CZĘŚĆ II OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Transkrypt

1 CZĘŚĆ II OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Opis przedmiotu zamówienia: ( Parametr wymagany oznacza, że wykonawca musi zaoferować urządzenia o parametrach co najmniej wymaganych, w przeciwnym wypadku jest oferta zostanie odrzucona na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Prawo zamówień publicznych.) CZĘŚĆ I Dip Coater. System umożliwiający osadzanie z pojedynczego naczynia na małych próbkach- 1 sztuka. Wymagania minimalne parametry zestawu: System sterowany komputerowo (stacja robocza jeśli system tego wymaga), System wyposażony w klips (uchwyt) na pojedynczą próbkę, Szybkość zanurzania w przedziale: mm/min, System musi umożliwiać pracę z próbkami o wymiarach: wysokość mm, szerokość mm, grubość 0,15-3 mm oraz o wadze do 150 g, System musi mieć możliwość rozbudowy o kolejny uchwyty, Zestaw musi zawierać: system informatyczny, instrukcję obsługi, złącze USB i przewód oraz naczynie o wymiarze nie mniejszym niż 70 mm. Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób. CZĘŚĆ II Spin Coater. Powlekacz obrotowy do wytwarzania cienkich warstw - 1 sztuka. Zestaw zawiera: obrotowy stolik, wąż do połączenia z próżnią, Maksymalna prędkość obrotowa rpm, system wyposażona w wyświetlacz LCD oraz pokrętło sterujące, Możliwość sterowania prędkością obrotową w pełnym zakresie o ±1 obr., Możliwość zapisów co najmniej 8 programów składających z dwóch procedur zwiększania/zmniejszania prędkości oraz dwóch okresów stałego wirowania. Programy muszą mieć co najmniej czas 8 minut. System wyposażony w pompę próżniową ze wszystkimi wymaganymi dodatkowymi oprzyrządowaniem oraz odpowiedni zasilacz jeśli jest wymagany. wymagane elementy podłączeniowe, Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób. System typu Langmuir-Blodgett- 1 sztuka. CZĘŚĆ III

2 Zestaw zawiera: Interfejs do sterowania jednostką oraz akcesoriami. Wbudowany wyświetlacz LCD. Klawiatura membranowa do sterowania manualnego. Interfejs USB. Sonda do pomiaru temperatury subfazy. Interfejs sondy ph oraz mieszadła magnetycznego (mieszadło nie wliczone). Wejście analogowe Rama z symetrycznie poruszającymi się barierami o wymiary nie mniejszych niż 480x225x290 mm 3. Maksymalna szybkość ruchu barier 270 mm/min. Rozdzielczość ruchu barier nie gorsza niż 0.01 mm/min Zestaw wyposażony w wagę z płytką Wilhelmiego Pt i papierowymi. Maksymalny udźwig nie mniej niż 1 g. Czułość nie gorsza niż 4 un/m. Wanna Langmuir-Blodgett. Jednoczęściowa z nieporowatego PTFE o powierzchni nie mniejszej niż 98 cm 2 (190x50x3 mm 3 ). Studnia zanurzeniowa (20x30x30 mm3). Maksymalny rozmiar zanurzanej próbki (T3xW26xH26 mm 2 ). Objętość subfazy nie mniej niż 55 ml. Możliwość zmiany na inne wanny Para barier hydrofilowych wykonanych z polioksymetylenu. Układ Dipper musi być sterowany komputerowo. Powinien być umieszczony na niezależnym standzie, z możliwością dopasowania wysokości. Uchwyt mocujący próbki. Przesów próbki nie mniejszy niż 80 mm. Zakres szybkości zanurzania w przedziale: mm/min. Oprogramowanie systemu musi współpracować z programami operacyjnymi typu Windows 8. System musimy zawierać zestaw startowy w tym odważnik kalibracyjny, poziomnicę i 20 szt. papierków Wilhelmiego. Przynajmniej jedno naczynko szklane oraz jedną strzykawka o pojemności 50 ul. Przynajmniej 100 szkiełek do osadzania. Pędzel do czyszczenia. Instruktaż stanowisko z obsługi pieca dla co najmniej dwóch osób. CZĘŚĆ IV Piec muflowy (ceramiczna mufla) z programowaną zmianą temperatury- 2 sztuki 1. Temperatura maksymalnie nie mniej niż 1300 C z możliwością nastawu temperatury co 1 C, 2. Wymiary komory roboczej nie mniej niż szer. x wys. x gł. 240 mm x 200 mm x 250 mm, 3. Objętość komory nie mniej niż 11 dm³, 4. Wymiary gabarytowe pieca nie większe niż szer. x wys. x gł. 290 mm x 310 mm x 460 mm (wymiary są podyktowane warunkami lokalowymi laboratorium),

