OCENA NIEPEWNOŚCI POMIARU NATĘŻENIA OŚWIETLENIA Z UŻYCIEM TEMPERATUROWYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA O TEMPERATURZE BARWOWEJ NAJBLIŻSZEJ RÓŻNEJ OD 2856 K
|
|
- Mateusz Kubicki
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Jerzy PIETRZYKOWSKI OCENA NIEPEWNOŚCI POMIARU NATĘŻENIA OŚWIETLENIA Z UŻYCIEM TEMPERATUROWYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA O TEMPERATURZE BARWOWEJ NAJBLIŻSZEJ RÓŻNEJ OD 2856 K STRESZCZENIE Przedstawiono metodę oceny niepewności pomiaru natężenia oświetlenia z wykorzystaniem stosunku temperatur barwowych najbliższych źródła mierzonego i źródła odniesienia z wskaźnikiem korekcji barwowej jako wykładnikiem potęgi. Metodę tę można wykorzystać do oceny niepewności wzorcowania kalibratorów fotometrycznych. Słowa kluczowe: natężenie oświetlenia, fotometr, wskaźnik korekcji barwowej, kalibrator fotometryczny, niepewność pomiaru 1. WPROWADZENIE Ważnym problemem w pomiarach fotometrycznych jest korekcja czułości widmowej odbiornika fotometru do krzywej skuteczności świetlnej widmowej względnej V(λ). W praktyce nie ma możliwości całkowitego skorygowania mgr Jerzy PIETRZYKOWSKI j.pietrzykowski@neostrada.pl Polski Komitet Oświetleniowy PRACE INSTYTUTU ELEKTROTECHNIKI, zeszyt 245, 2010
2 88 J. Pietrzykowski czułości widmowej głowicy fotometru, zatem kiedy fotometr mierzy natężenie oświetlenia wytworzone źródłem światła mającym rozkład widmowy względny mocy promienistej różny od rozkładu widmowego źródła stosowanego przy wzorcowaniu fotometru wynik pomiaru obarczony jest niepewnością spowodowaną niepełną korekcją. Użycie współczynnika korekcji widmowej wymagało by znajomości względnej czułości widmowej fotometru i względnego rozkładu widmowego mocy promienistej źródła mierzonego. Przy pomiarach przemysłowych i rutynowych tego typu rozwiązanie nie może być brane pod uwagę ze względu na jego koszty i pracochłonność. Jednakże stosując temperaturowe źródła światła o znanej lub oszacowanej wartości temperatury barwowej najbliższej można dokonać oceny niepewności pomiaru wynikającej z różnych temperatur barwowych źródła mierzonego i źródła normalnego A. Na taką możliwość wskazał Sauter [1, 3] pokazując, że współczynnik korekcji widmowej F(S z, S s ) jest funkcją temperatury rozkładu T D. Dla źródeł temperaturowych takich jak żarówki i lampy halogenowe zależność tę można przenieść na temperatury barwowe najbliższe lamp stosowanych do wzorcowania fotometru i lamp używanych w pomiarach. 2. WSKAŹNIK KOREKCJI BARWOWEJ Przy stosowaniu fotometrów do pomiaru źródeł światła mających rozkłady widmowe mocy promienistej różne od rozkładu widmowego źródła wzorcującego wystąpi błąd spowodowany niepełną korekcją widmową czułości widmowej fotometru do funkcji V(λ). Błąd ten może być skorygowany za pomocą współczynnika korekcji widmowej F określonego zależnością F ( S, S ) ( λ) V ( λ) dλ Ss ( λ) sr ( λ) ( λ) sr ( λ) dλ Ss ( λ) V ( λ) S z dλ z s = (1) S dλ z gdzie: S z (λ) S s (λ) s r (λ) V(λ) względny rozkład widmowy mocy promienistej źródła mierzonego, względny rozkład widmowy mocy promienistej źródła wzorcującego (źródła użytego do wzorcowania fotometru), względna czułość widmowa głowicy fotometru, skuteczność świetlna widmowa względna przy widzeniu fotopowym.
3 Ocena niepewności pomiaru natężenia oświetlenia z użyciem temperaturowych 89 Przy pomiarach fotometrycznych przyjęto, że do wzorcowania fotometrów (luksomierzy, mierników luminancji) należy stosować źródła o temperaturze barwowej najbliższej 2856 K, których rozkład widmowy mocy promienistej w obszarze widzialnym jest bliski rozkładowi widmowemu promiennika Plancka o tej temperaturze. Zatem znormalizowany współczynnik korekcji widmowej F przyjmie postać gdzie: F = F(S z, S A ) (2) S A = S A (λ) jest względnym rozkładem widmowym mocy promienistej iluminantu normalnego A. Dla każdego określonego fotometru można wyznaczyć współczynnik F dla konkretnego źródła o znanym względnym widmowym rozkładzie mocy promienistej. Jeżeli wykonuje się pomiary ze źródłami żarowymi, to można współczynnik F zapisać jako funkcję temperatury rozkładu T D mierzonej lampy. Obliczając F dla promienników Plancka o kilku różnych temperaturach i aproksymując przy użyciu wielomianu drugiego stopnia otrzymuje się zależność podaną w projekcie raportu technicznego CIE [4] 2 ( TD ) = i F a T (3) i= 0 i D Dla większości fotometrów wystarczającym jest zapisanie współczynnika korekcji widmowej F jako funkcji wykładniczej z wykładnikiem m określanym jako wskaźnik korekcji barwowej, zatem F m TD ( TD ) = (4) TA Zależność tę można rozszerzyć na stosunki odpowiednich temperatur barwowych najbliższych F m Tcc ( TD ) F ( Tcc ) = (5) TcA Wskaźnik F (T cc ) jest nazywany współczynnikiem korekcji barwowej i oznaczany skrótowo jako CCF. Zależność (5) jest zwykle stosowana przy ocenie niepewności wzorcowania fotometrów.
