ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO Nr AP 015 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5 Data wydania: 19 grudnia 2006 r. Nazwa i adres organizacji macierzystej INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI Państwowy Instytut Badawczy ul.szachowa 1 04-894 Warszawa AP 015 Nazwa, adres, telefon, fax i e-mail laboratorium LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ, ELEKTRONICZNEJ I OPTOELEKTRONICZNEJ ul.szachowa 1 04-894 Warszawa fax: (0-22) 512 84 92, tel. (0-22) 512-84-07, e-mail: cipt@.itl.waw.pl Kategoria laboratorium działające w stałej siedzibie oraz poza nią Dziedziny akredytacji - wielkości elektryczne DC i m.cz. - wielkości elektryczne w.cz. - czas i częstotliwość - wielkości optyczne - temperatura Kierownictwo laboratorium inż. Anna Warzec - kierownik laboratorium dr inż. Tomasz Kossek - zastępca kierownika laboratorium Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 1/38

Wielkości elektryczne I. Wielkości elektryczne prądu stałego i niskiej częstotliwości. Napięcie stałe 10 µv 10 kv - miernik napięcia 3 10 µv 100 µv 0,005 % + 0,002 µv również - multimetr cyfrowy 3 100 µv 1 mv 0,007 % stosunek - (mili/nano)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,0045 % napięć stałych - skopometr 3 10 mv 100 mv 0,0010 % w multimetrach 100 mv 1 V 0,0005 % cyfrowych 1 V 10 V 0,0003 % 10 V 100 V 0,0005 % 100 V 1000 V 0,0006 % - kalibrator 10 µv 1 mv 0,005 % + 0,002 µv - miernik (mostek) RLC 1 mv 10 mv 0,0045 % - źródło napięcia stałego 3 10 mv 100 mv 0,0010 % - zasilacz stabilizowany 3 100 mv 1 V 0,0007 % - próbnik przebicia 1 V 10 V 0,0005 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 10 V 100 V 0,0007 % 100 V 1000 V 0,0009 % 1 kv 10 kv 0,2% - oscyloskop 3 o impedancji wejściowej 50 Ω 1 mv 5,56 V 0,03 % ± 30 µv 1 M Ω 1 mv 222 V 0,03 % ± 30 µv wewnętrzne źródło odniesienia 0 V 10 V 0,001 % Prąd stały 10 na 100 A - miernik prądu 3 1 µa 10 µa 0,023 % - multimetr cyfrowy 3 10 µa 100 µa 0,010 % - (mili)amperomierz 3 100 µa 100 ma 0,004 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) - skopometr 3 100 ma 1 A 1 A 10 A 0,010 % 0,016 % - kalibrator 10 na 1 µa 0,008 % - miernik (mostek) RLC 1 µa 100 µa 0,004 % - źródło prądu stałego 3 100 µa 100 ma 0,003 % - zasilacz stabilizowany 3 100 ma 10 A 0,003 % 10 A 100 A 0,008 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 2/38

Napięcie przemienne 100 µv 1000 V - miernik napięcia 3 f = 10 Hz 31 Hz - multimetr cyfrowy 3 100 µv 1 mv 0,47 % - (mili)woltomierz 3 1 mv 10 mv 0,066 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) 10 mv 100 mv 100 mv 100 V 0,021 % 0,010 % - skopometr 3 100 V 1000 V 0,017 % f = 32 Hz 330 Hz 100 µv 1 mv 0,46 % 1 mv 10 mv 0,061 % 10 mv 100 mv 0,016 % 100 mv 100 V 0,006 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 330 Hz 10 khz 100 µv 1 mv 0,55 % 1 mv 10 mv 0,060 % 10 mv 100 mv 0,015 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,012 % f = 10 khz 33 khz 100 µv 1 mv 0,47 % 1 mv 10 mv 0,062 % 10 mv 100 mv 0,025 % 100 mv 100 V 0,005 % 100 V 1000 V 0,014 % f = 33 khz 100 khz 100 µv 1 mv 0,49 % 1 mv 10 mv 0,087 % 10 mv 100 mv 0,049 % 100 mv 10 V 0,009 % 10 V 100 V 0,013 % 100 V 750 V 0,09 % f =100 khz 330 khz 100 µv 1 mv 1,0 % 1 mv 10 mv 0,19 % 10 mv 100 mv 0,11 % 100 mv 10 V 0,03 % 10 V 100 V 0,10 % f =100 khz 200 khz 10 V 100 V 0,07 % f = 330 khz 1 MHz 100 µv 1 mv 2,8 % 1 mv 10 mv 0,7 % 10 mv 100 mv 0,5 % 100 mv 10 V 0,2 % 10 V 100 V 0,9 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 3/38

- kalibrator f = 10 Hz 40 Hz - miernik (mostek) RLC 100 µv 1 mv 0,4 % - miernik (mostek) impedancji 1 mv 10 mv 0,07 % - miernik (tester) parametrów instalacji 10 mv 10 V 0,01 % elektrycznych (teletechnicznych) 10 V 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 40 Hz 300 Hz 100 µv 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,01 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 300 Hz 1 khz 100 µv 1 mv 0,15 % 1 mv 10 mv 0,04 % 10 mv 10 V 0,01 % 10 V 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 1 khz 20 khz 100 µv 1 mv 0,16 % 1 mv 10 mv 0,05 % 10 mv 100 mv 0,02 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 20 khz 30 khz 100 µv 1 mv 0,24 % 1 mv 10 mv 0,13 % 10 mv 100 mv 0,03 % 100 mv 100 V 0,008 % 100 V 1000 V 0,02 % f = 30 khz 50 khz 100 µv 1 mv 0,24 % 1 mv 10 mv 0,13 % 10 mv 100 V 0,04 % 100 V 1000 V 0,14 % f = 50 khz 100 khz 100 µv 1 mv 0,7 % 1 mv 10 mv 0,6 % 10 mv 100 V 0,1 % 100 V 1000 V 0,4 % f =100kHz 330 khz 1 mv 10 mv 0,5 mv 10 mv 10 V 0,4 % 10 V 100 V 0,5 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 4/38

