Agilent 5110 ICP-OES DUAL VIEW ICP-OES BEZ KOMPROMISÓW!

Transkrypt

1 Agilent 5110 ICP-OES DUAL VIEW ICP-OES BEZ KOMPROMISÓW!

2 AGILENT 5110 ICP-OES NAJSZYBSZY I NAJBARDZIEJ PRECYZYJNY ICP-OES. Agilent s 5110 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES to bezkompromisowe połączenie szybkości i analitycznej wydajności. Bezkompromisowa szybkość Najszybsza analiza ICP-OES, przy najniższym zużyciu argonu dzięki unikalnej technologii DSC (Dichroic Spectral Combiner) umożliwiającej synchroniczny pomiar w podglądzie poosiowym i prostopadłym. Zmniejszenie kosztów analizy i ponad dwukrotne zwiększenie wydajności z systemem AVS (Advanced Valve System). Wysoka precyzja i brak opóźnień dzięki równoczesnemu pomiarowi dla wszystkich długości fal. Szybsze rozpoczęcie pracy przy zerowym zużyciu gazu i krótszym czasie wygrzewania detektora VistaChip II. Bezkompromisowa wydajność Pomiary nawet najtrudniejszych próbek dzięki zastosowaniu pionowego palnika - od złożonych matryc do lotnych rozpuszczalników organicznych. Zmniejszenie objętości pobieranej próbki, skrócenie czasu stabilizacji i opóźnienia na płukanie dzięki zastosowaniu opcjonalnego systemu AVS. System CCI - chłodzony stożek (Cooled Cone Interface) poprawia liniowość i zmniejsza interferencje dla plazmy aksjalnej. Półprzewodnikowy generator RF zapewnia długoczasową stabilność parametrów plazmy. Bezkompromisowa łatwość obsługi IntelliQuant umożliwia natychmiastową identyfikację wszystkich pierwiastków obecnych w próbce. Ułatwia to opracowanie metody i udostępnia informacje półilościowe. Intuicyjne oprogramowanie nowej generacji w połączeniu z technologią DSC ułatwia opracowywanie metod analitycznych. Pełna integracja systemu AVS oraz palnik montowany w trybie plug-and-play zapewniają rozpoczęcie pracy już po krótkim szkoleniu. Inteligentna diagnostyka ułatwia rozwiązywanie ewentualnych problemów i wydłuża czas bezawaryjnej pracy. KONFIGURACJE Agilent 5110 jest dostępny w trzech konfiguracjach: Synchronous Vertical Dual View (SVDV) umożliwia najszybsze wykonywanie analiz i zapewnia najniższe zużycie gazu. Vertical Dual View (VDV) zapewnia szybkie wykonywanie analiz, a przy zwiększeniu ilości próbek analizowanych w laboratorium możliwa jest modernizacja do konfiguracji SVDV. Radial View idealne rozwiązanie dla laboratoriów wymagających szybkich i bardzo wydajnych analiz w trybie podglądu prostopadłego. Pionowy palnik i wysokosprawny, półprzewodnikowy generator RF umożliwiają bezproblemowy pomiar nawet bardzo trudnych próbek. Pokazano procentowe zmiany dla szeregu pierwiastków w roztworze 25% NaCl. Stabilność dla wszystkich pierwiastków w czasie 4 godzin jest < 1,3% RSD, bez wewnętrznej standaryzacji. 2

