BADANIE ZABURZEŃ RADIOELEKTRYCZNYCH GENEROWANYCH PRZEZ LAMPY LED
|
|
- Klaudia Czech
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 92 Electrical Engineering 2017 DOI /j Kazimierz KURYŁO* Kazimierz KAMUDA* Dariusz KLEPACKI* Wiesław SABAT* Damian KIELAR* BADANIE ZABURZEŃ RADIOELEKTRYCZNYCH GENEROWANYCH PRZEZ LAMPY LED Artykuł zawiera wyniki badań zaburzeń radioelektrycznych przewodzonych generowanych przez lampy LED. We wstępie artykułu zaprezentowano informacje na temat zaburzeń elektromagnetycznych, ich rodzajów oraz przyczyn generowania zaburzeń przez lampy LED. Natomiast w następnych rozdziałach zamieszczono wyniki badań. Lampy LED przebadano na stanowisku pomiarowym znajdującym się Laboratorium kompatybilności elektromagnetycznej Politechniki Rzeszowskiej. Podczas badań wykorzystano sprzęt pomiarowy firmy Rohde&Schwarz. Badania przeprowadzono zgodnie z procedurą badań określoną w z normie PN EN Uzyskane wyniki pozwoliły scharakteryzować badane lampy LED ze względu na wartość generowanych zaburzeń przewodzonych, a następnie porównać z rozwiązaniami układowymi zasilaczy, stosowanymi w tych lampach. SŁOWA KLUCZOWE: EMC, zaburzenia radioelektryczne, lampy LED, zasilacze lamp LED 1. WPROWADZENIE 1.1. Zaburzenia elektromagnetyczne przewodzone Zgodnie z zaleceniami Polskiego Komitetu Normalizacyjnego (PN T 01030/1996) termin "zaburzenie elektromagnetyczne" oznacza dowolne zjawisko elektromagnetyczne, które może obniżyć jakość działania urządzenia lub systemu [1]. W technice zaburzenia elektromagnetyczne można podzielić na dwa rodzaje tj: zaburzenia przewodzone i zaburzenia promieniowane. Ze źródła zaburzeń do środowiska elektromagnetycznego zaburzenia przewodzone propagowane są za pośrednictwem przewodów zasilających lub sygnałowych, natomiast zaburzenia promieniowane przy udziale fal elektromagnetycznych. * Politechnika Rzeszowska.
2 238 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar Proceduralnie podział zaburzeń jest uwarunkowany częstotliwościowo. Częstotliwość 30 MHz jest przyjmowana umownie jako wartość rozgraniczająca zaburzenia przewodzone i promieniowane. W przypadku częstotliwości radiowych uważa się, że zaburzenia elektromagnetyczne mierzone w zakresie częstotliwości od 9 khz do 30 MHz są nazywane zaburzeniami przewodzonymi, a zaburzenia mierzone w zakresie od 30MHz są zaliczane do zaburzeń promieniowanych [2]. Każde urządzenie elektryczne dopuszczone do obrotu na terenie Unii Europejskiej musi spełniać wymogi dyrektywy EMC 2014/30/UE [3] i norm zharmonizowanych z tą dyrektywą. Obowiązek spełnienia tych wymogów został nałożony na producentów urządzeń elektrycznych i elektronicznych oraz importerów tych urządzeń. Zgodnie z tymi wymaganiami, wszystkie urządzenia elektryczne i elektroniczne powinny być tak zaprojektowane i wykonane oraz użytkowane, aby pracując w danym środowisku elektromagnetycznym (np. mieszkalnym, przemysłowym) nie wprowadzały (emitowały) do tego środowiska zaburzeń elektromagnetycznych o wartościach przekraczających dopuszczalne poziomy. W przeciwnym razie praca urządzeń, które emitują zaburzenia o znacznych wartościach, może niekorzystnie wpływać na inne urządzenia znajdujące się w tym środowisku, co objawiać się może obniżeniem sprawności i funkcjonalności tych urządzeń lub powodować wadliwą ich pracę. W stanach skrajnych, zaburzenia wysokoenergetyczne o krytycznych wartościach mogą doprowadzić do ich uszkodzenia. Wówczas mówi się, że urządzenie jest podatne na zaburzenia elektromagnetyczne Przyczyny generowania zaburzeń radioelektrycznych przez lampy LED Zagadnienia emisji zaburzeń i odporności na zaburzenia elektromagnetyczne są od wielu lat bardzo ważne i przy obecnym stopniu elektronizacji naszego życia, fakt ten nabiera bardzo dużego znaczenia. Dzieje się tak dlatego, że obecnie na rynku są dostępne urządzenia elektryczne, zawierają w swych obwodach np. sterowniki PWM, mikrokontrolery, sterowniki silników, zasilacze beztransformatorowe z przetwornicami AC/DC, czy inne układy posiadające w swych strukturach szybkie elementy komutujące energię elektryczną. Wymienione układy pracujące na coraz to wyższych częstotliwościach, w których przy projektowaniu nie uwzględniono wymogów EMC, mogą stać się źródłem zaburzeń radioelektrycznych [4, 5]. Do grupy urządzeń elektrycznych zawierających moduły elektroniczne można zaliczyć miedzy innymi fluoroscencyjne źródła światła, czy lampy LED. Obecnie dużą popularność zyskują lampy LED, które są alternatywą dla tradycyjnych żarówek i świetlówek. O popularności zadecydowały ich zalety takie jak: niska energochłonność, możliwość elastycznego kształtowania strumienia światła i płynnej zmiany jego barwy (diody
3 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez RGB), niska cena, oraz bogata oferta rynkowa. Jednak tego typu odbiorniki mogą być źródłem zaburzeń radioelektrycznych. Wartość generowanego zaburzenia jest uzależniona od rozwiązań konstrukcyjno-układowych przyjętych w elektronicznych układach zasilających. Jak pokazano na rysunku 1.1 większość zasilaczy stosowanych do zasilania diod LED składa się z: mostka prostowniczego z kondensatorem wygładzającym oraz przetwornicy sterowanej PWM. Współczesne przetwornice dedykowane do zasilania układów diod LED pracuje w zakresie częstotliwości od 20 khz do 300 khz dostarczając energię do odbiornika w sposób impulsowy. Takie rozwiązanie jest korzystne ekonomicznie, zasilacz ma większa sprawność, ale wadą takiego rozwiązania jest to, że generowane są zaburzenia elektromagnetyczne, które jeśli mają znaczne wartości mogą zaburzać pracę innych urządzeń zasilanych z tego samego systemu elektroenergetycznego. Rys Schemat blokowy zasilacza zintegrowanego z lampą LED: P prostownik, PR przetwornica AC/DC, O odbiornik źródło światła LED Biorąc pod uwagę powyższe powody oraz mając na uwadze to, że liczba tego rodzaju odbiorników jest bardzo duża w skali globalnej, bo według raportu OECD globalne zużycie energii elektrycznej przez odbiorniki oświetleniowe w roku 2005 wyniosło 2650 TWh, w artykule zamieszczono wyniki badań dotyczące emisji zaburzeń radioelektrycznych przewodzonych generowanych przez losowo wybrane pojedyncze lampy LED. Jak wskazują na to przeprowadzone badania, niektóre tego typu źródła światła generują zaburzenia radioelektryczne przewodzone o wartościach przekraczających dopuszczalne limity określone w normie PN EN [6]. 