Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4



Podobne dokumenty
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 3 A

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Ćw. III. Dioda Zenera

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b

Badanie właściwości multipleksera analogowego

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

NIEZBĘDNY SPRZĘT LABORATORYJNY

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu

Ćwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe

Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Politechnika Białostocka

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Politechnika Białostocka

Ćw. 8 Bramki logiczne

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Ćwiczenie 2 Mostek pojemnościowy Ćwiczenie wraz z instrukcją i konspektem opracowali P.Wisniowski, M.Dąbek

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Przyrządy i Układy Półprzewodnikowe

Sprzęt i architektura komputerów

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Politechnika Białostocka

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE. Obwody nieliniowe.

Laboratorium Elementów Elektronicznych. Sprawozdanie nr Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych.

Politechnika Białostocka

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

TRANZYSTORY BIPOLARNE

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Elektronika. Wzmacniacz operacyjny

Ćwiczenie 01. Temat: Własności diody Zenera Cel ćwiczenia

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

BADANIE ELEMENTÓW RLC

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)

1. Nadajnik światłowodowy

Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Tranzystory w pracy impulsowej

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Ćwiczenie 3 Badanie własności podstawowych liniowych członów automatyki opartych na biernych elementach elektrycznych

A6: Wzmacniacze operacyjne w układach nieliniowych (diody)

Ćwiczenie 13. Temat: Wzmacniacz w układzie wspólnej bazy. Cel ćwiczenia

Modelowanie diod półprzewodnikowych

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Badanie diod półprzewodnikowych

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

Ćwiczenie 3: Pomiar parametrów przebiegów sinusoidalnych, prostokątnych i trójkątnych. REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h)

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Badanie właściwości dynamicznych obiektów I rzędu i korekcja dynamiczna

Temat ćwiczenia: Przekaźniki półprzewodnikowe

. Diody, w których występuje przebicie Zenera, charakteryzują się małymi, poniŝej 5V, wartościami napięcia stabilizacji oraz ujemną wartością α

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

Ćwicz. 4 Elementy wykonawcze EWA/PP

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

LABORATORIUM TECHNIKI IMPULSOWEJ I CYFROWEJ (studia zaoczne) Układy uzależnień czasowych 74121, 74123

Ć w i c z e n i e 1 6 BADANIE PROSTOWNIKÓW NIESTEROWANYCH

ZASADY DOKUMENTACJI procesu pomiarowego

1 Badanie aplikacji timera 555

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

WZMACNIACZE OPERACYJNE Instrukcja do zajęć laboratoryjnych

Podstawowe układy pracy tranzystora bipolarnego

I Zastosowanie oscyloskopu do pomiarów kąta przesunięcia fazowego.

TEORIA OBWODÓW I SYGNAŁÓW LABORATORIUM

POMIARY OSCYLOSKOPOWE. Instrukcja wykonawcza

ZASTOSOWANIA WZMACNIACZY OPERACYJNYCH

Politechnika Białostocka

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

Badanie dławikowej przetwornicy podwyŝszającej napięcie

ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY

Dynamiczne badanie wzmacniacza operacyjnego- ćwiczenie 8

ĆWICZENIE 8 ELEMENTY I UKŁADY PRZEŁĄCZAJĄCE WPROWADZENIE

ĆWICZENIE ZASILACZE. L a b o r a t o r i u m Elektroniki 2. Zakład EMiP I M i I B

UKŁADY PRZEKSZTAŁCAJĄCE

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

Transkrypt:

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Badanie własności przełączających diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie własności przełączających złącza p - n oraz wybranych parametrów dynamicznych róŝnych diod. I. Wymagane wiadomości. 1. Elektryczne schematy zastępcze nieliniowe diod półprzewodnikowych dla wszystkich zakresów częstotliwości. 2. Interpretacja fizyczna elementów schematów zastępczych. 3. Procesy przejściowe w złączu podczas przełączania prądowego oraz napięciowego. 4. Charakterystyka i = f(t) oraz u = f(t) diody przełączanej impulsem prostokątnym. 5. Definicje parametrów dynamicznych w oparciu o charakterystyki czasowe. 6. Wyznaczanie ładunku zgromadzonego w diodzie. 7. Własności i parametry diod impulsowych. Porównanie własności przełączających diod róŝnych typów. 8. Kształtowanie impulsów przy pomocy diod. 9. Wpływu procesów technologicznych na własności diod przełączających. 10. Znajomości metody pomiaru parametrów dynamicznych diod. II. Wykonanie ćwiczenia. 1. Opis układu pomiarowego. Układ pomiarowy, którego schemat przedstawiono na rys. 1, składa się z przystawki pomiarowej, dołączanego z zewnątrz generatora impulsów prostokątnych i oscyloskopu dwukanałowego. Przystawka pomiarowa posiada wbudowane źródło polaryzacji zaporowej U R (o wartościach napięć: 1,5 V lub 3 V), rezystor obciąŝenia R L (o wartościach: 0 Ω, 240 Ω, 470 Ω) oraz rezystor R = 50 Ω. Do przystawki dołączana jest z zewnątrz badana dioda D.

