KPA 5/2010 Opole, 05.07.2010 r. Ldz. DZP 343/2010 Do: Uczestnicy postępowania o udzielenie zamówienia publicznego Dotyczy: postępowania przetargowego prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego pn.: Zakup i montaż spektrofotometrów w związku z przebudową i wyposażeniem Wydziału Chemii Uniwersytetu Opolskiego etap II Działając w trybie art. 38 ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. Prawo zamówień publicznych (tekst jednolity - Dz. U. z 2007 r. Nr 233 poz. 1655 z póz. zm.), Zamawiający udziela wyjaśnień do złożonych zapytań: W części 1: 1. Czy zamawiający dopuści system wielomodułowy składający się z odrębnych modułów dla części NIR i UV-VIS o następujących parametrach: a. Wielomodułowy spektrometr pracujący w zakresie UV/VIS/NIR wyposażony w przystawki termostatowane do pomiarów próbek ciekłych, przystawki do pomiaru prób stałych itp. Oferowany sprzęt posiada wielomodułową budowę działającą integralnie ze sobą, ale również z możliwością dokonywania pomiarów z wykorzystaniem tylko wybranych modułów umożliwiając przygotowanie i wykonanie analiz fizykochemicznych. b. Łączny zakres pomiarowy 180 2500nm c. Detektory: i. Dla zakresu UV-VIS fotopowielacz wysokiej czułości ii. Dla zakresu NIR - InGaAs z kontrolą temperatury d. Wielomodułowy charakter pozwala na pomiar próbek stałych i ciekłych przy wykorzystaniu: i. Szalek Pietriego ; ii. Kuwet kwarcowych i szklanych (o drodze optycznej od 1 do 50 mm); przy zastosowaniu autosamplera na 6 i 8 pozycji iii. Folek szklanych o średnicy 8 15 mm, przy zastosowaniu autosamplera na 6 pozycji iv. Woreczków foliowych; v. Tabletek; przy zastosowaniu autosamplera na 10 pozycji vi. Tabletek w trybie transmisji (sygnał przechodzi przez całą tabletkę) vii. Sondy światłowodowej o długości 1,5 m do 5 m e. Modułowa budowa zestawu umożliwia rozszerzenie zestawu o inne podzespoły do oznaczania kolejnych parametrów. f. Wraz z urządzeniem oferujemy Państwu również gotowe aplikacje pozwalające na identyfikację podstawowych substancji chemicznych wykorzystywanych w chemii, i biotechnologii oraz farmacji. 1
g. Główny moduł analityczny - spektrometr działający w zakresie bliskiej podczerwieni wykorzystujący transformację Fouriera FT-NIR o parametrach: i. Zakres pomiarowy modułu NIR: 800 2500nm 12 500 4000 cm -1 ii. Źródło światła lampa halogenowo wolframowa o żywotności 6000 godzin. W systemie znajduje się dodatkowe źródło światła o identycznych parametrach załączane automatycznie w przypadku awarii głównego źródła światła, bez ingerencji użytkownika. iii. Spektrometr jest odporny na zmiany temperatury, wilgotności i kurzu; pracujący w temperaturze od 5 C do 35 C, wilgotność względna 80% wilgotności względnej dla temperatury <31 C, liniowo się zmniejszająca do 67% przy 35 C. iv. Detektor InGaAs z kontrolą temperatury. Zapewniający odporność na wstrząsy oraz niewymagający okresowych re-kalibracji. v. Interferometr polaryzacyjny z klinami TeO 2 umożliwiający pracę w warunkach polowych i odporność na wstrząsy. Urządzenie wyposażone w blokadę transportową interferometru łatwą do założenia i demontażu przez użytkownika, nie wymagającą wykorzystania narzędzi i otwierania pokrywy aparatu. vi. Źródło podczerwieni laser He-Ne i źródła światła w przypadku awarii łatwo wymienione przez użytkownika, bez konieczności wzywania serwisu. vii. Poprawność długości fali sprawdzana przy wykorzystaniu lasera. viii. Urządzenie niewymagające stosowania chemicznych osuszaczy. ix. Zintegrowany układ walidacyjny umożliwiający automatyczną kontrolę poprawności pracy w przypadku wzrostu temperatury otoczenia, po upływie czasu, lub na żądanie użytkownika. W trakcie kontroli sprawdzane są następujące parametry urządzenia: 1. aktywne źródło światła, 2. liniowość sygnału, 3. stosunek sygnał / szum, 4. temperatury poszczególnych bloków oraz środowiska pracy, 5. dokładność liczby falowej. Z każdego cyklu kontroli generowanie niezmienionych raportów zapisywanych w