2. BADANIE WYBRANYCH LAMP LED 2.1. Dopuszczalne poziomy zaburzeń według normy PN EN W normie PN EN podane są dopuszczalne poziomy i metody pomiaru zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez elektryczne urządzenia oświetleniowe. W przypadku urządzeń oświetleniowych zintegrowanych, w których elektroniczny układ zasilania jest w jednej obudowie ze źródłem światła oraz nie posiada on zewnętrznego sterownika pozwalającego regulować dostarczaną moc tzw. ściemniacza, wartość emitowanego zaburzenia bada się
4 240 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar na zaciskach zasilania urządzenia. Dopuszczalne poziomy emisji zaburzeń dla tego przypadku zamieszczono w tabeli 1.1. Dla innych przypadków np. gdy lampa posiada zewnętrzny sterownik oświetlenia, w normie PN EN podane są inne poziomy zaburzeń. Tabeli 1.1. Dopuszczalne poziomy emisji zaburzeń dla urządzeń oświetleniowych według normy PN EN Poziomy dopuszczalne Zakres częstotliwości dbµv a Wartość quasi-szczytowa Wartość średnia od 9kHz do 50kHz 110 od 50kHz do 150kHz od 90 do 80 b od 150kHz do 0,50MHz od 66 do 56 b od 56 do 46 b od 0,50MHz do 5,0MHz 56 c 46 c od 5,0MHz do 30MHz a Przy częstotliwości granicznej stosuje się niższą wartość dopuszczalną. b Poziom maleje liniowo w funkcji logarytmu częstotliwości w zakresie częstotliwości od 50kHz do 150kHz i w zakresie od 150kHz do 0,5MHz. c W przypadku lamp bezelektrodowych i świetlówek poziom w zakresie częstotliwości od 2,51MHz do 3 MHz wynosi 73dBµV dla wartości quasi szczytowej i 63dBµVa dla wartości średniej Opis stanowiska pomiarowego Pomiary wybranych lamp LED zostały przeprowadzone w komorze bezechowej znajdującej się w Katedrze Systemów Elektronicznych i Telekomunikacyjnych Politechniki Rzeszowskiej. W komorze usytuowano stanowisko pomiarowe przedstawione na rysunku 2.1, które zawierało: gniazdo zasilające wyposażone w separujący filtr EMC, którego zadaniem jest odfiltrowanie zaburzeń przychodzących z sieci zasilającej systemu elektroenergetycznego, sieć sztuczną typu V ESH3 Z5 firmy Rohde&Schwarz, której zadaniem jest dopasowanie impedancyjne sieci zasilającej i badanego urządzenia [7], metalowego stożka pomiarowego zawierającego gwintowane gniazdo zasilające, w którym były umieszczane badane lampy LED. Przedstawiona na rysunku 2.1 sieć sztuczna współpracuje z odbiornikiem ESU 26 firmy Rohde&Schwarz. Pomimo znacznej odległości pomiędzy siecią sztuczną i odbiornikiem, tłumienności kabli pomiarowych jest uwzględniana w ogólnym bilansie toru pomiarowego. Odbiornik połączony jest z komputerem PC, na którym zainstalowane jest specjalizowane oprogramowanie EMC 32. Na rys. 2.2 przedstawiono odbiornik ESU i komputer PC, które umieszczone były w kabinie pomiarowej.
5 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez Rys Stanowisko pomiarowe przeznaczone do pomiaru zaburzeń przewodzonych. Stanowisko zawiera: a) metalowy stożek pomiarowy usytuowany na stoliku, b) sztuczna sieć ESH3 Z5, c) gniazda zasilającego AC 230V wyposażone w filtr EMC Rys Elementy stanowiska pomiarowego zlokalizowane w kabinie pomiarowej a) odbiornik pomiarowy ESU 26, b) komputer PC Zainstalowane w komputerze specjalistyczne oprogramowanie EMC 32 pozwalało w sposób automatyczny sterować pracą odbiornika pomiarowego i siecią sztuczną oraz analizować wyniki rejestrowane przez odbiornik pomiarowy. Wyniki pomiarów są w sposób automatyczny porównywane z wartościami dopuszczalnymi podanymi w tabeli 1.1. Zgodnie z techniką pomiaru zaburzeń przewodzonych, poziom zaburzeń określany jest w woltach. W celu uproszczenia procesu bilansowania zmierzonego poziomu sygnału i uwzględnienia strat w torze pomiarowym, wartość mierzonego poziomu zaburzeń wyra-
6 242 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar żana jest w wartościach względnych dbµv. Na rysunku 2.3 przedstawiono okno programu EMC 32 z widocznymi dopuszczalnymi poziomami zaburzeń dla wartości quasi-szczytowej (QP wartości quasi-peak) i wartości średniej (average AV). W celu przyspieszenia procesu pomiarowego w wstępnej ocenie poziomu emisji badanego obiektu wykorzystywany jest detektor wartości szczytowej Pk+. Detektor taki charakteryzuje się mała stałą czasową i pozwala na szybką ocenę poziomu zaburzeń. Jednak w końcowej ocenie pod uwagę brane są wyniki pomiarów przy wykorzystaniu detektora quasi-szczytowego QPk i wartości średniej AV (tabela 1.1.). Zgodnie z normą PN EN zmierzone wartości napięcia zaburzeń odnosi się do dopuszczalnych poziomów wartości quasi-szczytowej i wartości średniej w zakresie częstotliwości od 9 khz do 30 MHz. Rys Okno programu EMC32 z widocznymi dopuszczalnymi poziomami zaburzeń dla wartości QP (oznaczonych literą a) i AV (oznaczonych literą b), które widoczne są w postaci tzw. linii oporowych 2.3. Wyniki dla badanych lamp LED Badaniom poddano 40 lamp LED różnych producentów. Lampy LED były nowe, nieużywane. Poszczególne lampy miały różną moc znamionowa podawaną przez producenta na opakowaniach produktów. Były wiec lampy o mocach: 2 W,3 W, 4 W, 5 W, 6 W, 9 W, 10 W, 11 W, 15 W i 18 W. Badane lampy były wyprodukowane przez 10 producentów. Wśród 40 badanych lamp, 5 lamp wykazało przekroczenia ponad dopuszczalne poziomy określone w normie PN EN Przekroczenia stwierdzono dla dwóch lampy 18 W, dwóch lamp o mocy 9 W i jednej lampy o mocy 5 W.
