techniki techniki pomiarowej

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "techniki techniki pomiarowej"

Transkrypt

1 Współczesne Współczesne problemy problemy techniki techniki pomiarowej pomiarowej Stefan F. Filipowicz Stefan F. Filipowicz Zaoczne Studia Doktoranckie Instytut Elektrotechniki

2 Spis treści Plan wystapienia 1. Wprowadzenie do impedancyjnej tomografii komputerowej 2. Systemy i układy pomiarowe 3. Układy pomiarowe budowane i stosowane w ITK 4. Klasyfikacja sygnałów pomiarowych

3 1. Wprowadzenie do impedancyjnej tomografii komputerowej (ITK)

4 Zastosowanie tomografii impedancyjnej Właściwości elektryczne wybranych tkanek

5 Widok tomografu SPECT (ang. Single Photon Emission Tomography) używanego w badaniach nad funkcjonowaniem ludzkiego mózgu

6 Badanie rezonansu magnetycznego (TRM)

7 Cyfrowa mammografia

8 Obrazy badanej tkanki uzyskiwane w mammografii

9 2. Układy pomiarowe (filozofia pomiaru) Plan wystapienia Spis treści V 9 V 8 V 7 V 10 8 kąt projekcji V 11 V 6 1 S/m 3 S/m 7 kąt projekcji V 12 V 5 V 4 V 13 V 1 V 2 V 3 1 kąt projekcji 2 kąt projekcji

10 Układy pomiarowe (filozofia pomiaru) Pomiary wykonywane są dla wszystkich możliwych sposobów podłączenia źródła zasilania do obszaru w celu zwiększenia liczby informacji o obiekcie oraz poprawy stosunku sygnału do szumu. Po wykonaniu pierwszej serii pomiarów następuje przełączenie układu pobudzającego na elektrody sąsiadujące. Proces ten powtarzany jest sekwencyjnie dla wszystkich możliwych układów połączeń źródła zasilania. Dokonywane jest w ten sposób wielokrotne prześwietlanie badanego obiektu. Ze względu na symetrię układu dla n = 16 elektrod można uzyskać n / 2 = 8 niezależnych rozkładów prądowych. Każda konfiguracja źródła pobudzającego nosi nazwę kąta projekcji (ang. projection angle), w takim przypadku całkowita liczba tych kątów przy powyższych założeniach wynosi 8.

11 Układy pomiarowe (filozofia pomiaru) Danymi wejściowymi dla algorytmu konstrukcji obrazu są pomiary napięć dokonane między sąsiednimi elektrodami. Pomiary wykonane na elektrodach z dołączonym źródłem pobudzającym są pomijane ze względu na nieznany spadek napięcia występujący między tymi elektrodami a badanym obszarem. Dla układu n = 16 elektrod oraz dowolnego kąta projekcji można otrzymać n 3 = 13 niezależnych pomiarów. Stąd pełna liczba możliwych do uzyskania niezależnych pomiarów napięć pomiędzy sąsiednimi elektrodami napięciowymi przy n / 2 = 8 kątach wynosi: (n 3)(n / 2) = 13 8 = 104. Sposób pomiaru napięć międzyelektrodowych przedstawiony na rysunku odpowiada pierwszemu kątowi projekcji. Dla kolejnych kątów następuje sekwencyjne przełączanie obwodu zasilającopomiarowego na elektrody sąsiednie.

12 Zasada pobudzenia i pomiarów badanego ośrodka

13 3. Systemy i układy pomiarowe C/A, C/C Sygnały pomiarowe A/A A/C C/C Blok generacji sygnałów I OBIEKT POMIAROWY Czujniki pomiarowe I Blok akwizycji sygnałów Blok przetwarzania danych Blok sterujący (kontroler) Blok komunikacji z użytkownikiem Operator systemu

14 Systemy i układy pomiarowe Blok generacji sygnałów jest stosowany w przypadku, gdy zachodzi konieczność wytwarzania sygnałów pobudzających (programowane źródło napięcia lub prądu), wytwarzania sygnałów odniesienia (generacja sygnałów wzorcowych) oraz generowania sygnałów sterujących elementami wykonawczymi obiektu fizycznego. Blok ten wymaga użycia jednego lub kilku przetworników C/A w celu rekonstrukcji sygnałów analogowych i ich dystrybucji do kilku, a często wielu, odbiorników informacji. Blok generacji sygnałów spełnia w systemach pomiarowych funkcję odwrotną niż blok akwizycji. Obiekt pomiarowy obiekt płaski w przestrzeni 2D lub obiekt przestrzenny 3D

15 Systemy i układy pomiarowe Czujniki pomiarowe, to elementy umożliwiające odbiór informacji z obiektu fizycznego, którego parametry podlegają identyfikacji w procesie pomiarowym. Czujniki są źródłem informacji dla aparatury pomiarowej. Blok akwizycji sygnałów pomiarowych pośredniczy między czujnikami pomiarowymi a blokiem przetwarzania danych. Jego zadaniem jest zbieranie sygnałów pomiarowych i ich dyskretyzacja. W bloku akwizycji wykonywane są podstawowe operacje związane z procesem pomiarowym. Przetwornik U/C stosowany jest w przypadku, gdy wielkością pośrednią w procesie formowania sygnału w kanale pomiarowym jest napięcie. Przetwornik T/C stosowany jest gdy wielkością pośrednią w kanale pomiarowym jest czas, a więc przy pomiarach odstępu czasu, częstotliwości, okresu, przesunięcia fazowego. Blok przetwarzania danych, dokonuje cyfrowej obróbki sygnałów pomiarowych zgodnie z przyjętym algorytmem. Jeśli kontrolerem w systemie pomiarowym jest komputer, to na ogół, oprócz sterowania systemem, pełni on jednocześnie funkcję bloku przetwarzania danych.