3 5. Moc pieca nie większa niż 3,5 kw, 6. Masa nie większa niż 85 kg, 7. Napięcie zasilania 230 V 50 Hz, 8. Czas rozgrzewania pieca do 1000 C nie dłuższy niż 35 min, 9. Piec wyposażony w układ sterowania temperatury typ PID, który umożliwia zaprogramowanie krzywej wygrzewania złożonej z co najmniej 9 etapów na jeden etap składa się temperatura zadana, czas dojścia oraz czas przetrzymania. Możliwość zapisania co najmniej 9 programów w pamięci programatora. Standardowe funkcje sterownika: programowany czas, opóźnienia załączenia, czas wygrzewania, automatyczna kompensacja zimnego końca termopary, kontrola przekroczenia zakresu pomiarowego, kontrola rozwarcia obwodu czujnika, kontrola braku przyrostu temperatury przy pełnej moc, wskazanie temperatury rzeczywistej, dioda sygnalizująca działanie grzałki pieca, liniał wskazujący aktualny procent mocy. Czas trwania programu 0 99 h, 59 m 10. Piec musi posiadać zabudowany w stropie pieca kominek wylotowy gazów. 11. Instruktaż stanowisko z obsługi pieca dla co najmniej dwóch osób. CZĘŚĆ V Spektrometr FTIR- 1 sztuka Źródło promieniowania: źródło ceramiczne z azotku krzemu na zakres co najmniej cm -1 nie wymagające chłodzenia wodą. Monolityczna konstrukcja zapewniająca brak migracji punktu aktywnego. Średni czas życia > 10 lat Możliwość rozbudowy o automatyczny 4-pozycyjny układ przełączający: dwa źródła wbudowane port emisyjny dla źródła zewnętrznego z przejściem przez układ regulacji średnicy wiązki ("J-stop") detektor InGaAs do modułu Ramana Dzielnik wiązki (beamsplitter): Ge/KBr na zakres spektralny nie mniejszy niż cm -1. Możliwość rozbudowy o dodatkowe beamsplittery gwarantujące pokrycie zakresu spektralnego co najmniej cm -1. Automatyczne rozpoznawanie rodzaju beamsplittera przez system. Miejsce na przechowanie 2 zapasowych beamsplitterów wewnątrz aparatu w głównym przedziale optyki osuszanym i przedmuchiwanym. Możliwość rozbudowy na miejscu u użytkownika o automatyczny zmieniacz 3 beamsplitterów kompatybilny z dzielnikami używanymi bez zmieniacza. Detektory: DLaTGS z okienkiem KBr na zakres cm -1 Trójpozycyjny automatyczny układ zmiany detektorów; możliwość rozbudowy o dodatkowe detektory System obsługujący maksymalnie co najmniej 5 wbudowanych, automatycznie przełączanych detektorów Zdolność rozdzielcza lepsza niż 0.09 cm -1 (pomiar szerokości połówkowej pasma CO)

4 Interferometr Michelsona 90º, nie wymagający zasilania sprężonym powietrzem, odporny na wibracje i wpływ zmian temperaturowych, justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania; mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru; gwarancja na interferometr: 5 lat System automatycznego rozpoznawania z poziomu oprogramowania akcesoriów (co najmniej: ATR Golden Gate, Miracle, SplitPea, DRITFS, Specular Reflectance, PAS) oraz elementów systemu takich jak detektory i beamsplittery Możliwość rozbudowy na dalsze zakresy spektralne (zakres maksymalny nie gorszy niż cm -1 ) i do pracy z technikami łączonymi: GC/IR, TG/IR, FT-Raman, mikroskopia IR Skanowanie liniowe z szybkością regulowaną w zakresie co najmniej 2-60 mm/s Możliwość rozbudowy do skanowania krokowego ("step-scan") zarówno z zatrzymaniem lustra (modulacja amplitudy, pomiary czasowo-rozdzielcze) jak z oscylacją lustra wokół zatrzymanej pozycji (modulacja fazy - w tym pomiary fotoakustyczne z profilowaniem w głąb próbki) oraz z modulacją wielokrotną Apertura regulująca moc wiązki, o powtarzalnej regulacji średnicy w zakresie 0-100% co 1% Elementy układu optycznego montowane stabilnie na ławie optycznej za pomocą kołków pozycjonujących Monolityczne