Badanie diod półprzewodnikowych



Podobne dokumenty
Badanie diod półprzewodnikowych

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Elementy i obwody nieliniowe

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Cel ćwiczenia. Podstawowe informacje. eu exp mkt ] 1 (1) I =I S[

Ćwiczenie nr 2 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE.

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE. Obwody nieliniowe.

Dioda półprzewodnikowa

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

4. Diody DIODY PROSTOWNICZE. Są to diody przeznaczone do prostowania prądu przemiennego.

Elementy półprzewodnikowe. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.

Złącze p-n powstaje wtedy, gdy w krysztale półprzewodnika wytworzone zostaną dwa obszary o odmiennym typie przewodnictwa p i n. Nośniki większościowe

Źródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

Diody półprzewodnikowe cz II

Politechnika Białostocka

Elementy przełącznikowe

EL08s_w03: Diody półprzewodnikowe

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Elementy elektroniczne Wykłady 4: Diody półprzewodnikowe

Politechnika Białostocka

Dioda półprzewodnikowa OPRACOWANIE: MGR INŻ. EWA LOREK

LABORATORIUM ELEKTRONIKI

Diody prostownicze. częstotliwo. ową 50 Hz) przy znacznych lub zgoła a duŝych mocach wydzielanych w obciąŝ

. Diody, w których występuje przebicie Zenera, charakteryzują się małymi, poniŝej 5V, wartościami napięcia stabilizacji oraz ujemną wartością α

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

7. Tyrystory. Tyrystor SCR (Silicon Controlled Rectifier)

Laboratorium elektroniki. Ćwiczenie E02IS. Diody. Wersja 2.0 (21 lutego 2018)

Urządzenia półprzewodnikowe

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

Badanie charakterystyki diody

Wykład V Złącze P-N 1

Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Diody, tranzystory, tyrystory. Materiały pomocnicze do zajęć.

Diody półprzewodnikowe

3. ZŁĄCZE p-n 3.1. BUDOWA ZŁĄCZA

Repeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n

Ćwiczenie C1 Diody. Wydział Fizyki UW

WARYSTORY, TERMISTORY, DIODY.

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Ćw. III. Dioda Zenera

Diody półprzewodnikowe

Base. Paul Sherz Practical Electronic for Inventors McGraw-Hill 2000

Złącze p-n: dioda. Przewodnictwo półprzewodników. Dioda: element nieliniowy

Diody półprzewodnikowe. Model diody półprzewodnikowej Shockley a. Dioda półprzewodnikowa U D >0 model podstawowy

Politechnika Białostocka

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa

Obwody liniowe. Sprawdzanie praw Kirchhoffa

Diody półprzewodnikowe

Miłosz Andrzejewski IE

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów

Politechnika Białostocka

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

1. Właściwości materiałów półprzewodnikowych 2. Półprzewodniki samoistne i domieszkowane 3. Złącze pn 4. Polaryzacja złącza

Badanie tranzystorów bipolarnych.

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2

Impedancje i moce odbiorników prądu zmiennego

Część 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

ĆWICZENIE 10 BADANIE PARAMETRÓW STATYCZNYCH TYRYSTORA

Własności i zastosowania diod półprzewodnikowych

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Fizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd r.

4. DIODY 4.1. WSTĘP 4.2. DIODY PROSTOWNICZE

7. TYRYSTORY 7.1. WSTĘP

I we. F (filtr) U we. Rys. 1. Schemat blokowy układu zasilania odbiornika prądu stałego z sieci energetycznej z zastosowaniem stabilizatora napięcia

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI DIODY

Badanie diody półprzewodnikowej

Badanie diody półprzewodnikowej

Ćwiczenie: "Właściwości wybranych elementów układów elektronicznych"

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

Dioda półprzewodnikowa

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Elektronika: Polaryzację złącza w kierunku zaporowym i w kierunku przewodzenia (pod rozdz. 6.3). Charakterystykę diody (rozdz. 7).

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

I. DIODA ELEKTROLUMINESCENCYJNA

Budowa. Metoda wytwarzania

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

1. Zarys właściwości półprzewodników 2. Zjawiska kontaktowe 3. Diody 4. Tranzystory bipolarne

Ć w i c z e n i e 1 6 BADANIE PROSTOWNIKÓW NIESTEROWANYCH

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II

Transkrypt:

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE Badanie diod półprzewodnikowych (E 7) Opracował: Dr inż. Włodzimierz OGULEWICZ

3 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk napięciowo-prądowych podstawowych przyrządów półprzewodnikowych, znajdujących zastosowanie w elektroenergetyce: diody prostowniczej, diody stabilizacyjnej. Znajomość charakterystyk napięciowo-prądowych umożliwia mierzącemu wyznaczenie podstawowych parametrów elektrycznych ww. elementów. 2. Wprowadzenie 2.1. Diody półprzewodnikowe Diody są najprostszymi, posiadającymi dwie elektrody (anodę A i katodę K), elementami elektronicznymi, zawierającymi złącza półprzewodnikowe. Zwykle dioda jest zbudowana z pojedynczego złącza PN lub złącza metal-półprzewodnik (m-p). Znajomość podstawowych właściwości złączy PN oraz m-p jest kluczem do zrozumienia działania diod i nie tylko diod, gdyż złącza PN stanowią elementarne cegiełki, z których buduje się bardziej złożone struktury tranzystorów, tyrystorów, układów scalonych itp. Diody można klasyfikować w zależności od przyjętych kryteriów. Dla użytkowników elementów najistotniejszy jest podział diod ze względu na zastosowanie: prostownicze i uniwersalne, stabilizacyjne (stabilitrony, diody Zenera), pojemnościowe, przełączające (impulsowe) i ładunkowe, detekcyjne i mieszające (mikrofalowe), generacyjne i wzmacniające, modulacyjne i tłumiące, optoelektroniczne (fotodiody, diody świecące). W tradycyjnych układach zasilających największe znaczenie mają diody prostownicze i diody stabilizacyjne.

4 2.2. Diody prostownicze Diody prostownicze to diody przeznaczone do prostowania prądu przemiennego o małej częstotliwości i dużej mocy dostarczanej do odbiornika. Diody te pracują przeważnie w układach prostowniczych bloków zasilania urządzeń elektronicznych i elektrycznych. Diody prostownicze przeznaczone są zasadniczo do pracy przy częstotliwościach sieciowych (50 Hz, czasem 400 Hz). Jest to zakres tak małych częstotliwości, że zjawiska dynamiczne w złączu PN nie mają istotnego wpływu na pracę diody w układzie. Inną grupę stanowią diody prostownicze impulsowe przeznaczone do pracy w przetwornicach lub zasilaczach impulsowych, dla których wymagane są diody o specjalnych parametrach. Diody prostownicze są diodami warstwowymi (dyfuzyjnymi lub stopowymi) wytwarzanymi z krzemu (Si) lub rzadziej z germanu (Ge). Wytwarzane są również diody prostownicze z barierą Schottky ego (m-p). Diody prostownicze produkowane są na prądy o natężeniu od pojedynczych amperów do kilku tysięcy amperów i na napięcia wsteczne od kilkudziesięciu woltów do kilku tysięcy woltów. Diody na prądy powyżej 10 A pracują z radiatorami odprowadzającymi wydzielane ciepło do otoczenia. Na rysunku 1.1. przedstawiono przykładowe charakterystyki napięciowo-prądowe diody germanowej (Ge) i krzemowej (Si) w kierunku przewodzenia I F = f (U F ) oraz w kierunku zaporowym I R = f (U R ). I F 200 ma Ge Si 200 V 100 V U R 0,5 V 1 V U F 20 μa I R Rys. 1.1. Przykładowe charakterystyki napięciowo-prądowe diod germanowej (Ge) i krzemowej (Si) Zauważyć należy zdecydowanie różne wartości podziałek dla napięć i natężeń prądów w kierunku przewodzenia i w kierunku zaporowym diod. Z przebiegu