16 Systemy i układy pomiarowe Kontroler, wykonuje czynności sterujące według programu zapisanego w pamięci operacyjnej. Czynności sterujące obejmują koordynację czasową systemu, w tym również ustalenie warunków pomiaru, oraz organizację przepływu wszelkich informacji. Sterowanie pracą systemu, a także przesyłanie informacji pomiarowych odbywa się za pośrednictwem odpowiedniego interfejsu. Blok komunikacji z użytkownikiem - operator systemu pomiarowego musi mieć możliwość komunikowania się z systemem, tzn. musi mieć możliwość wprowadzania i odbierania informacji z systemu. Wyprowadzanie informacji odbywa się za pomocą rejestratorów cyfrowych bądź analogowych oraz monitorów ekranowych. Jest to realizowane za pośrednictwem układu sterującego (kontrolera). Operator systemu

17 Systemy i układy pomiarowe W kolejnym etapie rozwoju systemów pomiarowych powstawały zintegrowane środowiska programowe, zawierające rozbudowane wspomaganie projektowania systemów pomiarowych (np. LabView, LabWindows, HP-VEE, TestPoint, LabTech), radykalnie zmieniające podejście do procesu projektowania systemów. Główne cechy tych środowisk są następujące: interakcyjność procesu tworzenia oprogramowania użytkowego, możliwość programowego tworzenia paneli sterujących sprzętem pomiarowym, możliwość generowania programu przez wywoływanie paneli funkcyjnych lub przez rysowanie schematu blokowego kodującego algorytm działania systemu pomiarowego w postaci graficznej, bogate biblioteki sterowników przyrządów, dostęp do interfejsów pomiarowych, analiza sygnałów pomiarowych itp. Powstające nowe generacje podzespołów elektronicznych zwiększyły dokładność i szybkość pomiarów oraz ułatwiły automatyzację. Wykorzystanie ich umożliwia: automatyczne sterowanie pomiarami, automatyczne przetwarzanie zebranych danych.

18 Ocena wpływu błędów Ocena wpływu błędów, których źródłem jest rzeczywisty system pomiarowy i proces mierzenia, opiera się na porównaniu wyników pomiarów i odtwarzania rozkładu konduktywności w systemie rzeczywistym z analogicznymi wynikami uzyskanymi podczas badań modelu idealnego, Błędy odtwarzania można wyodrębnić przez porównanie wyników rekonstrukcji uzyskanych w badaniach symulacyjnych z wartościami konduktywności symulowanego obiektu. symulacja: błędy odtwarzania obiekt sym P sym U x,sym I x,sym O obraz i,sym pomiar rzeczywisty: błędy pomiarowe obiekt P U x, I x O obraz i

19 Metody pomiarowe

20 Metody pomiarowe Z Z Z V A O B I I A B B O A Z Z Z I U Z Z Z Z Z V A C D O B I I A B D C W CD AB AB CD Z I U I U Pomiar dwuelektrodowy Pomiar cztero-elektrodowy

21 Metody pomiarowe Metoda sąsiadująca (ang. neighbouring method). W metodzie tej prąd jest pobudzany przez dwie sąsiednie elektrody, tak jak widać na rysunku. Napięcia mierzone są między wszystkimi kolejnymi, parami elektrod, wyłączając elektrody zasilające. V Obiekt I I

22 Metody pomiarowe Metoda SDP (ang. spli-drive pair). Na rysunku przedstawiono konfigurację systemu typu SDP (ang. spli-drive pair). Pomiar napięcia wykonywany jest na poszczególnych elektrodach względem jednej elektrody odniesienia. Metoda ta dostarcza tylko N(N 4)/2 niezależnych pomiarów. V elektroda odniesienia Obiekt I I

23 Metody pomiarowe Metoda zasilania krzyżowa (ang. cross method). W metodzie tej, elektroda o numerze 0 została użyta jako odpowiednia prądowa elektroda odniesienia w systemie szesnastoelektrodowym, druga elektroda jest przełączana kolejno na pozycje o numerach: 2, 4,..., 14. Dla każdego położenia elektrod prądowych mierzone jest napięcie między pierwszą i kolejnymi elektrodami (z wyjątkiem prądowych elektrod zasilających). Ilustruje to rysunek. Po przeniesieniu elektrody odniesienia np. do punktu 3, drugą elektrodę przyłącza się kolejno do punków 5, 7,..., 15, 1; napięcia są mierzone względem elektrody 2. V I I Obiekt

24 Metody pomiarowe System zasilania biegunowego (ang. opposite method). W metodzie przedstawionej na rysunku mamy model, gdzie prąd pobudzający doprowadzony jest do par elektrod ustawionych biegunowo. Pomiar napięcia odbywa się na wszystkich elektrodach wyjątkiem elektrod zasilających. W tym przypadku występuje tylko N/2 niezależnych ustawień elektrod zasilających. Ogólna liczba pomiarów niezależnych wynosi N(N-4)/2. I Obiekt V elektroda odniesienia I

25 Metody pomiarowe Tablica liniowa zasilania (ang. Linear array). Nie zawsze jest możliwe, szczególnie w trudnych warunkach fizycznych, interesujący nas obszar ściśle otoczyć elektrodami. Do rozwiązania takiego problemu używa się tablicy liniowej zasilania z elektrodami przyłożonymi na brzegu powierzchni z odpowiednio ustawionymi prądowymi elektrodami zasilającymi. I V I Elektrody