zwierciadła w układzie optycznym pokrywane złotem Możliwość rozbudowy o układ wejścia-wyjście promieniowania obejmujący co najmniej: wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w prawo wyprowadzenie wiązki na zewnątrz w lewo wprowadzenie wiązki skolimowanej wprowadzanie wiązki zogniskowanej przez układ aperturowania wiązki Poziom szumów (amplituda międzyszczytowa) nie przekraczający 7.9 x 10-6 Abs (sygnał/szum : 1) dla detektora DLaTGS, rozdzielczości 4 cm -1 przy pomiarze 1 min Maksymalna szybkość zbierania danych nie gorsza niż 65 skanów/s dla rozdzielczości 16 cm -1 (odstęp danych 8 cm -1 ) z opcją rozbudowy do co najmniej 90 skanów/s Układ optyczny szczelny i osuszany z oddzielającymi przedział próbek okienkami KBr z powłoką niehigroskopijną Możliwość rozbudowy o zastępujące okienka KBr automatycznie otwierane/zamykane przesłony między przedziałem próbek a wnętrzem spektrometru Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu osuszonym gazem Duża komora pomiarowa o wymiarach podstawy co najmniej 21 x 26 cm z wysokością wiązki 3.5" ponad podstawą; proste zdejmowanie pokrywy przedziału próbek bez używania narzędzi umożliwiające wygodną pracę w przypadku używania różnorodnych akcesoriów Przyciski do szybkiego uruchomienia pomiaru w poszczególnych modułach pomiarowych

5 Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce: folia polistyrenowa o grubości ok. 38µm (1.5mil) filtr szklany typu NG11 Wbudowana przystawka diamentowa ATR z kryształem monolitycznym, nie zajmująca przedziału pomiarowego i z funkcją automatycznego przełączania wiązki między przedziałem próbek i przystawką Wyposażenie do pomiarów metodą pastylek w KBr: prasa hydrauliczna, pastylkarka, moździerz agatowy, uchwyt do pastylek, proszek KBr 100g Wyposażenie do pomiarów transmisyjnych cieczy, past, olejów itp.: oprawka do płytek solnych wraz z okienkami o średnicy 25mm: KBr - 6szt., ZnSe - 2 szt., rozbieralna kuweta do pomiaru cieczy z kompletem przekładek od 0.05 do 1mm, strzykawkami do napełniania, dwoma kompletami okienek z KBr i jednym z CaF 2 ; karty jednorazowe z okienkami z polietylenu i PTFE - po 25 szt. Przystawka do pomiarów cienkich warstw metodą "grazing angle" ATR: kąt padania regulowany w zakresie 60-65, półsferyczny kryształ Ge, podstawa do zamontowania w przedziale pomiarowym FTIR Możliwość rozbudowy o polaryzator z automatyzacją regulacji kąta obrotu i wprowadzenia/usunięcia polaryzatora z wiązki Komunikacja aparatu z jednostką sterującą przez szybki port USB 2.0 Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim zgodny z systemem operacyjnym Windows 7 32-bit i 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows lub przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Wymagana charakterystyka: - logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu, - funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału - podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) - dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem z możliwością ich przenoszenia (eksportu) do zewnętrznych programów w postaci danych ASCII - funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm - bezwględnej i względnej - funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt - przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca - tworzenie własnych bibliotek użytkownika, - moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację

6 składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników - moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników - w zestawie biblioteki widm wysokiej rozdzielczości obejmujące co najmniej widm w tym co najmniej widm polimerów wraz z przewodnikiem analizy widm IR polimerów - moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej co najmniej następujące: do analiz ilościowych * Prawo Lamberta-Beera * CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) do analiz klasyfikacyjnych * Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm) * Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa) * QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych) - moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji, - moduł spektralnej interpretacji widm, - automatyczna korekcja zawartości CO 2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych - wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru), - automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu, - aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu, - wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów, - archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu Zestaw komputerowy klasy PC parametrach minimalnych: procesor Intel Core i5, 4GB RAM, 500 GB HDD, DVD-RW, karta sieciowa, klawiatura, mysz optyczna, monitor LCD 19", Windows 7 Professional. Obudowa, klawiatura i mysz bezprzewodowa w kolorystyce zgodna z monitorem; kolorowa drukarka laserowa. Pomocniczy system automatycznego przygotowania próbki do obrazowani MALDI zapewniający wysoką jakość i powtarzalność uzyskiwanych wyników (minimalna rozdzielczość boczna 50 µm uzyskiwana na tkance), który musi współpracować ze spektrometrami MALDI-TOF firmy Bruker z laserem smartbeam oraz jego oprogramowaniem: generowanie aerozolu matrycy przez odparowanie wibracyjne, nanoszenie matrycy na tkankę w kontrolowanych warunkach, przygotowanie matrycy w następujących, powtarzających się krokach: a. nanoszenie warstwy matrycy na tkankę, b. inkubacja w atmosferze obojętnej, c. częściowe lub całkowite schnięcie,

7 d. nanoszenie kolejnej warstwy matrycy, czujnik optyczny monitorujący światło rozproszone na warstwie matrycy umożliwiający bieżącą kontrolę wszystkich istotnych parametrów: czas nanoszenia, przerwy w nanoszeniu, grubość warstwy matrycy, wilgotność oraz szybkość schnięcia, cały proces musi przebiegać w całości automatycznie, zestaw akcesoriów: płytka typu MTP Slide Adapter II na 2 szklane płytki z preparatami opakowanie minimum 100 szt. szklanych płytek na preparaty Oprogramowania do obsługi systemu do obrazowania oraz pakiet oprogramowania do analiz polimerów i pakiet oprogramowania do analiz ko-polimetrów z wykorzystaniem wyników ze spektrometrii mas (MALDI oraz LC/MS. Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie w ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety, koszt noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym samym modelu urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania. CZĘŚĆ VI DLS Urządzenie do pomiarów wielkości cząstek (metodą dynamicznego rozpraszania światła -Dynamic Light Scattering) + Zeta Potential - 1 sztuka 1. Pomiar wielkości cząstek: Pomiar metodą dynamicznego rozpraszania światła (DLS) Zakres pomiarowy co najmniej od 0,3 nm do 10 μm Zakres stężeń badanych roztworów co najmniej od 0,1 ppm do 40 % wag./obj. Czułość pomiaru: 0,1 mg/ml dla białka 15 kda Kąt pomiaru: nie mniejszy niż 160 stopni (rozpraszanie wsteczne) Pomiar w kuwetach jednorazowych, zapas kuwet na minimum 100 pomiarów Możliwość pomiaru w kuwetach szklanych, co najmniej jedna kuweta w zestawie 2. Pomiar potencjału zeta: Technika pomiaru: PALS Zakres potencjału zeta co najmniej od 300mV do +300mV Zakres wielkości cząstek przy pomiarze potencjału zeta co najmniej 5 nm 100 μm. Pomiar w kuwetach całkowicie jednorazowych (włączając elektrody), zapas kuwet na minimum 100 pomiarów. 3. Pomiar masy cząsteczkowej: Pomiar metodą Statycznego Rozpraszania Światła Pomiar w zakresie od 1 x 10 3 do 2 x 10 7 Da 4. Inne cechy: Źródło światła: laser czerwony (długość fali z zakresu nm).

