Prof. dr hab. inż. Jerzy Rutkowski Gliwice, 18.11.2015 PUBLICATIONS Wykaz osiągnięć w pracy naukowo-badawczej A. Oryginalne prace twórcze opublikowane w krajowych czasopismach i zeszytach naukowych National Periodicals and Scientific Papers 1. J.Rutkowski, Algorytm znajdowania drzewa i macierzy oczkowej przy narzuconych ograniczeniach, Zeszyty Nauk. Politechniki Śląskiej - Automatyka, Z. 32, Gliwice 1975, pp. 65-74. 2. A.Macura, T.Grabowiecki, J.Rutkowski, J.Chojcan, Zastosowanie komputerów w nauczaniu w zakresie teorii obwodów, Technologia Kształcenia, Nr 8/1976, pp.27-41 (25%). 3. J.Chojcan, J.Rutkowski, Metoda obliczania rozpływów i współczynników wrażliwości w dużych jednorodnych obwodach nieliniowych i jej zastosowanie do sieci wentylacyjnych, Zeszyty Nauk. Politechniki Śląskiej Automatyka, Z. 37, Gliwice 1977, pp. 17-29. 4. A.Czechowski, J.Rutkowski, P.Rorbach, Układ centralnego rejestratora danych cyfrowych na taśmie perforowanej RD2, Pomiary, Automatyka, Kontrola, Nr 10-11/1978, pp. 318-320 (33%). 5. J.Rutkowski, Metoda rozwiązywania nieliniowych obwodów rezystancyjnych, Archiwum Elektrotechniki, Nr 1/1981, pp. 85-90. 6. J.Rutkowski, Diagnozowalność praktycznych analogowych układów elektronicznych, Zeszyty Nauk. Politechniki Śląskiej - Elektronika, Z. 5, Gliwice 1996, pp. 147-157. 7. J.Chojcan, K.Mościńska, J.Rutkowski, G.Tyma, Sieci neuronowe - uogólnienie algorytmu uczenia sieci backpropagation, zastosowanie do rozpoznawania linii papilarnych, cyfr i lokalizacji uszkodzeń w nieliniowych obwodach dc, Zeszyty Nauk. Politechniki Śląskiej - Elektronika, Z. 5, Gliwice 1996, pp. 21-35 (25%). 8. J.Rutkowski, Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Elektronika, Nr 12/2004, pp.33-37. 9. J.Izydorczyk, M.Kucharczyk, J.Rutkowski, Kody LDPC konkurencja dla turbokodów, Przegląd Telekomunikacyjny, Nr 2-3/2006, pp.65-72. 10. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Enhancement of parametric faults diagnosis, Elektronika, No. 11, 2008, pp. 163-166. 11. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Global parametric faults In analogue integrated circuits testing, Elektronika, No. 11, 2008, pp.122-125. 12. P.Kyzioł, D.Grzechca, P.Jantos, J.Rutkowski, Impedance matching concepts in RFID systems based on TRF7960 example, Elektronika, No. 11, 2008, pp.155-158. 13. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego, Przegląd Elektrotechniczny, vol. 2009, Nr 11, pp. 135-139. 14. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Analog circuit diagnosis by power supply current monitoring in evolutionarily selected test points, Elektronika, No.9/2010, pp.17-20.
15. P.Jantos, T.Golonek, J.Rutkowski, A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time domain response feature space, Przegląd Elektrotechniczny, vol.87, No.10/2011, pp. 110-113. 16. Ł.Chruszczyk, J.Rutkowski, Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits, Przegląd Elektrotechniczny, vol.87, No.10/2011, pp. 159-163. 17. P.Kyzioł, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Impedance synthesis of 2-terminal RLC network using genetic programming, Elektronika, No.9/2010, pp.24-28. 18. P.Kyzioł, D.Grzechca, J.Rutkowski, Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits, Przegląd Elektrotechniczny, vol.86, No.11a/2010, pp.251-255. 19. P.Jantos, T.Golonek, J.Rutkowski, Analogue Electronic Circuits Specification Driven Testing with the use of time domain response features, Elektronika, vol. 52, No. 12/2011 (reprint from Proc. Int. Conf. MIXDES 2011, Gliwice - Poland), pp. 65-67. 20. P.Jantos, D.Grzechca, J.Rutkowski, Analogue electronic circuits diagnosis with the use of evolutionary algorithms, Elektronika, No.12/2010, pp.84-86. 21. D.Grzechca, J.Rutkowski, The use of Field Programmable Analog Array in Signal Processing laboratory for Biomedical Engineering students, Elektronika, No.12/2010, pp.95-98. B. Oryginalne prace twórcze opublikowane w czasopismach zagranicznych International Periodicals (in English) 1. A.Macura, J.Rutkowski, New method of approximating the acceptable region of nonlinear resistive networks, Electronic Letters, Vol. 18, No 15/1982, pp.654-656. 2. J.Rutkowski, A.Macura, Fault location for nonlinear resistive circuits, Electronic Letters, Vol. 20, No 10/1984, pp.401-403. 