8. UKŁADY UZALEŻNIEŃ CZASOWYCH

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "8. UKŁADY UZALEŻNIEŃ CZASOWYCH"

Transkrypt

1 8. UKŁADY UZALEŻNIEŃ CZASOWYCH 8.1. CEL ĆWICZENIA Zagadnienia związane z pomiarem czasu stanowią ważną klasę zadań realizowanych przez układy cyfrowe. Do typowych zaliczamy: zapewnienie odpowiedniego czasu trwania impulsu sterującego, realizację odstępu czasowego między dwoma impulsami, generację ciągu impulsów, zapewnienie reakcji układu na impuls o określonym czasie trwania itp. Układy realizujące powyższe zadania można podzielić na dwie klasy: układy licznikowe, dokonujące pomiaru czasu przez zliczane ilości impulsów o znanym czasie trwania, układy relaksacyjne, w których pomiar czasu jest wykonywany techniką analogową, najczęściej poprzez dobór stałych czasowych układu RC, natomiast wejście i wyjście układu odpowiadają standardowi sygnałów cyfrowych. Przedmiotem ćwiczenia jest zbadanie układów z drugiej grupy. Do realizacji ćwiczenia wykorzystywany jest modułowy zestaw elementów logicznych UNILOG PODSTAWOWE WIADOMOŚCI TEORETYCZNE Układy całkujące i różniczkujące Wykonane za pomocą elementów R i C układy całkujące i różniczkujące realizują odpowiednio opóźnienie lub skrócenie impulsu podawanego na ich wejścia. Przykład układu całkującego opóźniającego impuls wejściowy pokazano na rysunku 8.1. Przebiegi napięć w poszczególnych punktach układu przedstawiają przesunięcia o czas t d narastającego zbocza impulsu wyjściowego w stosunku do początku impulsu wejściowego. Analogicznie opóźnione jest opadające zbocze impulsu wyjściowego. Czasy opóźnień zbocza narastającego i opada- 135

2 jącego na ogół nie będą jednakowe. Z wartości czasu opóźnienia t d wynika maksymalna szybkość zmian przebiegu wejściowego U wej, przy której będzie następowało przechodzenie sygnału przez układ. Należy ją tak dobrać, aby czas pomiędzy zboczami narastającym i opadającym impulsu wejściowego był większy niż opóźnienie impulsu t d określone stałą RC. Kształt impulsu wyjściowego będzie idealnie prostokątny tylko wówczas, gdy B2 jest bramką z wejściem Schmitta. W innych przypadkach w celu uzyskania odpowiedniej stromości impulsu wyjściowego należy dołączyć do wyjścia układu dwie bramki zwykłe. U wej U wej U 1 R U c U wyj U B1 B2 1 t C U c t U wyj t t d t Rys Układ całkujący opóźniający impuls wejściowy oraz przebiegi napięć w poszczególnych punktach układu Przykład realizacji układu różniczkującego pokazano na rysunku 8.2. Uwidocznione na nim przebiegi napięć pokazują reakcję układu na opadające zbocze impulsu wejściowego. Przedstawione rozwiązanie może być zastosowane w układach, w których ujemne zbocze impulsu ma sterować wejściem wyzwalanym poziomem, np. wejściami zerującymi lub ustawiającymi licznika. Istotne jest, że czas trwania impulsu wyjściowego t o nie zależy od czasu trwania impulsu wejściowego, ale od wartości elementów R i C. Efekt różniczkowania narastającego zbocza impulsu można uzyskać w układzie z rysunku 8.3. Wykorzystywane jest tu opóźnienie 136

3 wnoszone przez układ zbudowany z nieparzystej liczby bramek logicznych, a nie przez układ RC. U wej U wyj 1цF Uc U wej U1 200Ω U1 Uc U wyj Rys.8.2. Układ różniczkujący opadające zbocze impulsu wejściowego oraz przebiegi napięć w poszczególnych punktach układu Rys.8.3. Układ różniczkujący narastające zbocze impulsu wejściowego z wykorzystaniem czasu opóźnienia propagacji bramek Na rysunku 8.4 przedstawiono układ generujący krótki impuls dodatni w odpowiedzi zarówno na zbocze narastające, jak i opadające impulsu wejściowego. Wykorzystano w nim układy całkujące opóźniające impuls wejściowy; elementy R1, C1 opóźniają zbocze narastające impulsu wejściowego, jednocześnie ich wartości określają czas trwania impulsu będącego odpowiedzią na zbocze narastające, nato- 137

4 miast elementy R2, C2 analogicznie działają przy zboczu opadającym. Układ ten jest powielaczem częstotliwości przez dwa. Przebieg wyjściowy nie jest symetryczny, wypełnienie różni się od 50%. Aby układ działał poprawnie, stałe R1, C1 i R2, C2 muszą być odpowiednio dobrane do częstotliwości przebiegu wejściowego. U wej U =U B1. wej U C1 B1 B0 R1 U C1 C1 B3 U wyj R2 U C2 B2 U =U. U B2 wej C2 C2 Rys.8.4. Układ dwuzboczowy generujący krótki impuls dodatni dla narastającego i opadającego zbocza przebiegu wejściowego Przerzutnik monostabilny Przerzutnik monostabilny (uniwibrator, monoflop) jest układem, który generuje w odpowiedzi na pobudzenie pojedynczy impuls, samoczynnie kończący się po czasie T w, gdzie T w jest stałym, niezależnym od sygnału wejściowego, czasem trwania impulsu. Z określenia tego wynika, że przerzutnikiem monostabilnym może być układ z rysunku 8.2 po wprowadzeniu sprzężenia zwrotnego w sposób, który uniezależnia czas trwania impulsu wyjściowego od czasu trwania impulsu wejściowego. Przykładowe rozwiązanie przerzutnika monostabilnego wraz z przebiegami w charakterystycznych punktach przedstawiono na rysunku 8.5. Zasadniczym przerzutnikiem jest układ złożony z bramek B1, B2 i elementów R i C, którego pobudzeniem jest ujemny impuls U R1. Do prawidłowej pracy tego przerzutnika wymagane jest, aby 138

5 U R1 długość impulsu była mniejsza od Tw, dlatego na wejściu układu dołączono dodatkowe elementy B0, R1 i C1 negujące i różniczkujące impuls U we. Przy jednakowych wartościach rezystorów R=R 1 wartość C 1 musi być znacznie mniejsza od C. U we C t UR1 B1 U R B2 t C1<C R1=R R<3kΩ U R t B0 T H t Uwe Uwyj () Uwyj () Rys.8.5. Przerzutnik monostabilny z układem różniczkującym RC i sprzężeniem zwrotnym Przerzutniki monostabilne są wykonywane w wersji scalonej i oznaczone numerem katalogowym UCY (pojedynczy układ, bez wejścia zerującego, bez przedłużania impulsu wyjściwego) oraz UCY (układ podwójny z wejściami zerującymi oraz możliwością przedłużenia impulsu w trakcie jego trwania). Schemat przerzutnika monostabilnego UCY przedstawiono na rysunku 8.6. Przerzutnik ma wejścia A 1 i A 2, reagujące na zbocze opadające, oraz wejście B, reagujące na zbocze narastające. Wejścia A 1 i A 2 wymagają odpowiednio dużej stromości zbocza impulsu wyzwalającego (nie mniejszej niż 1 V/µs), natomiast wejście B jest wejściem Schmitta i zmiana sygnału może być na nim wolna (nie mniejsza niż 1 V/s). Na rysunku 8.7 pokazano trzy sposoby dołączenia zewnętrznych elementów R i C, służących do ustalenia czasu trwania impulsu wyjściowego. Rezystancja wewnętrzna R i nie charakteryzuje się dużą stałością, dlatego też w układach o wysokich wymaganiach stałości czasu trwa- 139