4 90 J. Pietrzykowski 3. WYZNACZANIE WSKAŹNIKA KOREKCJI BARWOWEJ 3.1. Metoda z użyciem fotometru wzorcowego Fotometr wzorcowy o znanej czułości fotometrycznej (świetlnej) s vr i znanym wskaźniku korekcji barwowej m R umożliwia wyznaczenie zarówno czułości świetlnej s v, jak i wskaźnika korekcji barwowej m każdego dowolnego fotometru. Używając lampy fotometrycznej pracującej przy dwóch temperaturach barwowych T 1 i T 2 (np. T 1 = 2600 K, T 2 = 2856 K) oświetla się kolejno głowice fotometrów umieszczone w tej samej płaszczyźnie odniesienia. Otrzymuje się cztery wartości wielkości wyjściowej (prądu fotoelektrycznego), a mianowicie y 1R, y 2R, dla fotometru wzorcowego i y 1, y 2 dla fotometru wzorcowanego. Korzystając z zależności ogólnej s v y T E T = 1 A m (6) użytej do opisu wszystkich czterech kombinacji pomiarowych wyznacza się wskaźnik korekcji barwowej m y = + 1 R y2 log T1 m mr log / (7) y2r y1 T2 oraz czułość świetlną s v s v s y T 1 1 = vr y 1R TA m m R (8) 3.2. Metoda z użyciem wzorca światłości przy dwóch różnych temperaturach barwowych najbliższych Metoda oparta jest na zastosowaniu wzorcowej lampy fotometrycznej pracującej przy dwóch natężeniach prądu i 1, i 2 generujących światłości I(T 1 ),
5 Ocena niepewności pomiaru natężenia oświetlenia z użyciem temperaturowych 91 I(T 2 ) przy temperaturach barwowych najbliższych T 1, T 2. Lampę umieszcza się w ustalonej umownie odległości d. Obydwie kombinacje pomiarowe można opisać następującymi zależnościami oraz I(T 1 ) = d 2 y 1 / s v (T 1 /T A ) m (9) I(T 2 ) = d 2 y 2 / s v (T 2 /T A ) m (10) Łącząc obydwa równania wyznacza się wskaźnik korekcji barwowej m badanego fotometru ( T1 ) y2 T1 ( ) / log T2 y1 T2 I m = log (11) I 4. OCENA NIEPEWNOŚCI POMIARU NATĘŻENIA OŚWIETLENIA Z UŻYCIEM LUKSOMIERZA KONTROLNEGO Dokładne pomiary natężenia oświetlenia w warunkach laboratoryjnych wykonywane są na ławie fotometrycznej za pomocą luksomierza ze znaną z wzorcowania wartością czułości świetlnej s v wyznaczoną przy temperaturze barwowej wzorca fotometrycznego równej 2856 K. Czułość widmowa głowicy luksomierza jest skorygowana w przybliżeniu do funkcji V(λ). Znajomość wskaźnika korekcji barwowej i zastosowanie stosunku temperatur barwowych podniesionego do potęgi o wykładniku m umożliwia korekcję wyników pomiarowych i ocenę niepewności pomiaru. Uproszczoną postać równania pomiaru natężenia oświetlenia w warunkach laboratoryjnych z użyciem luksomierza można zapisać jako E ( T ) v m V Tv = s (12) v TA gdzie: V odczytane wskazanie np. natężenie prądu fotoelektrycznego, s v czułość świetlna wyznaczona dla iluminantu A, T v temperatura barwowa najbliższa źródła używanego w pomiarach.
6 92 J. Pietrzykowski W przypadku kalibratorów fotometrycznych KF-10 firmy Sonopan przeznaczonych do przeprowadzenia okresowych sprawdzań luksomierzy temperatura barwowa źródła światła w kalibratorze wynosi nawet powyżej 3200 K [2]. W takich przypadkach niezbędne staje się wyznaczenie dla luksomierza zastosowanego do wzorcowania kalibratora wskaźnika korekcji barwowej z użyciem jednej z dwóch opisanych metod. Do celów związanych z oceną niepewności pomiarowej można również skorzystać ze znanych zależności łączących wielkości fotometryczne i elektryczne źródeł temperaturowych, a mianowicie U = U A (i / i A ) 1,9 (13) I = I A (i / i A ) 7,0 (14) T c = T ca (i / i A ) 0,7 (15) gdzie: U A, i A, I A, T ca napięcie, natężenie prądu, światłość, temperatura barwowa najbliższa określone w świadectwie wzorcowania wzorca fotometrycznego. U, i, I, T c wielkości oczekiwane po zmianie natężenia prądu. Jeżeli laboratorium posiada na wyposażeniu miernik temperatury barwowej i luksomierz wzorcowy możliwe jest uproszczone wyznaczenie dla wzorca fotometrycznego wartości światłości przy innej temperaturze barwowej niż 2856 K, a następnie obliczenie wskaźnika korekcji barwowej według opisanych metod. 5. WNIOSKI Przedstawiona metoda korekcji wyników pomiarów natężenia oświetlenia i oceny niepewności pomiaru jest metodą uproszczoną stosowaną do temperaturowych źródeł światła. Stosowanie metody nie wymaga wykonywania pomiarów względnej czułości widmowej fotometru i względnego rozkładu widmowego mocy promienistej źródła. Metodę można z powodzeniem wykorzystać przy ocenie niepewności pomiaru spowodowanej różnymi temperaturami barwowymi najbliższymi źródła mierzonego i źródła odniesienia w procesach wzorcowania fotometrów i kalibratorów fotometrycznych.
