Arkusz Informacji Technicznej

Transkrypt

1 Arkusz Informacji Technicznej Przedmiot oferty: Skaningowy Mikroskop Pola Bliskiego (SNOM) Wysokiej klasy, fabrycznie nowy Mikroskop Optyczny Pola Bliskiego zintegrowany z mikroskopem sił atomowych (AFM) i mikroskopem konfokalnym (CM). W skład zestawu wchodzi równieŝ stół optyczny, lasery, podstawowe oprzyrządowanie optyczne i komputerowe. Nazwa aparatu:... Producent:... Rok produkcji:... UWAGA! Wszystkie parametry podane w rubryce Warunki są parametrami, których niespełnienie spowoduje odrzucenie oferty. Brak wpisu w rubryce Wartość oferowana zostanie potraktowany jako niespełnienie wymagań parametrycznych. Zamawiający dopuszcza parametry lepsze i odpowiednio je punktuje. Poza odpowiedzią Wykonawcy na poszczególne wymagania Zamawiający oczekuje przedstawienia pełnej specyfikacji technicznej proponowanej aparatury. Zamawiający zastrzega sobie prawo do sprawdzenia wiarygodności podanych przez Wykonawcę parametrów technicznych we wszystkich dostępnych źródłach w tym równieŝ zwrócenie się o złoŝenie dodatkowych wyjaśnień przez Wykonawcę lub producenta. 1. Metody działania: a) tryb SNOM minimum w dwóch odmianach: 1. w odbiciu 2. w transmisji b) tryb CM minimum w dwóch odmianach: 1. w odbiciu w transmisji c) tryb AFM minimum w dwóch odmianach: 1. kontakt 2. jeden tryb inny niŝ kontakt Zdolność rozdzielcza układu w X-Y: dla SNOM 90 nm Zdolność rozdzielcza układu w X-Y: dla CM 450 nm Zdolność rozdzielcza układu w X-Y: dla AFM 3 nm 5. Zdolność rozdzielcza układu w Z: dla AFM 1 nm (90nm x-y >80nm) (80nm x-y >60nm) - 4 (60nm x-y >30nm) - 8 (x-y 30nm) - 12 (450nm x-y>400nm) (400nm x-y>200nm) - 2 (x-y 200nm) - 4 (3nm x-y> 2.5nm) (2.5nm x-y>1nm) - 2 (x-y 1nm) - 4 (1.0nm z > 0.9nm) (0.9nm z > 0.3nm) - 2 (z 0.3nm) - 4

2 (75nm x-y <100nm) Zakres skanowania piezo w X-Y: 6. x-y 75 µm (x-y 100nm) Zakres skanowania piezo w Z: (15nm z <20nm) z 15 µm (z 20nm) - 2 (3.0nm x-y >2.0nm) Dokładność skanowanie piezo w X-Y: 8. x-y 3.0 nm (x-y 2.0nm) Dokładność skanowanie piezo w Z: (1.0nm z>0.5nm) z 1.0 nm (z 0.5nm) - 2 (15mm x-y <20mm) Zakres pozycjonowania w X-Y: 10. x-y 15 mm (x-y 20mm) Zakres pozycjonowania w Z: (25mm z <30mm) z 25 mm (z 30mm) - 2 (2.0µm x-y >1.5µm) Dokładność pozycjonowania w X-Y: 12. x-y 2 µm (x-y 1.5µm) Dokładność pozycjonowania w Z: (20nm z >15nm) z 20 nm (z 15nm) - 2 (90mm x-y<100mm) Górna granica wielkości próbki w X-Y: 14. x-y 90 mm (x-y 100mm) Górna granica wielkości próbki w Z: (15mm z<20mm) z 15 mm (z 20mm) Kontrola liniowości skanowania z wykorzystaniem sprzęŝenia zwrotnego, dokładność liniowości skanowania % Optyczna kontrola połoŝenia sondy względem próbki metodą odchylenia wiązki (beam deflection method) w pomiarach AFM i SNOM Moduł laserowy Nd: YAG 532 nm, sprzęgnięty z systemem SNOM Moduł laserowy He-Ne 633 nm, do sprzęgnięcia z systemem SNOM Moduł laserowy do laserowego pozycjonowania sondy PMT detektor minimum: dark count rate 100cps Wysokorozdzielcze kamery video, minimum dwie kamery: 1. jedna kamera dla odbicia, 2. jedna kamera dla transmisji, o parametrach minimum: elem. 752(H)x582(V), H resol. (H) 460 TVL, illum. 3 lx, S/N ratio 45 db Diodowe oświetlenie typu Köhler sondy i próbki moc 35 mw moc 20 mw (35mW moc<40mw) (40mW moc<50mw) - 4 (moc 50mW) - 6 (20mW moc<25mw) (25mW moc<35mw) - 2 (moc 35mW) - 4