6 nia generowanego impulsu nie należy jej wykorzystywać. Typowa wartość R i wynosi 2 kω. Do celów inżynierskich wygodnie jest korzystać z nomogramów przedstawionych między innymi w [4]. Na ich podstawie można określić długość impulsu dla pary wartości R i C lub dobrać wartość jednego elementu dla danej wartości drugiego i zadanego czasu trwania impulsu. R +5V We A1 lub A2 (B=1) 11 C 10 We B t 6 ( A1 lub A2=0) t 3 4 A1 A2 5 B _ 1 t t Rys.8.6. Schemat przerzutnika monostabilnego UCY oraz przebiegi czasowe C +5V C +5V +5V R C Ri Ri Ri A1 A2 5 B _ A1 A2 5 B _ A1 A2 5 B _ 1 T = C R i ln2 T = C(R i +R) ln2 T = R C ln2 Rys Sposoby dołączenia kondensatora zewnętrznego C i rezystora zewnętrznego R do przerzutnika monostabilnego UCY Układ UCY zawiera dwa niezależne, identyczne przerzutniki monostabilne. Na rysunku 8.8 przedstawiono jego schemat funk- 140

7 cjonalny oraz przykładowe przebiegi czasowe. Przerzutnik ten posiada dwie, ważne z punktu widzenia użytkownika, funkcje: możliwość regeneracji (ang. retriggerable) impulsu wyjściowego, możliwość zakończenia generacji impulsu wyjściowego w dowolnej chwili poprzez podanie impulsu zerującego R = 0. a) b1) R A B R=1 b2) T T A _ A B R=1 B=1 R C b3) T +5V B T R=1 A=0 Rys.8.8. Przerzutnik monostabilny UCY 74123: a) schemat funkcjonalny, b1 b3) przykładowe przebiegi czasowe Jeżeli w układzie UCY wykorzystuje się kondensatory elektrolityczne, to należy dodatkowo włączyć diodę krzemową. Sposób jej dołączenia został pokazany na rysunku 8.9. Czas trwania impulsu wyjściowego T należy wówczas obliczyć na podstawie zależności: T = 0,28 RC (1+ 0,7/ R) Przy zastosowaniu kondensatorów nieelektrolitycznych o wartości C < 1000 pf czas trwania impulsu należy określić na podstawie nomogramów, które zostały przedstawione między innymi w [4]. Natomiast dla C > 1000 pf czas ten określa się z zależności: T = 0,32 RC (1 + 0,7/ R) 141

8 Przerzutnik monostabilny może być stosowany do realizacji układu selektora impulsów. Przykład selektora impulsów, który odfiltrowuje sygnały o czasie trwania mniejszym niż zadany, przedstawia rysunek Układ taki może służyć do odfiltrowywania krótkotrwałych impulsów zakłócających. Chcąc uzyskać impuls wyjściowy o stałej standardowej długości, należy dołączyć do wyjścia układu z rysunku 8.10 jeszcze jeden przerzutnik monostabilny. Rys.8.9. Sposób dołączenia kondensatora elektrolitycznego do układu

9 t Rys Selektor impulsów o czasie trwania T we > T w oraz przebiegi czasowe Przerzutnik astabilny Przerzutnik astabilny, zwany multiwibratorem, to układ, który posiada dwa stany niestabilne i jest cyklicznie przełączany z jednego stanu w drugi i z powrotem, wyjście układu przyjmuje cyklicznie wartości 0 i 1. Wykorzystywany jest jako generator fali prostokątnej. Generatory takie są stosowane jako zegary układów sekwencyjnych, zegary pomiarowe, źródła przebiegu o zadanej częstotliwości dla monitorów, wyświetlaczy itp. W układach o wymaganej wysokiej dokładności częstotliwości używane są multiwibratory stabilizowane rezonatorami kwarcowymi. Przykłady rozwiązań układowych przerzutnika astabilnego przedstawiono na rysunku Podano na nim zależności lub tablice umożliwiające określenie częstotliwości generowanej fali prostokątnej. W układzie z rysunku 8.11c zastosowana jest bramka zlinearyzowana (B1), będąca w zasadzie wzmacniaczem liniowym, z kolei w układzie z rysunku 8.11d użyto zlinearyzowanej bramki Schmitta. 143

10 a) b) Rys.8.11a,b 144

11 c) c) R=200Ω B1 B2 Uwyj f = ~ 1 3RC C d) d) R 390Ω C f C UCY74132 lub UCY7413 Uwyj 20pF 100pF 1nF 10nF 100nF 21,7MHz 10,6MHz 1,6MHz 195kHz 21,6kHz Rys Przykłady rozwiązań układowych przerzutnika astabilnego: a) multiwibrator z dwoma układami różniczkującymi, b) multiwibrator z układem opóźniającym RC, c) multiwibrator ze zlinearyzowaną bramką, d) multiwibrator z bramką Schmitta 8.3. PRZEBIEG ĆWICZENIA 1. Zbudować układ z rysunków 8.1 i 8.2. Układy pobudzać prostokątnym przebiegiem okresowym z zewnętrznego generatora. Zaobserwować na oscyloskopie przebiegi w charakterystycznych punktach układu dla kilku wartości pojemności C i oporności R. UWAGA: Elementy R i C należy określić przed przystąpieniem do ćwiczenia (w domu). W sprawozdaniu zamieścić oscylogramy. 2. Zbudować układ z rysunku 8.3 zawierający 5 oraz 11 negatorów. Badanie układu przeprowadzić analogicznie jak w punkcie 1. Dla obu przypadków określić czas trwania impulsu na wyjściu układu. 145

12 3. Zbadać układ przedstawiony na rysunku 8.4. Zaobserwować na oscyloskopie dwukanałowym zjawisko powielania częstotliwości. W sprawozdaniu zamieścić przebiegi czasowe. 4. Zbadać układ przerzutnika monostabilnego z rysunku 8.5. Zbadać zależność czasu trwania impulsu wyjściowego od wartości pojemności C. Sprawdzić, jak będzie zachowywał się układ, gdy C1 będzie większa od C. Uzasadnić uzyskany efekt. W sprawozdaniu zamieścić przebiegi czasowe. 5. Zbadać układy UCY oraz UCY Zaobserwować zmianę długości impulsu wyjściowego w funkcji zmian R i C. Dobrać wartości R i C tak, aby uzyskać długość impulsu określoną przez prowadzącego. W sprawozdaniu przedstawić przebiegi czasowe. 6. Zbadać układ z rysunku Płynnie zmniejszać częstotliwość impulsów wejściowych aż do zaniku obrazu na ekranie oscyloskopu (T we < T w ). W sprawozdaniu przedstawić przebiegi czasowe. 7. Zbudować dwa spośród czterech multiwibratorów z rysunku Sporządzić wykresy przedstawiające zależność częstotliwości oraz współczynnika wypełnienia przebiegu wyjściowego od wartości pojemności. 8. Zbudować generator fali prostokątnej z wykorzystaniem układów UCY lub UCY oraz dowolnych bramek. Układ powinien być wyposażony w dwa niezależne wejścia START oraz STOP. Uwaga!! wszystkie rysunki z przebiegami czasowymi muszą posiadać wyskalowane osie. 146