7 Ocena niepewności pomiaru natężenia oświetlenia z użyciem temperaturowych 93 LITERATURA 1. Erb W., Sauter G.: PTB network for realization and maintenance of the candela. Metrologia vol. 34, nr (1997) 2. Kalibrator fotometryczny KF-10 firmy Sonopan dane techniczne 3. Sauter G.: Die Candela: Erläuterungen zum Verständnis der Definition und der Realisierung. PTB Mitteilungen vol. 107, nr 6/97, (1997) 4. TC2-37 Photometry using V(λ) corrected detectors as reference transfer standards, draft nr 7, 2004 Rękopis dostarczono, dnia r. Opiniował: prof. dr hab. Jacek Sosnowski UNCERTAINTY EVALUATION OF ILLUMINANCE MEASUREMENT WITH USE THERMAL LIGHT SOURCES OF KNOWN CORRELATED COLOUR TEMPERATURE DIFFERENT FROM 2856 K Jerzy PIETRZYKOWSKI ABSTRACT Method of uncertainty evaluation of correlated colour temperatures of used source and reference source with mismatch index as exponent is presented. This methods can be used in the uncertainty evaluation of the calibration procedure of photometric calibrators. Mgr Jerzy PIETRZYKOWSKI absolwent Wydziału Matematyki, Fizyki i Chemii Uniwersytetu Łódzkiego, specjalność fizyka teoretyczna. Wieloletni pracownik naukowy Zakładu Promieniowania Optycznego Głównego Urzędu Miar. Główne zainteresowania zawodowe: pomiary barwy materiałów i ocena różnicy barw, spektroradiometria promieniowania optycznego, samokalibracja fotodiod półprzewodnikowych i odbiorniki pułapkowe. Autor i współautor ponad 80 artykułów i referatów prezentowanych w czasopismach i na konferencjach naukowych.
8 94 J. Pietrzykowski
W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED.
Pomiary natężenia oświetlenia LED za pomocą luksomierzy serii Sonel LXP W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia
Bardziej szczegółowoANALIZA WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI RÓŻNYCH TYPÓW LUKSOMIERZY
Materiały X Konferencji Naukowo-Technicznej PPM'14 Agnieszka BANASZAK, Justyna WTORKIEWICZ Okręgowy Urząd Miar w Łodzi Przemysław TABAKA Politechnika Łódzka Instytut Elektroenergetyki ANALIZA WYBRANYCH
Bardziej szczegółowoBadanie parametrów fotometrycznych opraw parkowych z lampami sodowymi
Badanie parametrów fotometrycznych opraw parkowych z lampami sodowymi Zamawiający: PPHU HARPIS Piotr Skubel, ul. Wyczółkowskiego 107 65-140 Zielona Góra Wykonawcy: mgr inż. Przemysław Skrzypczak mgr inż.
Bardziej szczegółowoCharakterystyka mierników do badania oświetlenia Obiektywne badania warunków oświetlenia opierają się na wynikach pomiarów parametrów świetlnych. Podobnie jak każdy pomiar, również te pomiary, obarczone
Bardziej szczegółowoKF-10 KALIBRATOR FOTOMETRYCZNY INSTRUKCJA OBSŁUGI. pomocnicze źródło światła do okresowej kontroli luksomierzy pomiędzy wzorcowaniami
PPUH SONOPAN Sp. z o.o. 15-950 Białystok, ul. Ciołkowskiego 2/2 tel./fax: (85) 742 36 62 http://www.sonopan.com.pl KALIBRATOR FOTOMETRYCZNY KF-10 pomocnicze źródło światła do okresowej kontroli luksomierzy
Bardziej szczegółowoANALIZA WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI RÓŻNYCH TYPÓW LUKSOMIERZY
Agnieszka BANASZAK Przemysław TABAKA Justyna WTORKIEWICZ ANALIZA WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI RÓŻNYCH TYPÓW LUKSOMIERZY STRESZCZENIE Podstawowym i najczęściej stosowanym miernikiem w fotometrii jest luksomierz.
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA OBSŁUGI LUKSOMIERZA L-50. SONOPAN Sp. z o.o. 15-950 Białystok, ul. Ciołkowskiego 2/2 tel., fax (0 85) 742 36 62 www.sonopan.com.
INSTRUKCJA OBSŁUGI LUKSOMIERZA L-50 SONOPAN Sp. z o.o. 15-950 Białystok, ul. Ciołkowskiego 2/2 tel., fax (0 85) 742 36 62 www.sonopan.com.pl - 1 - INFORMACJE O NORMACH Cyfrowy luksomierz L-50 spełnia wymagania
Bardziej szczegółowoNowe zalecenia dotyczące oceny zagrożenia światłem niebieskim emitowanym przez lampy i oprawy LED
Nowe zalecenia dotyczące oceny zagrożenia światłem niebieskim emitowanym przez lampy i oprawy D 1. Wprowadzenie Jednym z najważniejszych międzynarodowych dokumentów omawiających kwestię ryzyka fotobiologicznego
Bardziej szczegółowoPOMIAR NATĘŻENIA OŚWIETLENIA
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI Instrukcja do ćwiczenia O1 Temat ćwiczenia POMIAR NATĘŻENIA OŚWIETLENIA Ćwiczenie O1 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z
Bardziej szczegółowoOCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA
OCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA Przemysław Tabaka e-mail: przemyslaw.tabaka@.tabaka@wp.plpl POLITECHNIKA ŁÓDZKA Instytut Elektroenergetyki WPROWADZENIE Całkowity
Bardziej szczegółowoP O L I T E CH N I K A P O Z N A Ń S K A I NSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I ELEKTRONIKI 60-965 Poznań, ul. Piotrowo 3A
P O L I T E CH N I K A P O Z N A Ń S K A I NSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I ELEKTRONIKI 60-965 Poznań, ul. Piotrowo 3A PRZEMYSŁOWEJ PRZEPROWADZENIE BADAŃ POTWIERDZAJĄCYCH SPEŁNIENIE STANDARDÓW JAKOŚCI PRODUKTU
Bardziej szczegółowoANALIZA WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI RÓŻNYCH TYPÓW LUKSOMIERZY
Agnieszka BANASZAK Przemysław TABAKA Justyna WTORKIEWICZ ANALIZA WYBRANYCH WŁAŚCIWOŚCI RÓŻNYCH TYPÓW LUKSOMIERZY STRESZCZENIE Podstawowym i najczęściej stosowanym miernikiem w fotometrii jest luksomierz.