5 charakterystyk wynika, że dla wartości spadku napięcia na diodzie U F rzędu 1 V natężenie prądu przewodzenia I F płynącego przez diodę bardzo gwałtownie narasta do dużych wartości. Każdy element elektroniczny, w tym również dioda, ma parametry graniczne, których przekroczenie powoduje trwałe uszkodzenie elementu. Natężenie prądu przewodzenia diody I F nie powinno przekroczyć wartości dopuszczalnego średniego prądu przewodzenia I F(AV), a napięcie w kierunku zaporowym U R wartości powtarzalnego szczytowego napięcia wstecznego U RRM. Wartości I F(AV) oraz U RRM podawane są w katalogach diod półprzewodnikowych. Jednym z charakterystycznych parametrów diod prostowniczych jest wartość napięcia progowego diody U (TO) określana umownie przy prądzie przewodzenia I F = 0,1 I F(AV) [10]. Dla diody germanowej (Ge) napięcie to zawiera się w zakresie od 0,2 V do 0,4 V, a dla diody krzemowej (Si) w zakresie od 0,5 V do 0,8 V [10]. Zmiany natężenia prądu idealnego złącza PN w funkcji napięcia polaryzacji opisuje wzór Shockleya [10]: qu I I exp 1, (1) F sat kt gdzie: I sat prąd nasycenia złącza, U napięcie polaryzacji, T temperatura [K], k = 1,38 10 23 J/K (stała Boltzmanna), q = 1,6 10 19 C (ładunek elementarny). Z dobrym przybliżeniem przyjmuje się, że dla U F > 100mV: qu I I exp. (2) F S nkt Prąd I S jest zastępczym prądem nasycenia, uwzględniającym mechanizmy dyfuzji i rekombinacji, a wartość współczynnika n zależy od udziału składowej dyfuzyjnej i rekombinacyjnej w prądzie płynącym przez złącze. Współczynnik n przyjmuje wartość pomiędzy 1 (tylko prąd dyfuzji) a 2 (tylko prąd rekombinacji). Aby uwzględnić spadek napięcia na elementach diody poza obszarem ładunku przestrzennego, zwykle wprowadza się pojęcie rezystancji szeregowej. Uwzględniając powyższe, najprostszy model diody w kierunku przewodzenia przedstawiono na rysunku 1.2. I F U F I F R S I F R S D R S U F Rys. 1.2. Model diody w kierunku przewodzenia

6 Charakterystykę diody D opisuje zależność (2). Podstawiając za U spadek napięcia na diodzie (U F I FRS ), otrzymamy: q U I R F F S I I exp. (3) F S nkt Po logarytmowaniu otrzymujemy równanie liniowe (4): lni F 1 U I R lni' (U ΔU) q lni'. (4) S F F S S F nkt nu Potencjał elektrokinetyczny U T w temperaturze 300 K wynosi ok. 26 mv 23 ( U k T 1,3810 J/K 300K 26mV ). T q 1,610 19 C Zależność (4) narysowaną w półlogarytmicznym układzie współrzędnych (oś napięcia U F jest liniowa, a oś prądu I F ma podziałkę logarytmiczną) przedstawiono na rysunku 1.3. T [μa] I F 10000 ΔU = I F R S 1000 100 10 1 26 n 1 mv przy T 300 K 1 0,1 0,01 I' S przy U = 0 U F 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 [V] Rys. 1.3. Charakterystyka napięciowo-prądowa diody półprzewodnikowej w układzie półlogarytmicznym Na podstawie przedstawionej na rysunku 1.3. charakterystyki można wyznaczyć wartość natężenia prądu I S (ekstrapolując do przecięcia z osią część liniową charakterystyki) oraz wartość współczynnika udziału składowej dyfuzyjnej do rekombinacyjnej n (tangens kąta nachylenia części liniowej charakterystyki). Dodatkowo, z części nieliniowej można określić wartość rezystancji szeregowej R S. Dla ułatwienia analizy wykresu w części liniowej pominięto wpływ rezystancji R S.