3 O 55% SZYBSZY. O 50% MNIEJ ARGONU. Jak działa system SVDV? 5110 SVDV ICP-OES podczas analizy próbki wykonuje tylko jeden pomiar. Lustro dichroiczne (Dichroic Spectral Combiner - DSC) umożliwia wykonanie pomiaru z podglądu poosiowego i prostopadłego w jednym odczycie. W ten sposób uzyskuje się dokładne wyniki w najkrótszym możliwym czasie 1. > 40 L podgląd poosiowy do detektora 20 L 5110 SVDV 27 L 5110 VDV Przyrządy innych producentów Pionowy palnik i plazma podgląd prostopadły Ogromne zmniejszenie zużycia argonu 1 Spektrometr 5110 ICP-OES ma najniższe zużycie argonu spośród wszystkich produkowanych przyrządów ICP-OES. CZY WIESZ, ŻE...? Dichroic Spectral Combiner (DSC - lustro dichroiczne) W konwencjonalnych systemach ICP OES dual view wybór tego, czy pierwiastek powinien być zmierzony w trybie podglądu poosiowego, czy prostopadłego wymaga wykonania serii pomiarów sekwencyjnych. Ponadto niektóre systemy wymagają dwóch szczelin do pomiarów w niskim i w wysokim zakresie długości fal, co oznacza konieczność wykonania czterech pomiarów sekwencyjnych dla każdej próbki; konsekwencją jest znaczne spowolnienie pomiarów. 3

4 AGILENT 5110 ICP-OES SZYBKIE I DOKŁADNE WYNIKI, BEZ KOMPROMISÓW. MINIMALIZACJA INTERFERENCJI System CCI eliminuje obecność i wpływ chłodnej plazmy w jej końcowym obszarze (tzw. ogon plazmy) przy podglądzie poosiowym. Zmniejsza efekt samoabsorpcji i rekombinacji, poprawia liniowość i zakres dynamiki oraz obniża poziom tła. STABILNOŚĆ ANALITYCZNA PODCZAS DŁUGICH POMIARÓW Półprzewodnikowy generator plazmy RF stanowi niezawodny, trwały i bezobsługowy system nawet w przypadku bardzo trudnych próbek. POMIAR NAWET BARDZO TRUDNYCH PRÓBEK Zastosowanie pionowego palnika umożliwia pomiary nawet najtrudniejszych próbek - od złożonych matryc do lotnych rozpuszczalników organicznych. Pionowa orientacja palnika zapewnia bezkompromisowy pomiar trudnych próbek bez konieczności czyszczenia bądź wymiany palnika. PALNIK TYPU PLUG-AND-PLAY Prosty mechanizm mocowania palnika automatycznie ustawia palnik i zapewnia połączenia gazowe, umożliwając natychmiastowe wznowienie pracy przy zachowaniu powtarzalności. OBNIŻENIE KOSZTÓW SERWISOWANIA I SKRÓCENIE CZASU PRZESTOJÓW Inteligentne oprogramowanie diagnostyczne oraz wewnętrzna diagnostyka elektroniki nieprzerwanie monitorują stan przyrządu, umożliwiając natychmiastowe określenie stanu urządzenia. Skraca to czas przestojów przyrządu. 4

5 SZYBKIE I DOKŁADNE WYNIKI W JEDNYM POMIARZE DSC umożliwia wykonanie pomiaru równocześnie dla podglądu prostopadłego i poosiowego. Każda próbka mierzona jest tylko jeden raz. WYSOKA WYDAJNOŚĆ I SZEROKI ZAKRES DYNAMICZNY VistaChip to bardzo szybki detektor CCD z pełnym pokryciem zakresu długości fal, wyposażony w blokadę typu anti-blooming (dla każdego piksela). Szczelna konstrukcja nie wymaga przepłukiwania gazem, ma krótki czas wygrzewania, dużą wydajność, wysoką czułość i szeroki zakres dynamiczny. KOMPAKTOWA KONSTRUKCJA O NIEWIELKICH WYMIARACH Najmniejszy na rynku spektrometr ICP-OES zajmuje bardzo mało miejsca i umożliwia łatwy dostęp dla serwisu i obsługi. Wszystkie podłączenia (zasilanie, gaz, woda chłodząca i przewody komunikacyjne) dostępne są z boku (a nie z tyłu) urzadzenia. ZWIĘKSZONA WYDAJNOŚĆ Opcjonalny system zaworów przełączających AVS z 6 lub 7 portami umożliwia znaczne zwiększenie szybkości wykonywania analiz kolejnych próbek przy zachowaniu pełnej analitycznej funkcjonalności. SOLIDNOŚĆ I WYSOKA ODPORNOŚĆ NA KOROZJĘ 5110 ICP-OES wykonany jest z materiałów odpornych na korozję, a wewnętrzne nadciśnienie w spektrometrze zabezpiecza przed przedostawaniem się kwaśnych oparów do wnętrza przyrządu. 5

