EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu, - przy wydobyciu rud i minerałów, - analiza metali żelaznych i szlaki, - analiza stopów kolorowych, - analiza stopów szlachetnych, - oznaczania pierwiastków szkodliwych wg dyrektywy RoHS i WEEE Opis ogólny EDX 3600B to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z rozpraszaniem energii przeznaczony do analiz, nieniszczących lub z niewielkim przygotowaniem próbki. Został zaprojektowany z przeznaczeniem do analizy metali szlachetnych, stali, stopów metali nieżelaznych, rud, minerałów, cementu, oznaczania metali szkodliwych wg RoHS i WEEE oraz do pełnych analiz pierwiastkowych różnych materiałów. Umożliwia również analizy i pomiary grubości do 5 powłok galwanicznych lub plazmowych. Spektrometr ten został zbudowany z zastosowaniem najlepszej obecnie na rynku lampy rentgenowskiej i równie renomowanego, stabilnego zasilacza wysokiego napięcia. Ich zastosowanie umożliwia wykonywanie powtarzalnych analiz zgodnych z najwyższymi standardami praktyki laboratoryjnej, standardami narodowymi i porównywalnych z innymi technikami analiz. Wykorzystanie techniki fluorescencji rentgenowskiej umożliwia szybkie, dokładne a przy tym łatwe do wykonania analizy i podręczne stosowanie w procesach produkcyjnych. Analizator ten jest szczególnie przydatny do analiz w przemyśle jubilerskim, metalurgicznym i w produkcji materiałów budowlanych. Analizator daje możliwość dobrania niskoenergetycznego promieniowania rentgenowskiego, do pobudzenia lekkich pierwiastków takich jak Si, S, Na, AL i Mg itp. Ponadto poprawiona została sprawność wykonywania analizy przy krótkich testach. EDX 3600D charakteryzuje się wysokimi parametrami pomiarowymi jak; liniowość energii, wysoka rozdzielczość energetyczna, detekcja niskich koncentracji, wysoka szybkość zliczania, dobrze nasycone spektrum oraz wysoki współczynnik redukcji tła (UHRD Detektor). Analizy są powtarzalne dzięki mechanizmowi automatycznej stabilizacji spektrum. Zastosowanie detektora UHRD umożliwia także łatwe skalibrowanie wydzielonego spektrum co podwyższa precyzję analiz pierwiastków lekkich. Dzięki zastosowaniu wieloparametrowej metody regresji liniowej uzyskano redukcję efektów wzajemnej absorpcji i odpychania pierwiastków. Do wykonywania analiz nie wymagane jest wykształcenie laboratoryjne. Analizy są całkowicie niezależne od operatora. Profesjonaliści stworzyli wyjątkowo sprawny analizator, którego jakość zdobywa nowe rynki.
Charakterystyka budowy analizatora System próżniowy uniezależnia analizy od wpływu czynników atmosferycznych i znacznie zwiększa zakres możliwości analitycznych. Komora pomiarowa otwiera się i zamyka po przyciśnięciu jednego przycisku. Zewnętrzna elegancka obudowa kryje wnętrze zbudowane z trwałych i odpornych podzespołów. Automatyczna zmiana kolimatorów i filtrów pierwotnych czyni analizator przyjaznym dla użytkownika. Potrójny system zabezpieczeń gwarantuje bezpieczeństwo operatora. Niezależne modele korekcji efektu matrycy. Wieloparametrowa, nieliniowa procedura regresji. Niezależna analiza wzorców i procedura identyfikacyjna. Cechy funkcjonalne analizatora System SNE (Signal to Noise Enhancement) wielokrotnie zwiększa czułość analizy, Zmiana kolimatorów i filtrów następuje automatycznie dla różnych próbek, Chłodzony elektronicznie detektor krzemowy Si-PIN UHRD (Ultra High Resolution Detektor), Wszechstronne i sprawne oprogramowanie do pełnej analizy wielo pierwiastkowej dorównuje jakością rozwiązaniom sprzętowym. Standardowe wyposażenie analizatora: System SNE (Signal to Noise Enhancement), System optymalizacji