3. J.Rutkowski, Heuristic network partitioning algorithm using the concept of loop index, IEE Proceedings, Pt G, Vol. 131, 1984, pp.203-208. 4. J.Rutkowski, A.Macura, Multiple fault location in ac circuits, IEE Proceedings, Pt G, Vol. 133, No 6/1986, pp.279-284. 5. J.A.Starzyk, D.Liu, Z.H.Liu, J.Rutkowski, Entropy based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques, IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, Vol.53, No 3, June 2004, pp.754-761. 6. T.Golonek, J.Rutkowski, Genetic algorithm based method for optimal analog test point selection, IEEE Trans. on CAS II, Vol. 54, No 2, Feb. 2007, pp.117-121. 7. L.Chruszczyk, D.Grzechca, J.Rutkowski, Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits, Bulletin of the Polish Academy of Sciences, Vol.55, Issue 3, Sept. 2007, pp. 273-280. 8. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Heuristic method to test frequencies optimization for analogue circuit diagnosis, Bulletin of the Polish Academy of Sciences, Vol.56, No.1, Jan. 2008, pp. 29-38. 9. P.Jantos, J.Rutkowski, Evolutionary methods to analogue electronic circuits yield optimization, Bulletin of the Polish Academy of Sciences, Vol.56, No.1, Jan. 2008, pp. 9-16. 10. P.Jantos, D.Grzechca, J.Rutkowski, Global parametric fault identification in analog electronic circuits, Metrology & Measurement Systems, vol. XVI 2009, No. 3, pp. 391-402. 11. D.Grzechca, J.Rutkowski, Fault diagnosis in analog electronic circuits the SVM approach, Metrology & Measurement Systems, vol. XVI 2009, No. 4, pp. 583-598.
C. Oryginalne prace twórcze opublikowane w polskojęzycznych materiałach konferencji krajowych Proceedings of National Conferences (in Polish) 1. J.Rutkowski, Program analizy obwodów liniowych ze sterowanymi źródłami, Mat. I Sympozjum Problemy projektowania obwodów elektronicznych przy zastosowaniu maszyn cyfrowych, Gliwice 1973, pp.75-78. 2. J.Rutkowski, Program analizy obwodów nieliniowych prądu stałego Mat. I Sympozjum Problemy projektowania obwodów elektronicznych przy zastosowaniu maszyn cyfrowych, Gliwice 1973, pp.133-136. 3. J.Rutkowski, J.Chojcan, Metoda obliczania rozpływów i współczynników wrażliwości w sieciach nieliniowych na przykładzie sieci wentylacyjnej, Mat. I Krajowego Sympozjum Nauk Radiowych URSI, Warszawa 1975, pp.273-278. 4. J.Rutkowski, Metoda analizy dużych rezystancyjnych nieliniowych obwodów prądu stałego, Mat. I Krajowej Konferencji Teoria Obwodów i Układy Elektroniczne (KK TOiUE), Podlesice 1977, pp.346-351. 5. J.Rutkowski, Sposób rozwiązywania problemu występowania nadmiaru w maszynowej analizie obwodów z diodami, Mat. I KK TOiUE, Podlesice 1977, pp.343-345. 6. J.Rutkowski, Wykorzystanie diakoptyki do analizy dużych nieliniowych obwodów rezystorowych, Mat. Konferencji Roboczej Wykonawców Problemu I.8, Jabłonna 1980, pp.118-121. 7. A.Macura, J.Rutkowski, Metoda automatycznego wyznaczania wierzchołków obszaru sprawności nieliniowych obwodów prądu stałego, Mat. IV KK TOiUE, Drzonków 1981, pp. 172-175. 8. J.Rutkowski, Heurystyczny algorytm podziału obwodu na części, Mat. V KK TOiUE, Sulejów 1982, pp. 207-212. 9. A.Macura, J.Rutkowski, Wykrywanie uszkodzeń w nieliniowych obwodach rezystorowych, Mat. VI KK TOiUE, Kozubnik 1983, pp. 188-193. 10. A.Macura, J.Rutkowski, Wykrywanie uszkodzeń w liniowych obwodach prądu zmiennego w stanie ustalonym sinusoidalnym Mat. VII KK TOiUE, Kazimierz Dolny 1984, pp.476-482. 11. J.Rutkowski, Zastosowanie wielopoziomowego algorytmu Newtona Raphsona do analizy dużych nieliniowych obwodów elektronicznych, Mat. VII KK TOiUE, Kazimierz Dolny 1984, pp. 517-521. 12. A.Macura, J.Rutkowski, Obszary sprawności przy ograniczeniach mocy elementów układu, Mat. VIII KK TOiUE, Poznań 1985, pp.412-417. 13. J.Rutkowski, Algorytm krawędziowego podziału obwodu, Mat. IX KK TOiUE, Szklarska Poręba 1986, pp.51-55. 14. J.Rutkowski, A.Macura, Zastosowanie dekompozycji hierarchicznej do wykrywania uszkodzeń w obwodach analogowych, Mat. X KK TOiUE, Sobieszewo 1987, pp.281-287. 15. J.Rutkowski, Zastosowanie sieci neuronowych do wykrywania uszkodzeń, Mat. XIII KK TOiUE, Bielsko B. 1990, pp.343-348. 16. J.Rutkowski, A.Macura, Lokalizacja i identyfikacja uszkodzeń w obwodach analogowych, Mat. XIII KK TOiUE, Bielsko B. 1990, pp.81-86.
