebra 2. Analiza Matematyczna. Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni 30 30

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ MATEMATYKI WYDZIAŁ BUDOWNICTWA LĄDOWEGO I WODNEGO KARTA PRZEDMIOTU

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni 30 30

KARTA PRZEDMIOTU. Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

KARTA PRZEDMIOTU. WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI Ogólne umiejętności posługiwania się komputerem

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni 30 30

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

zaliczenie na ocenę

WYDZIAŁ MATEMATYKI KARTA PRZEDMIOTU

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ MATEMATYKI WYDZIAŁ BUDOWNICTWA LĄDOWEGO I WODNEGO KARTA PRZEDMIOTU

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

KARTA PRZEDMIOTU. zaliczenie na ocenę

WYDZIAŁ MECHANICZNY PWR KARTA PRZEDMIOTU

WYDZIAŁ MATEMATYKI KARTA PRZEDMIOTU

WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU

KARTA PRZEDMIOTU

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

Wykład Ćwiczenia Laboratoriu m ,5 1,5 WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI CELE PRZEDMIOTU

Egzamin / zaliczenie na ocenę*

WYDZIAŁ ***** KARTA PRZEDMIOTU

Zał. nr 4 do ZW 33/2012 WYDZIAŁ INFORMATYKI I ZARZĄDZANIA

Transkrypt:

Zał. nr 4 do ZW WYDZIAŁ PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW TECHNIKI KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim: Optoelektronika Nazwa w języku angielskim: Optoelectronics Kierunek studiów (jeśli dotyczy): Fizyka Techniczna Specjalność (jeśli dotyczy): nanoinżynieria Stopień studiów i forma: I stopień, stacjonarna Rodzaj przedmiotu: wybieralny Kod przedmiotu: FTP0006W, FTP0006L, Grupa kursów NIE Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Liczba godzin zajęć zorganizowanych w Uczelni 0 0 (ZZU) Liczba godzin całkowitego nakładu pracy studenta 60 90 (CNPS) Forma zaliczenia zaliczenie zaliczenie Dla grupy kursów zaznaczyć kurs końcowy (X) Liczba punktów ECTS w tym liczba punktów odpowiadająca zajęciom - o charakterze praktycznym (P) w tym liczba punktów ECTS odpowiadająca zajęciom wymagającym bezpośredniego kontaktu (BK) 1, 1,5 WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI 1. Wiedza z zakresu fizyki ogólnej. Wiedza z zakresu fizyki ciała stałego. Podstawowa wiedza z zakresu przyrządów półprzewodnikowych 4. Kompetencje w zakresie docierania do uzupełniających obszarów wiedzy i umiejętności 5. Kompetencje organizacyjne związane z przekazem informacji C1 C C CELE PRZEDMIOTU Nabycie wiedzy z zakresu metod formalnych stosowanych do opisu zjawisk optycznych w półprzewodnikach Przypomnienie wiadomości z zakresu podstawowych zjawisk optycznych w półprzewodnikach, w szczególności związanych z absorpcją i generacją promieniowania elektromagnetycznego na bazie konkretnych zastosowań przyrządowych Zapoznanie studentów z podstawowymi konstrukcjami struktur optoelektronicznych, optoelektroniką organiczną i podczerwieni, oraz przedstawienie obszarów zastosowania elementów i układów optoelektronicznych, w szczególności w, medycynie, technice światłowodowej, optotelekomunikacji, energetyce, i mechatronice. 1

