2.2.P.07: Komputerowe narzędzia inżynierii powierzchni



Podobne dokumenty
Modelowanie przetworników pomiarowych Kod przedmiotu

2.1.M.06: Modelowanie i wspomaganie komputerowe w inżynierii powierzchni

Przemysłowe Sieci Informatyczne

Zastosowanie metod eksploracji danych (data mining) do sterowania i diagnostyki procesów w przemyśle spożywczym

Katedra Systemów Decyzyjnych. Kierownik: prof. dr hab. inż. Zdzisław Kowalczuk

Komputerowe systemy pomiarowe. Dr Zbigniew Kozioł - wykład Mgr Mariusz Woźny - laboratorium

Kierunek: Mechatronika Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

zakładane efekty kształcenia

Dr hab. inż. Jan Duda. Wykład dla studentów kierunku Zarządzanie i Inżynieria Produkcji

Efekty kształcenia na kierunku AiR drugiego stopnia - Wiedza Wydziału Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki Politechniki Opolskiej

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Wykład organizacyjny

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Oferta badawcza Politechniki Gdańskiej dla przedsiębiorstw

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Modelowanie systemów mechatronicznych Platformy przetwarzania danych

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

AUTOMATYZACJA PROCESÓW CIĄGŁYCH I WSADOWYCH

Zastosowanie sztucznych sieci neuronowych w prognozowaniu szeregów czasowych (prezentacja 2)

Mariusz Nowak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Kierunek Informatyka stosowana Studia stacjonarne Studia pierwszego stopnia

Tabela odniesień efektów kierunkowych do efektów obszarowych

Specjalność: Komputerowe systemy sterowania i diagnostyki

Laboratorium demonstrator bazowych technologii Przemysłu 4.0 przykład projektu utworzenia laboratorium przez KSSE i Politechnikę Śląską

Techniki CAx. dr inż. Michał Michna. Politechnika Gdańska

KARTA PRZEDMIOTU. zaliczenie na ocenę WYMAGANIA WSTĘPNE W ZAKRESIE WIEDZY, UMIEJĘTNOŚCI I INNYCH KOMPETENCJI

Technologie informacyjne - wykład 12 -

ECTS - program studiów kierunku Automatyka i robotyka, Studia I stopnia, rok akademicki 2015/2016

Lista zagadnień kierunkowych pomocniczych w przygotowaniu do egzaminu dyplomowego magisterskiego Kierunek: Mechatronika

Wydział Elektrotechniki i Automatyki Kierunek: Automatyka i Robotyka Studia stacjonarne I stopnia: rok II, semestr IV

Efekty kształcenia dla kierunku studiów INFORMATYKA, Absolwent studiów I stopnia kierunku Informatyka WIEDZA

Odniesienie do efektów kształcenia dla obszaru nauk EFEKTY KSZTAŁCENIA Symbol

Prof. Stanisław Jankowski

Diagnostyka procesów przemysłowych Kod przedmiotu

SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU

Techniki CAx. dr inż. Michał Michna. Politechnika Gdańska

Czujniki obiektowe Sterowniki przemysłowe

S PECJALNO S C I NTELIGENTNE S YSTEMY D ECYZYJNE

Efekt kształcenia. Ma uporządkowaną, podbudowaną teoretycznie wiedzę ogólną w zakresie algorytmów i ich złożoności obliczeniowej.

KIERUNKOWE EFEKTY KSZTAŁCENIA

INFORMATYKA Pytania ogólne na egzamin dyplomowy

Diagramy ERD. Model struktury danych jest najczęściej tworzony z wykorzystaniem diagramów pojęciowych (konceptualnych). Najpopularniejszym

2012/2013. PLANY STUDIÓW stacjonarnych i niestacjonarnych I-go stopnia prowadzonych na Wydziale Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki

Prezentacja specjalności Inżynieria Systemów Informatycznych

Specjalność: Komputerowe systemy sterowania i diagnostyki. Strona 1 z 5

zna metody matematyczne w zakresie niezbędnym do formalnego i ilościowego opisu, zrozumienia i modelowania problemów z różnych

Kształcenie w Szkole Doktorskiej Politechniki Białostockiej realizowane będzie według następującego programu:

PAŃSTWOWA WYŻSZA SZKOŁA ZAWODOWA W NYSIE

Większe możliwości dzięki LabVIEW 2009: programowanie równoległe, technologie bezprzewodowe i funkcje matematyczne w systemach czasu rzeczywistego

Efekty kształcenia dla makrokierunku: INFORMATYKA STOSOWANA Z KOMPUTEROWĄ NAUKĄ O MATERIAŁACH Wydział: MECHANICZNY TECHNOLOGICZNY