13 8.4. ZAGADNIENIA KONTROLNE 1. Uzasadnić, dlaczego czas opóźnienia t d w układzie z rysunku 8.1 jest różny dla zbocza narastającego i zbocza opadającego impulsu wejściowego. 2. Zaprojektować układ analogiczny do układu z rysunku 8.3, ale reagujący na zbocze opadające. Czas propagacji (tzn. czas pomiędzy zboczem aktywnym sygnału wejściowego a zboczem narastającym impulsu wyjściowego) układu musi również wynosić t p (czas propagacji pojedynczej bramki), a więc nie wchodzi w grę trywialne rozwiązanie, polegające na dodaniu jednej bramki na wejściu. 3. Dobrać taką liczbę bramek w układzie z rysunku 8.3, aby czas trwania impulsu wyjściowego był równy ~100 ns. 4. Na podstawie układu z rysunku 8.4 zrealizować powielacz częstotliwości przez dwa tak, aby wypełnienie wyjściowej fali prostokątnej wynosiło dokładnie 50% (poprzez dobór elementów RC wchodzących w skład układu). 5. Omówić różnice pomiędzy układami UCY oraz UCY Zaprojektować układ o działaniu przeciwnym do układu z rysunku 8.10, tj. selektor impulsów o czasie trwania T we < T w. Przedstawić przebiegi czasowe w poszczególnych punktach układu. 7. Wyjaśnić, jaką funkcję pełnią w układzie na rysunku 8.10 pojemność C1 oraz bramki B1 i B2. 8. Wykorzystując układ UCY 7474 (przerzutnik D) oraz dowolne bramki, zaprojektować układ różniczkujący zbocze narastające przebiegu wejściowego. Przedstawić przebiegi czasowe. 9. Przedstawić schemat logiczny uniwibratora o programowanym czasie trwania impulsu, w którym np. C = const, a R = var. Narysować przykładowe przebiegi czasowe. 10. Przedstawić schemat logiczny generatora fali prostokątnej o niezależnym czasie trwania 0 i 1. Narysować przykładowe przebiegi czasowe ilustrujące działanie układu. 147

14 11. Przedstawić schemat logiczny generatora fali prostokątnej o programowalnej liczbie impulsów. Narysować przykładowe przebiegi czasowe ilustrujące działanie układu. 12. Zaprojektować układ opóźniające zbocze rosnące sygnału wejściowego o czas T 1 oraz zbocze opadające tego sygnału o czas T 2. Narysować przebiegi czasowe. LITERATURA 1. KALISZ J., Podstawy elektroniki cyfrowej, WKiŁ, Warszawa Laboratorium podstaw techniki cyfrowej, praca zbiorowa pod red. L. Wasilewskiego WSM, Gdynia MAJEWSKI W., Układy logiczne, WN Warszawa PIEŃKOS J., TURCZYŃSKI J., Układy scalone TTL w systemach cyfrowych, WKIŁ, WARSZAWA SASAL W., Układy scalone UCA 64 / UCY 74. Parametry i zastosowania, WKiŁ, Warszawa TRACZYK W., Układy cyfrowe. Podstawy teoretyczne i metody syntezy, WNT, Warszawa

15 9. PODSTAWOWE BRAMKI, GENERATORY ASTABILNE I MONOSTABILNE C-MOS 9.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych charakterystyk oraz parametrów opisujących układy C-MOS. Ćwiczenie umożliwia również zapoznanie się z budową i zasadą działania wybranych rozwiązań układowych z zastosowaniem elementów C-MOS PODSTAWOWE WIADOMOŚCI TEORETYCZNE Tranzystory MOS w cyfrowych układach scalonych W zależności od sposobu wykonania tranzystora MOS możliwe jest otrzymanie dwóch jego rodzajów: tranzystora z kanałem zubażanym, który przewodzi prąd między źródłem a drenem przy zerowej wartości napięcia między bramką a źródłem (U GS ), tranzystora z kanałem wzbogacanym, w którym przewodnictwo między drenem a źródłem uzyskuje się w przypadku istnienia pomiędzy bramką a źródłem napięcia U GS większego od napięcia progowego. W zależności natomiast od przewodnictwa kanału wyróżnia się tranzystory z kanałem typu p lub n. Początkowo w układach scalonych MOS stosowane były przede wszystkim tranzystory ze wzbogaconym kanałem typu p (P-MOS) o dużej wartości napięcia progowego. Dla tych tranzystorów napięcie progowe jest definiowane jako napięcie, które powoduje wytworzenie takiego kanału, że prąd między źródłem i drenem wynosi 1 µa. Natomiast dla tranzystorów z kanałem zubożonym napięcie progowe jest określane jako te, które powoduje odcięcie, to znaczy zmniejsza prąd pomiędzy drenem a źródłem poniżej 1 µa. Rozwój technologii spo- 149

16 wo-dował produkcję tranzystorów niskoprogowych, a następnie układów z tranzystorami z kanałem typu n (N-MOS). Technologia MOS z kanałem typu n charakteryzuje się znacznym zmniejszeniem czasów propagacji (ok. 40 ns dla pojedynczej bramki); związane to jest z trzykrotnie większą ruchliwością elektronów w porównaniu z ruchliwością dziur w kanale typu p. Bramki wykonane w technologii N-MOS charakteryzują się obniżonym napięciem progowym tranzystorów, co pozwala na zasilanie układów napięciem +5 V (możliwa jest więc ich bezpośrednia współpraca z układami TTL). Symbole tranzystorów MOS stosowane w układach scalonych przedstawiono na rysunku 9.1. a) D b) c) d) B G S Rys 9.1. Symbole tranzystorów MOS: a) z kanałem wzbogaconym typu n, b) z kanałem wzbogaconym typu p, c) z kanałem zubożonym typu n, d) z kanałem zubożonym typu p Układy C-MOS (ang. Complementary Metal-Oxide- Semiconductor) zawierają na wspólnym podłożu jednocześnie tranzystory MOS p-kanałowe i n-kanałowe, które pracują ze wzbogaceniem. Charakteryzują się one: możliwością zasilania niestabilizowanym napięciem, możliwością stosowania jednego napięcia zasilania, dużą szybkością przełączania ( ns/bramkę), małym rozproszeniem mocy w warunkach statycznych (ok.1 µw/bramkę), dużą odpornością na zakłócenia (ok.45% napięcia zasilania). Produkowane przez CEMI układy cyfrowe C-MOS są oznaczone sym-bolem MCY 70 lub MCY 64, po którym następuje trzycyfrowy numer identyfikacyjny Podstawowe właściwości tranzystora MOSFET 150

17 Analiza charakterystyk układów C-MOS wymaga znajomości podstawowych własności unipolarnego tranzystora MOSFET z kanałem typu n (rys. 9.2). Tranzystor pozostaje w stanie odcięcia, gdy napięcie bramki jest niższe od napięcia progowego, które dla tranzystora z kanałem typu n wynosi około +2 V. W stanie przewodzenia, gdy U DS > U GS - U TN (gdzie U DS to napięcie dren-źródło, U GS napięcie bramki, a U TN napięcie progowe), tranzystor jest nasycony i zachowuje się jak źródło prądowe. Natomiast dla niewielkich wartości U DS, w obszarze nienasycenia, tranzystor można traktować jako opornik. a) a) b) G BRAMKA D B S DREN PODŁOŻE ŹRÓDŁO b) G Ω 2,5pF 750Ω 10 9 Ω D c) 30 I [ma] DS U TN U GS = 15 V S U TN U TN U 10 V 5 V DS TN U [V] = 2 V Rys.9.2. Tranzystor polowy N-MOS: a) symbol, b) schemat zastępczy, c) charakterystyki prądowo-napięciowe Charakterystyki tranzystora MOS z kanałem typu p są podobne do charakterystyk przedstawionych na rysunku 9.2. Różnią się napięciem progowym, które w tym przypadku wynosi U TP = -3 V, oraz 151

