Fotonika. Plan: Wykład 9: MOEMS. MEMS, MOEMS, NEMS wprowadzenie Podział Przykładowe realizacje i koncepcje

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Fotonika. Plan: Wykład 9: MOEMS. MEMS, MOEMS, NEMS wprowadzenie Podział Przykładowe realizacje i koncepcje"

Transkrypt

1 Wykład 9: MOEMS Plan: MEMS, MOEMS, NEMS wprowadzenie Podział Przykładowe realizacje i koncepcje

2 MEMS, NEMS, MOEMS Terminologia: MEMS Micro-Electro-Mechanical-System MOEMS Micro-Opto-Electro-Mechanical-System MOMS Micro-Opto-Mechanical-System MST MicroSystem Technology (w Europie) NEMS Nano-Electro-Mechanical-Systems Micromachining technologie związane z produkcję mikroukładów

3 MEMS, NEMS, MOEMS

4 MEMS, NEMS, MOEMS Mikro-ława optyczna Ława optyczna

5 MEMS, NEMS, MOEMS

6 Schemat realizacji elementów MEMS/MOEMS PROJEKT CEL MODELOWANIE KONCEPCJA REALIZACJI WYKONANIE Duża liczba konkurencyjnych układów WYBÓR NAJLEPSZEGO OPTYMALIZACJA Niski koszt POWIELENIE SPRZEDAŻ

7 stół optyczny macierze mikrozwierciadeł LCD reaktory chemiczne Fotonika MEMS, NEMS, MOEMS - podział Optyka Siłowniki zwierciadła dzielnik wiązki soczewki Fresnela soczewki refrakcyjne Systemy comb-drive comb-drive silnik ugięcie

8 MEMS, NEMS, MOEMS - podział Wyróżniamy dwa rodzaje układów typu MEMS: powierzchniowe (surface) objętościowe (bulk) Ze względu na rodzaj wykorzystywanej siły układy MEMS dzielimy na: układy elektrostatyczne układy piezoelektryczne układy magnetyczne układy pneumatyczne Ze względu na rodzaj wykonywanych zadań układy MEMS dzielimy na: siłowniki detektory, mierniki reaktory chemiczne mieszacze wyświetlacze elementy pasywne modulatory

9 MEMS, NEMS, MOEMS Rodzaje siłowników mechanizm działania: elektrostatyczne piezoelektryczne membranowe termiczne stopy z pamięcią kształtu pneumatyczno-hydrauliczne elastomerowe magnetyczne chemiczne biologiczne Rodzaje siłowników - funkcja: belki comb-drive motory zawory rezonatory mechaniczne przełączniki zwierciadła szczypce

10 MEMS, NEMS, MOEMS - podział Detektory - funkcja: pomiar przyspieszenia żyroskop pomiar ciśnienia pomiar odległości pomiar sił makroskopowych pomiar sił atomowych pomiary pól: elektrycznego, magnetycznego pomiar temperatury interferometry

11 MEMS, NEMS, MOEMS Rodzaj oddziaływania Pojemność elektryczna temperatura Piezoopór Piezoelektryczne Magnetyczne Tunelowanie Optyka Mierzona wielkość ΔC, Δf (częstotliwość) ΔR (przesunięcie) ΔR (przesunięcie) ΔV Efekt Halla ΔI ΔT, ΔI, dufrakcja

12 r S 3 2 * * lt r a f l m F y 2 3 * * a b el m Fotonika MEMS, NEMS, MOEMS skalowanie

13 MEMS, NEMS, MOEMS MEMS Zalety brak ręcznego ustawiania integracja wielu funkcji w jeden układ masowa produkcja małe wymiary mały pobór energii szybkość działania małe bezwładności niska cena

14 MEMS, NEMS, MOEMS - belka Przestrajany mechanicznie VCSEL belka zwierciadła Bragga obszar czynny podstawa Parametry belek dla różnych półprzewodników: Rozmiar [mm] (dl x szer x grub) materiał 100 x 3 x 0,1 10 x 0,2 x 0,1 1 x 0,05 x 0,05 0,1 x 0,01 x 0,01 SiC 19 khz 1,9 MHz 93 MHz 1,9 GHz Si 12 khz 1,2 MHz 60 MHz 1,2 GHz GaAs 6,5 khz 0,65 MHz 32 MHz 0,65 GHz

15 MEMS, NEMS, MOEMS - belka Strukturę typu belka można zrobić na trzy sposoby: Metoda 1: Metoda 2: Metoda 3:

16 MEMS, NEMS, MOEMS

17 MEMS, NEMS, MOEMS pomiar temperatury promieniowanie termiczne Materiał 1 Materiał 2 oświetlacz Kamera termowizyjna detektor promieniowanie termiczne

18 MEMS, NEMS, MOEMS comb-drive zasada działania Siła elektrostatyczna k m + V - g E A Siła nie zależy od odległości Zalety: liniowa zależność między napięciem a ugięciem niskie napięcie pracy (duża powierzchnia elektrod) V przyciąganie elektrostatyczne (niski pobór mocy) - mw szybkość pracy 100 MHz

19 MEMS, NEMS, MOEMS comb-drive Przyciąganie Wyrównywanie Wciąganie

20 MEMS, NEMS, MOEMS comb-drive

21 MEMS, NEMS, MOEMS

22 MEMS, NEMS, MOEMS comb-drive Układ z dużym względnym przesunięciem XY Układ z małym względnym przesunięciem XY

23 MEMS, NEMS, MOEMS comb-drive (inne możliwości)

24 MEMS, NEMS, MOEMS kołowy comb-drive

25 MEMS, NEMS, MOEMS kołowy comb-drive

26 MEMS, NEMS, MOEMS szczypce (tweezer) Problemy z manipulacją małymi obiektami: jak je odczepić jak przymocować

27 MEMS, NEMS, MOEMS Układ z wymiennymi końcówkami

28 MEMS, NEMS, MOEMS szczypce Układ z wymiennymi końcówkami

29 MEMS, NEMS, MOEMS

30 MEMS, NEMS, MOEMS przesuw na duże odległości Układ z mikrosilniczkiem i śrubą Sprężyny do przesuwu na duże odległości

31 MEMS, NEMS, MOEMS przesuw na duże odległości Układ comb-drive napęda koło zębate napędza linijkę zębatą

32 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny

33 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny

34 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny Etapy produkcji silnika elektrostatycznego w technologii litograficznej