7 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez W przypadku lamp LED o mocach znamionowych od 2 W do 4,8 zarejestrowano bardzo niskie wartości zaburzeń przewodzonych. Na rysunkach 2.4 i 2.5 przedstawiono zmierzone wartości zaburzeń odpowiednio dla lamp LED 3 W i 4,8 W. Zmierzone wartości są widoczne na tle dopuszczalnych poziomów (linie QP i AV). Czasami może być tak, że lampa LED tego samego producenta jest modernizowana tzn. wygląd zewnętrzny pozostaje niezmieniony, natomiast producent wprowadza zmiany wewnątrz elektronicznego układu zasilania, lub zmienia ten układ na inny. Tak było w przypadku 5 W lamp producenta A. Wyniki dla tych lamp zamieszczono na rysunkach 2.6 i 2.7. Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 3 W wyprodukowanej przez producenta A Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 4,8 W wyprodukowanej przez producenta F Z przebiegów napięć zaburzeń przedstawionych na rysunku 2.7 wynika, że lampa LED producenta A wyprodukowana w roku 2014 generowała znaczne wartości zaburzeń. Znaczne przekroczenia wystąpiły w zakresie częstotliwości od 179 khz do 478 khz.
8 244 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 5W wyprodukowanej przez producenta A w roku 2014 Tabela 2.2. Przykład wartości napięć zaburzeń zmierzone detektorem QP i AV dla 5 W lampy LED wyprodukowanej przez producenta A w roku Tabela jest generowana przez program EMC 32 (rys. 2.3) Quasi peak measurements QP Average measurements AV Frequency MHz QuasiPeak dbμv Limit dbμv Margin db Frequency MHz CAverage dbμv Limit dbμv Margin db 0, ,60 88,38 28,78 0, ,46 57,08 10,38 0, ,19 82,07 34,88 0, ,57 53,93 4,65 0, ,03 64,52 18,51 0, ,86 51,57 5,29 0, ,92 62,10 13,83 0, ,94 49,64 5,30 0, ,27 60,28 13,98 0, ,51 47,94 7,43 0, ,27 58,80 13,47 0, ,16 46,53 6,36 0, ,69 57,49 6,20 0, ,79 46,00 9,21 Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 5 W wyprodukowanej przez producenta A w roku 2015
9 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez Dokładne wartości napięć zaburzeń zmierzonych detektorem QP i AV zamieszczono w oryginalnej tabeli 2.2, która generowana jest w programie EMC 32. W zakresie częstotliwości od 9 khz do 30 MHz, w którym prowadzono badania, programowo wyznaczanych jest 20 punktów i dla nich zapisywane są w tabeli 2.2 wartości częstotliwości oraz zmierzone względem nich wartości napięć zaburzeń (Quasi peak oraz CAverage). Następnie w tabeli podane są dopuszczalne limity (Limit) i wartości zapasu lub przekroczenia (Margin). W tabeli 2.2, kolumnie Margin, znajdują się przekroczenia dopuszczalnych limitów, które zaznaczone są pogrubioną czcionką oraz wartości zaburzeń będące poniżej wartości limitów dla punktów, w których nie wystąpiły przekroczenia. Jak wynika z tabeli 2.2 największe przekroczenie miało miejsce dla częstotliwości 179 khz i wyniosło 18,5 db ponad wartość dopuszczalnego limitu. Podobnie przekroczenia dopuszczalnych limitów stwierdzono w przypadku 9 W lampy LED wyprodukowanej przez producenta H oraz 18 W lampy producenta A. Przebiegi napięć zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez te lampy przedstawiono na rysunkach 2.8 i Dla porównania 9 W lampa LED producenta A generowała bardzo małe zaburzenia, co pokazano na rysunku 2.9. Jak wynika z przebiegów napięć zaburzeń zamieszczonych na rysunku 2.10, lampa LED 18 W generowała zaburzenia elektryczne o znacznych wartościach. Przykładowo wartości zmierzone detektorem quasi-szczytowym (QP) wyniosły: 88,09 dbµv przy częstotliwości 181,5 MHz i 86,09 dbµv przy częstotliwości 226,5 MHz. Wymienione wartości przekraczają dopuszczalny limit o 20 db. Natomiast zarejestrowane dla tej lampy napięcia zaburzeń zmierzone detektorem wartości średniej (AV) miały wartości odpowiednio 72,01 dbµv przy częstotliwości 181,5 MHz i 70,23 dbµv przy częstotliwości 226,5 MHz i były większe od wartości dopuszczalnych o około 15 db. Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 9 W wyprodukowanej przez producenta H
10 246 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 9 W wyprodukowanej przez producenta A Rys Zarejestrowane wartości zaburzeń dla lampy LED o mocy 18 W wyprodukowanej przez producenta A 2.4. Analiza układów zasilania Układy zasilające stosowane w lampach LED, będących bezpośrednimi zamiennikami tradycyjnych żarówek, czy świetlówek kompaktowych, mają zróżnicowana budowę. W jednych rozwiązaniach stosuje się mostek prostowniczy i przetwornicę AC/DC, a w innych stosuje się tylko mostek prostowniczy i kondensator wygładzający. To ostatnie rozwiązanie jest coraz częściej stosowane, a jego przykład pokazano na rysunku Lampy LED, posiadające tak skonstruowany układ zasilający emitują zaburzenia o niskich wartościach (rys.: 2.4, 2.5, 2.7 i 2.9). Natomiast lampy LED, które wykazywały przekroczenia (rys: 2.6, 2.8 i 2.10) posiadały zasilacze, w których wykorzystano przetwornicę AC/DC.
11 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez W zasilaczach tych brakowało odpowiedniego filtru EMC, który powinien się znajdować przed mostkiem prostowniczym. Rys Schemat układu zasilacza stosowanego w lampie 5 W wyprodukowanej przez producenta A. Na schemacie filtr RC ograniczający zaburzenia (rys. 2.7) Na rysunku 2.12 pokazano zasilacz z przetwornicą AC/DC, który zastosowano w 18 W lampie LED. Rys Zasilacz z przetwornicą AC/DC stosowany w 18 W lampie LED Natomiast na rysunku 2.13 pokazano schemat aplikacyjny sterownika przetwornicy wykorzystywanego w lampach LED. Na schemacie, przed mostkiem prostowniczym, widać filtr EMI, który ma obniżyć wartość sygnału zaburzeń generowanych przez przetwornicę. Rys Schemat aplikacyjny sterownika przetwornicy podany przez producenta [8]
12 248 K. Kuryło, K. Kamuda, D. Klepacki, W. Sabat, D. Kielar Niestety elektroniczny układ zasilacza prezentowany na rys nie zawiera takiego filtru. Brak tego filtru powoduje, że badania lampa 18 W generuje napięcie zaburzeń o znacznych wartościach. 3. PODSUMOWANIE Zasilacze lamp LED zbudowane w oparciu o przetwornice AC/DC były naturalnym przejściem z rozwiązań stosowanych w świetlówkach kompaktowych. Niestety niektórzy producenci lamp LED, korzystając z gotowych rozwiązań dostępnych na rynku, stosowali układy zasilaczy, w których brakowało stosownego filtru EMI ograniczającego emisje zaburzeń. Wynikiem tego w handlu zdarzają się lampy LED, które generują zaburzenia o znacznych wartościach (rys: 2.6, 2.8 i 2.10). Natomiast w nowszych rozwiązaniach zasilaczy rezygnuje się z przetwornicy AC/DC. Przykład takiego rozwiązania podano na rysunku Lampy LED w których zastosowano ten typ zasilaczy lub podobny, emitowały zaburzenia o niskiej wartości (rys.: 2.4, 2.5, 2.7 i 2.9). Przedstawione na rysunku 2.11 rozwiązanie układowe zasilacza jest bardzo proste i jest korzystne z punktu widzenia emisji zaburzeń w zakresie od 9 khz do 30 MHz. Na pewno jest też korzystne z punktu widzenia ekonomicznego. Jednak tak proste rozwiązanie pozbawione jest stabilizacji napięciowej. Układ posiada jedynie ograniczenie prądowe w postaci rezystora R2. Lampa LED, posiadająca tak prosty zasilacz, narażona jest na wahania i zapady napięcia czy udary. W pracach badawczych wykorzystano aparaturę zakupioną w wyniku realizacji projektów: a) Rozbudowa infrastruktury naukowo-badawczej Politechniki Rzeszowskiej, nr POPW /09, współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej w ramach Programu Operacyjnego Rozwój Polski Wschodniej , Priorytet I, Nowoczesna Gospodarka, Działanie 1.3, Wspieranie Innowacji; Budowa, rozbudowa i modernizacja bazy naukowo-badawczej Politechniki Rzeszowskiej, nr UDA RPPK /10 00, współfinansowanego ze środków Unii Europejskiej w ramach Regionalnego Programu Operacyjnego Województwa Podkarpackiego na lata LITERATURA [1] Norma PN T 01030/1996 Kompatybilność elektromagnetyczna. Terminologia. [2] EMC Technika filtrowania i pomiaru zaburzeń, katalog firmy ASTAT. [3] Dyrektywa Unii Europejskiej 2014/30/UE. [4] Bogucki J., Chudziński A., Połujan J.: Emisja elektromagnetyczna w praktyce, Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, nr 1-2, ISSN , 2007, s.85-95, Wydawnictwo: Instytut Łączności-Państwowy Instytut Badawczy. [5] Podsumowanie kontroli urządzeń LED, Raport UKE, Warszawa, 2016.
