SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

Transkrypt

1 Instytut Chemii Fizycznej PAN ul. Kasprzaka 44/ Warszawa Znak sprawy: ZP /07 Warszawa, SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA na dostawę: spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem Postępowanie o udzielenie zamówienia prowadzone jest w trybie przetargu nieograniczonego na podstawie ustawy z dnia 29 stycznia 2004 roku Prawo Zamówień Publicznych (DzU z 2006, nr.164, poz.1163, nr 170 poz i nr 227 poz oraz z 2007r. nr 64 poz. 427 i nr 82 poz. 560).

2 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 1. ZAMAWIAJĄCY Instytut Chemii Fizycznej PAN ul. Kasprzaka 44/ Warszawa los@ichf.edu.pl Fax: (022) strona na której znajduje się SIWZ 2. TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA Postępowanie prowadzone będzie w trybie: przetargu nieograniczonego. 3. OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA 3.1 Przedmiotem zamówienia jest: dostawa spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem. Wspólny Słownik Zamówień: Szczegółowa specyfikacja dot. zamawianej aparatury i wymagane parametry techniczne systemu są podane w załączniku nr1 do niniejszej Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia (SIWZ). Wykonawca zapewni serwis gwarancyjny i pogwarancyjny całości aparatury. Wykonawca udzieli gwarancji na zamawianą aparaturę na okres minimum 12 miesięcy. Maksymalny czas przywrócenia prawidłowego funkcjonowania aparatury w okresie gwarancji nie może przekraczać 30 dni. W przypadku, gdy naprawa potrwa dłużej niż 14 dni, okres trwania gwarancji automatycznie przedłuża się o czas naprawy. 3.2 Zamawiający nie dopuszcza składania ofert wariantowych i częściowych. 3.3 Zamawiający nie dopuszcza składania ofert równoważnych. 3.4 Oferty nie zawierające pełnego zakresu przedmiotu zamówienia będą odrzucone. 3.5 Wykonawca zobowiązany jest zrealizować zamówienie samodzielnie. 4. INFORMACJA O PRZEWIDYWANYCH ZAMÓWIENIACH UZUPEŁNIAJĄCYCH (ART. 67 UST. 1 PKT 7) Zamawiający nie przewiduje udzielenie zamówień uzupełniających. 5. TERMIN WYKONANIA ZAMÓWIENIA Zamówienie, tj. dostawa, zainstalowanie i uruchomienie, musi być zrealizowane: nie później niż do 31 maja 2008 r. 6. WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU W postępowaniu mogą wziąć udział Wykonawcy nie wykluczeni na podstawie art. 24 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 roku Prawo Zamówień Publicznych (Dz.U. z 2004r., Nr 19, poz. 177), spełniający warunki i wymagania określone w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia oraz w art. 22 ust.1 ustawy Prawo Zamówień Publicznych. 2

3 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 7. DOKUMENTY 7.1 Oferta powinna zawierać następujące dokumenty i oświadczenia: Lp. Wymagany dokument: Nr załącznika do SIWZ 1 Formularz oferty. 2 2 Oświadczenie z art. 22 ust. 1 o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu. 3 Aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. 4 Aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego albo równoważnego zaświadczenia właściwego organu sądowego lub administracyjnego kraju pochodzenia albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4 do 8 ustawy Prawo Zamówień Publicznych wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. W przypadku spółek prawa handlowego wymagana jest informacja dotycząca wszystkich członków zarządu, aktualnie wpisanych do rejestru handlowego. W przypadku spółek cywilnych i podmiotów składających wspólną ofertę wymagana jest informacja dotycząca wszystkich wspólników. 5 Aktualna informacja z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24, ust. 1 pkt.9 ustawy Prawo zamówień publicznych wystawiona nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. 6 Aktualne zaświadczenia właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych, lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego, potwierdzających odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub zaświadczeń, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności, lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu, wystawionych nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. 7 Wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w okresie ostatnich trzech lat przed dniem wszczęcia postępowania o udzielenie zamówienia, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy w tym okresie, odpowiadających swoim rodzajem i wartością dostawom lub usługom stanowiącym przedmiot zamówienia, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączenia dokumentów potwierdzających, że te 3 3

4 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem dostawy lub usługi zostały wykonane należycie. 8 Sprawozdanie finansowe albo jego część, a jeżeli podlega ono badaniu przez biegłego rewidenta zgodnie z przepisami o rachunkowości również z opinią o badanym sprawozdaniu albo jego części, a w przypadku wykonawców nie zobowiązanych do sporządzania sprawozdania finansowego innych dokumentów określających obroty oraz zobowiązania i należności - za okres ostatnich trzech lat obrotowych, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - za ten okres. 9 Dowód wniesienia wadium. dok. zewn. 10 Parafowany na każdej stronie wzór umowy Opis parametrów technicznych i wyposażenia urządzenia zawierający szczegółową i pełną dokumentację ilustrującą oferowane urządzenia i ich parametry. Wykonawca zamieszkały poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej. Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, zamiast dokumentów, o których mowa w punkcie 3, 5 i 6 składa dokument lub dokumenty, wystawione w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, potwierdzające odpowiednio, że: nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert. nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne, albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. Jeżeli w kraju pochodzenia osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się powyższych dokumentów oraz informacji z Krajowego Rejestru Karnego w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ( pkt. 4), zastępuje się je dokumentem zawierającym oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio kraju pochodzenia osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania. dok. zewn. 7.2 Wskazane dokumenty mogą być doręczone w formie oryginałów lub kserokopii poświadczonych za zgodność z oryginałem przez Wykonawcę. Zamawiający może zażądać 4

5 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem przedstawienia oryginałów lub notarialnie potwierdzonych kopii dokumentów, wyłącznie wtedy, gdy złożona kserokopia dokumentu jest nieczytelna lub budzi uzasadnione wątpliwości, co do jej prawdziwości, a Zamawiający nie może sprawdzić jej prawdziwości w inny sposób. 7.3 Dokumenty sporządzone w języku obcym są składane wraz z tłumaczeniem na język polski, poświadczonym przez Wykonawcę. Tłumaczenie nie jest wymagane, jeżeli zamawiający wyraził zgodę, o której mowa w art. 9 ust. 3 ustawy. 8. SPOSÓB POROZUMIEWANIA SIĘ ZAMAWIAJĄCEGO Z WYKONAWCAMI 8.1 Wyjaśnienia dotyczące SIWZ udzielane będą z zachowaniem zasad określonych w art. 38 Prawa Zamówień Publicznych. 8.2 W niniejszym postępowaniu wszelkie oświadczenia, wnioski, zawiadomienia oraz informacje Zamawiający i Wykonawcy przekazują pisemnie, faksem lub drogą elektroniczną z wyjątkiem ofert, które muszą być przekazane wyłącznie pisemnie. Oświadczenia, wnioski, zawiadomienia oraz informacje przekazane za pomocą faksu lub drogą elektroniczną uważa się za złożone w terminie, jeżeli ich treść dotarła do adresata przed upływem terminu i została niezwłocznie potwierdzona pisemnie. 8.3 Osoby uprawnione do porozumiewania się z wykonawcami: a. W zakresie proceduralnym osobą upoważnioną do kontaktu z Wykonawcami jest: 1. Mgr inż. Ewa Pawełczyk tel. 48(022) b. W zakresie merytorycznym osobami upoważnionymi do kontaktu z Wykonawcami są: 1. Dr Janusz Sobczak tel. 48(022) Prof. dr hab. Włodzimierz Kutner tel. 48(022) Pytania dotyczące treści SIWZ można kierować na nr fax. (48)(22) lub drogą elektroniczną na adres elektroniczny: los@ichf.edu.pl (procedura), lub jws@ichf.edu.pl i wkutner@ichf.edu.pl (zakres merytoryczny). Pytania przesłane faksem lub za pomocą internetu należy niezwłocznie potwierdzić pismem. 9. WADIUM 9.1 Oferta musi być zabezpieczona wadium w wysokości: zł (słownie: pięćdziesiąt tysięcy złotych) 9.2 Wadium należy wnieść w terminie do dnia do godz Wadium może być wnoszone w jednej lub kilku następujących formach: 5