35 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny

36 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny

37 MEMS, NEMS, MOEMS silnik elektrostatyczny

38 MEMS, NEMS, MOEMS koła zębate

39 MEMS, NEMS, MOEMS koła zębate

40 MEMS, NEMS, MOEMS koła zębate

41 MEMS, NEMS, MOEMS

42 MEMS, NEMS, MOEMS skrzynia biegów

43 MEMS, NEMS, MOEMS mikro wiatraczki

44 MEMS, NEMS, MOEMS układy skrobiące (scratch drive) Istotna jest siła tarcia

45 MEMS, NEMS, MOEMS Mikro-tester wytrzymałości na zrywanie Próbka poddawana obciążeniu Elementy kroczące

46 MEMS, NEMS, MOEMS - skanery Różnego rodzaju skanery znalazły szerokie zastosowanie. Do najważniejszych należą: skanery oparte na SLM skanery zwierciadlane 1D, 2D wyświetlacze projektorowe czytniki kodów paskowych przełączniki

47 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 1D (lustro uchylne)

48 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 1D (lustro torsyjne)

49 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 1D (lustro torsyjne)

50 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 1D (comb-drive)

51 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 1D (siłowniki termiczne)

52 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D na bazie skanera 1D

53 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D (elektrostatyczny)

54 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D Parametry elektrostatycznego skanera 2D: skanowanie: ±14º i ±7º rozmiar zwierciadła: 400x400 mm 2 częstość pracy: 500 Hz napięcie sterowania: ~100V możliwość tworzenia dowolnych wzorów

55 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D (elektrostatyczny)

56 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D (magnetyczny) Do sterowania wykorzystana jest siła Lorentza

57 MEMS, NEMS, MOEMS skaner 2D (combdrive, mikrosoczewka)

58 MEMS, NEMS, MOEMS układy 2,5 D

59 MEMS, NEMS, MOEMS układy 2,5 D

60 MEMS, NEMS, MOEMS układy 2,5 D

61 MEMS, NEMS, MOEMS

62 MEMS, NEMS, MOEMS układy 2,5 D Układy podnoszone przez krople kurczące się po podgrzaniu

63 MEMS, NEMS, MOEMS układy planarne phase contrast filter (PCF)

64 MEMS, NEMS, MOEMS przełączniki światłowodowe Rodzaje przełączników światłowodowe zwierciadlane polaryzacyjne sprzęgaczowe

65 MEMS, NEMS, MOEMS przełączniki zwierciadlane

66 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik odchylane lustra

67 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik odchylane lustra

68 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik wsuwane lustra

69 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik wsuwane lustra

70 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik podnoszone lustra

71 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik odchylane lustra

72 MEMS, NEMS, MOEMS Nie mogą być dowolne wielkości ze względu na gaussowskość wiązki

73 MEMS, NEMS, MOEMS przełączniki siatkowe

74 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik kroplowy

75 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik kroplowy Pęcherzyk powietrza lub oleju

76 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik soczewkowy

77 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik przesuw światłowodu

78 MEMS, NEMS, MOEMS przełączniki światłowodowe

79 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik światłowodowy soczewka dzielnik wiązki

80 MEMS, NEMS, MOEMS przełącznik elektryczny OFF ON Częstość pracy do 3 GHz

81 MEMS, NEMS, MOEMS mikroskop sił atomowych (AFM) Atom Force Microscope - Odczyt prądu lub elektrostatycznie Macierz detektorów (odległość ~5mm)

82 MEMS, NEMS, MOEMS mikroskop sił atomowych Do sterowania układu wykorzystuje się układy elektrostatyczne. Przesunięcie o 1 nm uzyskuje się przy zmianie prądu o 10 mv przy prądzie rzędu 100 V)

83 MEMS, NEMS, MOEMS mikroskop sił atomowych

84 MEMS, NEMS, MOEMS - SNOM Scanning Near-field Optical Microscope - SNOM

85 MEMS, NEMS, MOEMS pamięć mechaniczna (millipede) Możliwe stany pracy: Zapis wgniecenie Odczyt opuszczenie Wymazanie podgrzanie + wyciągniecie

86 MEMS, NEMS, MOEMS pamięć mechaniczna 25 dźwigni 1024 dźwigni

87 MEMS, NEMS, MOEMS czujniki ciśnienia pojemnościowy Bezprzewodowy (zmiana pola magnetycznego) 1. Szkło 2. Krzem 3. Selenoid 4. Warstwa złota 5. Podpora

88 MEMS, NEMS, MOEMS czujniki ciśnienia Optyczny

89 MEMS, NEMS, MOEMS pomiar przyspieszenia Układ oparty na comb-drivach

90 MEMS, NEMS, MOEMS - żyroskop c y c x m k x k y

91 MEMS, NEMS, MOEMS - żyroskop

92 MEMS, NEMS, MOEMS - żyroskop

93 MEMS, NEMS, MOEMS - żyroskop

94 MEMS, NEMS, MOEMS - żyroskop

95 MEMS, NEMS, MOEMS - sejsmometr

96 MEMS, NEMS, MOEMS - rezonatory Rezonator 3 MHz Rezonator 2 GHz Rezonator 1 THz

97 MEMS, NEMS, MOEMS układy oparte na dyfrakcji Pomiar ciśnienia: Pomiar przyspieszenia:

98 MEMS, NEMS, MOEMS - interferometry Sterowane zwierciadło interferencyjne Czułe na przyspieszenie zwierciadło zawieszone na ramce. Demultiplexer oparty na interferencji

99 MEMS, NEMS, MOEMS interferometr Michelsona WE WY

100 MEMS, NEMS, MOEMS interferometr siatkowy

101 MEMS, NEMS, MOEMS - spektrometr

102 MEMS, NEMS, MOEMS - mikrosoczewki

103 MEMS, NEMS, MOEMS mikrosoczewki fresnelowskie

104 MEMS, NEMS, MOEMS - mikropryzmaty

105 MEMS, NEMS, MOEMS soczewki cieczowe

106 MEMS, NEMS, MOEMS - sprężyny

107 MEMS, NEMS, MOEMS - mikroprzepływy Parametry istotne przy projektowaniu układów mikroprzepływów: lepkość menisk wklęsły, wypukły tarcie przepływu wiry siły działające na zakrętach ciśnienie Wykonywanie kanałów przepływowych

