Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI



Podobne dokumenty
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

IM-26: Laser Nd:YAG i jego podstawowe elementy

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

Badanie wzmacniacza niskiej częstotliwości

Zworka amp. C 1 470uF. C2 100pF. Masa. R pom Rysunek 1. Schemat połączenia diod LED. Rysunek 2. Widok płytki drukowanej z diodami LED.

Laser z podwojeniem częstotliwości

Instrukcja obsługi spektrometru EPR

BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Ćwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Stanowisko do pomiaru fotoprzewodnictwa

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b

Źródła i 1detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Ćwiczenie Nr 455. Temat: Efekt Faradaya. I. Literatura. Problemy teoretyczne

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Ćwiczenie nr 28. Badanie oscyloskopu analogowego

UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja

Bierne układy różniczkujące i całkujące typu RC

Układ stabilizacji laserów diodowych

PRZENOŚNY MIERNIK MOCY RF-1000

POMIARY OSCYLOSKOPOWE 51

Ćwiczenie 9. Mostki prądu stałego. Program ćwiczenia:

SYLABUS DOTYCZY CYKLU KSZTAŁCENIA / /20 (skrajne daty)

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

Ćwiczenie 9. Mostki prądu stałego. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

ĆWICZENIE Nr 4 LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. Badanie krawędzi absorpcji podstawowej w kryształach półprzewodników POLITECHNIKA ŁÓDZKA

LABORATORIUM Pomiar charakterystyki kątowej

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Akademia Górniczo Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie Wydział IEiT. Ćwiczenie laboratoryjne Badanie modułu fotowoltaicznego

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

LABORATORIUM TERMODYNAMIKI ĆWICZENIE NR 3 L3-1

Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)

VI. Elementy techniki, lasery

Układy i Systemy Elektromedyczne

Ćwiczenie nr 82: Efekt fotoelektryczny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Badanie diody półprzewodnikowej

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

LABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY

Przyrządy i Układy Półprzewodnikowe

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego

LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI

Zapoznanie z przyrządami stanowiska laboratoryjnego. 1. Zapoznanie się z oscyloskopem HAMEG-303.

PODSTAWY FIZYKI LASERÓW Wstęp

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

Pomiar parametrów tranzystorów

Źródła i detektory IV. ZJAWISKO FOTOELEKTRYCZNE WEWNĘTRZNE W PÓŁPRZEWODNIKACH.

Badanie tranzystorów MOSFET

E 6.1. Wyznaczanie elementów LC obwodu metodą rezonansu

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

LABORATORIUM Miernictwa elementów optoelektronicznych

1 Badanie aplikacji timera 555

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Efekt fotoelektryczny

Dioda półprzewodnikowa

Ćwiczenie 5. Pomiary parametrów sygnałów napięciowych. Program ćwiczenia:

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 1 Badanie efektu Faraday a w monokryształach o strukturze granatu

spis urządzeń użytych dnia moduł O-01

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie

LABORATORIUM OBWODÓW I SYGNAŁÓW

Schemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę.

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1

Dyfrakcja na Spiralnej Strukturze (Całkowita liczba pkt.: 10)

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza

Zakład Zastosowań Elektroniki i Elektrotechniki

MOMENT MAGNETYCZNY W POLU MAGNETYCZNYM

Instrukcja do ćwiczenia Optyczny żyroskop światłowodowy (Indywidualna pracownia wstępna)

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

Transkrypt:

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

I. Zagadnienia do opracowania. 1. Czasowa i przestrzenna spójność światła. 2. Oddziaływanie fali elektromagnetycznej z ośrodkiem materialnym: a) absorpcja promieniowania; b) emisja spontaniczna ; c) emisja wymuszona; d) promieniowanie dipolowe i prawdopodobieństwa absorpcji oraz emisji spontanicznej i wymuszonej; e) współczynniki Einsteina; f) czasy życia w stanach wzbudzonych; g) profil linii widmowej; profile Lorentza i Gaussa. 3. Inwersja obsadzeń stanów atomowych. 4. Powstawanie pasm energetycznych w kryształach. 5. Domieszkowane jony jako centra luminescencyjne w kryształach. 6. Rodzaje laserów na ciele stałym. 7. Budowa i zasada działania lasera na trójwartościowych jonach ziem rzadkich Nd:YAG. 8. Pompowanie laserów na ciele stałym. 9. Lasery półprzewodnikowe: a) przejścia promieniste w półprzewodnikach; b) przewodnictwo półprzewodników; c) złącza p n w laserach półprzewodnikowych (homo - i heterozłącza); d) wzmocnienie promieniowania w laserach półprzewodniku. 10. Absorpcja promieniowania w kryształach Nd:YAG. 11. Podstawowe własności laserów i akcji laserowej: a) próg akcji laserowej; b) rodzaje wnęk rezonansowych i ich wpływ na warunki rezonansu; c) struktura modowa promieniowania lasera; d) krzywa wydajności lasera; e) moc wyjściowa lasera. II. Zadania doświadczalne. 1. Zapoznać się z elementami stanowiska pomiarowego przedstawionymi na Zdjęciach 1 4. 2. Dokonać pomiarów mocy wyjściowej lasera półprzewodnikowego w funkcji natężenia prądu na złączu wykonując kolejno polecenia II.3. II.12. Założyć okulary ochronne w trakcie pracy z laserem. Ciągła moc wyjściowa lasera Nd:YAG przekracza 1mW a więc światło lasera jest niebezpieczne dla oczu!!! Instytut Fizyki Doświadczalnej 1.

Ćwiczenie 23 : Badanie własności laserów na ciele stałym 3. Korzystając ze schematu 1 na Rysunku 2 zmontować na ławie optycznej układ składający się z następujących elementów: lasera półprzewodnikowego (z lewej strony ławy optycznej), kolimatora (f = 6 mm) oraz fotodiody przesłoniętej ekranem wizualizacyjnym (na prawym końcu ławy). Zdjęcie 1 Stanowisko pomiarowe do badania własności lasera Nd:YAG: 1 zasilacz diody laserowej; 2 półprzewodnikowa dioda laserowa (λ = 808,4 nm); 3 kolimator (ƒ = 6 mm); 4 soczewka (ƒ = 50 mm); 5 kryształ Nd: YAG; 6 kryształ KTP; 7 lustro; 8 uchwyt do filtrów; 9 ława optyczna; 10 fotodioda Si; 11 miernik uniwersalny; 12 oscyloskop; 13 zestaw akcesoriów (karta wizualizacyjna IR; filtry: BG39, RG1000, filtr szary o gęstości optycznej 1,1; zatyczka do fotodiody). 4. Włączyć kolejno zasilanie tak zestawionego układu. Sprawdzić czy głowica lasera półprzewodnikowego 2, Zdjęcie 1 jest podłączona do zasilacza (złącze 1 na Zdjęciu 4).Pokrętła kontroli prądu i temperatury (5 i 6 na Zdjęciu 3) skręcić maksymalnie w lewo. Włączyć zasilacz włącznikiem głównym 6, Zdjęcie 4 (na tylnej płycie zasilacza). Przekręcić kluczyk 1, Zdjęcie 3 w pozycję ON. Zapalenie się czerwonej diody na głowicy lasera oznacza, że można dokonać ustawień wartości temperatury i prądu na złączu lasera półprzewodnikowego. Rysunek 2. Widok poszczególnych etapów budowy układu lasera Nd:YAG: 1 układ do pomiaru mocy półprzewodnikowego lasera pompującego; 2 ustawienie soczewki skupiającej; 3 ustawienie kryształu Nd:YAG; 4 układ do pomiaru absorpcji kryształu Nd:YAG; 5 układ optyczny lasera Nd:YAG; 6 układ optyczny lasera Nd:YAG z podwajaczem częstości. Instytut Fizyki Doświadczalnej 2.

Ćwiczenie 23 : Badanie własności laserów na ciele stałym 5. Przełączniki 2 i 3, Zdjęcie 3 ustawić odpowiednio w pozycję trybu pracy stabilizowanej (Stab.) i w pozycję OFF trybu pracy ciągłej. Zdjęcie 3. Widok płyt czołowych zasilacza lasera półprzewodnikowego LDC 01 oraz oscyloskopu DSO1002A: 1 włącznik zasilania lasera; 2 przełącznik stabilizacji prądowej; 3 przełącznik pracy ciągłej/impulsowej lasera; 4 pokrętło częstotliwości w trybie pracy impulsowej lasera; 5, 6 moduły kontroli prądu oraz temperatury na złączu p n lasera. 6. Ustawić maksymalną wartość natężenia prądu 560 ma kręcąc pokrętłem 5, Zdjęcie 3 w prawo. Zdjęcie 4. Widok tylnego panela zasilacza lasera półprzewodnikowego: 1 złącze zasilające głowicę laser; 2 wejście BNC do podłączenia sygnału wejściowego z fotodiod; 3 pokrętło wzmocnienia sygnału wejściowego z fotodiody; 4 wyjście BNC sygnału z fotodiody; 5 wyjście BNC synchronizujące; 6 wyłącznik główny. Instytut Fizyki Doświadczalnej 3.

7. Ustawić kolimator tak ( 1 2 mm od lasera), aby otrzymać równoległą wiązkę światła. 8. Regulując położenie głowicy lasera naprowadzić wiązkę na środek ekranu wizualizującego. 9. Podłączyć fotodiodę do wejścia przedwzmacniacza 2, Zdjęcie 4. Przełącznik wzmocnienia 3, Zdjęcie 4 ustawić w pozycji x1. 10. Usunąć sprzed fotodiody ekran a włożyć filtr szary o gęstości optycznej 1 D lub większej. 11. Wyjście wzmacniacza 4, Zdjęcie 4 połączyć z miernikiem uniwersalnym 11, Zdjęcie 1 ustawionym na pomiar napięcia stałego, DC. 12. Zmierzyć moc wyjściową P lasera dla dwóch temperatur 5 ⁰C i 45 ⁰C w funkcji natężenia prądu I płynącego przez złącze lasera półprzewodnikowego w zakresie od 0 ma do 560 ma co 25 ma. 13. Sporządzić wykres P = ƒ(i) dla obu temperatur T = 5 ⁰C i T = 45 ⁰C. Określić próg generacji emisji wymuszonej lasera półprzewodnikowego. 14. Zmierzyć moc wyjściową lasera półprzewodnikowego w zależności od temperatury wykonując polecenia z punktów II.15. II.18. 15. Pokrętłem 5, Zdjęcie 3 ustawić maksymalną wartość natężenia prądu 560 ma. 16. Przełącznik wzmocnienia 3, Zdjęcie 4 ustawić w pozycji x1. 17. Pokrętłem 6, Zdjęcie 3 zmieniać temperaturę od 5 ⁰C do 45 ⁰C co 2 ⁰C notując każdorazowo wskazania miernika uniwersalnego 11, Zdjęcie 1. 18. Przekręcić kluczyk 1, Zdjęcie 3 w pozycję OFF. 19. Korzystając z wykresu na Rysunku 5 w Dodatku A przeliczyć wartości napięć na wartości mocy (uwzględnić ustawioną wartość wzmocnienia i tłumienie filtru). 20. Sporządzić wykres P = ƒ(t), I = const. 21. Wykonać pomiary absorpcji kryształu YAG domieszkowanego neodymem Nd od II.21. do II.28. 22. Umieścić ekran wizualizujący przed fotodiodą. 23. Umieścić na ławie optycznej, za kolimatorem soczewkę skupiającą 4, Zdjęcie 1. Przesuwając ją w stronę kolimatora dobrać takie jej położenie, aby ekran wizualizacyjny był oświetlony jak na schemacie 2 na Rysunku 2. 24. Wstawić kryształ Nd:YAG 5, Zdjęcie 1 w tor optyczny, usunąć ekran wizualizacyjny układ ma wyglądać jak na schemacie 3, Rysunek 2. 25. Przekręcić kluczyk 1, Zdjęcie 3 w pozycję ON, ustawić maksymalną wartość prądu 560 ma. 26. Przemieszczając delikatnie kryształ dobrać takie jego położenie, przy którym wskazania miernika uniwersalnego będą maksymalne. 27. Przełącznik wzmocnienia 3, Zdjęcie 4 ustawić w pozycji x10. 28. Zmieniając temperaturę od 5 ⁰C do 45 ⁰C co 2 ⁰C notować wartości napięć na mierniku. 29. Sporządzić wykres A = ƒ(t), I = const. Określić obszar największej absorpcji jonu Nd 3+. 30. Wyznaczyć profil zaniku luminescencji kryształu Nd:YAG według punktów II.31 II.36. 31. Ustawić natężenie prądu na wartość 560 ma kręcąc pokrętłem 5, Zdjęcie 3 w prawo. 32. Pokrętłem 6, Zdjęcie 3 dobrać taką wartość temperatury, dla której absorpcja kryształu Nd:YAG jest największa. 33. Przełącznik 3, Zdjęcie 3 ustawić w pozycji INT. 34. Zmontować układ jak na schemacie 4, Rysunek 2 wstawiając uchwyt na filtr ( 8, Zdjęcie1) z filtrem FG 1000 i dosunąć fotodiodę blisko do filtru. Instytut Fizyki Doświadczalnej 4.

35. Na kanał 1 oscyloskopu podłączyć sygnał z fotodiody; na kanał 2 z wyjścia synchronizującego 5, Zdjęcie 4. 36. Obserwowane przebiegi zapisać w zewnętrznej pamięci USB według opisu w Dodatku B. 37. Wykonać pomiary mocy wyjściowej lasera Nd:YAG w funkcji mocy lasera półprzewodnikowego według punktów II.38. II.43. 38. Ustawić natężenie prądu na wartość 560 ma kręcąc pokrętłem 5, Zdjęcie 3 w prawo. 39. Przełącznik 3, Zdjęcie 3 ustawić w pozycji OFF. 40. Zmontować układ jak na schemacie 5 na Rysunku 2 mocując tuż przed fotodiodą filtr o gęstości optycznej 1 D lub większej a za nim filtr RG 1000 (w uchwycie 8, Zdjęcie 1) oraz zwierciadło (7, Zdjęcie 1) w odległości około 100 mm od kryształu Nd:YAG. 41. Podłączyć fotodiodę do wejście przedwzmacniacza 2, Zdjęcie 4 a przełącznik wzmocnienia 3 ustawić w pozycji x10. 42. Zmieniając położenie oraz równoległość luster 5 i 7 Zdjęcie 1 dobrać ich położenie tak, aby sygnał obserwowany na mierniku był maksymalny. 43. Korzystając z wykresu na Rysunku 6 sporządzić wykres mocy wyjściowej P YAG lasera Nd:YAG w funkcji mocy P lasera półprzewodnikowego P YAG = ƒ( P), T const. 44. Wykonać pomiary mocy wyjściowej P SHG lasera SHG (z podwajaczem częstotliwości) wstawiając pomiędzy lustra rezonatora kryształ KTP (6, Zdjęcie 1) podwajający częstotliwość tak jak na schemacie 6 na Rysunku 2. 45. Zmieniając położenie kryształu KTP we wnęce jak i jego prostopadłość względem osi optycznej ustalić takie jego położenie, przy którym sygnał na mierniku będzie maksymalny. 46. Posługując się wykresem na Rysunku 7 sporządzić wykres P SHG = ƒ(p), T const. 47. Zinterpretować wyniki uzyskane w punktach 13, 29, 30, 43, 46. III. Zestaw przyrządów. 1. Zasilacz LDC-01 głowicy lasera półprzewodnikowego. 2. Głowica lasera półprzewodnikowego model LDS 1200. 3. Kolimator wiązki o ogniskowej 6 mm. 4. Soczewka o ogniskowej 50 mm. 5. Kryształ Nd:YAG z napylonym lustrem zamocowany w uchwycie XY. 6. Kryształ KTP generujący drugą harmoniczną zamontowany w uchwycie XY. 7. Lustro zamontowane w uchwycie XY. 8. Uchwyt do filtrów. 9. Ława optyczna. 10. Detektor - dioda półprzewodnikowa z ekranem wizualizacyjnym. 11. Miernik uniwersalny. 12. Oscyloskop dwukanałowy model DSO 1002 A ( Agilent Technology) 13. Zestaw akcesoriów: ekran wizualizacyjny IR, filtr pasmowy 532 nm (BG39) oraz 1064 nm (RG 1000), filtr absorpcyjny o gęstości optycznej 1,1D, ekran wizualizacyjny zakładany na fotodiodę. Instytut Fizyki Doświadczalnej 5.

IV. Literatura. 1. H. Klejman Lasery, PWN, Warszawa 1974. 2. W. Brunner Elektronika kwantowa, wprowadzenie do fizyki laserów, WNT, Warszawa 1980. 3. N.V. Karłov Wykłady z fizyki laserów, WNT, Warszawa 1989. 4. W. Demtröder Spektroskopia laserowa, PWN, Warszawa 1993. 5. Z. Bielecki Detekcja sygnałów optycznych, WNT, Warszawa, 2001. 6. B. Ziętek Optoelektronika, Wydawnictwo Naukowe UMK, Toruń 2005. 7. B. Ziętek Lasery, Wydawnictwo Naukowe UMK, Toruń 2008. 8. K. Shimoda Wstęp do fizyki laserów, PWN, Warszawa 1993. 9. A. Kujawski, P. Szczepański Lasery. Podstawy fizyczne, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1999. 10. N.W. Ashcroft, N.D. Mermin Solid State Physics, Saunders College, Philadelphia 1976. 11. K. Shimoda Introduction to Laser Physics, Springer, 1986. 12. W.W. Chow, S.W. Koch, M. Sargent Semiconductor Laser Physics, Springer, Berlin 1997. 13. W. Demtröder Laser Spectroscopy. Basic Concepts and Instrumentation, Springer, 1988. 14. H. Abramczyk Introduction to Laser Spectroscopy, Elsevier Science, Amsterdam 2005. 15. W. Demtröder Atoms, Molecules and Photons: an Introduction to Atomic-, Molecular- and Quantum-Physics, Springer, Berlin 2006. Instytut Fizyki Doświadczalnej 6.