8 Detektor: fotodioda lawinowa. Pomiar w zakresie temperatur od 0 do 90 o C Urządzenie musi mieć możliwość współpracy z systemami GPC/SEC i FFF. 5. System informatyczny: Oprogramowanie sterujące pracujące w środowisku Windows Rozkłady wielkości cząstek i potencjału zeta w wersji graficznej i tabelarycznej Możliwość eksportu danych do innych aplikacji Możliwość tworzenia i drukowania własnych raportów Możliwość prowadzenia pomiaru w użyciem standardowych procedur pomiarowych (SOP) Automatyczny dobór parametrów pomiarów przez urządzenie w zależności od intensywności natężenia rozpraszanego światła Możliwość obróbki danych bez konieczności łączenia się z aparatem, licencja wielostanowiskowa 7. Stacja sterująca umożliwiającą obsługę urządzenia z oprogramowaniem zarządzającym urządzeniem i pozwalającym na wykorzystanie powyższego oprogramowania. Pakiet biurowy z dożywotnią licencją (arkusz kalkulacyjny, edytor tekstu, program do prezentacji wyników). Program antywirusowy z co najmniej trzyletnią licencją. Dysk przenośny o pojemności nie mniejszej niż 1 TB z gniazdem USB 3.0. Pamięć przenośna o pojemności minimum 64 GB. Systemy informatyczne w stacji sterującej muszą być w języku polskim. Przedłużacz minimum 3 metrowy z minimum 3 gniazdkami z uziemieniem. 8. Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie w ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety, koszt noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym samym modelu urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania. CZĘŚĆ VII Spektrofotometr UV-VIS- 1 sztuka. Wymagane minimalne parametry zestawu: 1. Spektrofotometr jednowiązkowy z panelem sterowniczym z ekranem LCD. 2. Źródło światła: lampa ksenonowa. 3. Minimalny zakres długości fali: nm. 4. Szerokość spektralna: poniżej 3,25 nm. 5. Dokładność ustawienia długości fali: ± 1 nm. 6. Powtarzalność ustawienia długości fali: ± 0,5 nm. 7. Zakres fotometryczny (pomiarowy) od - 3,0 do +3,0 A, od 0,1 do 200 % T. 8. Dokładność fotometryczna ± 0,003 A przy 3,000 A. 9. Stabilność +/- 0,001 A na godzinę. 10. Statyw na kuwety obrotowy co najmniej na 7 kuwet. 11. Posiadanie systemu autodiagnostyki z raportem w standardzie GLP. 12. Wymagane zaprogramowane metody pomiarowe aparatu:

9 pomiar przy jednej długości fali (absorbancja, transmitancja, wyznaczanie stężenia w oparciu o współczynnik) skanowanie (widma zmienna szybkość skanowania, identyfikacja pików i ich parametrów, drukowanie skanów) kinetyka reakcji wyznaczanie szybkości reakcji tworzenie krzywych standardowych w oparciu o minimum 10 standardów w kilku (minimum trzech) powtórzeniach, wybór metody dopasowania krzywej, zapisywanie krzywej do późniejszego wykorzystania. pomiar przy wielu długościach fali wraz z wprowadzaniem równań do przeliczania zmierzonych wartości oznaczanie stężenia kwasów nukleinowych (DNA, RNA, oligonukleotydy) wraz z wyznaczaniem czystości preparatów zapis i przechowywanie metod pomiaru zdefiniowanych przez użytkownika (nie mniej niż 18 metod) 13. Bezpośrednie wyjście na drukarkę, umożliwiające wydruk wyników pomiarów oraz wykresów (graficznie) 14. Możliwość eksportu wyników do arkusza kalkulacyjnego 15. Możliwość stosowania kuwet standardowych oraz do pomiaru małych objętości próbki (5 μl przy drodze optycznej 0,5 cm, 70 μl przy drodze optycznej 10 mm) 16. System do odczytywania i analizy danych z pakietem biurowy z dożywotnią licencją: arkusz kalkulacyjny, edytor