Modelowanie elementów Wprowadzenie
|
|
- Piotr Bednarczyk
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 PUAV Wykład 2
2 Modelowanie elementów Wprowadzenie
3 Modelowanie elementów Wprowadzenie Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk
4 Modelowanie elementów Wprowadzenie Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk Wyniki symulacji układu elektronicznego są tylko tak dobre, jak dobre są użyte modele elementów, nigdy lepsze
5 Modelowanie elementów Rodzaje modeli
6 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia
7 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych
8 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny
9 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny Modele czarna skrzynka : arbitralnie dobrane funkcje dopasowane do rzeczywistych charakterystyk; parametry dobierane doświadczalnie
10 Modelowanie elementów Rodzaje modeli Modele tablicowe: opis przez podanie tablic wartości prądów dla wybranych dyskretnych wartości napięć - dziś wyszły z użycia Modele analityczne: opis przy użyciu wzorów i/lub równań matematycznych Modele fizyczne: wzory będące rozwiązaniem równań opisujących zjawiska fizyczne w elemencie; parametry mają określony sens fizyczny Modele czarna skrzynka : arbitralnie dobrane funkcje dopasowane do rzeczywistych charakterystyk; parametry dobierane doświadczalnie Modele stosowane w praktyce wywodzą się z modeli fizycznych, lecz są uzupełniane i poprawiane przy użyciu arbitralnie dobranych funkcji. Część parametrów ma sens fizyczny, lecz w praktyce wszystkie są wyznaczane doświadczalnie
11 Modelowanie elementów Podział modeli
12 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego
13 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie
14 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów)
15 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów) Modele małosygnałowe: opisują właściwości elementu dla sygnałów zmiennych o małej amplitudzie
16 Modelowanie elementów Podział modeli Modele DC: opisują charakterystyki I(V) elementu dla prądu stałego Modele zjawisk reaktancyjnych: opisują właściwości pojemności (i ew. indukcyjności) występujących w elemencie Modele specjalne: opisują inne właściwości elementu istotne tylko w niektórych zastosowaniach (np. modele źródeł szumów) Modele małosygnałowe: opisują właściwości elementu dla sygnałów zmiennych o małej amplitudzie Pełny model elementu zawarty w symulatorze układu elektronicznego zawiera zwykle wszystkie wymienione wyżej rodzaje modeli
17 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1)
18 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF...
19 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF... Dobre dopasowanie modelu DC nie zawsze oznacza dobrą dokładność modelowania charakterystyk małosygnałowych, i na odwrót; to jest istotne zwłaszcza dla układów analogowych
20 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (1) Model DC może dobrze opisywać charakterystyki w jednym zakresie napięć i prądów, a znacznie gorzej w innym; ten sam tranzystor może mieć model cyfrowy, model analogowy, model RF... Dobre dopasowanie modelu DC nie zawsze oznacza dobrą dokładność modelowania charakterystyk małosygnałowych, i na odwrót; to jest istotne zwłaszcza dla układów analogowych Parametry liczbowe modelu zwykle odnoszą się do tranzystora o ściśle określonych wymiarach kanału lub w najlepszym razie o wymiarach w pewnym, zwykle wąskim zakresie
21 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2)
22 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu!
23 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu! Model prostszy, lecz z dobrze dobranymi wartościami parametrów może być lepszy, niż model teoretycznie dokładniejszy, dla którego jednak nie dysponujemy dobrze dobranymi parametrami
24 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (2) Nie wolno wartości parametrów okeślonych dla jednego modelu używać w innym modelu! Model prostszy, lecz z dobrze dobranymi wartościami parametrów może być lepszy, niż model teoretycznie dokładniejszy, dla którego jednak nie dysponujemy dobrze dobranymi parametrami Parametry mające sens fizyczny (np. ruchliwość nośników) mogą mieć w dobrze dopasowanym modelu wartości odbiegające od rzeczywistych.
25 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3)
26 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu
27 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu Przed przystąpieniem do symulacji należy przeanalizować układ i wstępnie go zaprojektować przy użyciu obliczeń ręcznych i najprostszego modelu
28 Modelowanie elementów Pułapki modelowania i symulacji (3) Dysponowanie nawet najlepszym symulatorem i najdokładniejszymi modelami nie zwalnia od zrozumienia działania układu Przed przystąpieniem do symulacji należy przeanalizować układ i wstępnie go zaprojektować przy użyciu obliczeń ręcznych i najprostszego modelu Ślepa wiara w wyniki symulacji może prowadzić do katastrofy projektu
29 Modelowanie elementów Skąd wziąć model?
30 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK)
31 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...)