C4 Nabycie wiedzy na temat stosowania materiałów, konstrukcji i technologii wytwarzania nanostruktur optoelektronicznych C5 Opanowanie umiejętności studiowania literatury i prezentacji wiedzy w zakresie stosowanych rozwiązań struktur optoelektronicznych oraz umiejętności doboru elementów optoelektronicznych C6 Nabycie umiejętności wykorzystania urządzeń półprzewodnikowych, źródeł i detektorów promieniowania elektromagnetycznego w optoelektronice. C7 Nabycie umiejętności napisania raportu z przeprowadzonego eksperymentu C8 Nabycie umiejętności pracy w zespole PRZEDMIOTOWE EFEKTY KSZTAŁCENIA Z zakresu wiedzy: PEK_W01 Ma podstawową wiedzę w zakresie zjawisk optycznych w półprzewodnikach fizyki, obejmującą podstawy fizyki kwantowej i fizykę ciała stałego, w tym wiedzę niezbędną do zrozumienia zjawisk fizycznych mających istotny wpływ na właściwości nowych materiałów i nanostruktur optoelektronicznych. PEK_W0 Rozumie prawa rządzące zjawiskami optycznymi i przemian sygnał optyczny - sygnał elektryczny oraz zna przyczyny ich zachodzenia, zna własności fali elektromagnetycznej, ma wiedzę odnośnie zastosowania w konstrukcji nanostruktur przyrządowych PEK_W0 Ma poszerzoną i pogłębioną wiedzę w zakresie fizyki, obejmującą podstawy fizyki kwantowej i fizykę ciała stałego, w tym wiedzę niezbędną do zrozumienia zjawisk fizycznych mających istotny wpływ na właściwości nowych materiałów i działanie zaawansowanych elementów elektronicznych PEK_W04 Ma pogłębioną i uporządkowaną wiedzę w zakresie podstawowych zjawisk optycznych, podstaw fizycznych, konstrukcji i technologii (nanotechnologii) w podstawowych przyrządach i układach optoelektronicznych oraz układach optoelektronicznych Z zakresu umiejętności: PEK_U01 Potrafi zaprojektować i zestawić prosty układ do pomiaru podstawowych parametrów detektorów i półprzewodnikowych źródeł promieniowania elektromagnetycznego PEK_U0 Potrafi wykonać pomiary podstawowych parametrów detektorów i półprzewodnikowych źródeł promieniowania elektromagnetycznego PEK_U0 Potrafi napisać raport z wykonanych pomiarów PEK_U04 Potrafi korzystać z literatury naukowej, w tym docierać do materiałów źródłowych oraz dokonywać ich przeglądu Z zakresu kompetencji społecznych: PEK_K01 ma znajomość interpretacji zjawisk optycznych w półprzewodnikach oraz podstaw konstrukcji i technologii przyrządów optoelektronicznych w zakresie umożliwiającym studiowanie literatury naukowej oraz poznawanie, rozwijanie i referowanie innych zagadnień optoelektroniki PEK_K0 Potrafi myśleć i działać w sposób kreatywny i przedsiębiorczy PEK_K0 Potrafi poszukiwać rozwiązania postawionego zadania w zespole. PEK_K04 Potrafi realizować zadania w zespole.

Wy1 Wy Wy Wy4 Wy5 Wy6 Wy7 Wy8 Wy9 Wy10 Wy11 Wy1 Wy1 TREŚCI PROGRAMOWE Forma zajęć - wykład Optoelektronika - wykład wprowadzający definicje, klasyfikacja, kierunki rozwoju optoelektroniki. Obszary zastosowań. Tor światłowodowy. Podstawy zjawisk optycznych w półprzewodnikach- generacja i absorpcja; charakterystyki optyczne ciała stałego, rekombinacja, tw. van Roosbroecka Shockley'a. Zastosowanie zjawisk w nanostrukturach w przyrządach optoelektronicznych. Inżynieria pasma zabronionego, metody inżynierii; układy wielostopowe, domieszkowanie planarne, heterostruktury Materiały do wytwarzania nanostruktur optoelektronicznych. Materiały AIIIBV, AIIBVI. Prawo Vagard'a. Podstawowe właściwości materiałów. Podstawy epitaksji, mody wzrostu, podłoże epitaksjalne, wymagania na podłoża. Rola podłoża w epitaksji. Technologia nanostruktur optoelektronicznych. Homo i heterostruktury, heterozłącza. Właściwości heterostruktur i 4 nanostruktur optoelektronicznych. Technologie epitaksjalne. Podstawy krystalizacji i kontroli wzrostu w różnych modach wzrostu. Podstawowe techniki wzrostu epitaksjalnego. Techniki LPE i VPE. Technologia złożonych nanostruktur optoelektronicznych. Techniki 4 MOVPE i MBE. Właściwości technik wytwarzania i porównanie technik. Podstawy generacji światła w emiterach półprzewodnikowych. Wydajność kwantowa źródeł światła. Wyprowadzenie światła z emitera. Diody elektroluminescencyjne. Właściwości diod elektroluminescencyjnych. Półprzewodnikowe źródła światła białego. Systemy oświetleniowe. Nanostruktury w źródłach promieniowania. Podstawy generacji światła laserowej. Rezonator Febry-Perota. Prąd progowy. Zwierciadła w półprzewodnikowych generatorach optycznych. Detektory promieniowania. Podstawowe mechanizmy detekcji. Parametry detektorów półprzewodnikowych. Szumy w detektorach. Podstawowe konstrukcje detektorów półprzewodnikowych obszarem czynnym z zastosowaniem nanostruktur. Ogniwo słoneczne. Podstawy działania. Konstrukcje ogniw słonecznych. Ogniwa krzemowe. Ogniwa wielozłączowe. Parametry użytkowe przyrządów optoelektronicznych. Warunki pracy. Punkt pracy. Charakterystyki przyrządów optoelektronicznych. Podstawy doboru elementów optoelektronicznych w aplikacjach układowych. Suma godzin 0 Liczba godzin Forma zajęć - laboratorium La1 Wprowadzenie do laboratorium. La Pomiar charakterystyk I-U oświetlonej i nieoświetlonej fotodiody Liczba godzin