tekstu, program do prezentacji. Monitor o przekątnej 24 cale o minimalnej rozdzielczości 1920x1200 piksela, klawiatura i mysz. Program antywirusowy z co najmniej trzy letnią licencją. Dysk przenośny o pojemności nie mniejszej niż 1 TB z gniazdem USB 3.0. Pamięć przenośna o pojemności minimum 32 GB. 17. Zewnętrzne oprogramowanie kompatybilne z systemem operacyjnym Windows XP umożliwiające sterowanie urządzeniem oraz rozszerzające możliwości spektrofotometru w zakresie: skanowania (wyznaczanie pochodnych skanów, nakładanie i odejmowanie widm, ilościowa analiza pików) kinetyki (kinetyka równoległa i szeregowa, wyznaczanie Km i Vmax, monitorowanie reakcji przy wielu długościach fali, nakładanie krzywych wynikowych, obróbka matematyczna danych - Michaelis-Menten, Lineawaver-Burke, Eadie Hofstee, Hanes Woolf, współczynnik Hilla) oznaczeń ilościowych (krzywe standardowe wyznaczane w oparciu o minimum 20 standardów w co najmniej 10 powtórzeniach), moduł analizy frakcji (graficzna prezentacja danych ze zmierzonych frakcji zebranych do kolektora) moduł pomiarów w odstępach czasowych (pomiar absorbancji w czasie rzeczywistym jednocześnie przy wielu długościach fali, definiowanie czasu trwania pomiaru i odstępów pomiędzy pomiarami, ilościowa analiza pików, nakładanie wykresów) moduł pomiaru wzrostu kultury komórkowej moduł wyznaczania Tm. 18. Posiadać możliwość rozbudowy o: pojedyncze oraz obrotowe wielopozycyjne (na minimum 6 kuwet) statywy termostatowane: elementem Peltier i wodą,

10 wielopozycyjne obrotowe statywy do pomiaru w kuwetach o dłuższej drodze optycznej (do 50 mm), statywy do pomiaru w kuwetach standardowych i cylindrycznych o drodze optycznej 100 mm, kuwety do podłączenia systemu HPLC, moduł do automatycznego zasysania próbek do kuwety. 19. Zestaw startowy materiałów zużywalnych: 2000 sztuk kuwet z tworzywa PS, 10 mm, 0,8 ml, zestaw znaczników fluorescencyjnych typu Cy, zestaw powinien umożliwiać barwienie białek czterema znacznikami typu Cy. 20. Instruktaż stanowiskowy z obsługi systemu dla co najmniej dwóch osób. CZĘŚĆ VIII Spektrofluorymetr z wyposażeniem- 1 sztuka Wymagania minimalne parametry zestawu: 1. Spektrofluorymetr Tryb pomiarowy: fluorescencja, luminescencja i fosforescencja Rozdzielczość nie gorsza niż 1,0 nm Dokładność dł. fali nie gorsza niż 1 nm Szybkość skanowania: do nm/min Szybkość ustawiania wybranej dł. fali: nm/min Przedział odczytu długości fali nie gorszy niż 0.2 nm (Data interval-wavelength) Próbkowanie sygnału nie gorsze niż s (Minimum data interval - time) Źródło promieniowania: lampa ksenonowa o mocy nie mniejszej niż 150W Monochromator wyposażony w rytą, korygującą odchylenia wklęsłą siatkę dyfrakcyjną nie gorszą niż 900linii/mm i jasności F 2.2 zapewniających duży poziom energii sygnału Czułość (stosunek sygnału do szumu) nie gorsza niż 15000: 1 Zakres spektralny po stronie wzbudzania i emisji nie gorszy niż 200 do 730 nm z możliwością rozszerzenia opcjonalnym fotopowielaczem do 900 nm. Zmienna szerokość szczeliny po stronie wzbudzania regulowana w min. 5 krokach: 1, 2.5, 5, 10 i 20 nm Zmienna szerokość szczeliny po stronie emisji regulowana w min. 5 krokach: 1, 2.5, 5, 10 i 20 nm Poziome wzbudzanie próbki umożliwiające wykonywanie pomiarów z ilości nieprzekraczającej 1 ml roztworu przy użyciu standardowej 10 mm kuwetki o objętości 3.5 ml Zakres dynamiczny pomiaru: 6 lub więcej rzędów wielkości Możliwość wykonywania pomiarów fosforescencji z czasem życia nie dłuższym niż 1 ms bez dodatkowych akcesoriów. Aparat wyposażony w zestaw do kwantowej korekcji widma zarówno po stronie wzbudzania jak też emisji: (Rodamina B, kuweta trójkątna, diffuser)

11 Możliwość rozbudowy aparatu o co najmniej następujące akcesoria: kulę całkującą do badania wydajności kwantowej, zestaw do kwantowej korekcji widma w zakresie nie gorszym niż nm, przystawkę do wykonywania pomiarów w temperaturze ciekłego azotu, przystawkę do próbek stałych, automatyczne podajniki dużej ilości próbek (sipper, auto sampler), minimum 6- pozycyjny podajnik kuwet, przystawkę termostatowaną do odczytu mikropłytek. Komunikacja pomiędzy spektrofluorymetrem i komputerem kabel USB zapewniający szybką transmisję danych. Oprogramowanie pracujące w środowisku Windows 7 umożliwiające: o Skanowanie w funkcji dł. fali. Możliwość wykonywania widm: fluorescencji, fosforescencji, luminescencji oraz widm synchronicznych. Korekcja widm przy pomocy Rodaminy. o Skanowanie w funkcji czasu. Możliwość wykonywania widm: fluorescencji fosforescencji. o Pomiary fotometryczne. Obliczenia ilościowe dla: fluorescencji, fosforescencji i luminescencji wykonywane: przy określonej długości fali, na podstawie pola powierzchni piku lub jego wysokości, stosunku (ratio) lub metodą pochodnej. Pomiar fosforescencji z czasem życia 1 ms. Możliwość wykreślenia krzywej wzorcowej w postaci linii przechodzącej przez wszystkie punkty odpowiadające roztworom wzorcowym, lub w postaci krzywej regresji, obliczonej za pomocą metody najmniejszych kwadratów. Możliwość wykonywania obliczeń statystycznych, w tym: obliczenia wartości średniej z uzyskanych pomiarów, wartości odchylenia standardowego (SD) i współczynnika zmienności (CV). o Wykonywanie widm trójwymiarowych w funkcji dł. fali z funkcją wyświetlania tabeli pików o Wykonywanie widm trójwymiarowych w funkcji czasu z funkcją wyświetlania tabeli pików. o Automatyczny pomiaru czułości. Funkcja umożliwiająca wybór optymalnych warunków wzbudzania i emisji dla danej próbki z automatycznym odrzucaniem widm Ramanowskich. o Przetwarzanie danych: automatyczne odczytanie warto ci fotometrycznej dla punktu wskazywanego aktualną pozycją kursora, automatyczne wykrywanie pików i dolin, zmiana skali wykresu zmierzonego widma, wygładzanie widma w celu wyeliminowania szumów, uzyskiwanie widma pochodnej (do czwartego rzędu), działania arytmetyczne na widmach (+, -, x, ), obliczanie pola powierzchni wybranego piku, możliwość konwersji piku do formatu tekstowego ASCII (*.txt) lub formatu JCAMP-DX (*.dx) oraz zapisywanie obrazu widma i krzywej kalibracyjnej do pliku Windows meta file (*.wmf), możliwość przenoszenia danych do programu Microsoft Excel i Microsoft Word. W przypadku przenoszenia danych z pomiaru widm trójwymiarowych do MS Excel dane muszą być wyświetlane w postaci 3 kolumn (wartość wzbudzania, wartość emisji oraz wartość zmierzona)

12 o wykonywanie pomiaru wartości intensywności fluorescencji jednocześnie przy dwóch dł. fali i obliczanie stężenia wewnątrzkomórkowych jonów wapnia. o Dodatkowe oprogramowanie umożliwiające ustalanie kroku wzrostu lub obniżania się temperatury przystawki Peltiera. Możliwość oglądania jednocześnie wykresów zmiany temperatury w zależności od czasu dla przystawki oraz sondy temperaturowej Dokumentacja IQ i OQ w języku polskim. Certyfikat CE 2. Termostatowana elementami Peltiera przystawka umożliwiająca