f = 330 khz 1 MHz 10 mv 10 V 1 % 10 V 100 V 2 % - oscyloskop 3 (skopometr 3 ) (wartości międzyszczytowe sygnału sinusoidalnego) o impedancji wejściowej: 50 Ω 4,44 mv 5,56 V 1,75 % 50 khz 10 MHz o impedancji wejściowej: 50 Ω i 1 MΩ 4,44 mv 5,56 V 1,75 % (nierówność charakterystyki często- 100 mhz 100 MHz tliwościowej odniesiona do wskazania w paśmie 50 khz 10 MHz) 4,44 mv 5,56 V 3,5 % 100 MHz 550 MHz 4,44 mv 5,56 V 4,7 % 550 MHz 1,1 GHz wewnętrzne źródło odniesienia AC 10 mv 10 V 0,03 % 1 khz - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych (generator napięcia) wyjście asymetryczne: 1 mv 30 mv 20 Hz 50 khz 1 mv 1000 V 0,4 % (0; 50; 75; 135; 150; 600) Ω; 50 khz 100 khz 0,7 % wyjście symetryczne: 1 mv 10 V (0; 124; 135; 150; 600) Ω - miernik napięcia 30 mv 100 V 100 V 1000 V 20 Hz 100 khz 0,2 % 20 Hz 50 khz 0,2 % 50 khz 100 khz 0,4 % wejście asymetryczne: 1 mv 100 V wysokoomowe; 1 mv 20 Hz 30 Hz 0,5 % 30 Hz 100 khz 0,3 % wejście symetryczne: 1 mv 10 V 3 mv 100 V 20 Hz 100 khz wysokoomowe 0,2 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 5/38

Poziom napięcia napięcie odniesienia - źródło sinusoidalnych sygnałów 0,7746 V pomiarowych (generator poziomu) wyjście asymetryczne: -60 db +30 db, -60 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,05 db (0; 50; 75; 135; 150; 600) Ω; 20 Hz 50 khz 0,02 db 50 khz 100 khz 0,05 db 50 Ω 0 db 200 Hz 100 MHz 0,045 db wyjście symetryczne: -60 db +30 db -30 db + 30 db 20 Hz 100 khz (0; 124; 135; 150; 600) Ω; 0,02 db wyjście asymetryczne: -60 db +10 db, 75 Ω; wyjście symetryczne: 0 db, 150 Ω -60 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -50 db -20 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db -10 db, +10 db 200 Hz 36 MHz 0,04 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db 0 db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,038 db - miernik poziomu wejście asymetr. i symetryczne: -60 db 20 Hz 100 khz -60 db +30 db wysokoomowe; 0,04 db -50 db, -40 db 20 Hz 100 khz 0,03 db -30 db +30 db 20 Hz 100 khz 0,015 db wejście asymetryczne: -60 db + 10 db, 75 Ω; -60 db 200 Hz 36 MHz 0,08 db -50 db, -40 db 200 Hz 36 MHz 0,07 db -30 db -10 db 200 Hz 36 MHz 0,06 db 0 db 200 Hz 36 MHz 0,032 db +10 db 200 Hz 2,1 MHz 0,04 db wejście symetryczne: 0 db, 150 Ω 0 db 200 Hz 620 khz 0,032 db 620 khz 2 MHz 0,042 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 6/38

Poziom mocy - źródło sinusoidalnych sygnałów pomiarowych ( generator poziomu) moc odniesienia 1 mw wyjście asymetryczne: -50 dbm -50 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, 0,07 dbm (0; 50; 75; 135; 150; 600) Ω; -40 dbm, -30 dbm 20 Hz 50 khz 0,02 dbm 50 Hz 100 khz 0,05 dbm wyjście symetryczne: -50 dbm -20 dbm +40 dbm 20 Hz 100 khz + 40 dbm, 0,02 dbm (0; 124; 135; 150; 600) Ω; wyjście asymetryczne 50 Ω 0 dbm 200 Hz 100 MHz 0,045 db wyjście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 Ω; -60 dbm -50 dbm -20 dbm -10 dbm 0 dbm +10 dbm, +20 dbm 200 Hz 36 MHz 0,07 dbm 200 Hz 36 MHz 0,06 dbm 200 Hz 36 MHz 0,05 dbm 200 Hz 36 MHz 0,032 dbm 200 Hz 36 MHz 0,04 dbm wyjście symetryczne: 0 dbm, 150 Ω 0 dbm 200 Hz 2 MHz 0,032 dbm - miernik poziomu wejście asymetryczne: -60 dbm + 20 dbm, 75 Ω; -60 dbm -40 dbm 200 Hz 36 MHz 0,07 dbm -30 dbm -10 dbm 200 Hz 36 MHz 0,06 dbm 0 dbm 200 Hz 36 MHz 0,03 dbm + 10 dbm 200 Hz 36MHz 0,04 dbm + 20 dbm 200 Hz 2,1 MHz 0,04 dbm wejście symetryczne: 0 dbm, 150 Ω 0 dbm 200 Hz 2 MHz 0,03 dbm - generator i miernik poziomu analizatorów PCM +3 dbm - 50 dbm (dla częstotliwości 1014 Hz) 0,2 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 7/38