13 Badanie zaburzeń radioelektrycznych generowanych przez [6] Norma PN EN 55015/2013 Poziomy dopuszczalne i metody pomiarów zaburzeń radioelektrycznych wytworzonych przez elektryczne urządzenia oświetleniowe i urządzenia podobne. [7] Więckowski T. Pomiar emisyjności urządzeń elektrycznych i elektronicznych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław [8] = RESEARCH OF RADIOELECTRIC CONDUCTIVE DISTURBANCES GENERATED BY LED LAMPS The test results of radioelectric conductive disturbances generated by led lamps have been presented in this paper. The introduction includes information about types of electromagnetic disturbances and reasons of their generation by LED lamps as well as in the next chapters the results of research were presented and discussed. The LED lamps were tested on measuring stand in EMC Laboratory at Rzeszów University of Technology using Rohde&Schwarz equipment. The measurements were conducted in accordance with PN EN standard. The obtained results allowed to characterize of tested lamps in relation to value of generated conductive disturbances and next to compare with supply solutions used in those devices. (Received: , revised: )
BADANIE ZABURZEŃ ELEKTROMAGNETYCZNYCH PROMIENIOWANYCH W ZAKRESIE CZĘSTOTLIWOŚCI OD 30 DO 300 MHZ NA PRZYKŁADZIE LAMP LED
POZNAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY ACADEMIC JOURNALS No 93 Electrical Engineering 2018 DOI 10.21008/j.1897-0737.2018.93.0018 Kazimierz KURYŁO *, Wiesław SABAT *, Dariusz KLEPACKI * Kazimierz KAMUDA * BADANIE
Bardziej szczegółowoĆwiczenie Nr 2. Pomiar przewodzonych zakłóceń radioelektrycznych za pomocą sieci sztucznej
str. 1/6 Ćwiczenie Nr 2 Pomiar przewodzonych zakłóceń radioelektrycznych za pomocą sieci sztucznej 1. Cel ćwiczenia: zapoznanie się ze zjawiskiem przewodzonych zakłóceń radioelektrycznych, zapoznanie się
Bardziej szczegółowoKompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń
mgr inż. ROMAN PIETRZAK Instytut Technik Innowacyjnych EMAG Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń Omówiono problemy wynikłe w pracy urządzeń podczas oceny ich funkcjonowania
Bardziej szczegółowoBADANIA SYMULACYJNE PROSTOWNIKA PÓŁSTEROWANEGO
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 78 Electrical Engineering 2014 Mikołaj KSIĄŻKIEWICZ* BADANIA SYMULACYJNE PROSTOWNIKA W pracy przedstawiono wyniki badań symulacyjnych prostownika
Bardziej szczegółowoKompatybilnośd elektromagnetyczna urządzeo górniczych w świetle doświadczeo
Kompatybilnośd elektromagnetyczna urządzeo górniczych w świetle doświadczeo Konferencja Środowisko Elektromagnetyczne Kopalń, 20.09.2011r. Autorzy: Roman Pietrzak, Leszek Heliosz, Szymon Robak Laboratorium
Bardziej szczegółowoOCENA PARAMETRÓW JAKOŚCI ENERGII ELEKTRYCZNEJ DOSTARCZANEJ ODBIORCOM WIEJSKIM NA PODSTAWIE WYNIKÓW BADAŃ
OCENA PARAMETRÓW JAKOŚCI ENERGII ELEKTRYCZNEJ DOSTARCZANEJ ODBIORCOM WIEJSKIM NA PODSTAWIE WYNIKÓW BADAŃ Jerzy Niebrzydowski, Grzegorz Hołdyński Politechnika Białostocka Streszczenie W referacie przedstawiono
Bardziej szczegółowoWydział Elektryczny, Katedra Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Laboratorium Przetwarzania i Analizy Sygnałów Elektrycznych
Wydział Elektryczny, Katedra Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Laboratorium Przetwarzania i Analizy Sygnałów Elektrycznych (bud A5, sala 310) Wydział/Kierunek Nazwa zajęć laboratoryjnych Nr zajęć
Bardziej szczegółowoJAKOŚĆ ENERGII ELEKTRYCZNEJ JAKO PODSTAWA KOMPATYBILNOŚCI ELEKTROMAGNETYCZNEJ W ELEKTROENERGETYCE
Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Nr 56 Politechniki Wrocławskiej Nr 56 Studia i Materiały Nr 24 2004 Jerzy LESZCZYŃSKI *, Grzegorz KOSOBUDZKI * kompatybilność elektromagnetyczna,
Bardziej szczegółowoBadania kompatybilności elektromagnetycznej pojazdów w trakcyjnych w świetle obecnie zujących norm oraz przyszłych ych wymagań normatywnych
Badania kompatybilności elektromagnetycznej pojazdów w trakcyjnych w świetle obecnie obowiązuj zujących norm oraz przyszłych ych wymagań normatywnych mgr inż.. Artur DłużniewskiD 1 1 Dlaczego badania taboru
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE
Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl
Bardziej szczegółowoDYNAMICZNE ZMIANY NAPIĘCIA ZASILANIA
LABORATORIUM KOMPATYBILNOŚCI ELEKTROMAGNETYCZNEJ POLITECHNIKA WARSZAWSKA INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI TEORETYCZNEJ I SYSTEMÓW INFORMACYJNO-POMIAROWYCH ZAKŁAD WYSOKICH NAPIĘĆ I KOMPATYBILNOŚCI ELEKTROMAGNETYCZNEJ
Bardziej szczegółowoOpracowanie wyników uzyskanych w międzylaboratoryjnych badaniach porównawczych zawierające oszacowanie niepewności pomiaru
Centralne Laboratorium Badawcze (CLB) Opracowanie wyników uzyskanych w międzylaboratoryjnych badaniach porównawczych zawierające oszacowanie niepewności pomiaru Praca nr 09300038 Warszawa, grudzien 2008
Bardziej szczegółowoSpecyfikacja techniczna zasilaczy buforowych pracujących bezpośrednio na szyny DC
1. Wymagania ogólne. SM/ST/2008/04 Specyfikacja techniczna zasilaczy buforowych pracujących bezpośrednio na szyny DC Zamawiane urządzenia elektroenergetyczne muszą podlegać Ustawie z dnia 30 sierpnia 2002
Bardziej szczegółowoPrzepisy i normy związane:
Przepisy i normy związane: 1. Ustawa z dnia 10 kwietnia 1997 roku Prawo energetyczne. 2. Rozporządzenie Ministra Gospodarki z dnia 4 maja 2007 roku w sprawie szczegółowych warunków funkcjonowania systemu
Bardziej szczegółowoPrzemienniki częstotliwości i ich wpływ na jakość energii elektrycznej w przedsiębiorstwie wod.-kan.