6 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem a. pieniądzu: przelewem na rachunek bankowy Zamawiającego nr (za datę wniesienia wadium w pieniądzu liczy się datę wpływu pieniędzy na konto Zamawiającego), b. poręczeniach bankowych; c. gwarancjach bankowych; d. gwarancjach ubezpieczeniowych e. poręczeniach udzielanych przez podmioty, o których mowa w art. 6b ust. 5 pkt2 ustawy z dnia 9 listopada 2000 r. o Utworzeniu Polskiej Agencji Rozwoju Przedsiębiorczości (Dz. U. nr 109, poz z późniejszymi zmianami). 9.4 Zamawiający zwraca niezwłocznie wadium jeżeli: a. upłynął termin związania ofertą, b. zawarto umowę w sprawie zamówienia publicznego, c. zamawiający unieważnił postępowanie o udzielenie zamówienia, a protesty zostały ostatecznie rozstrzygnięte lub upłynął termin do ich wnoszenia; d. wpłynął wniosek Wykonawcy: - który wycofał ofertę przed upływem terminu składania ofert - który został wykluczony z postępowania - którego oferta została odrzucona. 9.5 Zamawiający zatrzymuje wadium wraz z odsetkami, jeżeli Wykonawca, którego oferta została wybrana: a. odmówił podpisania umowy w sprawie zamówienia publicznego na warunkach określonych w ofercie b. zawarcie umowy w sprawie zamówienia publicznego stało się niemożliwe z przyczyn leżących po stronie wykonawcy. 9.6 W przypadku wnoszenia wadium w formie pieniężnej należy dołączyć do oferty potwierdzenie dokonania przelewu. 9.7 W przypadku wnoszenia wadium w formie innej niż pieniężna oryginał dokumentu należy złożyć w siedzibie Zamawiającego, pokój nr 24, a kserokopię poświadczoną za zgodność z oryginałem przez Wykonawcę dołączyć do oferty. 10. TERMIN ZWIĄZANIA OFERTĄ 10.1 Wykonawca pozostaje związany ofertą przez okres 60 dni Bieg terminu związania ofertą rozpoczyna się wraz z upływem terminu składania ofert W uzasadnionych przypadkach, na co najmniej 7 dni przed upływem terminu związania ofertą Zamawiający może tylko raz zwrócić się do Wykonawców o wyrażenie zgody na przedłużenie tego terminu o oznaczony okres, nie dłuższy jednak niż 60 dni Zgoda Wykonawcy na przedłużenie okresu związania ofertą jest dopuszczalna tylko z jednoczesnym przedłużeniem okresu ważności wadium albo, jeżeli nie jest to możliwe, z wniesieniem nowego wadium na przedłużony okres związania ofertą. 6

7 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 11. OPIS SPOSOBU PRZYGOTOWANIA OFERTY 11.1 Wykonawca może złożyć tylko jedną ofertę Wykonawcy mogą wspólnie ubiegać się o udzielenie zamówienia na zasadach określonych w art. 23 ustawy Prawo Zamówień Publicznych Wszelkie koszty związane ze sporządzeniem oraz złożeniem oferty ponosi Wykonawca Oferta wraz ze stanowiącymi jej integralną część załącznikami musi być sporządzona przez Wykonawcę ściśle według postanowień niniejszej specyfikacji Zaleca się, aby pierwszą stronę oferty stanowił formularz oferty, którego wzór stanowi załącznik do niniejszej specyfikacji Oferta musi być napisana w języku polskim lub angielskim, na komputerze, maszynie do pisania, lub ręcznie długopisem bądź niezmywalnym atramentem Oferta wraz z załącznikami musi być podpisana na każdej zapisanej stronie przez osobę (osoby) uprawnione do składania oświadczeń woli w imieniu Oferenta. Zaleca się ponumerowanie stron i spięcie oferty w sposób uniemożliwiający wysunięcie się którejkolwiek kartki Wszelkie poprawki lub zmiany w tekście oferty muszą być parafowane przez osobę (osoby) podpisującą ofertę Wykonawca zamieszcza ofertę w kopercie oznaczonej nazwą i adresem Zamawiającego i Wykonawcy opisaną w następujący sposób: Oferta na dostawę: Spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem NIE OTWIERAĆ przed godz. 12, znak sprawy: ZP / Wykonawca może wprowadzić zmiany lub wycofać złożoną przez siebie ofertę wyłącznie przed terminem składania ofert i pod warunkiem, że przed upływem tego terminu Zamawiający otrzyma pisemne powiadomienie o wprowadzeniu zmian lub wycofaniu oferty. Powiadomienie to musi być oznaczone słowami ZMIANA lub WYCOFANIE. 12. MIEJSCE ORAZ TERMIN SKŁADANIA I OTWARCIA OFERT 12.1 Oferty należy składać w siedzibie Zamawiającego, pokój nr 42 do dnia do godz.11. Oferty otrzymane przez Zamawiającego po terminie składania ofert zostaną zwrócone Wykonawcom bez ich otwierania po upływie terminu przewidzianego na wniesienie protestu Otwarcie ofert nastąpi w dniu o godz.12, w siedzibie Zamawiającego, pokój nr Bezpośrednio przed otwarciem ofert zamawiający przekaże zebranym wykonawcom informację o wysokości kwoty, jaką zamierza przeznaczyć na sfinansowanie zamówienia Otwarcie ofert jest jawne i nastąpi bezpośrednio po odczytaniu ww. informacji. Po otwarciu ofert przekazane zastaną następujące informacje: nazwa i siedziba wykonawcy, którego oferta jest otwierana oraz cena, warunki gwarancji, czas dostawy. 13. OPIS SPOSOBU OBLICZENIA CENY 13.1 Cena obejmuje całkowitą należność, jaką Zamawiający jest zobowiązany zapłacić za sprzęt, jego dostarczenie i zainstalowanie w miejscu przeznaczenia. Cena obejmuje w szczególności koszty i opłaty związane z dostarczeniem przedmiotu zamówienia, ubezpieczenie, opłaty za transport, załadunek, wyładunek, dokumentację niezbędną do normalnego użytkowania, konserwacji i naprawy przedmiotu umowy, oraz przeszkolenie przynajmniej dwóch pracowników Zamawiającego. 7