Prąd przemienny 10 µa 100 A - miernik prądu f = 10 Hz 1 khz - multimetr cyfrowy 3 10 µa 100 ma 0,02 % - (mili)amperomierz 3 100 ma 1 A 0,03 % - miernik cęgowy 1 A 10 A 0,05 % - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) f = 1 khz 5 khz 10 µa 100 µa 0,06 % 100 µa 100 ma 0,03 % 100 ma 1 A 0,05 % 1 A 10 A 0,09 % f = 5 khz 10 khz 1 A 10 A 0,2 % f = 10 khz 20 khz 1 A 10 A 0,6 % f = 45 Hz 52,5 Hz 10 A 20 A 0,065 % 20 A 100 A 0,13 % - tester wyłączników RCD - miernik prądu upływu 50 Hz 3 ma 1000 ma 50 Hz 4 ma 1000 ma 1,2% 0,03 % - kalibrator f = 10 Hz 1 khz - miernik (mostek) RLC 10 µa 100 ma 0,03 % - miernik (mostek) impedancji 100 ma 1 A 1 A 10 A 10 A 20 A 0,05 % 0,06 % 0,08 % f = 1 khz 5 khz 10 µa 100 µa 0,05 % 100 µa 100 ma 0,04 % 100 ma 1 A 0,07 % f = 5 khz 20 khz 0,1 ma 100 ma 0,1 % 100 ma 1 A 0,4 % f = 20 khz 50 khz 1 ma 100 ma 0,5 % 100 ma 1 A 1,2 % f = 50 khz 100 khz 1 ma 100 ma 0,8 % f = 1 khz 10 khz 1A 20 A 0,08 % f = 40 Hz 500 Hz 20 A 100 A 0,2 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 8/38

Rezystancja DC 0,00001 Ω 1 TΩ - opornik (rezystor) wzorcowy - opornik (rezystor) dekadowy 0,00001 Ω 0,001 Ω 0,002 % - opornik (rezystor) regulowany 0,001 Ω 100 Ω 0,0010 % - kalibrator 100 Ω 10 kω 0,0008 % - miernik rezystancji 3 10 kω 100 kω 0,0011 % - multimetr cyfrowy 3 100 kω 1 MΩ 0,0024 % - (mili/mega)omomierz 3 1 MΩ 10 MΩ 0,005 % - miernik rezystancji izolacji 10 MΩ 100 MΩ 0,014 % - miernik (mostek RLC) 100 MΩ 1 GΩ 0,024 % - mostek stałoprądowy 1 GΩ 10 GΩ 0,12 % - miernik rezystancji uziemienia 10 GΩ 1 TΩ 0,5 % - miernik skuteczności uziemienia - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznych (teletechnicznych) - oscyloskop 3 - skopometr 3 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 9/38

Rezystancja AC - opornik wzorcowy 1 khz - opornik dekadowy 0,01 Ω 1 Ω 0,13 % - wzorzec rezystancji 1 Ω 100 Ω 0,03 % 100 Ω 1 MΩ 0,02 % 1 MΩ 10 MΩ 0,12 % 40 Hz 100 Hz 0,1 Ω 1 Ω 0,18 % 1 Ω 10 Ω 0,07 % 10 Ω 100 Ω 0,06 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,06 % 100 kω 1 MΩ 0,09 % 1 MΩ 10 MΩ 0,45 % 100 Hz 250 Hz 0,1 Ω 1 Ω 0,13 % 1 Ω 10 Ω 0,06 % 10 Ω 100 Ω 0,05 % 100 Ω 10 kω 0,04 % 10 kω 100 kω 0,05 % 100 kω 1 MΩ 0,07 % 1 MΩ 10 MΩ 0,34 % 250 Hz 1 khz 0,1 Ω 1 Ω 0,13 % 1 Ω 10 Ω 0,05 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % 1 khz 3 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % 3 khz 6 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,08 % 100 kω 1 MΩ 0,13 % 1 MΩ 10 MΩ 0,67 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 10/38

6 khz 10 khz 1 Ω 10 Ω 0,17 % 10 Ω 100 Ω 0,07 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,19 % 100 kω 1 MΩ 0,33 % 10 khz 20 khz 1 Ω 10 Ω 0,25 % 10 Ω 100 Ω 0,09 % 100 Ω 10 kω 0,07 % 10 kω 100 kω 0,29 % 100 kω 1 MΩ 0,53 % 20 khz 50 khz 1 Ω 10 Ω 0,37 % 10 Ω 100 Ω 0,13 % 100 Ω 1 kω 0,10 % 1 kω 10 kω 0,12 % 50 khz 100 khz 1 Ω 10 Ω 0,77 % 10 Ω 100 Ω 0,26 % 100 Ω 1 kω 0,20 % 1 kω 10 kω 0,23 % - mostek (miernik) RLC 1 khz - mostek (miernik) impedancji 0,01 Ω 0,1 Ω 1 % - miernik rezystancji 0,1 Ω 1 Ω 0,3 % - miernik (tester) parametrów instalacji 1 Ω 10 Ω 0,05 % elektrycznych (teletechnicznych) 10 Ω 100 Ω 0,03 % 100 Ω 100 kω 0,02 % 100 kω 1 MΩ 0,02 % 1 MΩ 10 MΩ 0,12 % 40 Hz 100 Hz 1 Ω 10 Ω 0,17 % 10 Ω 100 Ω 0,06 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,06 % 100 kω 1 MΩ 0,09 % 1 MΩ 10 MΩ 0,45 % 100 Hz 250 Hz 1 Ω 10 Ω 0,13 % 10 Ω 100 Ω 0,05 % 100 Ω 10 kω 0,04 % 10 kω 100 kω 0,05 % 100 kω 1 MΩ 0,07 % 1 MΩ 10 MΩ 0,34 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 11/38

