Harmonogram ZIMOWEJ sesji egzaminacyjnej - STUDIA DZIENNE rok akad. 2016/2017 Studia stacjonarne I stopnia - SEMESTR I

Transkrypt

1 Studia stacjonarne I stopnia - SEMESTR I Ciąg, Grupa /Data 10ib-m, i, e (IBAME-111, IBAME-112) 10m (MTMX-111) CIĄG A (AR-113, (AR-111) (AR-112) (MT-116) (MT-111) MT-117) PCH godz s. AR(105) GE AL1 (I-termin) godz , 162 GE PCH s. 133 GE AL1 (II-termin) s. 108, AL(118) GE AAG (Term 1) 9:00 a.m r. 216 MiNI EPH (Term 1) 10:00 a.m. r. 16 MCHTR CALC1 (Term 1) 8:15 a.m. r. A0, A1 EPH (Term 2) 10:00 a.m. r. 16 MCHTR AAG (Term 2) 10:00 a.m. CALC1 (Term 2) 8:15 a.m. r. AK, A1 16 (MT-112) MATEMATYKA I godz sale 6, 11, 16, 140, 422 ZASADY PROGRAMOWANIA STRUKTURALNEGO I : godz , 11 MATEMATYKA I godz sale 6, 11, 16, 140, 422 ZASADY PROGRAMOWANIA STRUKTURALNEGO I (II termin): godz CIĄG B 17 (MT-113) 18 (MT-114) 19 (MT-115)

2 Studia stacjonarne I stopnia - SEMESTR III Ciąg i Grupa /Data 20ib-m,i,e (IBAME-131, IBAME-132) 20m (MTMX-131) 21 (AR-131) 22 (AR-132) CIĄG A 23 (MT-131) 24 (MT-132) ELKT s. 108, 133 GE FI2 s. 133 GE MWM godz GM RPR godz s. AL(105), 202 GE ELKT godz GE FI2 godz s. 108 GE MWM godz GM RPR s. 017B GE CALC3 (Term 1) 1:00 p.m. r. AK, A1 BAC1 (Term 1) r. MOS2 (Term 1) 8:45 a.m. CALC3 (Term 1) 1:00 p.m. r. AK, A1 MOS2 (Term 2) 8:45 a.m. BAC1 (Term 2) r. (I termin, godz , sala 11, 16) PODSTAWY TECHNIK WYTWARZANIA - II (I termin, godz , sala 6) MIERNICTWO ELEKTRYCZNE + warunki (I termin, godz , sala 11, 16, 140) ELEKTROTECHNIKA - I (I termin, godz , sala 6) (II termin, godz , sala 11, 16) PODSTAWY TECHNIK WYTWARZANIA II (II termin, godz , sala 6) MIERNICTWO ELEKTRYCZNE (II termin, godz , sala 11, 16) ELEKTROTECHNIKA - I (II termin, godz , sala 6) 25 (MT-133) 26 (MT-134) CIĄG B 27 (MT-135) PODSTAWY TECHNIK WYTWARZANIA - II (I termin, godz , sala 6) (I termin, godz , sala 11, 16) ELEKTROTECHNIKA - I (I termin, godz , sala 6) MIERNICTWO ELEKTRYCZNE (I termin, godz , sala 11, 16, 140) PODSTAWY TECHNIK WYTWARZANIA - II (II termin, godz , sala 6) (II termin, godz , sala 11, 16) ELEKTROTECHNIKA I (II termin, godz , sala 6) MIERNICTWO ELEKTRYCZNE (II termin, godz , sala 11, 16)

3 Studia stacjonarne I stopnia - SEMESTR V Grupa 30ib-m, 30m a 33ip /Data 30ib-e ROB godz EAMEB godz , 519 ROB godz EAMEB godz IONP OFT FOP FLM1 2:30 p.m. INOP OFT (Term -2) FLM1 12:00 a.m. FOP FOT OI1 FOT godz OI1 ANP MEP ANP MEP PTS SPC PTS SPC MSI MNN MSI MNN Robotyka (egzamin ustny) (I termin, godz , sala 244) NM1 03 UAP 03 PTS (zaliczenie) TOE ELM Robotyka (egzamin ustny) (II termin, godz , sala 244) NM1 03 UAP 03 PTS (zaliczenie) TOE ELM PTS FIB PTS FIB PTS SPC PTS SPC SMP MTL SMP MTL PTS AKU godz PTS AKU godz

4 Studia stacjonarne I stopnia SEMESTR VII Grupa Data 40ib 40m a 43ip ONMT ONMT OMP OMP MRP EUM godz. MRP EUM DPP DPP IPR SIWP IPR SIWP PTB 03 PTB 03 TINF EUM godz. TINF EUM SOR godz SOR godz UIZE LPP UIZE LPP TEW DTP TEW DTP

5 Studia stacjonarne II stopnia SEMESTR II Grupy Data 60ib, 70ib 60m, 70m 61z, 71 62z, 72 63z, 73 63i 64z, 74 65z, 75 67z, 77 68, 78 69z, 79 FIZm ZTPD godz FIZm ZTPD godz IONP DFO MOPT r. 522 IPAR r. 522 MCHTR INOP DFO MOPT r. 522 IPAR r. 522 MCHTR PPOm PPOm SMPWm AUJm SMPWm AUJm MDUm IUDm MDUm IUDm SYSTEMY MECHATRONICZNE (I termin godz sale 11, 16), 11 SAPm 03 UPSKm 03 SYSTEMY MECHATRONICZNE (I termin godz sale 6, 11) SAPm 03 UPSKm 03 MZE/TLB MZE/TLB ISMm ISMm MSYP MSYP KMGm godz. STMm KMGm godz. STMm

6 Studia stacjonarne II stopnia SEMESTR III Grupy Data a 83i NMOT NMOT STUT godz STUT godz NNMT godz NNMT godz

7 Przyjęte skróty: Harmonogram ZIMOWEJ sesji egzaminacyjnej - STUDIA DZIENNE rok akad. 2016/2017 AAG AKU ANP AUJm BAC1 BOAC CALC1 CALC3 CHM CSN DFO DPP DTP EAMEB ELM ELT1-A ELT1-B ENPH EPH ETC EUM EUM FI2 FIB FIZm FLM1 FOP FOT INOP IPAR IPR ISM IUDm KMGm LPP MA1 MAT MAT3 MCST2 MDUm MEP MIE MNN MOPT MOS2 MPWm - Algebra and Geometry - Podstawy akustyki i elektroakustyki - Analiza niepewności pomiarów - Audity jakości - Basis of Automation and Control I - Basis of Automation and Control I - Calculus I - Calculus III - Podstawy chemii - Computer science I - Diffraction and Fourier Optics - Diagnostyka procesów przemysłowych - Podstawy poligrafii i projektowania DTP - Elektroniczna aparatura medyczna - Elementy i podzespoły mechatroniczne - Elektrotechnika I - Elektrotechnika I - Engineering Physics - Engineering Physics - Elektrotechnika - Eksploatacja urządzeń mechatronicznych - Eksploatacja urządzeń mechatronicznych - Fizyka II - Fizykomedyczne podstawy inżynierii biomedycznej - Fizyka - Fluid mechanics I - Fundamentals of Photonics - Podstawy fotoniki - Instrumental optics - Image Processing and Recognition - Inżynieria oprogramowania - Inteligentne systemy mobilne - Identyfikacja układów dynamicznych - Komputerowe modelowanie geometryczne - Laserowe przetworniki pomiarowe - Matematyka I - Matematyka Algebra liniowa i analiza - Matematyka 3 - Rachunek prawdopodobieństwa i statystyka - Mechanics of Structures II - Metody diagnostyki urządzeń i procesów - Metrologia przemysłowa - Miernictwo elektryczne - Metody numeryczne - Medical Optics - Mechanics of Structures II - Matematyka - Przedmiot wariantowy I ("Matematyka dyskretna") MRP MSI MSYP MTL MWM MZE NM1 NMOT OFT OI1 OMP ONMT PPO PTB PTS PTW2 PWMm ROB SAPm SIWP SMMm SMP SMPWm SOR SPC STMm SYTM TEW TINF TLB TOE UAP UIZE UPSKm WM ZAP1 - Maszyny i roboty pomiarowe - Metody sztucznej inteligencji - Modelowanie systemów pomiarowych - Programowanie w systemie MatLab - Mechanika i wytrzymałość materiałów - Montaż zespołów elektronicznych - Napędy elektromechaniczne urządzeń mechatroniki I - Numerical Methods in Optical Techniques - Optical Fiber Technology - Optyka instrumentalna I - Opto-numeryczne metody pomiaru - Opto numerical Methods and Testing - Polowe pomiary optyczne - Podstawy technik badań urządzeń precyzyjnych - Przetwarzanie sygnałów - Podstawy technik wytwarzania II - Matematyka - Przedmiot wariantowy I ("Matematyka dyskretna") - Robotyka - Systemy automatyzacji produkcji - Systemy informatyczne w przemyśle - Systemy mechatroniczne - Systemy pomiarowe - Skaningowe metody pomiarów współrzędnościowych - Sterowanie i programowanie robotów - Sterowanie procesów ciągłych - Sensory w technikach multimedialnych - Systemy telemedyczne - Technika wizyjna - Transmisja informacji - Techniki laboratoryjne i badawcze - Technologia obwodów elektronicznych - Urządzenia automatyzacji produkcji - Układy i zespoły elektroniczne - Urządzenia peryferyjne systemów komputerowych - Wytrzymałość materiałów - Zasady programowania strukturalnego I