SPECYFIKACJA TECHNICZNA

Transkrypt

1 Załącznik nr 8 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup i dostawa i instalacja spektrometru emisyjnego typu ICP OES oraz zestawu spektrometru ICP- MS z laserową ablacją. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu oraz dostawy jest spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem plazmowym typu ICP OES - równoczesny spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie sprzężoną ICP z podwójnym systemem obserwacji plazmy poziomej oraz zestawu spektrometru ICP-MS z laserową ablacją wraz z wyposażeniem oraz instalacją i instruktażem stanowiskowym pracowników w miejscu użytkowania dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy wpisać do tabeli opis parametrów oferowanych oraz dołączyć do oferty broszury producenta, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych Parametry techniczne urządzenia CZĘŚĆ I - PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem plazmowym typu ICP OES. Fabrycznie nowy spektrometr ICP-Dual (równoczesny spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie sprzężoną ICP z podwójnym systemem obserwacji plazmy poziomej) wraz z wyposażeniem oraz instalacją i instruktażem stanowiskowym pracowników w miejscu użytkowania PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SPEKTROMETRU EMISYJNEGO TYPU ICP OES Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru Spektrometr emisyjny ICP musi być równoczesny, czyli powinien zapewniać jednoczesny dostęp do linii emisyjnych: a. analizowanych pierwiastków, b. pierwiastków stosowanych jako wzorce wewnętrzne, c. pierwiastków stosowanych do międzypierwiastkowej korekcji interferencji oraz umożliwiać jednoczesny pomiar tła występującego po obydwu stronach rejestrowanych linii emisyjnych. Jednoczesny dostęp do wyżej wymienionych linii emisyjnych musi zapewniać system optyki typu Echelle z detektorem lub detektorami półprzewodnikowymi.

2 3. Zakres spektralny. co najmniej od 166 nm do 800nm Wymagany dostęp do co najmniej 90% widma 4. w oferowanym zakresie. System plazmy o geometrii poziomej z podwójnym systemem obserwacji: osiowym, zapewniającym niskie granice wykrywalności oraz radialnym, korzystnym przy oznaczaniu 5. pierwiastków o niskich potencjałach wzbudzenia w szerokim zakresie stężeń gwarantującym liniowość kalibracji przy pracy z dużymi stężeniami tych pierwiastków w analizowanych próbkach. Półprzewodnikowy generator wysokiej 6. częstotliwości RF. 27 MHz Cewka indukcyjna i półprzewodnikowy generator wysokiej częstotliwości RF 27 MHz chłodzone 7. wodą za pomocą jednego zamkniętego układu chłodzenia. Palnik Poziomy, rozbieralny lub semi-rozbieralny palnik kwarcowy duo, z kwarcową centralną rurką wtryskiwacza, cyklonową komorę mgielną do pracy 8. z roztworami wodno-kwaśnymi, szklany ncbulizcr koncentryczny oraz przynajmniej 3-kanałowa pompa perystaltyczna. Oprogramowanie 9. Oprogramowanie spektrometru powinno umożliwiać: a. rejestrację sygnałów zmiennych w czasie np. chromatograficznych lub uzyskiwanych przy stosowania analizy przepływowo-wstrzykowej, b. wbudowane funkcje kontroli jakości pomiarów, c. powiązanie dostępnych danych z niezbędnymi elementami kontroli jakości badań gwarantujących zachowanie właściwych parametrów metod pomiarowych, d. dostęp do rezultatów przez połączenie sieciowe. Wyposażenie dodatkowe 10. Elementy eksploatacyjne: a. części zużywalne ukł. podaw. prób min.1 szt. b. zestaw do standardu wewnętrznego min. 10 szt. c. palnik do ICP min. 5 szt. d. nebulizer min. 2 szt. e. komora mgielna min. 3 szt. f. rurki na pompę do próbki min. 6 kompletów, g. rurki na pompę do ścieków min. 6 kompletów, h. rurka wtryskiwacza 2 mm min. 2 szt. 11. Recyrkulator wody chłodzącej. 12. Automatyczny podajnik próbek. min. 240 pozycji 13. Zestaw do generacji wodorków do ICP. co najmniej 2 szt. Zestaw komputerowy umożliwiający sterowanie 14. systemem z drukarką.

3 WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Szkolenie (min. 2 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi aparatu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury lub zewnętrznym ośrodku w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) 3. Instrukcja obsługi w języku polskim. 4. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny 1 5. Gwarancja: minimum 24 miesiące CZĘŚĆ II - PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE Fabrycznie nowy zestaw spektrometru ICP-MS z przystawką do odparowania laserowego i specjacji, wraz z wyposażeniem oraz instalacją i instruktażem stanowiskowym pracowników w miejscu użytkowania PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE ZESTAWU SPEKTROMETRU ICP-MS Z PRZYSTAWKĄ DO ODPAROWANIA LASEROWEGO I SPECJACJI. Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru I. Spektrometr mas z jonizacją w plazmie indukcyjnie sprzężonej (ICP-MS) 1. Układ wprowadzania próbki a) rozpylacz koncentryczny, b) komora mgielna stabilizowana temperaturowo, chłodzona, termoelektrycznie za pomocą efektu Peltiera w zakresie temperatur co najmniej od -5 C do +20 C; c) opcja drenażu komory mgielnej, d) zintegrowany system rozcieńczania gazem obojętnym, e) system mocujący elementy układu wprowadzania próbki i palnika plazmowego umożliwiający łatwy i szybki demontaż, jak również odtwarzalny montaż systemu, f) automatyczny podajnik próbek ciekłych do ICP-MS o pojemności powyżej 100 prób, 1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych.

4 2. Plazma a) palnik - kwarcowy, łatwy do zdemontowania, wymiany i czyszczenia, b) 3 - kierunkowa regulacja palnika ICP (X,Y,Z) włączając głębokość próbkowania musi być kontrolowana automatycznie komputerowo z poziomu oprogramowania ICP-MS, c) generator prądu wysokiej częstotliwości 27 MHz w pełni kontrolowany przez oprogramowanie spektrometru o mocach w zakresie co najmniej od 500 do 1600W, w odstępach 10 W, d) dodatkowa linia gazu nośnego (O2/Ar) do roztworów organicznych lub He do systemu ablacji laserowej. 3. Obszar separacji jonów 4. Komora kolizyjno-reakcyjna 5. Analizator mas 6. Detektor 7. System próżni a) stożki - układ dwóch stożków niklowych, łatwych do wymiany i czyszczenia bez konieczności likwidacji próżni. Stożek próbkujący o średnicy nie większej niż 1mm, zbierający o średnicy nie większej niż 0,4mm, b) soczewki jonowe ułożone niewspółosiowo, łatwe do wymiany i nie wymagające rutynowego czyszczenia, oddzielające fotony i cząstki neutralne od wiązki jonów. a) komora o budowie oktupola, usuwająca efektywnie interferencje spektralne z użyciem czystego helu, b) komora powinna również posiadać dodatkową linię dla gazów reakcyjnych. a) tandemowy spektrometr mas, o następującej budowie: dwa kwadrupolowe analizatory mas z prętami o przekroju hiperbolicznym, pomiędzy którymi znajduje się komora kolizyjnoreakcyjna. b) umożliwiający pracę w trybie MS/MS. Pierwszy kwadrupol umożliwia pełną kontrolę jonów (odpowiednich stosunków m/z) docierających do komory, drugi wybiera jony docierające do detektora. a) detektor w postaci powielacza elektronów, pracujący w trybie pulsowym i analogowym, b) pozwala na jednoczesne oznaczanie pierwiastków na poziomie śladowym (ppt) i wysokich stężeń (kilkaset ppm). Minimum 9 rzędów zakresu dynamicznego. System próżniowy oparty na zastosowaniu pompy wstępnej i turbomolekularnej. Kontrola próżni musi zabezpieczać system próżni przed nagłym brakiem dopływu zasilania.

5 8. Układ chłodzenia 9. Specyfikacja minimalnych wymogów analitycznych 10. Budowa (typ) instrumentu System komputerowy i oprogramowanie Zestaw materiałów dodatkowych i zapasowych Chiller chłodzący- system zamknięty wraz ze wszystkimi niezbędnymi przyłączeniami. a) granice wykrywalności (3 ) w ng/l (ppt), nie gorsze niż: 9Be 0,1 (bez gazu w komorze) 115In 0,05 (bez gazu w komorze) 78Se 1 (w trybie MS/MS) 238U 0,05 (bez gazu w komorze) 75As 20 (z helem w komorze), b) czułość (Mcps/ppm) minimum: Li (7) : 100 Y (89) : 350 Tl (205) : 200, c) stosunek tlenków nie większy niż CeO+ 1,5%, d) czułość abundancji w trybie MS/MS dla Cs (133) 1x10-10, po niskiej i wysokiej stronie masy; a) system typu benchtop- stojący na stole, b) wymiary: szerokość x wysokość x głębokość w mm nie większe niż 1100 x 600 x 650, c) ciężar nie większy niż 150 kg. a) parametry komputera sterującego muszą umożliwiać prawidłową pracę urządzenia, 2 monitory LCD 22, możliwość rozdzielenia widoku pulpitu na dwa monitory, drukarka laserowa bezprzewodowowa kolor duplex, klawiatura, mysz optyczna, b) oprogramowanie sterowania spektrometrem i obróbki wyników danych pomiarowych. Minimum: a) 60 wężyków pompy perystaltyczne,j b) komora mgielna wraz z wężykiem do drenażu, c) palnik 2,5mm, d) 2 komplety stożków Niklowych, e) komplet stożków Pt, f) olej i filtr do pompy wstępnej, g) zestaw do wprowadzania próbek organicznych, h) papier do czyszczenia stożków, i) roztwór do strojenia spektrometru, j) zestaw do przeglądu serwisowego, k) stół pod spektrometr z kontenerkiem przejezdnym z szufladami, biurko pod komputer, krzesło w podłokietnikami. II. Przystawka do odparowania laserowego (LA)