bazie danych, na raporcie ujęte również zakresy tolerancji, identyfikacja aparatu i modułu. x. Stosunek sygnału do szumu 10 000 szum pik pik xi. Zakres pomiarowy 800 2500nm 12 500 4000 cm -1 xii. Dokładność wyznaczenia liczby falowej ± 0,2 cm -1 xiii. Rozdzielczość 8 cm -1 xiv. Ilość skanów na sekundę min 2 xv. xvi. xvii. xviii. xix. xx. Przetwornik analogowo cyfrowy min 24 bit Połączenie z systemem analizy danych Ethernet 100Mbit/s Automatyczne rozpoznawanie dołączonego modułu, jego numeru seryjnego, i wymagań kwalifikacyjnych. Termostatowanie próbek ciekłych Możliwość współpracy z czytnikiem kodów kreskowych. Zasilanie 100-240 VAC ±10% 50/60HZ 350W 2
xxi. Brak niebezpiecznego napięcia w elementach i częściach dostępnych dla użytkownika. h. Moduł pomiarowy do próbek stałych umożliwiający pomiar próbek stałych w zakresie bliskiej podczerwieni przy wykorzystaniu: i. szalek Petriego, ii. fiolek szklanych, iii. woreczków foliowych, iv. tabletek v. oraz pomiary bezpośrednie próbki. Pomiar tabletek i próbek w fiolach szklanych prowadzony z wykorzystaniem autosamplera. Podczas pomiaru próbki umieszczonej w szalce Petriego szalka obraca się zapewniając zebranie danych z ponad 80% powierzchni szalki. Przystawki pomiarowe zintegrowane są z wzorcem referencyjnym. i. Moduł pomiarowy do próbek ciekłych w zakresie NIR umożliwiający pomiar próbek ciekłych w zakresie 800-2500n: Wyposażony w: i. 6 pozycyjny autosampler na kuwety prostokątne o drodze optycznej 1 10 mm oraz na okrągłe fiolki o średnicy 8mm ii. iii. Rozmiar plamki pomiarowej 2mm Termostat dla próbek: 1. O zakresie od 10 C powyżej temperatury otoczenia do 65 C 2. Powtarzalności ustawienia temperatury ±0,5 C iv. Wyposażony w automatyczne zabezpieczenie przeciw przegrzaniu próbek powyżej temperatury 90 C v. Czas uzyskania stabilnej kontroli temperatury od temperatury otoczenia do 60 C poniżej 15minut j. Moduł pomiarowy do próbek ciekłych w zakresie 180 900 i. Dwuwiązkowy spektrofotometr pracujący w zakresie 180 900nm ii. Zmiana długości fali w krokach od 0,05 do 10nm iii. Prędkość skanowania 5 2000 nm/min iv. Prędkość zmiany długości fali 7000 nm/min v. szerokość pasma zmienna w następujących krokach0,2 0,5 1,0 2,0 4,0 6,0 vi. Światło rozproszone <0,015%T (220nm i 340nm) vii. Dokładność długości fali 0,025nm (przy automatycznej korekcji długości fali) viii. Powtarzalność długości fali 0,025 nm ix. System detekcji stosunków sygnału dwóch wiązek x. Ogniskowanie wiązki xi. Pomiary transmitancji, absorbancji, energii, stężenia oraz analiza DNA/RNA xii. Zakres fotometryczny -5 5 A xiii. Dokładność fotometryczna 0,003A xiv. Powtarzalność fotometryczna 0,0005A xv. Szum fotometryczny < ± 0,0004A xvi. Płaskość linii bazowej w całym zakresie długości fali 0,001A xvii. Źródło światła: lampa halogenowo wolframowa i lampa deuterowa w oprawkach pozycjonujących ułatwiających wymianę 3
xviii. Podajnik na 9 kuwet o drodze optycznej 10mm sterowany mikroprocesorowo xix. Lampy (deuterowa i halogenowo-wolframowa) osadzone w oprawkach ułatwiających wymianę i niewymagające pozycjonowania po wymianie xx. Możliwość dołączenia pompy perystaltycznej i kuwety przepływowej xxi. Możliwość dołączenia sytemu termostatowania próbek xxii. Możliwość podłączenia innych uchwytów na kuwety od 1 do 18 miejscowych, przy długości kuwety do 100mm xxiii. Możliwość podłączenia kuwety przepływowej k. Moduł kontrolno rejestrujący dwa niezależne stanowiska kontrolne składające się z komputerów i. Komputer klasy PC o parametrach nie gorszych niż: ii. Procesor Intel Core 2,2GHz iii. Procesor (pamięć cache) 2048 kb iv. Matryca (przekątna) 15,4 cale v. Matryca (rozdzielczość) WXGA 1280 x 800 (16:10) vi. Matryca (powłoka) matowa vii. Matryca (opis) 15.4" WXGA AntiGlare (LED) viii. Pamięć zainstalowana (pojemność) 2 GB ix. Pamięć (max. pojemność) 4 GB x. Pamięć (technologia) SO-DIMM DDR2 667MHz xi. Dysk twardy (pojemność) 320 GB xii. Dysk twardy (interfejs) SATA xiii. Dysk twardy (prędkość) 