Przemienniki częstotliwości i ich wpływ na jakość energii elektrycznej w przedsiębiorstwie wod.-kan. Wrzesień 2017 / Alle Rechte vorbehalten. Jakość energii elektrycznej Prawo, gdzie określona jest JEE
Bardziej szczegółowoBADANIA KOMPATYBILNOŚCI ELEKTROMAGNETYCZNEJ
Zakup aparatury współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego Jerzy PIETRUSZEWSKI BADANIA KOMPATYBILNOŚCI ELEKTROMAGNETYCZNEJ 1. Wprowadzenie Współczesne
Bardziej szczegółowo1. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Numer referencyjny: IK.PZ-380-06/PN/18 Załącznik nr 1 do SIWZ Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzone w trybie przetargu nieograniczonego pn. Dostawa systemu pomiarowego do badań EMC,
Bardziej szczegółowoWZAJEMNE ODDZIAŁYWANIE URZ
ĆWICZENIE 6EMC 1. Wstęp. WZAJEMNE ODDZIAŁYWANIE URZĄDZEŃ W SYSTEMIE (Analiza EMC systemu) Celem ćwiczenia jest zapoznanie się ze zjawiskami oddziaływania wybranych urządzeń na inne urządzenia pracujące
Bardziej szczegółowoPrzykładowe zadanie egzaminacyjne dla kwalifikacji E.20 w zawodzie technik elektronik
1 Przykładowe zadanie egzaminacyjne dla kwalifikacji E.20 w zawodzie technik elektronik Znajdź usterkę oraz wskaż sposób jej usunięcia w zasilaczu napięcia stałego 12V/4A, wykonanym w oparciu o układ scalony
Bardziej szczegółowoANALIZA WPŁYWU NIESYMETRII NAPIĘCIA SIECI NA OBCIĄŻALNOŚĆ TRÓJFAZOWYCH SILNIKÓW INDUKCYJNYCH
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 8 Electrical Engineering 05 Ryszard NAWROWSKI* Zbigniew STEIN* Maria ZIELIŃSKA* ANALIZA WPŁYWU NIESYMETRII NAPIĘCIA SIECI NA OBCIĄŻALNOŚĆ TRÓJFAZOWYCH
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 17, Data wydania: 23 października 2018 r. Nazwa i adres AB
Bardziej szczegółowoOCENA JAKOŚCI DOSTAWY ENERGII ELEKTRYCZNEJ
OCENA JAKOŚCI DOSTAWY ENERGII ELEKTRYCZNEJ dr inż. KRZYSZTOF CHMIELOWIEC KATEDRA ENERGOELEKTRONIKI I AUTOMATYKI SYSTEMÓW PRZETWARZANIA ENERGII AGH KRAKÓW PODSTAWY PRAWNE WSKAŹNIKI JAKOŚCI ANALIZA ZDARZEŃ
Bardziej szczegółowoBADANIA CERTYFIKACYJNE TABORU KOLEJOWEGO Z ZAKRESU EMC METODYKA, PROBLEMY
Andrzej BIAŁOŃ 1 Artur DŁUŻNIEWSKI 2 Łukasz JOHN 3 kompatybilność elektromagnetyczna, zaburzenia radioelektryczne, tabor kolejowy BADANIA CERTYFIKACYJNE TABORU KOLEJOWEGO Z ZAKRESU EMC METODYKA, PROBLEMY
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 1 do Standardu technicznego nr 3/DMN/2014 dla układów elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej w TAURON Dystrybucja S.A.
Załącznik nr 1 do Standardu technicznego nr 3/DMN/2014 dla układów elektroenergetycznej automatyki zabezpieczeniowej w TAURON Dystrybucja S.A. Przepisy i normy związane Obowiązuje od 15 lipca 2014 roku
Bardziej szczegółowoCzęść 7. Zaburzenia przewodzone. a. Geneza i propagacja, normy i pomiar
Część 7 Zaburzenia przewodzone a. Geneza i propagacja, normy i pomiar Wymagania kompatybilności elektromagnetycznej Wymagania normatywne emisja zaburzeń odporność na zaburzenia (UE) Poziomy norm Unia Europejska
Bardziej szczegółowoPracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie 1. Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów RC
Pracownia Automatyki i Elektrotechniki Katedry Tworzyw Drzewnych Ćwiczenie ĆWICZENIE Połączenia szeregowe oraz równoległe elementów C. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest praktyczno-analityczna ocena wartości
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 12, Data wydania: 20 grudnia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666
Bardziej szczegółowoKONFERENCJA BRANŻOWA. III Kongres Oświetleniowy LED Polska 2017 Warszawa, listopada 2017
KONFERENCJA BRANŻOWA III Kongres Oświetleniowy LED Polska 2017 Warszawa, 28-29 listopada 2017 Michał Waloch Dyrektor Generalny Związku Producentów Sprzętu Oświetleniowego Pol-Lighting BADANIA JAKOŚCI LAMP
Bardziej szczegółowoBADANIA MODELOWE OGNIW PALIWOWYCH TYPU PEM
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 70 Electrical Engineering 2012 Bartosz CERAN* BADANIA MODELOWE OGNIW PALIWOWYCH TYPU PEM W artykule przedstawiono badania przeprowadzone na modelu
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych
Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie
Bardziej szczegółowoI. Pomiary charakterystyk głośników
LABORATORIUM ELEKTROAKUSTYKI ĆWICZENIE NR 4 Pomiary charakterystyk częstotliwościowych i kierunkowości mikrofonów i głośników Cel ćwiczenia Ćwiczenie składa się z dwóch części. Celem pierwszej części ćwiczenia
Bardziej szczegółowoLAMPY I MODUŁY DIODOWE ZASILANE NAPIĘCIEM PRZEMIENNYM
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 92 Electrical Engineering 2017 DOI 10.21008/j.1897-0737.2017.92.0010 Krzysztof WANDACHOWICZ* Michalina TAISNER** LAMPY I MODUŁY DIODOWE ZASILANE
Bardziej szczegółowoLaboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa
Laboratorum 4 Dioda półprzewodnikowa Marcin Polkowski (251328) 19 kwietnia 2007 r. Spis treści 1 Cel ćwiczenia 2 2 Opis ćwiczenia 2 3 Wykonane pomiary 3 3.1 Dioda krzemowa...............................................
