Modelowanie elementów Wprowadzenie

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Modelowanie elementów Wprowadzenie"

Transkrypt

1 PUAV Wykład 2

2 Modelowanie elementów Wprowadzenie

3 Modelowanie elementów Wprowadzenie Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk

4 Modelowanie elementów Wprowadzenie Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk Wyniki symulacji układu elektronicznego są tylko tak dobre, jak dobre są użyte modele elementów, nigdy lepsze

5 Modelowanie elementów Rodzaje modeli

6 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia

7 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych

8 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny

9 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny Modele czarna skrzynka : arbitralnie dobrane funkcje dopasowane do rzeczywistych charakterystyk; parametry dobierane doświadczalnie

10 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny Modele czarna skrzynka : arbitralnie dobrane funkcje dopasowane do rzeczywistych charakterystyk; parametry dobierane doświadczalnie Modele stosowane w praktyce wywodzą się z modeli fizycznych, lecz są uzupełniane i poprawiane przy użyciu arbitralnie dobranych funkcji. Część parametrów ma sens fizyczny, lecz w praktyce wszystkie są wyznaczane doświadczalnie

11 Modelowanie elementów Podział modeli

12 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego

13 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie

14 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów)

15 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów) Modele małosygnałowe: opisują właściwości elementu dla sygnałów zmiennych o małej amplitudzie

16 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów) Modele małosygnałowe: opisują właściwości elementu dla sygnałów zmiennych o małej amplitudzie Pełny model elementu zawarty w symulatorze układu elektronicznego zawiera zwykle wszystkie wymienione wyżej rodzaje modeli

17 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1)

18 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF...

19 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF... Dobre dopasowanie modelu DC nie zawsze oznacza dobrą dokładność modelowania charakterystyk małosygnałowych, i na odwrót; to jest istotne zwłaszcza dla układów analogowych

20 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF... Dobre dopasowanie modelu DC nie zawsze oznacza dobrą dokładność modelowania charakterystyk małosygnałowych, i na odwrót; to jest istotne zwłaszcza dla układów analogowych Parametry liczbowe modelu zwykle odnoszą się do tranzystora o ściśle określonych wymiarach kanału lub w najlepszym razie o wymiarach w pewnym, zwykle wąskim zakresie

21 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2)

22 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu!

23 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu! Model prostszy, lecz z dobrze dobranymi wartościami parametrów może być lepszy, niż model teoretycznie dokładniejszy, dla którego jednak nie dysponujemy dobrze dobranymi parametrami

24 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu! Model prostszy, lecz z dobrze dobranymi wartościami parametrów może być lepszy, niż model teoretycznie dokładniejszy, dla którego jednak nie dysponujemy dobrze dobranymi parametrami Parametry mające sens fizyczny (np. ruchliwość nośników) mogą mieć w dobrze dopasowanym modelu wartości odbiegające od rzeczywistych.

25 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3)

26 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu

27 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu Przed przystąpieniem do symulacji należy przeanalizować układ i wstępnie go zaprojektować przy użyciu obliczeń ręcznych i najprostszego modelu

28 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu Przed przystąpieniem do symulacji należy przeanalizować układ i wstępnie go zaprojektować przy użyciu obliczeń ręcznych i najprostszego modelu Ślepa wiara w wyniki symulacji może prowadzić do katastrofy projektu

29 Modelowanie elementów Skąd wziąć model?

30 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK)

31 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...)

32 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...) Modele te w postaci plików komputerowych mogą być niedostępne do bezpośredniego odczytu; nawet jeśli są, mają zwykle postać specyficzną dla konkretnego symulatora (Spectre, Eldo, HSpice...) - każdy symulator ma dany model nieco inaczej zaimplementowany

33 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...) Modele te w postaci plików komputerowych mogą być niedostępne do bezpośredniego odczytu; nawet jeśli są, mają zwykle postać specyficzną dla konkretnego symulatora (Spectre, Eldo, HSpice...) - każdy symulator ma dany model nieco inaczej zaimplementowany Parametry modelu najprostszego można określić symulacyjnie

34 Modelowanie elementów Modele producentów

35 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają:

36 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii

37 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners )

38 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners ) Dane rozkładów statystycznych parametrów (wartość średnia, odchylenie standardowe) - dokładniej o tym powiemy w wykładzie 3

