FORMULARZ OFERTOWY W związku z ogłoszeniem rzetargu nieograniczonego n Zaku, dostawa i instalacja skaningowego mikrosko elektronowego z rzystawką EDS dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli 1 NAZWA I ADRES WYKONAWCY: NIP wykonawcy: Numer telefonu: Numer faksu Adres e-mail: Nazwa banku i numer konta bankowego Wykonawcy wartość oferty wynosi (netto) słownie: odatek VAT % w kwocie: łączna cena (brutto): słownie: 2 Oświadczam/y że: 1 Na urządzenia stanowiące wyosażenie Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli oraz na wszystkie jego odzesoły udzielamy gwarancji na okres 1 miesięcy licząc od daty odbioru końcowego 1 Oferowana owyżej cena brutto zawiera koszty transortu, załadunku i rozładunku oraz instalacji i uruchomienia u Zamawiającego Powyższa cena zawiera koszty związane z dostarczeniem wszystkich elementów wymienionych w Secyfikacji Technicznej 2 Oświadczamy, że oferowane urządzenie oraz wszystkie odzesoły wyosażenia Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli sełnia wszystkie minimalne wymagania zdefiniowane w Secyfikacji Technicznej 3 Oświadczamy, że serwis będzie realizowany rzez roducenta lub autoryzowanego artnera serwisowego roducenta 1 Minimum 12 miesięcy
4 Zaoznaliśmy się ze secyfikacją istotnych warunków zamówienia wraz z jej załącznikami (formularz ofertowy, wzór umowy, secyfikacja techniczna, wzory załączników) i nie wnosimy do niej zastrzeżeń oraz zdobyliśmy konieczne informacje do rzygotowania oferty 5 Uważam/y się za związanego/związanych niniejszą ofertą na okres 60 dni od terminu składania ofert 6 Przedmiot zamówienia zamierzam/y wykonać a) sami, b) rzy omocy odwykonawców* 8 Sełniam/y warunki określone w art 22 ust 1 ustawy z dnia 29012004 Prawo zamówień ublicznych oraz w otrzymanej od zamawiającego secyfikacji istotnych warunków zamówienia 9 Nie odlegam/y wykluczeniu z ubiegania się o udzielenie zamówienia ublicznego na odstawie art 24 ust1 ustawy z dnia 29012004 - Prawo zamówień ublicznych 10 Oświadczam/y że całość zadania zamierzam/y wykonać zgodnie z secyfikacja techniczną, udostęnioną rzez zamawiającego na stronie internetowej, w kwocie zaoferowanej w niniejszym formularzu ofertowy 11 Ofertę składam/y na kolejno onumerowanych stronach (liczba stron) 3 Załącznikami do niniejszego formularza, stanowiącymi integralną część oferty są: a) b) c) d) e) f) g) h) i) j) k) l) (własnoręczny odis osoby uoważnionej do rerezentowania Wykonawcy) należy określić zakres zamówienia lanowany do realizacji rzez odwykonawców
L Mikrosko 1 Rozdzielczość w trybie wysokiej różni (detektor SE) 2 Rozdzielczość w trybie wysokiej różni (detektor wewnątrz soczewki obiektywu) SE 3 Rozdzielczość w trybie PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego nie gorsza niż 12 nm rzy 30 kv 25 nm rzy 3 kv nie gorsza niż 1 nm rzy 30 kv 2nm rzy 3 kv nie gorsza niż 20 nm rzy 30 kv zmiennej różni (BSE) 4 Naięcie rzysieszające 200 V do 30 kv z możliwością łynnej regulacji 5 Prąd róbki nie gorszy niż 1A do 200 na 6 Powiększenia od 2 do 1000000 razy 7 Komora mikroskou min 12 wolnych ortów do zainstalowania detektorów i urządzeń Stolik mikroskoowy 8 Zautomatyzowany we wszystkich osiach X: minimum 130 mm Y: minimum 130 mm Z: minimum 100 mm Pochylanie: minimum od -30 o do +90 o Rotacja: 360 0 Detektory 9 Detektor SE z kryształem YAG 10 BSE z kryształem YAG Detektor na ruchomym ramieniu ozwalającym na wysunięcie detektora z komory Detektor wyosażony w odwójny scyntylator 11 Detektor SE do racy w trybie zmiennej różni 12 Detektor wewnątrz soczewki obiektywu rzeznaczony do obrazowania SE 13 Detektor wewnątrz soczewki obiektywu rzeznaczony do obrazowania BSE