250 Hz 1 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % 1 khz 3 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % 3 khz 6 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,08 % 100 kω 1 MΩ 0,13 % 1 MΩ 10 MΩ 0,67 % 6 khz 10 khz 1 Ω 10 Ω 0,17 % 10 Ω 100 Ω 0,07 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,19 % 100 kω 1 MΩ 0,33 % 10 khz 20 khz 1 Ω 10 Ω 0,25 % 10 Ω 100 Ω 0,09 % 100 Ω 10 kω 0,07 % 10 kω 100 kω 0,29 % 100 kω 1 MΩ 0,53 % 20 khz 50 khz 1 Ω 10 Ω 0,37 % 10 Ω 100 Ω 0,13 % 100 Ω 1 kω 0,10 % 1 kω 10 kω 0,12 % 50 khz 100 khz 1 Ω 10 Ω 0,77 % 10 Ω 100 Ω 0,26 % 100 Ω 1 kω 0,20 % 1 kω 10 kω 0,23 % - miernik rezystancji pętli zwarcia 50Hz 0,05 Ω 1 kω 0,05 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 12/38

Impedancja - wzorzec impedancji 1 khz 1 Ω 10 Ω 0,03 % 10 Ω 100 Ω 0,03 % 100 Ω 100 kω 0,02 % 100 kω 1 MΩ 0,02 % 1 MΩ 10 MΩ 0,12 % ϕ 0,01 40 Hz 100 Hz 0,1 Ω 1 Ω 1 Ω 10 Ω 0,21 % 0,07 % 10 Ω 100 Ω 0,06 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,06 % 100 kω 1 MΩ 0,09 % 1 MΩ 10 MΩ 0,45 % ϕ 0,04 100 Hz 250 Hz 1 Ω 10 Ω 0,06 % 10 Ω 100 Ω 0,05 % 100 Ω 10 kω 0,04 % 10 kω 100 kω 0,05 % 100 kω 1 MΩ 0,07 % 1 MΩ 10 MΩ 0,34 % ϕ 0,03 250 Hz 1 khz 1 Ω 10 Ω 0,05 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % ϕ 0,02 1 khz 3 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,04 % 100 kω 1 MΩ 0,05 % 1 MΩ 10 MΩ 0,23 % ϕ 0,02 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 13/38

3 khz 6 khz 1 Ω 10 Ω 0,09 % 10 Ω 100 Ω 0,04 % 100 Ω 10 kω 0,03 % 10 kω 100 kω 0,08 % 100 kω 1 MΩ 0,13 % 1 MΩ 10 MΩ 0,67 % ϕ 0,02 6 khz 10 khz 1 Ω 10 Ω 0,17 % 10 Ω 100 Ω 0,07 % 100 Ω 10 kω 0,05 % 10 kω 100 kω 0,19 % 100 kω 1 MΩ 0,33 % ϕ 0,04 10 khz 20 khz 1 Ω 10 Ω 0,25 % 10 Ω 100 Ω 0,09 % 100 Ω 10 kω 0,07 % 10 kω 100 kω 0,29 % 100 kω 1 MΩ 0,53 % ϕ 0,06 20 khz 50 khz 1 Ω 10 Ω 0,37 % 10 Ω 100 Ω 0,13 % 100 Ω 1 kω 0,10 % 1 kω 10 kω 0,12 % ϕ 0,09 50 khz 100 khz 1 Ω 10 Ω 0,77 % 10 Ω 100 Ω 0,26 % 100 Ω 1 kω 0,20 % 1 kω 10 kω 0,23 % ϕ 0,20 - miernik (mostek impedancji) 1 khz 90 Ω 900 kω 0,02 % ϕ 0,01 100 khz 9 Ω 9 kω 0,2 % ϕ 0,2 - miernik impedancji pętli zwarcia - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznej 50 Hz 0,1 Ω 1 Ω 1 Ω 1 kω 0,3 % 0,05 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 14/38

Indukcyjność własna - cewka wzorcowa stała i regulowana 1 khz - dekada indukcyjności 1µH 10 µh 0,06 µh 10 µh 50 µh 0,07 µh 50 µh 1 mh 0,06 % 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 µh 100 µh 0,07 % 100 µh 10 H 0,04 % 250 Hz 6 khz 10 µh 100 µ H 0,06 % 100 µh 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 µh 100 µ H 0,08 % 100 µh 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 µh 100 µ H 0,09 % 100 µh 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 µh 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 µh 10 mh 0,2 % - mostek (miernik) RLC 1 khz - mostek (miernik) impedancji 1 µh 50 µh 0,06 µh - multimetr cyfrowy 50 µh 1 mh 0,06 % - mostek indukcyjności 1 mh 10 H 0,03 % 40 Hz 250 Hz 10 µh 100 µh 0,07 % 100 µh 10 H 0,04 % 250 Hz 6 khz 10 µh 100 µ H 0,06 % 100 µh 1 H 0,03 % 250 Hz 1 khz 1 H 10 H 0,03 % 6 khz 10 khz 10 µh 100 µ H 0,08 % 100 µh 1 H 0,05 % 10 khz 20 khz 10 µh 100 µ H 0,09 % 100 µh 100 mh 0,07 % 20 khz 50 khz 10 µh 10 mh 0,1 % 50 khz 100 khz 10 µh 10 mh 0,2 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 15/38

Pojemność elektryczna - kondensator wzorcowy stały 1 khz i regulowany (dekadowy) 10 pf 0,005 % 100 pf 0,005 % 1000 pf 0,005 % 40 Hz 1 khz 1 pf 1 µf 0,01 % + 0,00003 pf 1 µf 10 µf 0,02 % 10 µf 100 µf 0,04 % 1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 µf 0,02 % 0,1µF 1 µf 0,03 % 1 µf 100 µf 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 µf 0,02 % 0,1 µf 1 µf 0,06 % 1 µf 10 µf 0,13 % 10 µf 100 µf 0,85 % 10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,2 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 µf 1 µf 0,1 % 1 µf 10 µf 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 µf 1 µf 0,2 % 1 µf 10 µf 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1µF 1 µf 0,6 % 1 µf 10 µf 4 % - mostek (miernik) RLC 1 khz - mostek (miernik) impedancji 0,001 pf 0,00006 pf - multimetr cyfrowy 0,1 pf 0,06 % - mostek pojemności 1 pf 0,05 % 10 pf 0,005 % 100 pf 0,006 % 1000 pf 0,006 % 1 pf 1 µf 0,02 % + 0,1 pf 1 µf 10 µf 0,2 % 40 Hz 1 khz 1 pf 1 µf 0,01 % + 0,00003 pf 1 µf 10 µf 0,02 % 10 µf 100 µf 0,04 % Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 16/38