3 parametry minimalne: 1. 50x, parametry minimalne 24. Mikroskop(-y) optyczny (-e) z minimum NA>0.70 powyŝej minimum - po 2 trzema obiektywami o 2. 60x,, liczone dla kaŝdego NA> x, obiektywu oddzielnie (maks. 6 ) NA Akustyczny tryb działania AFM z obrazowaniem i sprzęŝeniem zwrotnym w amplitudzie i fazie sygnału 26. Generator częstotliwości akustycznej minimum od 10 Hz do 500kHz sterowany elektroniką minimum 5MHz, 16bit Pakiet 10 sond AFM typu acoustic mode (Parametry sond odpowiadają zadeklarowanym w 4-5 zakresom zdolności rozdzielczej) Pakiet 10 sond AFM typu kontakt (Parametry sond odpowiadają zadeklarowanym w 4-5 zakresom zdolności rozdzielczej) 2 Pakiety sond SNOM [o dwóch róŝnych wymiarach apertury wyjściowej]; parametry sond odpowiadają zadeklarowanym w 2 zakresom zdolności rozdzielczej Powtarzalność parametrów sond i ich działania we wszystkich trybach pracy systemu Bezpośrednie sprzęŝenie pobudzającej wiązki laserowej z sondą poprzez element sprzęgający zapewniający jednorazowe justowanie układu lasersonda, tj. tylko przy instalacji sondy Cyfrowy kontroler do SNOM i AFM wraz z oprogramowaniem; minimum: 16bit, 80MHz FPGA, 32MB SDRAM, 2MB SRAM Automatyka pomiarów w czasie rzeczywistym ze sprzęŝeniem zwrotnym obejmująca: pozycjonowanie, skanowanie, ostrość obrazu, źródła i odbiorniki optyczne, segregowanie i obróbkę danych, wizualizację wyników pomiarów Rozszerzenie systemu mikroskopu na pomiary w gazach i cieczach; uchwyty i pojemniki na próbki (na gaz, ciecz, włącznie z separacją od otoczenia) zintegrowane z układem mikroskopu Zestaw podstawowego oprzyrządowania niezbędnego w obsłudze systemu min. 1 pakiet min. 1 pakiet min. 2 pakiety (10+10 sond) 1 pakiet 2 pakiety pakiet 2 pakiety pakiety 3 pakiety - 2 pkt 4 pakiety - 4