Dodatek A Zależność mocy laserów od sygnału fotodiody. Laser power as a function of voltage at the Si photodiode 300 λ=808,4 nm Y = -3,78 + 83,56*X P (mw) 200 100 1 2 3 4 U (V) Rysunek 5. Wykres skalujący moc wyjściową lasera półprzewodnikowego o długości fali λ=808,4 nm w zależności od napięcia fotodiody. Laser power as a function of voltage at the Si photodiode 100 λ=1064 nm Y = -1,39 + 27,73*X 80 P (mw) 60 40 20 1 2 3 4 U (V) Rysunek 6. Wykres skalujący moc wyjściową lasera Nd:YAG o długości fali λ=1064 nm w zależności od napięcia fotodiody. Instytut Fizyki Doświadczalnej 7.

Laser power as a function of voltage at the Si photodiode 0,4 λ=535 nm Y = -0,174 + 28,68*X 0,3 P (mw) 0,2 0,1 0,010 0,015 0,020 U (V) Rysunek 7. Wykres skalujący moc wyjściową lasera SHG o długości fali λ=535 nm w zależności od napięcia fotodiody. Instytut Fizyki Doświadczalnej 8.

Ćwiczenie 23 : Badanie własności laserów na ciele stałym Dodatek B Zapis i odczyt danych w oscyloskopie DSO 1002 A (Agilent Technology) Oscyloskop posiada nieulotną pamięć wewnętrzną oraz wejście USB (1 na Zdjęciu 8) pozwalające na podłączenie pamięci zewnętrznej lub drukarki. Zapisu/wczytania danych można dokonać do/z jednej z dziesięciu pamięci wewnętrznych lub do pamięci zewnętrznej poprzez wykonanie następujących czynności: 1. Zapisanie na nośniku zewnętrznym co wymaga włożenia zewnętrznej pamięci do gniazda USB (1 na Zdjęciu 8). Zdjęcie 8. Widok płyty czołowej oscyloskopu: 1 - miejsce na zewnętrzną pamięć USB; 2 przycisk zapisz/odczytaj dane. 2. Wciśnięcie Save/Recall (2 na Zdjęciu 8) na panelu frontowym oscyloskopu. 3. Wybranie wewnętrznego formatu danych Waveform lub ASCII (CSV) (1 na Zdjęciu 9) poprzez wciśnięcie klawisza Storage lub obrót pokrętła. Zdjęcie 9. Widok panelu frontowego oscyloskopu z włączonym menu zapisz/odczytaj: 1 przycisk wyboru typu danych; 2 przycisk menadżera pamięci. Instytut Fizyki Doświadczalnej 9.

Aby zapisać lub odczytać dane z pamięci wewnętrznej należy: a) Wybrać Internal. b) Nacisnąć Location w menu Internal. c) Nacisnąć przycisk Location lub obrócić pokrętło, aby wybrać miejsce zapisu w pamięci wewnętrznej. Przyrostek N oznacza, że pamięć jest pusta, natomiast przyrostek S oznacza, że w danej pamięci zapisany jest przebieg. Nacisnąć Save lub Load. Aby zapisać lub odczytać dane z pamięci zewnętrznej należy: a. Wybrać External. b. Za pomocą przycisku Disk Menager wybrać folder, w którym plik ma być zapisany bądź odczytany - 2, Zdjęcie 9. c. W menu External nacisnąć New File, wprowadzić nazwę pliku i nacisnąć Save. W celu odczytu danych nacisnąć Load (wczytywane są pliki z rozszerzeniem wfm). d. Nacisnąć przycisk Location lub obrócić pokrętło, aby wybrać miejsce zapisu w pamięci wewnętrznej. Przyrostek N oznacza, że pamięć jest pusta, natomiast przyrostek S oznacza, że w danej pamięci zapisany jest przebieg. e. Nacisnąć Save lub Load. Instytut Fizyki Doświadczalnej 10.