39 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners ) Dane rozkładów statystycznych parametrów (wartość średnia, odchylenie standardowe) - dokładniej o tym powiemy w wykładzie 3 Dla każdego modelu określony jest zakres wymiarów tranzystora, w jakim model jest dostatecznie dokładny

40 Najprostszy tranzystor, najprostszy model

41 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj)

42 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku)

43 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej)

44 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej) Zerowa głebokość wnikania warstw zaporowych źródła i drenu w obszar pod bramką

45 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej) Zerowa głebokość wnikania warstw zaporowych źródła i drenu w obszar pod bramką Stała koncentracja domieszek w obszarze pod bramką

46 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS

47 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0

48 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0 Zakres liniowy (zwany też triodowym): VGS VTH, VDS < VDSsat I D = µc' ox W L ( V GS V TH )V DS V 2 DS 2

49 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0 Zakres liniowy (zwany też triodowym): VGS VTH, VDS < VDSsat I D = µc' ox W L ( V GS V TH )V DS V 2 DS 2 Zakres nasycenia: VGS VTH, VDS VDSsat I D = µc' ox W L ( ) 2 V GS V TH 2

50 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Oznaczenia: µ - ruchliwość nośników w kanale tranzystora C ox pojemność tlenku bramkowego na jednostkę powierzchni VTH napięcie progowe tranzystora W i L wymiary kanału Oznaczenia pomocnicze (będą stosowane dalej): K = µc ' ox β = K W L

51 Konwencje znaków

52 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych.

53 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych. Dla tranzystorów p-kanałowych stosuje się wzory w tej samej postaci, napięcia VGS i VDS oraz prąd drenu traktuje się jako wielkości dodatnie, a napięcie progowe, które jest ujemne, podstawia się jako wartość bezwzględną.

54 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych. Dla tranzystorów p-kanałowych stosuje się wzory w tej samej postaci, napięcia VGS i VDS oraz prąd drenu traktuje się jako wielkości dodatnie, a napięcie progowe, które jest ujemne, podstawia się jako wartość bezwzględną. Dla napięć polaryzujących złącza pn przyjmuje się, że napięcie dodatnie jest napięciem polaryzującym w kierunku przewodzenia, ujemne - napięciem polaryzującym w kierunku zaporowym.

55 Najprostszy model: parametry małosygnałowe

56 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja g m = δ I D δv GS

57 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja g m = δ I D δv GS ID ua i(vds) voltage sweepv VGS

58 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) voltage sweepv VGS

59 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) voltage sweepv VGS Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS

60 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS ID voltage sweepv ua -i(vds) VGS voltage sweep V VDS

61 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Miara nachylenia charakterystyki ID(VDS) ID voltage sweepv ua -i(vds) VGS voltage sweep V VDS

62 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS

63 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego

64 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego

65 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego

66 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego

67 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego v ds m = r ds i ds m = i ds m g ds Amplituda składowej zmiennej napięcia wyjściowego

68 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego Wzmocnienie napięciowe zależy od transkonduktancji gm i rezystancji wyjściowej rds, czyli odwrotności konduktancji wyjściowej gds v ds m = r ds i ds m = i ds m g ds Amplituda składowej zmiennej napięcia wyjściowego

69 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy

70 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego

71 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia

72 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia g ds = β ( V GS V TH V ) DS dla zakresu liniowego

73 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia g ds = β ( V GS V TH V ) DS dla zakresu liniowego g ds = λi D dla zakresu nasycenia

74 Najprostszy model: ulepszenia Efekt skracania kanału: we wzorze na prąd drenu zamiast L podstawiamy Le 1 L e = 1 ( L 2ΔL 1+ λv ) DS

75 Najprostszy model: ulepszenia Efekt skracania kanału: we wzorze na prąd drenu zamiast L podstawiamy Le 1 L e = 1 ( L 2ΔL 1+ λv ) DS gdzie λ jest parametrem empirycznym umożliwiającym uwzględnienie wpływu napięcia drenu na elektryczną długość kanału Le

76 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego

77 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego V TH = V TH 0 + γ ( 2Φ F V BS 2Φ ) F

78 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego V TH = V TH 0 + γ ( 2Φ F V BS 2Φ ) F W praktyce γ oraz ΦF traktuje się jako parametry wyznaczane empirycznie

79 Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu Tranzystor MOS Dalsze ulepszenia prostego modelu

80 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS V TH

81 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH

82 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH Transkonduktancja w zakresie podprogowym: g m = I D n kt q

83 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH Transkonduktancja w zakresie podprogowym: g m = I D It, n - stałe dla danej technologii; n trochę większe od 1 n kt q

84 Zakresy prądu drenu - terminologia

85 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja.