T2A_W01 T2A_W01 T2A_W02 3 SI_W03 Posiada szeroką wiedzę w zakresie teorii grafów T2A_W01

KIERUNKOWE EFEKTY KSZTAŁCENIA

Hurtownie danych i business intelligence. Plan na dziś : Wprowadzenie do przedmiotu

1 Programowanie urządzen mobilnych Sztuczna inteligencja i systemy 2 ekspertowe

Zagadnienia egzaminacyjne AUTOMATYKA I ROBOTYKA. Stacjonarne I-go stopnia TYP STUDIÓW STOPIEŃ STUDIÓW SPECJALNOŚĆ

Informatyka- studia I-go stopnia

OPERATOR OBRABIAREK SKRAWAJĄCYCH

Kierunek: Informatyka Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

Opis przedmiotu: Badania operacyjne

Tok Specjalność Semestr Z / L Blok Przedmiot

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

PUKP Programowanie urządzeń kontrolno-pomiarowych. ztc.wel.wat.edu.pl

Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Plan studiów niestacjonarnych I stopnia (inŝynierskich)

Wymiar godzin Pkt Kod Nazwa przedmiotu Egz.

Informatyka I stopień (I stopień / II stopień) ogólno akademicki (ogólno akademicki / praktyczny) kierunkowy (podstawowy / kierunkowy / inny HES)

Tematy prac dyplomowych w Katedrze Awioniki i Sterowania Studia I stopnia (inżynierskie)

Tematy prac dyplomowych w Katedrze Awioniki i Sterowania Studia II stopnia (magisterskie)

PLAN STUDÓW NIESTACJONARNYCH II-GO STOPNIA dla kierunku Mechanika i Budowa Maszyn Etap podstawowy. Uniwersytet Zielonogórski Wydział Mechaniczny

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach

KARTA PRZEDMIOTU. Systemy czasu rzeczywistego: D1_9

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Metody Sztucznej Inteligencji Methods of Artificial Intelligence. Elektrotechnika II stopień ogólno akademicki. niestacjonarne. przedmiot kierunkowy

Energetyka S1. Pierwsza Druga semestru obieralny ENE_1A_S_2017_2018_1 E semestr 3 Zimowy Blok 06

a) Szczegółowe efekty kształcenia i ich odniesienie do opisu efektów

Uniwersytet Zielonogórski Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji Instytut Sterowania i Systemów Informatycznych

KIERUNKOWE EFEKTY KSZTAŁCENIA

Internet jako środowisko WL OZE/URE Propozycja metodologii badań oraz stanowiska laboratoryjnego

Opis przedmiotu. Karta przedmiotu - Badania operacyjne Katalog ECTS Politechniki Warszawskiej

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE

Hurtownie danych i business intelligence. Plan na dziś : Wprowadzenie do przedmiotu

dr inż. Konrad Sobolewski Politechnika Warszawska Informatyka 1

System przesyłu danych z elektrociepłowni Zofiówka

Podsumowanie wyników ankiety

Szybkie prototypowanie w projektowaniu mechatronicznym

Podstawy elektroniki i miernictwa

[1] [2] [3] [4] [5] [6] Wiedza

WEEIA Plan studiów stacjonarnych I stopnia (inŝynierskich)

PODSTAWY BAZ DANYCH. 19. Perspektywy baz danych. 2009/2010 Notatki do wykładu "Podstawy baz danych"

PLAN STUDÓW STACJONARNYCH II-GO STOPNIA dla kierunku Mechanika i Budowa Maszyn Etap podstawowy. Uniwersytet Zielonogórski Wydział Mechaniczny

KARTA PRZEDMIOTU. 1. Nazwa przedmiotu: ZARZĄDZANIE PRODUKCJĄ I USŁUGAMI 3. Karta przedmiotu ważna od roku akademickiego: 2016/2017

SYLABUS/KARTA PRZEDMIOTU

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Mechatronika i inteligentne systemy produkcyjne. Paweł Pełczyński ppelczynski@swspiz.pl

KARTA MODUŁU KSZTAŁCENIA

Opis przedmiotu. Karta przedmiotu - Badania operacyjne Katalog ECTS Politechniki Warszawskiej

Testowanie systemów informatycznych Kod przedmiotu

MODELE I MODELOWANIE

Kierunek: Informatyka Poziom studiów: Studia I stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne. Wykład Ćwiczenia

SYSTEMY POMIAROWO-DIAGNOSTYCZNE

Transkrypt:

2nd Workshop on Foresight of surface properties formation leading technologies of engineering materials and biomaterials in Białka Tatrzańska, Poland 29th-30th November 2009 2 Panel nt. Produkt oraz materiał z jakiego dany produkt został wykonany zdeterminowany przez oczekiwane własności funkcjonalno-użytkowe wynikające z potrzeb klienta 2.2.P.07: Komputerowe narzędzia inżynierii powierzchni W. Sitek Politechnika Śląska Typy zadań związanych z wykorzystaniem narzędzi komputerowych w inżynierii wytwarzania Przewidywanie przebiegu (głównie przez zastosowanie symulacji komputerowej) Bieżąca kontrola procesów i sterowanie nimi Eksploracja danych w celu wykrywania prawidłowości występujących w procesach

Symulacja komputerowa przebiegu Znajduje zastosowanie głównie na etapie projektowania procesów Umożliwia także przewidywanie skutków wprowadzenia zmian w technologii lub organizacji produkcji Symulacja wymaga zastosowania MODELU PROCESU Modelowanie procesów Model To uproszczony obiekt, który zachowuje się pod względem badanych zjawisk tak, jak obiekt rzeczywisty. Typy modeli Fizyczne Matematyczne Czarna skrzynka

Typy modeli Model fizyczny Wykorzystuje podobieństwo fizyczne między obiektem rzeczywistym, a modelem, stanowiącym pewne stanowisko doświadczalne. Ujmuje związki uwzględniające naturę danego zjawiska czy (np. prawa fizyczne) Model matematyczny Jest wyrażony jako równanie matematyczne lub układ równań lub innego typu związki opisujące dane zjawisko czy proces Model typu czarna skrzynka Nie uwzględniają natury zjawisk, stosowane są do dowolnych procesów Modele nie uwzględniające natury zjawisk i procesów Typu statystycznego liniowe nieliniowe (wielomiany, potęgowe, wykładnicze) Wykorzystujące metody sztucznej inteligencji, w szczególności systemy uczące się Sztuczne sieci neuronowe Drzewa decyzyjne Modele stosujące logikę lub rachunek liczb rozmytych Modele stosujące optymalizację genetyczną Inne

Podstawowe relacje identyfikacji i symulacji (analizy) Obiekt badań (układ rzeczywisty) Dane rzeczywiste Komputer Identyfikacja Symulacja, analiza Model matematyczny Zakres stosowania różnych typów modeli matematycznych Stopień znajomości reguł rządzących problemem wysoki średni niski Metody oparte na dokładnych algorytmach (CAE, np. uwzględniające prawa fizyki) Modele statystyczne, systemy ekspertowe, metody dedukcyjne Sieci neuronowe, metody indukcyjne (np. drzewa decyzyjne) niski średni wysoki Stopień złożoności problemu

Metody kontroli i sterowania procesami produkcyjnymi Metody statystycznego sterowania procesem (SSP), pozwalające na wykrywanie zakłóceń oraz ocenę jakości Metodologie (strategie), określające sposoby i organizację postępowania dla uzyskania i utrzymania właściwego przebiegu Wykrywanie prawidłowości występujących w procesach Wykrywanie przyczyn zakłóceń procesów (np. przyczyn powstawania braków wyrobów finalnych lub pośrednich) Umożliwia wskazanie optymalnych lub krytycznych parametrów (np. kombinacji czasu i temperatury obróbki cieplnej) Stosuje nowoczesne metody typu eksploracja danych (data mining)

Cele monitorowania i nadzorowania procesów Budowanie modeli matematycznych i identyfikacja ich parametrów w celach poznawczych Zbieranie danych dla opracowania metod i narzędzi sterowania procesami Oszacowanie stanu technologicznego Predykcja parametrów wyrobu na podstawie parametrów stanu technologicznego Generowanie parametrów korekcji stanu na podstawie wyników monitorowania parametrów wyrobu Monitorowanie i nadzorowanie procesów Parametry Proces technologiczny Cechy jakości produktu Parametry Proces technologiczny Cechy jakości produktu System monitorowania System gromadzenia Informacji, analiz i podejmowania decyzji System monitorowania System gromadzenia Informacji, analiz i podejmowania decyzji Sterowanie w czasie rzeczywistym Monitorowanie Nadzorowanie