7 2.3. Diody stabilizacyjne Diody stabilizacyjne, nazywane zwyczajowo diodami Zenera, to diody warstwowe PN, przeznaczone do zastosowań w układach stabilizacji napięć, w układach ograniczników amplitudy, jako źródła napięć odniesienia itp. Dioda stabilizacyjna wykorzystuje zjawisko Zenera i/lub zjawisko powielania lawinowego, występujące podczas zaporowej polaryzacji złącza PN. Zjawisko Zenera polega na efekcie tunelowego przejścia elektronu (tzn. bez straty energii) z pasma podstawowego do pasma przewodnictwa półprzewodnika. Występuje ono przede wszystkim w półprzewodnikach silnie domieszkowanych o cienkich złączach (implikuje to duże natężenie pola elektrycznego w obszarze złącza ok. 10 8 V/m). Zjawisko Zenera występuje w diodach, dla których napięcie przebicia nieniszczącego leży w zakresie do 7 V. Zjawisko powielania lawinowego polega na powielaniu nośników prądu w warstwie zaporowej złącza, w wyniku zderzeń elektronów z atomami sieci krystalicznej. Zjawisko to występuje w półprzewodnikach słabiej domieszkowanych, w złączach o grubości znacznie przekraczającej średnią drogę swobodną elektronu. Powoduje to zwiększenie prawdopodobieństwa powielania lawinowego. Natężenie pola elektrycznego w warstwie zaporowej złącza wynosi ok. 10 6 V/m. Diody lawinowe pracują przy napięciach przebicia nieniszczącego wyższych od 5 V. Dla diod o napięciu stabilizacji zawierającym się w granicach 57 V oba zjawiska występują równocześnie. Na rysunku 1.4. przedstawiono przykładową charakterystykę napięciowo-prądową diody stabilizacyjnej. 20 V ΔU Z U Z Napięcie stabilizacji 10 V 200 ma I F U F U R I Zmin 0,5 V 1 V Hiperbola mocy admisyjnej 1 r Z I U Z Z ΔI Z 200 ma P max = const I Zmax 400 ma I R Rys. 1.4. Przykładowa charakterystyka napięciowo-prądowa diody stabilizacyjnej

8 Przy polaryzacji w kierunku przewodzenia dioda stabilizacyjna zachowuje się tak jak zwykła dioda prostownicza, tzn. spadek napięcia na niej jest niewielki i wynosi ok. 0,60,7 V. Przy polaryzacji diody w kierunku zaporowym dla pewnej wartości napięcia (zależnej od sposobu wykonania diody) następuje gwałtowny wzrost natężenia prądu (przebicie nieniszczące). Podstawowe parametry diod stabilizacyjnych to: napięcie stabilizowane U Z (nazywane również napięciem Zenera), definiowane jako napięcie odpowiadające umownej wartości prądu stabilizacji I Z, (np. 0,1 I Zmax 10% maksymalnej wartości prądu stabilizacji), natężenie prądu stabilizacji I Z, rezystancja dynamiczna (przyrostowa) r Z = U Z /I Z (dla określonego prądu stabilizacji); graficznie jest to nachylenie odcinka prostoliniowego charakterystyki napięciowo-prądowej diody stabilizacyjnej, temperaturowy współczynnik napięcia stabilizacji TKU Z (ujemny dla diod Zenera i dodatni dla diod lawinowych), dopuszczalna maksymalna moc strat P tot max, dopuszczalny średni prąd przewodzenia I F(AV). 3. Badania i pomiary 3.1. Określenie wielkości mierzonych Wielkościami mierzonymi są spadki napięć i prądy płynące przez diody. Na podstawie danych pomiarowych wyznacza się charakterystyki napięciowo-prądowe badanych elementów. Z analizy wykresów wyznaczamy dla diody prostowniczej: wartość natężenia zastępczego prądu nasycenia złącza I S oraz współczynnik n, a dla diody stabilizacyjnej napięcie stabilizacji U Z i rezystancję przyrostową r Z. 3.2. Wyznaczenie charakterystyk w kierunku przewodzenia 3.2.1. Schemat stanowiska Stanowisko pomiarowe zasilane jest z regulowanego źródła prądu stałego. Układ pomiarowy przedstawiono na rysunku 1.5.