półprzewodnikowej Si lub Ge. Wyznaczenie współczynnika idealności, oporności szeregowej i potencjału wbudowanego. La Pomiar charakterystyk I-U oświetlonej półprzewodnikowej Si lub Ge. Wyznaczenie prądu zwarcia i napięcia rozwarcia w funkcji intensywności oświetlenia, sprawdzenie prawa odwrotnych kwadratów. La4 Wyznaczenie czułości spektralnej i detekcyjności fotodiody Si lub Ge. La5 Wyznaczenie czułości spektralnej i detekcyjności detektora fotoprzewodzącego PbS. La6 Wyznaczenie charakterystyki DC I-V i zależności czułości detektora fotoprzewodzącego PbS od prądu stałego (DC). La7 Pomiar charakterystyk I-U diod LED na zakres widzialny i na podczerwień. Wyznaczenie współczynnika idealności, oporności szeregowej i potencjału wbudowanego. La8 Pomiar charakterystyki spektralnej diody podczerwonej LED. Wyznaczenie szerokości połówkowej widma oraz przerwy wzbronionej półprzewodnika. La8 Bateria słoneczna I. Wyznaczenie prądu zwarcia i napięcia rozwarcia. Zależność tych parametrów od intensywności oświetlenia i od obciążenia. La9 Bateria słoneczna II. Wyznaczenie oporności szeregowej, współczynnika wypełnienia i sprawności. Prawo odwrotnych kwadratów. La10 Odróbka zajęć. Suma godzin 0 STOSOWANE NARZĘDZIA DYDAKTYCZNE 1. Wykłady problemowe metoda tradycyjna oraz prezentacja w power point. Wykład udostępniony w sieci zapis elektroniczny oraz prezentacja multimedialna. Wykład praca własna, rozwiązywanie zadań po wykładach 4. Konsultacje 5. Instrukcje wstęp teoretyczny do ćwiczeń laboratoryjnych 6. Instrukcje robocze do ćwiczeń laboratoryjnych 7. Praca własna przygotowanie do ćwiczeń laboratoryjnych OCENA OSIĄGNIĘCIA PRZEDMIOTOWYCH EFEKTÓW KSZTAŁCENIA Oceny (F formująca (w trakcie semestru), P podsumowująca (na koniec semestru) F1 F F Numer efektu kształcenia PEK_W01 PEK_W0 PEK_W0 PEK_U01, PEK_U0, PEK_K01, PEK_K0 PEK_U01, PEK_U0, PEK_U0, PEK_U04 Sposób oceny osiągnięcia efektu kształcenia egzamin Odpowiedź ustna, testy Ocena sprawozdania z laboratorium 4