Bardziej szczegółowoKARTY KATALOGOWE WYROBÓW Z DZIEDZINY FOTOMETRII
KARTY KATALOGOWE WYROBÓW Z DZIEDZINY FOTOMETRII SONOPAN Sp. z o.o. tel., fax: 085 742 36 62 Luksomierz L-50 Luksomierz L-50 przeznaczony jest do pomiaru natężenia oświetlenia promieniowania naturalnego
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia
POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary oświetlenia Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru natęŝenia oświetlenia oraz wyznaczania poŝądanej wartości
Bardziej szczegółowoPomiar natężenia oświetlenia
Pomiary natężenia oświetlenia jako jedyne w technice świetlnej nie wymagają stosowania wzorców. Pomiary natężenia oświetlenia dokonuje się za pomocą miernika zwanego luksomierzem. Powody dla których nie
Bardziej szczegółowoCele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych stosowanych we współczesnych pojazdach samochodowych Stworzenie nowego ćwiczenia laborat
PRACA DYPLOMOWA INŻYNIERSKA Rumiński Dariusz Badania wybranych elementów optycznoświetlnych oświetlenia sygnałowego pojazdu samochodowego 1 Cele pracy Badania rozsyłu wiązek świetlnych lamp sygnałowych
Bardziej szczegółowoASPEKTY METROLOGICZNE STOSOWANIA NORMY PN-EN BEZPIECZEŃSTWO FOTOBIOLOGICZNE LAMP I SYSTEMÓW LAMPOWYCH
Jerzy PIETRZYKOWSKI ASPEKTY METROLOGICZNE STOSOWANIA NORMY PN-EN 62471 BEZPIECZEŃSTWO FOTOBIOLOGICZNE LAMP I SYSTEMÓW LAMPOWYCH STRESZCZENIE Sztuczne i naturalne źródła promieniowania optycznego mogą stwarzać
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH
6-965 Poznań tel. (-61) 6652688 fax (-61) 6652389 STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 2.11.212 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 3. Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
Bardziej szczegółowoRys. 1. Zakres widzialny fal elektromagnetycznych dla widzenia w ciągu dnia i nocy.
Pomiary natężenia oświetlenia Możliwości percepcyjne, a przez to stan psychofizyczny człowieka zależą w bardzo dużym stopniu od środowiska, w jakim aktualnie przebywa. Bodźce świetlne są decydującymi czynnikami
Bardziej szczegółowoSPOSÓB POMIARU PODSTAWOWYCH PARAMETRÓW OŚWIETLENIA
SPOSÓB POMIARU PODSTAWOWYCH PARAMETRÓW OŚWIETLENIA Z punktu widzenia oceny oświetlenia we wnętrzu bądź na stanowisku pracy, istotny jest pomiar natężenia oświetlenia, określenie równomierności oświetlenia
Bardziej szczegółowoMODELE WIEŃCÓW LED. jednocześnie - na blat roboczy oraz do wnętrza szafki
Wieniec podświetlany LED producenta SOLED umożliwia efektywne oświetlenie blatu i szafek kuchennych. Model DOWN oświetla tylko blat, zaś model UP-DOWN jednocześnie wnętrze szafki oraz blat. Wieńce wykorzystują
Bardziej szczegółowo= e. m λ. Temat: BADANIE PROMIENNIKÓW PODCZERWIENI. 1.Wiadomości podstawowe
Kierunek: Elektrotechnika, semestr 3 Zastosowanie promieniowania optycznego Laboratorium Ćwiczenie nr 4 Temat: BADANIE PROMIENNIKÓW PODCZERWIENI 1.Wiadomości podstawowe Promienniki podczerwieni to urządzenia
Bardziej szczegółowoSprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich
Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium Sprawdzenie narzędzi pomiarowych i wyznaczenie niepewności rozszerzonej typu A w pomiarach pośrednich Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Zakład Miernictwa
Bardziej szczegółowoTemat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
STUDIA NIESTACJONARNE I STOPNIA, wersja z dn. 15.10.018 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA, SEM.5 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 4 Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM OPTYKA GEOMETRYCZNA I FALOWA
LABORATORIUM OPTYKA GEOMETRYCZNA I FALOWA Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Temat: Wyznaczanie współczynnika sprawności świetlnej źródła światła 1 I. Wymagania do ćwiczenia 1. Wielkości fotometryczne, jednostki..
Bardziej szczegółowoPomiary jakościowe i fotometryczne gwarancją dobrze wykonanej instalacji oświetleniowej
Pomiary jakościowe i fotometryczne gwarancją dobrze wykonanej instalacji oświetleniowej Kornel Borowski Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i Automatyki, katedra elektroenergetyki kornel.borowski@pg.edu.pl
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY
LABORATORIUM OCHRONY ŚRODOWISKA - SYSTEM ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ - INSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY 1. Cel instrukcji Celem instrukcji jest określenie
Bardziej szczegółowoPL-68 INSTRUKCJA OBSŁUGI
SONOPAN Sp. z o.o. 15-950 Białystok, ul. Ciołkowskiego 2/2 tel., fax (85) 742 36 62 http://www.sonopan.com.pl Przystawka do pomiaru luminancji za pomocą luksomierza PL-68 INSTRUKCJA OBSŁUGI SPIS TREŚCI:
Bardziej szczegółowoBADANIE EKSPLOATACYJNYCH ZMIAN PARAMETRÓW FOTOMETRYCZNYCH I KOLORYMETRYCZNYCH WYBRANEGO TYPU LAMP METALOHALOGENKOWYCH
Małgorzata ZALESIŃSKA BADANIE EKSPLOATACYJNYCH ZMIAN PARAMETRÓW FOTOMETRYCZNYCH I KOLORYMETRYCZNYCH WYBRANEGO TYPU LAMP METALOHALOGENKOWYCH STRESZCZENIE Lampy metalohalogenkowe są silnie rozwijającymi
Bardziej szczegółowoInterpretacja wyników wzorcowania zawartych w świadectwach wzorcowania wyposażenia pomiarowego
mgr inż. ALEKSANDRA PUCHAŁA mgr inż. MICHAŁ CZARNECKI Instytut Technik Innowacyjnych EMAG Interpretacja wyników wzorcowania zawartych w świadectwach wzorcowania wyposażenia pomiarowego W celu uzyskania
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych
Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie
Bardziej szczegółowoSłowa kluczowe: wzorcowanie, spektrofotometria, widmowy współczynnik przepuszczania, wzorce neutralne, wzorce napylane, wzorce ciekłe
Agnieszka CHRZĄSTEK Justyna KAŁUŻA ANALIZA WYNIKÓW WZORCOWANIA WZORCÓW WIDMOWEGO WSPÓŁCZYNNIKA PRZEPUSZCZANIA I GĘSTOŚCI OPTYCZNEJ WIDMOWEGO WSPÓŁCZYNNIKA PRZEPUSZCZANIA Z UŻYCIEM FILTRÓW NEUTRALNYCH,
Bardziej szczegółowoLUKSOMIERZ CYFROWY NI L204
LUKSOMIERZ CYFROWY NI L204 INSTRUKCJA OBSŁUGI SPIS TREŚCI 1. WSTĘPNY OPIS... 4 2. BEZPIECZEŃSTWO OBSŁUGI... 4 3. WPROWADZENIE... 5 4. DANE OGÓLNE... 6 5. SPECYFIKACJA... 7 6. PROCEDURA POMIAROWA... 8 7.