86 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja. Dla zakresu znacznie powyżej napięcia progowego stosowany jest też termin silna inwersja.

87 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja. Dla zakresu znacznie powyżej napięcia progowego stosowany jest też termin silna inwersja. Dla zakresu pośredniego stosowany jest też termin pośrednia (lub umiarkowana ) inwersja.

88 Prosty model a rzeczywiste tranzystory

89 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v VGS = 5 V 4.5 V V V V 2.5 V V V 1 V 0.5 V VDS [V]

90 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v3 ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: level VGS = 5 V VGS = 5 V V V V V V 3 V V 2.5 V V V 1.5 V V 0.5 V VDS [V] V 2 V 1.5 V 1 V VDS [V]

91 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v3 ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: level VGS = 5 V VGS = 5 V V V V V V 3 V V 2.5 V V V 1.5 V V 0.5 V VDS [V] V 2 V 1.5 V 1 V VDS [V] Dla rzeczywistych tranzystorów używamy bardziej złożonych modeli. Przybliżenie prostym modelem możliwe tylko lokalnie.

92 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p

93 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox

94 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0

95 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0 W zakresie liniowym pojemność ta jest dzielona po połowie między pojemność bramka-dren CGD i pojemność bramka-źródło CGS

96 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0 W zakresie liniowym pojemność ta jest dzielona po połowie między pojemność bramka-dren CGD i pojemność bramka-źródło CGS W zakresie nasycenia pojemność ta jest przypisywana pojemności bramka-źródło CGS zmniejszonej do 2WLC ox/3

97 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory

98 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1

99 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k

100 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k Is, m, Cj0, Vdyf, k - stałe wyznaczane doświadczalnie

101 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k Is, m, Cj0, Vdyf, k - stałe wyznaczane doświadczalnie Mogą być dodane rezystancje szeregowe źródła i drenu.

102 Schemat zastępczy pełny D C GDO R SD D DB C JD C GD G C GB B I D C GS C JS C GSO R SS D SB S

103 Schemat zastępczy małosygnałowy D C GDO R SD C JD C GD G g m v gs g mb v bs C GB B g ds C GS C JS C GSO R SS S

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne

TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne TEORIA TRANZYSTORÓW MOS Charakterystyki statyczne n Aktywne podłoże, a napięcia polaryzacji złącz tranzystora wzbogacanego nmos Obszar odcięcia > t, = 0 < t Obszar liniowy (omowy) Kanał indukowany napięciem

Bardziej szczegółowo

Stopnie wzmacniające

Stopnie wzmacniające PUAV Wykład 7 Najprostszy wzmacniacz R Tranzystor pracuje w zakresie nasycenia Konduktancja jściowa tranzystora do pominięcia: g ds

Bardziej szczegółowo

Modelowanie tranzystora MOS

Modelowanie tranzystora MOS Modelowanie tranzystora MOS 1. Przypomnienie podstawowych wiadomości o modelach elementów Co to jest model elementu? Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk.

Bardziej szczegółowo

Szumy Wprowadzenie. Źródłem szumu nazywamy źródło napięcia lub prądu, które generuje przebieg o losowej wartości chwilowej napięcia lub prądu

Szumy Wprowadzenie. Źródłem szumu nazywamy źródło napięcia lub prądu, które generuje przebieg o losowej wartości chwilowej napięcia lub prądu PUAV Wykład 3 Szumy Wprowadzenie Szumy Wprowadzenie Źródłem szumu nazywamy źródło napięcia lub prądu, które generuje przebieg o losowej wartości chwilowej napięcia lub prądu Szumy Wprowadzenie Źródłem

Bardziej szczegółowo

Źródła i zwierciadła prądowe

Źródła i zwierciadła prądowe PUAV Wykład 6 Źródła i zwierciadła prądowe Źródła i zwierciadła prądowe Źródło prądowe: element lub układ, który wymusza w jakiejś gałęzi prąd o określonej wartości Źródła i zwierciadła prądowe Źródło

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET

Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną

Bardziej szczegółowo

Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe

Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe Podział Tranzystor polowy (FET) Złączowy (JFET) Z izolowaną bramką (GFET) ze złączem m-s (MFET) ze złączem PN (PNFET) Typu MO (MOFET, HEXFET) cienkowarstwowy