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 14 Detektor EDS, tyu SDD (silicon drift detector), bez chłodzenia ciekłym azotem 15 Minimalna owierzchnia 70 mm 2, aktywna okienka detektora 16 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii Mn K-alfa 17 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii F K-alfa 18 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii C K-alfa: 19 Gwarantowana stabilność detektora: zmiana rozdzielczości i ozycji iku mniejsza niż 1 ev rzez mianie zliczeń od 1000 do 100 000 zliczeń na sekundę 20 Detektor EDS, tyu SDD (silicon drift detector), bez chłodzenia ciekłym azotem, minimalna owierzchnia aktywna okienka detektora 10 mm 2 Otyka mikroskou 21 Soczewki elektronowe ozwalające na łynne rzełączanie się między trybami racy umożliwiającymi: - obserwacje ze zwiększoną głębią ostrości - obserwacje z owiększonym olem widzenia - ochylanie wiązki elektronowej (osi skanowania) o zadany (regulowany) kąt w celu uzyskiwania obrazów stereoskoowych wykorzystywanych do rekonstrukcji 3D obserwowanych owierzchni 127 ev (zgodnie z ISO 15632 2012) 64 ev (zgodnie z ISO 15632 2012) 56 ev (zgodnie z ISO 15632 2012)
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 22 Kolumna mikroskou nie zawiera żadnych mechanicz- nych elementów wymagających centrowania Efektywna średnica wiązki elektronowej jest regulowana elektromagnetycznie w sosób ciągły rzy omocy dedykowanej soczewki elektronowej 23 Automatyczne centrowanie wszystkich elementów otyki elektronowej Dodatkowe wyosażenie mikroskou 24 Kamera odglądu komory 25 Układ omiaru rądu róbki 26 Układ wykrywania kontaktu róbki z elementami komory, który ostrzega sygnałem dźwiękowym oraz blokuje dalszy ruch stolika mikroskou 27 Układ wyhamowywania wiązki elektronowej (Beam Deceleration), który umożliwia uzyskiwanie wysokorozdzielczych obrazów rzy niskich energiach wiązki adającej na róbki 28 Urządzenie tyu Plasma Cleaner zintegrowane z mikroskoem skaningowym rzeznaczone do czyszczenia komory i owierzchni róbek 29 Pneumatyczny układ zawieszenia kolumny System różniowy 30 Próżnia robocza oniżej 9 10-3 Pa 31 Tryb zmiennej różni w zakresie co najmniej od 7 do 500 Pa 32 Brak chłodzenia cieczowego w układzie różniowym i elektronootycznym 33 Poma turbomolekularną, oma wstęną bezolejową tyu scroll, dwie omy jonowe Obsługa mikroskou
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 34 Zais obrazów: 8192 8192 ikseli w ostaci lików bm, tiff, JPG, jeg2000, GIF, PNG Możliwość zaisu z rozdzielczością 16384 16384 ikseli, 16 bit 35 Komuter PC w konfiguracji ZALECANEJ rzez roducenta z dwoma monitorami LCD o rzekątnej minimum 24 cale, anel sterujący Orogramowanie 36 Orogramowanie mikroskou umożliwiające omiary i rzetwarzanie obrazów 37 Podstawowe orogramowanie biurowe: arkusz kalkulacyjny i edytor tekstu, z możliwością ełnej edycji dokumentów w formatach xlsx i docx, z możliwością bezośredniego zaisu do formatu df 38 Możliwość nakładania na siebie sygnałów z dwóch detektorów z możliwością określenia udziału sygnału z oszczególnych detektorów w obrazie składanym 39 Orogramowanie detektora EDS owinno umożliwić: jakościową i ilościową analizę w unkcie oraz dowolmnym obszarze nieregularnym zdefiniowanym rzez oeratora, możliwość stosowania własnych standardów do analizy ilościowej, tworzenia własnych bibliotek wzorców rzez oeratora w języku olskim