18 mniejszą bezwzględną wartością prądu nasycenia przy tych samych wartościach napięcia drenu i bramki Podstawowe charakterystyki i parametry charak- teryzujące bramki C-MOS Bramki C-MOS mają następujące podstawowe parametry i charakterystyki: a/ Napięcie zasilania Napięcie zasilania układów C-MOS wynosi 3 V 18 V (czasami 3 V 15 V lub 0,5 V 20 V); wybór napięcia zasilania związany jest z wymaganiami określającymi szybkość działania, moc rozpraszaną w układzie oraz margines szumów. b/ Charakterystyki przejściowe Charakterystyka napięciowa przedstawia zależność napięcia wyjściowego od napięcia wejściowego, czyli U 0 = f(u I ). Charakterystyka prądowa określa natomiast zależność prądu drenu (tożsamego z prądem zasilania) od napięcia wejściowego, czyli I D = f(u I ). c/ Charakterystyki wyjściowe W odniesieniu do inwertera C-MOS dla stanów logicznych 1 i 0 charakterystyki wyjściowe wynikają bezpośrednio z charakterystyk prądowo-napięciowych tranzystora P-MOS oraz N-MOS (rys. 9.2). Dla bramek NAND i NOR wypływający prąd wyjściowy w stanie 1 (source current) lub wpływający w stanie 0 (sink current) zależy od liczby wejść oraz od ich stanów logicznych. Na przykład dla dwuwejściowej bramki NAND stan 1 na wyjściu pojawi się wówczas, gdy chociaż jedno z wejść ma stan 0; gdy tylko jedno wejście jest w stanie 0, to przewodzi jeden tranzystor, gdy oba wejścia są w stanie 0, to przewodzą dwa tranzystory połączone równolegle. Wypływający wówczas prąd wyjściowy może być dwukrotnie większy. Natomiast prąd wyjściowy wpływający do bramki NAND przy stanie 0 na wyjściu ma wartość stałą. Dla bramki NOR sytuacja jest odwrotna, zmianom może ulegać prąd wyjściowy wpływający w stanie 0, natomiast prąd wyjściowy wpływający w stanie 1 jest stały. Ze zmianami prądów związany jest problem łączenia nie wykorzystanych wejść w bramkach wielowejściowych. Dla bramek NAND nie wykorzystane 152

19 wejścia należy połączyć z sygnałem odpowiadającym jedynce logicznej, natomiast dla bramek NOR z zerem logicznym. Wówczas występują najmniejsze wartości prądów wyjściowych. Gdy obciążenie w jednym ze stanów jest duże (gdy jako obciążenie zastosujemy np. diodę świecącą), celowo należy zastosować w układzie bramkę o większej liczbie wejść. Zwierając wejścia takiej bramki zwielokrotniamy dopuszczalny wyjściowy prąd (rys. 9.3). a) b) a) b) U DD Rys Przykłady możliwości zwiększania prądu wyjściowego bramki C-MOS: a) w stanie 1, b) w stanie 0 d/ Moc rozpraszana Składowymi mocy rozpraszanej są: straty mocy wynikające z prądu upływu - charakteryzują one pobór mocy w warunkach statycznych; są proporcjonalne do napięcia zasilania i złożoności układu, straty mocy powstałe w wyniku przepływu prądu przez oba tranzystory komplementarne w chwili przełączania; moc ta zależy od stromości opadania/narastania sygnału oraz od częstotliwości napięcia wejściowego, straty mocy wynikające z przeładowania pojemności obciążenia; są one proporcjonalne do wartości pojemności, częstotliwości przełączania i kwadratu napięcia zasilającego. e/ Czas przełączania i propagacji Każdy układ C-MOS jest w zasadzie obciążeniem pojemnościowym. Podczas wzrostu napięcia zasilania, powodującego również wzrost napięcia wejściowego i wyjściowego w stanie wysokim, bramka C-MOS musi przeładować pojemność obciążenia w szerszym zakresie napięciowym. Ponieważ prąd wyjściowy jest wprost proporcjonalny do kwadratu napięcia wyjściowego, to wraz ze wzrostem napięcia zasilania czas narastania, opadania i propagacji sygnału maleją. 153

20 Przykładowo dla bramki NAND C-MOS przy napięciu zasilającym 5 V czas propagacji wynosi około 50 ns, natomiast przy napięciu 10 V czas ten maleje do około 30 ns. W układach C-MOS występuje więc ścisła zależność pomiędzy szybkością działania a obciążeniem tych układów. f/ Odporność szumowa Margines szumów dla układów C-MOS wynosi około 45% napięcia zasilania Podstawowe bramki C-MOS Najprostszym układem cyfrowym jest inwerter (bramka NOT). Składa się on z dwóch komplementarnych tranzystorów MOS (rys. 9.4.) Jeżeli napięcie wejściowe jest niższe od napięcia progowego U TN, to tranzystor T1 przewodzi, a tranzystor T2 jest odcięty. Prąd płynący przez T1 jest w przybliżeniu równy zeru, ponieważ oporność kanału T2 lub oporność wejściowa dodatkowego innego układu C-MOS, obciążającego inwerter, jest duża. Wówczas też napięcie na małej oporności przewodzącego kanału T1 jest prawie równa zeru a) b) a) +U DD b) U DD S G B T1(P) U I G D D B S T2(N) U O U IL Ω Ω 2,5pF 2,5pF 750Ω 750Ω 10 9 Ω 10 9 Ω U OH =U DD Rys.9.4. Inwerter C-MOS: a) układ podstawowy, b) schemat zastępczy - położenie kluczy odpowiada niskiemu poziomowi napięcia wejściowego oraz U OH = U DD. W przeciwnym wypadku, gdy napięcie wejściowe jest większe niż U DD - U TP, tranzystor T2 przewodzi, a tranzystor 154

21 T1 jest odcięty, wtedy U O = U OL = 0. Stabilnymi stanami pracy poszczególnych tranzystorów jest stan odcięcia (oporność kanału jest bardzo duża) oraz stan nienasycenia (oporność bardzo mała). Każde wyprowadzone na zewnątrz wejście układu C-MOS jest zabezpieczone przed przebiciem izolacji podbramkowej. Napięcie przebicia bramki wynosi około 100 V. Wysoka oporność wejściowa bramki powoduje podatność na uszkodzenia układu C-MOS nawet przy małych ładunkach statycznych. Zabezpieczenie inwertera przed przebiciem zostało przedstawione na rysunku 9.5. Dioda D3 o napięciu przebicia 80 V jest pasożytniczym elementem rozłożonym, który pojawia się przy dyfuzyjnym kształtowaniu opornika R. U DD D3 U Z2 30V D2 U I 1kΩ U 0 R U Z1 30V D1 Rys.9.5. Inwerter C-MOS z układem zabezpieczającym Inwerter C-MOS może pracować w dużym zakresie napięć zasilających, gdyż napięcie progowe nie jest stałe, lecz zależy od napięcia zasilania U DD (osiąga w przybliżeniu wartość 45% napięcia U DD ). Charakterystyka przejściowa inwertera dla różnych napięć zasilania została przedstawiona na rysunku 9.6. Układy C-MOS mogą być więc zasilane napięciem niestabilizowanym, na przykład bezpośrednio z baterii. Jest to oczywiście możliwe przy wykorzystaniu w urządzeniu samych układów C-MOS. W odniesieniu do urządzeń, w których układy C-MOS współpracują z układami TTL, napięcie zasilania musi podlegać stabilizacji. 155

22 Rys.9.6. Charakterystyka przejściowa inwertera Schematy dwuwejściowych bramek NAND oraz NOR zostały przedstawione na rysunku 9.7. Na wyjściu bramki NOR otrzymamy napięcie U DD wówczas, gdy tranzystory T1 i T2 będą w stanie przewodzenia, a tranzystory T3 i T4 w stanie odcięcia. Sytuację taka uzyskamy, podając na wejścia U I1 i U I2 napięcie odpowiadające zeru logicznemu. a) b) Rys.9.7. Dwuwejściowa bramka: a) NOR, b) NAND 156