Bardziej szczegółowo

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET

Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET r inż. Bogusław Boratyński Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechnika Wrocławska 2011 Literatura i źródła rysunków G. Rizzoni, Fundamentals of Electrical

Bardziej szczegółowo

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki

Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki Małgorzata Napieralska Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych tel. 26-55 mnapier@dmcs.p.lodz.pl Literatura W. Marciniak Przyrządy półprzewodnikowe

Bardziej szczegółowo

Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji

Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji 1 Technologia BiCMOS 2 Technologia CMOS i BiCMOS Tranzystor nmos Tranzystor pmos M2 (Cu) M3 (Cu) M1 (Cu) S Poli typu n D M1 (Cu) D Poli typu p S M1 (Cu)

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne w układach CMOS

Tranzystory bipolarne w układach CMOS PUAV Wykład 4 Tranzystory bipolarne w układach CMOS Tranzystor nmos Tranzystor pmos M1 (Al) M2 (Al) M1 (Al) M1 (Al) Tlenek polowy S Bramka poli typu n Tlenek bramkowy D Tlenek polowy Podłoże typu p D Bramka

Bardziej szczegółowo

Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET)

Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET) Tranzystory polowe Podział Tranzystor polowy (FET) Złączowy (JFET) Z izolowaną bramką (IFET) ze złączem ms (MFET) ze złączem PN (PNFET) Typu MO (MOFET, HEXFET) cienkowarstwowy (TFT) z kanałem zuobożanym

Bardziej szczegółowo

Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych

Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechnika Łódzka 2015 Komputerowe projektowanie układów 1 Koszty układów mikroelektronicznych Niemal

Bardziej szczegółowo

Budowa. Metoda wytwarzania

Budowa. Metoda wytwarzania Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych złączowych Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów polowych złączowych

Bardziej szczegółowo

Materiały używane w elektronice

Materiały używane w elektronice Materiały używane w elektronice Typ Rezystywność [Wm] Izolatory (dielektryki) Over 10 5 półprzewodniki 10-5 10 5 przewodniki poniżej 10-5 nadprzewodniki (poniżej 20K) poniżej 10-15 Model pasm energetycznych

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne w układach CMOS i ich modelowanie

Tranzystory bipolarne w układach CMOS i ich modelowanie Tranzystory bipolarne w układach CMOS i ich modelowanie 1. Po co modelujemy tranzystory bipolarne? W analogowych układach CMOS pasożytnicze struktury bipolarne bywają wykorzystywane jako elementy aktywne.

Bardziej szczegółowo

10. Tranzystory polowe (unipolarne FET)

10. Tranzystory polowe (unipolarne FET) PRZYPOMNIJ SOBIE! Elektronika: Co to jest półprzewodnik unipolarny (pod rozdz. 4.4). Co dzieje się z nośnikiem prądu w półprzewodniku (podrozdz. 4.4). 10. Tranzystory polowe (unipolarne FET) Tranzystory

Bardziej szczegółowo

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET

Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE AKAEMIA ÓRNICZO-HTNICZA IM. TANIŁAWA TAZICA W KRAKOWIE Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONICZNE dr inż. iotr ziurdzia paw. C-3, pokój 413; tel. 617-7-,

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH

ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Piotr Grzejszczak Mieczysław Nowak P W Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej 2015 Wiadomości ogólne Tranzystor

Bardziej szczegółowo

ELEMENTY ELEKTRONICZNE

ELEMENTY ELEKTRONICZNE AKAEMA ÓRNCZO-HTNCZA M. TANŁAWA TAZCA W KRAKOWE Wydział nformatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONCZNE dr inż. iotr ziurdzia paw. C-3, pokój 413; tel. 617-7-, piotr.dziurdzia@agh.edu.pl

Bardziej szczegółowo

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Publikacja współfinansowana

Bardziej szczegółowo

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs

Vgs. Vds Vds Vds. Vgs Ćwiczenie 18 Temat: Wzmacniacz JFET i MOSFET w układzie ze wspólnym źródłem. Cel ćwiczenia: Wzmacniacz JFET w układzie ze wspólnym źródłem. Zapoznanie się z konfiguracją polaryzowania tranzystora JFET.