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 40 Orogramowanie detektora EDS owinno umożliwić: zbieranie ma rozkładu ierwiastków z rozwiązaniami zaewniającymi rozróżnienie nakładających się ików na etaie zbierania sektrum oraz o jego zebraniu, maowanie ilościowe, zbieranie rofilii rozkładu ierwiastków wzdłuż zadanej linii z rozwiiązaniami zaewniajacymi możliwość rozróżniania nakładających się ików na etaie zbierania sektrum oraz o jego zebraniu, rekonstrukcję sektrum z zebranych wcześniej ma i rofili liniowych 41 Orogramowanie detektora EDS owinno umożliwić: analizę tyu PhaseMa możliwość rozróżniania faz w róbce na odstawie zebranych ma Ilościowa charakteryzacja rozoznanych faz rezentowana w ostaci wykresu trójkątnego, automatyczną analiza cząstek z możliwością definiowana własnych klas w zależności od wielkości i składu chemicznego obiektów Analizę automatyczna zaewniająca analizę dużych obszarów (ograniczonych zakresem ruchu stolika mikroskou) według zadanych kryteriów, automatyzację wszystkich rocedur analitycznych, kontrola stolika mikroskou SEM, kontrola ozycji wiązki z oziomu orogramowania systemu EDS
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 42 Orogramowanie detektora EDS owinno umożliwić: rekonstrukcję sektrum EDS oartego o listę ierwiastków i ich zawartość rocentową zdefiniowanych rzez oeratora, narzędzia do omiaru składu chemicznego oraz grubości cienkich warstw o grubości od 2 nm do 2000 nm, orogramowanie musi być integralną częścią głównej alikacji analitycznej systemu EDS i w ełni z nią zintegrowaną, analizę ilościowa z linii i zdefiniowanych siatek składających się z unktów, których ilość definiuje oerator reakcyjny i redykcyjny mechanizm kontroli dryftu zawarty w głównej alikacji (orogramowaniu) systemu EDS 43 Orogramowanie detektora EDS owinno umożliwić eksort wszystkich danych do oularnych formatów takich jak MS Word, Excel it Akcesoria 44 Naylarka różniowa do okrywania róbek metalami i węglem w wysokiej różni z możliwością omiaru grubości warstwy naylonej 45 Zasilacz awaryjny UPS o odowiedniej mocy w celu za- ewnienia beziecznego wyłączenia mikroskou w rzyadku braku zasilania elektrycznego 46 Automatyczny aarat sorcyjny do omiaru owierzchni właściwej i dystrybucji wielkości orów w zakresie mezoorów
L Nazwa arametru Wielkość arametru Wielkość arametru oferowanego 47 Ultraiknometr gazowy, rzdzielczość omiaru objętości: 0,0001 cm 3, zakres objętości róbek: 0,1-135 cm 3, zakres ciśnień roboczych: 1-20 sig (0,07-1,4 atm) 48 Mineralizator mikrofalowy z układem dwóch magnetronów o łącznej mocy 1800 W, segmentowym rotorem wysokociśnieniowy 10-ozycyjnym, systemem beziecznego uwalniania nadmiaru ciśnienia; maksymalne ciśnienie racy: 100 bar (1500 si); maksymalna temeratura racy: 300 C, czujnikami temeratury i ciśnienia Komletem naczyń kwarcowych 122 WYMAGANIA DODATKOWE L Nazwa Ois Potwierdzenie wykonawcy (Tak/Nie) 1 Szkolenie (min 3 dni) w zakresie obsługi rzyrządu, urządzeń dodatkowych i akietów orogramowania w miejscu użytkowania aaratury w terminie uzgodnionym rzez obie strony (dla min 2 osób) 2 Szkolenie (min 5 dni) alikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi mikroskou i użytkowania orogramowania w miejscu użytkowania aaratury w terminie uzgodnionym rzez obie strony (dla min 2 osób) 3 Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku olskim 4 Zestaw części zużywających się i akcesoriów do racy rzez co najmniej 24 miesiące w tym zaasowy emiter działa elektronowego, który zostanie dostarczony o zużyciu ierwotnie zainstalowanego 5 Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin 2 2 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki uływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu rzyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych
L Nazwa Ois Potwierdzenie wykonawcy (Tak/Nie) 6 Okres ełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie minimum 24 miesiące 2 PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transortu, instalacji i uruchomienia urządzenia onosi dostawca Odbiór urządzenia nastąi w oarciu o rzerowadzone badanie detalu dostarczonego rzez Dostawcę Zamawiający zastrzega sobie rawo do dostarczenia innego detalu i rzerowadzenia na nim rób 3 TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: 6 miesięcy od dnia odisania umowy