23 Przykłady zastosowań układów C-MOS Schematy logiczne omawianych układów cyfrowych są niezależne od techniki realizacji zastosowanych w nich elementów logicznych. Mogą nimi być zarówno układy scalone wykonane techniką C-MOS, jak i układy bipolarne TTL. W prezentowanych zastosowaniach układowych skoncentrowano się jednakże na wykorzystaniu układów scalonych typu C-MOS, co jest bezpośrednio związane z zakresem ćwiczenia Generatory astabilne Schemat logiczny przykładowego bramkowanego generatora astabilnego przedstawiono na rysunku 9.8. Na wyjściu U 2 występuje ciąg impulsów prostokątnych, gdy na wejściu U 1 pojawi się napięcie odpowiadające zeru logicznemu. Dla napięcia zasilającego U DD = 10 V i wartości elementów C = 1000 pf, R = 400 k Ω, R1 = 800 k Ω częstotliwość przebiegu wyjściowego wynosi 1 khz, natomiast dla R1= 0 częstotliwość ta zwiększa się do 1,5 khz. U 1 MCY 74001N U 2 R1 R C Rys.9.8. Generator astabilny Innym przykładem jest układ scalony MCY 74047N zawierający bramkowany generator astabilny oraz dodatkowe elementy logiczne umożliwiające jego pracę w roli generatora monostabilnego wyzwalanego zboczem rosnącym lub malejącym. Strukturę logiczną układu MCY 74047N przedstawiono na rysunku 9.9. W celu uzyskania poprawnej pracy układu w obu trybach należy do końcówek C TC i RC TC dołączyć kondensator, a do końcówek R TC i RC TC rezystor. 157

24 Układ MCY 74047N pracuje jako generator astabilny wówczas, gdy na wejście ASTABLE i ASTABLE podamy napięcie odpowiadające jedynce logicznej (rys. 9.10). Oba te wejścia mogą więc być wykorzystywane jako wejścia bramkujące pracę generatora. Częstotliwość na wyjściu OSCILLATOR OUTPUT jest dwa razy większa niż na wyjściach i. Rys.9.9. Struktura logiczna układu MCY 74047N a) U DD C R b) b) t 1 =1,1RC C TC RC TC R TC U DD 13 OSC OSC A MCY74047N 10 A 11 T- U SS T+ R Ret t 2 =2,2RC Rys Układ MCY 74047N jako generator astabilny: a) schemat, b) przebiegi czasowe Generatory monostabilne 158

25 Praca generatorów monostabilnych, podobnie jak astabilnych, związana jest z przeładowaniem obwodu RC. W generatorach monostabilnych przeładowanie jest inicjowane impulsem zewnętrznym. Układ generatora monostabilnego przedstawiono na rysunku a) U DD b) We C R Wy We Wy t w Rys Podstawowy układ generatora monostabilnego: a) schemat, b) przebiegi czasowe Warunkiem generacji impulsu wyjściowego jest zmiana wartości sygnału na wejściu We z poziomu niskiego na wysoki. Na wyjściu inwertera pojawi się wysoki poziom napięcia, który będzie trwał tak długo, aż kondensator nie naładuje się do napięcia progowego inwertera. Czas trwania impulsu wyjściowego jest w przybliżeniu równy t w 0,7 RC. Tolerancja czasu t w ze względu na rozrzuty charakterystyk przejściowych inwerterów wynosi około ±50%. W razie konieczności uzyskania dokładniejszego czasu należy zastosować układ przedstawiony na rysunku W układzie tym należy zapewnić jednakowe stałe czasowe R1 C1 = R2 C2. Wówczas czas trwania impulsu wyjściowego określony jest zależnością t w = 1,4 R1 C1. a) R1 b) We C1 C2 We Wy R2 Rys Zmodyfikowana wersja generatora monostabilnego: a) schemat, b) przebiegi czasowe Tolerancja tego czasu zależna jest od różnicy charakterystyk przejściowych obu inwerterów (zaleca się stosowanie bramek z tego układu scalonego). Wy t w 159

26 Jak już wspomniano, układ MCY 74047N może pracować również jako generator monostabilny (rys. 9.13). Wówczas na wejściu ASTABLE musi być poziom niski, natomiast na wejściu ASTABLE poziom wysoki. Generator może być wyzwalany rosnącym zboczem podawanym na wejście +TRIGGER, przy czym na wejściu -TRIGGER musi być wówczas niski poziom napięcia. Generator można również wyzwolić za pomocą opadającego zbocza podawanego na wejście -TRIGGER przy wysokim poziomie napięcia na wejściu +TRIGGER. W przypadku pracy monostabilnej istnieje możliwość wydłużenia czasu trwania impulsu wyjściowego (tak jak dla układu TTL UCY 74123N), co uzyskuje się przez jednoczesne podanie rosnących zboczy na wejścia RETRIGGER i +TRIGGER. a) C R U DD b) T+ C TC RC tc R TC 14 U DD 4 A 8 T+ 5 A 13 OSC 10 MCY74047N 11 OSC t 1 t 2 U SS T- R Ret t 1 = 1,38RC t 1 =1,38RC t 2 t= 2 =2,48RC C Rys Układ scalony MCY 74047N jako generator monostabilny: a) schemat; b) przebiegi czasowe Współpraca układów C-MOS z układami TTL Bezpośrednie sterowanie podstawowego układu TTL przez układ C-MOS nie jest możliwe. Obciążalność wyjściowa C-MOS pozwala tylko na bezpośrednie wysterowanie dwóch wejść układów TTL małej mocy lub jednego wejścia układu TTL Shottky ego również małej mocy. W przypadku współpracy układów C-MOS z układami TTL należy stosować układy buforowe: MCY 74049N (6 inwerterów mocy), 160

27 MCY 74050N (6 wzmacniaczy). Obciążalność wyjściowa tych układów umożliwia wysterowanie dwóch standardowych wejść typu TTL. Dzięki tym układom możliwa jest ponadto współpraca elementów TTL z elementami C-MOS, zasilanymi różnymi napięciami. Gdy bramka C-MOS powinna sterować wejściami więcej niż dwóch bramek TTL, należy zastosować tranzystorowe układy wzmacniające. Zagadnienia związane ze współpracą układów MOS-TTL oraz TTL-MOS zostały dokładnie omówione w literaturze [1], [4] Zasada stosowania układów MOS Ze względu na dużą stałoprądową rezystancje wejściową układy scalone MOS są podatne na uszkodzenia wywołane przez akumulację ładunku statycznego. Przykładowy sposób zabezpieczenia wejścia inwertera przedstawiono na rysunku 9.5. Metody zabezpieczenia wejść układów MOS nie zapobiegają uszkodzeniu układów wskutek gromadzenia się ładunku statycznego, są on bowiem skuteczne tylko wówczas, gdy końcówki zasilania układu zostały uziemione lub połączone z napięciem zasilania. Stosując układy MOS należy przestrzegać następujących zasad: układy muszą być przechowywane wyłącznie w metalowych pojemnikach lub umieszczone w gumie przewodzącej, montaż układów MOS na pakietach powinien być wykonany z pomocą izolowanej lutownicy, stoły robocze muszą być wyłożone gumą przewodzącą lub folią metalową, wejścia układów MOS połączone z łączówkami pakietów powinny być zabezpieczone rezystorem szeregowym rzędu k Ω i rezystorem przyłączonym między wejściem a jednym z napięć zasilania lub masą, wejścia, które nie są używane, należy połączyć z napięciem zasilania lub masą (zależnie od rodzaju układu) PRZEBIEG ĆWICZENIA 161

28 1. Wyznaczyć charakterystyki przejściowe i wyjściowe inwertera, bramki NAND i bramki NOR dla różnych napięć zasilających. Schematy pomiarowe należy przygotować w domu przed przystąpieniem do ćwiczenia. 2. Zbadać działanie generatora astabilnego zbudowanego zgodnie ze schematami na rysunkach 9.8 i Zarejestrować przebiegi wyjściowe. 3. Zbadać działanie generatora monostabilnego zbudowanego zgodnie ze schematami przedstawionymi na rysunkach 9.11, 9.12 i Zarejestrować przebiegi wyjściowe. Elementy R i C należy dobrać przed przystąpieniem do ćwiczenia (w domu). 4. Zaprojektować i zbadać działanie generatora astabilnego mającego możliwość regulacji częstotliwości i współczynnika wypełnienia oraz możliwość blokowania generatora w stanie wysokim lub niskim na wyjściu. Projekt należy przygotować w domu przed przystąpieniem do ćwiczenia. Sprawozdanie powinno zawierać schematy układów pomiarowych oraz przebiegi czasowe badanych układów. Należy wykreślić charakterystyki badanych elementów zaznaczając poziomy odpowiadające jedynce i zeru logicznemu. W sprawozdaniu powinno się ponadto zamieścić wnioski i uwagi wynikające z przebiegu ćwiczenia. Uwaga!! wszystkie rysunki z przebiegami czasowymi muszą posiadać wyskalowane osie. 162

29 9.4. ZAGADNIENIA KONTROLNE 1. Omówić działanie układu zabezpieczającego wejście inwertera C-MOS. 2. Rozpatrzyć negatywne skutki obecności układu zabezpieczającego wejście inwertera C-MOS. 3. Omówić czynniki wpływające na straty układu C-MOS. Przedstawić i omówić charakterystykę strat mocy inwertera C-MOS. 4. Omówić działanie dwuwejściowych bramek NAND i NOR. 5. Omówić problemy obciążalności statycznej bramek NAND i NOR. 6. Podać sposoby zabezpieczenia układów C-MOS przed uszkodzeniami elektrostatycznymi. 7. Określić sposób postępowania z nie wykorzystanymi wejściami układów C-MOS. 8. Podać przykład zastosowania układów scalonych MCY 74049N i MCY 74050N. 9. Podać przykłady buforów tranzystorowych. 10. Omówić zasady sterowania układem C-MOS przez układ TTL. 11. Zmodyfikować układ przedstawiony na rysunku 9.8 tak, aby była możliwość regulowania współczynnika wypełnienia przebiegu wyjściowego. 12. Podać przykłady zastosowania układów C-MOS w przełącznikach dotykowych. 13. Omówić wady i zalety tranzystorów z kanałem typu n oraz p. 14. Omówić bramki transmisyjne. 15. Omówić charakterystyki statyczne układów C-MOS. 16. Omówić charakterystyki dynamiczne układów C-MOS. 17. Omówić odporność na zakłócenia statyczne i dynamiczne układów C-MOS. 18. Porównać właściwości układów serii C-MOS i TTL. 163

30 LITERATURA 1. GAJEWSKI P., TURCZYŃSKI J., Cyfrowe układy scalone CMOS, WKiŁ, Warszawa Laboratorium podstaw techniki cyfrowej, praca zbiorowa pod red. L. Wasilewskiego, WSM, Gdynia ŁAKOMY M., ZABRODZKI J., Układy scalone CMOS, PWN, Warszawa PIEŃKOS J., TURCZYŃSKI J., Układy scalone TTL w systemach cyfrowych, WKiŁ, Warszawa

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO

BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO Ćwiczenie 11 BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO 11.1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie rodzajów, budowy i właściwości przerzutników astabilnych, monostabilnych oraz

Bardziej szczegółowo

U 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF

U 2 B 1 C 1 =10nF. C 2 =10nF Dynamiczne badanie przerzutników - Ćwiczenie 3. el ćwiczenia Zapoznanie się z budową i działaniem przerzutnika astabilnego (multiwibratora) wykonanego w technice TTL oraz zapoznanie się z działaniem przerzutnika

Bardziej szczegółowo

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4 Ćwiczenie 4 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych układów scalonych CMOS oraz ich własności dynamicznych podczas procesu przełączania. Wiadomości podstawowe. Budowa i działanie

Bardziej szczegółowo

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 18 BADANIE UKŁADÓW CZASOWYCH A. Cel ćwiczenia. - Zapoznanie z działaniem i przeznaczeniem przerzutników

Bardziej szczegółowo

płytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa

płytka montażowa z tranzystorami i rezystorami, pokazana na rysunku 1. płytka montażowa do badania przerzutnika astabilnego U CC T 2 masa Tranzystor jako klucz elektroniczny - Ćwiczenie. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi układami pracy tranzystora bipolarnego jako klucza elektronicznego. Bramki logiczne realizowane w technice RTL

Bardziej szczegółowo

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę. WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Badanie działania

Bardziej szczegółowo

TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA. Układy czasowe

TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA. Układy czasowe LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA ELEKTRONIKA ANALOGOWA I CYFROWA Układy czasowe Opracował: Tomasz Miłosławski Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry impulsu elektrycznego i metody ich pomiarów. 2. Bramkowe

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacz operacyjny

Wzmacniacz operacyjny ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 3 Wzmacniacz operacyjny Grupa 6 Aleksandra Gierut CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniaczy operacyjnych do przetwarzania

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze operacyjne

Wzmacniacze operacyjne Wzmacniacze operacyjne Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest badanie podstawowych układów pracy wzmacniaczy operacyjnych. Wymagania Wstęp 1. Zasada działania wzmacniacza operacyjnego. 2. Ujemne sprzężenie

Bardziej szczegółowo

Ćw. 8 Bramki logiczne

Ćw. 8 Bramki logiczne Ćw. 8 Bramki logiczne 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi, poznanie ich rodzajów oraz najwaŝniejszych parametrów opisujących ich własności elektryczne.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 4 2014 r. 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

Projekt Układów Logicznych

Projekt Układów Logicznych Politechnika Opolska Wydział Elektrotechniki i Automatyki Kierunek: Informatyka Opole, dn. 21 maja 2005 Projekt Układów Logicznych Temat: Bramki logiczne CMOS Autor: Dawid Najgiebauer Informatyka, sem.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Generatory impulsowe przerzutniki

Generatory impulsowe przerzutniki Generatory impulsowe przerzutniki Wrocław 2015 Przerzutniki Przerzutniki stosuje się do przechowywania małych ilości danych, do których musi być zapewniony ciągły dostęp. Ze względu na łatwy odczyt i zapis,

Bardziej szczegółowo

Generatory impulsowe przerzutniki

Generatory impulsowe przerzutniki Generatory impulsowe przerzutniki Wrocław 009 przerzutnik bistabilny: charakteryzuje się dwoma stanami stabilnymi, w których może pozostawać nieskończenie długo. Przejście pomiędzy stanami następuje pod

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO

LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka . Zapoznać się ze schematem ideowym płytki ćwiczeniowej 2.

Bardziej szczegółowo

3. Funktory CMOS cz.1

3. Funktory CMOS cz.1 3. Funktory CMOS cz.1 Druga charakterystyczna rodzina układów cyfrowych to układy CMOS. W jej ramach występuje zbliżony asortyment funktorów i przerzutników jak dla układów TTL (wejście standardowe i wejście

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych

Bardziej szczegółowo

1. Definicja i przeznaczenie przerzutnika monostabilnego.

1. Definicja i przeznaczenie przerzutnika monostabilnego. 1. Definicja i przeznaczenie przerzutnika monostabilnego. Przerzutniki monostabline w odróżnieniu od przerzutników bistabilnych zapamiętują stan na z góry założony, ustalony przez konstruktora układu,

Bardziej szczegółowo

Budowa. Metoda wytwarzania

Budowa. Metoda wytwarzania Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie zasad działania, budowy i właściwości podstawowych funktorów logicznych wykonywanych w jednej z najbardziej rozpowszechnionych

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 22. Temat: Przerzutnik monostabilny. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 22. Temat: Przerzutnik monostabilny. Cel ćwiczenia Temat: Przerzutnik monostabilny. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 22 Poznanie zasady działania układu przerzutnika monostabilnego. Pomiar przebiegów napięć wejściowego wyjściowego w przerzutniku monostabilny. Czytanie

Bardziej szczegółowo

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0,

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0, Bierne obwody RC. Filtr dolnoprzepustowy. Filtr dolnoprzepustowy jest układem przenoszącym sygnały o małej częstotliwości bez zmian, a powodującym tłumienie i opóźnienie fazy sygnałów o większych częstotliwościach.