Bardziej szczegółowoĆwiczenie Nr 11 Fotometria
Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski Chorzów 2018 r. Ćwiczenie Nr 11 Fotometria Zagadnienia: fale elektromagnetyczne, fotometria, wielkości i jednostki fotometryczne, oko. Wstęp Radiometria (fotometria
Bardziej szczegółowoANALIZA WYNIKÓW ORAZ ŹRÓDŁA NIEPEWNOŚCI PRZY WZORCOWANIU WZORCÓW SPEKTROFOTOMETRYCZNYCH
Agnieszka CHRZĄTEK, Justyna WTORKIEWICZ Okręgowy Urząd Miar w Łodzi ANALIZA WYNIKÓW ORAZ ŹRÓŁA NIEPEWNOŚCI PRZY WZORCOWANIU WZORCÓW PEKTROFOTOMETRYCZNYCH W artykule przedstawiono oraz porównano wyniki
Bardziej szczegółowoWZORCOWANIE SPEKTROFOTOMETRÓW ŹRÓDŁA BŁĘDÓW (CZ. 1)
Jolanta GĘBICKA Agnieszka RĘBECKA Adam ŻÓRAWSKI WZORCOWANIE SPEKTROFOTOMETRÓW ŹRÓDŁA BŁĘDÓW (CZ. 1) STRESZCZENIE Zgodnie z wymaganiami normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005 Ogólne wymagania dotyczące kompetencji
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ
60-965 Poznań Grupa: Elektrotechnika, sem 3., Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium wersja z dn. 03.11.2015 Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ Opracowanie wykonano na podstawie
Bardziej szczegółowo(Tekst mający znaczenie dla EOG) (2014/C 22/02)
24.1.2014 Dziennik Urzędowy Unii Europejskiej C 22/17 Komunikat Komisji w ramach wykonania rozporządzenia Komisji (WE) nr 244/2009 z dnia 18 marca 2009 r. w sprawie wykonania dyrektywy 2005/32/WE Parlamentu
Bardziej szczegółowoNOWE METODY KSZTAŁTOWANIA CHARAKTERYSTYK CZUŁOŚCI WIDMOWEJ FOTOODBIORNIKÓW KRZEMOWYCH
Roman BRACZKOWSKi NOWE METODY KSZTAŁTOWANIA CHARAKTERYSTYK CZUŁOŚCI WIDMOWEJ FOTOODBIORNIKÓW KRZEMOWYCH STRESZCZENIE W referacie omówię nowe fotoodbiorniki z kształtowaniem charakterystyk czułości widmowej.
Bardziej szczegółowoGrupa: Elektrotechnika, sem 3., wersja z dn Technika Świetlna Laboratorium
tel. (0-61) 665688 fax (0-61) 665389 Grupa: Elektrotechnika, sem 3., wersja z dn. 0.10.007 Technika Świetlna Laboratorium Ćwiczenie nr 4 Temat: POMIAR ŚWIATŁOŚCI KIERUNKOWEJ METODĄ OBIEKTYWNĄ Opracowanie
Bardziej szczegółowoObliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wielkości wejściowych
Obliczanie niepewności rozszerzonej metodą analityczną opartą na splocie rozkładów wejściowych Paweł Fotowicz * Przedstawiono ścisłą metodę obliczania niepewności rozszerzonej, polegającą na wyznaczeniu
Bardziej szczegółowoLaboratorium Sprzętu Oświetleniowego
Laboratorium Sprzętu Oświetleniowego Specjalność: Technika Świetlna, sem.7, studia I stopnia Wersja z dnia 24.10.2011 Prowadzący: Krzysztof Wandachowicz Nr ćw. Temat 1 Badanie parametrów początkowych,
Bardziej szczegółowoSTANOWISKO DO POMIARU ROZKŁADU WIDMOWEGO PROMIENIOWANIA LAMP KSENONOWYCH
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 73 Electrical Engineering 2013 Joanna RATAJCZAK* Grzegorz WICZYŃSKI* Konrad DOMKE* STANOWISKO DO POMIARU ROZKŁADU WIDMOWEGO PROMIENIOWANIA LAMP KSENONOWYCH
Bardziej szczegółowoSłowa kluczowe: wzorcowanie, spektrofotometria, widmowy współczynnik przepuszczania, wzorce neutralne, wzorce napylane, wzorce ciekłe
Agnieszka CHRZĄSTEK Justyna KAŁUŻA ANALIZA WYNIKÓW WZORCOWANIA WZORCÓW WIDMOWEGO WSPÓŁCZYNNIKA PRZEPUSZCZANIA I GĘSTOŚCI OPTYCZNEJ WIDMOWEGO WSPÓŁCZYNNIKA PRZEPUSZCZANIA Z UŻYCIEM FILTRÓW NEUTRALNYCH,
Bardziej szczegółowoOświetlenie 1. Zakres wykładu. Podstawy techniki świetlnej Źródła światła Oprawy oświetleniowe Technika oświetlania. dr inż.