1 khz 6 khz 0,2 pf 0,1 µf 0,02 % 0,1µF 1 µf 0,03 % 1 µf 100 µf 0,04 % 6 khz 10 khz 0,2 pf 0,1 µf 0,02 % 0,1 µf 1 µf 0,06 % 1 µf 10 µf 0,13 % 10 µf 100 µf 0,85 % 10 khz 20 khz 10 pf 1 nf 0,3 % 1 nf 100 nf 0,07 % 0,1 µf 1 µf 0,1 % 1 µf 10 µf 0,3 % 20 khz 50 khz 0,1 nf 100 nf 0,1 % 0,1 µf 1 µf 0,2 % 1 µf 10 µf 1 % 50 khz 100 khz 0,1 nf 10 nf 0,2 % 10 nf 100 nf 0,3 % 0,1µF 1 µf 0,6 % 1 µf 10 µf 4 % - oscyloskop 3 1 pf 120 pf - skopometr 3 1 pf 35 pf 2 % ± 0,25 pf 35 pf 120 pf 2,5 % ± 0,25 pf Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 17/38

Tłumienność mocy elektrycznej - tłumik pomiarowy 0 db 60 db w układzie asymetrycznym (Z=75 Ω) 0 Hz 100 MHz 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 100 MHz 0,05 db 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 100 MHz 0,05 db 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 100 MHz 0,07 db w układzie symetrycznym (Z = 150 Ω) 0 Hz 2 MHz 0 db 10 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db 20 db 50 db 0 Hz 10 khz 0,015 db 10 khz 2 MHz 0,04 db 60 db 0 Hz 10 khz 0,025 db 10 khz 2 MHz 0,07 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 18/38

Wielkości elektryczne przy wysokich częstotliwościach Poziom mocy - generator w.cz. - miernik mocy w.cz. 10 MHz 3,05 GHz +30 dbm +35 dbm 63 dbm +30 dbm 104 dbm 63 dbm 134 dbm 104 dbm 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db+0,005 db/10 db 0,14 db + 0,12 db/10 db 3,05 GHz 6,6 GHz +30 dbm +35 dbm 63 dbm +30 dbm 87 dbm 63 dbm 117 dbm 87 dbm 0,24 db 0,049 db + 0,005 db/10 db 0,080 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db 6,6 GHz 13,2 GHz +30 dbm +35 dbm 52 dbm +30 dbm 78 dbm 52 dbm 108 dbm 78 dbm 0,24 db 0,055 db + 0,005 db/10 db 0,086 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 db Względny poziom mocy - tłumik - sprzęgacz - generator 13,2 GHz 18,0 GHz +30 dbm +35 dbm 43 dbm +30 dbm 70 dbm 43 dbm 100 dbm 70 dbm 10 MHz 3,05 GHz 63 db +30 db 104 db 63 db 134 db 104 db 0,26 db 0,061 db + 0,005 db/10 db 0,092 db + 0,005 db/10 db 0,13 db + 0,12 db/10 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,10 db + 0,12 db/10 db 3,05 GHz 6,6 GHz 63 db +30 db 87 db 63 db 117 db 87 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,09 db + 0,12 db/10 db 6,6 GHz 13,2 GHz 52 db +30 db 78 db 52 db 108 db 78 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,08 db+ 0,12 db/10 db 13,2 GHz 18,0 GHz 43 db +30 db 70 db 43 db 100 db 70 db 0,009 db + 0,005 db/10 db 0,040 db + 0,005 db/10 db 0,08 db + 0,12 db/10 db Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 19/38

Współczynnik kalibracji - czujnik mocy w zakresie mocy -30 dbm +35 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz w zakresie mocy -70 dbm -20 dbm 10 MHz 4,0 GHz 4,0 GHz 8,0 GHz 8,0 GHz 12,4 GHz 12,4 GHz 18,0 GHz 0,008 0,009 0,011 0,013 0,013 0,014 0,016 0,021 Współczynnik odbicia S 11 / S 22 - częstościomierz - czujnik mocy - terminator - tłumik - filtr - sprzęgacz - przełącznik Złącze N 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 18 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,004 0,006) lin 4 (1,7 180) º (0,006 0,011) lin (1,1 1,7) º (0,011 0,018) lin (0,98 1,1) º (0,006 0,008) lin (2,1 180) º (0,008 0,013) lin (1,3 2,1) º (0,013 0,022) lin (1,2 1,3) º (0,008 0,009) lin (3,1 180) º (0,009 0,020) lin (1,9 3,1) º (0,020 0,035) lin (1,9 2,0) º Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 20/38

Złącze 3,5 mm 10 MHz 2 GHz 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 2 GHz 10 GHz (0,002 0,004) lin (0,91 180) º (0,004 0,007) lin (0,64 0,91) º (0,007 0,011) lin (0,63 0,64) º 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 10 GHz 18 GHz (0,003 0,004) lin (1,1 180) º (0,004 0,009) lin (0,78 1,1) º (0,009 0,014) lin (0,78 0,79) º 0,0 0,2 0,2 0,6 0,6 1,0 (0,005 0,007) lin (1,8 180) º (0,007 0,011) lin (1,1 1,8) º (0,011 0,018) lin (1,0 1,1) º Transmitancja S 21 / S 12 - tłumik - filtr - sprzęgacz - przełącznik Złącze N 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,10 0,12) db (0,62 0,79) º (0,12 0,16) db (0,79 1,1) º (0,16 0,30) db (1,1 2,0) º (0,30 1,2) db (2,0 8,5) º (0,10 0,12) db (0,62 0,79) º (0,12 0,16) db (0,79 1,0) º (0,16 0,24) db (1,0 1,6) º (0,24 0,70) db (1,6 4,8) º Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 21/38