32 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...) Modele te w postaci plików komputerowych mogą być niedostępne do bezpośredniego odczytu; nawet jeśli są, mają zwykle postać specyficzną dla konkretnego symulatora (Spectre, Eldo, HSpice...) - każdy symulator ma dany model nieco inaczej zaimplementowany
33 Modelowanie elementów Skąd wziąć model? Parametry modeli elementów są dostarczane przez producentów układów jako jedna z części składowych pakietu danych niezbędnych do projektowania (Physical Design Kit - PDK) Są to modele skomplikowane, całkowicie nieprzydatne do ręcznych obliczeń (dla tranzystorów MOS: BSIM3/4/6, PSP, EKV3.0, UTBB-SOI...) Modele te w postaci plików komputerowych mogą być niedostępne do bezpośredniego odczytu; nawet jeśli są, mają zwykle postać specyficzną dla konkretnego symulatora (Spectre, Eldo, HSpice...) - każdy symulator ma dany model nieco inaczej zaimplementowany Parametry modelu najprostszego można określić symulacyjnie
34 Modelowanie elementów Modele producentów
35 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają:
36 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii
37 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners )
38 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners ) Dane rozkładów statystycznych parametrów (wartość średnia, odchylenie standardowe) - dokładniej o tym powiemy w wykładzie 3
39 Modelowanie elementów Modele producentów Producenci układów w swoich PDK dostarczają: Modele nominalne - z typowymi wartościami parametrów dla tranzystorów wykonanych w danej technologii Modele dla skrajnych wartości parametrów dopuszczalnych w danym procesie produkcyjnym (potocznie narożniki procesu, ang. process corners ) Dane rozkładów statystycznych parametrów (wartość średnia, odchylenie standardowe) - dokładniej o tym powiemy w wykładzie 3 Dla każdego modelu określony jest zakres wymiarów tranzystora, w jakim model jest dostatecznie dokładny
40 Najprostszy tranzystor, najprostszy model
41 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj)
42 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku)
43 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej)
44 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej) Zerowa głebokość wnikania warstw zaporowych źródła i drenu w obszar pod bramką
45 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Długi kanał (długość kanału L jest o rząd wielkości większa od wymiarów w głąb : grubości tlenku tox i głębokości złącz źródła i drenu xj) Szeroki kanał (szerokość kanału W jest wymiarem prostopadłym do płaszczyzny rysunku) Prosta geometria (jak na rysunku wyżej) Zerowa głebokość wnikania warstw zaporowych źródła i drenu w obszar pod bramką Stała koncentracja domieszek w obszarze pod bramką
46 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS
47 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0
48 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0 Zakres liniowy (zwany też triodowym): VGS VTH, VDS < VDSsat I D = µc' ox W L ( V GS V TH )V DS V 2 DS 2
49 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Model do obliczeń ręcznych, zwany kwadratowym (Spice level 1) Prąd drenu ID w funkcji napięć bramka-źródło VGS i dren-źródło VDS Zakres podprogowy: VGS < VTH I D = 0 Zakres liniowy (zwany też triodowym): VGS VTH, VDS < VDSsat I D = µc' ox W L ( V GS V TH )V DS V 2 DS 2 Zakres nasycenia: VGS VTH, VDS VDSsat I D = µc' ox W L ( ) 2 V GS V TH 2
50 Najprostszy tranzystor, najprostszy model Oznaczenia: µ - ruchliwość nośników w kanale tranzystora C ox pojemność tlenku bramkowego na jednostkę powierzchni VTH napięcie progowe tranzystora W i L wymiary kanału Oznaczenia pomocnicze (będą stosowane dalej): K = µc ' ox β = K W L
51 Konwencje znaków
52 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych.
53 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych. Dla tranzystorów p-kanałowych stosuje się wzory w tej samej postaci, napięcia VGS i VDS oraz prąd drenu traktuje się jako wielkości dodatnie, a napięcie progowe, które jest ujemne, podstawia się jako wartość bezwzględną.
54 Konwencje znaków Wzory opisujące charakterystyki tranzystorów MOS podane są w wersji dla tranzystorów n-kanałowych. Dla tranzystorów p-kanałowych stosuje się wzory w tej samej postaci, napięcia VGS i VDS oraz prąd drenu traktuje się jako wielkości dodatnie, a napięcie progowe, które jest ujemne, podstawia się jako wartość bezwzględną. Dla napięć polaryzujących złącza pn przyjmuje się, że napięcie dodatnie jest napięciem polaryzującym w kierunku przewodzenia, ujemne - napięciem polaryzującym w kierunku zaporowym.