Politechnika Warszawska Oświetlenie 1 dr inż. Piotr Pracki Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny Zakład Techniki Świetlnej Politechnika Warszawska Zakres wykładu Podstawy techniki świetlnej Źródła
Bardziej szczegółowoPROGRAM BADAN BIEGŁOŚCI PT-OS-01 POMIAR NATĘŻENIA OŚWIETLENIA. OŚWIETLENIE MIEJSC PRACY.
An-Lab Ochrona Środowiska i Bezpieczeństwo Pracy Andrzej Uzarczyk CKŚ SANTE Laboratorium Badawcze Jan Maryn Data wydania: 01.06.2017 PROGRAM BADAN BIEGŁOŚCI POMIAR NATĘŻENIA OŚWIETLENIA. OŚWIETLENIE MIEJSC
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami
Bardziej szczegółowoSchemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę.
Ćwiczenie 3. Parametry spektralne detektorów. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi parametrami detektorów i ich podstawowych parametrów. Poznanie zależności związanych z oddziaływaniem
Bardziej szczegółowoII. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego
1 II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej termicznego źródła promieniowania (lampa halogenowa)
Bardziej szczegółowoCHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW
CHARAKTERYSTYKA PIROMETRÓW I METODYKA PRZEPROWADZANIA POMIARÓW Wykaz zagadnień teoretycznych, których znajomość jest niezbędna do wykonania ćwiczenia: Prawa promieniowania: Plancka, Stefana-Boltzmana.
Bardziej szczegółowoMetody szacowania niepewności pomiarów w Laboratorium Automatyki i Telekomunikacji
Metody szacowania niepewności pomiarów w Laboratorium Automatyki i Telekomunikacji mgr inż. Krzysztof Olszewski, inż. Tadeusz Główka Seminarium IK - Warszawa 21.06.2016 r. Plan prezentacji 1. Wstęp 2.
Bardziej szczegółowoSesja referatowa IV: Metrologia i sprzęt oświetleniowy. XXI Krajowa Konferencja Oświetleniowa Technika Świetlna 2012 Warszawa 22 23 listopada 2012
Sesja referatowa IV: Metrologia i sprzęt oświetleniowy DZIEŃ DOBRY Przemysław Tabaka e-mail: przemyslaw.tabaka@.tabaka@wp.plpl POLITECHNIKA ŁÓDZKA Instytut Elektroenergetyki WPROWADZENIE Od kilkudziesięciu
Bardziej szczegółowoSPIS TREŚCI do książki pt. Metody badań czynników szkodliwych w środowisku pracy
SPIS TREŚCI do książki pt. Metody badań czynników szkodliwych w środowisku pracy Autor Andrzej Uzarczyk 1. Nadzór nad wyposażeniem pomiarowo-badawczym... 11 1.1. Kontrola metrologiczna wyposażenia pomiarowego...
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3 Temat: Oznaczenia mierników, sposób podłączania i obliczanie błędów Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 3 Temat: Oznaczenia mierników, sposób podłączania i obliczanie błędów Cel ćwiczenia Zaznajomienie się z oznaczeniami umieszczonymi na przyrządach i obliczaniem błędów pomiarowych. Obsługa przyrządów
Bardziej szczegółowoWYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI
WYDZIAŁ Podstawowych Problemów Techniki Zał. nr 4 do ZW 33/01 KARTA PRZEDMIOTU Nazwa w języku polskim..fotometria i kolorymetria. Nazwa w języku angielskim.photometry and colorimetry. Kierunek studiów
Bardziej szczegółowoRODZINA LUKSOMIERZY L-200 L-210 L-220 INSTRUKCJA OBSŁUGI
RODZINA LUKSOMIERZY L-200 L-210 L-220 INSTRUKCJA OBSŁUGI PPUH SONOPAN Sp. z o.o. ul. Ciołkowskiego 2/2 15-950 Białystok tel./fax: 85 742 36 62 http://www.sonopan.com.pl listopad 2018 SPIS TREŚCI 1. CHARAKTERYSTYKA...
Bardziej szczegółowoZALECENIA NORM MIĘDZYNARODOWYCH DOTYCZĄCE POMIARÓW PARAMETRÓW FOTOMETRYCZNYCH MATERIAŁÓW FOSFORESCENCYJNYCH
Grzegorz SZAJNA ZALECENIA NORM MIĘDZYNARODOWYCH DOTYCZĄCE POMIARÓW PARAMETRÓW FOTOMETRYCZNYCH MATERIAŁÓW FOSFORESCENCYJNYCH STRESZCZENIE W referacie omówiono w jaki sposób zostały zrealizowane w Laboratorium
Bardziej szczegółowoStanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa
Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa Kraków 2008 Układ pomiarowy. Pomiar czułości widmowej fotodetektorów polega na pomiarze fotoprądu w funkcji długości padającego na detektor promieniowania. Stanowisko
Bardziej szczegółowoŚWIADECTWO WZORCOWANIA
(logo organizacji wydającej świadectwa) (Nazwa, adres, e-mail i nr telefonu organizacji wydającej świadectwo) Laboratorium wzorcujące akredytowane przez Polskie Centrum Akredytacji, sygnatariusza porozumień
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZEIE 8 WYZACZAIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJEJ Opis teoretyczny do ćwiczenia zamieszczony jest na stronie www.wtc.wat.edu.pl w dziale DYDAKTYKA FIZYKA ĆWICZEIA LABORATORYJE. Opis
Bardziej szczegółowoPomiar współczynnika pochłaniania światła
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. grupa II Termin: 12 V 2009 Nr. ćwiczenia: 431 Temat ćwiczenia: Pomiar współczynnika pochłaniania światła Nr. studenta:
Bardziej szczegółowoLaboratorium Sprzętu Oświetleniowego
Laboratorium Sprzętu Oświetleniowego wersja z dnia 08.10.2015 Specjalność: Technika Świetlna, sem. 7, studia stacjonarne I stopnia Termin: Czwartek godz. 9:45 15:45 Prowadzący: Krzysztof Wandachowicz Nr
Bardziej szczegółowoSTUDIA NIESTACJONARNE ELEKTROTECHNIKA Laboratorium PODSTAW TECHNIKI ŚWIETLNEJ. Temat: POMIAR STRUMIENIA ŚWIETLNEGO I WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK
STUDIA NIESTACJONARNE ELEKTROTECHNIKA Laboratorium PODSTAW TECHNIKI ŚWIETLNEJ Temat: POMIAR STRUMIENIA ŚWIETLNEGO I WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK NAPIĘCIOWYCH śarówek Opracowanie wykonano na podstawie następującej
Bardziej szczegółowoCo to jest współczynnik oddawania barw?