4 Wibroizolacja układu: 36. aktywna (wu a ) w zakresie do minimum (700Hz wu 700 Hz, a -wu p < 800Hz) pasywna (wu p ) w zakresie powyŝej (800Hz wu minimum a -wu p <1000Hz) - 2 wu a -wu p - zakres granicznej wartości (wu częstotliwości pomiędzy aktywnym i a -wu p 1000Hz) - 4 pasywnym zakresem wibroizolacji 37. Stolik pod całość systemu 38. Wszystkie elementy systemu scharakteryzowane w powyŝszych punktach połączone są fabrycznie i stanowią jedną całość, z tym, Ŝe moduł laserowy He-Ne traktowany jest jako element systemu wymienny z modułem laserowym YAG System zapewnia moŝliwość wykonywania pomiarów SNOM 39. minimum w pełnym widzialnym zakresie długości fali od 400 do 800 nm, bez konieczności dokonywania dodatkowych, oprócz źródeł światła, uzupełnień w systemie SNOM Komputer do sterowania systemem i danymi wyjściowymi Notebook do prezentacji danych drukarka laserowa kolor format A4 Dostarczenie minimum dwóch róŝnych próbek do testu działania systemu minimum: Intel Core Duo, 3GHz CPU, 3GB RAM, 250 GB HDD, LCD 19-22, pamięć karty graficznej 512 MB minimum: Intel Core Duo, 2.4GHz CPU, 2GB RAM, 250 GB HDD, LCD 13-14, pamięć karty graficznej 512 MB minimum 1200dpi x 600dpi parametry minimalne - 0 powyŝej minimum: do trzech parametrów - 1 w czterech parametrach - 2, w pięciu parametrach - 3 [pięć parametrów - procesor, CPU, RAM, HDD, grafika] parametry minimalne - 0 powyŝej minimum: do trzech parametrów - 1, w czterech parametrach - 2 w pięciu parametrach - 3 [pięć parametrów - procesor, CPU, RAM, HDD, grafika] minimum powyŝej minim. - 1

5 44. MoŜliwości Wykonawcy: moŝliwość rozbudowy systemu SNOM o kompatybilny moduł ramanowski, moŝliwość rozbudowy systemu SNOM o konfokalne obrazowanie fluorescencyjne oraz elementy optyki polaryzacji liniowej i kołowej, znajdujące się w ofercie handlowej firmy oferującej system SNOM 45. Elementy innowacyjności systemu (bez konieczności dokonania dodatkowych uzupełnień systemu): a) moŝliwość jednoczesnego wykonywania pomiarów SNOM w nie odbiciu i transmisji na tej samej tak - 3 próbce 46. b) moŝliwość jednoczesnego wykonywania pomiarów SNOM i AFM na tej samej próbce c) moŝliwość wykonywania pomiarów SNOM w trybie SNOM collection mode d) moŝliwość wykonywania pomiarów SNOM przy mocy pobudzającej wyŝszej niŝ 100mW na poziomie apertury sondy SNOM e) konstrukcja sondy SNOM na bazie innej i trwalszej niŝ włókno światłowodowe f) uŝycie kantilewerów zarówno w trybie AFM jak i w trybie SNOM g) moŝliwość uŝycia standardowych sond AFM w oferowanym systemie Gwarancja i serwis Okres gwarancji (w miesiącach) minimum 24 Czas reakcji serwisu (w dniach roboczych) od momentu zgłoszenia awarii: nie dłuŝej niŝ 3 dni Maksymalny czas usuwania awarii (w dniach roboczych) - maksimum 17 JeŜeli podczas wykonania naprawy konieczny jest transport systemu poza miejsce instalacji, czas usuwania awarii moŝna zwiększyć maksymalnie do 34 dni roboczych. Wykonawca zapewnia transport i ponosi koszty transportu wraz z ubezpieczeniem. Okres gwarancji przedłuŝa się o sumaryczny okres reakcji i usuwania awarii nie tak - 3 nie tak - 3 nie tak - 3 nie tak - 1 nie tak - 1 nie tak

6 W okresie gwarancyjnym, po maksimum trzech naprawach tego samego elementu lub podzespołu, następuje wymiana na nowy o deklarowanym powyŝej okresie gwarancji Okres pogwarancyjny (w miesiącach), w którym dostawca gwarantuje odpłatny serwis i odpłatną dostawę oryginalnych elementów lub podzespołów systemu z zadeklarowanym powyŝej okresem gwarancji. minimum , dn..... uprawniony(ieni) przedstawiciel(e) wykonawcy