55 Najprostszy model: parametry małosygnałowe
56 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja g m = δ I D δv GS
57 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja g m = δ I D δv GS ID ua i(vds) voltage sweepv VGS
58 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) voltage sweepv VGS
59 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) voltage sweepv VGS Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS
60 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS ID voltage sweepv ua -i(vds) VGS voltage sweep V VDS
61 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Transkonduktancja ID ua i(vds) g m = δ I D δv GS Miara nachylenia charakterystyki ID(VGS) Konduktancja wyjściowa g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Miara nachylenia charakterystyki ID(VDS) ID voltage sweepv ua -i(vds) VGS voltage sweep V VDS
62 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS
63 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego
64 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego
65 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego
66 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego
67 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego v ds m = r ds i ds m = i ds m g ds Amplituda składowej zmiennej napięcia wyjściowego
68 Parametry małosygnałowe: sens i zastosowanie ua -i(vds) ua -i(vds) ID ID g m = δ I D δv GS i ds m = g m v gs m g ds = 1 r ds = δ I D δv DS Amplituda składowej zmiennej prądu wyjściowego voltage sweep V VGS voltage sweep V VDS vgs m Amplituda składowej zmiennej napięcia wejściowego Wzmocnienie napięciowe zależy od transkonduktancji gm i rezystancji wyjściowej rds, czyli odwrotności konduktancji wyjściowej gds v ds m = r ds i ds m = i ds m g ds Amplituda składowej zmiennej napięcia wyjściowego
69 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy
70 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego
71 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia
72 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia g ds = β ( V GS V TH V ) DS dla zakresu liniowego
73 Najprostszy model: parametry małosygnałowe Związki między parametrami małosygnałowymi, a punktem pracy g m = βv DS dla zakresu liniowego g m = β ( V GS V ) TH = 2βI D = 2I D V GS V TH dla zakresu nasycenia g ds = β ( V GS V TH V ) DS dla zakresu liniowego g ds = λi D dla zakresu nasycenia
74 Najprostszy model: ulepszenia Efekt skracania kanału: we wzorze na prąd drenu zamiast L podstawiamy Le 1 L e = 1 ( L 2ΔL 1+ λv ) DS
75 Najprostszy model: ulepszenia Efekt skracania kanału: we wzorze na prąd drenu zamiast L podstawiamy Le 1 L e = 1 ( L 2ΔL 1+ λv ) DS gdzie λ jest parametrem empirycznym umożliwiającym uwzględnienie wpływu napięcia drenu na elektryczną długość kanału Le
76 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego
77 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego V TH = V TH 0 + γ ( 2Φ F V BS 2Φ ) F
78 Najprostszy model: ulepszenia Wpływ napięcia polaryzacji podłoża na napięcie progowe: zaporowe napięcie VBS między bramką i źródłem powiększa ładunek Qb, co powoduje wzrost napięcia progowego V TH = V TH 0 + γ ( 2Φ F V BS 2Φ ) F W praktyce γ oraz ΦF traktuje się jako parametry wyznaczane empirycznie
79 Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu Tranzystor MOS Dalsze ulepszenia prostego modelu
80 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS V TH
81 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH
82 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH Transkonduktancja w zakresie podprogowym: g m = I D n kt q
83 Dalsze ulepszenia prostego modelu log I D I D Prąd podprogowy: jest to składowa dyfuzyjna całkowitego prądu drenu I Dd I Du V GS ( ) W I D( p) = I t L exp q V GS V TH nkt 1 exp qv DS kt V TH Transkonduktancja w zakresie podprogowym: g m = I D It, n - stałe dla danej technologii; n trochę większe od 1 n kt q
84 Zakresy prądu drenu - terminologia
85 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja.
86 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja. Dla zakresu znacznie powyżej napięcia progowego stosowany jest też termin silna inwersja.
87 Zakresy prądu drenu - terminologia Dla zakresu podprogowego stosowany jest też termin słaba inwersja. Dla zakresu znacznie powyżej napięcia progowego stosowany jest też termin silna inwersja. Dla zakresu pośredniego stosowany jest też termin pośrednia (lub umiarkowana ) inwersja.
88 Prosty model a rzeczywiste tranzystory
89 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v VGS = 5 V 4.5 V V V V 2.5 V V V 1 V 0.5 V VDS [V]
90 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v3 ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: level VGS = 5 V VGS = 5 V V V V V V 3 V V 2.5 V V V 1.5 V V 0.5 V VDS [V] V 2 V 1.5 V 1 V VDS [V]
91 Prosty model a rzeczywiste tranzystory ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: BSIM3v3 ID [A] NMOS device no. 4 Device dimensions: W = 5 um, L = 0.5 um Device model: level VGS = 5 V VGS = 5 V V V V V V 3 V V 2.5 V V V 1.5 V V 0.5 V VDS [V] V 2 V 1.5 V 1 V VDS [V] Dla rzeczywistych tranzystorów używamy bardziej złożonych modeli. Przybliżenie prostym modelem możliwe tylko lokalnie.
92 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p
93 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox
94 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0
95 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0 W zakresie liniowym pojemność ta jest dzielona po połowie między pojemność bramka-dren CGD i pojemność bramka-źródło CGS
96 Prosty model - pojemności Pojemność bramki względem obszaru kanału C GS0 : pojemność "zakładki" bramki nad źródłem C GD0 : pojemność "zakładki" bramki nad drenem bramka n+ źródło dren n+ p Całkowita pojemność bramki: C gate = WLC ' ox W zakresie podprogowym pojemność ta jest pojemnością bramkapodłoże CGB; w pozostałych zakresach CGB = 0 W zakresie liniowym pojemność ta jest dzielona po połowie między pojemność bramka-dren CGD i pojemność bramka-źródło CGS W zakresie nasycenia pojemność ta jest przypisywana pojemności bramka-źródło CGS zmniejszonej do 2WLC ox/3
97 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory
98 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1
99 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k
100 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k Is, m, Cj0, Vdyf, k - stałe wyznaczane doświadczalnie
101 Proste modele źródła i drenu Źródło i dren są modelowane jako diody, używane są proste wzory Prąd źródło lub dren - podłoże: I = I S exp qv mkt 1 Pojemność złącza źródło lub dren - podłoże: C j = 1 C j 0 V V dyf k Is, m, Cj0, Vdyf, k - stałe wyznaczane doświadczalnie Mogą być dodane rezystancje szeregowe źródła i drenu.