Bardziej szczegółowo

WSTĘP DO ELEKTRONIKI

WSTĘP DO ELEKTRONIKI WSTĘP DO ELEKTRONIKI Część VI Sprzężenie zwrotne Wzmacniacz operacyjny Wzmacniacz operacyjny w układach z ujemnym i dodatnim sprzężeniem zwrotnym Janusz Brzychczyk IF UJ Sprzężenie zwrotne Sprzężeniem

Bardziej szczegółowo

TRANZYSTORY BIPOLARNE

TRANZYSTORY BIPOLARNE Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego TRANZYSTORY BIPOLARNE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Tranzystory bipolarne rodzaje, typowe parametry i charakterystyki,

Bardziej szczegółowo

10. KLUCZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY CMOS

10. KLUCZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY CMOS . KLUZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY MOS.. EL ĆWIZENIA elem ćwiczenia jest poznanie podstawowych charakterystyk kluczy dwukierunkowych oraz głównych właściwości multipleksera i demultipleksera

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 3 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora unipolarnego

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Generator relaksacyjny

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Generator relaksacyjny AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki 2015 r. Generator relaksacyjny Ćwiczenie 5 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem generatorów

Bardziej szczegółowo

Zaprojektowanie i zbadanie dyskryminatora amplitudy impulsów i generatora impulsów prostokątnych (inaczej multiwibrator astabilny).

Zaprojektowanie i zbadanie dyskryminatora amplitudy impulsów i generatora impulsów prostokątnych (inaczej multiwibrator astabilny). WFiIS LABOATOIM Z ELEKTONIKI Imię i nazwisko:.. TEMAT: OK GPA ZESPÓŁ N ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Zaprojektowanie i zbadanie

Bardziej szczegółowo

Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk

Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk przejściowych użytych tranzystorów. NOR CMOS Skale integracji

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych

Bardziej szczegółowo

Spis elementów aplikacji i przyrządów pomiarowych:

Spis elementów aplikacji i przyrządów pomiarowych: CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zbudowanie generatora przebiegów dowolnych WSTĘP: Generatory możemy podzielić na wiele rodzajów: poróżnić je między sobą ze względu na jakość otrzymanego przebiegu,

Bardziej szczegółowo

2. Który oscylogram przedstawia przebieg o następujących parametrach amplitudowo-czasowych: Upp=4V, f=5khz.

2. Który oscylogram przedstawia przebieg o następujących parametrach amplitudowo-czasowych: Upp=4V, f=5khz. 1. Parametr Vpp zawarty w dokumentacji technicznej wzmacniacza mocy małej częstotliwości oznacza wartość: A. średnią sygnału, B. skuteczną sygnału, C. maksymalną sygnału, D. międzyszczytową sygnału. 2.

Bardziej szczegółowo

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania.

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania. Badanie liczników asynchronicznych - Ćwiczenie 4 1. el ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich

Bardziej szczegółowo

WFiIS CEL ĆWICZENIA WSTĘP TEORETYCZNY

WFiIS CEL ĆWICZENIA WSTĘP TEORETYCZNY WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Ćwiczenie

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 UKŁADY CZASOWE Białystok 2015 1. Cele ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

WZMACNIACZ OPERACYJNY

WZMACNIACZ OPERACYJNY 1. OPIS WKŁADKI DA 01A WZMACNIACZ OPERACYJNY Wkładka DA01A zawiera wzmacniacz operacyjny A 71 oraz zestaw zacisków, które umożliwiają dołączenie elementów zewnętrznych: rezystorów, kondensatorów i zwór.

Bardziej szczegółowo

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW

PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400) INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 74).Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z charakterystykami statycznymi i parametrami statycznymi bramki standardowej NAND

Bardziej szczegółowo

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania.

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania. adanie funktorów logicznych RTL - Ćwiczenie. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania..

Bardziej szczegółowo

Przerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia.

Przerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia. Kilka informacji o przerzutnikach Jaki układ elektroniczny nazywa się przerzutnikiem? Przerzutnikiem bistabilnym jest nazywany układ elektroniczny, charakteryzujący się istnieniem dwóch stanów wyróżnionych

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia

Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów

Bardziej szczegółowo

Podstawowe układy cyfrowe

Podstawowe układy cyfrowe ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 4 Podstawowe układy cyfrowe Grupa 6 Prowadzący: Roman Płaneta Aleksandra Gierut CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi,

Bardziej szczegółowo

Data oddania sprawozdania 19.12.2001

Data oddania sprawozdania 19.12.2001 Robert Gabor Śl. TZN Klasa IV B Numer 9 Grupa 2 Rok szkolny 2001/2002 Data wykonania 3.12.2001 Pracownia elektryczna Sprawozdanie numer 1 (9) Temat: Multiwibratory Data oddania sprawozdania 19.12.2001

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3

Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3 Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami przerzutników w wersji TTL realizowanymi przy wykorzystaniu bramek logicznych NAND oraz NO. 2. Wykaz

Bardziej szczegółowo

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych ĆWICZENIE 0 Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i właściwościami wzmacniaczy operacyjnych oraz podstawowych układów elektronicznych

Bardziej szczegółowo

PRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE

PRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE PRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE 1. WSTĘP Celem ćwiczenia jest ugruntowanie wiadomości dotyczących struktury wewnętrznej, zasad działania i właściwości, klasycznych przerzutników bi- i mono-stabilnych

Bardziej szczegółowo

Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:

Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia: Wydział EAIiIB Katedra Laboratorium Metrologii i Elektroniki Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Ćw. 5. Funktory CMOS cz.1 Data wykonania: Grupa (godz.): Dzień tygodnia:

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym 4. PRZEBIE ĆWICZENIA 4.1. Wyznaczanie parametrów wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym złączowym w

Bardziej szczegółowo

Układy sekwencyjne. Podstawowe informacje o układach cyfrowych i przerzutnikach (rodzaje, sposoby wyzwalania).

Układy sekwencyjne. Podstawowe informacje o układach cyfrowych i przerzutnikach (rodzaje, sposoby wyzwalania). Ćw. 10 Układy sekwencyjne 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z sekwencyjnymi, cyfrowymi blokami funkcjonalnymi. W ćwiczeniu w oparciu o poznane przerzutniki zbudowane zostaną układy rejestrów

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z techniką połączenia za pośrednictwem interfejsu. Zbudowanie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Inżynierii Systemów, Sygnałów i Elektroniki LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie Bramek Logicznych Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka 1 BADANIE FUNKCJI LOGICZNYCH 1.1 Korzystając

Bardziej szczegółowo

Modulatory PWM CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE

Modulatory PWM CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE Modulatory PWM CELE ĆWICZEŃ Poznanie budowy modulatora szerokości impulsów z układem A741. Analiza charakterystyk i podstawowych obwodów z układem LM555. Poznanie budowy modulatora szerokości impulsów

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET

Ćwiczenie 5. Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET Ćwiczenie 5 Zastosowanie tranzystorów bipolarnych cd. Wzmacniacze MOSFET Układ Super Alfa czyli tranzystory w układzie Darlingtona Zbuduj układ jak na rysunku i zaobserwuj dla jakiego położenia potencjometru

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Generator relaksacyjny

Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki. Generator relaksacyjny AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Teleinformatyki 2014 r. Generator relaksacyjny Ćwiczenie 6 1. Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się, poprzez badania symulacyjne, z działaniem generatorów

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12 PL 218560 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218560 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 393408 (51) Int.Cl. H03F 3/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY ELEKTRONIKI TEMATY ZALICZENIOWE

PODSTAWY ELEKTRONIKI TEMATY ZALICZENIOWE PODSTAWY ELEKTRONIKI TEMATY ZALICZENIOWE 1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych diody półprzewodnikowej a) Jakie napięcie pokaże woltomierz, jeśli wiadomo, że Uzas = 11V, R = 1,1kΩ a napięcie Zenera

Bardziej szczegółowo

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA 1. OGLĘDZINY Dokonać oględzin badanego układu cyfrowego określając jego:

Bardziej szczegółowo

dwójkę liczącą Licznikiem Podział liczników:

dwójkę liczącą Licznikiem Podział liczników: 1. Dwójka licząca Przerzutnik typu D łatwo jest przekształcić w przerzutnik typu T i zrealizować dzielnik modulo 2 - tzw. dwójkę liczącą. W tym celu wystarczy połączyć wyjście zanegowane Q z wejściem D.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 3 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM ELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Wybór i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnego el ćwiczenia elem ćwiczenia jest poznanie wpływu ustawienia punktu pracy tranzystora na pracę wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.