Narzędzia i metody monitorowania i nadzorowania Narzędzia do monitorowania I nadzorowania procesów Narzędzia sprzętowe Narzędzia programowe Tory pomiarowe Mikroprocesorowe stacje robocze Pamięci masowe Programy do obsługi torów pomiarowych Programy do zbierania danych pomiarowych Programy do obsługi baz danych Programy monitorowania i nadzorowania Interfejsy użytkownika systemu Algorytmy monitorowania i nadzoru Algorytmy konwencjonalne realizują ściśle określone zadania niezależnie od charakteru i zakresu danych wejściowych oraz wyników poprzednich obliczeń oraz oceny ich poprawności. Algorytmy inteligentne analizują warunki poprawności danych wejściowych, uczą się na poprawności lub niepoprawności poprzednich obliczeń tych samych wielkości, potrafią adaptować algorytm do sytuacji obliczeniowej oraz uogólniać znalezione rozwiązania dla podobnych przypadków. potrafią zmienić charakter algorytmu jak i parametry liczbowe (współczynniki, tabele itp.) posługując się specyficzną do zagadnienia bazą wiedzy. są w stanie optymalizować wyniki obliczeń przy założeniu określonej funkcji celu i ograniczeniach.

Budowa modeli matematycznych i identyfikacja ich parametrów Parametry wejściowe Proces technologiczny Zakłócenia Parametry wyrobu WYRÓB System identyfikujący związki funkcjonalne między parametrami wyrobu a parametrami wejściowymi Zbieranie danych dla opracowania metod i narzędzi sterowania procesami

Oszacowanie stanu - automatyczna klasyfikacja stanu Predykcja parametrów wyrobu na podstawie parametrów stanu technologicznego Parametry wejściowe Przewidywane zakłócenia MODEL PROCESU TECHNOLOGICZNEGO Przewidywane parametry wyrobu

Generowanie parametrów korekcji stanu na podstawie wyników monitorowania parametrów wyrobu Bloki funkcjonalne komputerowego systemu pomiarowego C/A, C/C Sygnały pomiarowe A/A A/C C/C Blok generacji sygnału OBIEKT POMIAROWY Czujniki pomiarowe Blok akwizycji sygnałów Blok przetwarzania danych Blok sterujący (kontroler) Blok komunikacji z użytkownikiem Operator systemu

Systemy czasu rzeczywistego w inżynierii wytwarzania Umożliwiają zarządzanie procesami monitorowania i sterowania przebiegiem procesów Klasyfikacja systemów czasu rzeczywistego HardRTOS(ang. hard real-time systems) Systemy o ostrych ograniczeniach czasowych. Zadania muszą zakończyć się prawidłowo i w określonym czasie. Soft RTOS (ang. soft real-time systems) Systemy o miękkich lub łagodnych ograniczeniach czasowych. Zadania wykonywane są tak szybko jak to możliwe ale nie muszą zakończyć się w określonym czasie. Popularne systemy RTOS QNX Neutrino (Hard RTOS) Jest systemem wielozadaniowym i wielodostępnym przeznaczonym dla mikrokomputerów IBM PC. Na bazie QNX opracowywane są również systemy SCADA, oraz jest wykorzystywany jako platforma dla baz danych. RTLinux (Hard RTOS) Występuje w dwóch wersjach, komercyjnej RT Linux PRO i w ogólnodostępnej GPL RTLinux (darmowy i udostęniany wraz z całym kodem źródłowym). Windows CE (Hard RTOS) Windows XP Embedded (Hard RTOS)

Rola systemu czasu rzeczywistego w systemie wytwarzania System operacyjny czasu rzeczywistego Zegar taktujący I Algorytm sterujący I I C/A PROCES Komputer Sieć czasu rzeczywistego I C/P A/C Linia transmisyjna Źródła http://fluid.ippt.gov.pl/metro/cdrom-pl/kursy/ http://kop.pollub.pl/wykladowca/pliki/jerlip/upload/ http://www.ely.pg.gda.pl/kss/wyklad.htm Jakubiec J., Roj J., Pomiarowe przetwarzanie próbkujące, Wyd. Politechniki Ślaskiej, Gliwice 2000 Korbicz J., Diagnostyka procesów, WNT, Warszawa 2002 Hejman B., Gerth W., Popp K., Mechatronika komponenty, metody, przykłady, PWN, Warszawa 2001 Tłaczała W., Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo, WNT, Warszawa 2002 Winiecki W., Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Oficyna wyd. Politechniki Warszawskiej Osowski S., Sieci neuronowe do przetwarzania informacji, Oficyna wyd. Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000 Tanenbaum A., Sieci komputerowe, Helion, 2004 Nowicki K., Ethernet sieci, mechanizmy, Infotech, 2006 Kwieciń A., Analiza przepływu informacji w komputerowych sieciach przemysłowych, Pracownia Komputerowa Jacka Skalmierskiego, 2004 Solnik W., Zajda Z., Komputerowe sieci przemysłowe ProfibusDP i MPI, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2007 Pawlak R., Okablowanie strukturalne sieci, Helion, 2006