102 Schemat zastępczy pełny D C GDO R SD D DB C JD C GD G C GB B I D C GS C JS C GSO R SS D SB S
103 Schemat zastępczy małosygnałowy D C GDO R SD C JD C GD G g m v gs g mb v bs C GB B g ds C GS C JS C GSO R SS S
TEORIA TRANZYSTORÓW MOS. Charakterystyki statyczne
TEORIA TRANZYSTORÓW MOS Charakterystyki statyczne n Aktywne podłoże, a napięcia polaryzacji złącz tranzystora wzbogacanego nmos Obszar odcięcia > t, = 0 < t Obszar liniowy (omowy) Kanał indukowany napięciem
Stopnie wzmacniające
PUAV Wykład 7 Najprostszy wzmacniacz R Tranzystor pracuje w zakresie nasycenia Konduktancja jściowa tranzystora do pominięcia: g ds
Modelowanie tranzystora MOS
Modelowanie tranzystora MOS 1. Przypomnienie podstawowych wiadomości o modelach elementów Co to jest model elementu? Modelem elementu elektronicznego nazywamy ilościowy opis jego elektrycznych charakterystyk.
Szumy Wprowadzenie. Źródłem szumu nazywamy źródło napięcia lub prądu, które generuje przebieg o losowej wartości chwilowej napięcia lub prądu
PUAV Wykład 3 Szumy Wprowadzenie Szumy Wprowadzenie Źródłem szumu nazywamy źródło napięcia lub prądu, które generuje przebieg o losowej wartości chwilowej napięcia lub prądu Szumy Wprowadzenie Źródłem
Źródła i zwierciadła prądowe
PUAV Wykład 6 Źródła i zwierciadła prądowe Źródła i zwierciadła prądowe Źródło prądowe: element lub układ, który wymusza w jakiejś gałęzi prąd o określonej wartości Źródła i zwierciadła prądowe Źródło
Ćwiczenie 4. Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET
Ćwiczenie 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych JFET i MOSFET Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych złączowych oraz z izolowaną
Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe
Elementy elektroniczne Wykłady 7: Tranzystory polowe Podział Tranzystor polowy (FET) Złączowy (JFET) Z izolowaną bramką (GFET) ze złączem m-s (MFET) ze złączem PN (PNFET) Typu MO (MOFET, HEXFET) cienkowarstwowy
Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET
Przyrządy półprzewodnikowe część 5 FET r inż. Bogusław Boratyński Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechnika Wrocławska 2011 Literatura i źródła rysunków G. Rizzoni, Fundamentals of Electrical
Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki
Wprowadzenie do techniki Cyfrowej i Mikroelektroniki Małgorzata Napieralska Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych tel. 26-55 mnapier@dmcs.p.lodz.pl Literatura W. Marciniak Przyrządy półprzewodnikowe
Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji
Technologia BiCMOS Statystyka procesów produkcji 1 Technologia BiCMOS 2 Technologia CMOS i BiCMOS Tranzystor nmos Tranzystor pmos M2 (Cu) M3 (Cu) M1 (Cu) S Poli typu n D M1 (Cu) D Poli typu p S M1 (Cu)
Tranzystory bipolarne w układach CMOS
PUAV Wykład 4 Tranzystory bipolarne w układach CMOS Tranzystor nmos Tranzystor pmos M1 (Al) M2 (Al) M1 (Al) M1 (Al) Tlenek polowy S Bramka poli typu n Tlenek bramkowy D Tlenek polowy Podłoże typu p D Bramka
Tranzystory polowe. Podział. Tranzystor PNFET (JFET) Kanał N. Kanał P. Drain. Gate. Gate. Source. Tranzystor polowy (FET) Z izolowaną bramką (IGFET)
Tranzystory polowe Podział Tranzystor polowy (FET) Złączowy (JFET) Z izolowaną bramką (IFET) ze złączem ms (MFET) ze złączem PN (PNFET) Typu MO (MOFET, HEXFET) cienkowarstwowy (TFT) z kanałem zuobożanym
Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych
Wstęp do analizy układów mikroelektronicznych Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych Politechnika Łódzka 2015 Komputerowe projektowanie układów 1 Koszty układów mikroelektronicznych Niemal
Budowa. Metoda wytwarzania
Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.
LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM ELEKTRONIKI ĆWICZENIE 4 Parametry statyczne tranzystorów polowych złączowych Cel ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów polowych złączowych
Materiały używane w elektronice
Materiały używane w elektronice Typ Rezystywność [Wm] Izolatory (dielektryki) Over 10 5 półprzewodniki 10-5 10 5 przewodniki poniżej 10-5 nadprzewodniki (poniżej 20K) poniżej 10-15 Model pasm energetycznych
Tranzystory bipolarne w układach CMOS i ich modelowanie
Tranzystory bipolarne w układach CMOS i ich modelowanie 1. Po co modelujemy tranzystory bipolarne? W analogowych układach CMOS pasożytnicze struktury bipolarne bywają wykorzystywane jako elementy aktywne.
10. Tranzystory polowe (unipolarne FET)
PRZYPOMNIJ SOBIE! Elektronika: Co to jest półprzewodnik unipolarny (pod rozdz. 4.4). Co dzieje się z nośnikiem prądu w półprzewodniku (podrozdz. 4.4). 10. Tranzystory polowe (unipolarne FET) Tranzystory
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej STUDIA DZIENNE. Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej TIA ZIENNE LAORATORIM PRZYRZĄÓW PÓŁPRZEWONIKOWYCH Ćwiczenie nr 8 adanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOFET I. Zagadnienia
ELEMENTY ELEKTRONICZNE
AKAEMIA ÓRNICZO-HTNICZA IM. TANIŁAWA TAZICA W KRAKOWIE Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONICZNE dr inż. iotr ziurdzia paw. C-3, pokój 413; tel. 617-7-,
ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH
Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Piotr Grzejszczak Mieczysław Nowak P W Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej 2015 Wiadomości ogólne Tranzystor
ELEMENTY ELEKTRONICZNE
AKAEMA ÓRNCZO-HTNCZA M. TANŁAWA TAZCA W KRAKOWE Wydział nformatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONCZNE dr inż. iotr ziurdzia paw. C-3, pokój 413; tel. 617-7-, piotr.dziurdzia@agh.edu.pl
Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET
Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Publikacja współfinansowana
Vgs. Vds Vds Vds. Vgs
Ćwiczenie 18 Temat: Wzmacniacz JFET i MOSFET w układzie ze wspólnym źródłem. Cel ćwiczenia: Wzmacniacz JFET w układzie ze wspólnym źródłem. Zapoznanie się z konfiguracją polaryzowania tranzystora JFET.
IV. TRANZYSTOR POLOWY
1 IV. TRANZYSTOR POLOWY Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyk statycznych tranzystora polowego złączowego. Zagadnienia: zasada działania tranzystora FET 1. Wprowadzenie Nazwa tranzystor pochodzi z
schematic nmos_tb nmos_test ADE L Session-->Load State Cellview przejściowa Virtuoso Visualization & Analysis
1. Odczyt transkonduktancji gm 1. Uruchom środowisko Cadence 2. Otwórz symulację charakterystyki przejściowej z poprzednich zajęć. 1. Otwórz widok schematic celki nmos_tb (lub nmos_dc) z Twojej biblioteki
(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170013 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 297079 (22) Data zgłoszenia: 17.12.1992 (51) IntCl6: H01L 29/792 (
Komparator napięcia. Komparator a wzmacniacz operacyjny. Vwe1. Vwy. Vwe2
PUAV Wykład 11 Komparator a wzmacniacz operacyjny Vwe1 Vwe2 + Vwy Komparator a wzmacniacz operacyjny Vwe1 Vwe2 + Vwy Wzmacniacz operacyjny ( ) V wy = k u V we2 V we1 Komparator a wzmacniacz operacyjny
Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów.
ĆWICZENIE 3 Tranzystory bipolarne. Małosygnałowe parametry tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie małosygnałowych parametrów tranzystorów bipolarnych na podstawie ich charakterystyk
Ćwiczenie A7 : Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania
Ćwiczenie A7 : Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania Jacek Grela, Radosław Strzałka 3 maja 9 1 Wstęp 1.1 Wzory Poniżej zamieszczamy podstawowe wzory i definicje, których używaliśmy w obliczeniach.
Ćwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów
Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne
1 Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x 2, x 1, x 0 )= (1, 3, 5, 7, 12, 13, 15 (4, 6, 9))*.
EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 0/0 Odpowiedzi do zadań dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia (okręgowe) Dana jest funkcja logiczna f(x 3, x,
Tranzystory. 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne. unipolarne. bipolarny
POLTEHNKA AŁOSTOKA Tranzystory WYDZAŁ ELEKTYZNY 1. Tranzystory bipolarne 2. Tranzystory unipolarne bipolarny unipolarne Trójkońcówkowy (czterokońcówkowy) półprzewodnikowy element elektroniczny, posiadający
Tranzystory polowe. Klasyfikacja tranzystorów polowych
Tranzystory polowe Wiadomości podstawowe Tranzystory polowe w skrócie FET (Field Effect Transistor), są równieŝ nazywane unipolarnymi. Działanie tych tranzystorów polega na sterowanym transporcie jednego
PUAV projekt Ćwiczenia 1-2
PUAV projekt Ćwiczenia 1-2 Tematyka: charakterystyki i modelowanie tranzystora MOS. Cel ćwiczenia: praktyczne zapoznanie się z zagadnieniami modelowania, dobór parametrów i ocena dokładności modeli. Przypomnienie
Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 17 Temat: Własności tranzystora JFET i MOSFET. Cel ćwiczenia Poznanie budowy i zasady pracy tranzystora JFET. Pomiar charakterystyk tranzystora JFET. Czytanie schematów elektronicznych. Przestrzeganie
ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY RE. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - Pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych tranzystora. - Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora
ELEKTRONICZNA APARATURA DOZYMETRYCZNA. Wyk. 4. Tranzystor MOS
Dr inż. Andrzej Skoczeń KOiDC, WFiIS, AGH Rok akademicki 016/017 ELEKTRONICZNA APARATURA Tranzystor MOS DOZYMETRYCZNA Wyk. 4 4 maj 017 Fizyka zmian napięcia progowego tranzystora MOS Upływ boczny w tranzystorze
Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW
Laboratorium KOMPUTEROWE PROJEKTOWANIE UKŁADÓW SYMULACJA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Z ZASTOSOWANIEM PROGRAMU SPICE Opracował dr inż. Michał Szermer Łódź, dn. 03.01.2017 r. ~ 2 ~ Spis treści Spis treści 3
Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska
Zygmunt Kubiak Instytut Informatyki Politechnika Poznańska 1947 r. pierwszy tranzystor ostrzowy John Bradeen (z lewej), William Shockley (w środku) i Walter Brattain (z prawej) (Bell Labs) Zygmunt Kubiak
Modelowanie diod półprzewodnikowych
Modelowanie diod półprzewodnikowych Programie PSPICE wbudowane są modele wielu elementów półprzewodnikowych takich jak diody, tranzystory bipolarne, tranzystory dipolowe złączowe, tranzystory MOSFET, tranzystory
W książce tej przedstawiono:
Elektronika jest jednym z ważniejszych i zarazem najtrudniejszych przedmiotów wykładanych na studiach technicznych. Co istotne, dogłębne zrozumienie jej prawideł, jak również opanowanie pewnej wiedzy praktycznej,
Układy i Systemy Elektromedyczne
UiSE - laboratorium Układy i Systemy Elektromedyczne Laboratorium 3 Elektroniczny stetoskop - mikrofon elektretowy. Opracował: dr inż. Jakub Żmigrodzki Zakład Inżynierii Biomedycznej, Instytut Metrologii
CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1.. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia
Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE
6. TRANZYSTORY UNIPOLARNE 6.1. WSTĘP Tranzystory unipolarne, inaczej polowe, są przyrządami półprzewodnikowymi, których działanie polega na sterowaniu za pomocą pola elektrycznego wielkością prądu przez
Ćwiczenie 2 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORATORIUM LKTRONIKI Ćwiczenie Parametry statyczne tranzystorów bipolarnych el ćwiczenia Podstawowym celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk tranzystorów bipolarnych oraz metod identyfikacji
Diody i tranzystory. - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy)
Diody i tranzystory - prostownicze, stabilizacyjne (Zenera), fotodiody, elektroluminescencyjne, pojemnościowe (warikapy) bipolarne (NPN i PNP) i polowe (PNFET i MOSFET), Fototranzystory i IGBT (Insulated
Politechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES
Elementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne
lementy elektroniczne Wykłady 5,6: Tranzystory bipolarne Wprowadzenie Złacze PN spolaryzowane zaporowo: P N U - + S S U SAT =0.1...0.2V U S q D p L p p n D n n L n p gdzie: D p,n współczynniki dyfuzji
Uniwersytet Pedagogiczny
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR UNIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET
Tranzystory polowe FET(JFET), MOSFET Ryszard J. Barczyński, 2009 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Tranzystor polowy złączowy
ELEKTRONIKA ELM001551W
ELEKTRONIKA ELM001551W W4 Unoszenie Dyfuzja 2 Półprzewodnik w stanie nierównowagi termodynamicznej np n 2 i n = n0 + n' p = p0 + p ' Półprzewodnik w stanie nierównowagi termodynamicznej Generacja i rekombinacja
Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój:
Podstawy Elektroniki Prowadzący: Prof. dr hab. Zbigniew Lisik Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: 116 e-mail: zbigniew.lisik@p.lodz.pl Program: wykład - 15h laboratorium
Politechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES
Podstawy Elektroniki dla Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 3 2014 r. 1 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora unipolarnego
Część 3. Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy. Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51
Część 3 Przegląd przyrządów półprzewodnikowych mocy Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 51 Budowa przyrządów półprzewodnikowych Struktura składa się z warstw Warstwa
Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET oraz badanie własności sterowanego dzielnika napięcia.
