Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Podobne dokumenty
Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 2

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

ĆWICZENIE 4 CHARAKTERYSTYKI STATYCZNE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów.

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Rys. 1. Oznaczenia tranzystorów bipolarnych pnp oraz npn

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne

III. TRANZYSTOR BIPOLARNY

5. Tranzystor bipolarny

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Tranzystory bipolarne

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Wiadomości podstawowe

Zasada działania tranzystora bipolarnego

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Politechnika Białostocka

Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY

Politechnika Białostocka

TRANZYSTORY BIPOLARNE SMK WYKŁAD

Ćwiczenie nr 5 Tranzystor bipolarny

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE

PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Politechnika Białostocka

Badanie tranzystorów MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

TRANZYSTORY MOCY. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi tranzystorami i ich charakterystykami.

Politechnika Białostocka

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie

Badanie tranzystorów bipolarnych.

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Badanie tranzystora bipolarnego

EUROELEKTRA. Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. Rok szkolny 2012/2013. Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia

Budowa. Metoda wytwarzania

Tranzystory bipolarne

Systemy i architektura komputerów

Tranzystor bipolarny

5. TRANZYSTOR BIPOLARNY

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Pomiar parametrów tranzystorów

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Elektronika. Wzmacniacz tranzystorowy

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 2. ELEMENTARNE UKŁADY ELEKTRONICZNE (Wzmacniacz i inwerter na tranzystorze bipolarnym)

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Politechnika Białostocka

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

Tranzystor bipolarny LABORATORIUM 5 i 6

Własności i charakterystyki czwórników

TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

Wykład X TRANZYSTOR BIPOLARNY

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Ćw. 2 Tranzystory bipolarne

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b

WZMACNIACZ NAPIĘCIOWY RC

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI TRANZYSTOR BIPOLARNY

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

Laboratorium Elektroniki

1. Zarys właściwości półprzewodników 2. Zjawiska kontaktowe 3. Diody 4. Tranzystory bipolarne

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych

Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia.

POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA

Badanie elementów składowych monolitycznych układów scalonych II

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs

Laboratorium elektroniki i miernictwa

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

ELEMENTY ELEKTRONICZNE. Układy polaryzacji i stabilizacji punktu pracy tranzystora

TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS

Ćwiczenie nr 4 Tranzystor bipolarny (npn i pnp)

Laboratorium Elementów Elektronicznych. Sprawozdanie nr Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych.

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Uniwersytet Pedagogiczny

Przyrządy półprzewodnikowe część 3

Ćwiczenie: "Właściwości wybranych elementów układów elektronicznych"

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY

Ćwiczenie 4- tranzystor bipolarny npn, pnp

WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ

Ćwiczenie nr 8. Podstawowe czwórniki aktywne i ich zastosowanie cz. 1

Układy zasilania tranzystorów

Badanie diod półprzewodnikowych

Transkrypt:

LABORATORIUM LKTRONIKI Ćwiczenie Parametry statyczne tranzystorów bipolarnych

el ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji parametrów odpowiadających im modeli małosygnałowych Aby umożliwić zapoznanie się z wpływem efektów termicznych na warunki pracy tranzystorów przewidziano pomiar charakterystyk w warunkach izotermicznych oraz w warunkach występowania efektu samonagrzewania Wiadomości podstawowe Budowa i zasada działania tranzystora bipolarnego Tranzystor jest strukturą trzywarstwową o trzech elektrodach zewnętrznych: emiterze (), bazie (B) i kolektorze () Jak pokazano na rys1 może to być struktura typu p-n-p lub n-p-n, przy czym zawsze obszar emitera jest w niej domieszkowany silniej niż baza, a obszar kolektora słabiej Ta asymetria wynika z przeznaczenia każdej z tych warstw i powoduje, że mimo iż emiter i kolektor są tego samego typu sposób włączenia tranzystora w obwód elektryczny nie jest obojętny W normalnych warunkach pracy złącze baza-emiter jest polaryzowane w kierunku przewodzenia, złącze baza-kolektor w kierunku zaporowym N P P B B N B B N P (a) (b) Rys1 Schematyczna budowa i symbole tranzystora bipolarnego (a) typu n-p-n i (b) typu p-n-p Dzięki takiemu domieszkowaniu główną część prądu złącza emiterowego stanowi prąd wstrzykiwania nośników z emitera do bazy co oznacza dużą sprawność emitera Nośniki wstrzyknięte przez emiter dyfundują poprzez obszar bazy do kolektora Dla zapewnienia dużej wartości współczynnika transportu nośniki mniejszościowe powinny w jak najmniejszym stopniu rekombinować w obszarze bazy Osiąga się to przede wszystkim przez zmniejszenie jej grubości (szerokości) fektywną szerokość bazy stanowi obszar między granicami obszarów ładunku przestrzennego złącz emiterowego i kolektorowego Zmiana napięcia na złączu kolektorowym powoduje zmianę szerokości bazy (zjawisko modulacji szerokości bazy efekt arly ego) Tranzystor jako element o trzech końcówkach może być włączony do układu elektrycznego na trzy sposoby nazywane układami pracy Są to odpowiednio: układ wspólnego emitera (O), wspólnej bazy (OB) i wspólnego kolektora (O) Pokazano je schematycznie na rys (a) (b) (c) Rys Tranzystor n-p-n w konfiguracjach: (a) wspólnego emitera, (b) wspólnej bazy i (c) wspólnego kolektora