Bardziej szczegółowo

P-1a. Dyskryminator progowy z histerezą

P-1a. Dyskryminator progowy z histerezą wersja 03 2017 1. Zakres i cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zaprojektowanie dyskryminatora progowego z histerezą wykorzystując komparatora napięcia A710, a następnie zmontowanie i przebadanie funkcjonalne

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Badanie własności przełączających diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie własności przełączających złącza p - n oraz wybranych

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie

Bardziej szczegółowo

Podstawy elektroniki cz. 2 Wykład 2

Podstawy elektroniki cz. 2 Wykład 2 Podstawy elektroniki cz. 2 Wykład 2 Elementarne prawa Trzy elementarne prawa 2 Prawo Ohma Stosunek natężenia prądu płynącego przez przewodnik do napięcia pomiędzy jego końcami jest stały R U I 3 Prawo

Bardziej szczegółowo

STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych

STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problemami związanymi z projektowaniem, realizacją i pomiarami

Bardziej szczegółowo

Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132

Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132 Skład zespołu: 1. 2. 3. 4. KTEDR ELEKTRONIKI G Wydział EIiE LBORTORIUM TECNIKI CYFROWEJ Data wykonania: Suma punktów: Grupa Ocena 1 Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74C00, 74CT00, 7403, 74132 I. Konspekt

Bardziej szczegółowo

PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające

PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające Zapamiętywanie wartości wybranych zmiennych binarnych, jak również sekwencji tych wartości odbywa się w układach

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Wykład 6 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych: konwertery prąd-napięcie i napięcie-prąd, źródła prądowe i napięciowe, przesuwnik fazowy Konwerter prąd-napięcie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 2 Wzmacniacz operacyjny z ujemnym sprzężeniem zwrotnym.

ĆWICZENIE 2 Wzmacniacz operacyjny z ujemnym sprzężeniem zwrotnym. ĆWICZENIE 2 Wzmacniacz operacyjny z ujemnym sprzężeniem zwrotnym. Wykonanie ćwiczenia 1. Zapoznać się ze schematem ideowym układu ze wzmacniaczem operacyjnym. 2. Zmontować wzmacniacz odwracający fazę o

Bardziej szczegółowo

a) dolno przepustowa; b) górno przepustowa; c) pasmowo przepustowa; d) pasmowo - zaporowa.

a) dolno przepustowa; b) górno przepustowa; c) pasmowo przepustowa; d) pasmowo - zaporowa. EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2009/2010 Zadania dla grupy elektroniczno-telekomunikacyjnej na zawody I. stopnia 1 Na rysunku przedstawiony jest schemat

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone

Liniowe układy scalone Liniowe układy scalone Wykład 3 Układy pracy wzmacniaczy operacyjnych - całkujące i różniczkujące Cechy układu całkującego Zamienia napięcie prostokątne na trójkątne lub piłokształtne (stała czasowa układu)

Bardziej szczegółowo

Generatory przebiegów niesinusoidalnych

Generatory przebiegów niesinusoidalnych Generatory przebiegów niesinusoidalnych Ryszard J. Barczyński, 2017 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Przerzutniki Przerzutniki

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

PRACOWNIA ELEKTRONIKI PRACOWNIA ELEKTRONIKI Ćwiczenie nr 4 Temat ćwiczenia: Badanie wzmacniacza UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI 1. 2. 3. Imię i Nazwisko 1 szerokopasmowego RC 4. Data wykonania

Bardziej szczegółowo

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych

Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Zastosowania liniowe wzmacniaczy operacyjnych Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH POLITECHNIKA WARSZAWSKA Instytut Radioelektroniki Zakład Radiokomunikacji WIECZOROWE STUDIA NIESTACJONARNE Semestr III LABORATORIUM UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Ćwiczenie Temat: Badanie wzmacniacza operacyjnego

Bardziej szczegółowo

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Badanie właściwości multipleksera analogowego Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera

Bardziej szczegółowo

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2 tatyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami przerzutników w wersji TTL realizowanymi przy wykorzystaniu bramek logicznych NAND oraz

Bardziej szczegółowo

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs Ćwiczenie 18 Temat: Wzmacniacz JFET i MOSFET w układzie ze wspólnym źródłem. Cel ćwiczenia: Wzmacniacz JFET w układzie ze wspólnym źródłem. Zapoznanie się z konfiguracją polaryzowania tranzystora JFET.

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0 LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI Rev..0 LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ: Bramki. CEL ĆWICZENIA - praktyczna weryfikacja wiedzy teoretycznej z zakresu działania bramek, - pomiary parametrów bramek..

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Badanie przerzutników astabilnych i monostabilnych

Badanie przerzutników astabilnych i monostabilnych Badanie przerzutników astabilnych i monostabilnych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest przeprowadzenie badania podstawowych układów przerzutników astabilnych, bistabilnych i monostabilnych. 2. Przebieg

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 23 Poznanie symboli własności. Zmierzenie parametrów podstawowych bramek logicznych TTL i CMOS. Czytanie schematów elektronicznych,

Bardziej szczegółowo

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający

Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający Podstawowe zastosowania wzmacniaczy operacyjnych wzmacniacz odwracający i nieodwracający. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest praktyczne poznanie właściwości wzmacniaczy operacyjnych i ich podstawowych

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych w układach

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C

ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki nstrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEMENTY ELEKTRONCZNE TS1C300 018 BAŁYSTOK 013 1. CEL ZAKRES ĆWCZENA LABORATORYJNEGO

Bardziej szczegółowo

Logiczne układy bistabilne przerzutniki.

Logiczne układy bistabilne przerzutniki. Przerzutniki spełniają rolę elementów pamięciowych: -przy pewnej kombinacji stanów na pewnych wejściach, niezależnie od stanów innych wejść, stany wyjściowe oraz nie ulegają zmianie; -przy innej określonej

Bardziej szczegółowo

1. Nadajnik światłowodowy

1. Nadajnik światłowodowy 1. Nadajnik światłowodowy Nadajnik światłowodowy jest jednym z bloków światłowodowego systemu transmisyjnego. Przetwarza sygnał elektryczny na sygnał optyczny. Jakość transmisji w dużej mierze zależy od

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 21 Temat: Komparatory ze wzmacniaczem operacyjnym. Przerzutnik Schmitta i komparator okienkowy Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 21 Temat: Komparatory ze wzmacniaczem operacyjnym. Przerzutnik Schmitta i komparator okienkowy Cel ćwiczenia Ćwiczenie 21 Temat: Komparatory ze wzmacniaczem operacyjnym. Przerzutnik Schmitta i komparator okienkowy Cel ćwiczenia Poznanie zasady działania układów komparatorów. Prześledzenie zależności napięcia

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Piotr Grzejszczak Mieczysław Nowak P W Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej 2015 Wiadomości ogólne Tranzystor

Bardziej szczegółowo

TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS

TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE TRANZYSTOR UNIPOLARNY MOS RE. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z działaniem tranzystora unipolarnego MOS, - wykreślenie charakterystyk napięciowo-prądowych

Bardziej szczegółowo

Temat: Wzmacniacze operacyjne wprowadzenie

Temat: Wzmacniacze operacyjne wprowadzenie Temat: Wzmacniacze operacyjne wprowadzenie.wzmacniacz operacyjny schemat. Charakterystyka wzmacniacza operacyjnego 3. Podstawowe właściwości wzmacniacza operacyjnego bardzo dużym wzmocnieniem napięciowym

Bardziej szczegółowo