26 Metody pomiarowe Tablica liniowa zasilania przykład rozwiązania do badania zawilgocenia budowli

27 Przykład rozkładu napięć na brzegu badanego obiektu dla kątów projekcji kąt projekcji 5 3 kąt projekcji kąt projekcji 7 3 kąt projekcji

28 Porównanie metod identyfikacji współczynników materiałowych Metoda Rozkład prądu w przekroju ośrodka Rekonstrukcja obrazu Metoda sąsiadująca Słaby w centrum obiektu Słaba Metoda krzyżowa Jednorodny Dobra Metoda biegunowa Jednorodny Dobra Metoda wieloreferencyjna Bardzo jednorodny Bardzo dobra Tablica liniowa Niejednorodny, wysoki, tylko w pobliżu powierzchni Dobra do głębokości porównywalnej z odległością między elektrodami

29 test points Symulacja obwodowa badanego obiektu Można badany obiekt zasymulować obwodem elektrycznym w postaci połączonych elementów o charakterze pojemnościowym lub indukcyjnym jak na rysunku - odpowiadających konduktywnościom obiektu. Badania symulacyjne mogą dać informacje o możliwych zmianach napięć oraz innych stanach zachowania się obwodu, które mogą ułatwić docelowy projekt systemu pomiarowego. 1 R C 0

30 Badanie kąta przesunięcia fazowego Przy pobudzeniu badanego obiektu napięciem lub prądem o różnej częstotliwości możemy uzyskiwać różne odpowiedzi na elektrodach pomiarowych. Przy wyższych częstotliwościach pobudzenia w odpowiedzi pojawia się również przesunięcie fazowe między mierzonymi sygnałami. Kąt przesuniecia fazowego [deg] Wyniki symulacji - charakterystyki częstotliwościowe w wybranych punktach dla różnych wartości : a) 1 (Rd1 = 100, Cd1 = 30 nf), b) 2 (Rd2 = 1.5 k, Cd2 = 10 nf) 10Hh 1kHz 100kHz Częstotliwość [Hz]

31 Kąt przesunięcia fazowego [deg] Badanie kąta przesunięcia fazowego Wyznaczone charakterystyki częstotliwościowe (na wybranych elektrodach) dla dwóch różnych tkanek biologicznych umieszczonych w wannie pomiarowej: a) jabłka, b) ogórka Częstotliwość [Hz]

32 4. Przykłady systemów pomiarowych stosowanych w tomografii impedancyjnej

33 4. Przykłady systemów pomiarowych stosowanych w tomografii impedancyjnej Przykładowy schemat elektryczny systemu pomiarowego

34 4. Przykłady systemów pomiarowych stosowanych w tomografii impedancyjnej Schemat blokowy systemu pomiarowego tomografu impedancyjnego zbudowanego z układów przełączająco-pomiarowych firmy Hewlett Packard (Agillent)

35 4. Przykłady systemów pomiarowych stosowanych w tomografii impedancyjnej 4. Przykłady systemów pomiarowych stosowanych w tomografii impedancyjnej Schemat elektryczny systemu pomiarowego tomografu impedancyjnego zbudowanego z układów przełączająco-pomiarowych firmy Hewlett Packard (Agillent) Obiekt badany

36 Wirtualny pulpit tomografu impedancyjnego

37 Stanowisko pomiarowe

38 Schemat blokowy programu do pomiaru amplitudy Schemat blokowy programu do pomiaru amplitudy

39 . Schemat blokowy podprogramu Usrednianie

40 Schemat blokowy programu do pomiaru przesunięcia fazowego

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium 1 - Cel zajęć - Orientacyjny plan wykładu - Zasady zaliczania przedmiotu - Literatura Klasyfikacja systemów pomiarowych

Bardziej szczegółowo

A61B 5/0492 ( ) A61B

A61B 5/0492 ( ) A61B PL 213307 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213307 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 383187 (22) Data zgłoszenia: 23.08.2007 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki i metrologii

Podstawy elektroniki i metrologii Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Podstawy elektroniki i metrologii Studia I stopnia kier. Informatyka semestr 2 Ilustracje do

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu

Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI. Katedra Metrologii i Optoelektroniki. Metrologia. Ilustracje do wykładu Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Metrologii i Optoelektroniki Metrologia Studia I stopnia, kier Elektronika i Telekomunikacja, sem. 2 Ilustracje do wykładu

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo / analogowe W cyfrowych systemach pomiarowych często zachodzi konieczność zmiany sygnału cyfrowego na analogowy, np. w celu

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik

Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA. Autor: Daniel Słowik Badanie właściwości wysokorozdzielczych przetworników analogowo-cyfrowych w systemie programowalnym FPGA Autor: Daniel Słowik Promotor: Dr inż. Daniel Kopiec Wrocław 016 Plan prezentacji Założenia i cel

Bardziej szczegółowo

XIV Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne

XIV Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne XIV Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne W dniu 02.12.2016 odbyło się XIV Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Programowanie wielofunkcyjnej karty pomiarowej w VEE Data wykonania: 15.05.08 Data oddania: 29.05.08 Celem ćwiczenia była

Bardziej szczegółowo

M-1TI. PRECYZYJNY PRZETWORNIK RTD, TC, R, U NA SYGNAŁ ANALOGOWY 4-20mA Z SEPARACJĄ GALWANICZNĄ. 2

M-1TI. PRECYZYJNY PRZETWORNIK RTD, TC, R, U NA SYGNAŁ ANALOGOWY 4-20mA Z SEPARACJĄ GALWANICZNĄ.  2 M-1TI PRECYZYJNY PRZETWORNIK RTD, TC, R, U NA SYGNAŁ ANALOGOWY 4-20mA Z SEPARACJĄ GALWANICZNĄ www.metronic.pl 2 CECHY PODSTAWOWE Przetwarzanie sygnału z czujnika na sygnał standardowy pętli prądowej 4-20mA

Bardziej szczegółowo

Modułowy programowalny przekaźnik czasowy firmy Aniro.