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Pomiar charakterystyk
Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE
Tranzystor bipolarny wzmacniacz OE projektowanie poradnikowe u 1 (t) C 1 U B0 I 1 R 1 R 2 I 2 T I B0 R E I E0 I C0 V CC R C C 2 U C0 U E0 C E u 2 (t) Zadania elementów: T tranzystor- sterowane źródło prądu
Elementy przełącznikowe
Elementy przełącznikowe Dwie główne grupy: - niesterowane (diody p-n lub Schottky ego), - sterowane (tranzystory lub tyrystory) Idealnie: stan ON zwarcie, stan OFF rozwarcie, przełączanie bez opóźnienia
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Wzmacniacz operacyjny
parametry i zastosowania Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego (klasyka: Fairchild ua702) 1965 Wzmacniacze
Lustra prądowe i układ polaryzacji
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Instrukcja do przedmiotu Projektowanie układów analogowych dla systemów VLSI Lustra prądowe
IV. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego
1 V. Wyznaczenie parametrów ogniwa słonecznego Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności fotoprądu zwarcia i fotonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii słonecznej.
Symulacja układów elektronicznych z użyciem oprogramowania SPICE zajęcia warsztatowe SKN CHIP. Przygotował Bogdan Pankiewicz, maj 2017
Symulacja układów elektronicznych z użyciem oprogramowania SPICE zajęcia warsztatowe SKN CHIP Przygotował Bogdan Pankiewicz, maj 2017 Symulacja układów z użyciem SPICE zajęcia SKN CHIP Plan zajęć: Krótkie
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS
Wzmacniacze napięciowe z tranzystorami komplementarnymi CMOS Cel ćwiczenia: Praktyczne wykorzystanie wiadomości do projektowania wzmacniacza z tranzystorami CMOS Badanie wpływu parametrów geometrycznych
Politechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006
Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 10 Temat: Własności tranzystora. Podstawowe własności tranzystora Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych własności tranzystora. Wyznaczenie prądów tranzystorów typu n-p-n i p-n-p. Czytanie schematów
Ekstrakcja parametrów tranzystorów
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Instrukcja do przedmiotu Projektowanie układów analogowych dla systemów VLSI Ekstrakcja
EUROELEKTRA. Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej. Rok szkolny 2012/2013. Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia
EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody II stopnia 1. Wykorzystując rachunek liczb zespolonych wyznacz impedancję
WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ
WYDZIAŁ FIZYKI, MATEMATYKI I INFORMATYKI POLITECHNIKI KRAKOWSKIEJ Instytut Fizyki LABORATORIUM PODSTAW ELEKTROTECHNIKI, ELEKTRONIKI I MIERNICTWA ĆWICZENIE 2 Charakterystyki tranzystora polowego POJĘCIA
W celu obliczenia charakterystyki częstotliwościowej zastosujemy wzór 1. charakterystyka amplitudowa 0,
Bierne obwody RC. Filtr dolnoprzepustowy. Filtr dolnoprzepustowy jest układem przenoszącym sygnały o małej częstotliwości bez zmian, a powodującym tłumienie i opóźnienie fazy sygnałów o większych częstotliwościach.
ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI
1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności
Złącza p-n, zastosowania. Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET
Złącza p-n, zastosowania Własności złącza p-n Dioda LED Fotodioda Dioda laserowa Tranzystor MOSFET Złącze p-n, polaryzacja złącza, prąd dyfuzyjny (rekombinacyjny) Elektrony z obszaru n na złączu dyfundują
Badanie tranzystora bipolarnego
Spis ćwiczeń: Badanie tranzystora bipolarnego Symulacja komputerowa PSPICE 9.1 www.pspice.com 1. Charakterystyka wejściowa tranzystora bipolarnego 2. Wyznaczanie rezystancji wejściowej 3. Rysowanie charakterystyk
Ćwiczenie 9 TRANZYSTORY POLOWE MOS
Ćwiczenie 9 TRNZYSTORY POLOWE MOS Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie charakterystyk napięciowo-prądowych tranzystorów n-mosfet i p-mosfet, tworzących pary komplementarne w układzie scalonym CD4007
Liniowe układy scalone w technice cyfrowej
Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Wykład 6 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych: konwertery prąd-napięcie i napięcie-prąd, źródła prądowe i napięciowe, przesuwnik fazowy Konwerter prąd-napięcie
Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych
Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz
Laboratorium układów elektronicznych. Zasilanie i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnych i unipolarnych.