Co to jest współczynnik oddawania barw? Światło i kolor Kolory są wynikiem oddziaływania oświetlenia z przedmiotami. Różne źródła światła mają różną zdolność do wiernego oddawania barw przedmiotów Oddawanie
Bardziej szczegółowoFotometria i kolorymetria
3. Podstawy fotometrii wzrokowej i fizycznej (metody: wzrokowe, filtru, odchyłowa, zrównania; zasady: migotania, kontrastu). http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/fotometria.html Miejsce i termin konsultacji
Bardziej szczegółowoŚWIADECTWO WZORCOWANIA 1)
(logo organizacji wydającej świadectwa) (Nazwa, adres, e-mail i nr telefonu organizacji wydającej świadectwo) Laboratorium wzorcujące akredytowane przez Polskie Centrum Akredytacji, sygnatariusza porozumień
Bardziej szczegółowoBARWA. Barwa postrzegana opisanie cech charakteryzujących wrażenie, jakie powstaje w umyśle;
BARWA Barwa postrzegana opisanie cech charakteryzujących wrażenie, jakie powstaje w umyśle; Barwa psychofizyczna scharakteryzowanie bodźców świetlnych, wywołujących wrażenie barwy; ODRÓŻNIENIE BARW KOLORYMETR
Bardziej szczegółowoBADANIE I ANALIZA WYPADKOWEGO ROZKŁADU WIDMOWEGO PROMIENIOWANIA LAMP HALOGENOWYCH I KSENONOWYCH 1. WPROWADZENIE
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADEMIC JOURNALS No 73 Electrical Engineering 2013 Joanna RATAJCZAK* Grzegorz WICZYŃSKI* Konrad DOMKE* BADANIE I ANALIZA WYPADKOWEGO ROZKŁADU WIDMOWEGO PROMIENIOWANIA
Bardziej szczegółowoPiotr Targowski i Bernard Ziętek WYZNACZANIE MACIERZY [ABCD] UKŁADU OPTYCZNEGO
Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Piotr Targowski i Bernard Ziętek Pracownia Optoelektroniki Specjalność: Fizyka Medyczna WYZNAZANIE MAIERZY [ABD] UKŁADU OPTYZNEGO Zadanie II Zakład Optoelektroniki
Bardziej szczegółowoWykonał: Grzegorz Bączek
Praca dyplomowa magisterska Kierujący pracą: dr inż. Piotr Tomczuk Konsultant: dr inż. Marek Buda Wykonał: Grzegorz Bączek Zakres pracy: 1. Wstęp. 2. Charakterystyka rodzajów sygnalizatorów stosowanych
Bardziej szczegółowoJ Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów
J 10.1. Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA Obowiązujące zagadnienia teoretyczne: 1. Podstawy teorii pasmowej ciał stałych metale, półprzewodniki, izolatory
Bardziej szczegółowoWydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r.
. POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI POLITYKA POLSKIEGO CENTRUM AKREDYTACJI DOTYCZĄCA ZAPEWNIENIA SPÓJNOŚCI POMIAROWEJ Wydanie 3 Warszawa, 20.06.2007 r. 1. Wstęp Niniejsza Polityka jest zgodna z dokumentem ILAC-P10:2002
Bardziej szczegółowoPOMIAR NATĘŻENIA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY
POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA KATEDRA ZARZĄDZANIA PRODUKCJĄ Instrukcja do zajęć laboratoryjnych z przedmiotu: Podstawy techniki i technologii Kod przedmiotu: ISO 0123, INO 0123 Ćwiczenie Nr 18 POMIAR NATĘŻENIA
Bardziej szczegółowoOkreślanie niepewności pomiaru
Określanie niepewności pomiaru (Materiały do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu Materiałoznawstwo na wydziale Górnictwa i Geoinżynierii) 1. Wprowadzenie Pomiar jest to zbiór czynności mających na celu
Bardziej szczegółowoI. Pomiary charakterystyk głośników
LABORATORIUM ELEKTROAKUSTYKI ĆWICZENIE NR 4 Pomiary charakterystyk częstotliwościowych i kierunkowości mikrofonów i głośników Cel ćwiczenia Ćwiczenie składa się z dwóch części. Celem pierwszej części ćwiczenia
Bardziej szczegółowoFotometria i kolorymetria
6. Podstawowe pomiary radio- i fotometryczne (pomiar światłości, luminancji, wyznaczanie przestrzennego rozkładu światła; pomiar strumienia świetlnego; fizyczny pomiar natężenia oświetlenia; pomiar temperatury
Bardziej szczegółowoKaskadowy sposób obliczania niepewności pomiaru
Kaskadowy sposób obliczania niepewności pomiaru Pomiary Automatyka Robotyka 5/2004 Paweł Fotowicz Zaproponowane postępowanie pozwala na wykonywanie szybkich obliczeń niepewności, przy użyciu arkusza kalkulacyjnego.
Bardziej szczegółowoIV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego
1 V. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności fotoprądu zwarcia i fotonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii słonecznej.