Modułowy programowalny przekaźnik czasowy firmy Aniro. Modułowy programowalny przekaźnik czasowy firmy Aniro. Rynek sterowników programowalnych Sterowniki programowalne PLC od wielu lat są podstawowymi systemami stosowanymi w praktyce przemysłowej i stały

Bardziej szczegółowo

Pętla prądowa 4 20 ma

Pętla prądowa 4 20 ma LABORATORIM: SIECI SENSOROWE Ćwiczenie nr Pętla prądowa 0 ma Opracowanie Dr hab. inż. Jerzy Wtorek Katedra Inżynierii Biomedycznej Gdańsk 009 Część pierwsza. Cel i program ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne

Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne 1 Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne Firma produkująca sprzęt medyczny, zleciła opracowanie i wykonanie układu automatycznej regulacji temperatury sterylizatora o określonych parametrach

Bardziej szczegółowo

Przetwornik temperatury RT-01

Przetwornik temperatury RT-01 Przetwornik temperatury RT-01 Wydanie LS 13/01 Opis Głowicowy przetwornik temperatury programowalny za pomoca PC przetwarzający sygnał z czujnika Pt100 na skalowalny analogowy sygnał wyjściowy 4 20 ma.

Bardziej szczegółowo

Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2

Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2 Generator przebiegów pomiarowych Ex-GPP2 Przeznaczenie Generator przebiegów pomiarowych GPP2 jest programowalnym sześciokanałowym generatorem napięć i prądów, przeznaczonym do celów pomiarowych i diagnostycznych.

Bardziej szczegółowo

Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław

Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach. mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław Automatyka przemysłowa na wybranych obiektach mgr inż. Artur Jurneczko PROCOM SYSTEM S.A., ul. Stargardzka 8a, 54-156 Wrocław 2 Cele prezentacji Celem prezentacji jest przybliżenie automatyki przemysłowej

Bardziej szczegółowo

LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera.

LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera. LEKCJA TEMAT: Zasada działania komputera. 1. Ogólna budowa komputera Rys. Ogólna budowa komputera. 2. Komputer składa się z czterech głównych składników: procesor (jednostka centralna, CPU) steruje działaniem

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Zastosowania wielofunkcyjnej karty pomiarowej Data wykonania: 06.03.08 Data oddania: 19.03.08 Celem ćwiczenia było poznanie

Bardziej szczegółowo

2. Zawartość dokumentacji. 1. Strona tytułowa. 2. Zawartość dokumentacji. 3. Spis rysunków. 4. Opis instalacji kontroli dostępu. 3.

2. Zawartość dokumentacji. 1. Strona tytułowa. 2. Zawartość dokumentacji. 3. Spis rysunków. 4. Opis instalacji kontroli dostępu. 3. 2. Zawartość dokumentacji 1. Strona tytułowa. 2. Zawartość dokumentacji. 3. Spis rysunków. 4. Opis instalacji kontroli dostępu. 3. Spis rysunków Rys nr 1 schemat instalacji KD Piwnica Rys nr 2 schemat

Bardziej szczegółowo

UKŁAD AUTOMATYCZNEJ REGULACJI STACJI TRANSFORMATOROWO - PRZESYŁOWYCH TYPU ARST

UKŁAD AUTOMATYCZNEJ REGULACJI STACJI TRANSFORMATOROWO - PRZESYŁOWYCH TYPU ARST Oddział Gdańsk JEDNOSTKA BADAWCZO-ROZWOJOWA ul. Mikołaja Reja 27, 80-870 Gdańsk tel. (48 58) 349 82 00, fax: (48 58) 349 76 85 e-mail: ien@ien.gda.pl http://www.ien.gda.pl ZAKŁAD TECHNIKI MIKROPROCESOROWEJ

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości łuku prądu stałego

Badanie właściwości łuku prądu stałego Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM URZĄDZEŃ ELEKTRYCZNYCH Instrukcja

Bardziej szczegółowo

2.2 Opis części programowej

2.2 Opis części programowej 2.2 Opis części programowej Rysunek 1: Panel frontowy aplikacji. System pomiarowy został w całości zintegrowany w środowisku LabVIEW. Aplikacja uruchamiana na komputerze zarządza przebiegiem pomiarów poprzez

Bardziej szczegółowo

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych

Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia. Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych Zakres wymaganych wiadomości do testów z przedmiotu Metrologia Ćwiczenie 1 Wprowadzenie do obsługi multimetrów analogowych i cyfrowych budowa i zasada działania przyrządów analogowych magnetoelektrycznych

Bardziej szczegółowo

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych

T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych T 1000 PLUS Tester zabezpieczeń obwodów wtórnych Przeznaczony do testowania przekaźników i przetworników Sterowany mikroprocesorem Wyposażony w przesuwnik fazowy Generator częstotliwości Wyniki badań i

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych

POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych Studia... Kierunek... Grupa dziekańska... Zespół... Nazwisko i Imię 1.... 2.... 3.... 4.... Laboratorium...... Ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe

Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Wirtualne przyrządy kontrolno-pomiarowe dr inż.. Roland PAWLICZEK Laboratorium komputerowe Mechatroniki Cel zajęć ęć: Przyrząd pomiarowy:

Bardziej szczegółowo

Relacja: III Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne

Relacja: III Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne Relacja: III Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne W dniu 10.04.2015 odbyło się III Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI

WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI POMIARU METODAMI SYMULACYJNYMI Stefan WÓJTOWICZ, Katarzyna BIERNAT ZAKŁAD METROLOGII I BADAŃ NIENISZCZĄCYCH INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI ul. Pożaryskiego 8, 04-703 Warszawa tel. (0)

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości

Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki PRACA DYPLOMOWA MAGISTERSKA Zastosowanie procesorów AVR firmy ATMEL w cyfrowych pomiarach częstotliwości Marcin Narel Promotor: dr inż. Eligiusz

Bardziej szczegółowo

JĘZYKI PROGRAMOWANIA STEROWNIKÓW

JĘZYKI PROGRAMOWANIA STEROWNIKÓW JĘZYKI PROGRAMOWANIA STEROWNIKÓW dr inż. Wiesław Madej Wstęp Języki programowania sterowników 15 h wykład 15 h dwiczenia Konsultacje: - pokój 325A - środa 11 14 - piątek 11-14 Literatura Tadeusz Legierski,

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 15/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 15/15 PL 226438 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226438 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406862 (22) Data zgłoszenia: 16.01.2014 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych ĆWICZENIE 0 Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i właściwościami wzmacniaczy operacyjnych oraz podstawowych układów elektronicznych

Bardziej szczegółowo

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych

Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych XXXVIII MIĘDZYUCZELNIANIA KONFERENCJA METROLOGÓW MKM 06 Warszawa Białobrzegi, 4-6 września 2006 r. Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym w stanach dynamicznych Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ Zrozumienie zasady działania przetwornika cyfrowo-analogowego. Poznanie podstawowych parametrów i działania układu DAC0800. Poznanie sposobu generacji symetrycznego

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe Jarosław Gliwiński, Łukasz Rogacz Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe ćw. Generator cyfrowy w systemie z interfejsem IEEE-488 Data wykonania: 24.04.08 Data oddania: 15.05.08 Celem ćwiczenia było

Bardziej szczegółowo

Automatyka i sterowania

Automatyka i sterowania Automatyka i sterowania Układy regulacji Regulacja i sterowanie Przykłady regulacji i sterowania Funkcje realizowane przez automatykę: regulacja sterowanie zabezpieczenie optymalizacja Automatyka i sterowanie

Bardziej szczegółowo

WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO

WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO Mirosław KAŹMIERSKI Okręgowy Urząd Miar w Łodzi 90-132 Łódź, ul. Narutowicza 75 oum.lodz.w3@gum.gov.pl WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO 1. Wstęp Konieczność

Bardziej szczegółowo

4. Schemat układu pomiarowego do badania przetwornika

4. Schemat układu pomiarowego do badania przetwornika 1 1. Projekt realizacji prac związanych z uruchomieniem i badaniem przetwornika napięcie/częstotliwość z układem AD654 2. Założenia do opracowania projektu a) Dane techniczne układu - Napięcie zasilające

Bardziej szczegółowo

Interfejs analogowy LDN-...-AN

Interfejs analogowy LDN-...-AN Batorego 18 sem@sem.pl 22 825 88 52 02-591 Warszawa www.sem.pl 22 825 84 51 Interfejs analogowy do wyświetlaczy cyfrowych LDN-...-AN zakresy pomiarowe: 0-10V; 0-20mA (4-20mA) Załącznik do instrukcji obsługi

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

IX Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne

IX Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne IX Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy numeryczne W dniu 15.01.2016 odbyło się IX Seminarium Naukowe Tomografia procesowa aplikacje, systemy pomiarowe i algorytmy

Bardziej szczegółowo

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach 1 Sygnały wejściowe/wyjściowe w sterowniku PLC Izolacja galwaniczna obwodów sterownika Zasilanie sterownika Elementy sygnalizacyjne Wejścia logiczne (dwustanowe)

Bardziej szczegółowo

BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO

BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO Temat ćwiczenia: BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO 1. Wprowadzenie Ultradźwiękowy bezdotykowy czujnik położenia liniowego działa na zasadzie pomiaru czasu powrotu impulsu ultradźwiękowego,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Obwody prądu sinusoidalnego jednofazowego"

Ćwiczenie: Obwody prądu sinusoidalnego jednofazowego Ćwiczenie: "Obwody prądu sinusoidalnego jednofazowego" Opracowane w ramach projektu: "Informatyka mój sposób na poznanie i opisanie świata realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres

Bardziej szczegółowo

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008

Detektor Fazowy. Marcin Polkowski 23 stycznia 2008 Detektor Fazowy Marcin Polkowski marcin@polkowski.eu 23 stycznia 2008 Streszczenie Raport z ćwiczenia, którego celem było zapoznanie się z działaniem detektora fazowego umożliwiającego pomiar słabych i

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 218560 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218560 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393408 (51) Int.Cl. H03F 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych Pytania podstawowe dla studentów studiów II-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych 0 Podstawy metrologii 1. Co to jest pomiar? 2. Niepewność pomiaru, sposób obliczania. 3.

Bardziej szczegółowo

2013-04-25. Czujniki obiektowe Sterowniki przemysłowe

2013-04-25. Czujniki obiektowe Sterowniki przemysłowe Ogólne informacje o systemach komputerowych stosowanych w sterowaniu ruchem funkcje, właściwości Sieci komputerowe w sterowaniu informacje ogólne, model TCP/IP, protokoły warstwy internetowej i transportowej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE

NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE INSTYTUT INFORMATYKI STOSOWANEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ Ćwiczenia Nr 7 NAGRZEWANIE ELEKTRODOWE 1.WPROWADZENIE. Nagrzewanie elektrodowe jest to nagrzewanie elektryczne oparte na wydzielaniu, ciepła przy przepływie

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 189792 (13) B1 (2 1) Numer zgłoszenia: 3 3 1130 (22) Data zgłoszenia: 29.01.1999 (51) IntCl7 A 61B 5/053

Bardziej szczegółowo

Miernictwo I INF Wykład 13 dr Adam Polak

Miernictwo I INF Wykład 13 dr Adam Polak Miernictwo I INF Wykład 13 dr Adam Polak ~ 1 ~ I. Właściwości elementów biernych A. Charakterystyki elementów biernych 1. Rezystor idealny (brak przesunięcia fazowego między napięciem a prądem) brak części

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska. Gdańsk, 2016

Politechnika Gdańska. Gdańsk, 2016 Politechnika Gdańska Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Katedra Systemów Geoinformatycznych Aplikacje Systemów Wbudowanych Programowalne Sterowniki Logiczne (PLC) Krzysztof Bikonis Gdańsk,

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych

PL B1. Sposób wyznaczania błędów napięciowego i kątowego indukcyjnych przekładników napięciowych dla przebiegów odkształconych PL 216925 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216925 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389198 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Układ pomiarowy CoachLab II

Układ pomiarowy CoachLab II Układ pomiarowy CoachLab II Warszawa, 2003 Wprowadzenie CoachLab II jest wielofunkcyjnym układem pomiarowym, który posiada szerokie możliwości w zakresie wykonywania pomiarów wspomaganych komputerowo i

Bardziej szczegółowo

ASTOR IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe. Rozdzielczość 12 bitów. Kod: B8. 4-kanałowy moduł ALG320 przetwarza sygnały cyfrowe o rozdzielczości 12

ASTOR IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe. Rozdzielczość 12 bitów. Kod: B8. 4-kanałowy moduł ALG320 przetwarza sygnały cyfrowe o rozdzielczości 12 2.11 MODUŁY WYJŚĆ ANALOGOWYCH IC200ALG320 4 wyjścia analogowe prądowe, rozdzielczość 12 bitów IC200ALG321 4 wyjścia analogowe napięciowe (0 10 VDC), rozdzielczość 12 bitów IC200ALG322 4 wyjścia analogowe

Bardziej szczegółowo

Biomonitoring system kontroli jakości wody

Biomonitoring system kontroli jakości wody FIRMA INNOWACYJNO -WDROŻENIOWA ul. Źródlana 8, Koszyce Małe 33-111 Koszyce Wielkie tel.: 0146210029, 0146360117, 608465631 faks: 0146210029, 0146360117 mail: biuro@elbit.edu.pl www.elbit.edu.pl Biomonitoring

Bardziej szczegółowo

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

Projektowanie i symulacja systemu pomiarowego do pomiaru temperatury

Projektowanie i symulacja systemu pomiarowego do pomiaru temperatury Paweł PTAK Politechnika Częstochowska, Polska Projektowanie i symulacja systemu pomiarowego do pomiaru temperatury Wstęp Temperatura należy do grupy podstawowych wielkości fizycznych. Potrzeba pomiarów

Bardziej szczegółowo

Komputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych

Komputerowe systemy pomiarowe. Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych Komputerowe systemy pomiarowe Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny laboratorium Wykład III Podstawowe elementy sprzętowe elektronicznych układów pomiarowych 1 - Linearyzatory, wzmacniacze, wzmacniacze

Bardziej szczegółowo

Opracował: Jan Front

Opracował: Jan Front Opracował: Jan Front Sterownik PLC PLC (Programowalny Sterownik Logiczny) (ang. Programmable Logic Controller) mikroprocesorowe urządzenie sterujące układami automatyki. PLC wykonuje w sposób cykliczny

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym"

Ćwiczenie: Pomiary rezystancji przy prądzie stałym Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE 2 (TS1C500 030) Tranzystor w układzie wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Podstawowe funkcje przetwornika C/A

Podstawowe funkcje przetwornika C/A ELEKTRONIKA CYFROWA PRZETWORNIKI CYFROWO-ANALOGOWE I ANALOGOWO-CYFROWE Literatura: 1. Rudy van de Plassche: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe, WKŁ 1997 2. Marian Łakomy, Jan Zabrodzki:

Bardziej szczegółowo

12.7 Sprawdzenie wiadomości 225

12.7 Sprawdzenie wiadomości 225 Od autora 8 1. Prąd elektryczny 9 1.1 Budowa materii 9 1.2 Przewodnictwo elektryczne materii 12 1.3 Prąd elektryczny i jego parametry 13 1.3.1 Pojęcie prądu elektrycznego 13 1.3.2 Parametry prądu 15 1.4

Bardziej szczegółowo

Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P

Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P 1 Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P Laboratoryjne zasilacze programowalne AX-3003P i AX-6003P Od zasilaczy laboratoryjnych wymaga się przede wszystkim regulowania napięcia i prądu

Bardziej szczegółowo

Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki

Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki Temat ćwiczenia: Przetwornica impulsowa DC-DC typu boost

Bardziej szczegółowo

Sprzęt i architektura komputerów

Sprzęt i architektura komputerów Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI

Bardziej szczegółowo

Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne

Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne 1 Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne Mała firma elektroniczna wyprodukowała tani i prosty w budowie prototypowy generator funkcyjny do zastosowania w warsztatach amatorskich. Podstawowym układem

Bardziej szczegółowo

Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych

Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych Pytania podstawowe dla studentów studiów I-go stopnia kierunku Elektrotechnika VI Komisji egzaminów dyplomowych 0 Podstawy metrologii 1. Model matematyczny pomiaru. 2. Wzorce jednostek miar. 3. Błąd pomiaru.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy Ćwiczenie nr 65 Badanie wzmacniacza mocy 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych parametrów wzmacniaczy oraz wyznaczenie charakterystyk opisujących ich właściwości na przykładzie wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie ĆWICZENIE Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów C. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest praktyczno-analityczna ocena wartości

Bardziej szczegółowo

SILNIK INDUKCYJNY STEROWANY Z WEKTOROWEGO FALOWNIKA NAPIĘCIA

SILNIK INDUKCYJNY STEROWANY Z WEKTOROWEGO FALOWNIKA NAPIĘCIA SILNIK INDUKCYJNY STEROWANY Z WEKTOROWEGO FALOWNIKA NAPIĘCIA Rys.1. Podział metod sterowania częstotliwościowego silników indukcyjnych klatkowych Instrukcja 1. Układ pomiarowy. Dane maszyn: Silnik asynchroniczny:

Bardziej szczegółowo

Sterowniki Programowalne Sem. V, AiR

Sterowniki Programowalne Sem. V, AiR Katedra Inżynierii Systemów Sterowania Sterowniki Programowalne Sem. V, AiR Opis stanowiska sterowania prędkością silnika 3-fazowego Opracował: mgr inż. Arkadiusz Cimiński Data: październik, 2016 r. Opis

Bardziej szczegółowo

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO

POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO Politechnika Rzeszowska Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych Laboratorium Elektroniczne przyrządy i techniki pomiarowe POMIARY WYBRANYCH PARAMETRÓW TORU FONICZNEGO W PROCESORACH AUDIO Grupa Nr

Bardziej szczegółowo

CZAZ GT BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY. DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2

CZAZ GT BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY. DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2 CZAZ GT CYFROWY ZESPÓŁ AUTOMATYKI ZABEZPIECZENIOWEJ GENERATORA / BLOKU GENERATOR -TRANSFORMATOR BIBLIOTEKA FUNKCJI PRZEKAŹNIKI, LOGIKA, POMIARY DODATKOWE ELEMENTY FUNKCJONALNE DSP v.2 Modyfikacje funkcjonalne

Bardziej szczegółowo

1. Poznanie właściwości i zasady działania rejestrów przesuwnych. 2. Poznanie właściwości i zasady działania liczników pierścieniowych.

1. Poznanie właściwości i zasady działania rejestrów przesuwnych. 2. Poznanie właściwości i zasady działania liczników pierścieniowych. Ćwiczenie 9 Rejestry przesuwne i liczniki pierścieniowe. Cel. Poznanie właściwości i zasady działania rejestrów przesuwnych.. Poznanie właściwości i zasady działania liczników pierścieniowych. Wprowadzenie.

Bardziej szczegółowo

1. Cel ćwiczenia. 2. Podłączenia urządzeń zewnętrznych w sterowniku VersaMax Micro

1. Cel ćwiczenia. 2. Podłączenia urządzeń zewnętrznych w sterowniku VersaMax Micro 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprojektowanie sterowania układem pozycjonowania z wykorzystaniem sterownika VersaMax Micro oraz silnika krokowego. Do algorytmu pozycjonowania wykorzystać licznik

Bardziej szczegółowo

IX Seminarium Naukowe "Inżynierskie zastosowania technologii informatycznych"

IX Seminarium Naukowe Inżynierskie zastosowania technologii informatycznych IX Seminarium Naukowe "Inżynierskie zastosowania technologii informatycznych" W dniu 23.04.2016 odbyło się IX Seminarium Naukowe Inżynierskie zastosowania technologii informatycznych. Organizatorzy Zaoczne

Bardziej szczegółowo

Sterowniki Programowalne (SP)

Sterowniki Programowalne (SP) Sterowniki Programowalne (SP) Wybrane aspekty procesu tworzenia oprogramowania dla sterownika PLC Podstawy języka funkcjonalnych schematów blokowych (FBD) Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i

Bardziej szczegółowo

Wykaz ważniejszych oznaczeń Podstawowe informacje o napędzie z silnikami bezszczotkowymi... 13

Wykaz ważniejszych oznaczeń Podstawowe informacje o napędzie z silnikami bezszczotkowymi... 13 Spis treści 3 Wykaz ważniejszych oznaczeń...9 Przedmowa... 12 1. Podstawowe informacje o napędzie z silnikami bezszczotkowymi... 13 1.1.. Zasada działania i klasyfikacja silników bezszczotkowych...14 1.2..

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności

Bardziej szczegółowo

KAmodRPiADCDAC. Moduł przetwornika A/C i C/A dla komputerów RaspberryPi i RaspberryPi+

KAmodRPiADCDAC. Moduł przetwornika A/C i C/A dla komputerów RaspberryPi i RaspberryPi+ Moduł przetwornika A/C i C/A dla komputerów RaspberryPi i RaspberryPi+ jest ekspanderem funkcjonalnym dla komputerów RaspberryPi oraz Raspberry Pi+ zapewniającym możliwość konwersji A/C i C/A z rozdzielczością

Bardziej szczegółowo

IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE Z RDZENIEM ARM7

IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE Z RDZENIEM ARM7 Łukasz Deńca V rok Koło Techniki Cyfrowej dr inż. Wojciech Mysiński opiekun naukowy IMPLEMENTATION OF THE SPECTRUM ANALYZER ON MICROCONTROLLER WITH ARM7 CORE IMPLEMENTACJA ANALIZATORA WIDMA NA MIKROKONTROLERZE

Bardziej szczegółowo

Funkcje: wejściowe, wyjściowe i logiczne. Konfigurowanie zabezpieczeń.