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI Instrukcja do ćwiczenia O9 Temat ćwiczenia WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA Ćwiczenie O9 WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ
Bardziej szczegółowoZAKRES BADAŃ BEZPIECZEŃSTWO UŻYTKOWANIA I EMC CELAMED Centralne Laboratorium Aparatury Medycznej Aspel S.A.
Przedstawiony formularz umożliwia wybór badań będących przedmiotem zamówienia, sporządzenia planu badań. Dla ułatwienia wyboru przedstawiono krótką charakterystykę techniczną możliwości badawczych, oraz
Bardziej szczegółowoWIZUALIZACJA DANYCH SENSORYCZNYCH MINISTACJA METEOROLOGICZNA
WIZUALIZACJA DANYCH SENSORYCZNYCH MINISTACJA METEOROLOGICZNA Prowadzący: dr inż. Bogdan Kreczmer Autor: Jakub Malewicz Wrocław, 15 VI 2007 SPIS TREŚCI 1. WSTĘP 3 2. DANE STACJI 3 3. SCHEMAT IDEOWY 4 4.
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 9, Data wydania: 17 sierpnia 2010 r. Nazwa i adres organizacji
Bardziej szczegółowoELEKTRYCZNY SPRZĘT AGD UŻYWANY W KUCHNI DO PRZYGOTOWYWANIA POTRAW I WYKONYWANIA PODOBNYCH CZYNNOŚCI.
ELEKTRYCZNY SPRZĘT AGD UŻYWANY W KUCHNI DO PRZYGOTOWYWANIA POTRAW I WYKONYWANIA PODOBNYCH CZYNNOŚCI. 1. POLSKIE NORMY NA BEZPIECZEŃSTWO: 1.1. PN-EN 60335-1:2004+A1:2005+Ap1:2005+Ap2:2006+A2:2008+A12:2008+A13:2009+
Bardziej szczegółowoRegulacja dwupołożeniowa (dwustawna)
Regulacja dwupołożeniowa (dwustawna) I. Wprowadzenie Regulacja dwustawna (dwupołożeniowa) jest często stosowaną metodą regulacji temperatury w urządzeniach grzejnictwa elektrycznego. Polega ona na cyklicznym
Bardziej szczegółowoZasilanie diod LED w aplikacjach oświetleniowych AC liniowym, szeregowym regulatorem prądu układ CL8800 firmy Microchip (Supertex)
1 Zasilanie diod LED w aplikacjach oświetleniowych AC liniowym, szeregowym Zasilanie diod LED w aplikacjach oświetleniowych AC liniowym, szeregowym regulatorem prądu układ CL8800 firmy Microchip (Supertex)
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 666 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 11, Data wydania: 11 stycznia 2018 r. Nazwa i adres: AB 666
Bardziej szczegółowoKonferencja: Własność intelektualna w innowacyjnej gospodarce
Konferencja: Własność intelektualna w innowacyjnej gospodarce Temat pracy doktorskiej: Analiza i badania wpływu technik modulacji w układach z falownikami napięcia na elektromagnetyczne zaburzenia przewodzone
Bardziej szczegółowo(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 295 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 17 listopada 2014 r. Nazwa i adres AB 295
Bardziej szczegółowoFiltry wejściowe EMC. Tłumienność wyrażona w (db) = 20 log 10 (U2 / U1)
Filtry wejściowe EMC Filtr przeciwzakłóceniowy definiowany jest w ten sposób, że działa on przez eliminację niepotrzebnych części widma sygnałów elektrycznych to jest tych części które nie zawierają informacji
Bardziej szczegółowoW polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED.
Pomiary natężenia oświetlenia LED za pomocą luksomierzy serii Sonel LXP W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych
POLITECHNIKA WARSZAWSKA Wydział Elektryczny Zakład Systemów Informacyjno-Pomiarowych Studia... Kierunek... Grupa dziekańska... Zespół... Nazwisko i Imię 1.... 2.... 3.... 4.... Laboratorium...... Ćwiczenie
Bardziej szczegółowoAC/DC. Jedno połówkowy, jednofazowy prostownik
AC/DC Przekształtniki AC/DC można podzielić na kilka typów, mianowicie: prostowniki niesterowane; prostowniki sterowane. Zależnie od stopnia skomplikowania układu i miejsca przyłączenia do sieci elektroenergetycznej
Bardziej szczegółowoMONITOROWANIE PARAMETRÓW PRACY HYBRYDOWEGO ODNAWIALNEGO ŹRÓDŁA ENERGII ELEKTRYCZNEJ
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 74 Electrical Engineering 2013 Marek PALUSZCZAK* Wojciech TWARDOSZ** Grzegorz TWARDOSZ*** MONITOROWANIE PARAMETRÓW PRACY HYBRYDOWEGO ODNAWIALNEGO
Bardziej szczegółowoSTABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO. 1. Wiadomości wstępne
STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO 1. Wiadomości wstępne Stabilizatory napięcia stałego są to układy elektryczne dostarczające do odbiornika napięcie o stałej wartości niezależnie od zmian w określonych granicach:
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 3 WYMOGI TECHNICZNE APARATURY DO BADAŃ EMC ZADANIE 1: 1.1 Dostawa urządzeń do pomiaru emisji promieniowanej i przewodzonej: 1.1 Analizator widma umożliwiający, przy zastosowaniu wyposażenia
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki
Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki Temat ćwiczenia: Przetwornica impulsowa DC-DC typu buck
Bardziej szczegółowoZespół Szkół Łączności w Krakowie. Badanie parametrów wzmacniacza mocy. Nr w dzienniku. Imię i nazwisko
Klasa Imię i nazwisko Nr w dzienniku espół Szkół Łączności w Krakowie Pracownia elektroniczna Nr ćw. Temat ćwiczenia Data Ocena Podpis Badanie parametrów wzmacniacza mocy 1. apoznać się ze schematem aplikacyjnym
Bardziej szczegółowoPL 217306 B1. AZO DIGITAL SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Gdańsk, PL 27.09.2010 BUP 20/10. PIOTR ADAMOWICZ, Sopot, PL 31.07.