wiązki światła, Chłodzony elektronicznie detektor wysokiej rozdzielczości Si-PIN UHRD, Wbudowana kamera CCD o rozdzielczości 1,4 mln. pikseli, Automatyczna zmiana kolimatorów i filtrów pierwotnych, Ruchomy stół pomiarowy, Podwyższona czułość analizy metali Główne zastosowania analizatora: Wykonuje w pełne, wielopierwiastkowe analizy stali, cementu, minerałów, grubości powłok galwanicznych, analizy stopów metali nieżelaznych, oznaczanie metali szlachetnych i oznaczanie pierwiastków szkodliwych według RoHS i WEEE, Specyfikacja techniczna Zakres analizowanych pierwiastków: od Na 11 do U 92 Zakres oznaczania składu: od 1ppm do 99,99% Możliwość jednoczesnej analiza: 24 pierwiastki Postać analizowanych próbek: stałe, proszki i płynne Dokładność analiz: 0,05% (>96%) Czas analizy: 60 do 300 sek. Dokładność pomiaru grubości powłok: 0,01 0,05 µm Rozdzielczość energetyczna: 150±5 ev Napięcie lampy rentgenowskiej: 5 50 kv Prąd pomiaru: 50µA - 1000 µa Zastosowania standardowe: - pełna analiza pierwiastkowa cementu, stali, stopów kolorowych i minerałów, - Analizy wielowarstwowych powłok galwanicznych do 11 powłok, każda o grubości 0,005 µm
Podstawowe parametry pracy: Napięcie zasilania: 230V ±5V, 50Hz (zalecany zasilacz stabilizowany) Pobierana moc: 200W, Temperatura otoczenia: 15ºC - 30ºC, Wilgotność względna: 35% - 70% bez kondensacji, Wymiary komory pomiarowej: średnica 320mm x wysokość 180mm, Wymiary urządzenia: 650mm x 600mm x 460mm Waga urządzenia: 75 Kg Konfiguracja standardowa: Duża komora pomiarowa Detektor półprzewodnikowy Si-PIN Lampa rentgenowska z anodą W Automatyczna zmiana kolimatora: Φ8, 6, 4, 3, 2, 1, 0.5, 0.1(mm) Automatyczna zmiana filtrów Szybki analizator wielokanałowy Wysoko stabilne zasilacze niskiego napięcia i HV Potrójny system zabezpieczenia operatora Niezależne modele korekcji matrycy Procedura nieliniowej regresji wielu zmiennych Arbitralna dodatkowa analiza wzorca i algorytmy rozpoznania Kamera CCD wysokiej rozdzielczości do obserwacji próbki Unikalny system wzmocnienia wiązki światła Dostępne Oprogramowanie: Oprogramowanie funkcjonalne do pracy pod systemem Windows 2000 lub Windows XP, - do wielopierwiastkowej analizy XRF - do pomiaru grubości powłok galwanicznych - do analizy metali szlachetnych - do oznaczania substancji szkodliwych według RoHS Systemy zabezpieczenia operatora: Urządzenie jest wyposażone w dwie osłony ekranujące w tym zewnętrzna pokryta warstwą ołowiu. Osłony współdziałają z zasilaczem napięcia lampy rentgenowskiej, otwarcie osłony wyłącza lampę. Jeśli software nie pracuje poprawnie, nie można uruchomić lampa rentgenowskiej. Dłuższa przerwa w pracy powoduje automatyczne wyłączenie zasilania lampy rentgenowskiej, co przedłuża żywotność lampy. Zamknięta obudowa urządzenia całkowicie zabezpiecza przed promieniowaniem rozproszonym.
Przykład Analiza cementu
Statystyka z 20 analiz składników cementu Analiza surówki, gąsek Pierwiastki oznaczane: Si, Mn, P, S, Pierwiastek Si Mn P S Skład 0,1-1,0 0,1 1,0 0,05 0,1 0,010-0,10 Odchylenie Std 0,02 0,015 0,004 0,002 Analiza żelazo krzemu Oznaczane pierwiastki: Si, Fe, Ca, AL, Mn, Cr, Ti Pierwiastek Si Ca Fe Mn Skład 50,00 0,10 2,00 20,00 50,00 0,5 Odchylenie Std 0,2 0,015 0,10 0,01 Analiza spieków surowych Oznaczane pierwiastki: Fe, Ca, Si, AL., K, S, Mg Pierwiastek Ca Si Fe Skład 5,00-20,00 5,00 15,00 50,00 Odchylenie Std 0,15 0,15 0,20 Producent: Skyray Instrument Co., Ltd. Autoryzowany dystrybutor: B&M TRADING / B&M COMPUTERS 05-126 Nieporęt, ul. Kmicica 17 Tel/Fax.(+48-22)772 47 46, Tel. komórkowy :+48-667 989 734, www.bimtrading.eu, biuro@bimtrading.eu