harakterystyki statyczne tranzystora Rys3 Typowe charakterystyki statyczne tranzystora bipolarnego w układzie wspólnego emitera: (a) charakterystyki wejściowe, (b) charakterystyki przejściowe, (c) charakterystyki oddziaływania wstecznego, (d) charakterystyki wyjściowe Ponieważ w każdym układzie pracy tranzystora jedna z jego końcówek jest wspólna dla obwodu wejściowego i wyjściowego traktujemy go jako czwórnik Można go zatem opisać czterema rodzinami charakterystyk statycznych, określającymi zależności pomiędzy wartościami stałych prądów i napięć występujących na wejściu i wyjściu Są to: charakterystyki wejściowe U we = f(i we ) przy U wy =const, charakterystyki przejściowe I wy = f(i we ) przy U wy =const, charakterystyki oddziaływania wstecznego U we = f(u wy ) przy I we =const, charakterystyki wyjściowe I wy = f(u wy ) przy I we =const Typowe charakterystyki tranzystora w układzie wspólnego emitera (O) są pokazane na rys3 Spośród tych charakterystyk największe znaczenie praktyczne ma charakterystyka wyjściowa Jest ona wykorzystywana do definiowania obszarów pracy tranzystora jak to pokazano na rys4 Są to:

obszar odcięcia znajdujący się poniżej krzywej dla I B =0, w którym oba złącza tranzystora polaryzuje się w kierunku zaporowym, obszar nasycenia odpowiadający narastającej części charakterystyk, w którym oba złącza tranzystora są spolaryzowane w kierunku przewodzenia, obszar aktywny znajdujący się pomiędzy obszarem odcięcia i nasycenia, obejmujący płaskie części charakterystyk W obszarze tym złącze emiter-baza jest spolaryzowane w kierunku przewodzenia, a złącze kolektor-baza w kierunku zaporowym, obszar bezpiecznej pracy (SOA) w którym przyrząd może pracować bez ryzyka przebicia lub uszkodzenia w wyniku efektu samonagrzewania Obejmuje on fragmenty ww obszarów ograniczone z góry hiperbolą mocy admisyjnej P a i prostą I max oraz z prawej strony prostą odpowiadającą maksymalnemu napięciu U max Rys4 harakterystyki wyjściowe z zaznaczonymi obszarami pracy Parametry małosygnałowe typu h Tranzystor jest czwórnikiem nieliniowym z uwagi na nieliniowe zależności między jego prądami i napięciami W zakresie małych amplitud sygnału tranzystor można traktować jako czwórnik liniowy opisany układem równań: u i 1 i 11 1 i 1 1 1 u u gdzie indeksy 1 i reprezentują odpowiednio stosowane wcześniej indeksy "we" i "wy" Ponieważ równanie to można zapisać w formie macierzowej parametry tego równania noszą nazwę parametrów macierzowych (typu h) Parametry te w zakresie małych częstotliwości są liczbami rzeczywistymi i odpowiadają tangensowi kąta nachylenia stycznych do odpowiednich charakterystyk statycznych w wybranym punkcie pracy, czyli w punkcie odpowiadającym składowym stałym prądów i napięć Są one zatem określone przez odpowiednie pochodne tych charakterystyk: U1 U1 h11 U const h1 I1 const I1 U określają nachylenie charakterystyki wejściowej i charakterystyki oddziaływania wstecznego,