Bardziej szczegółowo

IV. TRANZYSTOR POLOWY

IV. TRANZYSTOR POLOWY 1 IV. TRANZYSTOR POLOWY Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyk statycznych tranzystora polowego złączowego. Zagadnienia: zasada działania tranzystora FET 1. Wprowadzenie Nazwa tranzystor pochodzi z

Bardziej szczegółowo

schematic nmos_tb nmos_test ADE L Session-->Load State Cellview przejściowa Virtuoso Visualization & Analysis

schematic nmos_tb nmos_test ADE L Session-->Load State Cellview przejściowa Virtuoso Visualization & Analysis 1. Odczyt transkonduktancji gm 1. Uruchom środowisko Cadence 2. Otwórz symulację charakterystyki przejściowej z poprzednich zajęć. 1. Otwórz widok schematic celki nmos_tb (lub nmos_dc) z Twojej biblioteki

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170013 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 297079 (22) Data zgłoszenia: 17.12.1992 (51) IntCl6: H01L 29/792 (

Bardziej szczegółowo

Komparator napięcia. Komparator a wzmacniacz operacyjny. Vwe1. Vwy. Vwe2

Komparator napięcia. Komparator a wzmacniacz operacyjny. Vwe1. Vwy. Vwe2 PUAV Wykład 11 Komparator a wzmacniacz operacyjny Vwe1 Vwe2 + Vwy Komparator a wzmacniacz operacyjny Vwe1 Vwe2 + Vwy Wzmacniacz operacyjny ( ) V wy = k u V we2 V we1 Komparator a wzmacniacz operacyjny

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów.

Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów. ĆWICZENIE 3 Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie małosygnałowych parametrów tranzystorów bipolarnych na podstawie ich charakterystyk

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie A7 : Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania

Ćwiczenie A7 : Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania Ćwiczenie A7 : Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania Jacek Grela, Radosław Strzałka 3 maja 9 1 Wstęp 1.1 Wzory Poniżej zamieszczamy podstawowe wzory i definicje, których używaliśmy w obliczeniach.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów

Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne

Bardziej szczegółowo

1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*.

1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*. EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 0/0 Odpowiedzi do zadań dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia (okręgowe) Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x,

Bardziej szczegółowo

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny

Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny POLTEHNKA AŁOSTOKA Tranzystory WYDZAŁ ELEKTYZNY 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne bipolarny unipolarne Trójkońcówkowy (czterokońcówkowy) półprzewodnikowy element elektroniczny, posiadający

Bardziej szczegółowo

Tranzystory polowe. Klasyfikacja tranzystorów polowych

Tranzystory polowe. Klasyfikacja tranzystorów polowych Tranzystory polowe Wiadomości podstawowe Tranzystory polowe w skrócie FET (Field Effect Transistor), są równieŝ nazywane unipolarnymi. Działanie tych tranzystorów polega na sterowanym transporcie jednego

Bardziej szczegółowo

PUAV projekt Ćwiczenia 1-2

PUAV projekt Ćwiczenia 1-2 PUAV projekt Ćwiczenia 1-2 Tematyka: charakterystyki i modelowanie tranzystora MOS. Cel ćwiczenia: praktyczne zapoznanie się z zagadnieniami modelowania, dobór parametrów i ocena dokładności modeli. Przypomnienie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Poznanie budowy i zasady pracy tranzystora JFET. Pomiar charakterystyk tranzystora JFET. Czytanie schematów elektronicznych. Przestrzeganie

Bardziej szczegółowo

ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY

ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY RE. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - Pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych tranzystora. - Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora

Bardziej szczegółowo

ELEKTRONICZNA APARATURA DOZYMETRYCZNA. Wyk. 4. Tranzystor MOS

ELEKTRONICZNA APARATURA DOZYMETRYCZNA. Wyk. 4. Tranzystor MOS Dr inż. Andrzej Skoczeń KOiDC, WFiIS, AGH Rok akademicki 016/017 ELEKTRONICZNA APARATURA Tranzystor MOS DOZYMETRYCZNA Wyk. 4 4 maj 017 Fizyka zmian napięcia progowego tranzystora MOS Upływ boczny w tranzystorze

Bardziej szczegółowo

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW

Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW SYMULACJA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Z ZASTOSOWANIEM PROGRAMU SPICE Opracował dr inż. Michał Szermer Łódź, dn. 03.01.2017 r. ~ 2 ~ Spis treści Spis treści 3

Bardziej szczegółowo

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska

Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska 1947 r. pierwszy tranzystor ostrzowy John Bradeen (z lewej), William Shockley (w środku) i Walter Brattain (z prawej) (Bell Labs) Zygmunt Kubiak