6 AGILENT 5110 ICP-OES DOKŁADNE I PRECYZYJNE WYNIKI ZA PIERWSZYM RAZEM, ZA KAŻDYM RAZEM Łatwość wykonywania analiz Oprogramowanie Agilent ICP Expert posiada arkusze robocze ułatwiające opracowanie metod analitycznych oraz zorientowne aplikacyjnie aplety z ustawionymi wstępnie parametrami metod - to ułatwienie i wymierna oszczędność czasu. Koniec z wieloetapowym wyborem trybu pracy 5110 ICP-OES wyposażony w DSC eliminuje konieczność wyboru dla każdego analizowanego pierwiastka właściwego trybu plazmy. Wystarczy wybrać pierwiastek i długość fali, spektrometr wykona resztę w pojedynczym pomiarze synchroniczym. Metody Click and Go (kliknij i analizuj) Łatwe w zastosowaniu, zorientowane aplikacyjnie aplety umożliwiają automatyczne załadowanie domyślnych metod analitycznych - bez konieczności dopasowywnia parametrów i ustawień. Oprogramowanie gwantujące dokładne i rzetelne wyniki Algorytm Fitted Background Correction (FBC) ułatwia opracowywanie metod i zapewnia szybką i dokładną korekcję tła. Interferencje spektralne są łatwe do skorygowania przy zastosowaniu techniki Fast Automated Curve-fitting Technique (FACT) lub, w przypadku trudnych matryc, przy zastosowaniu techniki Inter Element Correction (IEC) W trybie IntelliQuant wykonwany jest dodatkowy skan w pełnym zakresie długości fal. Pozwala to na błyskawiczną identyfikację i półilościową analizę badanej próbki. Opracowanie nowej metody analitycznej jest szybsze i łatwiejsze; można wybrać długości fal o odpowiedniej czułości i nie wykazujące interferencji. Opcja MultiCal umożliwia monitorowanie dwóch lub więcej długości fal dla każdego analizowanego pierwiastka zapewniając lepszą dokładność wyników i poszerzając zakres pomiarowy. Weryfikacja zgodności Opcjonalne oprogramowanie Spectroscopy Configuration Manager (SCM) umożliwia zapewnienie zgodności z przepisami US FDA 21 CFR Part 11. Procedury kwalifikacyjne przyrządu (IQ/OQ) umożliwają uzyskanie początkowej oraz kolejnych potwierdzeń zgodności z wymaganiami. Dokładny, automatyczny system korekcji tła - FBC FBC oblicza rzeczywisty poziom sygnału tła, znacząco poprawiając dokładność oznaczeń. Intensity Interferent Widmo Sample Spectrum próbki Analit Analyte Dane widmowe Spectrum Data Długość Wavelength(nm) fali Wyeliminowanie interferfencji spektralnych za pomocą FACT Rozdzielenie dla trudnej interferencji od Fe dla linii Cd nm. Na wykresie: A. Wynik pomiaru piku w próbce gleby B. Model interferencji w technice FACT C. Skorygowany sygnał analityczny dla Cd A B C 6