10 GHz 18 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,15 0,17) db (0,96 1,2) º (0,17 0,21) db (1,2 1,4) º (0,21 0,29) db (1,4 1,9) º (0,29 0,71) db (1,9 4,9) º Złącze 3,5 mm 10 MHz 2 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,08 0,10) db (0,49 0,66) º (0,10 0,14) db (0,66 0,92) º (0,14 0,28) db (0,92 1,9) º (0,28 1,2) db (1,9 8,4) º 2 GHz 10 GHz 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db 10 GHz 18 GHz (0,10 0,12) db (0,62 0,79) º (0,12 0,16) db (0,79 1,0) º (0,16 0,24) db (1,0 1,6) º (0,24 0,70) db (1,6 4,8) º 0 db -20 db -20 db -40 db -40 db -60 db -60 db -80 db (0,13 0,15) db (0,82 0,99) º (0,15 0,19) db (0,99 1,2) º (0,19 0,27) db (1,2 1,8) º (0,27 0,69) db (1,8 4,8) º Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 22/38

Temperatura -270 C 1820 C - symulator temperatury -270 C 1820 C 0,03 C 1) - multimetr cyfrowy (pracujący jako -200 C 850 C 0,005 C 2) wskaźnik temperatury) Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 23/38

Czas i częstotliwość Częstotliwość 0,001 Hz 20 GHz -wzorzec lub generator częstotliwości działający w trybie swobodnym (wzorzec kwarcowy, atomowy, generator częstotliwości, syntezator) lub kontrolowany sygnałem czasu albo częstotliwości wzorcowej (sygnałem radiowym lub sygnałem radionawigacyjnym systemu naziemnego, jak LORAN, lub satelitarnego, jak GPS, lub sygnałem telekomunikacyjnym przesyłanym przewodowo) 100 khz, 1 MHz, 2,048 MHz 5 MHz, 10 MHz 5 10-14 f w czasie uśredniania 7d 7 10-14 f w czasie uśredniania 1d (pod warunkiem jednoczesnych zdalnych porównań z wzorcem państwowym GUM) 5 10-13 f w czasie uśredniania 1 h 1 10-12 f w czasie uśredniania 1000 s 1 10-11 f w czasie uśredniania 100 s Sygnał prostokątny 0,001 Hz 3 GHz 1 10-10 f W zakresie 0,001Hz 0,1 Hz pomiary okresu - nadajnik zawarty w analizatorze/testerze PDH/SDH Sygnał sinusoidalny 1 10-10 f 50 khz 20 GHz w czasie uśredniania 1 s 1 khz 50 khz 1 10-10 f w czasie uśredniania 10 s 100 Hz 1 khz 1 10-10 f w czasie uśredniania 100 s 100Hz f 10 0,1 Hz 100 Hz f 1 10 w czasie uśredniania 100 s 8 khz 3 GHz 1 10-10 f w czasie uśredniania 1 s 3 2 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 24/38

- częstościomierz cyfrowy ( w tym częstościomierz wbudowany w miernik mocy) 0,001 Hz 20 GHz 0,001 Hz 10 MHz 3 10-11 f sygnał prostokątny w czasie uśredniania 0,1 s 0,1 Hz 20 GHz 5 10-11 f sygnał sinusoidalny w czasie uśredniania 1 s 3 10-10 f w czasie uśredniania 0,1 s Czas uśredniania nie mniejszy niż okres sygnału Czas uśredniania nie mniejszy niż 100 T, gdzie T- okres sygnału - komparator częstotliwości (względne odchylenie częstotliwości) 10-12 10-7 Hz/Hz 10-12 10-7 Hz/Hz 1 10-13 Hz/Hz (100 khz, 1 MHz, w czasie uśredniania 2,048 MHz, 5 MHz, 1 d 10 MHz) 10-10 10-7 Hz/Hz 2 10-12 Hz/Hz (0,1 Hz 1,2 GHz) w czasie uśredniania 1000 s 1 10-11 Hz/Hz w czasie uśredniania 10 s 5 10-11 Hz/Hz w czasie uśredniania 1 s - multimetr cyfrowy 3 10 Hz 10 MHz 0,001 % - oscyloskop 3 100 Hz 10 khz 0,4 10-6 f (wewnętrzne źródło odniesienia AC) - źródło sinusoidalnych sygnałów 20 Hz 100 Hz 5 10-6 f pomiarowych (generator) 100 Hz 100 MHz 5 10-8 f - kalibrator 10 Hz 1 MHz 0,001 % - miernik (mostek) RLC - miernik (mostek) impedancji - źródło promieniowania optycznego (modulowane i niemodulowane) -zestaw do pomiaru tłumienności 0 500 MHz 2 % - miernik częstotliwości analizatorów PCM 20 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 5 10-6 f Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 25/38

- generator częstotliwości analizatorów PCM 20 Hz 3403 Hz (dla poziomu -10 dbm0) 5 10-6 f - zegar generatora częstotliwości analizatorów PCM 2048 khz 0,024 Hz - miernik częstotliwości analizatorów widma 1 Hz 20 GHz 5 10-11 f w czasie uśredniania 1 s 3 10-10 f w czasie uśredniania 0,1 s Czas uśredniania nie mniejszy niż 100 T, gdzie T- okres sygnału Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 26/38