9 Regulowany zasilacz prądu stałego + R ma mv U F I F D DZ Rys. 1.5. Schemat układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyki diody prostowniczej i stabilizacyjnej w kierunku przewodzenia 3.2.2. Przebieg ćwiczenia 1. Zestawić układ pomiarowy według rysunku 1.5. 2. Dokonać pomiarów natężenia prądu I F [ma] oraz napięcia U F [mv] dla diody prostowniczej D. 3. Dokonać pomiarów natężenia prądu I F [ma] oraz napięcia U F [mv] dla diody stabilizacyjnej DZ. 4. Wyniki pomiarów zapisać w tabeli 1.1. Tabela 1.1 Kierunek Dioda prostownicza Dioda stabilizacyjna przewodzenia Typ diody.. Typ diody.. Lp. 1. 2. 3. 4. 5. itd. I F U F I F U F ma mv ma mv 3.3. Wyznaczenie charakterystyk w kierunku zaporowym 3.3.1. Schemat stanowiska Stanowiska pomiarowe zasilane są z regulowanego źródła prądu stałego. Układ pomiarowy dla diody prostowniczej przedstawia rysunek 1.6.1., a dla diody stabilizacyjnej rysunek 1.6.2.

10 Regulowany zasilacz prądu stałego + R V I R U R μa D Rys. 1.6.1. Schemat układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyki diody prostowniczej w kierunku zaporowym Regulowany zasilacz prądu stałego + R V I R U R ma DZ Rys. 1.6.2. Schemat układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyki diody stabilizacyjnej w kierunku zaporowym 3.2.2. Przebieg ćwiczenia 1. Zestawić układy pomiarowe wg rysunków 1.6.1. i 1.6.2. (dwa stanowiska). 2. Dokonać pomiarów natężenia prądu I R [μa] oraz napięcia U R [V] dla diody prostowniczej D. 3. Dokonać pomiarów natężenia prądu I R [ma] oraz napięcia U R [V] dla diody stabilizacyjnej DZ. 4. Wyniki pomiarów zapisać w tabeli 1.2. Tabela 1.2 Kierunek zaporowy Dioda prostownicza Typ diody.. Dioda stabilizacyjna Typ diody.. Lp. 1. 2. 3. 4. 5. itd. I R U R I R U R μa V ma V

11 4. Opracowanie wyników pomiarów 1. Sporządzić na podstawie wyników pomiarowych (tabela 1.1. i 1.2.) wykresy charakterystyk diody prostowniczej i diody stabilizacyjnej (przy polaryzacji w obu kierunkach: przewodzenia i zaporowym). 2. Sporządzić półlogarytmiczną charakterystykę napięciowo-prądową diody prostowniczej w kierunku przewodzenia (tabela 1.1.). 3. Wyznaczyć parametry badanej diody prostowniczej (wartość natężenia zastępczego prądu nasycenia złącza I S oraz wartość współczynnika udziału składowej dyfuzyjnej do rekombinacyjnej n). 4. Wyznaczyć parametry badanej diody stabilizacyjnej (napięcie stabilizacji diody U Z oraz wartość rezystancji dynamicznej r Z ). 5. Podać uwagi dotyczące przebiegu ćwiczenia, otrzymanych wyników pomiarowych oraz dokonać oszacowania niepewności pomiarowych i błędów. 5. Sprawozdanie Sprawozdanie powinno zawierać: 1. Stronę tytułową (nazwę ćwiczenia, numer sekcji, nazwiska i imiona ćwiczących oraz datę wykonania ćwiczenia). 2. Symbole i dane katalogowe badanych elementów elektronicznych. 3. Schematy układów pomiarowych. 4. Tabele wyników pomiarowych ze wszystkich stanowisk. 5. Wykresy wyszczególnionych w punkcie 4. charakterystyk. 6. Wyszczególnione w punkcie 4. parametry badanych elementów elektronicznych. 7. Uwagi i wnioski (dotyczące przebiegu charakterystyk, ich odstępstw od przebiegów teoretycznych, wartości wyznaczonych parametrów, rozbieżności wyników pomiarów na różnych stanowiskach, oszacowania niepewności pomiarowej i błędów itp.).