PL 217306 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217306 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387605 (22) Data zgłoszenia: 25.03.2009 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoDIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania i wiedza konieczna do wykonania ćwiczenia: 1. Znajomość instrukcji do ćwiczenia, w tym
Bardziej szczegółowoPÓŁKA TELEKOMUNIKACYJNA TM-70 INSTRUKCJA OBSŁUGI
LANEX S.A. ul. Ceramiczna 8 0-50 Lublin tel. (08) 0 tel/fax. (08) 70 5 70 PÓŁKA TELEKOMUNIKACYJNA TM-70 INSTRUKCJA OBSŁUGI e-mail: info@lanex.lublin.pl Dział Serwisu www.lanex.lublin.pl tel. (08) -0- wew.
Bardziej szczegółowoBadania kompatybilności elektromagnetycznej taboru kolejowego
Artyku y 9 Badania kompatybilności elektromagnetycznej taboru kolejowego ukasz JOHN 1, Artur D U NIEWSKI 2 Streszczenie W artykule przedstawiono problematykę badań taboru kolejowego, wykonywanych na terenie
Bardziej szczegółowoPomiary pól magnetycznych generowanych przez urządzenia elektroniczne instalowane w taborze kolejowym
PROBLEMY KOLEJNICTWA RAILWAY REPORT Zeszyt 181 (grudzień 2018) ISSN 0552-2145 (druk) ISSN 2544-9451 (on-line) 25 Pomiary pól magnetycznych generowanych przez urządzenia elektroniczne instalowane w taborze
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI
1 ĆWICZENIE 15 BADANIE WZMACNIACZY MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚCI 15.1. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych właściwości wzmacniaczy mocy małej częstotliwości oraz przyswojenie umiejętności
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
Bardziej szczegółowoSTRATEGIA LABORATORIUM AUTOMATYKI I TELEKOMUNIKACJI IK W ZAKRESIE PROWADZENIA BADAŃ SYSTEMU GSM-R
STRATEGIA LABORATORIUM AUTOMATYKI I TELEKOMUNIKACJI IK W ZAKRESIE PROWADZENIA BADAŃ SYSTEMU GSM-R mgr inż.. Artur DłużniewskiD 1 1 Wybrane prace realizowane w Laboratorium Automatyki i Telekomunikacji
Bardziej szczegółowoProstowniki. 1. Prostowniki jednofazowych 2. Prostowniki trójfazowe 3. Zastosowania prostowników. Temat i plan wykładu WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY
POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA Temat i plan wykładu WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Prostowniki 1. Prostowniki jednofazowych 2. Prostowniki trójfazowe 3. Zastosowania prostowników ELEKTRONIKA Jakub Dawidziuk sobota, 16
Bardziej szczegółowoWZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO
Mirosław KAŹMIERSKI Okręgowy Urząd Miar w Łodzi 90-132 Łódź, ul. Narutowicza 75 oum.lodz.w3@gum.gov.pl WZORCOWANIE URZĄDZEŃ DO SPRAWDZANIA LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ PRĄDU PRZEMIENNEGO 1. Wstęp Konieczność
Bardziej szczegółowoĆwiczenie Nr 3. Pomiar emisyjności urządzeń elektronicznych w komorze TEM
str. 1/8 Ćwiczenie Nr 3 Pomiar emisyjności urządzeń elektronicznych w komorze TEM 1. Cel ćwiczenia: Zapoznanie z alternatywnymi metodami pomiaru emisyjności urządzeń teleinformatycznych oraz ze sposobami
Bardziej szczegółowoPL B1. Sposób oceny dokładności transformacji indukcyjnych przekładników prądowych dla prądów odkształconych. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL
PL 223692 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223692 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399602 (51) Int.Cl. G01R 35/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:
Bardziej szczegółowoE104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów
E104. Badanie charakterystyk diod i tranzystorów Cele: Wyznaczenie charakterystyk dla diod i tranzystorów. Dla diod określa się zależność I d =f(u d ) prądu od napięcia i napięcie progowe U p. Dla tranzystorów
Bardziej szczegółowoProgram XI Krajowych Warsztatów Kompatybilności Elektromagnetycznej Wrocław, czerwca 2017r.
Program XI Krajowych Warsztatów Kompatybilności Elektromagnetycznej Wrocław, 05 07 czerwca 2017r. 8:00 9:00 Rejestracja (hol bud. D-21) 9:00 9:20 Otwarcie D-20 sala 10A/C 9:20 10:30 Sesja plenarna S 1
Bardziej szczegółowoBADANIE ZMIAN PARAMETRÓW EKSPLOATACYJNYCH WYBRANYCH LAMP DO UŻYTKU DOMOWEGO
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 92 Electrical Engineering 2017 DOI 10.21008/j.1897-0737.2017.92.0015 Julita ZABŁOCKA* Małgorzata ZALESIŃSKA* Małgorzata GÓRCZEWSKA* BADANIE ZMIAN
Bardziej szczegółowoPolitechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki
Politechnika Poznańska, Instytut Elektrotechniki i Elektroniki Przemysłowej, Zakład Energoelektroniki i Sterowania Laboratorium energoelektroniki Temat ćwiczenia: Przetwornica impulsowa DC-DC typu boost
Bardziej szczegółowoPatrz załączona lista. Wskazany produkt (produkty) jest (są) zgodny z odpowiednim ustawodawstwem ujednolicającym Unii Europejskiej:
Numer dokumentu 2016 / 9C1-3384739-EN-00 Producent lub przedstawiciel: LEDVANCE GmbH Adres: Parkring 29-33 85748 Garching Niemcy Nazwa handlowa lub towarowa: Typ produktu: Nazwa produktu: LEDVANCE Oprawa
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 9 WZMACNIACZ MOCY DO UŻYTKU
Bardziej szczegółowoSDD287 - wysokoprądowy, podwójny driver silnika DC
SDD287 - wysokoprądowy, podwójny driver silnika DC Własności Driver dwóch silników DC Zasilanie: 6 30V DC Prąd ciągły (dla jednego silnika): do 7A (bez radiatora) Prąd ciągły (dla jednego silnika): do
Bardziej szczegółowoModuł CON014. Wersja na szynę 35mm. Przeznaczenie. Użyteczne właściwości modułu
Moduł CON014 Wersja na szynę 35mm RS232 RS485 Pełna separacja galwaniczna 3.5kV. Zabezpiecza komputer przed napięciem 220V podłączonym od strony interfejsu RS485 Kontrolki LED stanu wejść i wyjść na
Bardziej szczegółowoMODEL SYMULACYJNY ENERGOELEKTRONICZNEGO ZASILACZA AWARYJNEGO UPS O STRUKTURZE TYPU VFI
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 91 Electrical Engineering 2017 DOI 10.21008/j.1897-0737.2017.91.0011 Michał KRYSTKOWIAK* Łukasz CIEPLIŃSKI* MODEL SYMULACYJNY ENERGOELEKTRONICZNEGO
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI FILTRY AKTYWNE
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 11 FILTRY AKTYWNE DO UŻYTKU
Bardziej szczegółowoBEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO
Temat ćwiczenia: BEZDOTYKOWY CZUJNIK ULTRADŹWIĘKOWY POŁOŻENIA LINIOWEGO 1. Wprowadzenie Ultradźwiękowy bezdotykowy czujnik położenia liniowego działa na zasadzie pomiaru czasu powrotu impulsu ultradźwiękowego,
Bardziej szczegółowoHARMONICZNE W PRĄDZIE ZASILAJĄCYM WYBRANE URZĄDZENIA MAŁEJ MOCY I ICH WPŁYW NA STRATY MOCY
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 86 Electrical Engineering 2016 Ryszard NAWROWSKI* Zbigniew STEIN* Maria ZIELIŃSKA* HARMONICZNE W PRĄDZIE ZASILAJĄCYM WYBRANE URZĄDZENIA MAŁEJ MOCY
Bardziej szczegółowoBadanie diod półprzewodnikowych
Badanie diod półprzewodnikowych Proszę zbudować prosty obwód wykorzystujący diodę, który w zależności od jej kierunku zaświeci lub nie zaświeci żarówkę. Jak znaleźć żarówkę: Indicators -> Virtual Lamp
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ
60-965 Poznań Grupa: Elektrotechnika, sem 3., Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium wersja z dn. 03.11.2015 Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ Opracowanie wykonano na podstawie
Bardziej szczegółowoBogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 3 Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne SPIS TREŚCI Spis treści... 2 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Wymagania...