108 MEMS, NEMS, MOEMS mikroreaktory chemiczne

109 MEMS, NEMS, MOEMS mikroreaktory chemiczne Elementy: mieszacze rozdzielacze reaktory chemiczne strzykawki, dozowniki preparatory pompy analizatory elementy transportowe (kanały) rezerwuary elementy kontroli przepływu i ciśnienia mieszacz reaktor kanały pompa membranowa

110 MEMS, NEMS, MOEMS - mikropompy Rodzaje pomp: Bezzaworowe piezoelektryczne termo-pneumatyczne elektrostatyczne Zaworowe elektro-hydrodynamiczne dyfuzyjne elektroosmotyczne bąbelkowe Pompa elektroosmotyczna Pompa elektro-hydrodynamiczna

111 MEMS, NEMS, MOEMS Pompa rotorowa tłok pompy rotorowej Pompa membranowa Pompa Archimedesa

112 MEMS, NEMS, MOEMS - mikropompy

113 MEMS, NEMS, MOEMS - mikromieszcze Rodzaje mieszaczy - przepływowe

114 MEMS, NEMS, MOEMS Rodzaje mieszaczy przepływowe rapid prototyping silicon guma ceramika

115 MEMS, NEMS, MOEMS mikromieszcacze strumieniowe

116 MEMS, NEMS, MOEMS mikromieszacze strumieniowe

117 MEMS, NEMS, MOEMS mikrodetektory chemiczne Rodzaje detektorów: Optyczne: fluorescencja absorpcja rozpraszanie współczynnik załamania radiacja plazmony Elektrochemiczne: amperomierz potencjometr pomiar przewodności Mechaniczne Termiczne Chemiczne Magnetyczne Piezoelektryczne

118 MEMS, NEMS, MOEMS Przykłady wykorzystania: elektroforeza 1D, 2D chromatografia gazowa chromatografia cieczowa embriologia macierzowa hybrydyzacja DNA PCR (polimerazowa reakcja łańcuchowa)

119 MEMS, NEMS, MOEMS czujniki gazu Chromatograf gazowy

120 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Zalety w stosowaniu układów MEMS w zastosowaniach medycznych: niższe koszty mniejsza inwazyjność zabiegów zmniejszenie ilości potrzebnych próbek, np. krwi szybkość uzyskiwania wyników krótsze zabiegi łatwość użycia

121 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Elektroforeza

122 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Czujniki oparte na fluorescencji wymuszonej laserem

123 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Macierz mikro-igieł do dozowania lekarstw

124 MEMS, NEMS, MOEMS- medycyna Macierz DNA

125 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Pomiar aktywności elektrycznej komórki

126 MEMS, NEMS, MOEMS - medycyna Sztuczna skóra Wielkość pojedynczego detektora - 3x3 mm

127 MEMS, NEMS, MOEMS czujnik ciśnienia

128 MEMS, NEMS, MOEMS - magnetyczne czujnik lub silnik elektro-magnetyczny efekt Halla zwierciadło deformowalne przełącznik elektro-magnetyczny

129 MEMS, NEMS, MOEMS magnetoopór GMR Giant magnetoresistance gigantyczny magnetoopór 2 warstwy ferromagnetyczne (np. kobalt lub żelazo) rozdzielone warstwą metalu nie magnetycznego (np. miedź). Jedna warstwa ferromagnetyczna jest namagnesowana ze stałą orientacją. Namagnesowanie drugiej warstwy może się zmieniać. Natężenie prądu przepływającego przez te warstwy ma wartość maksymalną gdy kierunki namagnesowania są zgodne.

130 MEMS, NEMS, MOEMS - magnetoopór

131 MEMS, NEMS, MOEMS filtr strojony

132 MEMS, NEMS, MOEMS optyka adaptatywna

133 MEMS, NEMS, MOEMS optyka adaptatywna Deformowalne membrany

134 MEMS, NEMS, MOEMS optyka adaptatywna Deformowalne membrany

135 MEMS, NEMS, MOEMS - wyświetlacze Wyróżniamy kilka rodzajów wyświetlaczy: oparte na mikrozwierciadłach (DMD) ciekłokrystaliczne (LCD) TFT oparte na diodach organicznych (OLED) oparte na membranie mikrozwierciadła LCD membrana

136 MEMS, NEMS, MOEMS - wyświetlacze Wyświetlacze oparte na mikrozwierciadłach

137 MEMS, NEMS, MOEMS - wyświetlacze Wyświetlacze oparte na mikrozwierciadłach

138 MEMS, NEMS, MOEMS- wyświetlacze Wyświetlacze oparte na mikrozwierciadłach

139 MEMS, NEMS, MOEMS- wyświetlacze Wyświetlacze ciekłokrystaliczne

140 MEMS, NEMS, MOEMS Wyświetlacze ciekłokrystaliczne

141 MEMS, NEMS, MOEMS wyświetlacze OLED, MOLED, PLED

142 MEMS, NEMS, MOEMS papier elektroniczny Polimery przewodzące Pomalowane kulki

143 MEMS, NEMS, MOEMS - mikrofon Mikrofon

144 MEMS, NEMS, MOEMS - pneumatyczne

145 MEMS, NEMS, MOEMS modyfikacja siły nośnej

146 MEMS, NEMS, MOEMS modyfikacja siły nośnej

147 t=0 s t=10 ms t=25 ms t=50 ms Fotonika MEMS, NEMS, MOEMS mikro silniki odrzutowe

148 MEMS, NEMS, MOEMS Układy MEMS które odniosły sukces komercyjny: drukarki atramentowe papier

149 mikroprobówki mikrokanały Fotonika MEMS, NEMS, MOEMS mikroreaktory chemiczne mtas Micro Total Analysis System Założena: Jeden układ do przeprowadzenia całościowej analizy chemicznej Wykonany w skali mikro z użyciem dostępnych technologii w postaci scalonej Nie wymaga zewnętrznego udziału operatora Zalety: Szybki Przenośny Łatwy w użyciu Elastyczny w zastosowaniach Tani Modularny