PEK_K01, PEK_K0 P1 = F1 P - średnia z uzyskanych ocen F i F LITERATURA PODSTAWOWA I UZUPEŁNIAJĄCA LITERATURA PODSTAWOWA: 1. B. Mroziewicz, M. Bugajski, Wł. Nakwaski, Lasery półprzewodnikowe, WNT 1985,. J. E. Midwinder, Y. L. Guo, Optoelektronika i technika światłowodowa, WKŁ 1995,. J. I. Pankove, Zjawiska optyczne w półprzewodnikach, WNT 1984, 4. J. Piotrowski, A. Rogalski, Półprzewodnikowe detektory podczerwieni, WNT 1985, 5. B. Ziętek, Optoelektronika, Wyd. UMK, 004 6. Z. Bielecki, A. Rogalski, Detekcja sygnałów optycznych, WNT 001, 7. Materiały do laboratorium ( wstępy teoretyczne oraz instrukcje robocze), dostępne poprzez internet : www.if.pwr.wroc.pl\~popko 8. J.Hennel Podstawy elektroniki półprzewodnikowej WNT Warszawa 1995. 9. W.Marciniak Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone WNT Warszawa 1987 10. S.M.Sze Physics of Semiconductor Devices J.Wiley and Sons, NY 1981, dostępna wersja elektroniczna, e-książki, BG P.Wr. LITERATURA UZUPEŁNIAJĄCA A. Smoliński, Optoelektronika światłowodowa, WKŁ 1985, J. Godlewski, Generacja i detekcja promieniowania optycznego, PWN 1997, J. Siuzdak, Wstęp do współczesnej telekomunikacji światłowodowej, WKŁ 1997, M. Marciniak, Łączność światłowodowa. WKŁ 1998, G. Einarsson, Podstawy telekomunikacji światłowodowej, WKŁ 1998, K. Booth, S. Hill, Optoelektronika, WKŁ, Warszawa 001, R. Bacewicz, Optyka ciała stałego, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1995. D.K.Schroder Semiconductor Materials and Device Characterization J.Wiley and Sons, NY 1998 OPIEKUN PRZEDMIOTU (IMIĘ, NAZWISKO, ADRES E-MAIL) Prof. dr hab. inż. Marek Tłaczała, marek.tlaczala@pwr.wroc.pl dr hab. Ewa Popko ewa.popko@pwr.wroc.pl 5

MACIERZ POWIĄZANIA EFEKTÓW KSZTAŁCENIA DLA PRZEDMIOTU PODSTAWY ELEKTRODYNAMIKI Z EFEKTAMI KSZTAŁCENIA NA KIERUNKU FIZYKA TECHNICZNA I SPECJALNOŚCI NANOINŻYNIERIA Przedmiotowy efekt kształcenia Odniesienie przedmiotowego efektu do efektów kształcenia zdefiniowanych dla kierunku studiów i specjalności (o ile dotyczy)** Cele przedmiotu*** Treści programowe*** Numer narzędzia dydaktycznego*** PEK_W01 K1FTE_W01, K1FTE_W0, K1FTE_W04, C1, C, C, C4 Wy1- Wy4 1,,,4,5,6,7 (wiedza) K1FTE_W19_S1NIN L-L9 PEK_W0 K1FTE_W01, K1FTE_W0, K1FTE_W05, C1, C, C, C4 Wy1- Wy4 1,,,4 K1FTE_W06, K1FTE_W19_ S1NIN PEK_W0 K1FTE_W01, K1FTE_W0, K1FTE_W05, C1, C, C, C4 Wy - Wy1 1,,,4 K1FTE_W06, K1FTE_W07, K1FTE_W19_ S1NIN PEK_W04 K1FTE_W05, K1FTE_W07, K1FTE_W09, C1, C, C, C4 Wy4 - Wyk1 1,,,4 K1FTE_W19_ S1NIN PEK_U01 K1FTE_U07, K1FTE_U08_ S1NIN, C1,C,C L-L9 5,6,7 (umiejętności) K1FTE_W19_ S1NIN PEK_U0 K1FTE_U07, K1FTE_U08_ S1NIN C,C5,C6,C7,C8 L-L9 5,6 PEK_U0 K1FTE_U0 C,C5,C6,C7,C8 L-L9 5,6,7 PEK_U04 K1FTE_U01 C5,C6,C7,C8 L-L9 7 PEK_K01 K1FTE_K01, K1FTE_K06, K1FTE_K06 C1, C, C, C4, Wy1 - Wy1 1,,,4 (kompetencje ) PEK_K0 K1FTE_K01, K1FTE_K04, C1, C, C, C4, Wy1 - Wy1 1,,,4 K1FTE_K06 PEK_K0 K1FTE_K01, K1FTE_K0, C7,C8 L-L9 5,6,7 K1FTE_K04 PEK_K04 K1FTE_K0, K1FTE_K04 C7,C8 L-L9 4,5,6,7 ** - wpisać symbole kierunkowych/specjalnościowych efektów kształcenia *** - z tabeli powyżej