termostatowanie i mieszanie. Przystawka umożliwiająca ustawienie dowolnej temperatury z zakresu nie gorszego niż C do C oraz programowanie szybkości wzrostu lub obniżania się temperatury w podanych przedziałach czasowych. Możliwość mieszania badanej próbki przy pomocy mieszadła magnetycznego. Sonda temperaturowa pokazująca i mierząca temperaturę w kuwecie Szybkość zmiany temperatury nie gorsza niż C/min Precyzja temperatury nie gorsza niż +/ C Dokładność temperatury nie gorsza niż +/ C w zakresie od 0 0 C do C Powtarzalność temperatury lepsza od C Kontroler temperatur TC1 Cyrkulator do odprowadzania ciepła Mieszadło magnetyczne Króciec do przedmuchiwania komory pomiarowej Płaszcz wyposażony w szybki kwarcowe zabezpieczający kuwetę przed szronieniem 3. Holder z kuwetą przepływową o pojemności nie większej niż 100 Lz kuwetą przepływową o poj. nie większej niż 20 L umożliwiający współpracę spektrofluorymetru z systemem chromatografii cieczowej. Łączna ilość używanej próbki (kuweta + wężyk): nie większa niż 60 L. 4. Kuweta kwarcowa 10 mm, objętość 3,5 ml- 2 sztuki. 5. Mikrokuweta kwarcowa o objętości nie większej niż 50 µl 6. Uchwyt na filtry 7. Instruktaż specjalistyczny dla co najmniej dwóch osób. W przypadku szkolenie w ośrodku referencyjnym cały koszt szkolenia pokrywa Wykonawca (diety, koszt noclegu i dojazdu). Instruktaż powinien być przeprowadzony na tym samym modelu urządzenia oraz tej samej wersji oprogramowania. 8. Zestaw komputerowy umożliwiający obsługę urządzenia o parametrach nie gorszych niż: procesor: Intel Core i3-2100, 3.10GHz lub równoważny, RAM: 8GB, Dysk twardy HDD: 500GB, Nagrywarka DVD, 18.5 Kolorowy Monitor, Klawiatura, Mysz optyczna,

13 Czytnik kart flash wewnętrzny 3.5'', Windows 7 Professional 32 bit. lub równoważny, oprogramowanie do obróbki danych typu Microsoft Office, Wymagany jest specjalistyczny instruktaż dla co najmniej dwóch osób w miejscu dostawy, z zastrzeżeniem, iż jeżeli producent wymaga szkolenia w swoim ośrodku, to Wykonawca zobowiązany jest do organizacji takiego szkolenia (koszty dojazdu i pobytu szkolonych pokrywa wykonawca) WARUNKI ODBIORU: -Specjalistyczny instruktaż dla co najmniej dwóch osób w miejscu dostawy, z zastrzeżeniem, iż jeżeli producent wymaga szkolenia w swoim ośrodku, to Wykonawca zobowiązany jest do organizacji takiego szkolenia (koszty dojazdu i pobytu szkolonych pokrywa wykonawca) -Dostawca dostarczy instrukcję obsługi urządzenia napisaną w języku angielskim. -Gwarancja na dostarczony system powinna obejmować co najmniej 24 miesiące. Dotyczy wszystkich części: Wymagana jest gwarancja na okres co najmniej 24 miesiące od daty podpisania umowy. Oferowany sprzęt musi być fabrycznie nowy i w pełni sprawny, musi odpowiadać standardom jakościowym i technicznym, wynikającym z funkcji i przeznaczenia, musi być wolny od wad materiałowych, konstrukcyjnych i prawnych, musi spełniać wymagania określone przez Zamawiającego w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia oraz nie może być obciążony żadnymi prawami na rzecz osób trzecich, a także nie może być prototypem. Przedmiot zamówienia obejmuje również: -instruktaż dwóch osób, koszty dojazdu, hotelu i diet, -materiały eksploatacyjne w okresie gwarancji, -konserwacje oraz wszelkie niezbędne czynności dla prawidłowego działania urządzenia w okresie gwarancji. Wraz ze sprzętem wykonawca dostarczy istotne wytyczne dotyczące montażu, rozruchu i obsługi w języku polskim