150 MEMS, NEMS, MOEMS - mikrooptyka Wprowadzanie/wyprowadzanie światła do/z światłowodu:

151 MEMS, NEMS, MOEMS - mikrooptyka Most optyczny:

152 MEMS, NEMS, MOEMS - mikrooptyka Łączenie macierzy światłowodów:

153 MEMS, NEMS, MOEMS kryształy fotoniczne

154 MEMS, NEMS, MOEMS światłowody fotoniczne SKALOWANIE

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki)

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Sensory (czujniki) Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Sensory (czujniki) 1 Zestawienie najważniejszych wielkości pomiarowych w układach mechatronicznych Położenie (pozycja), przemieszczenie Prędkość liniowa,

Bardziej szczegółowo

Def. MO Optyczne elementy o strukturze submm lub subμm, produkowane głównie metodami litograficznymi

Def. MO Optyczne elementy o strukturze submm lub subμm, produkowane głównie metodami litograficznymi Mikro optyka MO Def. MO Optyczne elementy o strukturze submm lub subμm, produkowane głównie metodami litograficznymi Systemy bazujące na mikrooptyce Zalety systemów MO duże macierze wysoka dokładność pozycjonowania

Bardziej szczegółowo

SPIS TREŚCI ««*» ( # * *»»

SPIS TREŚCI ««*» ( # * *»» ««*» ( # * *»» CZĘŚĆ I. POJĘCIA PODSTAWOWE 1. Co to jest fizyka? 11 2. Wielkości fizyczne 11 3. Prawa fizyki 17 4. Teorie fizyki 19 5. Układ jednostek SI 20 6. Stałe fizyczne 20 CZĘŚĆ II. MECHANIKA 7.

Bardziej szczegółowo

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są

Czujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej

Bardziej szczegółowo

AFM. Mikroskopia sił atomowych

AFM. Mikroskopia sił atomowych AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063

3GHz (opcja 6GHz) Cyfrowy Analizator Widma GA4063 Cyfrowy Analizator Widma GA4063 3GHz (opcja 6GHz) Wysoka kla sa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo -funkcjonalne Wysoka s tabi lność Łatwy w użyc iu GUI Małe wymiary, lekki, przenośny Opis produktu GA4063

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

Dobór materiałów konstrukcyjnych cz.13

Dobór materiałów konstrukcyjnych cz.13 Dobór materiałów konstrukcyjnych cz.13 dr inż. Hanna Smoleńska Katedra Inżynierii Materiałowej i Spajania Wydział Mechaniczny, Politechnika Gdańska Materiały edukacyjne ROZSZERZALNOŚĆ CIEPLNA LINIOWA Ashby

Bardziej szczegółowo

VII Wybrane zastosowania. Bernard Ziętek

VII Wybrane zastosowania. Bernard Ziętek VII Wybrane zastosowania Bernard Ziętek 1. Medycyna Oddziaływanie światła z tkanką: 1. Fotochemiczne (fotowzbudzenie, fotorezonans, fotoaktywakcja, fotoablacja, fotochemoterapia, biostymulacja, synteza

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki

Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki Politechnika Warszawska Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Zakład Optoelektroniki LASEROWY POMIAR ODLEGŁOŚCI INTERFEROMETREM MICHELSONA Instrukcja wykonawcza do ćwiczenia laboratoryjnego ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

FIZYKA MOLEKULARNA I CIEPŁO

FIZYKA MOLEKULARNA I CIEPŁO FIZYKA MOLEKULARNA I CIEPŁO 102. Wyznaczanie współczynnika lepkości cieczy metodą Stokesa. 105. Pomiar wilgotności powietrza psychrometrem Assmana. 106. Wyznaczanie stosunku c p χ = dla powietrza. c V

Bardziej szczegółowo

Nastawniki (aktuatory, aktory)

Nastawniki (aktuatory, aktory) Nastawniki (aktuatory, aktory) SCHEMAT SYSTEMU MECHATRONICZNEGO WEJŚCIE UKŁAD MECHANICZNY WYJŚCIE NASTAWNIKI CZUJNIKI procesor(y) Nastawnikiem (aktuatorem - ang. actuator) nazywa się urządzenie, które

Bardziej szczegółowo

Aparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL 1109-1 mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1. Aparat do magnetoterapii

Aparat do magnetoterapii. MagneticWave - CTL 1109-1 mini. Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1. Aparat do magnetoterapii APARATY DO MAGNETOTERAPII ORAZ akcesoria do ich wyposażenia Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 mini Aparat do magnetoterapii MagneticWave - CTL 1109-1 Aparat do magnetoterapii MagneticWave

Bardziej szczegółowo

SPIS TREŚCI. Od Autora. Wykaz ważniejszych oznaczeń. 1. Wstęp 1_. 2. Fale i układy akustyczne Drgania układów mechanicznych 49. Literatura..

SPIS TREŚCI. Od Autora. Wykaz ważniejszych oznaczeń. 1. Wstęp 1_. 2. Fale i układy akustyczne Drgania układów mechanicznych 49. Literatura.. SPIS TREŚCI Od Autora XI Wykaz ważniejszych oznaczeń Xlii 1. Wstęp 1_ Literatura.. 9 2. Fale i układy akustyczne 11 2.1. Fale akustyczne 11 2.2. Energia fali i natężenie dźwięku 14 2.3. Fala kulista i

Bardziej szczegółowo

FIZYKA Podręcznik: Fizyka i astronomia dla każdego pod red. Barbary Sagnowskiej, wyd. ZamKor.

FIZYKA Podręcznik: Fizyka i astronomia dla każdego pod red. Barbary Sagnowskiej, wyd. ZamKor. DKOS-5002-2\04 Anna Basza-Szuland FIZYKA Podręcznik: Fizyka i astronomia dla każdego pod red. Barbary Sagnowskiej, wyd. ZamKor. WYMAGANIA NA OCENĘ DOPUSZCZAJĄCĄ DLA REALIZOWANYCH TREŚCI PROGRAMOWYCH Kinematyka

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

(zwane również sensorami)

(zwane również sensorami) Czujniki (zwane również sensorami) Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do

Bardziej szczegółowo

Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA

Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA Uniwersytet Mikołaja Kopernika Bernard Ziętek OPTOELEKTRONIKA Wydanie III, uzupełnione i poprawione Toruń 2011 SPIS TREŚCI PRZEDMOWA DO III WYDANIA 1 PRZEDMOWA DO II WYDANIA 3 PRZEDMOWA DO I WYDANIA 4

Bardziej szczegółowo

Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona

Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona Ćwiczenie Nr 450. Temat: Pomiar współczynnika załamania światła w gazie za pomocą interferometru Michelsona 1.iteratura: a) D. Halliday, R. Resnick, J. Walker, Podstawy fizyki 4, PWN, W-wa b) I. W. Sawieliew

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie. Napędy hydrauliczne są to urządzenia służące do przekazywania energii mechanicznej z miejsca jej wytwarzania do urządzenia napędzanego.