Funkcje: wejściowe, wyjściowe i logiczne. Konfigurowanie zabezpieczeń. Funkcje: wejściowe, wyjściowe i logiczne. Konfigurowanie zabezpieczeń. 1. ZASADA DZIAŁANIA...2 2. FUNKCJE WEJŚCIOWE...5 3. FUNKCJE WYJŚCIOWE...6 4. FUNKCJE LOGICZNE...9 Zabezpieczenie : ZSN 5U od: v. 1.0

Bardziej szczegółowo

Podstawy Automatyki. Wykład 12 - Układy przekaźnikowe. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, 2015. Instytut Automatyki i Robotyki

Podstawy Automatyki. Wykład 12 - Układy przekaźnikowe. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, 2015. Instytut Automatyki i Robotyki Wykład 12 - Układy przekaźnikowe Instytut Automatyki i Robotyki Warszawa, 2015 Projektowanie układów kombinacyjnych Układy kombinacyjne są realizowane: w technice stykowo - przekaźnikowej, z elementów

Bardziej szczegółowo

Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych

Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania nieliniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

Opis ultradźwiękowego generatora mocy UG-500

Opis ultradźwiękowego generatora mocy UG-500 R&D: Ultrasonic Technology / Fingerprint Recognition Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Sp. z o.o. ul. Otwarta 10a PL-50-212 Wrocław tel.: +48 71 3296853 fax.: 3296852 e-mail: optel@optel.pl NIP

Bardziej szczegółowo

KARTA KATALOGOWA TABLICOWY MIERNIK CYFROWY NEF-30MC

KARTA KATALOGOWA TABLICOWY MIERNIK CYFROWY NEF-30MC www.sn-promet.pl KARTA KATALOGOWA TABLICOWY MIERNIK CYFROWY NEF-30MC Mierniki cyfrowe NEF30-MC stanowią rozwinięcie serii NEF30 zawierającej dotychczas przyciski sterownicze, lampki i wskaźniki sygnalizacyjne.

Bardziej szczegółowo

T 2000 Tester transformatorów i przekładników

T 2000 Tester transformatorów i przekładników T 2000 Tester transformatorów i przekładników T2000 - Wielozadaniowy system pomiaru przekładników prądowych, napięciowych, transformatorów, zabezpieczeń nadprądowych, liczników energii i przetworników.

Bardziej szczegółowo

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE. Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach wagowych

KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE. Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach wagowych KATEDRA ELEKTRONIKI AGH WYDZIAŁ EAIIE Przetworniki A/C i C/A Data wykonania LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ Skład zespołu: Dydaktyczny model 4-bitowego przetwornika C/A z siecią rezystorów o wartościach

Bardziej szczegółowo

WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH POLITECHNIKA WARSZAWSKA Instytut Radioelektroniki Zakład Radiokomunikacji WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE Semestr III LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Ćwiczenie Temat: Badanie wzmacniacza operacyjnego

Bardziej szczegółowo

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO Ćwiczenie 11 BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO 11.1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie rodzajów, budowy i właściwości przerzutników astabilnych, monostabilnych oraz

Bardziej szczegółowo

POMIARY CIEPLNE KARTY ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH V. 2011

POMIARY CIEPLNE KARTY ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH V. 2011 ĆWICZENIE 1: Pomiary temperatury 1. Wymagane wiadomości 1.1. Podział metod pomiaru temperatury 1.2. Zasada działania czujników termorezystancyjnych 1.3. Zasada działania czujników termoelektrycznych 1.4.

Bardziej szczegółowo

WSTĘP. Rys.1 Szablon do projektowania schematu elektrycznego wraz ze specyfikacją obwodów.

WSTĘP. Rys.1 Szablon do projektowania schematu elektrycznego wraz ze specyfikacją obwodów. WSTĘP Projektowanie schematów elektrycznych jest nieodłącznym elementem projektowania instalacji elektrycznych a schemat tablicy rozdzielczej niezbędnym rysunkiem w poprawnej dokumentacji projektowej.

Bardziej szczegółowo

Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski,

Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski, Modernizacja spektrometru EPR na pasmo X firmy Bruker model ESP-300 Autorzy: Jan Duchiewicz, Andrzej Francik, Andrzej L. Dobrucki, Andrzej Sadowski, Stanisław Walesiak (Politechnika Wrocławska, ITTiA),

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie: "Pomiary mocy w układach trójfazowych dla różnych charakterów obciążenia"

Ćwiczenie: Pomiary mocy w układach trójfazowych dla różnych charakterów obciążenia Ćwiczenie: "Pomiary mocy w układach trójfazowych dla różnych charakterów obciążenia" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską

Bardziej szczegółowo

Technologie informacyjne - wykład 12 -

Technologie informacyjne - wykład 12 - Zakład Fizyki Budowli i Komputerowych Metod Projektowania Instytut Budownictwa Wydział Budownictwa Lądowego i Wodnego Politechnika Wrocławska Technologie informacyjne - wykład 12 - Prowadzący: Dmochowski

Bardziej szczegółowo

(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny

(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166151 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 0 5 8 3 (22) Data zgłoszenia: 06.06.1991 (51) IntCl5: G01R 31/28

Bardziej szczegółowo