5400 obr/min xiv. Napęd optyczny (typ) Super Multi DVD+/-RW/RAM xv. Karta graficzna (model) Intel X4500 MHD xvi. System operacyjnyxp Professional xvii. Drukarka komputerowa l. Oprogramowanie: i. Dwa całkowicie niezależne modułu oprogramowania do zbierania wyników nadzoru. Możliwość instalacji oprogramowania na 3 stanowiskach. Wykorzystanie przez wszystkie modułu programowe jednej bazy danych dla danych z zakresu NIR. ii. Dane gromadzone automatycznie w zabezpieczonej bazie danych (zgodnie z FDA 21 CFR Part 11 and USP/EP). Możliwość gromadzenia danych na centralnym serwerze, aplikacyjne przełączanie pomiędzy bazą lokalną a centralną, automatyczne procedury kopii bezpieczeństwa i przywracania danych. Baza danych oprócz wyników powinna również zawierać wszelkie informacje o wykorzystywanych kalibracjach, aplikacjach pomiarowych oraz o użytkownikach z zapisanymi prawami dostępu Oddzielne moduły oprogramowania do tworzenia kalibracji i pomiarów instalowane na różnych komputerach (możliwość współpracy przez siec lokalna z jedną bazą danych) Baza danych kodowana dostęp wyłącznie dla uprawnionych użytkowników, wykorzystująca podpisy elektroniczne i hasła. Możliwość utworzenia minimum następujących profili użytkownika o innych uprawnieniach dostępu i zarządzania danymi. Kontrola jakości - dostęp 4
iii. wyłącznie do informacji dotyczących kontroli jakości, przeglądu wyników, brak możliwości wykonywania pomiarów oraz edycji aplikacji i przywilejów użytkowników. Zapewnienie pełnej elastyczności grup ich przywilejów i ograniczeń, tworzenia innych grup o definiowanych przez użytkownika uprawnieniach i ograniczeniach. Oprogramowanie komputerowe dla modułu UV-VIS pozwalające na: pomiar przy 1 do 10 długościach fali; możliwość prowadzenia obliczeń matematycznych na podstawie wprowadzonych równań; tworzenie i analizowanie skanów widma;pomiary ilościowe z wykorzystaniem od 1 do 3 długości fali i możliwością wykorzystania krzywych wzorcowych (1 4 rzędowych); pomiary kinetyczne m. Wyposażenie uzupełniające do powyższego zestawu. i. 8 kuwet ze szkła optycznego o drodze optycznej 10mm ii. 2 kuwety kwarcowe o drodze optycznej 10mm iii. 6 kuwet kwarcowych o drodze optycznej 2mm iv. Zestaw adapterów umożliwiających stosowanie fiolek szklanych 8mm zamiast kuwet 10mm v. 100 fiolek szklanych o średnicy 13 mm do pomiarów próbek stałych vi. 100 fiolek szklanych o średnicy 8mm do pomiarów próbek ciekłych vii. 10 szalek Petriego o średnicy 100mm do pomiarów próbek stałych viii. Przystawka o wysokiej przezroczystości zamiennik szalek Periego ix. Instrukcja obsługi w języku polskim i języku angielskim x. Pokrywa zabezpieczająca przed kurzem xi. Zapasowe bezpieczniki xii. Zapasowa lampa halogenowo-wolframowa xiii. Przewody zasilające i podłączeniowe Odpowiedź: Nie. W części 2: 1. Czy Zamawiający dopuści spektrofotometr różniący się od wymagań następującymi parametrami: a. Zakresie długości fali 180 900 nm b. Zakresie pomiarowym -5 5 A, przy zachowaniu liniowości w zakresie ±3.3 A (r²>0.999) c. Prędkość skanowania 5 2000 nm/min d. Prędkość zmiany długości fali 7000 nm/min e. Szerokość pasma zmienna w następujących krokach0,2 0,5 1,0 2,0 4,0 6,0 Odpowiedź: Nie. W części 3 i 4: 1. Czy Zamawiający dopuści spektrofotometr różniący się od wymagań następującymi parametrami: a. Zakresie długości fali 180 900 nm b. Zakresie pomiarowym -5 5 A, przy zachowaniu liniowości w zakresie ±3.3 A (r²>0.999) c. Prędkość skanowania 5 2000 nm/min d. Prędkość zmiany długości fali 7000 nm/min 5
e. Szerokość pasma zmienna w następujących krokach0,2 0,5 1,0 2,0 4,0 6,0 Odpowiedź: Nie. Zważywszy, iż uwzględnienie powyższych zmian w treści przygotowanych przez Państwa ofert nie będzie wymagać dodatkowego nakładu pracy, z tego względu dotychczasowy termin składania ofert, pozostaje ten sam tj.: 09.07.2010r. do godziny 10:00 w pok. nr 2, pl. Kopernika 11a, Dział Zamówień Publicznych. KANCLERZ UNIWERSYTETU OPOLSKIEGO mgr inż. Andrzej Kimla 6