I I h1 U const h I1 const I1 U określają nachylenie charakterystyki przejściowej i charakterystyki wyjściowej W praktyce wielkości tych nie wyznacza się poprzez liczenie pochodnych, ale stosuje się metodę przybliżoną polegającą na zastąpieniu pochodnych ilorazami małych przyrostów odpowiednich napięć i prądów Korzystając z równania macierzowego typu h można utworzyć schemat zastępczy tranzystora, który będzie jego modelem małosygnałowym Schemat ten jest przedstawiony na rys5 Pozwala on na podanie sensu fizycznego poszczególnych parametrów h Parametry te w danym układzie pracy tranzystora mają następującą interpretację: h 11 - impedancja wejściowa tranzystora przy zwartym obwodzie wyjściowym, h 1 - współczynnik sprzężenia zwrotnego przy rozwartym obwodzie wejściowym, h 1 - zwarciowy współczynnik wzmocnienia prądowego, h - rozwarciowa konduktancja wyjściowa Rys5 Schemat zastępczy odpowiadający macierzy h Wykonanie ćwiczenia Uproszczony schemat układu pomiarowego pokazany jest na rys 6 W ćwiczeniu badane są tranzystory pracujące w układzie wspólnego emitera (O) Dla tranzystorów tych należy wyznaczyć rodziny charakterystyk w izotermicznych warunkach pracy, oraz w warunkach występowania efektu samonagrzewania W pierwszym przypadku pomiar jest przeprowadzany metodą impulsową, która zapewnia wydzielanie małej mocy i tym samym utrzymanie temperatury tranzystora na stałym poziomie W drugim przypadku temperatura tranzystora zmienia się wraz ze wzrostem wydzielanej mocy określonej przez aktualne wartości napięcia U i prądu I Dla badanego tranzystora należy wyznaczyć charakterystyki: wejściową, przejściową, wyjściową i oddziaływania wstecznego W warunkach izotermicznych pomiar każdej z charakterystyk należy wykonać dla kilku wartości parametru Dla największej wartości parametru należy pomiar powtórzyć w warunkach samonagrzewania Podczas tych ostatnich pomiarów należy po każdej zmianie nastawy odczekać ok 30 sek dla ustalenia się temperatury tranzystora Uwaga! Przed przystąpieniem do pomiarów sprawdzić zachowanie się badanego elementu w układzie pomiarowym Tzn dokonać wszystkich możliwych regulacji i zaobserwować, w jakim zakresie zmieniają się poszczególne wielkości, jak się zmieniają (gwałtownie, wolno) W oparciu o te obserwacje ustalić zakres pomiarów, krok pomiarowy (niekoniecznie stały w całym zakresie pomiarowym) oraz wartości parametrów przy jakich będą mierzone poszczególne charakterystyki Dopiero wtedy przystąpić do właściwych pomiarów

Rys6 Schemat układu pomiarowego do zdejmowania charakterystyk statycznych tranzystora bipolarnego w układzie O Opracowanie wyników wykreślić pomierzone w warunkach izotermicznych charakterystyki badanych tranzystorów (wszystkie charakterystyki jednego tranzystora na wspólnym wykresie), wyznaczyć na podstawie charakterystyk parametry macierzy mieszanej typu h modelu małosygnałowego tranzystora w układzie O (wszystkie dla tego samego, jednego punktu pracy), wykreślić charakterystyki statyczne dla jednego z tranzystorów z naniesionymi na nich prostymi, wynikającymi z modelu małosygnałowego (obliczonymi w poprzednim punkcie), na wspólnym wykresie narysować charakterystyki statyczne tranzystora pracującego w warunkach izotermicznych i samonagrzewania (dla tej samej wartości parametru) Literatura Z Lisik Podstawy fizyki półprzewodników, skrypt PŁ, A Świt, J Pułtorak Przyrządy półprzewodnikowe, W Marciniak Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone