Opis przedmiotu zamówienia

Transkrypt

1 Załącznik nr 1 do SIWZ Część 1 Mikroskop metalograficzny Opis przedmiotu zamówienia 1. Przeznaczenie: Wykonywanie badań (obserwacji) metalograficznych. 2. Charakterystyka techniczna: 1) Optyka: a) optyka korygowana do nieskończoności; b) długość optyczna obiektywów max. 45mm; c) mikroskop metalograficzny dający obraz o dobrej rozdzielczości przy obserwacjach mikrostruktury metali i ich stopów; d) kompletne wyposażenie mikroskopu umożliwiające obserwację w technikach: jasne pole widzenia, ciemne pole widzenia, światło spolaryzowane (polaryzator kołowy z możliwością obrotu o min 90 o z analizatorem), DIC w świetle spolaryzowanym kołowo; e) możliwość uzyskania największego rzeczywistego powiększenia optycznego minimum 1000x. 2) Statyw: a) manualne ustawianie mikroskopu dla danej techniki obserwacji; b) uchwyt filtrów i modułów optycznych na minimum 4 pozycje; c) rewolwer obiektywowy na minimum 5 pozycji z miejscem na co najmniej 3 obiektywy dla systemu DIC; d) śruby przesuwu mikro i makro o konstrukcji współosiowej z układem zapamiętywania pozycji ostrości; e) możliwość wbudowania w statyw dodatkowego gniazda kamery; f) możliwość połączenia z komputerem przez port USB; g) system zapamiętywania ustawienia oświetlenia dla danego obiektywu; h) pokrowiec ochronny, narzędzia. 3) Oświetlacz: a) oświetlacz w systemie Koehlera z dwoma rodzajami źródła światła: LED/ żarówka halogenowa; b) czas pracy LED minimum godzin. 4) Obiektywy: a) dedykowane przez producenta mikroskopu obiektywy: o powiększeniu 1,25X, obiektyw o powiększeniu 10X, obiektyw o powiększeniu 20X, obiektyw o powiększeniu 50X, obiektyw o powiększeniu 100X; b) wymieniony obiektyw o powiększeniu 1,25X klasy achromat lub wyższej; c) wymienione obiektywy o powiększeniu 10X, 20X, 50X, 100X klasy planachromat o podwyższonym kontraście. 5) Okulary: a) pole widzenia min.23mm, możliwość regulacji +/- 5 dioptrii niezależna dla obydwu okularów; b) komplety okularów odpowiednio dobrane do obiektywów. 6) Tubus: a) głowica binokularowa z wbudowanym portem kamery (podział światła 50:50%); b) możliwość regulacji rozstawu źrenic w zakresie co najmniej 55 do 72 o. 7) Stolik mikroskopowy: a) stolik mikroskopowy z manualnym napędem; 1

2 b) powierzchnia o wymiarach 220x 270mm lub większa pokryta odporną na zarysowania powłoką; c) zakres ruchu min. 40x40 mm. 8) Kamera cyfrowa, urządzenie wizualizująco archiwizujące: a) dedykowana przez producenta mikroskopu kamera mikroskopowa o rozdzielczości minimum 5 megapikseli z oprogramowaniem umożliwiającym: rejestracje obrazów w kolorze, nanoszenie markerów, proste pomiary długości, pomiar wielkości ziarna); b) urządzenie umożliwiające wizualizację oglądanego obrazu (min. przekątna ekranu 17 cali) oraz jego archiwizacje, wydruk; c) dysk twardy minimum 3TB; d) listwa zasilająca z zabezpieczeniem przed nagłymi skokami napięcia i przepięciami sieci zasilającej (długość kabla 3m). 9) Oprogramowanie: a) program działający w systemie 64-ro bitowym; b) możliwość bezstopniowego skalowania i zoomu obrazu; c) oprogramowanie umożliwiające uzyskanie większej głębi ostrości w przypadku obserwacji przełomów, powierzchni o dużej chropowatości; d) import plików: bmp, tif, jpg, j2k, jp2, gif, tga, png, cal, mac, msp, ras, pct, eps, wmf, psd, img, cmp; e) moduł umożliwiający składanie obrazów płaskich; f) eksport plików: bmp, gif, jpg, png, tiff, wmp, wdp; g) obróbka graficzna obrazów: jasność, kontrast, gamma, wyostrzanie, zmiękczanie, balans bieli, redukcja szumów, odejmowanie tła, korekta rozkładu oświetlenia; h) możliwość pomiarów: długość, powierzchnia, średnica, poziom szarości, kąt; i) możliwość nanoszenia markerów informujących o powiększeniu rzeczywistym na wydrukowanym obrazie; j) możliwość wydruków na standardowej drukarce; k) kompatybilność z systemem Windows; l) moduł automatycznej analizy ziaren stali umożliwiający pomiary wg, norm: DIN-EN ISO 643:2012; ASTM E Plate I-IV; ASTM E ; GB/T ; m) edycja raportów w formacie MS Word 3. Dostawa do Laboratorium TDT w Krakowie, uruchomienie na stanowisku w laboratorium, szkolenie z obsługi mikroskopu. 4. Instrukcja obsługi w języku polskim. 5. Gwarancja minimum 12 miesiące od daty dostawy. 2

3 Część 2 Spektrometr Dostawa wraz z instalacją optycznego spektrometru emisyjnego z plazmą indukcyjnie sprzężoną wraz z systemem mineralizacji mikrofalowej. 1. Przeznaczenie: Wykonywanie analiz chemicznych. 2. Charakterystyka techniczna: 1) Wymagania minimalne: Emisyjny, sekwencyjny spektrometr ICP umożliwiający boczną obserwację plazmy oraz wzdłuż osi palnika, palnik umieszczony pionowo. 2) System optyczny: a) System optyczny z podwójnym monochromatorem; b) Siatka dyfrakcyjna typu Echelle, c) Zakres spektralny minimum nm, pomiar dowolnej linii w całym użytecznym zakresie spektralnym, d) Detektor półprzewodnikowy CCD, e) Jednoczesny pomiar linii analitycznych oraz tła po obu stronach pików (w dowolnych miejscach), f) Możliwość pracy w trybie radialnym i wzdłuż osi palnika w czasie jednego pomiaru (również dla tej samej linii analitycznej), g) Możliwość radialnej obserwacji plazmy na różnych wysokościach, dynamiczna korekcja długości fali lampą neonową, dla aktywnej korekcji pozycji piku, h) Rozdzielczość rzeczywista 0,009 nm w zakresie UV (dla 200 nm). 3) System wprowadzania próbek: a) Budowa umożliwiająca wymianę całego systemu bez użycia jakichkolwiek narzędzi w ciągu kilku sekund, b) Układ wprowadzania próbki zawierający komorę mgielną cyklonową oraz rozpylacz koncentryczny typu Meinhard`a, c) Rozbieralny układ palnika, d) System wprowadzania próbek regulowany (nawet w czasie palenia plazmy), zapewniający uzyskanie optymalnych osiągów w zależności od rodzaju analizowanych próbek. 4) Pompa perystaltyczna: Czterokanałowa, zapewniająca równomierną prędkość podawania oznaczanych roztworów i odprowadzania ścieków 5) Generator RF: a) Półprzewodnikowy typu free running bezobsługowy (nie wymagający wymiany części zużywalnych), b) Minimalny zakres regulacji mocy od 1000 do 1500 W w krokach co 1 W, c) System zapewniający stałą korekcję mocy w zależności od warunków panujących w plazmie, nawet przy zmianie matrycy analizowanej próbki. 6) Oprogramowanie sterujące: a) Wielozadaniowe, zapewniające kontrolę wszystkich parametrów spektrometru oraz zbieranie obróbkę wyników, b) Parametry domyślne dla każdego pierwiastka, c) Biblioteka zawierająca minimum linii emisyjnych z możliwością jej poszerzenia o kolejne linie, d) Zdolność do zapamiętywania i ponownego oglądania otrzymanych widm, e) Możliwość doboru optymalnych parametrów pomiaru(takich jak przepływ gazów, moc generatora) on-line, f) Automatycznie lub manualnie ustawiany czas integracji (w granicach od 0,01 do 500 sekund) sygnałów w zależności od zawartości mierzonego pierwiastka oraz intensywności 3