Wprowadzenie. Napędy hydrauliczne są to urządzenia służące do przekazywania energii mechanicznej z miejsca jej wytwarzania do urządzenia napędzanego. Napędy hydrauliczne Wprowadzenie Napędy hydrauliczne są to urządzenia służące do przekazywania energii mechanicznej z miejsca jej wytwarzania do urządzenia napędzanego. W napędach tych czynnikiem przenoszącym

Bardziej szczegółowo

VI. Elementy techniki, lasery

VI. Elementy techniki, lasery Światłowody VI. Elementy techniki, lasery BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet a) Sprzęgacze czołowe 1. Sprzęgacze światłowodowe (czołowe, boczne, stałe, rozłączalne) Złącza,

Bardziej szczegółowo

Podstawy inżynierii fotonicznej

Podstawy inżynierii fotonicznej Podstawy inżynierii fotonicznej Prof.dr hab.inż. Romuald Jóźwicki Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Pokój 513B tylko konsultacje Rok III, semestr V, wykład 30 godz., laboratorium 15 godz. Zaliczenie wykładu

Bardziej szczegółowo

Pytania z przedmiotu Inżynieria materiałowa

Pytania z przedmiotu Inżynieria materiałowa Pytania z przedmiotu Inżynieria materiałowa 1.Podział materiałów elektrotechnicznych 2. Potencjał elektryczny, różnica potencjałów 3. Związek pomiędzy potencjałem i natężeniem pola elektrycznego 4. Przewodzenie

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO

SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie

Bardziej szczegółowo

I Pracownia Fizyczna Dr Urszula Majewska dla Biologii

I Pracownia Fizyczna Dr Urszula Majewska dla Biologii Ćw. 6/7 Wyznaczanie gęstości cieczy za pomocą wagi Mohra. Wyznaczanie gęstości ciał stałych metodą hydrostatyczną. 1. Gęstość ciała. 2. Ciśnienie hydrostatyczne. Prawo Pascala. 3. Prawo Archimedesa. 4.

Bardziej szczegółowo

Technologia elementów optycznych

Technologia elementów optycznych Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.

Bardziej szczegółowo

Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT. Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014

Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT. Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014 Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014 SYNERIFT Tylne koła napędzane silnikiem spalinowym (2T typu pocket bike ) Przednie

Bardziej szczegółowo

Ogólne cechy ośrodków laserowych

Ogólne cechy ośrodków laserowych Ogólne cechy ośrodków laserowych Gazowe Cieczowe Na ciele stałym Naturalna jednorodność Duże długości rezonatora Małe wzmocnienia na jednostkę długości ośrodka czynnego Pompowanie prądem (wzdłużne i poprzeczne)

Bardziej szczegółowo

Fotonika kurs magisterski grupa R41 semestr VII Specjalność: Inżynieria fotoniczna. Egzamin ustny: trzy zagadnienia do objaśnienia

Fotonika kurs magisterski grupa R41 semestr VII Specjalność: Inżynieria fotoniczna. Egzamin ustny: trzy zagadnienia do objaśnienia Dr inż. Tomasz Kozacki Prof. dr hab.inż. Romuald Jóźwicki Zakład Techniki Optycznej Instytut Mikromechaniki i Fotoniki pokój 513a ogłoszenia na tablicach V-tego piętra kurs magisterski grupa R41 semestr

Bardziej szczegółowo

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna

FACULTY OF ADVANCED TECHNOLOGIES AND CHEMISTRY. Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Interferometry światłowodowe Wprowadzenie Podstawowe prawa Przetwarzanie sygnału obróbka optyczna obróbka elektroniczna Wprowadzenie Układy te stanowią nową klasę czujników, gdzie podstawowy mechanizm

Bardziej szczegółowo

Pytania do ćwiczeń na I-szej Pracowni Fizyki

Pytania do ćwiczeń na I-szej Pracowni Fizyki Ćw. nr 5 Oscylator harmoniczny. 1. Ruch harmoniczny prosty. Pojęcia: okres, wychylenie, amplituda. 2. Jaka siła powoduje ruch harmoniczny spręŝyny i ciała do niej zawieszonego? 3. Wzór na okres (Studenci

Bardziej szczegółowo

1. Właściwości urządzenia

1. Właściwości urządzenia Instrukcja obsługi Spis treści 1. Właściwości urządzenia 2. Specyfikacje 2.1. Specyfikacje ogólne 2.2. Specyfikacje elektryczne 2.3. Charakterystyka widmowa czujnika światła 3. Opis panelu czołowego 3.1.

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie. - Napęd pneumatyczny. - Sterowanie pneumatyczne

Wprowadzenie. - Napęd pneumatyczny. - Sterowanie pneumatyczne Wprowadzenie Pneumatyka - dziedzina nauki i techniki zajmująca się prawami rządzącymi przepływem sprężonego powietrza; w powszechnym rozumieniu także technika napędu i sterowania pneumatycznego. Zastosowanie

Bardziej szczegółowo

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)

Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic

Bardziej szczegółowo

Dział: 7. Światło i jego rola w przyrodzie.