17. J.Rutkowski, Identyfikacja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych, Problemy Współczesnej Elektroniki, Mat. jubileuszowej sesji naukowej Inst. Elektroniki Politechniki Śląskiej, Gliwice 1992, pp.31-44. 18. J.Rutkowski, B.Puchalski, Wykorzystanie koncepcji kanału informacyjnego do optymalizacji testowania układów analogowych, Mat. I KK Elektroniki, Kołobrzeg-Dźwiżyno 2002, pp.295-300. 19. T.Golonek, J.Rutkowski, Optymalizacja doboru węzłów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego, Mat. I KK Elektroniki, Kołobrzeg-Dźwiżyno 2002, pp.289-294. 20. J.Rutkowski, B.Puchalski, Optymalny dobór pobudzeń w testowaniu analogowych układów elektronicznych, Mat. II KK Elektroniki, Kołobrzeg 2003, pp.246-252. 21. J.Rutkowski, T.Golonek, Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testowego, Mat. II KK Elektroniki, Kołobrzeg 2003, pp.235-240. 22. J.Rutkowski, B.Puchalski, Ł.Zieliński, Optymalny dobór testów dla układów analogowych z wykorzystaniem algorytmów genetycznych, Mat. II KK Elektroniki, Kołobrzeg 2003, pp.241-246. 23. D.Grzechca, J.Rutkowski, Koncepcja konstrukcji rozmyto-neuronowego słownika do lokalizacji uszkodzeń - testowanie w dziedzinie czasu, Mat. II KK Elektroniki, Kołobrzeg 2003, pp.253-258. 24. J.Rutkowski, Ł.Zieliński, Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do dekompozycji krawędziowej grafu obwodu, Mat. II KK Elektroniki, Kołobrzeg 2003, pp.659-664. 25. J.Rutkowski, Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Mat. III KK Elektroniki - plenarny referat zaproszony, Kołobrzeg 2004, pp.13-22. 26. J.Rutkowski, Ł.Zieliński, Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych, Mat. III KK Elektroniki, Kołobrzeg 2004, pp.145-150. 27. T.Golonek, J.Rutkowski, D.Grzechca, Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne, Mat. III KK Elektroniki, Kołobrzeg 2004, pp.151-156. 28. J.Rutkowski, B.Puchalski, Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych, Mat. III KK Elektroniki, Kołobrzeg 2004, pp.157-162. 29. Ł.Zieliński, J.Rutkowski, B.Puchalski, Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń, Mat. III KK Elektroniki, Kołobrzeg 2004, pp.163-168. 30. D.Grzechca, J.Rutkowski, T.Golonek, Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych, Mat. III KK Elektroniki, Kołobrzeg 2004, pp.169-174. 31. B.Puchalski, J.Rutkowski, Optymalny dobór częstotliwości testowych z wykorzystaniem koncepcji kanału informacyjnego, Mat. IV KK Elektroniki, Darłowo 2005, pp.151-156. 32. I.Kurowski, J.Rutkowski, Wykorzystanie klasyfikatora neuronowego w diagnostyce analogowych filtrów aktywnych, Mat. IV KK Elektroniki, Darłowo 2005, pp.139-144. 33. B.Puchalski, Ł.Zieliński, J.Rutkowski, Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji zbioru częstotliwości testowych, Mat. IV KK Elektroniki, Darłowo 2005, pp.133-138. 34. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Ewolucyjny dekoder krawędzi, Mat. V KK Elektroniki, Darłowo 2006, pp.105-110.