4 linii analitycznej, pozwalający na poprawę intensywności małych sygnałów, algorytmy pozwalające na korekcję interferencji spektralnych niemożliwych do usunięcia innymi technikami (np. użyciem linii alternatywnych), g) Możliwość analizowania i przeliczania otrzymanych wyników bez konieczności wykonywania ponownej analizy, h) Wyświetlane na ekranie informacje o stanie spektrometru, i) Gotowe szablony raportów analitycznych, j) Wyniki analizy zapisywane w bazie danych z możliwością eksportu wyników do pakietów oprogramowania. 7) Jednostka sterująca: a) Jednostka sterująca o parametrach wymaganych przez producenta aparatury, zapewniająca bezawaryjną i płynną pracę aparatury oraz kompatybilność wszystkich jej podzespołów, b) Jednostka sterująca składająca się z komputera stacjonarnego, najnowszego możliwego systemu operacyjnego, monitora o przekątnej ekranu minimum 24 i drukarki laserowej kolorowej. 8) Wyposażenie dodatkowe i materiały zużywalne: a) Zestaw wężyków do pompy perystaltycznej (minimum 24 sztuki) oraz do odprowadzania ścieków (minimum 24 sztuki), b) Zestaw roztworów instalacyjnych i kalibracyjnych producenta aparatury, c) Standard wielopierwiastkowy (minimum 24 pierwiastki) o stężeniu 1000µg/ml, pojemność 125 ml, d) Zestaw polipropylenowych pojemników na próbki z zakrętkami: 15 ml minimum 500 sztuk i 50 ml minimum 500 sztuk, e) Zestaw materiałów instalacyjnych niezbędnych do zainstalowania i uruchomienia aparatury wraz z rurą przyłączeniową do ukłdu wentylacyjnego, f) Pakiet zapasowych elementów układu wprowadzania próbek : - palnik 1-szczelinowy (1 sztuka) - rozpylacz koncentryczny typu Meinhard`a (1 sztuka) - cyklonowa komora mgielna, szklana (1 sztuka) g) Dodatkowy układ wprowadzania próbek odporny na działanie kwasu fluorowodorowego HF, składający się z: wysokiej czułości nebulizera i cyklonowej komory mgielnej. Elementy dodatkowego układu wprowadzania próbki muszą być wykonane z materiałów odpornych na działanie HF i zapewniających maksymalną czułość prowadzonych analiz. h) Kompresor powietrza (1 sztuka) o wydajności niezbędnej dla oferowanego spektrometru, wyposażony w regulator ciśnienia z manometrem, zawór odcinający oraz filtr usuwający wilgoć i cząstki stałe. Kompresor umieszczony w szafce dźwiękochłonnej, poziom hałasu poniżej 49 db. 9) Zamknięty system chłodzenia: a) Temperatura chłodzenia przynajmniej od -5 C do 40 C b) Pojemność zbiornika minimum 4 litry c) Płyn chłodzący do układu chłodzenia w ilości minimum 2 litry 10) Piec mikrofalowy: a) System umożliwiający mineralizację lub ekstrakcję pod ciśnieniem próbek organicznych i nieorganicznych w zamkniętych naczyniach za pomocą mieszaniny stężonych kwasów, b) Komora mikrofalowa wykonana ze stali nierdzewnej, zabezpieczona kilkuwarstwową powłoką teflonową, c) Moc pracy magnetronu (ów) minimum 1500W z ciągłym (niepulsacyjnym) sposobem dostarczania energii mikrofalowej w całym zakresie mocy, d) Ładowanie naczyń do pieca od góry, pojedynczo, bez konieczności wyjmowania rotora, e) Automatyczna kontrola temperatury w każdym naczyniu bezprzewodowym czujnikiem IR, f) Bezprzewodowa kontrola ciśnienia w naczyniu referencyjnym, 4

5 g) Wbudowany sterownik i oprogramowanie zapewniające automatyczny dobór mocy do temperatury, regulację czasu pracy i ciśnienia, szybkość przyrostu ciśnienia, h) Wbudowana biblioteka gotowych metod oraz możliwość tworzenia własnych metod, i) Wbudowany ekran pozwalający na bieżąco śledzić parametry pracy jak: czas, ciśnienie, temperatura i moc magnetronu, j) Autonomiczny system wyciągu gazów i oparów uwalnianych w trakcie mineralizacji lub ekstrakcji wraz z rurą przyłączeniową, k) Zestaw startowych materiałów zawierający: rotor co najmniej 16-pozycyjnyz kompletem naczyń o pojemności minimum 75 ml, zabezpieczonych przed zbyt wysokim ciśnieniem membranami lub dyskami bezpieczeństwa wielokrotnego użytku, l) Otwieranie i zamykanie naczyń a także instalacja membran lub dysków zabezpieczających powinna przebiegać bez dodatkowych przyrządów, m) Naczynia wykonane z fluoropolimetru TFM. Każde naczynie powinno posiadać swój numer seryjny i być objęte 12-miesięczna gwarancją producenta, n) Każde ze stosowanych naczyń musi posiadać certyfikat testu wytrzymałości na ciśnienie, o) Maksymalne ciśnienie pracy ciągłej (robocze), co najmniej 40 bar, p) Maksymalna temperatura pracy ciągłej (robocza) co najmniej 260 C, q) Możliwość pracy przy niepełnym obsadzeniu rotora naczyniami, r) Pakiet materiałów zużywalnych wystarczających do wykonania około 3000 mineralizacji w naczyniach mineralizatora. 11) Szkolenie: a) Wykonawca zapewni wykwalifikowaną kadrę, która przeprowadzi szkolenie z obsługi Spektrometru i oprogramowania w wymiarze minimum 4 dni roboczych po 8 godzin (1 godz. tj. 45 min) w siedzibie Laboratorium TDT w Krakowie (zgodnie z wymaganiami określonymi w Załączniku nr 2.2. do SIWZ wzór umowy), b) Szkolenie obejmuje również wsparcie i asystę techniczną podczas przygotowania metod analitycznych próbek Zamawiającego. 12) Zasilanie: 230 VAC, 50 Hz 13) Gwarancja: a) Okres gwarancji minimum 12 miesięcy; b) Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny aparatury świadczony przez autoryzowany serwis producenta z siedzibą w Polsce, w języku polskim; c) Instrukcja obsługi w języku polskim dostarczona wraz z aparaturą. 14) Pozostałe wymagania: a) Dostawa aparatury z ubezpieczeniem w transporcie, b) Instalacja i uruchomienie aparatury przez autoryzowany serwis producenta. 5