Przedział czasu (także współczynnik wypełnienia) - generator przedziałów czasu -reflektometr światłowodowy wielomodowy -reflektometr światłowodowy jednomodowy - miernik (tester) parametrów instalacji elektrycznej - tester wyłączników RCD 1 ns 10 5 s 1 ns 10 5 s 1 10-13 t dla przedziału czasu 10 5 s 2 ns 20 µs 2 ns 20 µs - czasomierz cyfrowy 1 ns 10 5 s 2 ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,1 ns+ 1 10-10 t dla przedziału czasu < 10s 2 % 2 % 20 ms 1000 ms 0,7 ms 1 ns 10 s sygnał sinusoidalny 5 10-11 t dla przedziału czasu lub czasu uśredniania 1s 3 10-10 t dla przedziału czasu lub czasu uśredniania 0,1s 0,03 ns dla przedziału czasu < 0,1 s 100 ns 10 5 s sygnał prostokątny 0,01 ns + 3 10-11 t 200 ns 10 5 s sygnał impulsowy 1 10-13 t dla przedziału czasu 10 5 s 0,2ns dla przedziału czasu 10 4 s t 10 s 0,01 ns+1 10-10 t dla przedziału czasu < 1s - oscyloskop 3 900,9 ns 55 s 0,1 ns+ 0,3 10-6 t - skopometr 3 Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 27/38

Czas fazowy 1 ns 100 ms - miernik błędu przedziału czasu (TIE) 1 ns 100 ms (2,048 MHz) - komparator czasu fazowego 1 ns 1 s (100 khz,1 MHz, 5 MHz, 10 MHz) 1 ns 1 s (1 Hz) 0,1 ns + 5 10-10 TIE 0,1 ns + 5 10-10 x x czas fazowy 0,5 ns - miernik fluktuacji czasu fazowego zawarty w odbiorniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,003 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s 0 256 UI ±8% w.mierz ±0,02UI 2 488,320 Mb/s 0 800 UI ±8%w.mierz ±0,02 UI Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz,1 khz,10khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów (0,003 0,03)UI pp Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz zakresów j.w. przepływności sygnałów ±(8% 15%) w. mierz ± 0,02 UI Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 28/38

- generator fluktuacji czasu fazowego zawarty w nadajniku analizatora/testera PDH/SDH Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego1 khz (PDH) i 100 khz (SDH) 2,048 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 8,448 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 34,648 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 139,264 Mb/s 0 21,751 UI 0,002 UI pp 155,520 Mb/s 0 21,751 UI 0,03 UI pp 622,080 Mb/s 0 800 UI ±5% w.mierz ± 0,07UI 2 488,320 Mb/s 0 32 UI ±5% w.mierz ± 0,1 UI Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 100 Hz, 1 khz, 10 khz, 100 khz zakresów j.w. przepływności sygnałów (0,002 0,02)UI pp Dla wartości częstotliwości fluktuacji czasu fazowego 2 Hz 20 MHz, zakresów j.w. przepływności sygnałów ±(5% 19%) w. mierz ±(0,024 0,2)UI Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 29/38

Wielkości optoelektroniczne Moc (poziom mocy) promieniowania optycznego - miernik mocy (poziomu mocy) 100 pw 150 µw 2,5 % długość fali: promieniowania optycznego 3 (-70 dbm -8 dbm) (0,11 db) (850; 1300; 1310; - zestaw do pomiaru tłumienności 3 1495 1640) nm - analizator widma promieniowania optycznego - miernik długości fali Liniowość - reflektometr światłowodowy jedno i 100 pw 150 µw wielomodowy 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 (-70 dbm - 8dBm) - źródło promieniowania optycznego 100 pw 500 mw 4,2 % długość fali modulowane i niemodulowane 3 (-70 dbm +25dBm) (0,19 db) (450 1700)nm - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 7 % (0,3 db) długość fali (350-450)nm - nadajnik zawarty w analizatorze/ 100 pw 500 mw 4,2 % testerze PDH/SDH 3 (-70 dbm +25dBm) (0,19 db) Długość optyczna światłowodu - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 odległości do 250km 0,6 m Punkty kalibracji: 1310 nm; 19974,1 m 1550 nm; 19982,7 m - reflektometr światłowodowy odległości do 100km 1,7 m Punkty kalibracji: wielomodowy 3 850 nm; 4796,0 m; 0,4 m 1300 nm; 4776,6 m Tłumienność - tłumik optyczny, sprzęgacz 0 70 db 0,5 % długość fali: optyczny, przełącznik optyczny (0,02 db) (850; 1300; 1310; i inne obiekty optoelektroniczne 3 1550) nm Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 30/38

Tłumienność jednostkowa - reflektometr światłowodowy jednomodowy 3 (0,333 ± 0,004) db/km (0,192 ± 0,004) db/km - reflektometr światłowodowy (2,642 ± 0,076) wielomodowy 3 db/km (0,489 ± 0,028) db/km 0,008 db/km przy długości fali 1310 nm, 0,008 db/km przy długości fali 1550 nm 0,073 db/km przy długości fali 850 nm, 0,026 db/km przy długości fali 1300 nm Tłumienność odbicia (reflektancja) - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - obiekty optoelektroniczne 3 3,5 db 50 db 50 db 65 db 5 db 68 db 0,32 db 0,66 db 0,48 db zakresy długość fali: 850 nm, 1300 nm, 1310 nm, 1550nm Tłumienność zależna od polaryzacji (PDL), zależność polaryzacyjna wskazań mocy -miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3, - analizator widma optycznego, - miernik długości fali, - tłumik optyczny sprzęgacz optyczny, przełącznik optyczny i inne obiekty optoelektroniczne 3 Długość fali promieniowania optycznego 0 db 62 db 0,2 % (0,009 db) zakres długość fali: (1250-1600) nm - źródło promieniowania optycznego 350 nm 700 nm 0,5 nm modulowane i niemodulowane 3 700 nm 1700 nm 0,14 pm - reflektometr optyczny jednomodowy i wielomodowy 3 - miernik tłumienności odbicia (reflektancji) 3 - zestaw do pomiaru tłumienności 3 - nadajnik optyczny zawarty w analizatorze /testerze PDH/SDH 3 - analizator widma promieniowania optycznego - miernik długości fali 1510 nm 1540 nm 1255 nm 1351 nm 0,3 pm 0,3 pm komórki absorpcyjne 1495 nm 1640 nm 0,3 pm laser przestrajany kontrolowany miernikiem długości fali 1532,8279 nm 1532,8329 nm 1532,8304 nm 0,2 pm 0,2 pm 0,3 pm Stabilizowany laser DFB Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 31/38

*) Niepewność rozszerzona przy poziomie ufności 95 %. Najlepszą pomiarową podano w procentach wartości wskazanej. 1 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych termoelementów, podanych w PN-EN 60584-1:1997 Termoelementy Charakterystyki. 2 - wzorcowanie pośrednie z zastosowaniem znormalizowanych charakterystyk termometrycznych czujników platynowych przemysłowych termometrów rezystancyjnych, podanych w PN-EN 60751+A2:1997 Czujniki platynowe przemysłowych termometrów rezystancyjnych. Uwaga W przypadku zastosowania innych dokumentów niż podane w 1, 2 są one jednoznacznie określone w świadectwie wzorcowania. 3 - wzorcowanie poza stałą siedzibą 4 - lin - oznaczenie lin przy wartościach najlepszej możliwości pomiarowej określa skalę liniową Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 32/38

Personel akredytowany Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Anna Warzec Kierownik Laboratorium Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone'a i Thomsona) - mierniki (mostki) RLC - wzorce pojemności i indukcyjności Tomasz Kossek Zastępca Kierownika Laboratorium Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Elżbieta Hercan-Sereda Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone'a i Thomsona) - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) - źródła napięcia i prądu stałego 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznej Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 33/38

Zofia Rau Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Kierownik Zespołu Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu: a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe - komparatory częstotliwości - mierniki błędu przedziału czasu i komparatory czasu fazowego Michał Marszalec Młodszy specjalista jw. Bogusław Dąbrowski Kierownik Zespołu Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5 - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy 5 - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 34/38

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Bożena Główka Technik Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mostki stałoprądowe (Wheatstone'a i Thomsona) - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Halina Kamińska Technik Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - tłumiki pomiarowe - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy Dariusz Nerkowski Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i czestotliwość - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - kalibratory napięcia, prądu i rezystancji oraz symulatory temperatury - źródła napięcia i prądu stałego 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznej - oscyloskopy 5 - mierniki impedancji (mostki RLC) i mostki stałoprądowe - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Piotr Lesiak Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - oscyloskopy - mierniki napięcia, prądu i rezystancji Stanisław Franciszczuk Technik Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - tłumiki pomiarowe - mierniki impedancji (mostki RLC) - wzorce pojemności, indukcyjności i impedancji (rezystancji) Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 35/38

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Tomasz Osuch Młodszy specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - reflektometry światłowodowe jednomodowe i wielomodowe 5 - obiekty optoelektroniczne 5) - mierniki tłumienności odbicia (reflektancji) 5 - nadajniki zawarte w analizatorach i testerach PDH/SDH 5 - analizatory widma optycznego - mierniki długości fali promieniowania optycznego - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Marta Buryk Młodszy specjalista Wielkości optoelektroniczne - źródła promieniowania optycznego 5 - mierniki mocy promieniowania optycznego 5 - tłumiki optyczne 5 - zestawy do pomiaru tłumienności 5 Bartosz Rynowiecki Student stażysta Wielkości elektryczne - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznej Jerzy Żurawski Student stażysta Wielkości elektryczne - mierniki napięcia, prądu i rezystancji oraz wskaźniki temperatury 5 - źródła napięcia i prądu stałego 5 - oporniki wzorcowe stałe i regulowane - mierniki (testery) parametrów instalacji elektrycznej Grzegorz Kędzierski Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości - generatory wielkiej częstotliwości - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości - jedno- i wielowrotniki wielkiej częstotliwości Wiesława Prokop-Knap Starszy specjalista b-t Czas i częstotliwość - analizatory i testery transmisji PDH/SDH - analizatory transmisji cyfrowej PCM Michał Gartkiewicz Młodszy specjalista jw. Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 36/38

Imię i nazwisko Stanowisko służbowe Karol Korszeń Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - częstościomierze wielkiej częstotliwości - generatory wielkiej częstotliwości - czujniki i mierniki mocy wielkiej częstotliwości - jedno- i wielowrotniki wielkiej częstotliwości Paweł Kamiński Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - tłumiki pomiarowe - mierniki napięcia - mierniki poziomu napięcia i poziomu mocy - źródła sygnałów sinusoidalnych napięcia, poziomu napięcia i poziomu mocy - oscyloskopy 5 Ernest Mielniczek Młodszy specjalista Wielkości elektryczne, czas i częstotliwość - wzorce i generatory częstotliwości i przedziałów czasu: a) wzorce i generatory częstotliwości działające w trybie swobodnym b) wzorce i generatory częstotliwości kontrolowane sygnałem czasu lub częstotliwości wzorcowej c) generatory powtarzalnych przedziałów czasu d) źródła zawarte w analizatorach i testerach transmisji PDH/SDH - częstościomierze cyfrowe - czasomierze cyfrowe 5 Wzorcowanie w stałej siedzibie i poza stałą siedzibą Laboratorium Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 37/38

Wykaz zmian Zakresu Akredytacji Nr AP 015 Status zmian: wersja pierwotna A Dział Akredytacji Laboratoriów Wzorcujących Wydanie nr 5, 19 grudnia 2006 r. str. 38/38