35. D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadkości macierzy wrażliwości do testowania w dziedzinie częstotliowości, Mat. V KK Elektroniki, Darłowo 2006, pp.87-92. 36. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, D.Grzechca, Dobór optymalnego pobudzenia testującego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych, Mat. V KK Elektroniki, Darłowo 2006, pp.123-128. 37. I.Kurowski, J.Rutkowski,Diagnostyka analogowych filtrów aktywnych z wykorzystaniem sieci neuronowych o radialnych funkcjach bazowych, Mat. V KK Elektroniki, Darłowo 2006, pp.51-56. 38. I.Kurowski, J.Rutkowski, Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.71-76. 39. D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.83-88. 40. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.101-106. 41. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Zastosowania programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwości w diagnostyce analogowych układów elektronicznych, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.143-148. 42. P.Jantos, J.Rutkowski, Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.125-130. 43. L.Chruszczyk, D.Grzechca, J.Rutkowski, Zastosowanie procesora sygnałowego do projektowania pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne, Mat. VI KK Elektroniki, Darłowo 2007, pp.155-160. 44. P.Kyziol, D.Grzechca, P.Jantos, J.Rutkowski, Dopasowanie impedancyjne w systemach radiowej identyfikacji RFID na przykładzie układu TRF7960 firmy Teras Instruments, Mat. VII KK Elektroniki, Darłowo 2008. 45. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych, Mat. VII KK Elektroniki, Darłowo 2008. 46. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Poprawa skuteczności diagnostyki układów parametrycznych, Mat. VII KK Elektroniki, Darłowo 2008. 47. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne, Mat. VII KK Elektroniki, Darłowo 2008. D. Oryginalne prace twórcze opublikowane w anglojęzycznych materiałach konferencji krajowych Proceedings of National Conferences (in English) 1. J.Rutkowski, Neural network approach to fault location in nonlinear DC circuits, Proc. XIV Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Waplewo 1991, pp.568-573. 2. J.Rutkowski, A DC fault dictionary approach to analog fault diagnosis, Proc. XV Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Szczyrk 1992, pp.151-156. 3. J.Rutkowski, Diagnosability of practical analog networks, Proc. XV Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Szczyrk 1992, pp.157-162. 4. J.Rutkowski, A neural network analog fault dictionary, Proc. XVI Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Kołobrzeg 1993, pp.600-604.
5. J.Rutkowski, Neural network DC fault dictionary with Hamming coding of outputs, Proc. XVII Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Polanica 1994, pp.501-506. 6. J.Rutkowski, A.Macura, Exploitation of design constraints region in analog fault diagnosis, Proc. XVIII Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Zakopane 1995, pp.683-689. 7. J.Rutkowski, J.Machniewski, Transient fault location in analog circuits, Proc. XIX Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Krynica 1996, pp. 201-206. 8. J.Chojcan, K.Mościńska, J.Rutkowski, G.Tyma, Neural networks - improved learning and various applications, Proc. I Conf. Neural Networks and Their Applications, Kule 1994, pp. 1-8 (25%). 9. J.Rutkowski, J.Machniewski, Analog fault dictionary: Mapping of the tolerance box into the measurement space, Proc. XXI Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Poznań-Kiekrz 1998, pp. 237-242. 10. J.Rutkowski, J.Machniewski, Integer-code analog fault dictionary, Proc. XXII Conf. Circuit Theory and Electronic Circuits, Warsaw-Stare Jabłonki 1999, pp. 111-116. 11. J.Rutkowski, Applying artificial intelligence techniques to analog fault detection and classification invited paper, Proc. III KK Technologie Informacyjne, Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, 2005, pp. 15-24. 12. P.Jantos, J.Rutkowski, A global parametric fault diagnosis in analogue IC, Proc. National Conf. on Electronics 2010, Darówko Poland, pp.45-49. E. Oryginalne prace twórcze opublikowane w materiałach konferencji międzynarodowych Proceedings of International Conferences (in English) 1. J.Rutkowski, A heuristic algorithm for tearing large-scale networks, Proc. European Conference Circuit Theory & Design (ECCTD), Stuttgart 1983, pp. 213-216. 2. J.Rutkowski, An Efficient algorithm for branch tearing large scale networks, Proc.ECCTD, Paris 1987, pp. 693-698. 3. J.Rutkowski, A two stage neural network DC fault dictionary, Proc. IEEE International Symposium Circuits And Systems (ISCAS), London 1994, vol. 6, pp. 299-302. 4. J.Rutkowski, The DC fault dictionary a neural network approach, Proc. ECCTD Istanbul 1995, pp. 295-298. 5. J.Rutkowski, J.Machniewski, Capacitor fault detection in analog circuits, Proc. ECCTD, Budapest 1997, pp. 1408-1411. 6. J.Rutkowski, J.Machniewski, Integer-code fault dictionary, Proc. IEEE ISCAS, Geneva 2000, vol. V, pp. 713-716. 7. T.Golonek, J.Rutkowski, Use of genetic algorithms to analog fault dictionary construction, Proc. I International Conference Signals & Electronic Systems (ICSES), Ustroń 2000, pp. 503-508. 8. D.Grzechca, J.Rutkowski, Fuzzy rule expert system to analog fault diagnosis, Proc. ICSES, Ustroń 2000, pp. 509-514. 9. J.Rutkowski, D.Grzechca, Analog fault dictionary - fuzzy set approach, Proc. ECCTD, Helsinki 2001, pp. 249-252. 10. J.Rutkowski, T.Golonek, Application of genetic algorithms to analog fault diagnosis, Proc. ECCTD, Helsinki 2001, pp. 253-256.
11. D.Grzechca, J.Rutkowski, Use of sensitivity matrix and fuzzy set theory to analog fault detection, Proc. II ICSES, Łódź 2001, pp. 349-355. 12. D.Grzechca, J.Rutkowski, Adaptive algorithm for analog fault based on a sensitivity matrix and fuzzy set theory, Proc. IEEE Int. Conf. Electronics, Circuits & Systems (ICECS), Dubrovnik 2002, Vol. II, pp. 646-652. 13. D.Grzechca, J.Rutkowski, Use of neural network and fuzzy logic to time domain analog testing, Proc. International Conference Neural & Image Processing (ICONIP), Singapore 2002, pp. 2601-2605. 14. T.Golonek, J.Rutkowski, Use of evolution strategies to analog testing with time domain stimuli, Proc. III ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 319-324. 15. T.Golonek, J.Rutkowski, Use of genetic programming to analog fault decoder design, Proc. III ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 319-324. 16. J.Rutkowski, B.Puchalski, Optimum test selection for analog circuits with the use of information channel concept, Proc. III ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 325-330. 17. D.Grzechca, J.Rutkowski, Use of neural network and fuzzy set theory to analog fault detection, Proc. III ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 333-338. 18. R.Szczepaniak, J.Rutkowski, Analysis and processing of information contained in DNA microarrays, Proc. 3 rd International Workshop Control and Information Technology (IWCIT), Gliwice 2003, pp. 54-60. 19. Ł.Zieliński, J.Rutkowski, The state of the art of genetic algorithms, Proc. 3 rd IWCIT, Gliwice 2003, pp. 103-108. 20. J.Rutkowski, B.Puchalski, Optimum stimuli selection in testing of analog circuits, Proc. ECCTD, Kraków 2003, pp. 201-204. 21. J.Rutkowski, L.Zielinski, Using evolutionary techniques for chosen optimization problems related to analog circuit design, Proc. ECCTD, Kraków 2003, pp. 313-316. 22. J.Rutkowski, T.Golonek, Application of genetic programming to analog fault decoder design, Proc. ECCTD, Krakow 2003, pp. 113-116. 23. J.Rutkowski, D.Grzechca, Creation of analog fault AC dictionary based on fuzzy-neural network and output coding, Proc. ECCTD, Kraków 2003, pp. 237-240. 24. D.Grzechca, J.Rutkowski, New concept to analog fault diagnosis by creating two fuzzyneural dictionaries test, Proc. 12 th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), Dubrovnik 2004. 25. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Klosowski, Computer assisted and web-based learning techniques in electronics and telecommunication education process, Proc. 7 th IASTED Int. Conf. Computers and Advanced Technology in Education (CATE), Kauai-Hawaii 2004, pp.60-65. 26. L.Zielinski, J.Rutkowski, Design tolerancing with utilization of Gene Expression Programming and Genetic Algorithm, Proc. IEEE ICSES, Poznan 2004, pp. 381-384. 27. L.Zielinski, B.Puchalski, J.Rutkowski, Application of Genetic Algorithms to optimum test point selection with the use of multiple input stimuli, Proc. IEEE ICSES, Poznan 2004, pp. 389-392. 28. B.Puchalski, J.Rutkowski, Fault detection in analog circuits with the use of multi-frequency fault dictionary, Proc. IEEE ICSES, Poznan 2004, pp. 393-396. 29. J.Rutkowski, Dictionary approach to fault diagnosis in analog circuits, Proc. Symposium on Methods of Artificial Intelligence (AI-METH) keynote presentation, Gliwice 2004, pp.223-228.
30. J.Rutkowski, P.Klosowski, K.Moscinska, Distance learning platform based on Moodle Open Source platform, Proc. Int. Conf. On Engineering Education (ICEE), Gliwice 2005, pp.767-772. 31. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Klosowski, Redevelopment of a large engineering course from a traditional to blended model Circuit Theory example, Proc. 8 th IASTED Int. Conf. Computers and Advanced Technology in Education (CATE), Aruba 2005, pp.300-305. 32. D.Grzechca, J.Rutkowski, Creation of functional test the neural network utilization, Proc. Symposium on Methods of Artificial Intelligence (AI-METH), Gliwice 2005, pp.95-98. 33. I.Kurowski, J.Rutkowski, Fault detection of analog active filters using RBF neural network, Proc. 4 th IWCIT, Ostrava 2005, pp.309-312. 34. D.Grzechca, J.Rutkowski, T.Golonek, Use of the Multilayer Perceptron to Analog Functional Test Creation, e-proc. IFAC PeDS, Brno-Czech Republic, 2006. 35. D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Analog fault ac dictionary the fuzzy set approach, Proc. IEEE International Symposium Circuits And Systems (ISCAS), Kos-Greece 2006, pp. 5744-5747. 36. B.Puchalski, L.Zielinski, J.Rutkowski, Use of granular method to design centering, Proc. IEEE ISCAS, Kos-Greece 2006, pp. 3986-3989. 37. L.Zielinski, B.Puchalski, J.Rutkowski, Yield enhancement by means of evolutionary computing techniques, Proc. IEEE ISCAS, Kos-Greece 2006, pp. 4631-4634. 38. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Application of genetic programming to edge decoder design, Proc. IEEE ISCAS, Kos-Greece 2006, pp. 4683-4686. 39. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index and ambiguity sets, Proc. IEEE ICSES, Łódź 2006, pp. 511-514. 40. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits, Proc. IEEE ICSES, Łódź 2006, pp. 613-616. 41. J.Rutkowski, K.Moscinska, L.Chruszczyk, Development and evaluation of computer assisted exam Circuit Theory example Proc. 9 th IASTED Int. Conf. Computers and Advanced Technology in Education (CATE), Lima 2006, pp. 333-338. 42. I.Kurowski, J.Rutkowski, Use of modular neural networks to fault diagnosis in analog active filters, Proc. 5 th IWCIT, Gliwice 2006, pp. 80-85. 43. J.Rutkowski, K.Moscinska, Introduction of summative and formative web-based assessment to the Circuit Theory course, Proc. IASTED Int. Conf. on Web Based Education (WBE), Chamonix 2007, pp. 395-400. 44. A.Pułka, J.Rutkowski, A common-sense based approach to the automated test-point selection in fault diagnosis, Proc. ECCTD, Sevilla 2007, pp. 838-841. 45. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Jantos, Web-based assessment and examination system from experiment to practice, Proc. 10 th CATE, Beijing 2007, pp. 206-211. 46. J. Rutkowski, K. Moscinska, D.Grzechca, Students attitude to formative web-based assessment, Proc. 7 th IASTED Int. Conf. on Web Based Education (WBE), Innsbruck 2008, pp. 139-144. 47. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features, Proc. 11 th IEEE Workshops on Design and Diagnostics of Electronic Systems, DDECS 2008, Bratyslava, Slovakia, pp. 299-303. 48. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits, Proc. 11 th IEEE Workshops on Design and Diagnostics of Electronic Systems Diagnostics, DDECS 2008, Bratyslava, Slovakia, pp. 279-282.
49. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Specialized excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits, Proc. Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, MIXDES 2008, Poznan, Poland. 50. L.Chruszczyk, J.Rutkowski, Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits, Proc. IEEE Int. Conf. on Electronics, Circuits and Systems, ICECS 2008, Malta. 51. J.Rutkowski, D.Grzechca, Use of Artificial Intelligence Techniques to fault diagnosis in analog systems, Proc. 2 nd European Computing Conference (EEC-WSEAS), Malta, 2008, pp. 267-274 (plenary lecture). 52. D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Diagnosis of specification parametric faults in FPAA the RBF neural network approach, Proc. 2 nd European Computing Conference (EEC- WSEAS), Malta, 2008, pp. 275-280. 53. P.Jantos, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, Global parametric faults in analogue Integrated Circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution, Proc. 2 nd European Computing Conference (EEC-WSEAS), Malta, 2008, pp. 281-286. 54. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm, Proc. IEEE ICSES, Krakow, 2008, pp. 541-544. 55. P.Kyziol, D.Grzechca, T.Golonek, J.Rutkowski, The use of variable load for RF circuit testing, Proc. IEEE ICSES, Krakow, 2008, pp. 557-560. 56. P.Kyziol, D.Grzechca, P.Jantos, J.Rutkowski, Impedance matching concepts in RF systems based on TRF7960 example, Proc. 7 th IWCIT, Gliwice 2008, pp. 72-77. 57. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Klosowski, Blended education at large Technical University located in highly urbanized metropolitan region, e-proc. 6 th Int. Conf. On Education and Information Systems, Technologies and Applications (EISTA), Orlando, 2008. 58. D.Grzechca, J.Rutkowski, Estimation of the FPAA specification with use of the Artificial Neural Network, Proc. 6 th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) 2008, Lviv - Ukraine, October 9-13, pp. 219-222. 59. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Klosowski, Five years of Faculty Distant Education Platform how it changed education process, Proc. 11 th CATE, Crete, Greece 2008, pp. 94-99. 60. J.Rutkowski, K.Moscinska, ICT supported engineering course case study and guidelines, Proc. 12 th CATE, US Virgin Islands, 2009, pp. 129-136. 61. P.Kyzioł, D.Grzechca, J.Rutkowski, Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits, Proc. ECCTD 2009, Antalya - Turkey, pp. 555-559. 62. P.Jantos, D.Grzechca, J.Rutkowski, A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks, Proc. ECCTD 2009, Antalya - Turkey, pp. 651-655. 63. P.Jantos, D.Grzechca, J.Rutkowski, Global parametric faults identification with use of differential evolution, Proc. IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) 2009, Liberec - Czech Republic, pp. 222 225. 64. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Analog circuit state identification by means of differential evolution, Proc. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES) 2009, Łódź - Poland, pp. 509-512. 65. D.Grzechca, J.Rutkowski, The use of field programmable analog array for heartbeat detection, Proc. 7 th IASTED Conference Biomedical Engineering, 2009, Innsbruck - Austria, vol. I, pp. 109-113.
66. J.Rutkowski, K.Moscinska, Barriers in Modern Web-based Education, Proc. 9th IASTED Int. Conf. on Web Based Education (WBE), 2010, Sharm El Sheikh Egypt, ACTA Press 688-021. 67. T.Golonek, D.Grzechca, J.Rutkowski, Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily, Proc. IEEE Int. Conf. on Signals and Electronic Systems (ICSES) 2010, Gliwice Poland, pp.397-400. 68. J.Rutkowski, K.Moscinska, Barriers to Innovation in e-pedagogy: A case study, Proc. IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education (CATE) 2010, Maui Hawaii, pp.146-151. 69. J.Rutkowski, K.Moscinska, P.Jantos, Application of Bloom s Taxonomy for increasing teaching efficiency case study, Proc. Int. Conf. on Engineering Education (ICEE) 2010, Gliwice Poland, CD edition. 70. P.Kyzioł, J.Rutkowski, D.Grzechca, Testing analog electronic circuits using N-terminal network, Proc. IEEE Workshop on Design and Diagnosis of Electronic Circuits and Systems (DIDECS) 2010, Vienna - Austria, pp. 77-180. 71. P.Kyzioł, J.Rutkowski, Searching groups of layouts in N-terminal based test method using heuristic PSO algorithm, Proc. IEEE Int. Conf. on Signals and Electronic Systems (ICSES) 2010, Gliwice Poland, pp.217-220. 72. P.Jantos, D.Grzechca, J.Rutkowski, Analogue electronic circuits yield optimization with the use of genetic algorithm, Proc. IEEE Int. Conf. on Signals and Electronic Systems (ICSES) 2010, Gliwice Poland, pp.293-296. 73. D.Grzechca, J.Rutkowski, PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit, Proc. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2010, Paris France, pp.1919-1922. 74. D.Grzechca, J.Rutkowski, The use of Field Programmable Analog Array for heart beat detection, Proc. IASTED Int. Conf. on Biomedical Engineering 2010, Innsbruck Austria, pp.109-113. 75. J.Rutkowski, K.Moscinska, Blended engineering course Electric Circuit Theory case study, Proc. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2011, Rio de Janeiro Brazil, pp. 333-336. 76. J.Rutkowski, K.Moscinska, Barriers to introduction of e-learning: a case study, Proc. IEEE Int. Conference on Engineering Education (EDUCON) 2011, Amman Jordan, pp. 460-465. 77. J.Rutkowski, K.Moscinska, Links between Technology-Based Education and Engineering Education Research Electric Circuit Theory case study, Proc. IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education (CATE) 2011, Cambridge UK, pp. 152-159. 78. K.Moscinska, J.Rutkowski, P.Jantos, How to encourage digital natives to Analog Courses? Proc. Int. Conf. on Engineering Education (ICEE) 2011, Belfast Northern Ireland, CD edition. 79. J.Rutkowski, K.Moscinska, From traditional lecture to video-podcast based lecture, Case studies, Proc. IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education (CATE) 2012, Naples Italy, pp.133-140. 80. K.Moscinska, J.Rutkowski, Increasing teaching efficiency Are they ready for new technology?, Proc. IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education (CATE) 2012, Naples Italy, pp.170-176.
81. K.Moscinska, J.Rutkowski, Rethinking e-assessment in a core engineering course, Proc. IEEE Int. Conference on Engineering Education (EDUCON) 2012, Marrakesh Morocco, 781-784. 82. J.Rutkowski, K.Moscinska, Self-Directed Learning and Flip Teaching, Electric Circuit Theory Case Study, Proceedings SEFI Annual Conference 2013, Leuven - Belgium, electronic version. 83. J.Rutkowski, Flipping the Classroom Engineering Course Case Study, invited presentation, European University Association (EUA) Annual Conference, Brussels, March 2014, http://www.eua.be/libraries/eua_annconf_2014/wg1_jerzy_rutkowski.sflb.ashx 84. J.Rutkowski, Flipped Classroom From Experiment to Practice, Proc. 1 st KES Conference on Smart Technology based Education and Training (STET), Chania Greece, June 2014, electronic version. 85. J.Rutkowski, Moodle-based Computer-Assisted Assessment in Flipped Classroom, Smart Education and Smart e-learning, Vol. 41 of the series Smart Innovation, Systems and Technologies, Springer 2015, pp 37-46. 86. J.Rutkowski, Flip Teaching Approach to Smart Education - Principles and Guidelines, KES International Conference on Smart Education & E-Learning, Sorrento, June 2015, keynote presentation. F. Oryginalne prace twórcze opublikowane w opracowaniach książkowych wydanych przez zagraniczne oficyny wydawnicze Chapters in International Scientific Books (in English) 1. J.Rutkowski, (I.Alexander & J.Taylor eds.), A. neural network approach to fault location in nonlinear DC circuits, I Int. Conf. Artificial Neural Networks (ICANN) - Brighton, North- Holland 1992, pp. 1123-1126. 2. J.Rutkowski, (H.Dedieu ed.) A DC approach for analog fault dictionary determination, XI ECCTD - Davos, Elsevier 1993, pp. 877-880. 3. J.Rutkowski, (H.Dedieu ed.), Decomposition approach to analog fault location, XI ECCTD - Davos, Elsevier 1993, pp. 881-884. 4. J.Rutkowski, J.Machniewski, (C.Beccari, P.P.Civalleri eds.), Description of the DC fault dictionary in the measurement space, XIV ECCTD - Stresa, Levrotto & Bella - Torino 1999, pp. 243-246. 5. J.Rutkowski, J.Machniewski, (C.Beccari, P.P.Civalleri eds.), Sensitivity based analog fault dictionary, XIV ECCTD - Stresa, Levrotto & Bella - Torino 1999, pp. 599-602. 6. L.Zieliński, B.Puchalski, J.Rutkowski, Optimum test selection for analog circuits with the use of genetic algorithm, Soft Computing: Methodologies and Applications, Advances in Soft Computing - Springer 2005, pp.129-136. 7. B.Puchalski, Ł.Zieliński, J.Rutkowski, Use of genetic algorithm to optimum test frequency selection, Applications of Soft Computing Recent Trends, Advances in Soft Computing - Springer 2006, pp. 283-290. 8. L.Zieliński, J.Rutkowski, Design centering and tolerancing with utilization of evolutionary techniques, Applied Soft Computing Technologies: The Challenge of Complexity, Advances in Soft Computing - Springer 2006, pp. 91-98. G. Monografie Monographs (in Polish)
1. J.Rutkowski, Diagnostyka dużych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem metod topologicznych, Zesz. Nauk. Politechniki Śl., Z.105, Gliwice 1991 (rozprawa habilitacyjna). 2. J.Rutkowski, Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 2003. H. Inne, recenzowane opracowania i rozprawy Other Reviewed Papers and Dissertations 1. J.Rutkowski, Wspomagana komputerowo analiza dużych nieliniowych obwodów prądu stałego, Rozprawa doktorska, Instytut Elektroniki, Gliwice 1978. 2. J.Rutkowski, Badanie skuteczności i efektywności wielopoziomowego algorytmu Newtona- Raphsona, Raport Instytutu Elektroniki z tematu CPBP 02.14, Gliwice 1986. 3. J.Rutkowski, Diagnostyka analogowych układów elektronicznych w przypadku uszkodzeń obwodu drukowanego, Raport Instytutu Elektroniki z tematu CPBP 02.14, Gliwice 1990. 4. J.Rutkowski, Wykorzystanie sieci neuronowych do lokalizacji uszkodzeń w obwodach diodowo tranzystorowych, Raport Instytutu Elektroniki z grantu G-523, Gliwice 1991. I. Podręczniki i skrypty - Textbooks 1. J.Chojcan, J.Rutkowski, Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania - wydanie I, Skrypt Uczelniany Politechniki Śl., Gliwice 1981. 2. J.Chojcan, J.Rutkowski, Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania - wydania II, III, Skrypty Uczelniane Politechniki Śl., Gliwice 1986, 1990. 3. J.Chojcan, J.Rutkowski, Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania - wydania IV, V, VI, Skrypty Uczelniane Politechniki Śl., Gliwice 1993, 1994 i 1997. 4. J.Chojcan, J.Rutkowski, Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania - wydanie VII poprawione i uzupełnione, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice 2001. 5. J.Rutkowski, Theory of information and coding (in English), The Publishing House of the Silesian University Of Technology, Gliwice 2006. 6. J.Rutkowski, Circuit Theory (in English), The Publishing House of the Silesian University Of Technology, Gliwice 2006.