R L D CH1 u = f(t) Gen. U R R = 50 Ω CH2 i = f(t) Rys. 1. Schemat układu do badania własności przełączających diody. Badana dioda polaryzowana jest w kierunku zaporowym napięciem U R o znanej wartości (1,5 V lub 3 V). Impuls prostokątny dodatni, o amplitudzie większej od wartości U R, wprowadza diodę w stan przewodzenia. Przebiegi czasowe u = f(t), obserwowane po dołączeniu kanału pierwszego oscyloskopu CH1, obrazują kształt spadku napięcia na diodzie z szeregowo połączonym rezystorem R. Wartość prądu płynącego przez diodę polaryzowaną w kierunku przewodzenia określa się na podstawie przebiegu i = f(t), obserwowanego na ekranie oscyloskopu (uzyskanego po dołączeniu kanału drugiego CH2 oscyloskopu). W układzie dokonuje się pomiarów czasów przełączania oraz wartości ładunku zgromadzonego w bazie diody podczas przepływu prądu w kierunku przewodzenia. 2. Pomiar czasów magazynowania t s, opadania t f oraz ładunku Q s zgromadzonego w bazie diody. W układzie połączonym według schematu przedstawionego na rys. 1 dokonuje się pomiarów czasów: magazynowania t s, opadania t f oraz czasu wyłączania t rr. Na podstawie przybliŝonego odczytu powierzchni S pomiędzy osią czasową i krzywą przebiegu prądowego i = f(t), w zakresie polaryzacji ujemnej, oblicza się ładunek zgromadzony w bazie diody. Parametry te badane są w funkcji prądu przewodzenia I F, przy 2

ustalonych wartościach napięcia U R = 1,5 V oraz U R = 3 V. Pomiary przeprowadza się dla diod wykonanych róŝnymi technologiami (prostowniczej Ge oraz Si, ostrzowej, impulsowej). Przed przystąpieniem do pomiarów naleŝy wykonać niŝej podane czynności. 1. Dołączyć do przystawki pomiarowej generator impulsów prostokątnych. 2. Ustawić częstotliwość generatora f = 50 khz, poziom sygnału na zero, wypełnienie impulsu w granicach 25-30 %. 3. Dołączyć odpowiednio do przystawki kanały oscyloskopu CH1 [zobrazowanie przebiegu u = f(t)] oraz CH2 [zobrazowanie przebiegu i = f(t)]. 4. Włączyć generator i oscyloskop. Dokonać wstępnych ustawień oscyloskopu korzystając z uproszczonej instrukcji obsługi. Ustawić podstawę czasu C t rzędu µs/cm. Przyjąć czułość napięciową C u1 kanału pierwszego CH1 rzędu V/cm, czułość napięciową C u2 kanału drugiego rzędu mv/cm. 5. Ustawić przełączniki Regulacja R L w pozycji R L = 0 dla zakresu U R = 1,5 V. 6. Umieścić badaną diodę D w przystawce pomiarowej zachowując polaryzację w kierunku zaporowym w odniesieniu do napięcia U R. Pomiary czasów magazynowania t s, opadania t f oraz ładunku Q s przeprowadza się dla diod róŝnych typów, w niŝej określonych warunkach. 1. Przy wybranym napięciu polaryzacji zaporowej U R = 1,5 V oraz R L = 0 Ω zwiększać amplitudę sygnału z generatora do uzyskania wartości prądu przewodzenia diody I F = 0,5 ma (wartość ustalona na przebiegu i = f(t) powyŝej osi czasowej - kanał drugi oscyloskopu CH2). 2. Z przebiegu i = f(t) odczytać wartości czasów t s oraz t f. Odczytać przybliŝoną wartość powierzchni S [cm 2 ] obszaru ograniczonego osią czasową oraz krzywą i = f(t), w zakresie polaryzacji zaporowej. Wyniki pomiarów umieścić w tabeli (według wzoru Tabela 1). 3. Zwiększyć amplitudę sygnału z generatora w celu uzyskania wartości prądu przewodzenia diody I F = 1 ma. Powtórzyć czynności opisane w p.2. 4. Ustawiając kolejne wartości prądu I F (co 0,5 ma w zakresie kilku ma) dokonywać odczytów czasów t s i t f oraz powierzchni S [cm 2 ]. Wyniki pomiarów umieszczać w tabeli (według wzoru Tabela 1). 5. Przy wybranym napięciu polaryzacji zaporowej U R = 1,5 V, wykonać pomiary przy obciąŝeniu R L, o wartościach wskazanych przez prowadzącego, powtarzając czynności 3

podane w p.(1-4). Wyniki pomiarów umieścić w tabelach analogicznych, według wzoru Tabela 1. Przeprowadzić analogiczne pomiary, w zakresie wskazanym przez prowadzącego, przy wartości napięcia polaryzacji zaporowej U R = 3 V, dla odpowiednich wartości rezystancji obciąŝenia R L. Wykonać pomiary dla diod róŝnych typów. Uwaga! Po ukończeniu pomiarów wyjąć badana diodę z przystawki pomiarowej. III. Opracowanie wyników. 1. Obliczyć ładunek Q s, zgromadzony w bazie diody podczas polaryzacji w kierunku przewodzenia, na podstawie zaleŝności: Q s = S C t C i gdzie: S [cm 2 ] - powierzchnia ograniczona osią czasową i przebiegiem i(t) w kierunku zaporowym; C t [µs/cm] - czułość czasowa oscyloskopu (podstawa czasu); C i [ma/cm] - czułość prądowa wyznaczana z zaleŝności: C i = C u2 / R; R = 50 Ω. 2. Wykreślić przebieg wartości ładunku Q s w funkcji prądu przewodzenia I F. 3. Wykreślić przebiegi zmierzonych czasów funkcji prądu przewodzenia I F. 4. Przerysować z ekranu oscyloskopu przebiegi czasowo - napięciowe i czasowo - prądowe dla kilku róŝnych diod, przy identycznych warunkach pomiaru. 5. Wyjaśnić jakie czynniki wpływają na wielkość ładunku zgromadzonego w bazie diody. 6. Przedstawić jaki jest wpływ warunków pomiarów na zmierzone wielkości. 4

Tabela 1. Pomiar czasów przełączania i ładunku zgromadzonego w diodzie. Pomiary wykonano przy: U R =... R L =... I F ma t S µs t f µs t rr µs S cm 2 Q S C 5