Bardziej szczegółowo

Modelowanie diod półprzewodnikowych

Modelowanie diod półprzewodnikowych Modelowanie diod półprzewodnikowych Programie PSPICE wbudowane są modele wielu elementów półprzewodnikowych takich jak diody, tranzystory bipolarne, tranzystory dipolowe złączowe, tranzystory MOSFET, tranzystory

Bardziej szczegółowo

W książce tej przedstawiono:

W książce tej przedstawiono: Elektronika jest jednym z ważniejszych i zarazem najtrudniejszych przedmiotów wykładanych na studiach technicznych. Co istotne, dogłębne zrozumienie jej prawideł, jak również opanowanie pewnej wiedzy praktycznej,

Bardziej szczegółowo

Układy i Systemy Elektromedyczne

Układy i Systemy Elektromedyczne UiSE - laboratorium Układy i Systemy Elektromedyczne Laboratorium 3 Elektroniczny stetoskop - mikrofon elektretowy. Opracował: dr inż. Jakub Żmigrodzki Zakład Inżynierii Biomedycznej, Instytut Metrologii

Bardziej szczegółowo

CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego

CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1.. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie

Bardziej szczegółowo

6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE

6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE 6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE 6.1. WSTĘP Tranzystory unipolarne, inaczej polowe, są przyrządami półprzewodnikowymi, których działanie polega na sterowaniu za pomocą pola elektrycznego wielkością prądu przez

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM LKTRONIKI Ćwiczenie Parametry statyczne tranzystorów bipolarnych el ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Diody i tranzystory. - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy)

Diody i tranzystory. - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy) Diody i tranzystory - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy) bipolarne (NPN i PNP) i polowe (PNFET i MOSFET), Fototranzystory i IGBT (Insulated

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne

Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne lementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne Wprowadzenie Złacze PN spolaryzowane zaporowo: P N U - + S S U SAT =0.1...0.2V U S q D p L p p n D n n L n p gdzie: D p,n współczynniki dyfuzji

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Pedagogiczny

Uniwersytet Pedagogiczny Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR UNIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data

Bardziej szczegółowo

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET

Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Ryszard J. Barczyński, 2009 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Tranzystor polowy złączowy

Bardziej szczegółowo

ELEKTRONIKA ELM001551W

ELEKTRONIKA ELM001551W ELEKTRONIKA ELM001551W W4 Unoszenie Dyfuzja 2 Półprzewodnik w stanie nierównowagi termodynamicznej np n 2 i n = n0 + n' p = p0 + p ' Półprzewodnik w stanie nierównowagi termodynamicznej Generacja i rekombinacja

Bardziej szczegółowo

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: Podstawy Elektroniki Prowadzący: Prof. dr hab. Zbigniew Lisik Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: 116 e-mail: zbigniew.lisik@p.lodz.pl Program: wykład - 15h laboratorium

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES

Bardziej szczegółowo

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS

Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 3 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora unipolarnego

Bardziej szczegółowo

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51

Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51 Część 3 Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51 Budowa przyrządów półprzewodnikowych Struktura składa się z warstw Warstwa

Bardziej szczegółowo

Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia.

Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia. WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Pomiar charakterystyk

Bardziej szczegółowo

Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE

Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE projektowanie poradnikowe u 1 (t) C 1 U B0 I 1 R 1 R 2 I 2 T I B0 R E I E0 I C0 V CC R C C 2 U C0 U E0 C E u 2 (t) Zadania elementów: T tranzystor- sterowane źródło prądu

Bardziej szczegółowo

Elementy przełącznikowe

Elementy przełącznikowe Elementy przełącznikowe Dwie główne grupy: - niesterowane (diody p-n lub Schottky ego), - sterowane (tranzystory lub tyrystory) Idealnie: stan ON zwarcie, stan OFF rozwarcie, przełączanie bez opóźnienia

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacz operacyjny

Wzmacniacz operacyjny parametry i zastosowania Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego (klasyka: Fairchild ua702) 1965 Wzmacniacze

Bardziej szczegółowo

Lustra prądowe i układ polaryzacji

Lustra prądowe i układ polaryzacji Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Instrukcja do przedmiotu Projektowanie układów analogowych dla systemów VLSI Lustra prądowe

Bardziej szczegółowo

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego

IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego 1 V. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności fotoprądu zwarcia i fotonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii słonecznej.

Bardziej szczegółowo

Symulacja układów elektronicznych z użyciem oprogramowania SPICE zajęcia warsztatowe SKN CHIP. Przygotował Bogdan Pankiewicz, maj 2017

Symulacja układów elektronicznych z użyciem oprogramowania SPICE zajęcia warsztatowe SKN CHIP. Przygotował Bogdan Pankiewicz, maj 2017 Symulacja układów elektronicznych z użyciem oprogramowania SPICE zajęcia warsztatowe SKN CHIP Przygotował Bogdan Pankiewicz, maj 2017 Symulacja układów z użyciem SPICE zajęcia SKN CHIP Plan zajęć: Krótkie

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS

Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia

Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów

Bardziej szczegółowo

Ekstrakcja parametrów tranzystorów

Ekstrakcja parametrów tranzystorów Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Instrukcja do przedmiotu Projektowanie układów analogowych dla systemów VLSI Ekstrakcja

Bardziej szczegółowo

EUROELEKTRA. Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. Rok szkolny 2012/2013. Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia

EUROELEKTRA. Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. Rok szkolny 2012/2013. Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia 1. Wykorzystując rachunek liczb zespolonych wyznacz impedancję

Bardziej szczegółowo

WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ

WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ Instytut Fizyki LABORATORIUM PODSTAW ELEKTROTECHNIKI, ELEKTRONIKI I MIERNICTWA ĆWICZENIE 2 Charakterystyki tranzystora polowego POJĘCIA

Bardziej szczegółowo

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0,

W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0, Bierne obwody RC. Filtr dolnoprzepustowy. Filtr dolnoprzepustowy jest układem przenoszącym sygnały o małej częstotliwości bez zmian, a powodującym tłumienie i opóźnienie fazy sygnałów o większych częstotliwościach.

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI

ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności

Bardziej szczegółowo

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET

Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET Złącza p-n, zastosowania Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET Złącze p-n, polaryzacja złącza, prąd dyfuzyjny (rekombinacyjny) Elektrony z obszaru n na złączu dyfundują

Bardziej szczegółowo

Badanie tranzystora bipolarnego

Badanie tranzystora bipolarnego Spis ćwiczeń: Badanie tranzystora bipolarnego Symulacja komputerowa PSPICE 9.1 www.pspice.com 1. Charakterystyka wejściowa tranzystora bipolarnego 2. Wyznaczanie rezystancji wejściowej 3. Rysowanie charakterystyk

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS

Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS Ćwiczenie 9 TRNZYSTORY POLOWE MOS Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk napięciowo-prądowych tranzystorów n-mosfet i p-mosfet, tworzących pary komplementarne w układzie scalonym CD4007

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Wykład 6 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych: konwertery prąd-napięcie i napięcie-prąd, źródła prądowe i napięciowe, przesuwnik fazowy Konwerter prąd-napięcie

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz

Bardziej szczegółowo

Laboratorium układów elektronicznych. Zasilanie i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnych i unipolarnych.

Laboratorium układów elektronicznych. Zasilanie i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnych i unipolarnych. Ćwiczenie numer Zasilanie i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnych i unipolarnych Zagadnienia do przygotowania kłady zasilania tranzystorów bipolarnych Wpływ temperatury na podstawowe parametry

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH

Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH LABORAORUM ELEKRONK Ćwiczenie 1 Parametry statyczne diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk podstawowych typów diod półprzewodnikowych oraz zapoznanie

Bardziej szczegółowo

kierunek: Automatyka i Robotyka Zadania uzupełniające do wykładu i ćwiczeń laboratoryjnych z Elektroniki sem. II

kierunek: Automatyka i Robotyka Zadania uzupełniające do wykładu i ćwiczeń laboratoryjnych z Elektroniki sem. II kierunek: Automatyka i Robotyka Zadania uzupełniające do wykładu i ćwiczeń laboratoryjnych z Elektroniki sem. II iody prostownicze i diody Zenera Zadanie Podać schematy zastępcze zlinearyzowane dla diody

Bardziej szczegółowo

Przyrządy półprzewodnikowe część 4

Przyrządy półprzewodnikowe część 4 Przyrządy półprzewodnikowe część 4 Prof. Zbigniew Lisik Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: 110 e-mail: zbigniew.lisik@p.lodz.pl wykład 30 godz. laboratorium 30 godz WEEIiA

Bardziej szczegółowo

A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania

A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania 1 Zakres ćwiczenia 1.1 Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET. 1.2 Projekt, montaż i badanie układu: 1.2.1 sterowanego dzielnika napięcia,