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA OBSŁUGI Przekaźnik na USB Nr katalogowy RELx-USB-00
INSTRUKCJA OBSŁUGI Przekaźnik na USB Nr katalogowy RELx-USB-00 data publikacji kwiecień 2010 Strona 2 z 8 SPIS TREŚCI 1. Charakterystyka ogólna... 3 1.1 Sygnalizacja... 3 1.2 Obudowa... 3 2. Zastosowanie...
Bardziej szczegółowoPolitechnika Wrocławska
Politechnika Wrocławska Instytut Cybernetyki Technicznej Wizualizacja Danych Sensorycznych Projekt Kompas Elektroniczny Prowadzący: dr inż. Bogdan Kreczmer Wykonali: Tomasz Salamon Paweł Chojnowski Wrocław,
Bardziej szczegółowoSPIS ZAWARTOŚCI DOKUMENTACJI
SPIS ZAWARTOŚCI DOKUMENTACJI 1. Opis techniczny 2. Oświadczenie projektanta 3. Rysunki Instalacje elektryczne - rzut parteru rys. nr E-01 Przekrój B-B rys. nr E-02 1. OPIS TECHNICZNY 1.1. Podstawa opracowania
Bardziej szczegółowoŹródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego
POLIECHNIKA ŚLĄSKA WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA I ENERGEYKI INSYU MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGEYCZNYCH LABORAORIUM ELEKRYCZNE Źródła zasilania i parametry przebiegu zmiennego (E 1) Opracował: Dr inż. Włodzimierz
Bardziej szczegółowoEMISJA ZABURZEŃ RADIOELEKTRYCZNYCH GENEROWANYCH PRZEZ TABOR KOLEJOWY
Problemy Kolejnictwa Zeszyt 152 51 Dr inż. Andrzej Białoń, Mgr inż. Artur Dłużniewski, Mgr inż. Łukasz John Instytut Kolejnictwa EMISJA ZABURZEŃ RADIOELEKTRYCZNYCH GENEROWANYCH PRZEZ TABOR KOLEJOWY SPIS
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 16/17. JAROSŁAW ZYGARLICKI, Krzyżowice, PL WUP 04/18
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228586 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419136 (51) Int.Cl. H01H 47/24 (2006.01) G02B 6/35 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza napięcia REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU
REGIONALNE CENTRUM EDUKACJI ZAWODOWEJ W BIŁGORAJU R C E Z w B I Ł G O R A J U LABORATORIUM pomiarów elektronicznych UKŁADÓW ANALOGOWYCH Ćwiczenie 2: pomiar charakterystyk i częstotliwości granicznych wzmacniacza
Bardziej szczegółowoKatedra Energetyki. Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Elektroniki
1 Katedra Energetyki Laboratorium Podstaw Elektrotechniki i Elektroniki Temat ćwiczenia: POMIARY PODSTAWOWYCH WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH W OBWODACH PRĄDU STAŁEGO (obwód 3 oczkowy) 2 1. POMIARY PRĄDÓW I NAPIĘĆ
Bardziej szczegółowoĆw. III. Dioda Zenera
Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,
Bardziej szczegółowomh-re4 Poczwórny przekaźnik wykonawczy do rolet systemu F&Home.
95-00 Pabianice, ul. Konstantynowska 79/81 tel. +48 4 15 3 83 www.fif.com.pl KARTA KATALOGOWA mh-re4 Poczwórny przekaźnik wykonawczy do rolet systemu F&Home. 95-00 Pabianice, ul. Konstantynowska 79/81
Bardziej szczegółowoBADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 70 Electrical Engineering 2012 Bartosz CERAN* BADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH W artykule przedstawiono model matematyczny modułu fotowoltaicznego.
Bardziej szczegółowoGdy wzmacniacz dostarcz do obciążenia znaczącą moc, mówimy o wzmacniaczu mocy. Takim obciążeniem mogą być na przykład...
Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Gdy wzmacniacz dostarcz do obciążenia znaczącą moc, mówimy
Bardziej szczegółowoPRZETWORNICA PAIM-240, PAIM-240R
NOWOŚCI strona 1. Przetwornica DC/DC PAIM-240, PAIM-240R 2 2. Zasilacz PWR-10B-7 4 3. Zasilacz PWR-10B-7R 6 4. Zasilacz PWR-10B-12 8 5. Zasilacz PWR-10B-12R 10 6. Zasilacz PWR-10B-28 12 7. Zasilacz PWR-10B-28R
Bardziej szczegółowoOświetlenie HID oraz LED
Tematyka badawcza: Oświetlenie HID oraz LED W tej tematyce Instytut Elektrotechniki proponuje następującą współpracę: L.p. Nazwa Laboratorium, Zakładu, Pracowni Nr strony 1. Zakład Przekształtników Mocy
Bardziej szczegółowoWOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA
WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego ENERGOELEKTRONIKA Laboratorium Ćwiczenie nr 2 Łączniki prądu przemiennego Warszawa 2015r. Łączniki prądu przemiennego na przemienny Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoWykaz aktualnych norm EMC przetłumaczonych przez Komitet Techniczny 104 na język polski (stan: luty 2013)
Wykaz aktualnych norm EMC przetłumaczonych przez Komitet Techniczny 104 na język polski (stan: luty 2013) 1. W nawiasach podano rok przyjęcia normy oryginalnej, na podstawie której przyjęto PN. 2. Dla
Bardziej szczegółowoTemat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych
INSTYTUT SYSTEMÓW INŻYNIERII ELEKTRYCZNEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ WYDZIAŁ: KIERUNEK: ROK AKADEMICKI: SEMESTR: NR. GRUPY LAB: SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ W LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ I ELEKTRONICZNEJ
Bardziej szczegółowoEscort 3146A - dane techniczne
Escort 3146A - dane techniczne Dane wstępne: Zakres temperatur pracy od 18 C do 28 C. ormat podanych dokładności: ± (% wartości wskazywanej + liczba cyfr), po 30 minutach podgrzewania. Współczynnik temperaturowy:
Bardziej szczegółowo