8 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 13.2 W ofercie należy podać cenę netto i brutto z uwzględnieniem obowiązującego w Polsce 22% podatku VAT, podając jego stawkę oraz wartość. 14. INFORMACJA DOTYCZĄCA WALUTY, W JAKIEJ BĘDĄ PROWADZONE ROZLICZENIA Rozliczenia będą prowadzone w PLN. Cena w ofercie oraz w umowie powinna być określona w PLN. Cena w PLN obowiązuje strony bez względu na ewentualne zmiany kursów walut. 15. SPOSÓB DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA WARUNKÓW 15.1 W przypadku zaistnienia przesłanki określonej w art. 24 Prawa Zamówień Publicznych Zamawiający wykluczy oferenta z postępowania Ofertę wykonawcy wykluczonego uznaje się za odrzuconą Ocena spełniania warunków wymaganych od Wykonawców zostanie dokonana wg formuły spełnia nie spełnia. 16. ODRZUCENIE OFERTY Zamawiający odrzuci ofertę, jeżeli wystąpią okoliczności wskazane w art. 89 ust. 1 ustawy Prawo Zamówień Publicznych (Dz. U. z 2004 r. nr 19, poz. 177). 17. KRYTERIA ORAZ SPOSÓB OCENY OFERT 17.1 Zamawiający będzie oceniał oferty według następujących kryteriów: Nr Nazwa kryterium Waga 1 2 Cena (koszt) brutto Wyposażenie i parametry techniczne 17.2 Punkty przyznawane za podane w pkt 17.1 kryteria będą liczone według następujących wzorów: Nr kryt. 1 Cena (koszt) Opis 60% 40% Liczba punktów C = (C min / C bad ) 100 0,6 gdzie: - C bad cena brutto podana w ofercie badanej - C min cena brutto najniższa spośród wszystkich ofert 2 Wyposażenie i parametry techniczne Liczba punktów = T 0,4 Komisja przyzna każdej z ocenianych ofert liczbę T (od 0 do 100) punktów na podstawie sumy punktów przyznawanych za wyposażenie i parametry techniczne w/g poniższego zestawienia: - Spektrometr QMS przystosowany do analizy fragmentów usuwanych z powierzchni próbki bombardowaniem jonowym (Ar/ C 60 ) zainstalowany w komorze analitycznej 60 - Źródło do nanoszenia par metalu lub tlenku, wykorzystujące bombardowanie elektronowe i/lub ogrzewanie oporowe, ze zintegrowanymi przysłonami, w komorze preparatywnej 30 -Motoryzacja silnikami krokowymi manipulatora w komorze preparatywnej 10 8

9 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 17.3 Po dokonaniu oceny punkty przyznane przez wszystkich członków Komisji Przetargowej dla każdego z kryteriów oddzielnie zostaną zsumowane. Wybrana zostanie ta oferta, która uzyska największą liczbę punktów będącą sumą punktów przyznanych za poszczególne kryteria W toku dokonywania badania i oceny ofert Zamawiający może żądać udzielenia przez Wykonawcę wyjaśnień treści złożonych przez niego ofert Zgodnie z art. 87 ust 2 Prawa Zamówień Publicznych Zamawiający poprawi oczywiste omyłki pisarskie oraz omyłki rachunkowe w obliczeniu ceny, o których mowa w art. 88 Prawa Zamówień Publicznych Oferta musi spełniać wymagania minimalne. Brak spełniania któregokolwiek z wymagań minimalnych spowoduje odrzucenie oferty jako sprzecznej z treścią specyfikacji istotnych warunków zamówienia. Za spełnianie wymagań minimalnych oferty uzyskają 0 pkt. Za spełnianie wymagań dodatkowych, oferty uzyskają punkty zgodnie z powyższą tabelą. 18. UDZIELENIE ZAMÓWIENIA 18.1 Zamawiający udzieli zamówienia Wykonawcy, którego oferta odpowiada wszystkim wymaganiom określonym w SIWZ i została oceniona jako najkorzystniejsza w oparciu o podane powyżej w punkcie 17 kryterium oceny ofert Zamawiający unieważni postępowanie w sytuacji, gdy wystąpią przesłanki wskazane w art. 93 ustawy Prawo Zamówień Publicznych (Dz. U. z 2004 r. nr 19, poz. 177) O dokonaniu wyboru oferty lub unieważnieniu postępowania Zamawiający powiadomi niezwłocznie wszystkich Wykonawców, którzy złożyli oferty, podając nazwę, siedzibę i adres Wykonawcy, którego oferta została wybrana oraz uzasadnienie jej wyboru, a także nazwy siedziby i adresy wykonawców, którzy złożyli oferty wraz ze streszczeniem oceny i porównaniem złożonych ofert zawierającym punkty przyznane oferentom w każdym kryterium oceny ofert i łączną punktację Jeżeli Wykonawca, którego oferta została wybrana, uchyla się od zawarcia umowy w sprawie zamówienia publicznego, Zamawiający może wybrać ofertę najkorzystniejszą spośród pozostałych ofert, bez przeprowadzania ich ponownej oceny, chyba, że zachodzą przesłanki do unieważnienia postępowania. 19. INFORMACJA O FORMALNOŚCIACH, JAKIE POWINNY ZOSTAĆ DOPEŁNIONE PRZY WYBORZE OFERTY W CELU ZAWARCIA UMOWY W SPRAWIE ZAMÓWIENIA PUBLICZNEGO 19.1 Umowę z Wykonawcą, którego oferta zostanie wybrana, Zamawiający podpisze po upływie co najmniej 7 dni od dnia ogłoszenia wyników postępowania, jednak nie później niż przed upływem terminu związania ofertą O terminie i miejscu podpisania umowy Zamawiający poinformuje wybranego Wykonawcę odrębnym pismem. 20. ISTOTNE POSTANOWIENIA UMOWY 9