6 1. Laser 2. System optyczny 3. Komora ablacyjna 4. Sterowanie 5. Oprogramowanie 6. Materiały zapasowe i wyposażenie dodatkowe a) Nd: YAG o długości fali 213 nm; b) Szybkość powtórzeń w przedziale co najmniej 1-20 Hz, c) płaski przekrój energetyczny wiązki; d) średnica wiązki laserowej: 13 wielkości o średnicy pomiędzy µm, e) moc w J/cm2 >25, na powierzchni próbki, f) wiązka wewnętrznie jednorodna. a) wysokiej rozdzielczości kamera cyfrowa o powiększeniu 15x do 60x (z obiektywu do kamery), rozdzielczość optyczna <2µm, b) 25mm pole widzenia optyki nawigacyjnej z ekranem dotykowym, c) Iluminator zawierający 3 lampy LED kontrolowane z poziomu oprogramowania, d) kontrolowany z poziomu oprogramowania obrotowy polaryzator, e) przesłona umożliwiająca wytworzenie wiązki o przekroju prostokątnym. a) wymiary minimum 100mm x 100mm, b) możliwość doposażenia o większą komorę 150mm x 150mm, c) opcja komory ablacyjnej wolna od wszelkich elementów magnetycznych. a) komputer sterujący i oprogramowanie, b) interfejs (kabel) łączący. Oprogramowanie do przetwarzania danych, integracji, obróbki danych pomiarowych. 2x filtr do wody, 2x lampa typu flash Stół pod przystawkę z szufladami III. Chromatograf cieczowy (HPLC) z zestawem do specjacji 1. Ogólne 2. Pompa gradientowa Chromatograf, w pełni kompatybilny ze spektrometrem ICP-MS, o budowie modułowej z interfejsem i oprogramowaniem, pozwalającym na adaptację spektrometru ICP-MS jako detektora masowego w HPLC i użycie zestawu do analiz specjacyjnych. Pompa gradientowa min 2-tłokowa z możliwością mieszania 4 różnych składników w tym samym czasie z wbudowanym degazerem próżniowym czterokanałowym, o precyzji przepływu <0,07 % RSD, zakres przepływu: 0,001 10,000 ml/min, dokładność przepływu nie gorsza niż 0,001 ml/min, wymagana zintegrowana wymiarami nadstawka na rozpuszczalniki. Ciśnienie robocze min 600 bar.

7 3. Autosampler 4. Termostat kolumn 5. Detektor 6. Kolumny 7. Zestaw łączący LC-ICP-MS 8. Dodatkowe Autosampler na minimum 100 próbek o zakresie nastrzyku 0,1-100ul o precyzji nastrzyku nie gorszej niż 0.25% RSD, błąd przenoszenia (carry over) nie gorszy niż 0.1 %. Termostat kolumnowy o zakresie temperatur: co najmniej od 10 C poniżej temp otoczenia do + 80 C, stabilność temperatury nie gorsza niż: ± 0.15 C, dokładność temperatury nie gorsza niż : ± 0.8 C. Termostat powinien posiadać 2 niezależnie kontrolowane bloki chłodzące/grzejne umożliwiające podgrzewania fazy ruchomej przed kolumną i jednocześnie chłodzenie jej za kolumną. Detektor typu UV-Vis; detektor konduktometryczny; Minimum 3 kolumny chromatograficzne do specjacji np. Cr, As, Hg. Zestaw łączący spektrometr ICP-MS z HPLC, wraz ze wszystkimi niezbędnymi przyłączeniami. Możliwość rozbudowy systemu HPLC o detektor mas do związków organicznych, typu potrójnego kwadrupola, czasu przelotu lub kwadrupol-analizator czasu przelotu. Wózek pod chromatograf z min. 2 półkami na moduły, biurko pod komputer, krzesło w podłokietnikami WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis Minimum 5 dni szkolenia z zakresu pomiarów i analizy danych pomiarowych w układzie LA-ICP-MS, w tym: analiza punktowa, skan liniowy, mapping, analiza wgłębna, obróbka i przetwarzanie danych pomiarowych z wyżej otrzymanych wyników tworzenie map stężeń pierwiastków i obrazów określających stężenie danego pierwiastka w danym obszarze analizowanej próbki Szkolenie dla każdego typu aparatury z zakresu obsługi i oprogramowania: ICP-MS, HPLC, Ablacji laserowej (LA) (dla min. 2 osób) Szkolenie z zakresu analizy próbek ciekłych za pomocą ICP-MS i LC-ICP-MS minimum 15 dni (dla min. 2 osób) Jeden przegląd w czasie trwania gwarancji dla ICP-MS, drugi po upływie gwarancji w terminie podanym przez użytkownika.

8 Lp. Nazwa Opis 5. Przegląd przed upływem gwarancji dla przystawki do ablacji laserowej 6. Instrukcja obsługi w języku polskim. 7. Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 72 godziny 2 8. Gwarancja: minimum 24 miesiące 3. PARAMETRY TRANSPORTOWO INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. 4. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: do 4 miesięcy od dnia podpisania umowy. 2 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych.