Tester diod i tranzystorów

Podobne dokumenty
Miernik i regulator temperatury

Licznik obiektów. Model M-03. do Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego DSM-51. Instrukcja uŝytkowania

Wyjście do drukarki Centronix

Równia pochyła. Model M-09. do Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego DSM-51. Instrukcja uŝytkowania

Interface sieci RS485

Czytnik kart magnetycznych

Zegar Czasu Rzeczywistego I²C

Instrukcja obsługi czytnika. bibi-r21

Przykładowe zadanie egzaminacyjne dla kwalifikacji E.20 w zawodzie technik elektronik

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11

Ćwiczenie nr 123: Dioda półprzewodnikowa

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2

Politechnika Białostocka

Instrukcja obsługi wyświetlacza. bibi-w10

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Instrukcja obsługi czytnika MM-R32

Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie

Politechnika Białostocka

Ćw. III. Dioda Zenera

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI DIODY

Tranzystor. C:\Program Files (x86)\cma\coach6\full.en\cma Coach Projects\PTSN Coach 6 \Elektronika\Tranzystor_cz2b.cmr

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 123: Półprzewodnikowe złącze p-n

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 3 A

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9

Organizacja pamięci VRAM monitora znakowego. 1. Tryb pracy automatycznej

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

MultiTool instrukcja użytkownika 2010 SFAR

ĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

SILNIK INDUKCYJNY STEROWANY Z WEKTOROWEGO FALOWNIKA NAPIĘCIA

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

Uniwersytet Pedagogiczny

BADANIE DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Opis dydaktycznych stanowisk pomiarowych i przyrządów w lab. EE (paw. C-3, 302)

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Ćw. 2 Tranzystory bipolarne

Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych prądu stałego i przemiennego

Stanowisko pomiarowe do badania stanów przejściowych silnika krokowego

BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO

Ćwiczenie 4- tranzystor bipolarny npn, pnp

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

RFID. Czytniki RFID. Instrukcja rev. 1.01

Elektrolityczny kondensator filtrujący zasilanie stabilizatora U12 po stronie sterującej

TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)

SiMod-X-(A1) Przetwornik parametrów powietrza z interfejsem RS485 (MODBUS RTU) oraz wyjściem analogowym (dotyczy wersji -A1)

DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE

Politechnika Białostocka

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

M-1TI. PRECYZYJNY PRZETWORNIK RTD, TC, R, U NA SYGNAŁ ANALOGOWY 4-20mA Z SEPARACJĄ GALWANICZNĄ. 2

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI DIODA

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

Politechnika Białostocka

ARKUSZ EGZAMINACYJNY

ELEMENTY ELEKTRONICZNE. Układy polaryzacji i stabilizacji punktu pracy tranzystora

Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC

Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa

Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.

Ćwiczenie nr 4 Tranzystor bipolarny (npn i pnp)

Badanie diod półprzewodnikowych i elektroluminescencyjnych (LED)

LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ

PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Systemy i architektura komputerów

Konfiguracja parametrów sondy cyfrowo analogowej typu CS-26/RS/U

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Ćw. 7 Przetworniki A/C i C/A

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

Technik elektronik 311[07] moje I Zadanie praktyczne

STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych

Projekt efizyka. Multimedialne środowisko nauczania fizyki dla szkół ponadgimnazjalnych. Prawa Kirchhoffa. Ćwiczenie wirtualne

Biomonitoring system kontroli jakości wody

INSTRUKCJA OBSŁUGI. MINI MULTIMETR CYFROWY M M

Zbiór zadań z elektroniki - obwody prądu stałego.

EFEKT FOTOWOLTAICZNY OGNIWO SŁONECZNE

Co się stanie, gdy połączymy szeregowo dwie żarówki?

LI OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP II Zadanie doświadczalne

TRANZYSTORY BIPOLARNE

Własności i zastosowania diod półprzewodnikowych

T 2000 Tester transformatorów i przekładników

POLITECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH LABORATORIUM ELEKTRYCZNE. Obwody nieliniowe.

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie: "Właściwości wybranych elementów układów elektronicznych"

Ćw. 0 Wprowadzenie do programu MultiSIM

Liniowe stabilizatory napięcia

STANOWISKO DO SPALANIA BIOMASY (analiza energetyczna, analiza spalin)

RFID. Czytniki RFID. Instrukcja rev. 1.02

Badanie tranzystorów bipolarnych.

POMIARY REZYSTANCJI. Cel ćwiczenia. Program ćwiczenia

Temat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych

1. Instalacja systemu Integra 7

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b

TERMINAL DO PROGRAMOWANIA PRZETWORNIKÓW SERII LMPT I LSPT MTH-21 INSTRUKCJA OBSŁUGI I EKSPLOATACJI. Wrocław, lipiec 1999 r.

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Transkrypt:

Tester diod i tranzystorów Model M-0 do Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego DSM- Instrukcja uŝytkowania

Copyright 007 by MicroMade All rights reserved Wszelkie prawa zastrzeŝone MicroMade Gałka i Drożdż sp. j. -90 PIŁA, ul. Wieniawskiego Tel./fax: (7).. E-mail: mm@micromade.pl Internet: www.micromade.pl Wszystkie nazwy i znaki towarowe uŝyte w niniejszej publikacji są własnością odpowiednich firm.

M-0 Tester diod i tranzystorów. Przeznaczenie modelu Model M-0 jest przystawką do Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego DSM- umoŝliwiającą zdejmowanie charakterystyk prądowo-napięciowych diod półprzewodnikowych (równieŝ diod Zenera w kierunku przewodzenia i zaporowym) oraz rodziny charakterystyk wyjściowych tranzystorów n-p-n. Przystawka nie jest precyzyjnym miernikiem parametrów diod i tranzystorów. Stanowi natomiast doskonały przykład moŝliwości wykorzystania Dydaktycznego Systemu Mikroprocesorowego DSM- do wykonywania serii pomiarów. W celu samodzielnego uzyskania charakterystyki badanego elementu na ekranie monitora niezbędne jest opanowanie następujących zagadnień: sterowanie układu, sterowanie przetwornika C/A, pomiary z wykorzystaniem przetwornika A/C, przesyłanie danych po łączu RS, wyświetlanie charakterystyk w oknie systemu Windows. W pliku DSM-\Modele\M0\m0.txt są zebrane propozycje zadań do wykonania z wykorzystaniem modelu M-0.. Budowa i zasada działania Poszukiwana charakterystyka to zaleŝność płynącego przez element prądu od panującego na nim napięcia. System DSM- nie ma wejść umoŝliwiających bezpośredni pomiar prądu. W przystawce pomiar płynącego przez element prądu wykonywany jest poprzez pomiar spadku napięcia na rezystorze włączonym w szereg z badanym elementem. 0/007 MicroMade System DSM-

M-0 Tester diod i tranzystorów Model M-0 jest sterowany przez system DSM- za pośrednictwem dwu złącz: złącza wejść/wyjść cyfrowych oraz złącza wejśc/wyjść analogowych. Badany element zasilany jest z wyjścia przetwornika C/A systemu DSM- poprzez rezystor 00 Ω. Napięcia z obu końców rezystora podane są do wejść analogowych (IN0, IN) przetwornika A/C systemu. Pomiar tych dwu napięć pozwala ustalić zarówno napięcie panujące na badanym elemencie jak i płynący przez ten element prąd. Rodzina charakterystyk wyjściowych tranzystora to zestaw charakterystyk prądowonapięciowych złącza kolektor-emiter przy róŝnych wartościach prądu bazy. Pomiar tej rodziny charakterystyk jest moŝliwy dzięki umieszczeniu na przystawce sterowanego źródła prądowego zasilającego bazę badanego tranzystora. Prąd źródła jest sterowany liniami PA0...PA układu za pośrednictwem prostego -bitowego przetwornika C/A umieszczonego na przystawce. Port A układu powinien pracować jako port wyjściowy w trybie 0. Prąd bazy tranzystora wynosi 0, gdy wszystkie linie sterujące są w stanie 0. KaŜdy wzrost podanej na port A wartości liczbowej o powoduje wzrost prądu bazy o ok. 0 µa. Maksymalną wartość prądu bazy uzyskuje się, gdy wszystkie linie (PA0...PA) są ustawione w stan (wartość liczbowa = ). Prąd bazy wynosi wtedy ok. 0 µa. Pomiar charakterystyki polega na wpisywaniu kolejnych wartości (od 0 do ) do przetwornika C/A i mierzeniu napięć panujących na wejściach IN0 i IN. W ten sposób uzyskuje się kolejne punkty badanej charakterystyki napięciowo-prądowej. Jeśli, odczytane z przetwornika A/C, liczby wynoszą odpowiednio N0 i N, to wartość napięcia panującego na badanym elemencie i płynącego prądu moŝna uzyskać ze wzorów: U = ( N / ) * V I = {[ ( N0 - N ) / ] * V } / 00 Ω. Oprogramowanie Przykładowe programy (dioda.asm i tranzyst.asm) demonstrujące sposób wykorzystania modelu M-0 znajdują się w katalogu DSM-\Modele\M0. Programy te uruchamiane w systemie DSM- współpracują z programami Dioda.exe i Tranzystor.exe uruchamianymi na komputerze. Kody źródłowe tych programów (Dioda.cpp i tranzystor.cpp) znajdują się w katalogu DSM-\Modele\MO\Source. Program dioda.asm mierzy charakterystykę diody (lub innego elementu końcówkowego). Dla kaŝdego punktu pomiarowego wykonywane są pomiary dwóch napięć: napięcia na wyjściu przetwornika C/A, napięcia na badanym elemencie. Wyniki pomiarów przesyłane są przez łącze RS do komputera. Program na komputerze przelicza wyniki (oblicza prąd na podstawie spadku napięcia na rezystorze Model DSM- 0/007 MicroMade

M-0 Tester diod i tranzystorów włączonym w szereg z mierzonym elementem) i wykreśla na ekranie zmierzoną charakterystykę. Program tranzyst.asm mierzy rodzinę charakterystyk tranzystora dla prądów bazy. Dla kaŝdego punktu pomiarowego wykonywane są pomiary dwóch napięć: napięcia na wyjściu przetwornika C/A, napięcia na badanym elemencie. Wyniki pomiarów przesyłane są przez łącze RS do komputera. Program na komputerze przelicza wyniki i wykreśla na ekranie rodzinę charakterystyk tranzystora. Aby uruchomić odpowiednią parę programów naleŝy: Do systemu DSM- przesłać program dioda.hex lub tranzyst.hex i uruchomić go. Na komputerze uruchomić odpowiedni program Dioda.exe lub Tranzystor.exe. Programy te czekają na dane wysłane z DSM- i po ich odebraniu przedstawiają wyniki w postaci wykresów. Umieścić diodę lub tranzystor w podstawce modelu M-0. Nacisnąć klawisz [Enter] (klawiatury x ) systemu DSM-. Spowoduje to wykonanie przez DSM- pomiarów charakterystyki badanego elementu i przesłanie ich przez złącze COM systemu do komputera. Aby zmierzyć inny element naleŝy po jego umieszczeniu w podstawce ponownie nacisnąć klawisz [Enter] systemu DSM-. Nowa charakterystyka zostanie zmierzona i przesłana, a program na komputerze automatycznie ją wykreśli. 0/007 MicroMade System DSM-

D C B A PA7 PA PA PA PC7 PC PC PC PB7 PB PB PB S 0 0 9 7 9 7 D00/GK PA PA PA PA0 PC PC PC PC0 PB PB PB PB0 PA0 PA PA PA 0 UA 9 UC UB C 00n R 0K_% R 0K_% R 0K_% R 0K_% R 0K_% R R0 R R 00k R R V C 00n R7 T BC7 R 00/0.W R9 00/0.W S 0 IN0 IN 9 7 S R 0k R k R7 k D00/GK R k OUT C 00u/ C 00u/ V DIPP Tytuł: DSM- Tester diod i tranzystorów Symbol: Model M0 Nr rys.: REV. DM0 D Data: Plik: Arkusz: 9-May-007 D:\MM\MM_PROT\DSM\M0\DM0_D.SCH z D C B A G 7 V R9 0k R0 0k R 0k UD R 0k UB LMD 7 UA LMD