10 Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia na dostawę spektrometru fotoelektronów XPS z wyposażeniem 20.1 Istotne postanowienia umowy określa wzór umowy stanowiący załącznik nr 4 do niniejszej Specyfikacji Ostateczna treść umowy może ulec zmianie w zakresie niezmieniającym istotnych postanowień oferty i SIWZ. 21. POUCZENIE O ŚRODKACH OCHRONY PRAWNEJ 21.1 Wykonawcom, których interes prawny w uzyskaniu zamówienia doznał lub może doznać uszczerbku w wyniku naruszenia przez Zamawiającego przepisów ustawy Prawo Zamówień Publicznych, przysługują środki ochrony prawnej określone w dziale VI niniejszej ustawy Wobec czynności podjętych przez Zamawiającego w toku postępowania oraz w przypadku zaniechania przez Zamawiającego czynności, do której jest obowiązany na podstawie ustawy, można wnieść pisemny protest do Zamawiającego. a. Protest wnosi się w terminie 7 dni od dnia, w którym Wykonawca powziął lub mógł powziąć wiadomość o okolicznościach stanowiących podstawę jego wniesienia. b. Protest dotyczący treści ogłoszenia oraz postanowień SIWZ wnosi się w terminie 14 dni od dnia publikacji ogłoszenia w Dzienniku Urzędowym Unii Europejskiej lub zamieszczenia specyfikacji istotnych warunków zamówienia na stronie internetowej nie później niż 6 dni przed upływem terminu składania ofert. c. Wniesienie protestu jest dopuszczalne tylko przed zawarciem umowy. d. Zamawiający rozstrzyga protest w terminie do 10 dni od dnia jego wniesienia lub od upływu ostatniego z terminów na wniesienie protestu w przypadku jednoczesnego rozstrzygnięcia wszystkich protestów art Protest uważa się za wniesiony z chwilą, gdy wpłynął do Zamawiającego w taki sposób, że Zamawiający mógł się z jego treścią zapoznać Od oddalenia lub odrzucenia protestu przysługuje odwołanie wnoszone do Prezesa Urzędu Zamówień Publicznych w terminie 5 dni od dnia doręczenia rozstrzygnięcia protestu lub upływu terminu do rozstrzygnięcia protestu, jednocześnie przekazując jego kopię Zamawiającemu o wniesieniu odwołania Na wyrok zespołu arbitrów oraz postanowienia zespołu arbitrów kończące postępowanie odwoławcze przysługuje skarga do sądu, którą wnosi się za pośrednictwem Prezesa Urzędu Zamówień Publicznych w terminie 7 dni od dnia doręczenia orzeczenia zespołu arbitrów, przesyłając jednocześnie jej odpis przeciwnikowi skargi. 22. INNE Do spraw nieuregulowanych w niniejszej SIWZ mają zastosowanie przepisy ustawy z dnia 29 stycznia 2004 roku Prawo Zamówień Publicznych (Dz. U. z 2004 r. nr 19, poz. 177) oraz przepisy Kodeksu Cywilnego. Zatwierdził:... Dyrektor Instytutu Prof. dr hab. Aleksander Jabłoński 10

11 ZAŁĄCZNIKI DO SIWZ Nr 1 Nazwa załącznika Szczegółowa specyfikacja i parametry techniczne systemu wymagane przez Zamawiającego, o których mowa w punkcie 3.1 SIWZ. 2 Wzór formularza oferty. 3 Oświadczenie z art. 22 ust. 1 o spełnianiu warunków udziału w postępowaniu. 4 Wzór umowy. 11

12 Załącznik nr 1 SZCZEGÓŁOWA SPECYFIKACJA I PARAMETRY TECHNICZNE SYSTEMU WYMAGANE PRZEZ ZAMAWIAJĄCEGO 1. Opis ogólny systemu "Spektrometr fotoelektronów XPS z wyposażeniem." Opis przedmiotu zamówienia wymagania Przedmiotem zamówienia jest dostawa: Spektrometr fotoelektronów z wyposażeniem 1. Informacje ogólne Wielokomorowy system ultra wysokiej próżni UHV (ciśnienie bazowe w komorach systemu nie wyższe niż mbar) musi umożliwiać wykonywanie analiz powierzchni próbek litych i proszkowych technikami spektroskopii elektronowych, a w szczególności: spektroskopii fotoelektronów (XPS) wzbudzanych achromatycznym oraz monochromatycznym promieniowaniem rentgenowskim, spektroskopii fotoelektronów (UPS) wzbudzanych źródłem promieniowania UV spektroskopii AES, spektroskopii piku elastycznego EPES zmienno-temperaturowej mikroskopii SPM, z opcjami skaningowej mikroskopii tunelowej i mikroskopii sił atomowych (STM/AFM) dyfrakcji niskoenergetycznych elektronów (LEED) techniką temperaturowo-programowanej desorpcji (TPD). Minimalne wymagania dla systemu UHV to: komora spektroskopii fotoelektronów z analizatorem elektronów z oprzyrządowaniem i oprogramowaniem, zapewniającymi wykonywanie analiz technikami XPS, UPS, AES, EPES, opcjonalnie QMS). Analizator musi mieć możliwość analizy XPS z małej powierzchni <20 μm, możliwość precyzyjnego wyboru takiej powierzchni oraz wykonania profilowania wgłębnego próbki na wybranej powierzchni <= 1 1 mm, możliwość obrazowania stanu chemicznego powierzchni oraz pomiarów kątowo-rozdzielczych 12

13 komora zmienno-temperaturowego mikroskopu STM/AFM z oprzyrządowaniem i oprogramowaniem, zapewniająca pomiary z atomową zdolnością rozdzielczą komora preparatywna zapewniająca przygotowanie powierzchni badanych próbek, wyposażona dodatkowo w spektrometr AES/LEED oraz układ do temperaturowo programowanej desorpcji (TPD) z kwadrupolowym spektrometrem masowym (QMS) jako analizatorem, wraz z oprzyrządowaniem i oprogramowaniem. Ponadto, system musi być wyposażony w: system ładowania, przenoszenia i magazynowania próbek urządzenia do czyszczenia i przygotowania powierzchni próbek wysokociśnieniową komorę reakcyjną (reaktor przepływowy), kompatybilną z techniką UHV, umożliwiającą spektrometryczną i chromatograficzną analizę gazowych produktów reakcji systemy dozowania gazów do komór systemy pomiaru i kontroli ciśnienia i temperatury systemy wytwarzania i kontrolowania próżni w poszczególnych komorach w przypadku stosowania pomp turbomolekularnych muszą być zastosowane zawory zapobiegające zapowietrzeniu komór niezależne układy pomiaru i regulacji temperatury próbek w przynajmniej trzech komorach (w tym STM/AFM) jednocześnie układy sterowania zapewniające łatwą obsługę i odporność na awarie, np. zanik napięcia zasilania, wyłączenie wodociągowej wody chłodzącej, itp. Minimalny zakres temperatur dokonywania analiz ma wynosić K. System musi umożliwiać niezależną i równoczesną pracę wieloma technikami a jego konstrukcja musi umożliwiać na dalszą rozbudowę poprzez dołączenie dodatkowych komór. Systemem operacyjnym programów kontrolujących oferowane urządzenia ma być Windows XP lub inny zapewniający stabilną pracę programów, zainstalowany na markowych komputerach klasy PC. 13