Dział: 7. Światło i jego rola w przyrodzie. Dział: 7. Światło i jego rola w przyrodzie. TEMATY I ZAKRES TREŚCI NAUCZANIA Fizyka klasa 3 LO Nr programu: DKOS-4015-89/02 Moduł Dział - Temat L. Zjawisko odbicia i załamania światła 1 Prawo odbicia i

Bardziej szczegółowo

Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych

Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych Seminarium Termowizja: Projekty badawcze i wdrożenia przemysłowe XXII MSPO Kielce, 02.09.2014 r. Potencjał technologiczny i produkcyjny PCO S.A. w zakresie wytwarzania urządzeń termowizyjnych Jerzy Wiśnioch,

Bardziej szczegółowo

Amperomierz analogowy AC/DC [ BAP_ doc ]

Amperomierz analogowy AC/DC [ BAP_ doc ] Amperomierz analogowy AC/DC [ ] Uwagi wstępne dot. obsługi Ustawić przyrząd w stabilnej pozycji (poziomej lub nachylonej). Sprawdzić, czy igła jest ustawiona na pozycji zerowej (śruba regulacji mechanicznej

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

Kurs przygotowawczy NOWA MATURA FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY

Kurs przygotowawczy NOWA MATURA FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY Kurs przygotowawczy NOWA MATURA FIZYKA I ASTRONOMIA POZIOM ROZSZERZONY 1.Wielkości fizyczne: - wielkości fizyczne i ich jednostki - pomiary wielkości fizycznych - niepewności pomiarowe - graficzne przedstawianie

Bardziej szczegółowo

Elementy elektrotechniki i elektroniki dla wydziałów chemicznych / Zdzisław Gientkowski. Bydgoszcz, Spis treści

Elementy elektrotechniki i elektroniki dla wydziałów chemicznych / Zdzisław Gientkowski. Bydgoszcz, Spis treści Elementy elektrotechniki i elektroniki dla wydziałów chemicznych / Zdzisław Gientkowski. Bydgoszcz, 2015 Spis treści Przedmowa 7 Wstęp 9 1. PODSTAWY ELEKTROTECHNIKI 11 1.1. Prąd stały 11 1.1.1. Podstawowe

Bardziej szczegółowo

Charakterystyka urządzeń zewnętrznych

Charakterystyka urządzeń zewnętrznych Charakterystyka urządzeń zewnętrznych PAMIĘĆ OPERACYJNA MIKROPROCESOR KANAŁY WE WY Urządzenia zewnętrzne WE WY Urządzenia pamięci zewnętrznej Urządzenia transmisji danych Budowa jednostki centralnej Pamięć

Bardziej szczegółowo

Elementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Elementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Elementy optoelektroniczne Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Półprzewodnikowe elementy optoelektroniczne Są one elementami sterowanymi natężeniem

Bardziej szczegółowo

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1.  Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło

Bardziej szczegółowo

GA40XX seria. 1,5GHz/3GHz/7,5GHz. Cyfrowy Analizator Widma

GA40XX seria. 1,5GHz/3GHz/7,5GHz. Cyfrowy Analizator Widma Cyfrowy Analizator Widma GA40XX seria 1,5GHz/3GHz/7,5GHz Wysoka klasa pomiarowa Duże możliwości pomiarowo - funkcjonalne Wysoka stabilność częstotliwości Łatwy w użyciu GUI (interfejs użytkownika) Małe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Ćwiczenie: Zagadnienia optyki Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.

Bardziej szczegółowo

DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A)

DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A) DOPPLEROWSKA ANEMOMETRIA LASEROWA (L D A) Dopplerowska anemometria laserowa (LDA) jest techniką pomiarową umożliwiająca pomiar chwilowej prędkości przepływu poprzez pomiar przesunięcia częstotliwości światła

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 8 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą

Bardziej szczegółowo

Laboratorum teledetekcji. Sensory akustyczne. ppłk dr inż. Mateusz Pasternak

Laboratorum teledetekcji. Sensory akustyczne. ppłk dr inż. Mateusz Pasternak Laboratorum teledetekcji Sensory akustyczne ppłk dr inż. Mateusz Pasternak 22 683 76 67 mpasternak@wat.edu.pl http://strony.aster.pl/mpasternak/ czujnik (sensor) def. Czujnikiem akustycznym nazywa się

Bardziej szczegółowo

Stanowiska laboratoryjne przeznaczone do przeprowadzania doświadczeń w zakresie przepływu ciepła

Stanowiska laboratoryjne przeznaczone do przeprowadzania doświadczeń w zakresie przepływu ciepła Stanowiska laboratoryjne przeznaczone do przeprowadzania doświadczeń w zakresie przepływu ciepła 1 Stanowisko Pomiarowe Rys.1. Stanowisko pomiarowe. rejestrowanie pomiarów z czujników analogowych i cyfrowych,

Bardziej szczegółowo

Urządzenia półprzewodnikowe

Urządzenia półprzewodnikowe Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor

Bardziej szczegółowo

Mikrosystemy Wprowadzenie. Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt.

Mikrosystemy Wprowadzenie. Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt. Mikrosystemy Wprowadzenie Prezentacja jest współfinansowana przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego w projekcie pt. Innowacyjna dydaktyka bez ograniczeń - zintegrowany rozwój

Bardziej szczegółowo

Montaż w elektronice

Montaż w elektronice Montaż w elektronice Prof. dr hab. inż.. Kazimierz FRIEDEL Plan wykładu Wprowadzenie Elementy elektroniczne w obudowach SO, CC i QFP Elementy elektroniczne w obudowach BGA i CSP Montaż drutowy i flip-chip

Bardziej szczegółowo

Rafał WALCZAK Pracowania Mikroinżynierii i Mikromechaniki Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechnika Wrocławska

Rafał WALCZAK Pracowania Mikroinżynierii i Mikromechaniki Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechnika Wrocławska Lab-chipy DNA, mikroreaktory chemiczne/biochemiczne i cytometry zintegrowane wytwarzane z krzemu, szkła i SU8 - przegląd prac realizowanych w PMiM WEMiF PWr Rafał WALCZAK Pracowania Mikroinżynierii i Mikromechaniki

Bardziej szczegółowo

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux

Wykaz urządzeń Lp Nazwa. urządzenia 1. Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER. Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0.. 200/2000/20000/ 200000 lux Wykaz urządzeń Lp Nazwa urządzenia 1 Luksomierz TES 1332A Digital LUX METER Przeznaczenie/ dane techniczne Zakres 0 200/2000/20000/ 200000 lux 2 Komora klimatyczna Komora jest przeznaczona do badania oporu

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

Do: Niniejszym mam przyjemność przedstawić nowe produkty w ofercie przyrządów pomiarowych firmy TESTO:

Do: Niniejszym mam przyjemność przedstawić nowe produkty w ofercie przyrządów pomiarowych firmy TESTO: Do: Autoryzowane Serwisy Techniczne Immergas Drodzy Państwo, Niniejszym mam przyjemność przedstawić nowe produkty w ofercie przyrządów pomiarowych firmy TESTO: SmartSondy kompaktowe urządzenia pomiarowe

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia modulacyjna

Spektroskopia modulacyjna Spektroskopia modulacyjna pozwala na otrzymanie energii przejść optycznych w strukturze z bardzo dużą dokładnością. Charakteryzuje się również wysoką czułością, co pozwala na obserwację słabych przejść,

Bardziej szczegółowo

Płyny newtonowskie (1.1.1) RYS. 1.1

Płyny newtonowskie (1.1.1) RYS. 1.1 Miniskrypt: Płyny newtonowskie Analizujemy cienką warstwę płynu zawartą pomiędzy dwoma równoległymi płaszczyznami, które są odległe o siebie o Y (rys. 1.1). W warunkach ustalonych następuje ścinanie w

Bardziej szczegółowo

Wielomodowe, grubordzeniowe

Wielomodowe, grubordzeniowe Wielomodowe, grubordzeniowe i z plastykowym pokryciem włókna. Przewężki i mikroelementy Multimode, Large-Core, and Plastic Clad Fibers. Tapered Fibers and Specialty Fiber Microcomponents Wprowadzenie Włókna

Bardziej szczegółowo

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej Nanomateriałów Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233

Bardziej szczegółowo

Kryteria oceniania z fizyki. Nowa podstawa programowa nauczania fizyki i astronomii w gimnazjum. Moduł I, klasa I. 1.Ocenę dopuszczającą otrzymuje

Kryteria oceniania z fizyki. Nowa podstawa programowa nauczania fizyki i astronomii w gimnazjum. Moduł I, klasa I. 1.Ocenę dopuszczającą otrzymuje Kryteria oceniania z fizyki. Moduł I, klasa I. - zna pojęcia: substancja, ekologia, wzajemność oddziaływań, siła. - zna cechy wielkości siły, jednostki siły. - wie, jaki przyrząd służy do pomiaru siły.

Bardziej szczegółowo

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e  = = 1 Å Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia

Bardziej szczegółowo

5.Specyfikacja: Uwaga!!! 1) Nie używać rozpuszczalnika do czyszczenia obiektywu. 2) Nie zanurzać urządzenia w wodzie.

5.Specyfikacja: Uwaga!!! 1) Nie używać rozpuszczalnika do czyszczenia obiektywu. 2) Nie zanurzać urządzenia w wodzie. Uwaga!!! 1) Nie używać rozpuszczalnika do czyszczenia obiektywu. 2) Nie zanurzać urządzenia w wodzie. 5.Specyfikacja: Temperatura pracy Dokładność Powtarzalność Czes reakcji -50 do 480'C (-58'F do 896'F)

Bardziej szczegółowo

Pomiar prędkości obrotowej

Pomiar prędkości obrotowej 2.3.2. Pomiar prędkości obrotowej Metody: Kontaktowe mechaniczne (prądniczki tachometryczne różnych typów), Bezkontaktowe: optyczne (światło widzialne, podczerwień, laser), elektromagnetyczne (indukcyjne,

Bardziej szczegółowo

/ 2 ASCO PRZEWODNIK. Właściwy dobór zaworów proporcjonalnych

/ 2 ASCO PRZEWODNIK. Właściwy dobór zaworów proporcjonalnych / 2 ASCO PRZEWODNIK Właściwy dobór zaworów proporcjonalnych 1 / Przewodnik po: właściwym doborze zaworów proporcjonalnych PRZEWODNIK PO: Właściwym doborze zaworów proporcjonalnych Zawory proporcjonalne

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

ZJAWISKO PIEZOELEKTRYCZNE.

ZJAWISKO PIEZOELEKTRYCZNE. ZJAWISKO PIEZOELEKTRYCZNE. A. BADANIE PROSTEGO ZJAWISKA PIEZOELEKTRYCZNEGO I. Zestaw przyrządów: 1. Układ do badania prostego zjawiska piezoelektrycznego metodą statyczną. 2. Odważnik. 3. Miernik uniwersalny

Bardziej szczegółowo

Rezonatory ze zwierciadłem Bragga

Rezonatory ze zwierciadłem Bragga Rezonatory ze zwierciadłem Bragga Siatki dyfrakcyjne stanowiące zwierciadła laserowe (zwierciadła Bragga) są powszechnie stosowane w laserach VCSEL, ale i w laserach z rezonatorem prostopadłym do płaszczyzny

Bardziej szczegółowo

Podstawy mechatroniki 5. Sensory II

Podstawy mechatroniki 5. Sensory II Podstawy mechatroniki 5. Sensory Politechnika Poznańska Katedra Podstaw Konstrukcji Maszyn Poznań, 20 grudnia 2015 Budowa w odróżnieniu od czujników indukcyjnych mogą, oprócz obiektów metalowych wykrywać,

Bardziej szczegółowo

Diagnostyka układów elektrycznych i elektronicznych pojazdów samochodowych. 1.1.1. Podstawowe wielkości i jednostki elektryczne

Diagnostyka układów elektrycznych i elektronicznych pojazdów samochodowych. 1.1.1. Podstawowe wielkości i jednostki elektryczne Diagnostyka układów elektrycznych i elektronicznych pojazdów samochodowych 1. Prąd stały 1.1. Obwód elektryczny prądu stałego 1.1.1. Podstawowe wielkości i jednostki elektryczne 1.1.2. Natężenie prądu

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

ZAKRES MATERIAŁU DO MATURY PRÓBNEJ KL III

ZAKRES MATERIAŁU DO MATURY PRÓBNEJ KL III ZAKRES MATERIAŁU DO MATURY PRÓBNEJ KL III 1.Ruch punktu materialnego: rozróżnianie wielkości wektorowych od skalarnych, działania na wektorach opis ruchu w różnych układach odniesienia obliczanie prędkości

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Emisyjność wybranych materiałów. Specyfikacja

Emisyjność wybranych materiałów. Specyfikacja Emisyjność wybranych materiałów Materiał Emisyjność Materiał Emisyjność Aluminium 0.30 Żelazo 0.70 Azbest 0.95 Ołów 0.50 Asfalt 0.95 Wapień 0.98 Bazalt 0.70 Olej 0.94 Mosiądz 0.50 Farba 0.93 Cegła 0.90