Ćwiczenie numer Zasilanie i stabilizacja punktu pracy tranzystorów bipolarnych i unipolarnych Zagadnienia do przygotowania kłady zasilania tranzystorów bipolarnych Wpływ temperatury na podstawowe parametry
Ćwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORAORUM ELEKRONK Ćwiczenie 1 Parametry statyczne diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk podstawowych typów diod półprzewodnikowych oraz zapoznanie
kierunek: Automatyka i Robotyka Zadania uzupełniające do wykładu i ćwiczeń laboratoryjnych z Elektroniki sem. II
kierunek: Automatyka i Robotyka Zadania uzupełniające do wykładu i ćwiczeń laboratoryjnych z Elektroniki sem. II iody prostownicze i diody Zenera Zadanie Podać schematy zastępcze zlinearyzowane dla diody
Przyrządy półprzewodnikowe część 4
Przyrządy półprzewodnikowe część 4 Prof. Zbigniew Lisik Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: 110 e-mail: zbigniew.lisik@p.lodz.pl wykład 30 godz. laboratorium 30 godz WEEIiA
A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania
A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania 1 Zakres ćwiczenia 1.1 Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET. 1.2 Projekt, montaż i badanie układu: 1.2.1 sterowanego dzielnika napięcia,
Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC. na tranzystorach bipolarnych
Tranzystorowe wzmacniacze OE OB OC na tranzystorach bipolarnych Wzmacniacz jest to urządzenie elektroniczne, którego zadaniem jest : proporcjonalne zwiększenie amplitudy wszystkich składowych widma sygnału
Wzmacniacze prądu stałego
PUAV Wykład 13 Wzmacniacze prądu stałego Idea Problem: wzmacniacz prądu stałego (lub sygnałów o bardzo małej częstotliwości, rzędu ułamków Hz) zrealizowany konwencjonalnie wprowadza błąd wynikający z wejściowego
Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY
Wykład VIII TRANZYSTOR BIPOLARNY Tranzystor Trójkońcówkowy półprzewodnikowy element elektroniczny, posiadający zdolność wzmacniania sygnału elektrycznego. Nazwa tranzystor pochodzi z angielskiego zwrotu
, , ,
Filtry scalone czasu ciągłego laboratorium Organizacja laboratorium W czasie laboratorium należy wykonać 5 ćwiczeń symulacyjnych z użyciem symulatora PSPICE a wyniki symulacji należy przesłać prowadzącemu
Równanie Shockley a. Potencjał wbudowany
Wykład VI Diody Równanie Shockley a Potencjał wbudowany 2 I-V i potencjał wbudowany Temperatura 77K a) Ge E g =0.7eV b) Si E g =1.14eV c) GaAs E g =1.5eV d) GaAsP E g =1.9eV qv 0 (0. 5 0. 7)E g 3 I-V i
Tranzystory. bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory
Tranzystory bipolarne (NPN i PNP), polowe (MOSFET), fototranzystory Tranzystory -rodzaje Tranzystor to element, który posiada zdolność wzmacniania mocy sygnału elektrycznego. Z uwagi na tą właściwość,
Ćwiczenie 7 PARAMETRY MAŁOSYGNAŁOWE TRANZYSTORÓW BIPOLARNYCH
Ćwiczenie 7 PRMETRY MŁOSYGNŁO TRNZYSTORÓW BIPOLRNYCH Wstęp Celem ćwiczenia jest wyznaczenie niektórych parametrów małosygnałowych hybrydowego i modelu hybryd tranzystora bipolarnego. modelu Konspekt przygotowanie
Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy
Właściwości tranzystora MOSFET jako przyrządu (klucza) mocy Zalety sterowanie polowe niska moc sterowania wyłącznie nośniki większościowe krótki czas przełączania wysoka maksymalna częstotliwość pracy
SYMBOLE GRAFICZNE. Tyrystory. Struktura Charakterystyka Opis
SYMBOLE GRAFICZNE y Nazwa triasowy blokujący wstecznie SCR asymetryczny ASCR Symbol graficzny Struktura Charakterystyka Opis triasowy blokujący wstecznie SCR ma strukturę czterowarstwową pnpn lub npnp.
Politechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: UKŁADY ELEKTRONICZNE 2 (TS1C500 030) Tranzystor w układzie wzmacniacza
Liniowe układy scalone w technice cyfrowej
Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Dr inż. Adam Klimowicz konsultacje: wtorek, 9:15 12:00 czwartek, 9:15 10:00 pok. 132 aklim@wi.pb.edu.pl Literatura Łakomy M. Zabrodzki J. : Liniowe układy scalone
Badanie tranzystorów MOSFET
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 7045 Szczecin Pracownia Elektroniki Badanie tranzystorów MOSFET Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: budowa i zasada działania tranzystora MOSFET; charakterystyki
Ćwiczenie nr 7 Tranzystor polowy MOSFET
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Opracował zespół: Marek Panek, Waldemar Oleszkiewicz, Iwona Zborowska-Lindert, Bogdan Paszkiewicz, Małgorzata Kramkowska, Beata Ściana, Zdzisław Synowiec, Bogusław
Urządzenia półprzewodnikowe
Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor
Lekcja 19. Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości.
Lekcja 19 Temat: Wzmacniacze pośrednich częstotliwości. Wzmacniacze pośrednich częstotliwości zazwyczaj są trzy- lub czterostopniowe, gdyż sygnał na ich wejściu musi być znacznie wzmocniony niż we wzmacniaczu
Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki I= f(u) złącza p-n.
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i otoniki Politechniki Wrocławskiej TUDA DZENNE LABORATORUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNKOWYCH Ćwiczenie nr 4 Charakterystyki = f(u) złącza p-n.. Zagadnienia do samodzielnego
Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych.
Ćwiczenie 1 Metody pomiarowe i opracowywanie danych doświadczalnych. Ćwiczenie ma następujące części: 1 Pomiar rezystancji i sprawdzanie prawa Ohma, metoda najmniejszych kwadratów. 2 Pomiar średnicy pręta.