7 WYŻSZA WYDAJNOŚĆ I WIĘKSZE MOŻLIWOŚCI. Palnik plug-and-play Akcesoria Prosty i skuteczny automatyczny mechanizm mocowania palnika oraz podłączenia gazów - gwarantuje jego błyskawiczną wymianę i precyzyjne ustawienie. Zamocowany palnik nie wymaga żadnych regulacji ani ustawień. Instalacja palnika w trzech prostych krokach 1Zwolnienie uchwytu Advanced Valve System (AVS) Opcjonalny AVS to 6 lub 7 portowy system zaworów przełączających. Zmniejsza on koszty wykonywania analiz i ponad dwukrotnie zwiększa wydajność spektrometru 5110 ICP-OES. Wprowadzenie zdefiniowanych przestrzeni powietrznych w torze próbki zmniejsza ilość pobieranej próbki i skraca czas płukania oraz stabilizacji, przy zachowaniu wysokiej precyzji analitycznej. Autosampler SPS 4 Optymalne rozwiązanie dla laboratoriów wykonujących duże serie analiz. Autosampler jest bardzo szybki, ma dużą pojemność (do 360 próbek), niewielkie wymiary i jest badzo łatwy w obsłudze. 2Wsunięcie palnika 3Zamknięcie uchwytu Multimode Sample Introduction System (MSIS) Umożliwia równoczesne pomiary metodą klasyczną, jak i techniką wodorkową (np. As, Se czy Hg) na poziomie sub-ppb. Eliminuje konieczność wykonywania zmian w torze wprowadzania próbki i pozwala na równoczesny pomiar przy zachowaniu tych samych ustawień. Wyposażenie opcjonalne toru wprowadzania próbki Dostępnych jest szereg optymalizowanych palników i zestawów wprowadzania próbki dla: rozpuszczalników organicznych próbek o dużej zawartości soli/matryc próbek zawierających HF Demontowalne palniki są łatwe w obsłudze, można je szybko wymieniać i umożliwiają obniżenie kosztów eksploatacji. 7

8 Więcej informacji Dalsze informacje można znaleźć U.S. i Canada agilent_inquiries@agilent.com Europa info_agilent@agilent.com Azja/Pacifik inquiry_lsca@agilent.com W innych krajach należy zwrócić się do lokalnego przedstawicielstwa firmy Agilent lub do autoryzowanego dystrybutora. Informacje kontaktowe znajdują się: MS Spektrum MS Spektrum ul. Lubomira Warszawa biuro@msspektrum.pl Serwis firmy Agilent pozwala skoncentrować się na własnych zadaniach Jeżeli potrzebujecie Państwo wsparcia technicznego dla jednego przyrządu bądź dla zespołu laboratoriów, Agilent pomoże szybko rozwiązać problemy i podnieść wydajność w zespole poprzez: Zapoznanie z zawartością ponad 20 filmów szkoleniowych. Wizytę specjalisty do obsługi technicznej, napraw lub walidacji. Umowę serwisową dla wszystkich systemów i urządzeń peryferyjnych. Szkolenia aplikacyjne i konsultacje naszych specjalistów międzynarodowych. Agilent Service Guarantee If your Agilent instrument requires service while covered by an Agilent service agreement, we guarantee repair or we will replace your instrument for free. No other manufacturer or service provider offers this level of commitment to keeping your lab running at maximum productivity. Agilent Value Promise We guarantee you at least 10 years of instrument use from your date of purchase, or we will credit you with the residual value of the system toward an equivalent model. 1 Rysunki dotyczące szybkości analiz oraz zużycia argonu zawierają porównanie do urządzeń innych producentów na podstawie opublikowanych danych aplikacyjnych. Vide Nota aplikacyjna Agilent EN (Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7) Lider innowacji w atomowej spektrometrii absorpcyjnej Agilent AA Agilent MP-AES Agilent ICP-OES Agilent ICP-MS Agilent ICP-QQQ Niniejsze informacje mogą ulec zmianie bez powiadomienia. Agilent Technologies, Inc Printed in the USA May 1, EN