14 2. Opis elementów systemu Opis elementów systemu OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 1. KOMORA ANALITYCZNA SPEKTROSKOPII ELEKTRONOWEJ Komora wykonana z μ metalu, zapewniająca ograniczenie wpływu zewnętrznych pól magnetycznych, z kołnierzami przyłączeniowymi w standardzie UHV. Wyklucza się użycie olejowych pomp dyfuzyjnych do uzyskania warunków UHV. Gwarantowana próżnia bazowa Ciśnienie robocze w trakcie pomiarów w komorze spektroskopii elektronowej < mbar < mbar UWAGA: po wygrzewaniu w temperaturze nie wyższej niż 150 o C 2. ZMOTORYZOWANY MANIPULATOR DO KOMORY SPEKTROSKOPII UHV, 5-cio osiowy Zmotoryzowany manipulator do komory analitycznej, zintegrowany z systemem nośników próbek, umożliwiający przesuw prosty w kierunkach X, Y, Z oraz zapewniający dwa obroty istotne przy pomiarach XPS. Napęd przesuwu, obrotów i rotacji za pomocą silników krokowych. Zapewnione ogrzewanie i chłodzenie próbki, pomiar temperatury oraz kontrola potencjału próbki. Rotacja kompucentryczna (Zalar). 2.1 Oprogramowanie umożliwiające obrazowanie powierzchni próbki metodą XPS, opcjonalnie: poprzez skanowanie monochromatyczną wiązką rentgenowską, przemiatanie powierzchni przy użyciu optyki elektronowej analizatora lub programowalnym przesuwem nośnika próbki. Zakres / Rozdzielczość manipulatora: kierunek X kierunek Y kierunek Z obrót wokół osi Y obrót wokół osi Z Powtarzalność translacji Zakres temperatur pomiarów spektroskopowych Nie mniej niż / ±12,5mm ±12,5mm 20mm ±45 o 360 o Zalar 1μm min k 3. WYPOSAŻENIE KOMORY SPEKTROSKOPII

15 Opis elementów systemu Parametry wymagane 3.1 Analizator elektrostatyczny cząstek naładowanych musi umożliwiać spektroskopie XPS, UPS, AES, EPES a także analizę kątowo-rozdzielczą oraz obrazowanie powierzchni próbki metodą XPS Detektor o możliwie długiej trwałości, o wysokiej czułości OPIS PARAMETRU Energetyczna zdolność rozdzielcza Promień analizatora Czułość przy pomiarze z powierzchni 20 μm piku Ag3d 5/2 przy FWHM = 1eV Wartość <0,5eV dla piku Ag3d 5/2 Minimum 135 mm Minimum 45000cps 3.2 Lampa rentgenowska z podwójną anodą, z możliwością przesuwania wzdłuż osi X (opcjonalnie z regulatorem nachylenia), wraz z zasilaczem i regulatorem prądu emisji. Sugerowana pełna kontrola i sterowanie parametrami pracy lampy za pomocą programu komputerowego. Przesuw wzdłuż osi X Minimum 25 mm Zamknięty układ chłodzenia wodnego lampy rentgenowskiej wraz z zabezpieczeniami przed spadkiem ciśnienia i wzrostem temperatury wody chłodzącej. 3.3 Źródło monochromatycznego promieniowania rentgenowskiego z regulowaną średnicą wiązki z zasilaczem 3.4 Źródło promieniowania UV z zasilaczem Średnica wiązki μm +Large Area 3.5 Działo elektronowe do spektroskopii AES/EPES z zasilaczem Zakres energii Do 5 kv 3.6 Działo jonowe z precyzyjnym ogniskowaniem i odchylaniem wiązki w wyspecyfikowanym zakresie skanowania, korekcją obszaru skanowania dla nachylonych próbek do wykonywania profili głębokościowych. Działo musi być dostosowane do pracy z gazami obojętnymi, a także z gazami reaktywnymi (O 2 ). Sugerowana konstrukcja z zastosowaniem floating drift tube floating extractor ion optics. obszar skanowania zmienna energia jonów zmienny prąd jonowy minimum 10 10mm 0,2-5 kev 15

16 Opis elementów systemu Zasilacz działa jonowego, umożliwiajacy automatyczne wykonanie profili głębokościowych oraz pełną kontrolę poprzez program komputerowy. OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 3.7 Działo jonowe C 60 do profilowania próbek organicznych i bioorganicznych (minimalizacja degradacji warstwy podpowierzchniowej) z zasilaczem. 3.8 Działo elektronowe do neutralizacji ładunku na powierzchni próbki wraz z zasilaczem. Zamiast pozycji 3.8 może być zainstalowany inny system kompensacji ładunku powierzchniowego, preferowany układ działający automatycznie 3.9 Układ mierników próżni z głowicami do pomiaru ultra wysokiej próżni 3.10 System pomp zapewniający próżnię wysokości < mbar (zawierający pompę główną jonową, pompy pomocnicze TSP oraz zestaw odcinanych pomp turbomolekularnych wraz z zasilaczami pomp i okablowaniem Kamera wraz z monitorem lub optycznym układem mikroskopowym do obserwacji i precyzyjnego wyboru obszaru analizowanej próbki Układ z automatycznym zaworem naciekowym pozwalający na precyzyjne dozowanie gazu do działa jonowego komory analitycznej 3.13 Zespół sterujący złożony z komputera PC z systemem operacyjnym, spełniającym wymogi stabilnej współpracy ze spektrometrem, z odpowiednim monitorem LCD i oprogramowaniem służącym do sterowania pomiarem, analizy i obróbki danych i komunikacji z urządzeniami zewnętrznymi, spełniający wymagania stawiane przez producenta oferowanego systemu i każdej aplikacji zainstalowanej przez producenta systemu. Sugerowane wyposażenie komputera w macierz Zmienna energia jonów Zakres prądu jonowego Zakres energii Zakres prądu głowice extrakcyjne lub BA Próżnia robocza w trakcie pomiarów spektroskopowych 0,05-10 kv 0,5-20 na ev μa Nie gorsza niż mbar 16

17 Opis elementów systemu dyskową RAID3. Oprogramowanie musi pozwalać na automatyczne wykonywanie pomiarów kątowo-rozdzielczych, wykonywanie map stanu chemicznego powierzchni Pakiety programów służących do analizy i obróbki danych spektroskopowych i komunikacji z urządzeniami zewnętrznymi, zainstalowanych poza komputerem sterującym pomiarem. 4. KOMORA DO MIKROSKOPII AFM/STM Z SONDĄ SKANUJĄCĄ (SPM) 4.1. Komora musi być wyposażona w kołnierze lub miejsca służące do: połączenia z dystrybucyjną komorą karuzelową zamocowania zmiennotemperaturowego mikroskopu STM/AFM podłączenia kriostatu helowo-azotowego magazynu do nośników próbek, do przechowywania igieł, tipów, wagi kwarcowej, itd. wymiennika igła/dźwignia, itd. zamocowania źródła par metali lub tlenków służącego do nanoszenia warstw podczas skanowania dołączenia głowicy próżniowej zamocowania systemu pompowego zamocowania pozostałego, niezbędnego oprzyrządowania, np. okna obserwacyjnego OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość Wielostanowiskowa (site academic licence) lub minimum 3 licencje na program obróbki danych, 17

18 Opis elementów systemu podłączenia układu kontrolowanego dozowania gazów roboczych zamocowania specjalnego manipulatora drążkowego 4.2 System pompowy odpowiedni do warunków pracy AFM/STM, z zasilaczami pomp i układem pomiarowym próżni OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Próżnia robocza w trakcie pomiarów mikroskopowych Wartość Nie gorsza niż mbar 4.3 W komorze musi być zainstalowany mikroskop typu STM/AFM. Skaningowy mikroskop tunelowy STM oraz mikroskop sił atomowych AFM muszą zapewniać rozdzielczość atomową we wszystkich trybach pracy i umożliwiać skanowanie dowolnego obszaru (obszar skanowania taki sam dla STM i AFM) na próbce mieszczącej się na standardowym nośniku. Mikroskop musi być wyposażony w kriostat helowo-azotowy z regulatorem temperatury kriostatu. Pomiar STM/AFM musi być możliwy w szerokim zakresie temperatur, z pomiarem temperatury bezpośrednio na próbce, na standardowych nośnikach używanych we wszystkich komorach UHV i technikach analitycznych systemu. Obszar skanowania STM / AFM Tryby pracy STM Tryby pracy AFM Zakres temperatur pomiarów Min. 8 8 μm / min. 8 8 μm -topograficzny -stałej wysokości -spektroskopia tunelowa - z modulacją napięcia tunelowego detekcją lock-in - kontaktowy -bezkontaktowy (także z detekcją fazową) - przerywany (tzw. tapping mode ) -spektroskopia sił - siły bocznej (lateralfriction force) - tzw. lift mode <100 K do 1000 K / STM <100 K do 750 K / AFM 18

19 Opis elementów systemu OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 4.4 Musi być zapewniony podgląd na monitorze obrazu próbki z kamery CCD posiadającej funkcję zmiany wielkości obrazu (zoom) 4.5 Komora mikroskopu musi zawierać wszystkie konieczne urządzenia umożliwiające odłączenie jej od komory dystrybucyjnej systemu i pracę niezależną od reszty systemu, w przypadku, gdy użytkownik dysponuje alternatywnym systemem śluzowania i wymiany próbek. 4.6 Komora mikroskopu musi umożliwiać jej uzupełnienie o źródła par metali lub tlenków skierowanych w obszar analizy. Nanoszenie jednego adsorbatu musi być możliwe w trakcie skanowania. Konieczna jest możliwość kalibracji źródła par za pomocą monitora szybkości nanoszenia (wagi kwarcowej) w obszarze analizy. 4.7 Konieczna jest możliwość wprowadzania nośników próbek bezpośrednio do mikroskopu nie tylko z magazynu, ale też bezpośrednio z komory dystrybucyjnej 4.8 W komorze musi być zamontowany magazyn na nośniki próbek, tipów czy igieł oraz miejsce do wygrzewania tipów. 4.9 Głowica mikroskopu musi być przygotowana do pracy w warunkach UHV oraz poza systemem próżniowym w warunkach atmosferycznych czy też w osłonie gazu ochronnego Układ próżniowy systemu UHV nie może zaburzać pracy mikroskopu z atomową zdolnością rozdzielczą. 19

20 Opis elementów systemu 4.11 Przewidziana musi być możliwość kontrolowanego nacieku do komory SPM co najmniej jednego gazu. OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 4.12 Integralną składową mikroskopu są niezbędne systemy elektroniczne i kontrolno-pomiarowe Zespół sterowniczy zawierający komputer PC zapewniającym stabilna współpracę z mikroskopem, odpowiednie monitory, oprogramowaniem służącym do sterowania pomiarem, zbierania i analizy danych i komunikacji z urządzeniami zewnętrznymi, spełniający wymagania stawiane przez producenta oferowanego systemu i każdej aplikacji zainstalowanej przez producenta systemu. Musi być możliwość zainstalowania programu na minimum 2 innych komputerach do pracy off-line Zestaw nośników próbek 4.15 Zestaw nośników do igieł i dźwigienek (cantileverów) 4.16 W skład wyposażenia mikroskopu muszą wchodzić zapasowe sondy STM, AFM, sondy do pracy w trybie lift mode, siatki kalibracyjne, pincety niemagnetyczne. 5 KOMORA PRZEPŁYWOWEGO REAKTORA WYSOKOCIŚNIENIOWEGO W komorze przepływowego reaktora wysokociśnieniowego do prowadzenia reakcji stałych próbek z fazą gazową, zintegrowanej w systemie poprzez komory transferowe lub jedną z komór analitycznych, musi istnieć możliwość ogrzewania/schładzania próbek. Komora musi być tak Sondy STM i AFM Sondy do trybu lift mode Maksymalne ciśnienie w reaktorze Maksymalna temperatura Minimum 5 szt. Minimum 10 szt. Minimum po 50 szt. Minimum 15 szt. Nie mniej niż 20 bar Nie mniej niż 900 K 20

21 Opis elementów systemu Parametry wymagane zaprojektowana, aby tylko próbka (nośnik na próbki) była w kontakcie z przepływającym gazem. Konstrukcja komory musi zapewniać uzyskanie warunków UHV po zakończeniu eksperymentu wysokociśnieniowego tak, aby w trakcie przenoszenia próbki ciśnienie w komorze analitycznej pozostało w zakresie mbar (osobny zestaw pompowy wraz z zasilaczami pomp). Komora musi być wyposażona w system dozowania minimum 3 gazów reakcyjnych z zaworami odcinającymi oraz elektronicznymi regulatorami przepływu gazu.. 6 KOMORA PREPARACYJNA 6.1 Komora preparacyjna musi być wyposażona w kołnierze umożliwiające zainstalowanie różnych urządzeń do preparowania i przygotowania powierzchni próbki oraz do wstępnego badania preparowanych powierzchni. Komora musi być zaopatrzona w kołnierze do: połączenia z komorą analityczną lub dystrybucyjną zamocowania obserwacyjnych okien (2-3) próżniowych połączenia z układem pompowym zamocowania głowic pomiarowych próżni zainstalowania manipulatora UHV zamocowania spektrometru AES/LEED zamocowania działa jonowego zamocowania źródeł do nanoszenia par metali lub tlenków metali, lub plazmy atomowej (3 kołnierze) OPIS PARAMETRU próbek Temperatura schładzania próbek Elektroniczne regulatory masowego przepływu gazów Wartość Nie wyższa niż 130 K Min. 3 szt. 21

22 Opis elementów systemu zamocowania dwóch zaworów do precyzyjnego dozowania gazów zainstalowania kwadrupolowego spektrometru masowego OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 6.2. Komora preparacyjna musi być wyposażona w manipulator 5-osiowy, umożliwiający przesuw w kierunkach X, Y, Z, obrót próbki w osi manipulatora oraz możliwość jej pochylenia (tilt). Manipulator musi umożliwiać chłodzenie/ogrzewanie próbki w granicach K. W komorze preparacyjnej musi istnieć także możliwość ogrzewania próbki (pod warunkiem, że jest ona umieszczona na odpowiednim nośniku) do temperatury około 2200 K. Musi istnieć możliwość pomiaru temperatury i potencjału próbki oraz ustawienia płaszczyzny próbki prostopadle do osi wybranych kołnierzy próżniowych. Manipulator musi być dostosowany do późniejszego zautomatyzowania za pomocą silników krokowych. Zakres / Rozdzielczość manipulatora kierunek X kierunek Y kierunek Z obrót wokół osi Z pochył (tilt) Zakres temperatur próbki Nie mniej / nie więcej niż: ±10 mm / 5 μm ±10 mm / 5 μm 12 mm / 10 μm 360º / 1º ±4º / 0,1º K 6.3 W komorze preparacyjnej musi być zainstalowany układ do temperaturowo programowanej desorpcji (TPD) sprzężony z kwadrupolowym spektrometrem masowym, skonstruowany tak, aby sygnał desorpcji pochodził głównie z powierzchni próbki. Musi być dostarczone oprogramowanie dostosowane do pracy systemie operacyjnym analogicznym jak w innych dostarczanych komputerach, do sterowania spektrometrem i liniowym narastaniem temperatury próbki, naboru i analizy danych łącznie z temperaturą próbki. Zakres temperaturowy TPD (z pomiarem temperatury) Zakres mierzonych mas K do 200 amu 6.4 W komorze preparacyjnej musi być zainstalowany spektrometr AES/LEED wyposażony w: analizator, zintegrowane miniaturowe działo elektronowe, zintegrowaną przysłonę, manipulator, μ-metalowe osłony magnetyczne, Analizator LEED/AES 4-siatkowy, min 80% transmisji 22

23 Opis elementów systemu Parametry wymagane zasilacz z oprogramowaniem sterującym, systemem do komputerowego naboru danych i obrazowania wyników pomiarów LEED. 6.5 System sterujący składający się z komputera klasy PC wraz z systemem operacyjnym, monitora LCD. System komputerowy stanowiący integralną część oferowanego systemu powinien spełniać wymagania stawiane przez producenta oferowanego systemu, spełniać wymagania każdej z aplikacji zainstalowanych przez producenta systemu oraz charakteryzować się parametrami nie gorszymi niż zalecane dla komfortowej pracy z systemem operacyjnym Microsoft Windows XP, specjalistyczne oprogramowanie do analizy, obróbki, konwersji, exportu i prezentacji zebranych danych pomiarowych, tworzenia i edycji dokumentów typu doc, xls, ppt oraz oprogramowanie do kontroli i sterowania pomiarami AES/LEED, wizualizacji wyników LEED oraz sterowania procesem TPD. OPIS PARAMETRU Detektor Działo elektronowe LEED/AES energia wiązki Skok manipulatora LEED Zintegrowana przysłona Wartość min. 80% transmisji Pojedyncza MCP ev/ ev minimum 100 mm 6.6. Jako minimalne niezbędne wyposażenie w komorze zainstalowane musi być: działo jonowe do czyszczenia powierzchni wraz z zasilaczem i zaworem dozującym gaz jonizowany źródło do nanoszenia par metalu lub tlenku, typu celki efuzyjnej, ze zintegrowanymi przysłonami oraz z precyzyjnym miernikiem grubości i monitorem szybkości nanoszenia układ precyzyjnego dozowania do komory przynajmniej dwóch gazów Maksymalna temperatura odparowania Rozdzielczość pomiaru nanoszenia par Maksymalne ciśnienie Min K Minimum 0,4 ng/cm mbar 23

24 Opis elementów systemu 6.7 System pompowy wraz z zasilaczami pomp OPIS PARAMETRU doprowadzanego gazu Parametry wymagane Wartość Ciśnienie bazowe nie większe niż 2x10-10 mbar 7. MAGAZYN PRÓBEK W systemie musi znajdować się magazyn próbek, podłączony do komory preparatywnej lub dystrybucyjnej, pozwalający na przechowywanie kilku nośników próbek w warunkach UHV. Jedna ze stacji magazynu musi mieć możliwość grzania/chłodzenia i kontroli temperatury próbki. 8. SYSTEM ŁADOWANIA I TRANSFEROWANIA PRÓBEK 8.1 System ładowania i przenoszenia próbek musi zapewniać szybkie i niezawodne przenoszenie próbek z otoczenia do układu UHV oraz między komorami UHV. Musi istnieć możliwość zapowietrzania śluzy przed załadowaniem próbek z otoczenia za pomocą suchego azotu z butli lub odparowywanego z naczynia Dewara. Ładowanie próbek do poszczególnych komór musi być niezależne, tzn. obecność próbki w jednej z komór nie może uniemożliwiać załadowania próbki do innej komory, ani też ładowanie próbki do jednej z komór nie powinno zakłócać pracy innych komór. W trakcie procesu ładowania próbki z otoczenia, w komorach UHV ciśnienie musi pozostawać nie wyższe niż mbar. W trakcie przenoszenia próbek między komorami UHV, ciśnienie musi pozostawać nie wyższe niż mbar. System musi być przygotowany do późniejszego zautomatyzowania transferu Śluza musi umożliwiać wprowadzanie nośników z próbkami z otoczenia do systemu UHV, bez konieczności zapowietrzania innych komór próżniowych. Czas wprowadzania nośnika próbek musi być krótszy niż 30 minut, przy ciśnieniu w komorze UHV, do której wprowadzana jest próbka nie wyższym niż mbar. Dłuższe odpompowanie śluzy musi umożliwić Liczba magazynowanych próbek Temperatura jednej próbki minimum 5 zakres K 24

25 Opis elementów systemu wymianę próbki z próżnią nie gorszą niż mbar. Po wygrzaniu, w śluzie musi być próżnia na poziomie mbar. Śluza musi być wyposażona w bypass z zaworem odcinającym do odpompowywania próbek proszkowych. Śluza musi być wyposażona w wewnętrzny system wstępnego wygrzewania próbek i nośników. Śluza musi być pompowana bezolejowym układem pompowym. 9. NOŚNIKI PRÓBEK OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 9.1 Nośniki próbek muszą być kompatybilne w stosunku do wszystkich komór UHV i technik analitycznych. 9.2 Nośnik musi umożliwiać ogrzewanie i chłodzenie próbki, mieć możliwość podłączenia czujnika temperatury, umożliwiać zmianę potencjału próbki. Przynajmniej jeden z ogrzewanych nośników musi być dostosowany do pracy w atmosferze wodoru, również w temperaturze pokojowej. 9.3 Standardowo nośnik musi gwarantować ogrzewanie i chłodzenie próbki przy utrzymaniu próżni w zakresie mbar. Konstrukcja jednego z nośników musi umożliwiać ogrzanie próbki, w zaoferowanej odpowiedniej stacji, do temperatury około 2200 K. Nośnik używany w reaktorze wysokociśnieniowym musi umożliwiać przepływ gazów przez próbkę proszkową. Nośnik używany do naparowywania par na próbkę musi zawierać czujnik wagi kwarcowej. 9.4 Liczba nośników próbek nie może być mniejsza niż liczba nośników niezbędnych do pracy we wszystkich komorach jednocześnie z próbkami proszkowymi i litymi, w pełnym zakresie temperatur. Przynajmniej jeden z nośników musi być dostosowany do pracy w temperaturze 2200 K. Wszystkie elementy zużywalne, takie jak grzałki, włókna czy też końcówki termopar musza być zintegrowane w nośnikach, celem łatwej i szybkiej Zakres temperatur Zestaw nośników Od <100 do 1300K 3 zestawy 25

26 Opis elementów systemu obsługi serwisu bez konieczności zapowietrzania komór. OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 9.5 Dodatkowym wyposażeniem nośników musi być pastylkarka do próbek proszkowych z prasą oraz moździerz agatowy Średnica moździerza Ciśnienie robocze prasy Min. 55 mm min 15 bar 10. ZESTAW STELAŻY 10.1 Stelaż systemu głównego umożliwiający zamocowanie wszystkich komór (z wyjątkiem komory SPM) 10.2 Stelaż do komory SPM z układem tłumienia drgań Stelaże muszą być wyposażone w układy do zamocowania namiotów termicznych do wygrzewania. 11. UKŁAD OŚWIETLENIA WNĘTRZ KOMÓR światłowodowy 12. UKŁAD DO WYGRZEWANIA APARATURY Aparatura musi być wygrzewana w sposób kontrolowany z zagwarantowanym niezależnym wygrzewaniem komór analizy, SPM oraz pozostałych. Poszczególne strefy muszą być oddzielone od siebie jak i od otoczenia kurtynami termicznymi. Wygrzewanie o możliwie najrówniejszym rozkładzie temperatur Preferowane ogrzewanie ciepłym powietrzem 13. SZAFY System musi być wyposażony w szafy do zamontowania elektronicznych układów kontrolno-pomiarowych. 14. ZBIORNIKI DEWARA System musi być wyposażony w zbiorniki Dewara na ciekły azot z Ilość sztuk / Pojemność 1 szt. / l 26

27 Opis elementów systemu wymiennikiem ciepła - parownikiem (systemem poboru i wypompowywania azotu) OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość 15. DODATKOWE URZĄDZENIA DO KOMPUTERÓW PC Wszystkie zestawy komputerowe używane w systemie muszą być podłączone poprzez wewnętrzną sieć do dwóch wspólnych drukarek A4: laserowej kolorowej i laserowej monochromatycznej (czarno-białej). 16. INSTRUKCJE System musi być wyposażony w instrukcje i inne materiały informacyjne do wszystkich urządzeń systemu niezbędne do normalnego użytkowania, konserwacji i naprawy. 17. Materiały zużywalne Minimum 1 komplet materiałów zużywalnych w okresie do 36 miesięcy Pamięć Szybkość wydruku w trybie high quality Druk dwustronny język Włókna (lub tip) zainstalowanych źródeł promieniowana, dział jonowych i elektronowych Włókna pompy sublimacyjnej, Włókna sond jonizacyjnych Okienko lampy X, Wkład smarowniczy pompy turbo Kolor/monochromatyc zna nie gorsze niż: 256 / 64 MB 20 / 40 str./min / 1200x1200 dpi automat. / automat. polski lub angielski Po 1 kpl 1 kpl Po 1 kpl 1 kpl. Po 1 kpl/pompę 27

28 Opis elementów systemu OPIS PARAMETRU Parametry wymagane Wartość Detektor, jeżeli nominalny czas pracy nie przekracza 36 m Inne, szybko zużywalne elementy działa jonowego, szczególnie narażone na zużycie uszczelki Nietypowe źródła światła ( oświetlenia komór) 1 kpl. 1 kpl. 1 klp. ELEMENTY DODATKOWE (dodatkowo punktowane) 18. Spektrometr QMS przystosowany do analizy fragmentów usuwanych z powierzchni próbki bombardowaniem jonowym (Ar/ C 60 )zainstalowana w komorze analitycznej 19. Źródło do nanoszenia par metalu lub tlenku, wykorzystujące bombardowanie elektronowe i/lub ogrzewanie oporowe, ze zintegrowanymi przysłonami, w komorze preparatywnej 20. Motoryzacja silnikami krokowymi manipulatora w komorze preparatywnej. Zakres Maksymalna temperatura do 300 amu Min K 28

29 3. Wymagania dodatkowe Wymagane Oferowane Akceptowane będą tylko oferty spełniające wyszczególnione powyżej wymagania techniczne. W przypadku zastosowania olejowych pomp próżni wstępnej muszą być one zaopatrzone w pułapki zapobiegające przedostawaniu się par wszystkich składników olejów do komór próżniowych systemu. Do oferty musi być dołączona szczegółowa dokumentacja ilustrująca oferowane urządzenia i ich parametry. Wymagane są odpowiednie rysunki techniczne ilustrujące całościowe rozwiązanie systemu, uwzględniające poszczególne komory próżniowe, ich połączenie, sposób ładowania i przenoszenia próbek. Ponadto powinien zostać opisany i zilustrowany system uchwytów do próbek, jednolity dla wszystkich komór i metod. Prospekty komercyjne, prezentujące typową aparaturę i jej funkcjonalność będą traktowane jedynie jako materiał uzupełniający i nie będą brane pod uwagę przy ocenie parametrów oferowanego urządzenia. Dostarczona aparatura musi spełniać warunki (np. wolne kołnierze do przyłączenia, i miejsce) umożliwiające jej późniejszą ewentualną rozbudowę o następujące opcje: 1) monochromatyczne działo elektronowe do wysokorozdzielczej spektroskopii strat energii elektronów HREELS 2) automatyzacja wszystkich manipulatorów i systemów transferu próbek 3) komora do badań właściwości powierzchni ciał stałych metodą spektroskopii IR: transmisyjnej, DRIFT oraz ATR, wraz z dostosowanym do niej spektrometrem FTIR 29

30 4. Instalacja aparatury Wymagane Oferowane Na miejscu u Zamawiającego Oferujący gwarantuje sprawne funkcjonowanie całego systemu i dostarczonych technik badawczych oraz wykazanie następujących parametrów, będących podstawą protokołu uruchomienia aparatury: - uzyskanie próżni na poziomie mbar - wykazanie sprawności układów ładowania i transferowania próbek - osiągniecie oferowanego zakresu temperatur - wykazanie sprawności źródeł promieniowania X i UV oraz dział jonowych i elektronowych - wykazanie sprawności układów spektroskopii XPS, UPS, AES, EPES, LEED oraz mikroskopii SPM - wykazanie oferowanej energetycznej i przestrzennej zdolności rozdzielczej XPS - wykazanie atomowej zdolności rozdzielczej obrazowania HOPG lub innego standardu przy użyciu STM i AFM - wykazanie sprawności układu TPD oraz układu reaktora wysokociśnieniowego - wykazanie sprawności źródeł par. - przeszkolenie minimum 2 osób w obsłudze aparatury Oferta zostanie odrzucona jeżeli którykolwiek z wymagań przedstawionych powyżej nie będzie spełniony. 30