Bardziej szczegółowo

I. Wymagane parametry techniczne/wyposażenie systemu do witrektomii i fakoemulsyfikacji Constellation Vision System

I. Wymagane parametry techniczne/wyposażenie systemu do witrektomii i fakoemulsyfikacji Constellation Vision System I. Wymagane parametry techniczne/wyposażenie systemu do witrektomii i fakoemulsyfikacji Constellation Vision System Producent :... Nazwa i typ :... Rok produkcji: 2015 Załącznik Nr do SIWZ L.p. Wymagane

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 7 Temat: Pomiar kąta załamania i kąta odbicia światła. Sposoby korekcji wad wzroku. 1. Wprowadzenie Zestaw ćwiczeniowy został

Bardziej szczegółowo

Podstawy chromatografii i technik elektromigracyjnych / Zygfryd Witkiewicz, Joanna Kałużna-Czaplińska. wyd. 5, 4 dodr. Warszawa, 2015.

Podstawy chromatografii i technik elektromigracyjnych / Zygfryd Witkiewicz, Joanna Kałużna-Czaplińska. wyd. 5, 4 dodr. Warszawa, 2015. Podstawy chromatografii i technik elektromigracyjnych / Zygfryd Witkiewicz, Joanna Kałużna-Czaplińska. wyd. 5, 4 dodr. Warszawa, 2015 Spis treści Przedmowa 11 1. Wprowadzenie 13 1.1. Krótka historia chromatografii

Bardziej szczegółowo

Elektryczne właściwości materii. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej.

Elektryczne właściwości materii. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej. Elektryczne właściwości materii Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W10) Szkoły Policealnej Zawodowej. Podział materii ze względu na jej właściwości Przewodniki elektryczne: Przewodniki I

Bardziej szczegółowo

OZNACZENIA NA SCHEMATACH RYSUNKOWYCH. Opracował: Robert Urbanik

OZNACZENIA NA SCHEMATACH RYSUNKOWYCH. Opracował: Robert Urbanik OZNACZENIA NA SCHEMATACH RYSUNKOWYCH Opracował: Robert Urbanik Oznaczenia na schematach kinematycznych- symbole ruchu Tor ruchu prostoliniowego Chwilowe zatrzymanie w położeniu pośrednim Koniec ruchu prostoliniowego

Bardziej szczegółowo

Przepływomierz zębaty VCL 0,1

Przepływomierz zębaty VCL 0,1 Przepływomierz zębaty VCL 0, dla technologii lakierniczych Wymiary Przepływomierz zębaty VCL 0, - dla technologii lakierniczych VCL 0, P RS /25 Spis treści Tytuł Strona Spis treści Opis Charakterystyka

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

ZAGADNIENIA DO PRZYGOTOWANIA DO ĆWICZEŃ Z BIOFIZYKI DLA STUDENTÓW I ROKU WYDZIAŁU LEKARKIEGO W SEMESTRZE LETNIM 2011/2012 ROKU.

ZAGADNIENIA DO PRZYGOTOWANIA DO ĆWICZEŃ Z BIOFIZYKI DLA STUDENTÓW I ROKU WYDZIAŁU LEKARKIEGO W SEMESTRZE LETNIM 2011/2012 ROKU. ZAGADNIENIA DO PRZYGOTOWANIA DO ĆWICZEŃ Z BIOFIZYKI DLA STUDENTÓW I ROKU WYDZIAŁU LEKARKIEGO W SEMESTRZE LETNIM 2011/2012 ROKU. B1 CIŚNIENIE JAKO WIELKOŚĆ BIOFIZYCZNA, CIŚNIENIE A FUNKCJE PODSTAWOWYCH

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Aktory

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Aktory Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne Aktory 1 Definicja aktora Aktor (ang. actuator) -elektronicznie sterowany człon wykonawczy. Aktor jest łącznikiem między urządzeniem przetwarzającym informację

Bardziej szczegółowo

Metody optyczne w badaniach półprzewodników Przykładami różnymi zilustrowane. Piotr Perlin Instytut Wysokich Ciśnień PAN

Metody optyczne w badaniach półprzewodników Przykładami różnymi zilustrowane. Piotr Perlin Instytut Wysokich Ciśnień PAN Metody optyczne w badaniach półprzewodników Przykładami różnymi zilustrowane Piotr Perlin Instytut Wysokich Ciśnień PAN Jak i czym scharakteryzować kryształ półprzewodnika Struktura dyfrakcja rentgenowska

Bardziej szczegółowo

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 7 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2014/15

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Plan realizacji materiału z fizyki.

Plan realizacji materiału z fizyki. Plan realizacji materiału z fizyki. Ze względu na małą ilość godzin jaką mamy do dyspozycji w całym cyklu nauczania fizyki pojawił się problem odpowiedniego doboru podręczników oraz podziału programu na

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia 1 Załącznik nr 1 do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia Opis przedmiotu zamówienia Przedstawione niżej szczegółowe parametry zamawianej aparatury są parametrami minimalnymi. Wykonawca może zaproponować

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna)

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna) Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna) 1 Schemat żyroskopu Wiązki biegnące w przeciwną stronę Nawinięty światłowód optyczny Źródło światła Fotodioda Polaryzator

Bardziej szczegółowo

1/ Średnice: Ø10, 16, 20, 25, 32 mm

1/ Średnice: Ø10, 16, 20, 25, 32 mm KATALOG > Wydanie 8.7 > Chwytaki o szczękach rozwieranych równolegle serii CGLN Chwytaki o szczękach rozwieranych równolegle serii CGLN Średnice: Ø0, 6, 20, 25, 32 mm»» Duża wszechstronność instalacji»»

Bardziej szczegółowo

Wykaz ćwiczeń realizowanych w Pracowni Urządzeń Mechatronicznych

Wykaz ćwiczeń realizowanych w Pracowni Urządzeń Mechatronicznych Centrum Kształcenia Zawodowego 2000 Wykaz ćwiczeń realizowanych w Pracowni Urządzeń Mechatronicznych Nr ćwiczenia Temat Wiadomości i umiejętności wymagane do realizacji ćwiczenia na pracowni 1 Badanie

Bardziej szczegółowo