Bardziej szczegółowo

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych

Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC na tranzystorach bipolarnych Wzmacniacz jest to urządzenie elektroniczne, którego zadaniem jest : proporcjonalne zwiększenie amplitudy wszystkich składowych widma sygnału

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze prądu stałego

Wzmacniacze prądu stałego PUAV Wykład 13 Wzmacniacze prądu stałego Idea Problem: wzmacniacz prądu stałego (lub sygnałów o bardzo małej częstotliwości, rzędu ułamków Hz) zrealizowany konwencjonalnie wprowadza błąd wynikający z wejściowego

Bardziej szczegółowo

Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY

Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY Tranzystor Trójkońcówkowy półprzewodnikowy element elektroniczny, posiadający zdolność wzmacniania sygnału elektrycznego. Nazwa tranzystor pochodzi z angielskiego zwrotu

Bardziej szczegółowo

, , ,

, , , Filtry scalone czasu ciągłego laboratorium Organizacja laboratorium W czasie laboratorium należy wykonać 5 ćwiczeń symulacyjnych z użyciem symulatora PSPICE a wyniki symulacji należy przesłać prowadzącemu

Bardziej szczegółowo

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany

Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany Wykład VI Diody Równanie Shockley a Potencjał wbudowany 2 I-V i potencjał wbudowany Temperatura 77K a) Ge E g =0.7eV b) Si E g =1.14eV c) GaAs E g =1.5eV d) GaAsP E g =1.9eV qv 0 (0. 5 0. 7)E g 3 I-V i

Bardziej szczegółowo

Tranzystory. bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory

Tranzystory. bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory Tranzystory bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory Tranzystory -rodzaje Tranzystor to element, który posiada zdolność wzmacniania mocy sygnału elektrycznego. Z uwagi na tą właściwość,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH

Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH Ćwiczenie 7 PRMETRY MŁOSYGNŁO TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie niektórych parametrów małosygnałowych hybrydowego i modelu hybryd tranzystora bipolarnego. modelu Konspekt przygotowanie

Bardziej szczegółowo

Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy

Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy Zalety sterowanie polowe niska moc sterowania wyłącznie nośniki większościowe krótki czas przełączania wysoka maksymalna częstotliwość pracy

Bardziej szczegółowo

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis

SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis SYMBOLE GRAFICZNE y Nazwa triasowy blokujący wstecznie SCR asymetryczny ASCR Symbol graficzny Struktura Charakterystyka Opis triasowy blokujący wstecznie SCR ma strukturę czterowarstwową pnpn lub npnp.

Bardziej szczegółowo

Politechnika Białostocka

Politechnika Białostocka Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE 2 (TS1C500 030) Tranzystor w układzie wzmacniacza

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Dr inż. Adam Klimowicz konsultacje: wtorek, 9:15 12:00 czwartek, 9:15 10:00 pok. 132 aklim@wi.pb.edu.pl Literatura Łakomy M. Zabrodzki J. : Liniowe układy scalone

Bardziej szczegółowo

Badanie tranzystorów MOSFET

Badanie tranzystorów MOSFET Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 7045 Szczecin Pracownia Elektroniki Badanie tranzystorów MOSFET Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: budowa i zasada działania tranzystora MOSFET; charakterystyki

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 7 Tranzystor polowy MOSFET

Ćwiczenie nr 7 Tranzystor polowy MOSFET Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Opracował zespół: Marek Panek, Waldemar Oleszkiewicz, Iwona Zborowska-Lindert, Bogdan Paszkiewicz, Małgorzata Kramkowska, Beata Ściana, Zdzisław Synowiec, Bogusław

Bardziej szczegółowo

Urządzenia półprzewodnikowe

Urządzenia półprzewodnikowe Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor

Bardziej szczegółowo

Lekcja 19. Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości.

Lekcja 19. Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości. Lekcja 19 Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości. Wzmacniacze pośrednich częstotliwości zazwyczaj są trzy- lub czterostopniowe, gdyż sygnał na ich wejściu musi być znacznie wzmocniony niż we wzmacniaczu

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.

Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i otoniki Politechniki Wrocławskiej TUDA DZENNE LABORATORUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNKOWYCH Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki = f(u) złącza p-n.. Zagadnienia do samodzielnego

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych.

Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych. Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych. Ćwiczenie ma następujące części: 1 Pomiar rezystancji i sprawdzanie prawa Ohma, metoda najmniejszych kwadratów. 2 Pomiar średnicy pręta.

Bardziej szczegółowo