Bardziej szczegółowoOCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA
Przemysław TABAKA OCENA PRZYDATNOŚCI FARBY PRZEWIDZIANEJ DO POMALOWANIA WNĘTRZA KULI ULBRICHTA STRESZCZENIE W fotometrii do pomiarów strumienia świetlnego używa się lumenomierzy przestrzennych, które zwykle
Bardziej szczegółowoSprawdzanie prawa Ohma i wyznaczanie wykładnika w prawie Stefana-Boltzmanna
Sprawdzanie prawa Ohma i wyznaczanie wykładnika w prawie Stefana-Boltzmanna Wprowadzenie. Prawo Stefana Boltzmanna Φ λ nm Rys.1. Prawo Plancka. Pole pod każdą krzywą to całkowity strumień: Φ c = σs T 4
Bardziej szczegółowoPOMIARY FOTOMETRYCZNE
ĆWICZENIE 70 POMIARY FOTOMETRYCZNE Cel ćwiczenia: pomiar światłości oraz natężenia oświetlenia z zastosowaniem metod fizycznych (część A) i wizualnych (część B); poznanie budowy i zasady działania fotometru
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoGrupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej
Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 29.03.2016 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 5. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓŻYCH WŁASOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska, Zakład Techniki Świetlnej i Elektrotermii. Oświetlenie awaryjne i inne nowe normy i zalecenia
Małgorzata Górczewska Politechnika Poznańska, Zakład Techniki Świetlnej i Elektrotermii Oświetlenie elektryczne Oświetlenie awaryjne i inne nowe normy i zalecenia Streszczenie: Normy oświetleniowe, obowiązujące
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoWstępne propozycje tematów prac dyplomowych:
Serdecznie zapraszam na konsultacje studentów z własnymi pomysłami na tematy prac dyplomowych z dziedziny elektrotechniki i oświetlenia w transporcie. Szczególnie aktualna jest tematyka elektrotechniki
Bardziej szczegółowoUNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja
UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2 Elektroluminescencja SZCZECIN 2002 WSTĘP Mianem elektroluminescencji określamy zjawisko emisji spontanicznej
Bardziej szczegółowoLaboratorium Sprzętu Oświetleniowego
Laboratorium Sprzętu Oświetleniowego Specjalność: Technika Świetlna, sem. 9, studia stacjonarne jednolite Termin: Wtorek godz. 11:15-14:00, Czwartek godz. 11:45 14:30 Prowadzący: Krzysztof Wandachowicz
Bardziej szczegółowoZASTOSOWANIE KALIBRATORÓW DO ADIUSTACJI, WZORCOWANIA I SPRAWDZANIA URZĄDZEŃ
II Konferencja aukowa KWS'05 "Informatyka- sztuka czy rzemios o" 15-18 czerwca 2005, Z otniki Luba skie ZASOSOWAIE KALIBRAORÓW DO ADIUSACJI, WZORCOWAIA I SPRAWDZAIA URZĄDZEŃ Andrzej Olencki Instytut Informatyki
Bardziej szczegółowoPROGRAM PORÓWNAŃ MIĘDZYLABORATORYJNYCH
Dokumentacja wykonana w ramach projektu SPOWKP/1.1.2/183/032 INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY JEDNOSTKA DS. PORÓWNAŃ MIĘDZYLABORATORYJNYCH PROGRAM PORÓWNAŃ MIĘDZYLABORATORYJNYCH W ZAKRESIE
Bardziej szczegółowoZASADY WYKONYWANIA POMIARÓW PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO NA STANOWISKACH PRACY
Andrzej PAWLAK ZASADY WYKONYWANIA POMIARÓW PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO NA STANOWISKACH PRACY STRESZCZENIE W referacie tym, na podstawie zapisów zawartych w aktualnych normach z zakresu promieniowania optycznego,
Bardziej szczegółowoBŁĘDY W POMIARACH BEZPOŚREDNICH
Podstawy Metrologii i Technik Eksperymentu Laboratorium BŁĘDY W POMIARACH BEZPOŚREDNICH Instrukcja do ćwiczenia nr 2 Zakład Miernictwa i Ochrony Atmosfery Wrocław, listopad 2010 r. Podstawy Metrologii
Bardziej szczegółowoPOMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO
Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Elektroniczne przyrządy i techniki pomiarowe POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO Grupa Nr
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk
Bardziej szczegółowoParametry świetlne. Parametry elektryczne. Parametry mechaniczne. Parametry eksploatacyjne
Dane podstawowe Rodzina produktów Typ oprawy Zintegrowany zasilacz Producent chipów LED Producent zasilacza Możliwości montażu Sterowanie Certyfikaty Gwarancja Parametry znamionowe HiRack Oprawa przemysłowa
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 2 Temat: POMIAR STRUMIENIA ŚWIETLNEGO ŻARÓWEK I ZINTEGROWANYCH ŚWIETLÓWEK KOMPAKTOWYCH.
Grupa: Elektrotechnika, sem 3., wersja z dn. 04.10.2011 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 2 Temat: POMIAR STRUMIENIA ŚWIETLNEGO ŻARÓWEK I ZINTEGROWANYCH ŚWIETLÓWEK KOMPAKTOWYCH. Opracowanie
Bardziej szczegółowoOCENA PARAMETRÓW FOTOMETRYCZNYCH, KOLORYMETRYCZNYCH I ELEKTRYCZNYCH WYBRANYCH ZAMIENNIKÓW ŻARÓWEK TRADYCYJNYCH 100 W
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 92 Electrical Engineering 2017 DOI 10.21008/j.1897-0737.2017.92.0014 Stanisław SZWEDEK* Małgorzata ZALESIŃSKA* Małgorzata GÓRCZEWSKA* OCENA PARAMETRÓW
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska
1 II PRACOWNIA FIZYCZNA: FIZYKA ATOMOWA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie
Bardziej szczegółowoOcena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia
Ocena i wykorzystanie informacji podanych w świadectwach wzorcowania i świadectwach materiałów odniesienia XIX Sympozjum Klubu POLLAB Kudowa Zdrój 2013 Jolanta Wasilewska, Robert Rzepakowski 1 Zawartość
Bardziej szczegółowo